WO2002008793A1 - Verfahren zur bestimmung der position eines sensorelementes - Google Patents

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WO2002008793A1
WO2002008793A1 PCT/CH2001/000431 CH0100431W WO0208793A1 WO 2002008793 A1 WO2002008793 A1 WO 2002008793A1 CH 0100431 W CH0100431 W CH 0100431W WO 0208793 A1 WO0208793 A1 WO 0208793A1
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calculated
sensor element
eddy currents
field
determined
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PCT/CH2001/000431
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French (fr)
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Paul G. Seiler
Ralph K. Muench
Stefan Kirsch
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Northern Digital Inc.
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Priority to AT01944861T priority patent/ATE312364T1/de
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V3/00Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
    • G01V3/08Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/06Devices, other than using radiation, for detecting or locating foreign bodies ; determining position of probes within or on the body of the patient
    • A61B5/061Determining position of a probe within the body employing means separate from the probe, e.g. sensing internal probe position employing impedance electrodes on the surface of the body
    • A61B5/062Determining position of a probe within the body employing means separate from the probe, e.g. sensing internal probe position employing impedance electrodes on the surface of the body using magnetic field
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/004Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points

Definitions

  • the present invention relates to a method according to the preamble of claim 1, an application of the method, an apparatus for performing the method and a computer program product.
  • a known device or a known method for determining the position is described in the international patent application with the publication number WO 97/36192 by the same applicant. According to the known teaching, it is provided to build up an alternating field with the aid of a field generator unit, several alternating fields being superimposed on one another depending on the number of degrees of freedom of a sensor element whose position is to be determined. With the help of a processing and
  • the control unit which controls the field generator unit on the one hand and processes the signals received by the sensor element on the other, becomes the position and, if necessary determines the position of the sensor unit.
  • a method for compensating for interference effects caused by conductive objects is known under the name “distortion mapping”. This method is described, for example, in the article entitled “Calibration of Tracking Systems in a Surgical Environment” (Birkfellner et. Al., IEEE Trans Med Imaging, Vol. 17 (5), pages 737 to 742, 1998).
  • the position and the orientation of a sensor element is also carried out with the aid of a position measuring system which is based on a magnetic field-based location, a second position measuring system being provided to compensate for interference effects and which cannot be influenced by electrically conductive objects.
  • the difference between the positions and orientations determined with the two position measuring systems is shown in the
  • the present invention is therefore based on the object of specifying a method which improves Determination of the position and / or position of a sensor element enables.
  • the method according to the invention makes it possible to eliminate the influence of conductive objects, or at least to reduce it considerably. Furthermore, this method is more general and more precise than the known methods. Finally, the geometry-dependent part of the calculations can be carried out in the sense of a system calibration before the position measuring system is actually used.
  • FIG. 1 shows a known arrangement consisting of a field generator unit, sensor element and processing and control unit, in a schematic representation, with an electrically conductive object
  • Fig. 2 is an electrically conductive object
  • FIG. 3 shows a flowchart with some method steps of the method according to the invention.
  • 1 shows a known arrangement, consisting of a field generator unit 200, a sensor element 300 and a processing and control unit 100.
  • the processing and control unit 100 is in each case connected via lines to the field generator unit 200 on the one hand and to the sensor element 300 on the other.
  • the field generator unit 200 is preferably located at a known location - which means that the coordinates x, y, z, including the orientation in the coordinate system - are known - the sensor element 300 can be moved as desired or assume any position and orientation. It is pointed out that, as is already known from WO 97/36192, it is conceivable for the sensor element 300 to be stationary and the field generator unit 200 to be free, ie within the scope of the one made available
  • Connection line to the processing and control unit 100 is movable. Furthermore, it is also readily conceivable that the processing and control unit 100 is implemented in a plurality of functional units, such as, for example, that the control unit for controlling the
  • At 400 is an electrical schematic Representing conductive object representative of those objects that interfere with the magnetic location of the sensor element 300 by generating eddy currents 420 in the object 400, due to which an interference field 410 is superimposed on the alternating field 210.
  • the position and / or orientation of one or more sensor elements 300 relative to one or more field generator units 200 is determined in magnetic field-based location, which is also referred to as magnetic location.
  • Orientation n s of sensor elements 5 can be determined by solving the following system of equations, provided that position r Gj and orientation n 0J of field generator units G ⁇ are known:
  • i is meant the i-th sensor element and with j the j-th field generator unit.
  • F is usually a measurement function dependent on the magnetic field
  • Component of the magnetic field B (x, y, z, t) (e.g. the induced voltage in a sensor coil).
  • F can of course also be a function of many assembled sensors in one sensor element, which measures several or all components at the same time. According to the type of solution to this system of equations, magnetic position systems can be divided into two classes:
  • time-varying magnetic fields are used, they generate - as already mentioned - 400 eddy currents 420 in neighboring, electrically conductive objects. These lead to distortions of the original magnetic alternating field 210 and thus to systematic errors in the position determination. This means that if the position and orientation of sensor elements in the distorted alternating field are determined as if there was no electrically conductive object 400, the values obtained are systematically falsified.
  • the alternating field distortions and their influence on the determination of sensor element position and sensor element orientation are determined according to the invention.
  • the systematic errors that occur can thus be corrected, which can significantly improve the accuracy of the position and / or the alignment.
  • the object 400 consists of an electrically conductive plate, i.e. consists of a flat and limited area.
  • Objects 400 which have a relevant extent (depth) in the direction of an imaginary line from the field generator unit 200 to the object 400 can also be treated with the method according to the invention.
  • the side facing the field generator unit 200 is approximated by a multi-surface structure. This is permissible since the eddy currents 420 penetrate the surface only slightly. The depth of a three-dimensional object 400 is therefore not relevant.
  • the object 400 is therefore approximated by a multifaceted structure in the sense mentioned above.
  • a field B ⁇ x ⁇ y ⁇ i) can be calculated from the Biot-Savart law of electrodynamics (equation 4), which describes B '(x, y, z, t) well enough if the local and temporal course of the Eddy currents 410 in object 400 in N different point-shaped current elements are known:
  • Equation 4 is adopted as listed above if N is chosen large enough.
