EP1358684A1 - Organischer feldeffekt-transistor mit fotostrukturiertem gate-dielektrikum, ein verfahren zu dessen erzeugung und die verwendung in der organischen elektronik - Google Patents

Organischer feldeffekt-transistor mit fotostrukturiertem gate-dielektrikum, ein verfahren zu dessen erzeugung und die verwendung in der organischen elektronik

Info

Publication number
EP1358684A1
EP1358684A1 EP02706645A EP02706645A EP1358684A1 EP 1358684 A1 EP1358684 A1 EP 1358684A1 EP 02706645 A EP02706645 A EP 02706645A EP 02706645 A EP02706645 A EP 02706645A EP 1358684 A1 EP1358684 A1 EP 1358684A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
effect transistor
field effect
organic field
transistor according
insulator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP02706645A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Adolf Bernds
Walter Fix
Henning Rost
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
PolyIC GmbH and Co KG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of EP1358684A1 publication Critical patent/EP1358684A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having a potential-jump barrier or a surface barrier
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/468Insulated gate field-effect transistors [IGFETs] characterised by the gate dielectrics
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K19/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic element specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, covered by group H10K10/00
    • H10K19/80Interconnections, e.g. terminals
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having a potential-jump barrier or a surface barrier
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/464Lateral top-gate IGFETs comprising only a single gate
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K19/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic element specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, covered by group H10K10/00
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/20Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
    • H10K71/211Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by selective transformation of an existing layer
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/60Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K77/00Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
    • H10K77/10Substrates, e.g. flexible substrates
    • H10K77/111Flexible substrates
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/10Organic polymers or oligomers
    • H10K85/111Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/10Organic polymers or oligomers
    • H10K85/111Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
    • H10K85/113Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
    • H10K85/1135Polyethylene dioxythiophene [PEDOT]; Derivatives thereof

Definitions

  • Organic field effect transistor with photo-structured gate dielectric a method for its production and its use in organic electronics.
  • the present invention relates to organic field-effect transistors, so-called OFETs, with a photo-structured gate dielectric, and to a method for the production thereof and the use of these field-effect transistors in organic electronics.
  • the organic field effect transistors should be inexpensive and economical to manufacture in simple steps.
  • the present invention accordingly relates to an organic field effect transistor, which is characterized in that on a flexible substrate in a first layer
  • Source and drain electrodes and a semiconductor are arranged, on which an insulator is structured in a second layer and on which a gate electrode is applied in a third layer (top-gate structure).
  • the organic field-effect transistor according to the invention is light and extremely flexible, since it is only made up of organic layers which are mainly structured by means of photolithography, but without the use of photoresist.
  • the gate electrode of the organic field-effect transistor according to the invention can simultaneously be used as a conductor track to the source electrode of the next transistor.
  • wafer-thin glasses can be used as the substrate, but plastic foils are preferred for reasons of cost. Polyethylene terephthalate and polyimide films are particularly preferred.
  • the substrate should be as light and flexible as possible. Because the thickness of the substrate The actual thickness of the entire component is determined, all other layers together are only about 1000 nm thick, the substrate thickness should also be kept as small as possible. It is usually in the range of about 0.05-0.5 mm.
  • the source and drain electrodes can be made of a wide variety of materials. The type of material will be largely determined by the type of preferred manufacture. For example, electrodes made of indium tin oxide (ITO) can be produced by photolithography on substrates coated with ITO. The ITO is etched away on the areas not covered by the photoresist. Electrodes made of polyaniline (PANI) can also be produced either by photostructuring or by photolithography on substrates coated with PANI. Likewise, electrodes made of conductive polymers can be produced by printing the conductive polymer directly onto the substrate. Conductive polymers are, for example, doped polyethylene (PEDOT) or possibly PANI.
  • PEDOT doped polyethylene
  • the semiconductor layer consists, for example, of conjugated polymers, such as polythiophenes, polythienylenevinylenes or polyfluorene derivatives, which can be processed from solution by spin coating, knife coating or printing. So-called “small olecules” are also suitable for the construction of the semiconductor layer, i.e. Oligomers such as sexithiophene or pentacene, which are vacuum-deposited onto the substrate.
  • An essential aspect of the present subject matter of the invention is the way in which the insulator layer is built up. It is a networked isolator that is networked and structured using photolithography, i.e. under partial exposure. An insulator material is crosslinked in places with a crosslinker under acid catalysis.
  • Insulator materials suitable in the context of the present invention are, for example, poly-4-hydroxystyrene or hydro- Melamine-formaldehyde resins containing xyl groups.
  • the crosslinker is sensitive to acids and especially hexamethoxymethyl melamine (HMMM).
  • HMMM hexamethoxymethyl melamine
  • the acid catalysis is effected by means of a photoinitiator, for example diphenyliodonium tetrafluoroborate or triphenylsulfonium hexafluoroantimonate, which form an acid under the influence of light.
  • the present invention also relates to a method for producing an organic field effect transistor, in which a flexible substrate is provided in the usual way with a source and drain electrode and a semiconductor, and is characterized in that an insulator is provided on the semiconductor is applied by applying a solution of an isolator material, which contains an acid-sensitive crosslinker and a photo initiator, through a shadow mask, which covers the source and drain electrodes, and then anneals, causing crosslinking at the exposed areas and the gate electrode is applied to the networked and structured insulator.
  • an isolator material which contains an acid-sensitive crosslinker and a photo initiator
  • FIG. 1 shows the structure of a conventional OFET
  • 2 shows the structure of an OFET according to the invention
  • FIG. 3 chemical reactions on which the production of the cross-linked, structured insulator layer is based.
  • a conventional OFET consists of a substrate 1, source or drain electrodes 2 and 2 ', a semiconductor 3, an isolator 4 and the gate electrode 5.
  • H H H 0 P- ⁇ o ⁇ ⁇ H3 ⁇ 3 P l-i tr ⁇ 0 10 ⁇ P-
  • P- P- ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ rt 0 ⁇ P pj a. 10 o P- N P- 0 P 1 s; ⁇ rt H ⁇ P- P- ⁇ ⁇ i rt. -. 3 0 ⁇ cn ⁇ tr ⁇ ⁇ 0 left
  • the gate dielectric is therefore produced by photolithography without the use of photoresist.
  • the result is an OFET whose gate electrode can simultaneously be used as a conductor track to the source electrode of the next transistor. Through-contacting between conductor tracks on different levels in organic integrated circuits is made possible.
  • the OFETs according to the invention are outstandingly suitable for applications in the field of organic electronics and in particular in the production of identification stickers (ident tags), electronic watermarks, electronic bar codes, electronic toys, electronic tickets, for use in product or plagiarism protection or the anti-theft protection.

Abstract

Die Erfindung betrifft einen organischen Feldeffekt-Transistor der sich insbesondere durch eine vernetzte und strukturierte Isolatorschicht (4) auszeichnet, auf welcher die Gate-Elektrode (5) angeordnet ist. Der Aufbau des OFETs garantiert, dass die Gate-Elektrode (5) eines OFETs gleichzeitig als Leiterbahn zur Source-Elektrode (2) eines nächsten Transistors und damit zum Aufbau grösserer Schaltungen genutzt werden kann.

