WO2013026710A1 - Device for the surface treatment of substrates - Google Patents

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WO2013026710A1
WO2013026710A1 PCT/EP2012/065602 EP2012065602W WO2013026710A1 WO 2013026710 A1 WO2013026710 A1 WO 2013026710A1 EP 2012065602 W EP2012065602 W EP 2012065602W WO 2013026710 A1 WO2013026710 A1 WO 2013026710A1
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grooves
transport
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process medium
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PCT/EP2012/065602
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Woo-Hong JUNG
Helge Haverkamp
Kai WEISSER
Michael Niethammer
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Gebr.Schmid Gmbh
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Publication date
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Definitions

  • the invention relates to a device for surface treatment of substrates, in particular for wetting a substrate underside with a liquid process medium by transport rollers.
  • the transport rollers are provided with raised end portions or end portions with a first larger diameter.
  • the substrates to be treated are provided with a substrate underside. Because the transport rollers rotate with their lower regions in the process medium and thus their surface is wetted with process medium, due to the elevated end regions on which the substrates rest alone, only in these regions the substrate underside is wetted with process medium and thus treated. A full-surface treatment of the substrate base or its wetting should and is therefore not achieved with this device.
  • the invention is based on the object to provide an aforementioned device, can be solved with the problems of the prior art and in particular a good and, if necessary, full surface treatment of substrates or their substrate bases is possible.
  • This object is achieved by a device having the features of claim 1.
  • Advantageous and preferred embodiments of the invention are the subject of the other claims and are explained in more detail below. The wording of the claims is incorporated herein by express reference.
  • the device has transport means for transporting a substrate in a transport plane determined by them, wherein these transport means are designed as transport rollers and at the same time as conveying means in order to wet or coat the substrate on a substrate underside with a liquid process medium and thus treat it.
  • the transport rollers are at least partially immersed in the process medium or have process medium on their upper side. This allows them to wet the underside of the substrate during transport in direct contact.
  • the transport rollers have a rotationally symmetrical outer surface with a plurality of regions of a first, larger diameter and a plurality of regions of a second, smaller diameter, these regions of the second, smaller diameter each lying between two regions of the first, larger diameter.
  • At least in the areas with the second, smaller diameter grooves or recesses are introduced, which are circumferentially and thus in turn rotationally symmetrical.
  • a capillary action can be created or improved in order to build up a certain thickness of the film with process medium on the transport rollers.
  • the underside of the substrate can be wetted in all cases over the entire surface or completely.
  • the areas of the first, larger diameter may have a regular distance from each other. This can also be detached from the areas of the second, smaller diameter.
  • a distance of the regions of the first, larger diameter may be about 10mm to 20mm, preferably 13mm to 17mm.
  • the first, larger diameter can be less than 1 mm above the second, smaller diameter.
  • the diameter difference is even less than 0.5 mm, particularly advantageously it is between 0.1 mm and 0.2 mm.
  • the areas of the first, larger diameter are therefore only slightly above the areas of the second, smaller diameter lying in between.
  • the substrates lie with their substrate undersides only on these areas of the first, larger diameter, on the other hand, the process medium just taken from the surface of the areas of the second, smaller diameter from the bath to the substrate bottom for the purpose of wetting the same or promoted and so desired full-surface wetting of the substrate underside can be effected.
  • the aforementioned squeezing of the film of process medium at the underside of the substrate can be avoided by the slightly greater distance between the underside of the substrate and the areas of the second, smaller diameter. In the areas of the first, larger diameter, it can easily be avoided that they are relatively narrow.
  • the regions of the first, larger diameter can have a transition to the regions with the second, smaller diameter, which is bevelled.
  • a bevel angle can be between 45 ° and 60 °.
  • this improves the above-mentioned prevention of squeezing or sloshing back of the film from process medium.
  • the adhesion of the process medium or the wetting of the underside of the substrate can also be improved here.
  • the regions with the first, larger diameter are formed without grooves or depressions.
  • these areas of the first, larger diameter are relatively narrow, so that anyway there is hardly any space or necessity for such grooves or depressions. They may, for example, have a width of less than 1 mm, advantageously between 0.1 mm and 0.4 mm.
  • the grooves or recesses in the regions with the second, smaller diameter can be approximately V-shaped.
  • a V-angle can be between 40 ° and 70 °, particularly advantageously between 50 ° to 60 °. This results in a relatively large opening angle of the grooves or depressions in the regions with the second, smaller diameter, which in turn is advantageous for the adhesion of process medium to the surface of the transport rollers in this area and thus enables better wetting of the substrate underside.
  • the grooves or depressions are not particularly deep. Their depth can be between 0.1 mm and 1 mm, preferably about 0.5 mm. If this is added to the abovementioned height of the regions of the first, larger diameter of less than 1 mm, then it is quite obvious that overall good wetting of the substrate undersides with process medium can take place from the immersed surface of the transport rollers.
  • a width between the individual grooves or depressions may be less than 1 mm. It can be particularly advantageous about 0.1 mm to 0.4 mm.
  • the grooves can be wider than their spacing.
  • all grooves or depressions in the areas with the second, smaller diameter in a single transport roller may be the same in terms of depth and / or shape or profile. This can also apply to the shape or profile shape of the regions of the first, larger diameter.
  • a rear region of the device along the transport path of the substrates in the transport plane similarly shaped transport rollers as the front, but which have a slightly greater depth of the grooves or depressions in the areas with second, smaller diameter than in the front of the Contraption.
  • This depth may be about 30% to 60% larger, which allows the substrate bottoms to be wetted with less process media at the rear of the device.
  • the amount of process medium introduced at the rear of the device can be reduced somewhat for a more homogeneous wetting or etching result.
  • the transport rollers may have a first, larger diameter of a few cm, advantageously 1 cm to 5cm, more preferably 1, 5cm to 2cm.
  • the transport rollers are made of plastic, with PP or PVDF offer.
  • the transport rollers are integrally or in one piece and formed out of a single piece of material or formed as a one-piece piece of material, preferably made of relatively hard material with a closed surface.
  • multicrystalline wafers can be etched or textured particularly advantageously. For monocrystalline wafers, a so-called pyramid texturing can be performed.
  • FIG. 1 shows a side view of a device according to the invention
  • FIG. 2 is an enlarged view of a single transport roller for
  • Fig. 3 is a high magnification of a section of Fig. 2 for the purpose of illustrating possible dimensions.
  • Fig. 1 from the side in a very schematic representation of an inventive system or device 1 1 is shown, are transported and treated with the substrates 12.
  • the substrates 12 with an upper side 13 upwards and a lower side 14 downwards, wherein these are not necessarily the corresponding sides in the finished functional state, but relate only to this transport plane.