  • the field distortions are therefore calculated in two steps.
  • the first step is the determination of the eddy currents 410 and the second step is the calculation of an interference field generated by the eddy currents 410
  • FIG. 2 shows the object 400, which is divided into a multifaceted structure consisting of any number of segments for the determination of the interference field 410.
  • the eddy currents are first calculated on the basis of this division and various other assumptions.
  • Penetration depth In order to calculate the above-mentioned interference field B '(x, y, z, t) with sufficient accuracy, it is sufficient to know the temporal current profile in some points on the surface of the object 400. The number of points depends on the accuracy required. The eddy currents are thus calculated in points which are on or near the surface of the object.
  • the object is divided into N segments of any shape, which usefully (but not necessarily) cover the entire object.
  • the segments are subsequently referred to as S ( . ⁇ 0 ⁇ z ' ⁇ Nl ⁇ for clear differentiation, i being used as an index.
  • a base point P is selected for each segment. It makes sense but is not essential to define the same number of bases as segments and to assign them clearly to the segments. In the following, for the sake of simplicity, it is assumed that N segments S, each with a clearly assigned base P t , are defined.
  • the current density l, (t) at the base P t of each segment S is calculated using the following formula:
  • ? u (f) is the current density of the eddy current I y (t), which is determined by the flux change of the field from B 0 (x, y, z, t) in the segment S ,. is caused and flows through the base point P ( or in the vicinity of the base point P ; the calculation of the individual eddy currents I tj (t) is described in the next section.
  • Base P ( and with A s is the cross-sectional area of the streamline, where:
  • interference field caused by B 0 (x, y, z, t) can be calculated - freedom (t) - -4 (S ,.) can be used directly in equation 4, where -4 (5 ,.) is the area of the Segment S t is.
  • B (x, y, z t t) can in most cases be regarded as B '(x, y, z, t).
  • B l (x, y, z, t) can be used as the original field at this point in order to in turn calculate eddy currents for a second interference field B 2 (x, y, z, t) (influence of the eddy currents on one another ), which is overlaid with B 0 (x, y, z, t) and B ⁇ (x, y, z, t).
  • B '(x, y, z, t) would be the sum of B x (x, y, z, t) and B 2 x, y, z, t) - this iterative approach can be arbitrary for effects Order to be continued.
  • the first order effect is sufficiently accurate in most applications.
  • a single eddy current I y (t) is a streamline that flows through the base P t and is caused by the temporal flow change of the field through the base P ⁇ .
  • ⁇ I t) to be calculated are the inductance L s, to be 1 ohm shear resistance R ( ⁇ and the temporal change of flux d ⁇ -.. Necessary Are these Gr ⁇ ssen known, then I y (i) by solving the differential equation
  • B 0 (x, y, z, t) may be periodic or even oscillate in time, but this is not necessary for the method according to the invention to be valid.
  • the inductance L ⁇ and the ohmic resistance R y are given by the geometric shape of the eddy current I g (t) d ⁇ . and the flow change - by the field B 0 (x, y, z, t) at the dt
  • any eddy current is a current along a contour of a surface, which is the equation of potential
  • the inductance of the conductor loop is given by
  • ⁇ j (t) ⁇ B 0 (x, y, z, t) dA (11a)
  • the location and orientation of one or more sensor elements 300 are determined in a magnetic field generated by one or more field generator units 200.
  • the position of the field generator unit 200 or the field generator units is known in the coordinate system used.
  • adjacent electrically conductive objects 400 produce field distortions due to eddy currents 420 induced in objects 400.
  • the method according to the invention for correcting these distortions is used as follows: The position of the electrically conductive objects 400 in the aforementioned Coordinate system is known or is determined by measurement.
  • the object coordinates are entered in a computer program which is used to calculate the eddy currents 420 and the resulting field distortions in such a way that the location coordinates used in the formulas given above are defined by the Field generator unit 200 defined coordinate system are defined.
  • the interference field generated by the eddy currents 420 is then calculated with the computer program. Taking eddy currents 420 into account, system of equations 1 changes as follows:
  • F y represents the disturbance generated by the eddy currents 420 of the object k.
  • P is the number of objects. How this correction is applied depends on the type of magnetic position measuring system.
  • the measured values are corrected iteratively, ie the undisturbed solution is first calculated according to equation 2. With the position of the sensor element 300 found, the correction term F 1 can be calculated and subtracted from the measurements F y M , A position is calculated again with the corrected measurements. This algorithm continues until the variation of the calculated positions is below certain tolerance thresholds.
  • Magnetic field used with eddy current corrections according to equation 12. III Under certain conditions, it may also be possible to invert the equation system 12, which then leads to a solution according to equation 2.
  • Fig. 3 shows, in a simplified representation
  • the method according to the invention can also be excellent for
  • Objects with openings can be used, the number L of openings being arbitrary.
  • the boundary condition of the potential equation (7) at the edges of the openings must first be equal to the potential ⁇ 0 at the edge of the object.
  • the additional eddy current lines I ik can be calculated individually analogously to the eddy current lines I i: j , ie solving the potential equation (7) for the shape of the current and calculating the inductance and resistance according to equations (8) and (9).
  • equation of potential (7) it should be noted, however, that the boundary condition is not " ⁇ j, at point Pj", but " ⁇ x at the edge of the opening k”.
  • formula 11a may be used to calculate the flow instead of approximation 11.
  • Individual conductor loops can also be calculated using this method, as the previously mentioned openings can be expanded as close as possible to the border of the objects to be calculated.
  • the simplest example is a circular ring, which can be viewed as a disk with an opening of almost the same size:
  • the streamlines I i; i are negligible (the support points could be omitted) and there is only one I ik whose shape through the circular ring given is. If the reference points are omitted, the field B x is to be determined by the line integral using equation 4.
  • Another aspect is that interference from unknown objects is shielded by providing a conductive plate between the field generator unit and the object, the size and shape as well as their position being known. Although the field distortions of this plate must be taken into account, all other electrically conductive objects which are located on the other side of the plate with respect to the field generator unit can be disregarded because of the shielding.