Description

Beschreibung
Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum, ein Verfahren zu dessen Erzeugung und die Verwendung in der organischen Elektronik.
Die vorliegende Erfindung betrifft organische Feldeffekt- Transistoren, sogenannte OFETs, mit fotostrukturiertem Gate- Dielektrikum sowie ein Verfahren zu dessen Herstellung und die Verwendung dieser Feldeffekt-Transistoren in der organischen Elektronik.
Feldeffekt-Transistoren spielen auf allen Gebieten der Elektronik eine zentrale Rolle. Um sie an besondere Anwendungszwe- cke anzupassen, war es erforderlich sie leichter und flexibler zu gestalten. Durch die Entwicklung von halbleitenden und leitenden Polymeren wurde die Erzeugung von sogenannten organischen Feldeffekt-Transistoren möglich, die in allen Teilen, einschließlich der Halbleiterschicht sowie der Source- , Drain- und Gate-Elektroden aus Polymermaterialien hergestellt sind.
Bei der Herstellung organischer Feldeffekt-Transistoren müssen jedoch mehrere organische Schichten übereinander struktu- riert werden, um beispielsweise ein OFET des allgemeinen Aufbaus, wie er in Fig. 1 dargestellt ist, zu erhalten. Das ist mit herkömmlicher Fotolithografie, welche eigentlich zur Strukturierung von anorganischen Materialien dient, nur sehr eingeschränkt möglich. Die bei der Fotolithografie üblichen Arbeitsschritte greifen bzw. lösen die organischen Schichten an und machen diese somit unbrauchbar. Dies geschieht beispielsweise beim Aufschleudern, beim Entwickeln und beim Ablösen eines Fotolackes.
Dieses Problem wurde mit einem organischen Feldeffekt- Transistor gelöst, wie er in Applied Physics Letters 1998, Seite 108 ff. beschrieben ist. Als Substrat wird hier ein Po-
CΛ CD O ö 0 0 .. ιQ 0. ^d iQ H cn 0 0- 10 ω <! ö W tr σ P1 α cn tr C M o P- ^ CD 0 P- rt 0 0 Φ Φ P- 0 rt 0 H φ Φ Φ o P- o P- 0 P- Φ 0 Ω P- 0 0 ^ tr 0 t H 0 o O rt P \-> 0 φ Φ Ω tr 0 rr P- 0 φ H rt rt tr ' I-! P-
0 CD v-3 0 0' 0 CD Φ ω ≥ P" 0* Φ » H r P- 0- O N H- O 3
!-> ω JP rr 1 H Φ 3 φ TJ H P- 0 P- ≥! σ Φ 0 H rt Ω Φ tr P- P- r z 0 <J -Q 1 Φ Hl P- cn 3 0 rt H 10 P- 0 0 f«r rt Hi • TJ tr rt φ α
P- 3 Hl O P> 0 CΛ Hi rt H 0 <s n cn Φ φ Q, H rt ^ Hi o rt • φ CQ Hi
0 H P- tr 0 rt rt Φ rt •n P- ιQ P- cn 0 cn Φ Ω <S s; = α H P- Φ P-
«-Q r+ rt 0 N CD H w Φ H Φ 0 Ω t P- φ H tr Φ P- P- H P- 0 H H PJ
CD cn 0 s CD 0 0 rt i— o 0- I cn 0J Φ 0 0 H H Φ <! 0 0 φ 3
0 Ω 5 Ό 1 i r Hi 1 cn tr o H r o tr P- P- ül p- o Φ " tr 0 rt CΛ rt tr t-3 -i i≡. P- CΛ < Φ 0 P- s: P- φ α φ H
0 0 o 0 CD P- rt 0 0 H J Φ 1 •ö --- rt cn Ω Φ H rt 0 Φ cn Φ ^ d P- H O Φ
P- M. rt α l-{ CD H H 0 0 o 3 • H < rt P- tr H N 0 α H Ω CΛ o Φ cn rt H
O rr rr H 0 0 rt cn cn Φ Φ Ω P- H, Φ 0 Ω tr 0 Ω •d cn rt Φ Z - P- O α CD tr ?T Hi cn o P- X H N Ω P- 0 rt tr 0= tr tr » Φ Φ 0 Φ r+ P- *=- P- e 0 rt 0: Φ P- cn tr O φ rt 0 0- tr V0 P- 10 φ P- O P- Φ H 0
Ω 1 CD CD H 0 H CΛ ω rr Φ cn H. P- H V_l. rt H rt Φ φ H φ t Ω rt S d
3 0' ιQ 0 H rt H cn Ω φ Φ Φ • H 0 So cn tr o tr φ 0 o Φ
O: CD 0 0J 0 o o 0 O ir1 α. 0 P- 0 0 0 P- P- rt rt H P- H cn - rt ιQ r+ H O -Q 0 ^ H J 0* Φ o -" 0 O 0 0 0 P- Φ Φ cn W •< ffi CD tr 0J P1 0 IS cn rt H rt 0J cn Ω 0 ∑: IQ 0 H Ω α 3 0 rt Φ
P- CD CD CD CD tr H r 0 P- rt 0 H- tr t^ 0 P- Φ P- Ω tr Λ P- P- •< Φ 0 0
O l-i 1 P- P- P Cn H H Φ Φ 0 P- H 0 t Ω φ rt 0 P- P- 0
-J Cn ω rt « O P- 0 P- tr «. rt rt P1 Q Q P- C-. φ 0* 0 Φ H- PJ rt rt cn O 0 0 ? φ Φ cn 0 Φ 0- Φ Φ s: P- 0- P- P- rt -- CΛ Φ P-
3 CD M cn 0 CD LQ 0 rt H 0 0 H 0 N < Φ φ rt 0 Ω Φ <! Ω 0
0 O rt I-. tr P): 0 0 « M 10 Ω 0 Φ O: Φ H H Φ tr 0 X P- - CΛ 1 Φ o W i-r 0 0 -3 H 0 o Φ O 10 P- cn H i--- Q 0 rt 0) 0 P- o CΛ tr 0 rt H IV tsi H iQ 0 o 0 0 -Q rt 3 Φ P) Ξ cn 3 Ω 0 Ω rt 0 0 P- rt 0 P- Φ P- o 0 rt P- 0 rt rt Φ 0 Φ H tr H tr >τJ
. ιQ ι-i rt £ cn iQ n P- <! Φ 0 Φ φ O Φ 0 P- 0 n rt Φ rt Ω P- o rt P- P CD 0- 0 o P- Ω H P. α 3 1 H rt 0 tr Φ Ω P*
P- cn CD PL g 0* N 0 Φ ω Ω rt p. Φ Φ φ W P- Φ rt o 5] 1 tr •
0 P- CD 0 Φ 0 Φ " cn ö H 0 Ω P1 φ H φ P- rt 0 cn 0 N H CD P- tr ^ o P- rt — * 0 cn » tr φ H φ P- 1 i-cj πj H 0 0 tr 0 ω 0 rt 0 H o t rt H cn cn 0 I φ Φ ü 3 ι-3 α 0 Z P-
CD H rt cn CD φ P- rt 3 Φ N ιQ Ω 0 0 rt 0 nd P- Φ <! P- H ω -_1. P): α> 0 O P- Φ tr p- 0 0 P- H O « φ rt 0 H P- o CD ω 0 rt • ω tQ H iQ P1 H 0 x 0 cn cn cn O P' o H tr »0 0 σ 0
0 rt α N O Φ Φ Φ 4-- t: 0 o cn rt cn Ω P. P- ^ 0 φ ^< Φ Ω H
O H CD 0 to υq 0 01 CD cn 0 0 tr tr Φ φ 0 rt ! PJ tr t 0 P- 0
CD o 0 0 Φ φ • P- α O cn 0 r Φ s: < 0 0 rt 3 P- P- 0 0 t-j - W P- ιQ P- 0 cn 0 rt rt cn P- o P- P- N P- W H Φ M φ H Hi
CD r 0 3 0 π. rt H s: • ? O φ H 0 Φ s: P1 rt P- P1 P- 1 Ω ιQ
0 « P- 3 o P- s: r+ 0 0 H Hi P- <! W ffi Φ 0 M tr Φ
? O H P- 0: w 0 φ 0 tr H Φ P- P- tr 0 Ω P- P- 0 Φ 3 rt φ ω
0 3 P- CD H H rt H rt x H Φ Φ Φ 10 tr 0 rt cn H 3 P- • Φ to Ω
3 Ό CD H N Φ N Φ o O- H H ω Φ P- Φ Ω tr 0 tu W φ tr -
Ό H CD Φ 0 H 0 N Φ 0 CD Ω tr M Φ tr P- 0 ö 0 rt cn P- i— CD 0 Q 0 0 p- rt 0 0 0 tr Φ P- H ------< P- 0 { -j 0 H rt Ω
CD X 0 H iQ tr s: 0 0 H iQ ^ pj: 0 0 rt 0 Ω α § H. tr O H. tr
X ^ vQ O: ω Φ 0 P- PJ Φ φ P- P- cn 10 0 g 0 " P- 0 rt
CD E P- 0 rt H rt t"1 0 H P- rt s: Φ rt 0 B 0 φ Φ tr Φ ι-i z α CD O rt P- P- O: P- 10 0 Φ P- iQ H Hi P- r
0 P- 0 1 Φ O 0 Φ cn Φ --1 rt 0 Ω H < 0 Φ cn rt 0 0 cn CD O P- 13 Φ H 0 CD H) tr P. O 0 Φ 0 0 Z cn H 0 1 P- 0- 0 0 K P- r Z 1 Φ • 0 cn H H z Φ