  • the device 1 1 has transport rollers 16a and 16b, which are arranged in a known manner one behind the other, advantageously according to the aforementioned EP 1 960 1 19 B1. They rotate in the same direction and form with their tops the transport plane, wherein the substrates 12 rest with their lower sides 14 on the transport rollers 16a and 16b.
  • the lower portion of the transport rollers 16a and 16b is immersed in a bath of the process medium 18 in a trough not shown here or rotates therein. As a result, a film 19 of process medium 18 is taken along by the transport rollers 16a and 16b and brought upwards by the transport rollers 16a and 16b.
  • This process is also known from the cited EP 1 960 1 19 B1, to which reference is made in this regard.
  • first regions 21 are respectively arranged at the ends of the transport roller 16a and have between them the second regions 25.
  • a first region 21 is formed with a central elevation 22 as a kind of running surface or bearing surface for the substrates 12, wherein bevels 23a and 23b are located on the left and right of it.
  • elevations 26 are likewise provided in the second regions 25, they do not extend to the elevations 22 of the first regions 21.
  • the ridges 26 in the second regions 25 become formed by second bevels 27a and 27b, which are provided as a kind of cuts and grooves 29 form.
  • second bevels 27a and 27b which are provided as a kind of cuts and grooves 29 form.
  • the entire transport roller 16a is formed regularly. This means that the first regions 21 and their elevations 22 each have a constant distance from each other, which may be about 10mm to 20mm as described above.
  • the entire width of a transport roller 16a may be a few cm, for example 5cm to 15cm. Their diameter according to Fig. 1 can be in the range of 1 cm to 3cm.
  • the second regions 25 each have eight elevations 26. There may also be more or fewer increases per se. Furthermore, not all second regions 25 must each have the same number of elevations 26.
  • the dimension bi for the width of the elevation 22 of the first region 21 may be between 0.2 mm and 0.6 mm.
  • it also corresponds to the dimension b 2 of the width of the elevations 26 of the second region 25.
  • the dimension h as half the diameter difference or height difference between the elevations 22 and 26 may be in a range between slightly less than 0.1 mm and 0.5 mm, advantageously between 0.1 mm and 0.2 mm.
  • the depth of the grooves 29 formed by the bevels 27a and 27b is then slightly above and can be 0.2mm to 0.4mm.
  • a width v of the grooves 29 is in the range of their depth and thus also at 0.2mm to 0.4mm.
  • An angle ⁇ of the grooves 29 may be in an aforementioned range, advantageously 50 ° to 60 °.
  • the grooves 29 need not be formed at an acute angle in the lower region, but may also be slightly rounded, for example, for ease of manufacture.
  • the bevel angle of the Ridges 22 of the first regions 21 to the lateral first slopes 23a and 23b may be the same as from the ridges 26 of the second regions 25 to the lateral second slopes 27a and 27b.
  • the substrate 12, with its lower side 14, rests on the elevations 22 of the first regions 21 and has a film 19 of process medium 18 toward the second regions 25, which then precisely measures the film thickness with the dimension h corresponding to FIG. 3 or additionally a film thickness in the grooves 29 inside.
  • the second regions 25 of smaller diameter function as conveyor regions, i. as areas in which process medium 18 is taken from the bath as said process medium film 19 to the substrate base 14 or promoted.
  • this measure of the height difference h is slightly lower, for example 20% to 40%.
  • a smaller amount of process medium 18 fed to the underside 14 is considered sufficient.
  • the grooves 29 can be deeper. By means of deeper grooves 29 having a greater width, a smaller amount of process medium 18 is brought to the underside 14 of the substrates 12.
  • the concave formation prevents the process medium 18 from spilling over onto the upper side 13 of the substrate 12. It can also be seen from the representation in FIG. 2 that spilling over of back-squeezed process medium onto the upper side 13 of the substrates 12 is avoided if these should not be treated. So there are no problems with envelope odgl ..
  • the device 1 shown with the novel transport rollers 16a and 16b is particularly suitable for edge insulation of wafers for solar cell production, wherein the process medium HN 3 0 and HF has.
  • Further process parameters are transport speed or rotational speed of the transport rollers 16a and 16b, temperature, immersion depth of the transport rollers 16a and 16b into the process medium 18, possible suction between the transport rollers and composition of the process medium per se.

Abstract

A device for treating the undersides of wafers has transporting rollers (16a, 16b) for transporting the wafers, which at the same time are formed as conveying means for wetting the undersides of the wafers with liquid process medium (18). The transporting rollers are at least partially immersed in process medium for wetting the undersides of the wafers during transport when they are in contact with the transporting rollers. The transporting rollers have a rotationally symmetrical outer side, having a number of regions of a first, larger diameter (21) and a number of regions of a second, smaller diameter (25) in between, wherein channels are incorporated in the regions with the second, smaller diameter.

Description

Vorrichtung zur Obenflächenbehandlunq von Substraten  Device for surface treatment of substrates
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Oberflächenbehandlung von Substraten, insbesondere zur Benetzung einer Substratunterseite mit einem flüssigen Prozessmedium durch Transportwalzen. The invention relates to a device for surface treatment of substrates, in particular for wetting a substrate underside with a liquid process medium by transport rollers.
Aus der EP 1 960 1 19 B1 ist eine entsprechende Vorrichtung bekannt. Hier sind die Transportwalzen mit erhöhten Endbereichen bzw. Endbereichen mit einem ersten größeren Durchmesser versehen. Auf diesen Endbereichen liegen die zu behandelnden Substrate mit einer Substratunterseite auf. Weil sich die Transportwalzen mit ihren unteren Bereichen in dem Prozessmedium drehen und somit ihre Oberfläche mit Prozessmedium benetzt ist, wird aufgrund der erhöhten Endbereiche, auf denen alleine die Substrate aufliegen, nur in diesen Bereichen die Sub- stratunterseite mit Prozessmedium benetzt und somit behandelt. Eine vollflächige Behandlung der Substratunterseite bzw. deren Benetzung soll und wird folglich mit dieser Vorrichtung nicht erreicht. From EP 1 960 1 19 B1 a corresponding device is known. Here, the transport rollers are provided with raised end portions or end portions with a first larger diameter. On these end regions, the substrates to be treated are provided with a substrate underside. Because the transport rollers rotate with their lower regions in the process medium and thus their surface is wetted with process medium, due to the elevated end regions on which the substrates rest alone, only in these regions the substrate underside is wetted with process medium and thus treated. A full-surface treatment of the substrate base or its wetting should and is therefore not achieved with this device.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, eine eingangs genannte Vorrichtung zu schaffen, mit der Probleme des Standes der Technik gelöst werden können und insbesondere eine gute und bei Bedarf vollflächige Oberflächenbehandlung von Substraten bzw. deren Substratunterseiten möglich ist. Gelöst wird diese Aufgabe durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 . Vorteilhafte sowie bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der weiteren Ansprüche und werden im Folgenden näher erläutert. Der Wortlaut der Ansprüche wird durch ausdrückliche Bezugnahme zum Inhalt der Beschreibung gemacht. The invention is based on the object to provide an aforementioned device, can be solved with the problems of the prior art and in particular a good and, if necessary, full surface treatment of substrates or their substrate bases is possible. This object is achieved by a device having the features of claim 1. Advantageous and preferred embodiments of the invention are the subject of the other claims and are explained in more detail below. The wording of the claims is incorporated herein by express reference.