Abstract

Die Erfindung betrifft zunächst ein Verfahren zur Bestimmung der Position eines Sensorelementes (300), mit Hilfe dessen ein von mindestens einer Feldgeneratoreinheit (200) ausgesendetes magnetisches Wechselfeld (210) gemessen wird, wobei aufgrund eines im Sensorelement (300) empfangenen Signals die Position des Sensorelementes (300) bestimmt wird. Erfindungsgemäss ist vorgesehen, dass, vorzugsweise in erster Näherung, Störfelder (410) berechnet werden, welche aufgrund von in elektrisch leitenden Objekten (400) erzeugten Wirbelströmen (420) entstehen. Des weiteren ist vorgesehen, dass die Position, welche ausgehend vom im Sensorelement (300) empfangenen Signal bestimmbar ist, aufgrund der berechneten Störfelder (410) korrigiert wird.

Description

Verfahren zur Bestimmung der Position eines Sensorelementes
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1, eine Anwendung des Verfahrens, eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens sowie ein Computerprogrammprodukt .
Bei zahlreichen technischen und medizinischen Verfahren ist die genaue Kenntnis der Position eines bestimmten
Gegenstandes von entscheidender Bedeutung. Währenddem in der Medizin die Position von einzelnen Gewebeteilen - beispielsweise eines Tumors, der zur Zerstörung oder zur Wachstumsbegrenzung bestrahlt werden soll - bestimmt werden muss, ist die Positionserfassung zur Eingabe in ein Computersystem, beispielsweise für „Cyber Space™- Anwendungen, von allgemeiner Bedeutung. Eine solche Positionserfassungs- bzw. Positionseingabeeinheit wird in diesen Anwendungen auch etwa als dreidimensionale Maus bezeichnet.
Eine bekannte Vorrichtung bzw. ein bekanntes Verfahren zur Bestimmung der Position ist in der internationalen Patentanmeldung mit der Verδffentlichungsnummer WO 97/36192 der gleichen Anmelderin beschrieben. Gemäss der bekannten Lehre ist es vorgesehen, ein Wechselfeld mit Hilfe einer Feldgeneratoreinheit aufzubauen, wobei je nach der Anzahl Freiheitsgrade eines Sensorelementes, dessen Position bestimmt werden soll, mehrere Wechselfelder einander überlagert werden. Mit Hilfe einer Verarbeitungs- und
Steuereinheit, welche die Feldgeneratoreinheit einerseits steuert, anderseits die vom Sensorelement empfangenen Signale verarbeitet, wird die Position und gegebenenfalls die Lage der Sensoreinheit bestimmt. Der Inhalt der vorstehend genannten Veröffentlichung bildet diesbezüglich integrierender Bestandteil dieser Beschreibung.
Es hat sich gezeigt, dass bei einer magnetfeldbasierten Ortung, wie sie beispielsweise bei der bekannten Lehre gemäss WO 97/36192 angewandt wird, in benachbarten, elektrisch leitenden Objekten Wirbelstrδme erzeugt werden. Diese führen zu Verzerrungen des ursprünglichen magnetischen Wechselfeldes und damit zu systematischen
Fehlern. Das bedeutet, dass, wenn Position und Ausrichtung von Sensorelementen im verzerrten Wechselfeld so bestimmt werden, als wäre kein elektrisch leitendes Objekt zugegen, die gewonnenen Werte systematisch verfälscht sind.
Ein Verfahren zur Kompensation von Stδreffekten, welche durch leitende Objekte hervorgerufen werden, ist unter dem Namen „Distortion Mapping" bekannt. Dieses Verfahren wird beispielsweise im Aufsatz mit dem Titel „Calibration of Tracking Systems in a Surgical Environment" (Birkfellner et. al., IEEE Trans Med Imaging, Vol. 17(5), Seiten 737 bis 742, 1998) beschrieben. Beim bekannten Verfahren wird die Position und die Orientierung eines Sensorelementes ebenfalls mit Hilfe eines Positionsmesssystems, das auf einer magnetfeldbasierten Ortung beruht, vorgenommen, wobei zur Kompensation von Stδreffekten ein zweites Positionsmesssystems vorgesehen ist, welches durch elektrisch leitende Objekte nicht beeinflussbar ist. Die Differenz zwischen den mit den beiden Positionsmesssystemen ermittelten Positionen und Orientierungen werden in der
Folge zur Korrektur der mit Hilfe des magnetfeldbasierten Positionsmesssystems bestimmten Position und Orientierung verwendet. Das bekannte Verfahren weist jedoch den Nachteil auf, dass, zur Erreichung einer hohen Genauigkeit, die Positions- und Orientierungsdifferenz an möglichst vielen Punkten gemessen werden muss. Um weitere Punkte zu erhalten, muss zusätzlich ein aufwendiges Interpolationsverfahren angewendet werden. Der sehr hohe Aufwand wird insbesondere durch das folgende Beispiel deutlich: Soll ein Volumen von 1 m3 vermessen werden, wobei dies in den drei Achsen alle 10cm und in zehn verschiedenen Orientierungswinkeln geschehen soll, so erhält man 10' 000 Punkte. Darüber hinaus ist das erwähnte zweite Positionsmesssystem erforderlich.
Des weiteren ist ein Verfahren zur Kompensation von Stδreffekten bekannt, bei dem Magnetfelder durch gepulste Gleichstromfelder erzeugt werden, wobei die Kompensation von Wirbelstromeffekten dadurch vorgenommen werden, indem Magnetfeldmessungen erst nach dem Abklingen der im Messsignal enthaltenen WirbelStromanteile durchgeführt werden. Weiterführende Erläuterungen zum bekannten Verfahren können den Druckschriften US-5 453 686 und US-5 767 669 entnommen werden. Es hat sich gezeigt, dass die Genauigkeit der ermittelten Resultate ungenügend ist. Insbesondere ist die Kompensation unvollständig, wenn die Zerfallszeiten der WirbelStromanteile die Pulszeit zwischen zwei Gleichstrompulsen übersteigt. Zwar kann dem durch
Verlängerung der Pulszeit begegnet werden, doch führt dies zu einer unerwünschten geringeren Messrate. Des weiteren lässt sich die bekannte Kompensationsmethode nicht bei auf magnetischer Ortung basierenden Positionsmesssystemen anwenden, die magnetische Wechselfelder erzeugen.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren anzugeben, das eine verbesserte Bestimmung der Position und/oder der Lage eines Sensorelementes ermöglicht.