P- H cn 10 P-
CD p. Φ 0 P- 0 iQ Φ φ IS φ 0 ιQ ω 1 H 1 ^Q H cn 1 H φ 1 rt H Φ o Φ P-
1 CD 1 1 l 1 •
Aufgabe der vorliegenden Erfindung war es daher einen organischen Feldeffekt-Transistor bzw. ein Verfahren zu dessen Herstellung anzugeben, das den Einsatz der Fotolithografie ohne das Angreifen bzw. Anlösen der organischen Schichten in allen Arbeitsschritten zulässt sowie einen Strukturaufbau ermöglicht, der die Durchkontaktierung zwischen Leiterbahnen auf verschiedenen Ebenen in organischen integrierten Schaltungen in einfacher Weise ermöglicht. Die organischen Feldeffekt- Transistoren sollten dabei gleichzeitig kostengünstig und wirtschaftlich in einfachen Arbeitsschritten herstellbar sein.
Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist demnach ein organischer Feldeffekt-Transistor, der sich dadurch auszeichnet, dass auf einem flexiblen Substrat in einer ersten Schicht
Source- und Drain-Elektroden sowie ein Halbleiter angeordnet sind, auf dem in einer zweiten Schicht ein Isolator strukturiert ausgebildet und auf den in einer dritten Schicht eine Gate-Elektrode aufgebracht ist (top-gate-Struktur) .
Der erfindungsgemäße organische Feldeffekt-Transistor ist leicht und äußerst flexibel, da er nur aus organischen Schichten aufgebaut ist, die überwiegend mittels Fotolithografie, jedoch ohne Verwendung von Fotolack, strukturiert sind. Durch das Strukturieren insbesondere der Isolatorschicht kann die Gate-Elektrode des erfindungsgemäßen organischen Feldeffekt-Transistors gleichzeitig als Leiterbahn zur Source-Elektorde des nächsten Transistors genutzt werden.
Vorteilhafte Ausgestaltungen des Erfindungsgegenstandes ergeben sich aus den Unteransprüchen 1 bis 10.
So können als Substrat hauchdünne Gläser, aus Kostengründen jedoch bevorzugt Kunststofffolien, eingesetzt werden. Poly- ethylenterephthalat- und Polyimidfolien werden insbesondere bevorzugt. Das Substrat sollte in jedem Fall so leicht und flexibel wie möglich sein. Da die Dicke des Substrates die eigentliche Dicke des gesamten Bauelementes bestimmt, alle anderen Schichten sind zusammen nur etwa 1000 nm dick, sollte auch die Substratdicke so gering wie möglich gehalten werden. Sie liegt überlicherweise im Bereich von etwa 0,05 - 0,5 mm.
Die Source- und Drain-Elektroden können aus den verschiedensten Materialien bestehen. Die Art des Materials wird wesentlich durch die Art der bevorzugten Herstellung bestimmt werden. So können beispielsweise Elektroden aus Indium-Zinn-Oxid (ITO) durch Fotolithografie auf mit ITO beschichteten Substraten erzeugt werden. Das ITO wird dabei auf den nicht vom Fotolack bedeckten Stellen weggeätzt. Auch können Elektroden aus Polyanilin (PANI) entweder durch Fotostrukturierung oder durch Fotolithografie auf mit PANI beschichteten Substraten erzeugt werden. Gleichermaßen können Elektroden aus leitfähigen Polymeren durch aufdrucken des leitfähigen Polymeres direkt auf das Substrat erzeugt werden. Leitfähige Polymere sind beispielsweise dotiertes Polyethylen (PEDOT) oder gegebenenfalls PANI.
Die Halbleiterschicht besteht beispielsweise aus konjungier- ten Polymeren, wie Polythiophenen, Polythienylenvinylenen oder Polyfluorenderivaten, die aus Lösung durch spin-coating, Rakeln oder Bedrucken verarbeitbar sind. Für den Aufbau der Halbleiterschicht eignen sich auch sogenannte "small olecu- les", d.h. Oligomere wie Sexithiophen oder Pentacen, die durch eine Vakuumtechnik auf das Substrat aufgedampft werden.
Ein wesentlicher Aspekt des vorliegenden Erfindungsgegenstan- des ist jedoch die Art und Weise des Aufbaus der Isolatorschicht. Es handelt sich um einen vernetzten Isolator, der mittels Fotolithografie, also unter partieller Belichtung vernetzt und strukturiert wird. Ein Isolatormaterial wird mit einem Vernetzer unter saurer Katalyse stellenweise vernetzt.
Im Rahmen der vorliegenden Erfindung geeignete Isolatormate- rialen sind beispielsweise Poly-4-hydroxystyrol oder Hydro- xylgruppen enthaltende Melamin-Formaldehyd-Harze. Der Vernetzer ist säureempfindlich und insbesondere Hexamethoxymethyl- melamin (HMMM) . Die saure Katalyse wird mittels eines Fotoinitiators, beispielsweise Diphenyliodoniumtetrafluoroborat oder Triphenylsulfoniumhexafluoroantimonat bewirkt, die unter dem Einfluss von Licht eine Säure bilden.
Die vorliegende Erfindung betrifft auch ein Verfahren zur Herstellung eines organischen Feldeffekt-Transistors, bei dem man in üblicher Weise ein flexibles Substrat mit einer Sour- ce- und Drain-Elektrode sowie einem Halbleiter versieht und sich dadurch auszeichnet, dass man auf dem Halbleiter einen Isolator aufbringt, indem eine Lösung eines Isololatormateri- als, die einen säureempfindlichen Vernetzer sowie einen Foto- Initiator enthält, aufträgt, durch eine Schattenmaske, welche Source- und Drain-Elektroden abdeckt, belichtet und anschließend tempert, wobei an den belichteten Stellen eine Vernetzung bewirkt wird und auf den so vernetzten und strukturierten Isolator die Gate-Elektrode aufgebracht wird.
Einzelheiten und bevorzugte Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Verfahrens ergeben sich aus den Unteransprüchen 12 bis 18. Die Erfindung wird im Folgenden anhand der Fig. 1 bis 3 sowie eines Ausführungsbeispieles näher erläutert.
