DE19921374C2 - Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte - Google Patents

Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte

Info

Publication number
DE19921374C2
DE19921374C2 DE1999121374 DE19921374A DE19921374C2 DE 19921374 C2 DE19921374 C2 DE 19921374C2 DE 1999121374 DE1999121374 DE 1999121374 DE 19921374 A DE19921374 A DE 19921374A DE 19921374 C2 DE19921374 C2 DE 19921374C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
movement
microscope device
actuators
illumination
microscan
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE1999121374
Other languages
English (en)
Other versions
DE19921374A1 (de
Inventor
Rudolf Groskopf
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE1999121374 priority Critical patent/DE19921374C2/de
Priority to JP2000137512A priority patent/JP2001012926A/ja
Publication of DE19921374A1 publication Critical patent/DE19921374A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19921374C2 publication Critical patent/DE19921374C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/004Scanning details, e.g. scanning stages fixed arrays, e.g. switchable aperture arrays

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Mikroskopvorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes nach dem Oberbegriff des Anspruches 1.
In der confocalen Mikroskopie wird das Objekt in an sich bekannter Weise durch eine Lochblende beleuchtet und der beleuchtete Punkt wird mit einem Strahlungsempfänger beobachtet, dessen lichtempfindliche Fläche ebenso klein ist wie der beleuchtete Punkt (Minsky, M., US Patent 3 013 467 und Minsky, M., Memoir on inventing the confocal scanning microscope, Scanning 10, p. 128-138). Confocale Mikroskopie hat gegenüber konventioneller den Vorteil, daß sie Tiefenauflösung (Messung in z- Koordinate) liefert und daß wenig Streulicht bei der Bildaufnahme entsteht. Nur die im Focus befindliche Ebene des Objektes wird hell beleuchtet. Objektebenen oberhalb und unterhalb der Focusebene erhalten deutlich weniger Licht. Das Bild wird durch einen Scannvorgang aufgebaut. Es können einer oder mehrere Punkte gleichzeitig beleuchtet und beobachtet werden.
Drei Methoden für den Scannvorgang sind bekannt: Spiegelscannen, Nipkowscheibe und electronisches Scannen mit Matrixempfänger. Weitere Einzelheiten zum Stand der Technik beim Scannen mit Spiegel und mit Nipkowscheibe finden sich im Handbook of Biological Confocal Microscopy, Plenum Press, New York, London (Hrsg. James B. Pawley).
Ein confocales Bildaufnahmesystem mit confocaler Beleuchtung durch eine Lochplatte und electronischem Scannen durch Matrixempfänger wurde erstmals in DE 40 35 799 A1 vorgeschlagen. Dabei kommt ein Matrixempfänger zum Einsatz, dessen Pixel nur auf einem Teil (z. B. 30%) der dem Pixel zugeordneten Fläche lichtempfindlich sind und auf der Beleuchtungsseite wird typischerweise eine Lochplatte eingesetzt, die ebenso viele Löcher hat wie der Bildsensor lichtempfindliche Pixel. Die Tiefeninformation ergibt sich durch Aufnahme mehrerer Bilder aus verschiedenen Focusebenen und Auswertung des Helligkeitsmaximums individuell für die verschiedenen Pixel im Computer.
In der Druckschrift DE 196 48 316 C1 wird eine Anordnung geschildert, bei der typischerweise zugeordnet zu je vier Empfängerpixeln ein Beleuchtungsloch auf der Lochplatte und unmittelbar vor dem Matrixempfänger ein Prismenarray vorgesehen ist. Das Prismenarray wirkt als strahlformendes Element, mit dem das Licht eines jeden Beleuchtungspunktes so aufgespalten wird, daß sich außerhalb des Focus zwei halbmondförmige Bilder ergeben. In der Druckschrift DE 196 51 667 A1 ist eine Anordnung beschrieben, bei der ebenfalls typischerweise je vier Empfängerpixeln ein Beleuchtungsloch auf der Lochplatte zugeordnet ist und die unmittelbar vor dem Empfängerarray ein Array anamorphotischer Linsen enthält. Jedem Beleuchtungsloch ist eine Linse zugeordnet. Die anamorphotischen Linsen wirken hier ebenfalls als strahlformende Elemente, so daß sich im Focus ein kreisförmiges und außerhalb ein ovales Bild des Beleuchtungspunktes ergibt. Bei den beiden letztgenannten Anordnungen wird die Tiefeninformation durch Auswertung der Differenz der Lichtsignale benachbarter Pixel gewonnen.
Die Anordnungen nach DE 40 35 799 A1, DE 196 48 316 C1, und DE 196 51 667 A1 haben unter anderem den Vorteil, daß sehr viele Tiefenmeßpunkte gleichzeitig aufgenommen werden können und sie haben den Nachteil, daß zwischen den Beleuchtungspunkten kleine Teilflächen (Lücken) der Probe nicht ohne weiteres erfaßt werden können. In DE 40 35 799 A1 ist deshalb vorgeschlagen worden, mit optischen Mitteln das Beleuchtungspunktraster auf der Probe um kleine Wege zu verschieben oder die Probe um kleine Wege zu verschieben. Beide Vorgehensweisen haben den Nachteil, daß sie aufwendig und justierempfindlich sind.