Diese Aufgabe wird durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Massnahmen gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung, eine Anwendung des Verfahrens, eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens sowie ein Computerprogrammprodukt sind in weiteren Ansprüchen angegeben.
Mit dem erfindungsgemässen Verfahren wird es ermöglicht, den Einfluss von leitenden Objekten zu eliminieren, zumindest aber erheblich zu reduzieren. Des weiteren ist dieses Verfahren allgemeiner und genauer als die bekannten Verfahren. Schliesslich kann der geometrieabhängige Teil der Berechnungen im Sinne einer Systemkalibrierung vor dem eigentliche Einsatz des Positionsmesssystems vorgenommen werden.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Zeichnungen beispielsweise näher erläutert. Dabei zeigen
Fig. 1 eine bekannte Anordnung, bestehend aus Feldgeneratoreinheit, Sensorelement und Verarbeitungs- und Steuereinheit, in schematischer Darstellung, mit einem elektrisch leitenden Objekt,
Fig. 2 ein elektrisch leitendes Objekt und
Fig. 3 ein Flussdiagramm mit einigen Verfahrensschritten des erfindungsgemässen Verfahrens. In Fig. 1 ist eine bekannte Anordnung, bestehend aus einer Feldgeneratoreinheit 200, einem Sensorelement 300 und einer Verarbeitungs- und Steuereinheit 100, dargestellt. Die Verarbeitungs- und Steuereinheit 100 ist jeweils über Leitungen mit der Feldgeneratoreinheit 200 einerseits und dem Sensorelement 300 anderseits verbunden. Während sich die Feldgeneratoreinheit 200 vorzugsweise an einem bekannten Ort befindet - was bedeutet, dass die Koordinaten x, y, z, inkl. der Ausrichtung im Koordinatensystem, bekannt sind - kann das Sensorelement 300 beliebig bewegt werden bzw. eine beliebige Position und Orientierung einnehmen. Es wird darauf hingewiesen, dass es denkbar ist, wie bereits aus der WO 97/36192 bekannt ist, dass das Sensorelement 300 ortsfest und die Feldgeneratoreinheit 200 frei, d.h. im Rahmen der zur Verfügung gestellten
Verbindungsleitung zur Verarbeitungs- und Steuereinheit 100, beweglich ist. Des weiteren ist auch ohne weiteres denkbar, dass die Verarbeitungs- und Steuereinheit 100 in mehreren Funktionseinheiten realisiert ist, wie zum Beispiel, dass die Steuereinheit zur Steuerung der
Feldgeneratoreinheit 200 in einem Funktionsblock und die Verarbeitungseinheit, in der die eigentliche Positionsberechnung der Position des Sensorelementes 300 vorgenommen wird, in einem anderen Funktionsblock realisiert ist. Diese Abwandlungen von der in Fig. 1 dargestellten Anordnung haben keinen Einfluss auf die Anwendbarkeit des erfindungsgemässen Verfahrens. Das Gleiche gilt auch für Ausführungsformen, bei denen mehrere Feldgeneratoren an unterschiedlichen Stellen vorgesehen sind, wie dies beispielsweise bei der Lehre gemäss WO 97/36192 der Fall ist.
Mit 400 ist in schematischer Darstellung ein elektrisch leitendes Objekt stellvertretend für diejenigen Gegenstände dargestellt, welche die magnetische Ortung des Sensorelementes 300 stört, indem im Objekt 400 Wirbelströme 420 erzeugt werden, aufgrund derer ein dem Wechselfeld 210 überlagerten Stδrfeld 410 entsteht.
Bevor auf das erfindungsgemässe Verfahren weiter beschrieben wird, werden im folgenden zunächst allgemeine Zusammenhänge bzw. Vorgehensweisen bei der magnetfeldbasierten Ortung erläutert.
Wie bereits erwähnt wurde, wird bei der magnetfeldbasierten Ortung, welche auch etwa als magnetische Ortung bezeichnet wird, die Position und/oder Ausrichtung von einem oder mehreren Sensorelementen 300 relativ zu einem oder mehreren Feldgeneratoreinheiten 200 bestimmt. Die Position rs und
Orientierung ns der Sensorelemente 5, kann durch Lösung des folgenden Gleichungssystems bestimmt werden, wenn man voraussetzt, dass Position rGj und Orientierung n0J der Feldgeneratoreinheiten G} bekannt sind:
Fi] = F(r,ns ,rG , nG] ) (1)
Mit i ist das i-te Sensorelement und mit j die j-te Feldgeneratoreinheit gemeint. F ist dabei eine vom Magnetfeld abhängige Messfunktion von meistens einer
Komponente des Magnetfelds B(x,y,z,t) (z.B. die induzierte Spannung in einer Sensorspule) . F kann natürlich auch eine Funktion von vielen zusammengebauten Sensoren in einem Sensorelement sein, welches mehrere oder alle Komponenten gleichzeitig misst. Nach Art der Lösung dieses Gleichungssystems können magnetische Positionssysteme in zwei Klassen unterteilt werden:
I. Das Gleichungssystem wird invertiert, d.h. die Sensorelementpositionen können aus den gemessenen Magnetfeldern berechnet werden:
r = fr(F¥) und n = fn(Fϋ) (2>
Da die Inversion des Gleichungssystems nur in sehr speziellen Fällen möglich ist, kann man durch Näherung versuchen, die Feldgleichungen in eine invertierbare Form zu bringen.
II. Das Gleichungssystem wird durch Optimierung gelöst, d.h. die Sensorelementpositionen werden so lange variiert, bis die nach Gleichung 1 berechneten Werte Fy am besten mit den gemessenen Werten E übereinstimmen. Eine mögliche Methode wäre ein Chi2-Fit nach Levenberg- Marquardt. Dabei werden die Sensorpositionen rs und ns, so lange variiert bis
j K^ g )
minimal wird. Für weiterführende Angaben zur Methode nach Levenberg-Marquardt wird stellvertretend auf die Druckschrift mit dem Titel „Numerical Recipies in C" (W. H. Press, S. A. Teukolsky, W. T. Vetterling und B. P.