In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 den Aufbau eines herkömmlichen OFETs; Fig. 2 den Aufbau eines erfindungsgemäßen OFETs; und Fig. 3 chemische Reaktionen, die der Herstellung der vernetzten, strukturierten Isolatorschicht zugrundeliegen.
Ein herkömmlicher OFET besteht aus einem Substrat 1, Source- bzw. Drain-Elektroden 2 und 2', einem Halbleiter 3, einem I- solator 4 und der Gate-Elektrode 5. Bei dem herkömmlichen 0- ω ω I\3 N3 P>
Cπ o Cπ O Cn o Cπ o Φ cn M öd 0 tr CΛ Φ ^ 0 < Z rt 3 cn O ^ z σ 0 o H tr H Ω 0 0 tr O: rt O rt P- 0 φ φ 0 P- Ω P O P- φ 0 P ω
Φ INI tr P rt rt cn tr Φ 3 Z 10 Ω l-i P- rt tr Φ rt φ 0 Hi φ o
0 Φ P- 0 0 O Ω Φ P1 3 0 • tr 0 Ω 0 P- H O ιQ t P1
0 Ω ι-i 0 H tr H P1 Φ Hi φ tr P-
0 • s: ~~- H - § Ω P- tr Φ 0 tr sΩ. tr 10 O P" Φ φ 0 N o rt Φ rt tr ι-3 Φ Φ tr tu rt
Φ rt rt φ P- 3 P- N P 1 rt H P- P- 3 H • o cn cn P- φ H P- • 10 Φ P 0 t"1 P- rt cn 0 P H
Ω ω rt O rt - φ 0 α cn Φ H P- rt P- T P- V H Ω H 3 tr 0 Φ P φ 3 0 0 Ω σ 0 φ O Ω 0 tr P- cn tr O 0 ι-j 0 φ H φ Φ 0 Ό < P tr 0 P 0 H tr φ rt φ O rt X rt
P- Hi P- M H P- P φ φ 0 Φ cn 0 0 <! rt s: O P1 • ^< Φ
Φ rt φ H H H 0 φ rt Φ 10 •^ P- < H cn 0 -> H tr z φ σ φ 0 0 0 Ω t-3 Φ ι-i Φ l-i P1 s: rt 10 P-
Φ φ P- P- -3 rt φ tr P1 Φ ι-3 H 0 3 tr P cn Φ O 0 l-i 0
0 P" <! cn o H 0 rt o 3 Φ Φ pj: Φ 0 N P- ι-( 0 P1
Ω φ rt JXJ IQ 0 H N ≤ o Ό 3 M rt o P1 P PJ cn 3 P •p Φ
0 tr H »* 0 Φ rt Φ rt P- o φ Ό P- N P- 0 Hi p Φ 0 Φ J cn
0 φ 0 0 Φ s: 0 H o H Φ 0 0 tϋ Ω 0 O rt H φ
Hl H Φ Z P- P- tr P 0 H z 0 Φ tr 0 0 to tu Φ 0
10 et P- 10 Ω IN H 0 cn P- 10 0 rt P- φ Φ H N tr φ cn N H P 0 W l φ cn 0 Z Ω i I Φ P g P- X P- g φ Φ tr Ω rt P 0 Φ p P- P- P P- tr N rt rt 0 3 cn 0 0 0 P-
H tr Φ H rt 0 tr Ω H H 0 z P- • 11 01 •P 3 P" rt cn
0 P> P Ω Φ 0 < Φ tr P> P P- 0 P- O Ω Φ P- Φ > tr •P
Ω 0 0 0 tr 0 L0 Φ Φ J-- rt 10 ω 0 ö tr IX φ rt φ 0 0 P- tr cn 0 P cn H n o tr rt Ω cn 0 0 tr P- Hi P- φ rr cn P 0 0 ir1 cn 0 10 Φ * <i tr cn h Φ Hi o 0 tr rt H φ H tr O: Ω Φ P Φ O P- O Φ Ω Ω P- ö H Φ cn z 0 cn Ω cn cn tr rt 0 cn "* <! 0 tr tr 0 P- -^ cn P- 0 ≤
P- P rt tr * 0 H N rt H Φ Φ Φ o Ό p 0: 0 Φ
H H H : 0 P- Φ o Φ Φ H3 α 3 P l-i tr Φ 0 10 Φ P-
P P- 0 P uq rt 0 tr o 0 Φ Φ 0 P- CΛ o Φ rt H Φ cn
Ω P- Φ cn rt 0 H 0 φ 3 3 Φ Ω 0 0 tr Φ 0 & Φ tr rt K 0 3 tr Φ rt N rt rt •P . — . tr 0 •< ^ Φ Φ
0 φ P- s: Φ 0 P- N φ H 0 to 0 rt H H 3 tr •x)
P H Φ rt P- 0 « IQ < rt H cn Φ rt P- P- 3 Ό Φ 0 o
P- P- rr 0 rt 1-1 O: 0 P cn 0 O P" rt 3 O Φ 3
Φ Φ rt Φ rt rt 0 S 0 . — . rr P- P- Φ o P- O: P- ^
H 0: Hi P- 0 cn Φ P- SO 0 0 0 Ω H 0 o 0 0 rt 1 cn rt tr Φ ^* -Q M cn P- φ Φ H rt tr P 0 3 P P- 1 -4S>
0 Φ Φ H Φ rt • cn P 0 O ^ rt 0 rt P- P- P" sQ π. 1 rt H 0 tr H cn Φ H Λ* H P- 0 cn "* g P- rt o tu
Φ H rt Φ Z 0 P- P- rt 0 3 sQ 0 ?T P Ω Φ l-i •<
1 cn P- • P- 0 Φ rt φ tr ^0 P- H 0 • sQ Φ Φ rt ,— , tr 0 3 t?d O Φ cn 0 l-i O Φ Φ o cn rt 0 Φ S Φ 0 H
!— ' H S- •P <i P H 0 P- 0 0 O Φ W Φ r rt g H tr1 o φ 0 P- P- Φ φ 0 cn H H tr H s O: X rt ffi φ φ l-S 0 Z tr P> H cn P- P- Φ N 0 0 § < n Φ << rt O 0 0 Φ Φ N) Φ Ω 0 0 P- Φ <! P1 Hi — - Φ 0 tr cn
H H ' P- cn φ cn P1 O rt o cn tr 0 s: rt P. Φ P- o M tr P- 0 0 o rt P1 1-1 0 "<
Ό Φ φ Φ 10 H Φ 0 cn 0 10 P
P Ω N 0 0 Ω o Φ 3 P- 0 r N 0 O O φ 1 H
Φ tr Φ P P- rt rt tr » H 0 0 0 CΛ 0 • H Z rt cn t o
P- P- φ ω Φ Φ rt 0 φ P pj: a. 10 o P- N P- 0 P1 s; Ω rt H φ P- P- Φ <i rt . — . 3 0 Φ cn α tr φ Φ 0 l-i
P- tr Φ H Ω rt o 0 tr H H Z P- o H P N -^ — . φ rt ^ cn φ tr Φ H H — Φ Φ φ Φ H φ *-. φ >v
1 P- 1 O 3 0 10 Φ 3 **! P- cn 0 P- 0 *•-- <
4-- 10 1 Φ 0 P- o cn φ rt 0 φ |χ) tr 1 ^ 0 1 Φ 1
Bei dem vorliegenden Verfahren wird also das Gate- Dielektrikum durch Fotolithografie ohne Verwendung von Fotolack erzeugt. Im Resultat ergibt sich ein OFET dessen Gate- Elektrode gleichzeitig als Leiterbahn zur Source-Elektrode des nächsten Transistors genutzt werden kann. Eine Durchkon- taktierung zwischen Leiterbahnen auf verschiedenen Ebenen in organischen integrierten Schaltungen wird ermöglicht.
Hierfür wird nachfolgend ein Ausführungsbeispiel angegeben, das die Reaktionsbedingungen im Einzelnen angibt.
Ausführungsbeispiel für das Erzeugen eines Gate-Dielektrikums
5ml einer 10%igen Lösung von Poly-4-Hydroxystyrol in Dioxan werden mit 20 mg Hexamethoxymethylmelamin und einer katalyti- schen Spur Diphenyliodoniumtetrafluoroborat versetzt und durch spin-coating auf ein Substrat, auf dem sich bereits E- lektroden und Halbleiter befinden, flächig aufgebracht. Das Substrat wird durch eine Schattenmaske belichtet und an- schließend 30 Minuten bei 120°C getempert. Nach dem Abkühlen wird der Isolator an den nichtbelichteten und damit nichtver- netzten Stellen durch intensives Spülen bzw. Einlegen mit bzw. in n-Butanol entfernt. Die Gate-Elektrode wird darauf ausgebildet.
Die erfindungsgemäßen OFETs eignen sich hervorragend für Anwendungen im Bereich der organischen Elektronik und insbesondere bei der Herstellung von Identifizierungsstickern (Ident- Tags) , elektronischen Wasserzeichen, elektronischen Bar- Codes, elektronischem Spielzeug, elektronischen Tickets, für die Anwendung im Produkt- bzw. Plagiatschutz oder der Anti- Diebstahlssicherung.