Es ist deshalb Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Anordnung zu schaffen, um computergesteuert das Meßpunktraster auf der Probe so zu verschieben, daß auch die Lücken zwischen den Beleuchtungspixeln erfaßt werden können.
Erfindungsgemäß geschieht das, indem Lochplatte, Strahlungsteiler, Empfängerarray und - soweit vorhanden - auch das strahlformende Element in einer kompakten Baugruppe zusammengefaßt werden, die durch feinmechanische Stellelemente verschoben wird. Das hat auch den Vorteil, daß unabhängig von dem gewählten Vergrößerungsmaßstab der Abbildungsoptik immer die gleichen Scannwege zur Abtastung der Lücken zurückzulegen sind.
Mit DE 196 40 421 A1 ist bereits ein monolithisch ausgebildeter Strahlteilerwürfel mit genau einem Sensor- und einem Empfängerelement sowie einem strahlformenden Element bekannt geworden, die jedoch der bidirektionalen optischen Datenübertragung dient. Sie bringt für die der vorliegenden Erfindung zugrundeliegende Aufgabe keine Lösung, da Mittel zur Bildgebung fehlen.
Mit DE 197 40 678 A1 ist bereits eine Anordnung mit einer als Piezoaktuator ausgebildeten Verschiebemechanik für eine Kollimatorlinse bekannt geworden, die der optischen Vermessung eines Objektes dient. Da nur jeweils ein einziger Meßpunkt erfaßt wird und da die Anordnung interferometrisch arbeitet, ist die Messung mit dieser Anordnung zeitaufwendig. Die Vorteile, die sich bei Anwendung eines Beleuchtungsrasters ergeben, fehlen hier.
Die vorliegende Erfindung bringt gegenüber dem Stande der Technik den Fortschritt, in kurzer Zeit mit einem CCD-Empfänger und einem an sich bekannten Beleuchtungsraster auch die Bereiche der Probe messen zu können, die in den Lücken zwischen den Beleuchtungspunkten liegen.
Die Figuren zeigen als Beispiel mögliche praktische Ausführungen nach der Erfindung.
Fig. 1 zeigt eine Gesamtanordnung einer Bildaufnahmeeinrichtung nach der Erfindung
Fig. 2a und 2b zeigen eine kompakte Baugruppe mit Lochplatte, Strahlteilerwürfel, strahlformendem Element und Matrix-Strahlungsempfänger.
Fig. 3a und Fig. 3b zeigen das Beleuchtungspunktraster und verschiedene Möglichkeiten des Scanweges, der von der kompakten Baugruppe ausgeführt wird.
Fig. 4a zeigt den zeitlichen Ablauf der Microscanbewegung für rasches Abscannen der Lücken ohne örtliche Auflösung
Fig. 4b zeigt den zeitlichen Ablauf der Microscannbewegeung für Abscannen der Lücken mit örtlicher Auflösung.
In Fig. 1 ist mit (11) eine Lichtquelle, z. B. eine Halogenlampe, bezeichnet, die mit Hilfe des Kondensors (11k), evtl. über ein Filter (11f) (zur Aussonderung eines ausreichend schmalen Spektralbereiches), ein Beleuchtungsraster beleuchtet, das sich in der Beleuchtungsebene (11b) befindet. Es besteht aus einer lichtundurchlässigen Schicht mit kleinen Löchern. Eine derartige Schicht kann in bekannter Weise z. B. aus Chrom auf einer hergestellt werden. Die Löcher sind in der Schicht ebenso rasterförmig angeordnet wie die lichtempfindlichen Bereiche des Empfängerarrays (17). Die Löcher sind erheblich kleiner als ihr Abstand. Der Abstand der Löcher bzw. Bereiche von Mitte zu Mitte wird als Rastermaß bezeichnet.
Das Beleuchtungsraster wird durch die Linsen (13o, 13u) in die Focusebene (13f) abgebildet, so daß das Objekt (14) mit rasterförmig angeordneten Lichtpunkten beleuchtet wird. Bei nicht transparenten Objekten kann nur die Oberfläche (140) beleuchtet werden, während bei transparenten Objekten auch Schichten (14 s) im Inneren mit den Lichtpunkten beleuchtet werden können. Die vom Objekt in der Focusebene (13f) reflektierten Lichtstrahlen werden von den Linsen (13u, 13o) über einen Strahlteiler (16) zum Beispiel in der Empfängerebene (17b) focussiert. Zwischen den Linsen (13o, 13u) ist üblicherweise eine sog. Telezentrie-Blende (13t) angeordnet, welche dafür sorgt, daß der Mittenstrahl (13m) parallel zur optischen Achse (10) auf das Objekt (14) trifft, so daß die Lage der Lichtpunkte auf dem Objekt sich nicht ändert, wenn das Objekt (14) in Richtung der optischen Achse (10) bewegt wird.
Erfindungsgemäß ist die weiter unten ausführlicher erläuterte kompakte Baugruppe über ein Stellglied (24a) mit dem Tragarm (21) verbunden. Eine Steuerleitung (18w) ermöglicht die Ansteuerung der Microscannbewegung durch den Computer (18).
Der vorerwähnte Strahlteiler (16) ist für Auflichtanwendungen als halbdurchlässiger Spiegel ausgeführt. Für Fluoreszenzanwendungen wird vorzugsweise in an sich bekannter Weise ein dichroitischer Spiegel eingesetzt.
Das Objekt (14) kann durch eine Verstellvorrichtung (15) in allen 3 Raumrichtungen bewegt werden, so daß verschiedene Schichten (14s) und verschiedene Bereiche des Objektes (14) abgescannt werden können.