Flannery; Cambridge university Press; 1994) verwiesen. Es ist auch eine Kombination beider Lδsungsansätze möglich.
Da die vom Sensorelement Si gemessene Grδsse F0 nur von der relativen Lage vom Sensorelement Si und der
Feldgeneratoreinheit Gj abhängt, sind die Rollen von .Sensorelement und Feldgeneratoreinheit in allen magnetischen Positionsmesssystemen austauschbar.
Werden zeitlich variierende magnetische Felder benützt, so erzeugen diese - wie bereits erwähnt wurde - in benachbarten, elektrisch leitenden Objekten 400 Wirbelstrδme 420. Diese führen zu Verzerrungen des ursprünglichen magnetischen Wechselfeldes 210 und damit zu systematischen Fehlern bei der Positionsbestimmung. Das bedeutet, dass, wenn Position und Ausrichtung von Sensorelementen im verzerrten Wechselfeld so bestimmt werden, als wäre kein elektrisch leitendes Objekt 400 zugegen, die gewonnenen Werte systematisch verfälscht sind.
Um das Verfahren der magnetischen Ortung auch in der Nachbarschaft von elektrisch leitenden Objekten 400 frei von durch diese hervorgerufenen Fehlern anwenden zu können, werden erfindungsgemass die Wechselfeldverzerrungen und ihr Einfluss auf die Bestimmung von Sensorelementposition und Sensorelementausrichtung bestimmt. Damit können die auftretenden systematischen Fehler korrigiert werden, womit die Genauigkeit der Position und/oder der Ausrichtung erheblich verbessert werden kann.
Bei einer vorgegebenen Messanordnung hat man feststellen können, dass ein Messfehler von 4cm mit dem erfindungsgemässen Verfahren auf weniger als 1,5mm reduziert werden konnte.
Grundsätzlich lassen sich diese Korrekturen auch mit Hilfe der Technik der finiten Elemente und den Gleichungen der Elektrodynamik finden. Die bevorzugte Ausführungsform des erfindungsgemässen Verfahrens zeichnet sich gegenüber der Methode der finiten Elemente weiter dadurch aus, dass eine massive Reduktion der Positionsberechung erreicht wurde, da vieles im Sinne einer Systemkaiibration im voraus berechnet werden kann.
Im folgenden wird das erfindungsgemässe Verfahren erläutert, wobei der Einfachheit halber zunächst davon ausgegangen wird, dass das Objekt 400 aus einer elektrisch leitenden Platte, d.h. aus einer flachen und begrenzten Fläche, besteht. Objekte 400, die in der Richtung einer gedachten Linie von der Feldgeneratoreinheit 200 zum Objekt 400 eine relevante Ausdehnung (Tiefe) besitzen, können ebenfalls mit dem erfindungsgemässen Verfahren behandelt werden. Für diesen Zweck wird die der Feldgeneratoreinheit 200 zugewandte Seite durch eine Vielflächen-Struktur angenähert. Dies ist zulässig, da die Wirbelstrδme 420 nur geringfügig in die Oberfläche eindringen. Die Tiefe eines dreidimensionalen Objektes 400 ist deshalb nicht relevant. Bei der mathematischen Bestimmung des Stδrfeldes 410 wird daher das Objekt 400 durch eine Vielflächenstruktur im vorstehend genannten Sinne angenähert.
Im folgenden werden Überlegungen betreffend die Berechnung von Feldverzerrungen bei einer leitende Platte dargestellt. Die daraus resultierenden Ergebnisse können analog bei allgemeineren Objektformen angestellt werden. Befindet sich in einem zeitlich veränderlichen Magnetfeld B0(x,y,z,t) ein elektrisch leitendes Objekt 400, so werden Wirbelstrδme 410 (Fig. 1) in die Oberfläche des Objektes 400 induziert. Diese Wirbelstrδme 410 verursachen ein weiteres Magnetfeld B'(x,y,z,t) , welches dem ursprünglichen Feld B0(x}y,z,t) überlagert ist und zu einem resultierenden Feld BjteiXt »2»*) führt. B^s(x,y,z,t) ist gegenüber dem Feld B0(x,y,z,t) verzerrt. Um dieses verzerrte Feld berechnen zu können, ist es notwendig, das induzierte Wechselfeld B'(x,y,z,i) zu kennen. Es lässt sich aus dem Biot-Savart Gesetz der Elektrodynamik (Gleichung 4) ein Feld B^x^y^i) berechnen, welches gut genug B'(x,y,z,t) beschreibt, falls der örtliche und zeitliche Verlauf der Wirbelstrδme 410 im Objekt 400 in N verschiedenen punktfδrmigen Stromelementen bekannt ist:
Figure imgf000012_0001
wobei PR = (x,y,z) ein Punkt im Raum ist und der Vektor F vom
Stromelement zum Punkt PR zeigt. Vorfaktoren können, falls notwendig, eingeführt werden und/oder können im Betrag des Faktors Δs(t) enthalten sein. Eine detailliertere Berechnung von Bx(x,y,z,t) durch Einführung von Längsstrδmen oder Flächenstrδmen etc. anstatt Punktstrδmen ist möglich.
Dadurch würde die Schreibweise von Gleichung 4 allerdings geändert werden. In den meisten Fällen kann die Gleichung 4 hingegen so übernommen werden, wie sie oben aufgeführt ist, falls N gross genug gewählt wird.
Die Feldverzerrungen werden also in zwei Schritten berechnet. Der erste Schritt ist die Bestimmung der Wirbelstrδme 410 und der zweite Schritt ist die Berechnung eines durch die Wirbelstrδme 410 erzeugten Stδrfelds
B\(.x>y>z ) ι welches gut genug das Störfeld B'(x,y,z,t) beschreibt.