Claims

Patentansprüche
1. Organischer Feldeffekt-Transistor, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass auf einem flexiblen Substrat (1) in einer ersten Schicht Source- und Drain- Elektroden (2, 2') sowie ein Halbleiter (3) angeordnet sind, auf dem in einer zweiten Schicht ein Isolator (4) strukturiert ausgebildet und auf dem in einer dritten Schicht eine Gate-Elektrode (5) aufgebracht ist.
2. Organischer Feldeffekt-Transistor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, das das Substrat dünnstes Glas (Glasfolie) oder eine Kunststofffolie ist.
3. Organischer Feldeffekt-Transistor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (1) Polyethylen- terephthalat oder insbesondere Polyimidfolie ist.
4. Organischer Feldeffekt-Transistor nach einem der Ansprü- ehe 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Source- und Drain-Elektroden (2, 2') aus Indium-Zinn-Oxid (ITO), Po- lyanilin (PANI) und/oder leitfähigen Polymeren gebildet ist.
5. Organischer Feldeffekt-Transistor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Halbleiter , (3) aus konjugierten Polymeren oder Oligomeren gebildet ist.
6. Organischer Feldeffekt-Transistor nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Isolator (4) aus einem mit einem Vernetzer in Gegenwart eines Fotoinitiators vernetzten Isolatormaterial gebildet ist.
7. Organischer Feldeffekt-Transistor nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Isolatormaterial aus Poly- 4-hydroxystyrol oder aus Hydroxylgruppen enthaltenden Mela in-Formaldehydharzen ausgewählt ist.
8. Organischer Feldeffekt-Transistor nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Vernetzer säureempfindlich, insbesondere Hexamethoxy ethylmelamin (HMM) ist.
9. Organischer Feldeffekt-Transistor nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Fotoinita- tor aus Diphenyliodoniumtetrafluoroborat und Triphenyl- sulfoniumhexafluoroantimonat ausgewählt ist.
10.Organischer Feldeffekt-Transistor nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Gate- Elektrode aus Polyanilin, anderen leitfähigen Polymeren oder Carbon Black gebildet ist.
11.Verfahren zur Herstellung eines organischen Feldeffekt- Transistors bei dem man in üblicher Weise ein flexibles Substrat (1) mit einer Source- und Drain-Elektrode (2,
2') sowie einem Halbleiter (3) versieht, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass man auf dem Halbleiter (3) einen Isolator (4) aufbringt, indem eine Lösung eines Isolatormaterials, die einen säureempfindlichen Vernetzer sowie einen Fotoinitiator enthält aufträgt, durch eine Schattenmaske, welche Source- und Drain- Elektroden (2, 2') abdeckt, belichtet und anschließend tempert, wobei an den belichteten Stellen eine Vernetzung bewirkt wird und auf den so vernetzten und strukturierten Isolator (4) die Gate-Elektrode (5) aufgebracht wird.
12.Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass das Isolatormaterial aus Poly-4-hydroxystyrol oder aus Hydroxylgruppen enthaltenden Melamin-Formaldehydharzen ausgewählt wird.
13.Verfahren nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass der Vernetzer säureempfindlich, insbesondere Hexamethoxymethylmelamin (HMMM)ist.
14.Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass der Fotoinitiator unter Einwirkung von Licht eine Säure bildet und insbesondere aus Diphenyliodoniumtetrafluoro- borat und Triphenylsulfoniumhexaantimonat ausgewählt wird.
15.Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass die das Isolatormaterial, den Vernetzer und den Fotoinitiator enthaltende Lösung durch spin- coating oder Rakeln aufgetragen wird.
16.Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass mit UV-Licht belichtet wird.
17.Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch ge- kennzeichnet, dass bei einer Temperatur zwischen 100°C und 140°C getempert wird.
18.Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass bei einer Temperatur von 120°C getempert wird.
19.Verwendung des organischen Feldeffekttransistors nach einem der vorhergehenden Ansprüche in der organischen Elektronik.
20.Verwendung des organischen Feldeffekttransistors nach einem der vorhergehenden Ansprüche für Identifizierungssti- cker (Ident-Tags) , elektronische Wasserzeichen, elektronische Bar-Codes, elektronisches Spielzeug, elektronische Tickets, im Produkt- bzw. Plagiatschutz oder der Anti- Diebstahlsicherung.
EP02706645A 2001-02-09 2002-01-29 Organischer feldeffekt-transistor mit fotostrukturiertem gate-dielektrikum, ein verfahren zu dessen erzeugung und die verwendung in der organischen elektronik Withdrawn EP1358684A1 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10105914 2001-02-09
DE10105914A DE10105914C1 (de) 2001-02-09 2001-02-09 Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum und ein Verfahren zu dessen Erzeugung
PCT/DE2002/000312 WO2002065557A1 (de) 2001-02-09 2002-01-29 Organischer feldeffekt-transistor mit fotostrukturiertem gate-dielektrikum, ein verfahren zu dessen erzeugung und die verwendung in der organischen elektronik

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EP1358684A1 true EP1358684A1 (de) 2003-11-05

Family

ID=7673418

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP02706645A Withdrawn EP1358684A1 (de) 2001-02-09 2002-01-29 Organischer feldeffekt-transistor mit fotostrukturiertem gate-dielektrikum, ein verfahren zu dessen erzeugung und die verwendung in der organischen elektronik

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7238961B2 (de)
EP (1) EP1358684A1 (de)
JP (1) JP2004518305A (de)
DE (1) DE10105914C1 (de)
WO (1) WO2002065557A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102453287A (zh) * 2010-10-27 2012-05-16 财团法人工业技术研究院 组合物与高分子