Die Signale des Empfängerarrays (17) werden über die Verbindungsleitung (17v) in einen Computer (18) übertragen, der in bekannter Weise die Auswertung übernimmt und auf einem Bildschirm (18b) die Ergebnisse der Auswertung z. B. in Form von graphischen Darstellungen oder Bildern wiedergibt. Der Computer (18) kann auch über die Verbindungsleitung (18v) die Verschiebung der Focusebene (13f) im Objekt und das Scannen in x- und y- Richtung steuern. Diese Steuerung kann im Computer als festes Programm vorliegen oder abhängig von den Ergebnissen der Auswertung erfolgen.
In Fig. 2a und 2b ist die kompakte Baugruppe aus Beleuchtungsraster (12l, 12s), strahlformendem Element(70), Teilerspiegel (16) und Empfängerarray (17) in einem größeren Maßstab und in zwei verschiedenen Ansichten dargestellt. Der Strahlteilerwürfel (20) ist auf einer Seite mit dem Beleuchtungsraster (12l, 12s) versehen. Auf der anderen trägt er in diesem Beispiel strahlformende Elemente (70) und den Strahlungsempfänger (17). Als strahlformende Elemente können, wie in DE 196 48 316 C1 vorgesehen, Prismenpaare oder, wie in DE 196 51 667 A1 vorgesehen, anamorphotische Linsen Verwendung finden.
Mit (16) ist die Strahlteilerschicht bezeichnet. Erfindungsgemäß ist die kompakte Baugruppe über ein Stellglied (24a), den Tragarm (21) und das Stellglied (24b) mit dem Widerlager (= feststehende Fläche) (25) verbunden. Wie bei Erläuterung von Fig. 1 schon erwähnt, werden die Stellglieder vom Rechner angesteuert, um erfindungsgemäß die Microscannbewegung auszuführen.
Das strahlformende Element muß nicht in jedem Falle vorhanden sein. Zum Beispiel ist in DE 40 35 799 A1 ist eine Anordnung geschildert, die keiner strahlformenden Elemente bedarf. Dort wird die Tiefenauflösung durch Einsatz eines Matrixempfängers erreicht, dessen Pixel nur auf einem Teil ihrer Fläche lichtempfindlich sind.
Fig. 3a zeigt die Beleuchtungspunkte (121) in der Probenebene und als Beispiel einen mäanderförmigen Weg (23a), den sie in der Probenebene in einer x-y-Scannbewegung zurücklegen. Erfindungsgemäß werden auf diese Weise die Lücken, die sich zwischen den Beleuchtungspunkten befinden, ebenfalls in Bildinformation umgesetzt, die vom Computer (18) ausgewertet werden kann.
Fig. 3b gibt eine spiralförmige Bewegung wieder. Mit (23b) ist eine Bewegung gekennzeichnet, die kontinuierlich erfolgt. Der gleiche Scanweg kann, wie in (23c) wiedergegeben, als Aufeinanderfolge von Bewegungsschritten zurückgelegt werden, so daß die Beleuchtungspunkte nacheinander schrittweise die Positionen 0, 1, 2, . . ., 23, 24, 0 und so fort annehmen.
Fig. 4a zeigt den zeitlichen Ablauf von Bildaufnahme, Bewegung der kompakten Baugruppe und Auslesen des Bildes aus dem Matrixsensor für den Fall, daß zur integralen Aufnahme der den Beleuchtungspunkten zugeordneten Probenteilflächen die Microscanbewegung während der Aufnahme eines Bildes (TV-Frame) erfolgt. Mit 1 sind die Zeitphasen der Bildaufnahme gekennzeichnet, in denen auf dem Strahlungsempfänger eingestrahltes Licht in Ladungsträger umgesetzt wird. In den Pausen zwischen den Bildaufnahmen findet das Auslesen 2 der Ladungen der einzelnen Pixel aus dem Strahlungsempfängerarray statt. Erfindungsgemäß wird während der Bildaufnahme in diesem Falle die kompakte Baugruppe in einer Mäander- oder in einer Spiralbewegung so geführt, daß die im Raster bestehenden Lücken auf der Probenoberfläche abgetastet werden. Dies ist in 3 wiedergegeben. So wird ein integrales Signal über die entsprechenden Teilflächen der Probe gewonnen. Sofort nach Aufnahme eines Bildes kann der nächste Schritt in z-Richtung mit dem Antrieb 15 (Fig. 1) durchgeführt werden.
Fig. 4b zeigt den zeitlichen Ablauf von Bildaufnahme, Bewegung der kompakten Baugruppe und Auslesen des Bildes aus dem Matrixsensor für den Fall, daß zur ortsaufgelösten Aufnahme der den Beleuchtungspunkten zugeordneten Probenteilflächen die Microscanbewegung zwischen zwei aufeinanderfolgenden TV- Frames nur einen Schritt vollführt. Mit 1 sind die Zeitphasen der Bildaufnahme gekennzeichnet, in denen auf den Strahlungsempfänger eingestrahltes Licht in Ladungsträger umgesetzt wird. In den Pausen zwischen den Bildaufnahmen findet das Auslesen 2 der Ladungen der einzelnen Pixel aus dem Strahlungsempfängerarray statt. Während der Bildaufnahme steht in diesem Falle die kompakte Baugruppe still, so daß in diesem Falle je ausgelesenem Bild nur ein kleiner Teil der Probenoberfläche aufgenommen wird. Nach der Aufnahme eines Bildes wird die kompakte Baugruppe um einen Schritt bewegt, z. B. von 0 nach 1. Nach der Aufnahme des nächsten Bildes dann von 1 nach 2 und so fort, bis - wenn erwünscht - alle Positionen von 0 bis 24 (siehe 23c in Fig. 3b) eingenommen worden sind. Dies ist in 3 wiedergegeben. Erst nach 25 Bildern wird bei diesem Beispiel hochauflösender 3D-Bilderfassung der nächste Schritt in z-Richtung mit dem Antrieb (15) erfolgen.