Fig. 2 zeigt das Objekt 400, das für die Bestimmung des Stδrfeldes 410 in eine Vielflächenstruktur, bestehend aus beliebig vielen Segmenten, aufgeteilt ist. Ausgehend von dieser Aufteilung und diversen weiteren Annahmen werden zunächst die Wirbelstrδme berechnet.
Die Wirbelstrδme fHessen an der Oberfläche des Objektes 400 mit einer für die Theorie "unwesentlichen"
Eindringtiefe. Um das oben erwähnte Stδrfeld B'(x,y,z,t) hinreichend genau zu berechnen, reicht es aus, den zeitlichen Stromverlauf in einigen Punkten auf der Oberfläche des Objektes 400 zu kennen. Die Anzahl der Punkte hängt von der verlangten Genauigkeit ab. Die Wirbelstrδme werden also in Punkten berechnet, welche auf oder in der Nähe der Oberfläche des Objektes liegen.
In einem ersten Schritt wird das Objekt in N beliebig geformte Segmente unterteilt, die sinnvollerweise (aber nicht notwendigerweise) das ganze Objekt abdecken. Die Segmente werden nachfolgend zur eindeutigen Unterscheidung mit S(.{0 < z' < N-l} bezeichnet, wobei i als Index verwendet wird. In einem zweiten Schritt wird pro Segment ein Stützpunkt P, gewählt. Es ist sinnvoll aber nicht zwingend, gleich viele Stützpunkte wie Segmente zu definieren und diese eindeutig zu den Segmenten zu zuordnen. Im folgenden wird der Einfachheit halber davon ausgegangen, dass N Segmente S, mit je einem eindeutig zugeordneten Stützpunkt Pt definiert werden. Die Stromdichte l,(t) im Stützpunkt Pt eines jeden Segments S, wird mittels der folgenden Formel berechnet:
ΛΓ ϊi(t) = ∑-i!j(t)mitj o i (5) =0
wobei ?u(f) die Stromdichte des Wirbelstroms Iy(t) ist, welche durch die Flussänderung des Feldes von B0(x,y,z,t) im Segment S,. verursacht wird und durch den Stützpunkt P( oder in der Umgebung des Stützpunktes P; fliesst. Die Berechnung der einzelnen Wirbelstrδme Itj(t) ist im nächsten Abschnitt beschrieben. Zunächst gilt:
Figure imgf000014_0001
mit λ als Richtungsvektor (oder eine dazu fast kolineare Richtung) der Stromlinie durch den Stützpunkt Pt im
Stützpunkt P( und mit As die Querschnittsfläche der Stromline ist, wobei:
As = π -r2(h) (5b) mit r = Radius der kreisrunden Querschnittsfläche; h = Eindringtiefe;
Sind nun die Stromdichten T^t) bekannt, so ist auch
Figure imgf000015_0001
als Störfeld verursacht durch B0(x,y,z,t) berechenbar - dazu kann ζ(t) - -4(S,.) direkt in die Gleichung 4 eingesetzt werden, wobei -4(5,.) die Fläche des Segments St ist. B (x,y,ztt) kann in den meisten Fällen als B'(x,y,z,t) betrachtet werden. Als Effekt zweiter Ordnung kann an dieser Stelle Bl(x,y,z,t) als Urfeld eingesetzt werden, um wiederum Wirbelströme für ein zweites Stδrfeld B2(x,y,z,t) zu berechnen (Einfluss der Wirbelstrδme auf einander) , welches mit B0(x,y,z,t) und B{(x,y,z,t) überlagert ist. In zweiter Näherung wäre also B'(x,y,z,t) gleich der Summe aus Bx(x,y,z,t) und B2 x,y,z,t) - diese iterative Vorgehensweise kann für Effekte beliebiger Ordnung fortgesetzt werden. Es ist jedoch in den meisten Anwendungen der Effekt erster Ordnung hinreichend genau.
Ein einzelner Wirbelstrom Iy(t) ist eine Stromlinie, die durch den Stützpunkt Pt fliesst und durch die zeitliche Flussänderung des Feldes durch den Stützpunkt P} verursacht wird. Um Iϋ t) zu berechnen sind die Induktivität Ls , sein Ohm1 scher Widerstand R und die zeitliche Flussänderung dΦ . —- notwendig. Sind diese Grδssen bekannt, so ist Iy(i) durch die Lösung der Differentialgleichung
Figure imgf000016_0001
gegeben. In vielen Fällen mag B0(x,y,z,t) zeitlich periodisch sein oder sogar harmonisch oszillieren, dies ist aber für die Gültigkeit der erfindungsgemässen Methode keine Notwendigkeit .
Die Induktivität Lή und der Ohm'sehe Widerstand Ry sind durch die geometrische Form des Wirbelstroms Ig(t) gegeben dΦ . und die Flussänderung -—— durch das Feld B0(x,y,z,t) an der dt
Stelle Pj zusammen mit der Fläche des Segments Sj . In den folgenden Schritten wird zuerst die Form des Wirbelstroms beschrieben, und anschliessend daraus die Induktivität Ltj und der Ohm' sehe Widerstand Ry berechnet ,
Man stelle sich vor, dass eine einzelne Magnetfeldlinie B durch eine kleine Fläche dA um einen Punkt P auf dem Objekt dringt. In diesem Fall wären die induzierten Stromlinien in der Nähe vom Punkt P kreisförmig und am Rande des Objektes 400 würden sie der Begrenzung folgen, also die Form der Umrandung des Objekts haben. Die Form eines beliebigen Wirbelstroms ist ein Strom entlang einer Höhenlinie einer Fläche, welche die Potentialgleichung
Figure imgf000016_0002
erfüllt, wobei <p(x,y) das Potential darstellt. Die Randbedingungen zur eindeutigen Lösung von Gleichung 7 (ermitteln von φ(x,y) ) sind aus Figur 2 zu entnehmen (nämlich φ„ am Rand des Objektes und φx im Punkt Pj, φ0 <> φx) . Diese Potentialgleichung ist am besten numerisch zu lösen. Mit der Form des Wirbelstroms und der Eindringtiefe h des Stroms in das Material ist die einzelne Stromlinie als Leiterschleife mit einem ringförmigen
Materialquerschnitt mit dem Durchmesser der Eindringtiefe betrachtbar (andere sinnvolle
Materialquerschnittsgeometrien sind natürlich denkbar, ändern aber an den Berechnungen nichts wesentliches) .