Es ist vorgesehen, dass die Vorrichtung Transportmittel zum Transport eines Substrats in einer von ihnen bestimmten Transportebene aufweist, wobei diese Transportmittel als Transportwalzen und gleichzeitig als Fördermittel ausgebildet sind, um das Substrat an einer Substratunterseite mit einem flüssigen Prozessmedium zu benetzen bzw. zu beschichten und somit zu behandeln. Dabei sind die Transportwalzen zu- mindest teilweise in das Prozessmedium getaucht bzw. weisen Prozessmedium an ihrer Oberseite auf. So können sie die Substratunterseite beim Transport in direktem Kontakt benetzen. It is provided that the device has transport means for transporting a substrate in a transport plane determined by them, wherein these transport means are designed as transport rollers and at the same time as conveying means in order to wet or coat the substrate on a substrate underside with a liquid process medium and thus treat it. In this case, the transport rollers are at least partially immersed in the process medium or have process medium on their upper side. This allows them to wet the underside of the substrate during transport in direct contact.
Erfindungsgemäß weisen die Transportwalzen eine rotationssymmet- risch ausgebildete Au ßenseite auf mit mehreren Bereichen eines ersten, größeren Durchmessers und mehreren Bereichen eines zweiten, kleineren Durchmessers, wobei diese Bereiche des zweiten, kleineren Durchmessers jeweils zwischen zwei Bereichen des ersten, größeren Durchmessers liegen. Zumindest in die Bereiche mit dem zweiten, kleineren Durchmesser sind Rillen bzw. Vertiefungen eingebracht, die umlaufend und somit wiederum rotationssymmetrisch ausgebildet sind. In diesen Rillen bzw. Vertiefungen kann eine Kapillarwirkung erzeugt bzw. verbessert werden, um eine gewisse Dicke des Films mit Prozessmedium auf den Transportwalzen aufzubauen. So kann die Substratunterseite auf alle Fälle vollflächig bzw. vollständig benetzt werden. Durch die Rillen bzw. Vertiefungen sowie auch durch die Bereiche des ersten, größeren Durchmessers, die vorteilhaft nur geringfügig über die Bereiche des zweiten, kleineren Durchmessers überstehen und auf denen die Substrate aufliegen, kann vermieden werden, dass Prozessmedium an den Transportwalzen sozusagen wieder zurückgequetscht wird und dann an einer Kante bzw. Endkante eines Substrats auf die Substratoberseite überschwappen könnte, was beispielsweise bei einem Ätzvorgang mit ätzendem Prozessmedium unerwünscht ist. In weiterer Ausgestaltung des Erfindungsgegenstandes können die Bereiche des ersten, größeren Durchmessers einen regelmäßigen Abstand zueinander aufweisen. Dies kann losgelöst davon auch für die Bereiche des zweiten, kleineren Durchmessers gelten. Ein Abstand der Bereiche des ersten, größeren Durchmessers kann etwa 10mm bis 20mm betragen, vorzugsweise 13mm bis 17mm. In weiterer Ausgestaltung der Erfindung kann der erste, größere Durchmesser um weniger als 1 mm über dem zweiten, kleineren Durchmesser liegen. Vorteilhaft beträgt die Durchmesserdifferenz sogar weniger als 0,5mm, besonders vorteilhaft liegt sie zwischen 0,1 mm und 0,2mm. Die Bereiche des ersten, größeren Durchmessers stehen also nur geringfü- gig über die dazwischen liegenden Bereiche des zweiten, kleineren Durchmessers über. So liegen die Substrate mit ihren Substratunterseiten nur auf diesen Bereichen des ersten, größeren Durchmessers auf, während andererseits das Prozessmedium gerade auch von der Oberfläche der Bereiche des zweiten, kleineren Durchmessers aus dem Bad zur Substratunterseite zwecks Benetzung derselben mitgenommen bzw. hochgefördert wird und so die gewünschte vollflächige Benetzung der Substratunterseite bewirkt werden kann. Gleichzeitig kann eben durch den etwas größeren Abstand der Substratunterseite zu den Bereichen des zweiten, kleineren Durchmessers das vorgenannte Abquetschen des Films aus Prozessmedium an der Substratunterseite vermieden werden. In den Bereichen des ersten, größeren Durchmessers kann es leicht dadurch vermieden werden, dass diese relativ schmal sind. According to the invention, the transport rollers have a rotationally symmetrical outer surface with a plurality of regions of a first, larger diameter and a plurality of regions of a second, smaller diameter, these regions of the second, smaller diameter each lying between two regions of the first, larger diameter. At least in the areas with the second, smaller diameter grooves or recesses are introduced, which are circumferentially and thus in turn rotationally symmetrical. In these grooves or depressions, a capillary action can be created or improved in order to build up a certain thickness of the film with process medium on the transport rollers. Thus, the underside of the substrate can be wetted in all cases over the entire surface or completely. By the grooves or depressions as well as by the areas of the first, larger diameter, which advantageously only slightly beyond the regions of the second, smaller diameter and on which the substrates rest, can be avoided that process medium is squeezed back on the transport rollers, so to speak and could then spill over onto the substrate top side at an edge or end edge of a substrate, which is undesirable, for example, in the case of an etching process with a corrosive process medium. In a further embodiment of the subject invention, the areas of the first, larger diameter may have a regular distance from each other. This can also be detached from the areas of the second, smaller diameter. A distance of the regions of the first, larger diameter may be about 10mm to 20mm, preferably 13mm to 17mm. In a further embodiment of the invention, the first, larger diameter can be less than 1 mm above the second, smaller diameter. Advantageously, the diameter difference is even less than 0.5 mm, particularly advantageously it is between 0.1 mm and 0.2 mm. The areas of the first, larger diameter are therefore only slightly above the areas of the second, smaller diameter lying in between. Thus, the substrates lie with their substrate undersides only on these areas of the first, larger diameter, on the other hand, the process medium just taken from the surface of the areas of the second, smaller diameter from the bath to the substrate bottom for the purpose of wetting the same or promoted and so desired full-surface wetting of the substrate underside can be effected. At the same time, the aforementioned squeezing of the film of process medium at the underside of the substrate can be avoided by the slightly greater distance between the underside of the substrate and the areas of the second, smaller diameter. In the areas of the first, larger diameter, it can easily be avoided that they are relatively narrow.