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7875975B2 (en) 2000-08-18 2011-01-25 Polyic Gmbh & Co. Kg Organic integrated circuit completely encapsulated by multi-layered barrier and included in RFID tag
DE10043204A1 (de) * 2000-09-01 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Feld-Effekt-Transistor, Verfahren zur Strukturierung eines OFETs und integrierte Schaltung
DE10045192A1 (de) 2000-09-13 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Datenspeicher, RFID-Tag mit organischem Datenspeicher, Verwendung eines organischen Datenspeichers
DE10160732A1 (de) * 2001-12-11 2003-06-26 Siemens Ag Organischer Feld-Effekt-Transistor mit verschobener Schwellwertspannung und Verwendung dazu
WO2004017439A2 (de) 2002-07-29 2004-02-26 Siemens Aktiengesellschaft Elektronisches bauteil mit vorwiegend organischen funktionsmaterialien und herstellungsverfahren dazu
EP1629544B1 (de) * 2003-05-12 2008-11-19 Cambridge Enterprise Limited Polymerer transistor
JP4401354B2 (ja) * 2003-05-19 2010-01-20 株式会社日立製作所 超音波治療装置
CN1791990B (zh) * 2003-05-20 2010-07-28 皇家飞利浦电子股份有限公司 场效应晶体管布置和场效应晶体管布置的制造方法
JPWO2005006449A1 (ja) * 2003-07-10 2006-08-24 松下電器産業株式会社 有機薄膜トランジスタとその製造方法、及びそれを用いたアクティブマトリクス型のディスプレイと無線識別タグ
GB2404082A (en) * 2003-07-12 2005-01-19 Hewlett Packard Development Co Semiconductor device with metallic electrodes and method of forming a device
GB0316395D0 (en) * 2003-07-12 2003-08-13 Hewlett Packard Development Co A transistor device with metallic electrodes and a method for use in forming such a device
DE10340609A1 (de) * 2003-08-29 2005-04-07 Infineon Technologies Ag Polymerformulierung und Verfahren zur Herstellung einer Dielektrikumsschicht
DE10340608A1 (de) * 2003-08-29 2005-03-24 Infineon Technologies Ag Polymerformulierung und Verfahren zur Herstellung einer Dielektrikumsschicht
DE10340643B4 (de) 2003-09-03 2009-04-16 Polyic Gmbh & Co. Kg Druckverfahren zur Herstellung einer Doppelschicht für Polymerelektronik-Schaltungen, sowie dadurch hergestelltes elektronisches Bauelement mit Doppelschicht
DE102004002024A1 (de) * 2004-01-14 2005-08-11 Siemens Ag Organischer Transistor mit selbstjustierender Gate-Elektrode und Verfahren zu dessen Herstellung
DE102004005247A1 (de) * 2004-01-28 2005-09-01 Infineon Technologies Ag Imprint-Lithographieverfahren
JP5137296B2 (ja) * 2004-03-19 2013-02-06 三菱化学株式会社 電界効果トランジスタ
DE102004040831A1 (de) 2004-08-23 2006-03-09 Polyic Gmbh & Co. Kg Funketikettfähige Umverpackung
KR100606655B1 (ko) * 2004-09-22 2006-08-01 한국전자통신연구원 광반응성 유기고분자 게이트 절연막 조성물 및 이를이용한 유기박막 트랜지스터
KR100593300B1 (ko) * 2004-11-10 2006-06-26 한국전자통신연구원 열경화성 유기고분자 게이트 절연막 조성물 및 이를 이용한 유기박막 트랜지스터
DE102004059465A1 (de) 2004-12-10 2006-06-14 Polyic Gmbh & Co. Kg Erkennungssystem
DE102004059464A1 (de) 2004-12-10 2006-06-29 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronikbauteil mit Modulator
DE102004063435A1 (de) 2004-12-23 2006-07-27 Polyic Gmbh & Co. Kg Organischer Gleichrichter
DE102005009819A1 (de) 2005-03-01 2006-09-07 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronikbaugruppe
DE102005017655B4 (de) * 2005-04-15 2008-12-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Mehrschichtiger Verbundkörper mit elektronischer Funktion
DE102005031448A1 (de) 2005-07-04 2007-01-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Aktivierbare optische Schicht
DE102005035589A1 (de) 2005-07-29 2007-02-01 Polyic Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauelements
DE102005035590A1 (de) * 2005-07-29 2007-02-01 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronisches Bauelement
DE102005042166A1 (de) * 2005-09-06 2007-03-15 Polyic Gmbh & Co.Kg Organisches Bauelement und ein solches umfassende elektrische Schaltung
DE102005044306A1 (de) * 2005-09-16 2007-03-22 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronische Schaltung und Verfahren zur Herstellung einer solchen
KR100708720B1 (ko) * 2005-10-19 2007-04-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 박막 트랜지스터, 이의 제조 방법 및 이를 구비한평판 표시 장치
GB2458940B (en) * 2008-04-03 2010-10-06 Cambridge Display Tech Ltd Organic thin film transistors
US8272458B2 (en) * 2008-06-12 2012-09-25 Nackerud Alan L Drill bit with replaceable blade members
JP5334039B2 (ja) * 2008-09-01 2013-11-06 国立大学法人大阪大学 有機電界効果トランジスター及びその製造方法
JP6405772B2 (ja) * 2014-07-31 2018-10-17 住友化学株式会社 組成物およびそれを用いた有機薄膜トランジスタ