Claims (5)

1. Mikroskopvorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes,
  • - mit einem in einer Beleuchtungsebene (11b) angebrachten Beleuchtungsraster (12l, 12s) mit einem vorgegebenen Rastermaß, das über ein oder mehrere optische Elemente (13o, 13u) in die Focusebene am Ort des zu vermessenden Objektes (14) abgebildet wird und dort eine Vielzahl von Leuchtpunkten erzeugt
  • - und mit einem Empfängerarray (17) mit voneinander getrennten lichtempfindlichen Bereichen in der Beobachtungsebene, welches das am oder im Objekt (14) reflektierte oder durch Fluoreszenz erzeugte und von den optischen Elementen (13o, 13u) übertragene Licht in Form von diskreten Bildern registriert,
dadurch gekennzeichnet,
  • - daß das Beleuchtungsraster (12l, 12s), das Empfängerarray (17) und ein zugehöriger Strahlteilerspiegel (16) als eine kompakte, monolithische Baugruppe ausgeführt ist, die vorzugsweise auch ein strahlformendes Element (70) aufweist
  • - und daß diese Baugruppe vermittels Stellgliedern (24a, 24b) um Bruchteile des Abstandes zweier benachbarter Leuchtpunkte verschiebbar ist und dabei eine Mikroscanbewegung der Leuchtpunkte gewährleistet.
2. Mikroskopvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Stellglieder (24a, 24b) als Piezoaktuatoren ausgebildet sind.
3. Mikroskopvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Mikroscanbewegung der Leuchtpunkte während der Registrierung ein und desselben Bildes erfolgt, wobei Probenbereiche integral erfaßt werden.
4. Mikroskopvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Mikroscanbewegung der Leuchtpunkte außerhalb der Registrierung eines Bildes zwischen der Aufnahme zweier aufeinanderfolgender Bilder erfolgt, wobei Probenbereiche ortsaufgelöst erfaßt werden.
5. Mikroskopvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die maximale durch die Stellglieder (24a, 24b) erzeugbare Verstellbewegung mindestens so groß ist wie der Abstand der Leuchtpunkte.
DE1999121374 1999-05-10 1999-05-10 Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte Expired - Lifetime DE19921374C2 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1999121374 DE19921374C2 (de) 1999-05-10 1999-05-10 Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte
JP2000137512A JP2001012926A (ja) 1999-05-10 2000-05-10 対象物の3次元検査のための装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1999121374 DE19921374C2 (de) 1999-05-10 1999-05-10 Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19921374A1 DE19921374A1 (de) 2000-11-30
DE19921374C2 true DE19921374C2 (de) 2001-03-29