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung können die Bereiche des ersten, größeren Durchmessers einen Übergang zu den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser aufweisen, der abgeschrägt ist. Ein solcher Abschrägungswinkel kann zwischen 45° und 60° betragen. Dies verbessert einerseits das vorgenante Verhindern von Abquetschen bzw. Zurückschwappen des Films aus Prozessmedium. Des Weiteren kann durch eine Abschrägung auch hier die Adhäsion des Prozessmediums bzw. die Benetzung der Substratunterseite verbessert werden. Vorteilhaft ist vorgesehen, dass die Bereiche mit dem ersten, größeren Durchmesser ohne Rillen bzw. Vertiefungen ausgebildet sind. Besonders vorteilhaft sind diese Bereiche des ersten, größeren Durchmessers relativ schmal, sodass ohnehin kaum Platz oder Notwendigkeit für derar- tige Rillen bzw. Vertiefungen besteht. Sie können beispielsweise eine Breite von weniger als 1 mm aufweisen, vorteilhaft zwischen 0,1 mm und 0,4mm. In a further embodiment of the invention, the regions of the first, larger diameter can have a transition to the regions with the second, smaller diameter, which is bevelled. Such a bevel angle can be between 45 ° and 60 °. On the one hand, this improves the above-mentioned prevention of squeezing or sloshing back of the film from process medium. Furthermore, by means of a chamfer, the adhesion of the process medium or the wetting of the underside of the substrate can also be improved here. It is advantageously provided that the regions with the first, larger diameter are formed without grooves or depressions. Particularly advantageously, these areas of the first, larger diameter are relatively narrow, so that anyway there is hardly any space or necessity for such grooves or depressions. They may, for example, have a width of less than 1 mm, advantageously between 0.1 mm and 0.4 mm.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung können die Rillen bzw. Vertie- fungen in den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser in etwa V-förmig ausgebildet sein. Ein V-Winkel kann dabei zwischen 40° und 70° liegen, besonders vorteilhaft zwischen 50° bis 60°. So ergibt sich ein relativ großer Öffnungswinkel der Rillen bzw. Vertiefungen in den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser, was wiederum für das Anhaften von Prozessmedium an der Oberfläche der Transportwalzen in diesem Bereich von Vorteil ist und somit eine bessere Benetzung der Substratunterseite ermöglicht. In a further embodiment of the invention, the grooves or recesses in the regions with the second, smaller diameter can be approximately V-shaped. A V-angle can be between 40 ° and 70 °, particularly advantageously between 50 ° to 60 °. This results in a relatively large opening angle of the grooves or depressions in the regions with the second, smaller diameter, which in turn is advantageous for the adhesion of process medium to the surface of the transport rollers in this area and thus enables better wetting of the substrate underside.
In vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung sind die Rillen bzw. Vertie- fungen nicht besonders tief. Ihre Tiefe kann zwischen 0,1 mm und 1 mm liegen, vorzugsweise etwa 0,5mm betragen. Nimmt man dies zu der vorgenannten Höhe der Bereiche des ersten, größeren Durchmessers von weniger als 1 mm dazu, so ist ganz offensichtlich, dass insgesamt eine gute Benetzung der Substratunterseiten mit Prozessmedium von der eingetauchten Oberfläche der Transportwalzen erfolgen kann. In vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung kann in den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser eine Breite zwischen den einzelnen Rillen bzw. Vertiefungen weniger als 1 mm betragen. Besonders vorteilhaft können es etwa 0,1 mm bis 0,4mm sein. In an advantageous embodiment of the invention, the grooves or depressions are not particularly deep. Their depth can be between 0.1 mm and 1 mm, preferably about 0.5 mm. If this is added to the abovementioned height of the regions of the first, larger diameter of less than 1 mm, then it is quite obvious that overall good wetting of the substrate undersides with process medium can take place from the immersed surface of the transport rollers. In an advantageous embodiment of the invention, in the regions with the second, smaller diameter, a width between the individual grooves or depressions may be less than 1 mm. It can be particularly advantageous about 0.1 mm to 0.4 mm.
In Weiterbildung der Erfindung kann in den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser eine größte Breite der Rillen bzw. Vertiefungen weniger als 1 mm betragen, vorteilhaft etwa 0,2mm bis 0,6mm betragen. Dies bedeutet, dass in den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser die Rillen breiter sein können als ihr Abstand. In vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung können sämtliche Rillen bzw. Vertiefungen in den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser bei einer einzigen Transportwalze gleich ausgebildet sein hinsichtlich Tiefe und/oder Form bzw. Profil. Dies kann auch für die Form bzw. Profilform der Bereiche des ersten, größeren Durchmessers gelten. In a further development of the invention, in the areas with the second, smaller diameter, a greatest width of the grooves or depressions less than 1 mm, advantageously about 0.2 mm to 0.6 mm. This means that in the areas with the second, smaller diameter, the grooves can be wider than their spacing. In an advantageous embodiment of the invention, all grooves or depressions in the areas with the second, smaller diameter in a single transport roller may be the same in terms of depth and / or shape or profile. This can also apply to the shape or profile shape of the regions of the first, larger diameter.
Vorteilhaft finden sich in einem hinteren Bereich der Vorrichtung entlang der Transportbahn der Substrate in der Transportebene ähnlich ausgebildete Transportwalzen wie vorne, die allerdings eine etwas größere Tiefe der Rillen bzw. Vertiefungen in den Bereichen mit zweitem, kleine- rem Durchmesser aufweisen als im vorderen Bereich der Vorrichtung. Diese Tiefe kann etwa 30% bis 60% größer sein, wodurch im hinteren Bereich der Vorrichtung die Substratunterseiten mit weniger Prozessmedium benetzt werden können. So kann die herangeführte Menge an Prozessmedium im hinteren Bereich der Vorrichtung etwas reduziert wer- den für ein homogeneres Benetzungs- bzw. Ätzergebnis. Advantageously, in a rear region of the device along the transport path of the substrates in the transport plane similarly shaped transport rollers as the front, but which have a slightly greater depth of the grooves or depressions in the areas with second, smaller diameter than in the front of the Contraption. This depth may be about 30% to 60% larger, which allows the substrate bottoms to be wetted with less process media at the rear of the device. Thus, the amount of process medium introduced at the rear of the device can be reduced somewhat for a more homogeneous wetting or etching result.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung können die Transportwalzen einen ersten, größeren Durchmesser von wenigen cm aufweisen, vorteilhaft 1 cm bis 5cm, besonders vorteilhaft 1 ,5cm bis 2cm. In a further embodiment of the invention, the transport rollers may have a first, larger diameter of a few cm, advantageously 1 cm to 5cm, more preferably 1, 5cm to 2cm.