Family Cites Families (104)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3512052A (en) * 1968-01-11 1970-05-12 Gen Motors Corp Metal-insulator-semiconductor voltage variable capacitor with controlled resistivity dielectric
US3769096A (en) * 1971-03-12 1973-10-30 Bell Telephone Labor Inc Pyroelectric devices
JPS543594B2 (de) * 1973-10-12 1979-02-24
JPS54101176A (en) * 1978-01-26 1979-08-09 Shinetsu Polymer Co Contact member for push switch
US4442019A (en) * 1978-05-26 1984-04-10 Marks Alvin M Electroordered dipole suspension
US4246298A (en) * 1979-03-14 1981-01-20 American Can Company Rapid curing of epoxy resin coating compositions by combination of photoinitiation and controlled heat application
US4340657A (en) 1980-02-19 1982-07-20 Polychrome Corporation Novel radiation-sensitive articles
DE3338597A1 (de) 1983-10-24 1985-05-02 GAO Gesellschaft für Automation und Organisation mbH, 8000 München Datentraeger mit integriertem schaltkreis und verfahren zur herstellung desselben
JPS60117769A (ja) 1983-11-30 1985-06-25 Fujitsu Ltd 半導体メモリ装置
US4554229A (en) * 1984-04-06 1985-11-19 At&T Technologies, Inc. Multilayer hybrid integrated circuit
DE3768112D1 (de) * 1986-03-03 1991-04-04 Toshiba Kawasaki Kk Strahlungsdetektor.
JP2728412B2 (ja) 1987-12-25 1998-03-18 株式会社日立製作所 半導体装置
GB2215307B (en) * 1988-03-04 1991-10-09 Unisys Corp Electronic component transportation container
US5364735A (en) 1988-07-01 1994-11-15 Sony Corporation Multiple layer optical record medium with protective layers and method for producing same
US4937119A (en) 1988-12-15 1990-06-26 Hoechst Celanese Corp. Textured organic optical data storage media and methods of preparation
US5892244A (en) * 1989-01-10 1999-04-06 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Field effect transistor including πconjugate polymer and liquid crystal display including the field effect transistor
US6331356B1 (en) 1989-05-26 2001-12-18 International Business Machines Corporation Patterns of electrically conducting polymers and their application as electrodes or electrical contacts
US5206525A (en) 1989-12-27 1993-04-27 Nippon Petrochemicals Co., Ltd. Electric element capable of controlling the electric conductivity of π-conjugated macromolecular materials
FR2664430B1 (fr) 1990-07-04 1992-09-18 Centre Nat Rech Scient Transistor a effet de champ en couche mince de structure mis, dont l'isolant et le semiconducteur sont realises en materiaux organiques.
FR2673041A1 (fr) * 1991-02-19 1992-08-21 Gemplus Card Int Procede de fabrication de micromodules de circuit integre et micromodule correspondant.
US5408109A (en) * 1991-02-27 1995-04-18 The Regents Of The University Of California Visible light emitting diodes fabricated from soluble semiconducting polymers
JPH0580530A (ja) * 1991-09-24 1993-04-02 Hitachi Ltd 薄膜パターン製造方法
US5173835A (en) * 1991-10-15 1992-12-22 Motorola, Inc. Voltage variable capacitor
EP0610183B1 (de) 1991-10-30 1995-05-10 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Förderung Der Angewandten Forschung E.V. Belichtungsvorrichtung
JP2709223B2 (ja) 1992-01-30 1998-02-04 三菱電機株式会社 非接触形携帯記憶装置
DE4243832A1 (de) 1992-12-23 1994-06-30 Daimler Benz Ag Tastsensoranordnung
JP3457348B2 (ja) * 1993-01-15 2003-10-14 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
FR2701117B1 (fr) * 1993-02-04 1995-03-10 Asulab Sa Système de mesures électrochimiques à capteur multizones, et son application au dosage du glucose.
US5567550A (en) * 1993-03-25 1996-10-22 Texas Instruments Incorporated Method of making a mask for making integrated circuits
JPH0722669A (ja) 1993-07-01 1995-01-24 Mitsubishi Electric Corp 可塑性機能素子
CA2170402C (en) * 1993-08-24 2000-07-18 Michael P. Allen Novel disposable electronic assay device
JP3460863B2 (ja) * 1993-09-17 2003-10-27 三菱電機株式会社 半導体装置の製造方法
FR2710413B1 (fr) * 1993-09-21 1995-11-03 Asulab Sa Dispositif de mesure pour capteurs amovibles.
US5556706A (en) * 1993-10-06 1996-09-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive layered product and method of manufacturing the same
JP3246189B2 (ja) 1994-06-28 2002-01-15 株式会社日立製作所 半導体表示装置
US5574291A (en) 1994-12-09 1996-11-12 Lucent Technologies Inc. Article comprising a thin film transistor with low conductivity organic layer
TW293172B (de) * 1994-12-09 1996-12-11 At & T Corp
US5630986A (en) * 1995-01-13 1997-05-20 Bayer Corporation Dispensing instrument for fluid monitoring sensors
JP3068430B2 (ja) * 1995-04-25 2000-07-24 富山日本電気株式会社 固体電解コンデンサ及びその製造方法
US5652645A (en) * 1995-07-24 1997-07-29 Anvik Corporation High-throughput, high-resolution, projection patterning system for large, flexible, roll-fed, electronic-module substrates
US5625199A (en) 1996-01-16 1997-04-29 Lucent Technologies Inc. Article comprising complementary circuit with inorganic n-channel and organic p-channel thin film transistors
GB2310493B (en) * 1996-02-26 2000-08-02 Unilever Plc Determination of the characteristics of fluid
JP3080579B2 (ja) * 1996-03-06 2000-08-28 富士機工電子株式会社 エアリア・グリッド・アレイ・パッケージの製造方法
DE19629656A1 (de) * 1996-07-23 1998-01-29 Boehringer Mannheim Gmbh Diagnostischer Testträger mit mehrschichtigem Testfeld und Verfahren zur Bestimmung von Analyt mit dessen Hilfe
US6344662B1 (en) * 1997-03-25 2002-02-05 International Business Machines Corporation Thin-film field-effect transistor with organic-inorganic hybrid semiconductor requiring low operating voltages
KR100248392B1 (ko) 1997-05-15 2000-09-01 정선종 유기물전계효과트랜지스터와결합된유기물능동구동전기발광소자및그소자의제작방법
JP4509228B2 (ja) * 1997-08-22 2010-07-21 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 有機材料から成る電界効果トランジスタ及びその製造方法
BR9811636A (pt) 1997-09-11 2000-08-08 Precision Dynamics Corp Etiqueta de identificação de rádio freqâência em substrato flexìvel
US6251513B1 (en) * 1997-11-08 2001-06-26 Littlefuse, Inc. Polymer composites for overvoltage protection
JPH11142810A (ja) 1997-11-12 1999-05-28 Nintendo Co Ltd 携帯型情報処理装置
US5997817A (en) * 1997-12-05 1999-12-07 Roche Diagnostics Corporation Electrochemical biosensor test strip
JP2001510670A (ja) 1997-12-05 2001-07-31 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 識別トランスポンダ
US5998805A (en) 1997-12-11 1999-12-07 Motorola, Inc. Active matrix OED array with improved OED cathode
US6083104A (en) * 1998-01-16 2000-07-04 Silverlit Toys (U.S.A.), Inc. Programmable toy with an independent game cartridge
EP1051745B1 (de) * 1998-01-28 2007-11-07 Thin Film Electronics ASA Methode zur herstellung zwei- oder dreidimensionaler elektrisch leitender oder halbleitender strukturen, eine löschmethode derselben und ein generator/modulator eines elektrischen feldes zum gebrauch in der herstellungsmethode
US6087196A (en) 1998-01-30 2000-07-11 The Trustees Of Princeton University Fabrication of organic semiconductor devices using ink jet printing
US6045977A (en) 1998-02-19 2000-04-04 Lucent Technologies Inc. Process for patterning conductive polyaniline films
DE19816860A1 (de) 1998-03-06 1999-11-18 Deutsche Telekom Ag Chipkarte, insbesondere Guthabenkarte
US6033202A (en) * 1998-03-27 2000-03-07 Lucent Technologies Inc. Mold for non - photolithographic fabrication of microstructures
GB9808061D0 (en) 1998-04-16 1998-06-17 Cambridge Display Tech Ltd Polymer devices
GB9808806D0 (en) 1998-04-24 1998-06-24 Cambridge Display Tech Ltd Selective deposition of polymer films
TW410478B (en) 1998-05-29 2000-11-01 Lucent Technologies Inc Thin-film transistor monolithically integrated with an organic light-emitting diode
US5967048A (en) * 1998-06-12 1999-10-19 Howard A. Fromson Method and apparatus for the multiple imaging of a continuous web
US6215130B1 (en) * 1998-08-20 2001-04-10 Lucent Technologies Inc. Thin film transistors
ES2306525T3 (es) 1998-08-26 2008-11-01 Sensors For Medicine And Science, Inc. Dispositivos de deteccion basados en optica.
DE19851703A1 (de) * 1998-10-30 2000-05-04 Inst Halbleiterphysik Gmbh Verfahren zur Herstellung von elektronischen Strukturen
US6384804B1 (en) 1998-11-25 2002-05-07 Lucent Techonologies Inc. Display comprising organic smart pixels
US6506438B2 (en) 1998-12-15 2003-01-14 E Ink Corporation Method for printing of transistor arrays on plastic substrates
US6321571B1 (en) 1998-12-21 2001-11-27 Corning Incorporated Method of making glass structures for flat panel displays
US6114088A (en) 1999-01-15 2000-09-05 3M Innovative Properties Company Thermal transfer element for forming multilayer devices
GB2347013A (en) 1999-02-16 2000-08-23 Sharp Kk Charge-transport structures
US6300141B1 (en) * 1999-03-02 2001-10-09 Helix Biopharma Corporation Card-based biosensor device
US6180956B1 (en) * 1999-03-03 2001-01-30 International Business Machine Corp. Thin film transistors with organic-inorganic hybrid materials as semiconducting channels
US6207472B1 (en) 1999-03-09 2001-03-27 International Business Machines Corporation Low temperature thin film transistor fabrication
JP2000269504A (ja) * 1999-03-16 2000-09-29 Hitachi Ltd 半導体装置、その製造方法及び液晶表示装置
US6498114B1 (en) 1999-04-09 2002-12-24 E Ink Corporation Method for forming a patterned semiconductor film
US6072716A (en) 1999-04-14 2000-06-06 Massachusetts Institute Of Technology Memory structures and methods of making same
DE19921024C2 (de) 1999-05-06 2001-03-08 Wolfgang Eichelmann Videospielanlage
US6383664B2 (en) * 1999-05-11 2002-05-07 The Dow Chemical Company Electroluminescent or photocell device having protective packaging
DE19933757A1 (de) 1999-07-19 2001-01-25 Giesecke & Devrient Gmbh Chipkarte mit integrierter Batterie
ATE549753T1 (de) * 1999-07-21 2012-03-15 E Ink Corp Reaktive herstellung von dielektrischen schichten und schutz von organischen schichten in organischen halbleiteranordnungen
US6593690B1 (en) 1999-09-03 2003-07-15 3M Innovative Properties Company Large area organic electronic devices having conducting polymer buffer layers and methods of making same
US6517995B1 (en) * 1999-09-14 2003-02-11 Massachusetts Institute Of Technology Fabrication of finely featured devices by liquid embossing
US6340822B1 (en) * 1999-10-05 2002-01-22 Agere Systems Guardian Corp. Article comprising vertically nano-interconnected circuit devices and method for making the same
JP2004538618A (ja) 1999-10-11 2004-12-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 集積回路
US6335539B1 (en) * 1999-11-05 2002-01-01 International Business Machines Corporation Method for improving performance of organic semiconductors in bottom electrode structure
US6284562B1 (en) * 1999-11-17 2001-09-04 Agere Systems Guardian Corp. Thin film transistors
US6621098B1 (en) 1999-11-29 2003-09-16 The Penn State Research Foundation Thin-film transistor and methods of manufacturing and incorporating a semiconducting organic material
US6197663B1 (en) 1999-12-07 2001-03-06 Lucent Technologies Inc. Process for fabricating integrated circuit devices having thin film transistors
KR100940110B1 (ko) * 1999-12-21 2010-02-02 플라스틱 로직 리미티드 잉크젯으로 제조되는 집적회로 및 전자 디바이스 제조 방법
US6706159B2 (en) * 2000-03-02 2004-03-16 Diabetes Diagnostics Combined lancet and electrochemical analyte-testing apparatus
US6441196B2 (en) 2000-05-19 2002-08-27 Alcon, Inc. Processes and novel intermediates for 11-oxa prostaglandin synthesis
US6329226B1 (en) 2000-06-01 2001-12-11 Agere Systems Guardian Corp. Method for fabricating a thin-film transistor
DE10033112C2 (de) 2000-07-07 2002-11-14 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung und Strukturierung organischer Feldeffekt-Transistoren (OFET), hiernach gefertigter OFET und seine Verwendung
US7875975B2 (en) * 2000-08-18 2011-01-25 Polyic Gmbh & Co. Kg Organic integrated circuit completely encapsulated by multi-layered barrier and included in RFID tag
KR20020036916A (ko) * 2000-11-11 2002-05-17 주승기 실리콘 박막의 결정화 방법 및 이에 의해 제조된 반도체소자
KR100390522B1 (ko) * 2000-12-01 2003-07-07 피티플러스(주) 결정질 실리콘 활성층을 포함하는 박막트랜지스터 제조 방법
US20020170897A1 (en) * 2001-05-21 2002-11-21 Hall Frank L. Methods for preparing ball grid array substrates via use of a laser
US6870180B2 (en) * 2001-06-08 2005-03-22 Lucent Technologies Inc. Organic polarizable gate transistor apparatus and method
JP2003089259A (ja) 2001-09-18 2003-03-25 Hitachi Ltd パターン形成方法およびパターン形成装置
US7351660B2 (en) * 2001-09-28 2008-04-01 Hrl Laboratories, Llc Process for producing high performance interconnects
US6946332B2 (en) 2002-03-15 2005-09-20 Lucent Technologies Inc. Forming nanoscale patterned thin film metal layers
US6812509B2 (en) * 2002-06-28 2004-11-02 Palo Alto Research Center Inc. Organic ferroelectric memory cells
US6870183B2 (en) 2002-11-04 2005-03-22 Advanced Micro Devices, Inc. Stacked organic memory devices and methods of operating and fabricating