Family

ID=7907493

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1999121374 Expired - Lifetime DE19921374C2 (de) 1999-05-10 1999-05-10 Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2001012926A (de)
DE (1) DE19921374C2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10242530A1 (de) * 2002-09-12 2004-03-25 Forschungszentrum Jülich GmbH Lichtquelle für ein Meßsystem mit photoempfindlicher Elektrode zum Nachweis eines oder mehrerer Analyten
DE10242529A1 (de) * 2002-09-12 2004-03-25 Forschungszentrum Jülich GmbH Meßsystem mit photoempfindlicher Elektrode

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003057557A (ja) * 2001-08-09 2003-02-26 Yokogawa Electric Corp バイオチップ読取装置
JP2003057022A (ja) * 2001-08-16 2003-02-26 Cradle Corp 光学検査装置及び光学検査システム
JP4721685B2 (ja) * 2004-10-07 2011-07-13 パナソニック株式会社 形状測定方法及び形状測定装置
KR101116295B1 (ko) * 2009-05-22 2012-03-14 (주) 인텍플러스 입체 형상 측정장치

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3013467A (en) * 1957-11-07 1961-12-19 Minsky Marvin Microscopy apparatus
DE4035799A1 (de) * 1990-11-10 1992-05-14 Zeiss Carl Fa Optische vorrichtung mit konfokalem strahlengang zur dreidimensionalen untersuchung eines objektes
DE19651667A1 (de) * 1996-12-12 1997-09-11 Rudolf Dr Ing Groskopf Vorrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes
DE19648316C1 (de) * 1996-11-21 1998-04-09 Rudolf Dr Ing Groskopf Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes
DE19640421A1 (de) * 1996-09-30 1998-04-23 Siemens Ag Optoelektronisches Modul zur bidirektionalen optischen Datenübertragung
DE19740678A1 (de) * 1997-09-16 1999-03-18 Polytec Gmbh Vorrichtung zur berührungslosen Schwingungsmessung