In nochmals weiterer vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung sind die Transportwalzen aus Kunststoff hergestellt, wobei sich PP oder PVDF anbieten. Besonders vorteilhaft sind die Transportwalzen einstückig bzw. einteilig und aus einem einzigen Materialstück herausgeformt bzw. als einstückiges Materialstück geformt, vorzugsweise aus relativ hartem Material mit geschlossener Oberfläche. Besonders vorteilhaft können in einer solchermaßen beschriebenen Vorrichtung multikristalline Wafer geätzt bzw. texturiert werden. Bei monokristallinen Wafern kann eine sogenannte Pyramiden-Texturierung vorgenommen werden. In yet another advantageous embodiment of the invention, the transport rollers are made of plastic, with PP or PVDF offer. Particularly advantageously, the transport rollers are integrally or in one piece and formed out of a single piece of material or formed as a one-piece piece of material, preferably made of relatively hard material with a closed surface. In a device described in this way, multicrystalline wafers can be etched or textured particularly advantageously. For monocrystalline wafers, a so-called pyramid texturing can be performed.
Diese und weitere Merkmale gehen au ßer aus den Ansprüchen auch aus der Beschreibung und den Zeichnungen hervor, wobei die einzelnen Merkmale jeweils für sich allein oder zu mehreren in Form von Unterkombinationen bei einer Ausführungsform der Erfindung und auf ande- ren Gebieten verwirklicht sein und vorteilhafte sowie für sich schutzfähige Ausführungen darstellen können, für die hier Schutz beansprucht wird. Die Unterteilung der Anmeldung in einzelne Abschnitte sowie Zwi- schen-Überschriften beschränken die unter diesen gemachten Aussagen nicht in ihrer Allgemeingültigkeit. These and other features will become apparent from the claims, also from the description and the drawings, wherein the individual features in each case alone or more in the form of sub-combinations in an embodiment of the invention and in other areas be realized and advantageous areas represent protectable versions for which protection is claimed here. The subdivision of the application into individual sections and subheadings does not restrict the general validity of the statements made thereunder.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen schematisch dargestellt und werden im Folgenden näher erläutert. In den Zeichnungen zeigen: Fig. 1 eine Seitenansicht einer erfindungsgemäßen Vorrichtung mit Embodiments of the invention are shown schematically in the drawings and are explained in more detail below. In the drawings: FIG. 1 shows a side view of a device according to the invention
Transportwalzen, die Substrate in einer Transportebene transportieren und teilweise in Prozessmedium eingetaucht sind, Fig. 2 eine vergrößerte Darstellung einer einzelnen Transportwalze für  Transport rollers that transport substrates in a transport plane and are partially submerged in process medium, Fig. 2 is an enlarged view of a single transport roller for
Details von deren Oberflächengestaltung mit zwei Bereichen un- terschiedlich großer Durchmesser und  Details of their surface design with two areas of different diameters and
Fig. 3 eine starke Vergrößerung eines Ausschnitts aus Fig. 2 zur Veranschaulichung möglicher Abmessungen.  Fig. 3 is a high magnification of a section of Fig. 2 for the purpose of illustrating possible dimensions.
In Fig. 1 ist von der Seite in sehr schematischer Darstellung eine erfindungsgemäße Anlage bzw. Vorrichtung 1 1 dargestellt, mit der Substrate 12 transportiert und behandelt werden. Dabei weisen die Substrate 12 mit einer Oberseite 13 nach oben und einer Unterseite 14 nach unten, wobei dies nicht zwingend die entsprechenden Seiten im fertigen funktionalen Zustand sind, sondern sich lediglich auf diese Transportebene beziehen. Die Vorrichtung 1 1 weist Transportwalzen 16a bzw. 16b auf, die auf bekannte Art und Weise hintereinander angeordnet sind, vorteilhaft entsprechend der eingangs genannten EP 1 960 1 19 B1 . Sie drehen sich gleichsinnig und bilden mit ihren Oberseiten die Transportebene, wobei die Substrate 12 mit ihren Unterseiten 14 auf den Transportwalzen 16a und 16b aufliegen. In Fig. 1 from the side in a very schematic representation of an inventive system or device 1 1 is shown, are transported and treated with the substrates 12. In this case, the substrates 12 with an upper side 13 upwards and a lower side 14 downwards, wherein these are not necessarily the corresponding sides in the finished functional state, but relate only to this transport plane. The device 1 1 has transport rollers 16a and 16b, which are arranged in a known manner one behind the other, advantageously according to the aforementioned EP 1 960 1 19 B1. They rotate in the same direction and form with their tops the transport plane, wherein the substrates 12 rest with their lower sides 14 on the transport rollers 16a and 16b.
Der untere Bereich der Transportwalzen 16a und 16b ist in ein Bad des Prozessmediums 18 in einer hier nicht näher dargestellten Wanne eingetaucht bzw. dreht sich darin. Dadurch wird ein Film 19 aus Prozessmedium 18 von den Transportwalzen 16a und 16b mitgenommen und von diesen nach oben an die Unterseiten 14 gebracht. Dieser Vorgang ist ebenfalls aus der genannten EP 1 960 1 19 B1 bekannt, auf die diesbezüglich verwiesen wird. The lower portion of the transport rollers 16a and 16b is immersed in a bath of the process medium 18 in a trough not shown here or rotates therein. As a result, a film 19 of process medium 18 is taken along by the transport rollers 16a and 16b and brought upwards by the transport rollers 16a and 16b. This process is also known from the cited EP 1 960 1 19 B1, to which reference is made in this regard.