Der Ohm1 sehe Widerstand der Leiterschleife wird somit zu
Figure imgf000017_0001
mit R = Ohmscher Widerstand [ Ω ]
1 = Länge der Leiterschleife [ m ] h = Eindringtiefe des Stroms [ m ] p = spezifischer elektrischer Widerstand des Materials [ Ωm ]
Die Induktivität der Leiterschleife ist gegeben durch
2W
1 = (9)
und kann numerisch berechnet werden, wobei
B2
W = f -=-^dV (10)
J II.
Raum * 2*μ*({> die gespeicherte Energie im vom Leiter erzeugten Magnetfeld bedeutet, falls ein Strom i im Leiter fliesst. Es gibt "beliebig11 viele andere Näherungsformein, welche Gleichungen (8) , (9) und (10) ersetzen könnten und ähnliche Resultate liefern.
Für die Berechnung des Flusses Φ,(t) aus dem Feld B0(x,y,z,t) gilt:
Φ.( = 50(x,; ,z,t . (11)
wobei B0(x,y,z,t) das ungestörte Feld an der Stelle P} ist und Aj die Flächennormale des Segments Sj ist, mit dem Betrag der Fläche des betreffenden Segments. Formel 11 ist eine Näherungsformel für die allgemein gültige Formel
Φ j(t) = ^B0(x,y,z,t)dA (11a)
und darf angewendet werden, wenn B über Aj hinreichend homogen ist (so z.B. für kleine Flächen Aj) . An dieser Stelle soll erwähnt werden, dass die Fläche A} des
Segments S} nicht in allen Fällen vollständig innerhalb der
Leiterschleife Iy(t) liegt - Korrekturen könnten diesbezüglich angebracht werden, sind aber in der Regel nicht notwendig.
Die teilweise intensiven Berechnung der Induktivitäten Li} und der Ohm' sehen Widerstände Ry können mittels der Formeln (8) , (9) und (10) im voraus berechnet werden, da diese allein von der Geometrie und des Materials des Objektes abhängig sind - dies im Sinne einer Systemkalibration. Einsetzen und Lösen der Formeln (4) und (5) , um Bγ(x,y,z,f) zu berechnen, können zu einem anderen Zeitpunkt erfolgen, insbesondere wenn das Erregerfeld B0(x,y,z,t) bekannt ist. Iterationen, wie z.B. Einsetzen des
Feldes
Figure imgf000019_0001
zur Berechnung eines Feldes B2 x,y,z,t) usw. , sind möglich. Solche Iterationen könnten aber auch im voraus erfolgen, indem man sie in die Induktivitäten LtJ einbindet. Dies macht aber erst einen Sinn, wenn regelmässig Korrekturen höherer Ordnung benötigt werden.
In der Praxis werden bei der magnetischen Ortung Lage und Ausrichtung eines oder mehrerer Sensorelemente 300 (Fig. 1) in einem Magnetfeld bestimmt, das von einem oder mehreren Feldgeneratoreinheiten 200 erzeugt wird. In dem verwendeten Koordinatensystem ist die Position der Feldgeneratoreinheit 200 oder den Feldgeneratoreinheiten bekannt. Im Fall von magnetischen Wechselfeldern erzeugen benachbarte elektrisch leitende Objekte 400 Feldverzerrungen durch in den Objekten 400 induzierte Wirbelstrδme 420. Das erfindungsgemässe Verfahren zur Korrektur dieser Verzerrungen, dessen theoretische Grundlagen oben angegeben wurden, wird folgendermassen angewendet: Die Lage der elektrisch leitenden Objekte 400 im oben erwähnten Koordinatensystem ist bekannt oder wird durch Vermessung bestimmt. Die Objektkoordinaten werden in einem Computerprogramm, das zur Berechnung der Wirbelstrδme 420 und der daraus resultierenden Feldverzerrungen benutzt wird, derartig eingegeben, dass die in den oben angegebenen Formeln verwendeten Ortskoordinaten im durch die Feldgeneratoreinheit 200 definierten Koordinatensystem definiert sind. Mit dem Computerprogramm wird dann das durch die Wirbelstrδme 420 erzeugte Stδrfeld berechnet. Bei Berücksichtigung der Wirbelstrδme 420 ändert sich das Gleichungssystem 1 wie folgt:
P
Fy = F(r,n,rGj,nGj ) + ∑F£(r,n,rG nG]) (12)
*=ι
ι wobei Fy die durch den Wirbelstrδme 420 des Objektes k erzeugte Störung darstellt. P ist die Anzahl der Objekte. Wie diese Korrektur angewendet wird, hängt von der Art des magnetischen Positionsmesssystems ab.
I. Bei Systemen, die auf Gleichung 2 beruhen, werden die Messwerte iterativ korrigiert, d.h. man berechnet zuerst die ungestörte Lösung nach Gleichung 2. Mit der gefundenen Position des Sensorelementes 300 kann der Korrekturterm F1 berechnet und von den Messungen Fy M abgezogen werden. Mit den korrigierten Messungen wird wieder eine Position berechnet. Dieser Algorithmus wird fortgesetzt, bis die Variation der berechneten Positionen unter gewissen Toleranzschwellen liegen.
II. Bei Systemen, die auf Gleichung 3 beruhen, muss der Lδsungsalgorithmus nicht geändert werden. In der Chi-Summe werden anstatt des Modells zur Berechnung der wirbelstromfreien Magnetfeldes Fy nach Gleichung 1 das
Magnetfeld mit Wirbelstromkorrekturen nach Gleichung 12 benutzt. III. Unter bestimmten Voraussetzungen kann es auch möglich sein, das GleichungsSystem 12 zu invertieren, was dann zu einer Lösung entsprechend Gleichung 2 führt.
Fig. 3 zeigt, in vereinfachter Darstellung, ein
Struktogramm eines nach dem erfindungsgemässen Verfahren arbeitenden Computerprogramms. Die einzelnen Verarbeitungsschritte wurden bereits anhand der Fig. 1 und 2 ausführlich erläutert.