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See references of WO02065557A1 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102453287A (zh) * 2010-10-27 2012-05-16 财团法人工业技术研究院 组合物与高分子
CN102453287B (zh) * 2010-10-27 2014-04-02 财团法人工业技术研究院 组合物与高分子

Also Published As

Publication number Publication date
US7238961B2 (en) 2007-07-03
JP2004518305A (ja) 2004-06-17
WO2002065557A1 (de) 2002-08-22
US20040219460A1 (en) 2004-11-04
DE10105914C1 (de) 2002-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1358684A1 (de) Organischer feldeffekt-transistor mit fotostrukturiertem gate-dielektrikum, ein verfahren zu dessen erzeugung und die verwendung in der organischen elektronik
DE69829643T2 (de) Polymere organische elektroluminezente Pixel-Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung
DE602004006620T2 (de) Eine fet anordnung und eine methode zur herstellung einer fet anordnung
DE102017203198A1 (de) Flexible Anzeigevorrichtung und Herstellungsverfahren derselben
EP1309994A2 (de) Verkapseltes organisch-elektronisches bauteil, verfahren zu seiner herstellung und seine verwendung
DE10140666A1 (de) Verfahren und Anordnung zur Herstellung eines leitfähigen strukturierten Polymerfilms
DE3231147A1 (de) Positiv arbeitendes verfahren zur herstellung von reliefbildern oder resistmustern
EP1393387A1 (de) Organischer feldeffekt-transistor, verfahren zu seiner herstellung und verwendung zum aufbau integrierter schaltungen
DE10045192A1 (de) Organischer Datenspeicher, RFID-Tag mit organischem Datenspeicher, Verwendung eines organischen Datenspeichers
DE2326314A1 (de) Verfahren zur herstellung einer passivierenden schicht mit wenigstens einer kontaktoeffnung
TW200712773A (en) Negative photosensitive resin composite, method of forming pattern and electronic component
DE102005028240A1 (de) Abdecklack zum Ausbilden eines Musters und Verfahren zum Ausbilden des Musters unter Verwendung desselben
EP1658647B1 (de) Integrierte schaltung mit einem organischen halbleiter und verfahren zur herstellung einer integrierten schaltung
WO2001059827A1 (de) Verkapselung für ein elektrisches bauelement und verfahren zur herstellung
DE112013001236T5 (de) Isolierschicht für eine elektronische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Isolierschicht für eine elektronische Vorrichtung
DE102004005247A1 (de) Imprint-Lithographieverfahren
EP1563554B1 (de) Organisches elektronisches bauelement mit gleichem organischem material für zumindest zwei funktionsschichten
DE10226370B4 (de) Substrat für ein elektronisches Bauteil, Verwendung des Substrates, Verfahren zur Erhöhung der Ladungsträgermobilität und Organischer Feld-Effekt Transistor (OFET)
DE10340609A1 (de) Polymerformulierung und Verfahren zur Herstellung einer Dielektrikumsschicht
DE10340641A1 (de) Strukturierung von Gate-Dielektrika in organischen Feldeffekt-Transistoren
EP1704606B1 (de) Verfahren zur Herstellung eines organischen Transistors mit selbstjustierender Gate-Elektrode
EP1543384A2 (de) Zusammensetzung, die eine elektrisch leitfähige lackschicht bildet und ein verfahren zur strukturierung eines fotoresists unter verwendung der lackschicht
DE10120685C1 (de) Anordnung eines organischen Feld-Effekt-Transistors mit Verkapselung und Verfahren zur Herstellung
WO2005006462A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur strukturierung von organischen schichten
WO2004017439A2 (de) Elektronisches bauteil mit vorwiegend organischen funktionsmaterialien und herstellungsverfahren dazu

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 20030717

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR

RAP1 Party data changed (applicant data changed or rights of an application transferred)

Owner name: POLYIC GMBH & CO. KG

17Q First examination report despatched

Effective date: 20070109

RAP1 Party data changed (applicant data changed or rights of an application transferred)

Owner name: POLYIC GMBH & CO. KG

STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: THE APPLICATION HAS BEEN WITHDRAWN

18W Application withdrawn

Effective date: 20100308