In der Draufsicht gemäß Fig. 2 ist die Ausbildung einer Oberfläche einer Transportwalze 16a in ein bestimmtes Profil dargestellt mit relativ schmalen ersten Bereichen 21 eines ersten, größeren Durchmessers und relativ breiten zweiten Bereichen 25 eines zweiten, kleineren Durchmessers. Die ersten Bereiche 21 sind jeweils an den Enden der Transportwalze 16a angeordnet und weisen zwischen sich die zweiten Bereiche 25 auf. Ein erster Bereich 21 ist dabei mit einer mittleren Erhöhung 22 als einer Art Lauffläche bzw. Auflagefläche für die Substrate 12 ausgebildet, wobei sich links und rechts davon Abschrägungen 23a und 23b befinden. In den zweiten Bereichen 25 sind zwar ebenfalls Erhöhungen 26 vorgesehen, diese reichen aber nicht an die Erhöhungen 22 der ersten Bereiche 21 heran. Die Erhöhungen 26 in den zweiten Bereichen 25 werden durch zweite Abschrägungen 27a und 27b gebildet, die quasi als eine Art Einschnitte vorgesehen sind und Rillen 29 bilden. Aus Fig. 2 ist zu erkennen, dass die gesamte Transportwalze 16a regelmäßig ausgebildet ist. Dies bedeutet, die ersten Bereiche 21 bzw. deren Erhöhungen 22 weisen jeweils gleichbleibenden Abstand zueinander auf, der wie vorbeschrieben etwa 10mm bis 20mm betragen kann. Die gesamte Breite einer Transportwalze 16a kann einige cm betragen, beispielsweise 5cm bis 15cm. Ihr Durchmesser entsprechend Fig. 1 kann im Bereich von 1 cm bis 3cm liegen. In the plan view of FIG. 2, the formation of a surface of a transport roller 16a is shown in a certain profile with relatively narrow first regions 21 of a first, larger diameter and relatively wide second regions 25 of a second, smaller diameter. The first regions 21 are respectively arranged at the ends of the transport roller 16a and have between them the second regions 25. A first region 21 is formed with a central elevation 22 as a kind of running surface or bearing surface for the substrates 12, wherein bevels 23a and 23b are located on the left and right of it. Although elevations 26 are likewise provided in the second regions 25, they do not extend to the elevations 22 of the first regions 21. The ridges 26 in the second regions 25 become formed by second bevels 27a and 27b, which are provided as a kind of cuts and grooves 29 form. From Fig. 2 it can be seen that the entire transport roller 16a is formed regularly. This means that the first regions 21 and their elevations 22 each have a constant distance from each other, which may be about 10mm to 20mm as described above. The entire width of a transport roller 16a may be a few cm, for example 5cm to 15cm. Their diameter according to Fig. 1 can be in the range of 1 cm to 3cm.
Im dargestellten Beispiel weisen die zweiten Bereiche 25 jeweils acht Erhöhungen 26 auf. Es können an sich aber auch mehr oder weniger Erhöhungen sein. Des Weiteren müssen auch nicht sämtliche zweiten Bereiche 25 jeweils gleich viele Erhöhungen 26 aufweisen. In the illustrated example, the second regions 25 each have eight elevations 26. There may also be more or fewer increases per se. Furthermore, not all second regions 25 must each have the same number of elevations 26.
Aus der starken Vergrößerung in Fig. 3 wird noch einmal die Ausbildung des Profils der Transportwalze 16a deutlich. Das Maß bi für die Breite der Erhöhung 22 des ersten Bereichs 21 kann zwischen 0,2mm und 0,6mm betragen. Vorteilhaft entspricht es auch dem Maß b2 der Breite der Erhöhungen 26 des zweiten Bereichs 25. From the high magnification in Fig. 3, once again the formation of the profile of the transport roller 16a becomes clear. The dimension bi for the width of the elevation 22 of the first region 21 may be between 0.2 mm and 0.6 mm. Advantageously, it also corresponds to the dimension b 2 of the width of the elevations 26 of the second region 25.
Das Maß h als halbe Durchmesserdifferenz bzw. Höhenunterschied zwischen den Erhöhungen 22 und 26 kann in einem Bereich zwischen etwas weniger als 0,1 mm und 0,5mm liegen, vorteilhaft zwischen 0,1 mm und 0,2mm. Die Tiefe der durch die Abschrägungen 27a und 27b gebildeten Rillen 29 liegt dann etwas darüber und kann 0,2mm bis 0,4mm betragen. Eine Breite v der Rillen 29 liegt im Bereich ihrer Tiefe und somit ebenfalls bei 0,2mm bis 0,4mm. Ein Winkel α der Rillen 29 kann in einem vorgenannten Bereich liegen, vorteilhaft 50° bis 60° betragen. Die Rillen 29 müssen dabei auch nicht ganz spitzwinklig im unteren Bereich ausgebildet sein, sondern können auch beispielsweise für eine leichtere Herstellbarkeit leicht abgerundet sein. Der Abschrägungswinkel von den Erhöhungen 22 der ersten Bereiche 21 zu den seitlichen ersten Abschrägungen 23a und 23b kann gleich sein wie von den Erhöhungen 26 der zweiten Bereiche 25 zu den seitlichen zweiten Abschrägungen 27a und 27b. The dimension h as half the diameter difference or height difference between the elevations 22 and 26 may be in a range between slightly less than 0.1 mm and 0.5 mm, advantageously between 0.1 mm and 0.2 mm. The depth of the grooves 29 formed by the bevels 27a and 27b is then slightly above and can be 0.2mm to 0.4mm. A width v of the grooves 29 is in the range of their depth and thus also at 0.2mm to 0.4mm. An angle α of the grooves 29 may be in an aforementioned range, advantageously 50 ° to 60 °. The grooves 29 need not be formed at an acute angle in the lower region, but may also be slightly rounded, for example, for ease of manufacture. The bevel angle of the Ridges 22 of the first regions 21 to the lateral first slopes 23a and 23b may be the same as from the ridges 26 of the second regions 25 to the lateral second slopes 27a and 27b.
Aus Fig. 2 ist auch zu erkennen, dass das Substrat 12 mit seiner Unterseite 14 auf den Erhöhungen 22 der ersten Bereiche 21 aufliegt und zu den zweiten Bereichen 25 hin einen Film 19 aus Prozessmedium 18 aufweist, der dann eben die Filmdicke mit dem Maß h entsprechend Fig. 3 aufweist bzw. noch zusätzlich eine Filmdicke in die Rillen 29 hinein. Wie daraus deutlich wird, fungieren also die zweiten Bereiche 25 mit dem geringeren Durchmesser als Fördermittelbereiche, d.h. als Bereiche, in denen Prozeßmedium 18 aus dem Bad als besagter Prozessmediumfilm 19 zur Substratunterseite 14 mitgenommen bzw. hochgefördert wird. Durch Variieren des Maßes h sowie der Tiefe der Rillen 29 kann die Menge an Prozessmedium 18, die an die Substratunterseite 14 gebracht wird, variiert werden. Deswegen bietet es sich auch an, bei der Vorrichtung 1 1 entsprechend Fig. 1 im hinteren Bereich für die Transportwalzen 16b dieses Maß der Höhendifferenz h etwas geringer zu wählen, bei- spielsweise 20 % bis 40 %. Hier im hinteren Teil der Vorrichtung 1 1 wird eine geringere Menge von an die Unterseite 14 geführtem Prozessmedium 18 als ausreichend angesehen. Hier können die Rillen 29 tiefer sein. Durch tiefere Rillen 29 mit größerer Breite wird eine geringere Menge an Prozessmedium 18 an die Unterseite 14 der Substrate 12 ge- bracht. It can also be seen from FIG. 2 that the substrate 12, with its lower side 14, rests on the elevations 22 of the first regions 21 and has a film 19 of process medium 18 toward the second regions 25, which then precisely measures the film thickness with the dimension h corresponding to FIG. 3 or additionally a film thickness in the grooves 29 inside. As can be seen, therefore, the second regions 25 of smaller diameter function as conveyor regions, i. as areas in which process medium 18 is taken from the bath as said process medium film 19 to the substrate base 14 or promoted. By varying the dimension h and the depth of the grooves 29, the amount of process medium 18 brought to the substrate bottom 14 can be varied. For this reason, it is also appropriate, in the case of the device 11 according to FIG. 1, for the transport rollers 16b, to choose this measure of the height difference h to be slightly lower, for example 20% to 40%. Here in the rear part of the device 11, a smaller amount of process medium 18 fed to the underside 14 is considered sufficient. Here, the grooves 29 can be deeper. By means of deeper grooves 29 having a greater width, a smaller amount of process medium 18 is brought to the underside 14 of the substrates 12.