Das erfindungsgemässe Verfahren kann auch vorzüglich für
Objekte mit Öffnungen (Löcher) angewendet werden, wobei die Anzahl L der Öffnungen beliebig sein kann. Dabei muss für die schon beschriebene Lδsungsmethode zunächst die Randbedingung der Potentialgleichung (7) an den Rändern der Öffnungen gleich dem Potential φ0 am Rande des Objektes sein. Des weiteren kommen zu der beschriebenen Methode weitere N mal L (N=Anzahl Stützpunkte und L=Anzahl Offnungen) Stromlinien Iik hinzu, die in der Summe (5) noch zu addieren sind (k wandert von 1 bis L) .
Die zusätzlichen Wirbelstromlinien Iik sind einzeln analog zu den Wirbelstromlinien Ii:j berechenbar, d.h. Lösen der Potentialgleichung (7) für die Form des Stroms und berechnung der Induktivität und des Widerstands nach Gleichungen (8) und (9) . Bei der Potentialgleichung (7) ist allerdings zu beachten, dass die Randbedingung nicht "φj, im Punkt Pj" lautet, sondern "§x am Rand der Öffnung k" . Bei grossen Öffnungen ist eventuell Formel 11a für die Berechnung des Flusses zu verwenden anstatt die Näherungsformel 11.
Einzelne Leiterschleifen können auch mit dieser Methode berechnet werden, da die vorher erwähnten Öffnungen beliebig nahe an der Umrandung der zu berechnenden Objekte ausgedehnt werden kann. Das einfachste Beispiel ist ein Kreisring, welches als Scheibe mit einer fast gleich grossen Öffnung betrachtet werden kann: In diesem Beispiel sind die Stromlinien Ii;i vernachlässigbar (die Stützpunkte könnten weggelassen werden) und es gibt nur ein Iik dessen Form durch den Kreisring gegeben ist. Falls die Stützpunkte weggelassen werden, ist das Feld Bx durch das Linienintegral über die Gleichung 4 zu bestimmen.
Ein weiterer Aspekt besteht darin, dass Stδreinflüsse von unbekannten Objekten abgeschirmt werden, indem man zwischen Feldgeneratoreinheit und Objekt eine leitende Platte vorsieht, wobei deren Grδsse und Form als auch deren Position bekannt sind. Damit müssen zwar die Feldverzerrungen dieser Platte berücksichtigt werden, doch alle anderen elektrisch leitenden Objekte, welche sich auf der in Bezug auf die Feldgeneratoreinheit anderen Seite der Platte befinden, können wegen der Abschirmung unberücksichtigt bleiben.

Claims

Patentansprüche:
1. Verfahren zur Bestimmung der Position eines Sensorelementes (300) , mit Hilfe dessen ein von mindestens einer Generatoreinheit (200) ausgesendetes magnetisches Wechselfeld (210) gemessen wird, wobei aufgrund eines im Sensorelement (300) empfangenen Signals die Position des Sensorelementes (300) bestimmt wird, dadurch gekennzeichnet,
- dass, vorzugsweise in erster Näherung, Stδrfeider (410) berechnet werden, welche aufgrund von in elektrisch leitenden Objekten (400) erzeugten Wirbelströmen (420) entstehen, und - dass die Position, welche ausgehend vom im
Sensorelement (300) empfangenen Signal bestimmbar ist, aufgrund der berechneten Stδrfelder (410) korrigiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
- dass die Wirbelstrδme (420) im Objekt (400) , ausgehend vom Wechselfeld (210) , berechnet werden und
- dass die Stδrfelder (410) , ausgehend von den berechneten Wirbelstrδme (420) berechnet werden.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass zur weiteren Verbesserung der Positionsbestimmung mindestens eine weitere Iteration durchgeführt wird, indem
- weitere Wirbelstrδme im Objekt (400) , ausgehend von berechneten Stδrfeidern (410) , berechnet werden und
- weitere Stδrfelder, ausgehend von den weiteren Wirbelströmen, berechnet werden.
4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass Position und Form der Objekte (400) bestimmt werden und dass widerstände nach der Gleichung
Figure imgf000024_0001
und Induktivitäten nach der Gleichung
2W
L =
im Objekt (400) berechnet werden.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass zur weiteren Verbesserung der Induktivitäten eine weitere
Iteration durchgeführt wird, indem
- weitere Wirbelstrδme im Objekt (400) , ausgehend von berechneten Stδrfeidern (410) , berechnet werden,
- weiter Induktivitäten, ausgehend von den weiteren Wirbelströmen, bestimmt werden.
6. Verfahren nach Anspruch 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Bestimmung der Objekte (400) , die Bestimmung der Widerstände und Induktivitäten im Objekt (400) im Sinne einer Systemkalibrierung im voraus, d.h. vor den das
Wechselfeld (210) berücksichtigenden Berechnungen, bestimmt werde .
7. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zur Bestimmung der Wirbelstrδme wie folgt vorgegangen wird:
- die Objekte (400) werden in Segmente (S£) und Stützstellen (Pi) aufgeteilt;
- in den Stützpunkten (Pi) wird die Stromdichte (ii) bestimmt;
- aus den Wirbelstrδ en (Ii:j) werden die Stromdichten (ii) bestimmt.
8. Anwendung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 7 für die magnetfeldorientierte Ortung bei „Cyber Spacen-
Anwendunge .
9. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine Feldgeneratoreinheit (200) , mindestens ein Sensorelement (300) und eine Verarbeitungs- und Steuereinheit (100) vorgesehen sind, wobei die Feldgeneratoreinheit (200) und das Sensorelement (300) mit der Verarbeitungs- und Steuereinheit (100) verbunden sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein elektrisch leitendes Objekt zum
Abschirmen der Feldgeneratoreinheit (200) vorgesehen sind.
11. Computerprogrammprodukt, das in den internen Speicher eines digitalen Computers geladen werden kann und Softwarecodeabschnitte umfasst, mit denen die Schritte gemäss den Ansprüchen 1 bis 6 ausgeführt werden, wenn das Produkt auf einem Computer läuft.
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