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3013467A (en) * 1957-11-07 1961-12-19 Minsky Marvin Microscopy apparatus
DE4035799A1 (de) * 1990-11-10 1992-05-14 Zeiss Carl Fa Optische vorrichtung mit konfokalem strahlengang zur dreidimensionalen untersuchung eines objektes
DE19640421A1 (de) * 1996-09-30 1998-04-23 Siemens Ag Optoelektronisches Modul zur bidirektionalen optischen Datenübertragung
DE19648316C1 (de) * 1996-11-21 1998-04-09 Rudolf Dr Ing Groskopf Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes
DE19651667A1 (de) * 1996-12-12 1997-09-11 Rudolf Dr Ing Groskopf Vorrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes
DE19740678A1 (de) * 1997-09-16 1999-03-18 Polytec Gmbh Vorrichtung zur berührungslosen Schwingungsmessung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
MINSKY, M.: Scanning 10, p. 128-138, Memoir on inventing the confecal scanning microscope *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10242530A1 (de) * 2002-09-12 2004-03-25 Forschungszentrum Jülich GmbH Lichtquelle für ein Meßsystem mit photoempfindlicher Elektrode zum Nachweis eines oder mehrerer Analyten
DE10242529A1 (de) * 2002-09-12 2004-03-25 Forschungszentrum Jülich GmbH Meßsystem mit photoempfindlicher Elektrode

Also Published As

Publication number Publication date
DE19921374A1 (de) 2000-11-30
JP2001012926A (ja) 2001-01-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1728115B1 (de) Hochgeschwindigkeits-vermessungseinrichtung und verfahren nach dem grundprinzip der konfokalen mikroskopie
DE19651667C2 (de) Vorrichtung zur dreidimensionalen Untersuchung eines Objektes
EP2406679B1 (de) Autofokusverfahren und autofokuseinrichtung
DE3610165C2 (de)
DE102013001238B4 (de) Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren
DE19824460A1 (de) Anordnung und Verfahren zur mikroskopischen Erzeugung von Objektbildern
DE4040441A1 (de) Doppelkonfokales rastermikroskop
DE102012204128A1 (de) Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
EP0449859B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur beobachtung von moiremustern von zu untersuchenden oberflächen unter anwendung des moireverfahrens mit phasenshiften
DE102006019952A1 (de) Konfokales Mikroskop
WO2012013586A1 (de) Einrichtung und verfahren zur mikroskopischen bildaufnahme einer probenstruktur
DE19918689C2 (de) Vorrichtung zur dreidimensionalen konfocalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte
DE10050529A1 (de) Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop, Anordnung zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop und Scanmikroskop
EP0805996A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum aufnehmen eines objektes
EP0466979B1 (de) Anordnung zur simultanen konfokalen Bilderzeugung
DE19921374C2 (de) Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Untersuchung eines Objektes mit Beleuchtung durch eine Lochplatte
DE102017107343A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben eines optischen Abstandssensors
DE4113279C2 (de) Konfokales optisches Rastermikroskop
DE112018007549T5 (de) Konfokale dreidimensionale Messvorrichtung und zugehörige Nipkow-Scheibe mit mehreren Lochdurchmessern
WO2017174792A1 (de) Verfahren und mikroskop zum untersuchen einer probe
EP1929256A1 (de) Photosensor-chip, laser-mikroskop mit photosensor-chip und verfahren zum auslesen eines photosensor-chips
DE19504039C1 (de) Vorrichtung für Nivellierzwecke
DE102011007751B4 (de) Weitfeldmikroskop und Verfahren zur Weitfeldmikroskopie
EP0961930B1 (de) Lichtabtastvorrichtung
DE102017105719A1 (de) Multi-Pinhole-Lichtrastermikroskop und -mikroskopieverfahren

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
R071 Expiry of right