Der genannte relativ geringe Abstand zwischen den Erhöhungen 22 der ersten Bereiche 21 , auf denen das Substrat 12 aufliegt, kann ein Durchbiegen dieser aufliegenden Substrate 12 verhindern. Dies gilt auch für sehr geringe Substratdicken für die Herstellung von Solarzellen von weniger als 0,2mm mit zunehmender Tendenz in Richtung 0,1 mm. Die Kanten der Substrate 12 parallel zur Transportrichtung werden bei entsprechend geschicktem Auflegen von den Transportwalzen 16a und 16b nicht kontaktiert bzw. berührt. Die Adhäsionskräfte zwischen Substrat 12 einerseits und Flüssigkeitsfilm 19 bzw. Prozessmedium 18 an- dererseits sowie die Oberflächenspannung des Prozessmediums 18 werden genutzt, um das Substrat an seiner Unterseite vollständig zu benetzen. In Fig. 2 links ist eine Art konkaver Meniskus am Prozessmedium 18 zu erkennen. Gerade die konkave Ausbildung verhindert ein Überschwappen des Prozessmediums 18 an die Oberseite 13 des Sub- strats 12. Aus der Darstellung in Fig. 2 ist auch zu erkennen, dass ein Überschwappen von zurück gequetschtem Prozessmedium auf die Oberseite 13 der Substrate 12 vermieden wird, falls diese auch nicht behandelt werden sollen. Es gibt also auch keine Probleme mit Umschlag odgl.. Said relatively small distance between the elevations 22 of the first regions 21, on which the substrate 12 rests, can prevent sagging of these resting substrates 12. This also applies to very small substrate thicknesses for the production of solar cells of less than 0.2 mm with increasing tendency towards 0.1 mm. The edges of the substrates 12 parallel to the transport direction are not contacted or touched with a correspondingly clever placement of the transport rollers 16a and 16b. The adhesion forces between the substrate 12 on the one hand and the liquid film 19 or process medium 18 on the other hand and the surface tension of the process medium 18 are used to completely wet the substrate on its underside. In Fig. 2 left a kind of concave meniscus on the process medium 18 can be seen. Precisely the concave formation prevents the process medium 18 from spilling over onto the upper side 13 of the substrate 12. It can also be seen from the representation in FIG. 2 that spilling over of back-squeezed process medium onto the upper side 13 of the substrates 12 is avoided if these should not be treated. So there are no problems with envelope odgl ..
Die gezeigte Vorrichtung 1 1 mit den neuartigen Transportwalzen 16a und 16b bietet sich vor allem für eine Kantenisolierung von Wafern für die Solarzellenherstellung an, wobei das Prozessmedium HN30 und HF aufweist. Weitere Prozessparameter sind Transportgeschwindigkeit bzw. Rotationsgeschwindigkeit der Transportwalzen 16a und 16b, Temperatur, Eintauchtiefe der Transportwalzen 16a und 16b in das Prozessmedium 18, mögliche Absaugung zwischen den Transportwalzen und Zusammensetzung des Prozessmediums an sich. The device 1 shown with the novel transport rollers 16a and 16b is particularly suitable for edge insulation of wafers for solar cell production, wherein the process medium HN 3 0 and HF has. Further process parameters are transport speed or rotational speed of the transport rollers 16a and 16b, temperature, immersion depth of the transport rollers 16a and 16b into the process medium 18, possible suction between the transport rollers and composition of the process medium per se.

Claims

Patentansprüche claims
Vorrichtung zur Oberflächenbehandlung von Substraten, mit Transportmitteln (16a, 16b) zum Transport eines Substrats in einer von den Transportmitteln bestimmten Transportebene, wobei die Transportmittel als Transportwalzen und gleichzeitig als Fördermittel ausgebildet sind für eine Benetzung des Substrats mit einem flüssigen Prozessmedium (18) an einer Substratunterseite, wobei die Transportwalzen zumindest teilweise in Prozessmedium getaucht sind bzw. Prozessmedium an ihrer Oberseite aufweisen zur Benetzung der Substratunterseite beim Transport in direktem Kontakt zwischen Transportmittel und Substratoberfläche, dadurch gekennzeichnet, dass die Transportwalzen eine rotationssymmetrische Au ßenseite aufweisen mit mehreren Bereichen (21 ) eines ersten, größeren Durchmessers und mehreren Bereichen (25) eines zweiten, kleineren Durchmessers dazwischen, wobei zumindest in die Bereiche mit dem zweiten, kleineren Durchmesser Rillen bzw. Vertiefungen (29) eingebracht sind. Device for the surface treatment of substrates, with transport means (16a, 16b) for transporting a substrate in a transport plane determined by the transport means, wherein the transport means are designed as transport rollers and simultaneously as conveying means for wetting the substrate with a liquid process medium (18) on one Substrate base, wherein the transport rollers are at least partially submerged in process medium or process medium at its top for wetting the substrate base during transport in direct contact between transport and substrate surface, characterized in that the transport rollers have a rotationally symmetrical Au ßenseite with several areas (21) of a first, larger diameter and a plurality of areas (25) of a second, smaller diameter therebetween, wherein at least in the areas with the second, smaller diameter grooves or recesses (29) are introduced.
Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass mindestens die Bereiche des zweiten, kleineren Durchmessers als Prozeßmedium-Förderbereiche ausgeführt sind, durch die das Prozeßmedium aus einem Prozeßmediumbad, in das die Transportwalzen zumindest mit einem unteren Teilbereich getaucht sind, zur Substratunterseite gefördert wird. Apparatus according to claim 1, characterized in that at least the areas of the second, smaller diameter are designed as process medium conveying areas through which the process medium from a process medium bath, in which the transport rollers are immersed at least with a lower portion, is conveyed to the substrate bottom.
Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Bereiche des ersten, größeren Durchmessers regelmäßigen Abstand zueinander aufweisen und/oder die Bereiche des zweiten, kleineren Durchmessers regelmäßigen Abstand zueinander aufweisen und/oder der Abstand der Bereiche des ersten, größeren Durchmessers etwa 10mm bis 20mm beträgt, vorzugsweise 13mm bis 17mm. Device according to claim 1 or 2, characterized in that the regions of the first, larger diameter have a regular distance from one another and / or the regions of the second, smaller diameter have a regular distance from one another and / or the distance between the regions of the first, larger diameter is about 10mm to 20mm, preferably 13mm to 17mm.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der erste, größere Durchmesser um weniger als 1 mm größer ist als der zweite, kleinere Durchmesser, insbesondere um weniger als 0,5mm oder zwischen 0,1 mm und 0,2mm. 4. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the first, larger diameter by less than 1 mm larger than the second, smaller diameter, in particular by less than 0.5 mm or between 0.1 mm and 0.2 mm.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Bereiche des ersten, größeren Durchmessers im Übergang zu den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser abgeschrägt sind, insbesondere mit einem Winkel zwischen 45° und 60°. 5. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the areas of the first, larger diameter are bevelled in the transition to the areas with the second, smaller diameter, in particular at an angle between 45 ° and 60 °.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Bereiche mit dem ersten, größeren Durchmesser ohne Rillen bzw. Vertiefungen ausgebildet sind. 6. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the areas are formed with the first, larger diameter without grooves or depressions.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Rillen bzw. Vertiefungen in den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser V-förmig ausgebildet sind, insbesondere mit einem Winkel zwischen 40° und 70° oder zwischen 50° bis 60°. 7. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the grooves or depressions in the areas with the second, smaller diameter are V-shaped, in particular with an angle between 40 ° and 70 ° or between 50 ° to 60 ° ,
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Rillen bzw. Vertiefungen eine Tiefe zwischen 0,2mm und 1 mm aufweisen, insbesondere etwa 0,5mm. 8. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the grooves or depressions have a depth between 0.2 mm and 1 mm, in particular about 0.5 mm.
9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in den Bereichen mit dem zweiten, kleine- ren Durchmesser die Breite zwischen den Rillen bzw. Vertiefungen weniger als 1 mm beträgt, vorzugsweise 0,1 mm bis 0,4mm. 9. Device according to one of the preceding claims, characterized in that in the areas with the second, small ren diameter is the width between the grooves or recesses less than 1 mm, preferably 0.1 mm to 0.4 mm.
10. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in den Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser die größte Breite der Rillen bzw. Vertiefungen weniger als 1 mm beträgt, vorzugsweise 0,2mm bis 0,6mm. 10. Device according to one of the preceding claims, characterized in that in the areas with the second, smaller diameter, the largest width of the grooves or depressions is less than 1 mm, preferably 0.2 mm to 0.6 mm.
1 1 . Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sämtliche Rillen bzw. Vertiefungen in den1 1. Device according to one of the preceding claims, characterized in that all grooves or depressions in the
Bereichen mit dem zweiten, kleineren Durchmesser bei einer Transportwalze gleich ausgebildet sind hinsichtlich Tiefe und Form, wobei vorzugsweise in einem hinteren Bereich der Vorrichtung die Transportwalzen eine größere Tiefe der Rillen bzw. Ver- tiefungen haben als im vorderen Bereich, insbesondere eine etwaRegions with the second, smaller diameter at a transport roller are formed equal in depth and shape, preferably in a rear region of the device, the transport rollers have a greater depth of the grooves or depressions than in the front region, in particular an approximately
30% bis 60% größere Tiefe. 30% to 60% greater depth.
12. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass an beiden Enden der Transportwalzen Be- reiche mit dem ersten, größeren Durchmesser vorgesehen sind und dazwischen weitere Bereiche mit diesem ersten, größeren Durchmesser. 12. Device according to one of the preceding claims, characterized in that at the ends of the transport rollers areas with the first, larger diameter are provided and in between further areas with this first, larger diameter.
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TW (1) TW201323094A (en)
WO (1) WO2013026710A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103346109A (en) * 2013-07-16 2013-10-09 英利能源(中国)有限公司 Wet etching device and process

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014200582A1 (en) * 2014-01-15 2015-07-16 Helmut Diebold Gmbh & Co. Goldring-Werkzeugfabrik Tool holder with a nozzle ring
KR20210050584A (en) * 2018-09-27 2021-05-07 코닝 인코포레이티드 Substrate processing apparatus and methods

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5592958A (en) * 1995-02-01 1997-01-14 Coates, Asi, Inc. Flood conveyer
US6037020A (en) * 1996-01-29 2000-03-14 Electrochemicals Inc. Ultrasonic mixing of through hole treating compositions
EP1960119B1 (en) 2005-12-16 2010-05-12 Gebr. Schmid GmbH + Co. Device, system and method for treating the surfaces of substrates

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03188965A (en) * 1989-12-18 1991-08-16 Ig Tech Res Inc Roll for printing
JPH10216588A (en) * 1997-02-05 1998-08-18 Fuji Photo Film Co Ltd Rod for coating equipment
JP2001121053A (en) * 1999-10-26 2001-05-08 Ibiden Co Ltd Roll coater for coating and production method of printed circuit board using the same
JP2001054753A (en) * 2000-01-01 2001-02-27 Ibiden Co Ltd Roll coater for printing circuit board
JP4478780B2 (en) * 2002-11-22 2010-06-09 壽工業株式会社 Method of painting ceramic base material having transparent protective layer and its decorative base material
JP2004267854A (en) * 2003-03-06 2004-09-30 Fuji Photo Film Co Ltd Robot for coating apparatus and its production method
JP4314976B2 (en) * 2003-11-17 2009-08-19 株式会社村田製作所 Gravure roll, method for confirming wear amount of gravure roll, and method for manufacturing electronic component
JP4531425B2 (en) * 2004-03-30 2010-08-25 アイジー工業株式会社 Uniform coating equipment for exterior substrates
DE102005062527A1 (en) * 2005-12-16 2007-06-21 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Substrate surface treatment device for production of solar cell, has suction unit provided for suction of fluid process medium from environment of conveying unit and arranged under transport plane in vertical direction
JP2009125675A (en) * 2007-11-26 2009-06-11 Tokyo Kakoki Kk Spray unit for surface treatment of substrate material
WO2010041328A1 (en) * 2008-10-10 2010-04-15 有限会社マイスター Application roll

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5592958A (en) * 1995-02-01 1997-01-14 Coates, Asi, Inc. Flood conveyer
US6037020A (en) * 1996-01-29 2000-03-14 Electrochemicals Inc. Ultrasonic mixing of through hole treating compositions
EP1960119B1 (en) 2005-12-16 2010-05-12 Gebr. Schmid GmbH + Co. Device, system and method for treating the surfaces of substrates

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103346109A (en) * 2013-07-16 2013-10-09 英利能源(中国)有限公司 Wet etching device and process

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