DE69837689T2 - Zeitgeberschaltung, Vorrichtung und System für integrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem - Google Patents

Zeitgeberschaltung, Vorrichtung und System für integrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem Download PDF

Info

Publication number
DE69837689T2
DE69837689T2 DE69837689T DE69837689T DE69837689T2 DE 69837689 T2 DE69837689 T2 DE 69837689T2 DE 69837689 T DE69837689 T DE 69837689T DE 69837689 T DE69837689 T DE 69837689T DE 69837689 T2 DE69837689 T2 DE 69837689T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
circuit
signal
clock
timing
delay
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69837689T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69837689D1 (de
Inventor
Hirotaka Tamura
Hisakatsu Araki
Shigetoshi Wakayama
Kohtaroh Gotoh
Junji Ogawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP15542997A external-priority patent/JP3961072B2/ja
Priority claimed from JP07940198A external-priority patent/JP4063392B2/ja
Priority claimed from JP13561098A external-priority patent/JP3955150B2/ja
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Publication of DE69837689D1 publication Critical patent/DE69837689D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69837689T2 publication Critical patent/DE69837689T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L7/00Arrangements for synchronising receiver with transmitter
    • H04L7/02Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information
    • H04L7/033Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information using the transitions of the received signal to control the phase of the synchronising-signal-generating means, e.g. using a phase-locked loop
    • H04L7/0337Selecting between two or more discretely delayed clocks or selecting between two or more discretely delayed received code signals
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4076Timing circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1072Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • G11C7/222Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L7/00Arrangements for synchronising receiver with transmitter
    • H04L7/0016Arrangements for synchronising receiver with transmitter correction of synchronization errors
    • H04L7/002Arrangements for synchronising receiver with transmitter correction of synchronization errors correction by interpolation
    • H04L7/0025Arrangements for synchronising receiver with transmitter correction of synchronization errors correction by interpolation interpolation of clock signal
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K2005/00013Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
    • H03K2005/00019Variable delay
    • H03K2005/00026Variable delay controlled by an analog electrical signal, e.g. obtained after conversion by a D/A converter
    • H03K2005/00052Variable delay controlled by an analog electrical signal, e.g. obtained after conversion by a D/A converter by mixing the outputs of fixed delayed signals with each other or with the input signal

Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen verbesserten Phaseninterpolator.
  • Seit einiger Zeit hat sich die Leistung von Komponenten, welche bei Computern und anderen Informationsverarbeitungsgeräten verwendet werden, schnell verbessert; insbesondere hat sich die Leistung von dynamischen Direktzugriffsspeichern (DRAM) und Prozessoren Jahr um Jahr ungeheuer verbessert.
  • Die Prozessorleistung hat sich im Wesentlichen hinsichtlich der Geschwindigkeit verbessert, während DRAM-Leistungsverbesserungen sich hauptsächlich hinsichtlich der Speicherkapazität wesentlich verbessert haben. Die Verbesserung der DRAM-Geschwindigkeit war jedoch nicht so dramatisch wie der Anstieg der Speicherkapazität, wobei als Ergebnis davon sich eine Lücke zwischen der Geschwindigkeit von DRAMs und der von Prozessoren aufgeweitet hat und in vergangenen Jahren diese Geschwindigkeitslücke zu einem Flaschenhals beim Steigern von Computerleistung geworden ist.
  • Mit ansteigender Chipgröße ist nicht nur die Signalübertragung zwischen den Chips, sondern auch die Geschwindigkeit der Signalübertragung zwischen Einrichtungen und zwischen Schaltungsbestandteilen (Schaltungsblöcken) innerhalb eines LSI-Chips zu einem Hauptbegrenzungsfaktor bei der Chipleistung geworden.
  • Wenn dagegen die Signalübertragungsgeschwindigkeit zwischen LSI-Chips extrem vergrößert wird, ist es beispielsweise erforderlich, dass die Signalempfangsschaltungen so ausgebildet sein müssen, mit korrekter Zeitgabe in Bezug auf die Signale zu arbeiten, und die Verfahren, beispielsweise DLL (Delay Locked Loop) und PLL (Phase Locked Loop) sind als Adresse für dieses Erfordernis bekannt geworden.
  • Außerdem ist die Notwendigkeit auf Hochgeschwindigkeits-Signalübertragung zwischen LSI-Chips entstanden, beispielsweise zwischen einem DRAM und einem Prozessor (Logikschaltung) oder zwischen mehreren Einrichtungen oder Schaltungsblöcken innerhalb eines LSI-Chips. Es besteht daher eine Notwendigkeit nach einer Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung, welche mit einem einfachen Schaltungsaufbau und mit hoher Genauigkeit eine Vielzahl von Zeitgebersignalen erzeugen kann, die vorgeschriebene Phasendifferenzen haben, und zwar synchron mit einem Referenztakt.
  • Mit ansteigenden Betriebsgeschwindigkeiten von LSIs besteht außerdem die Notwendigkeit nach einem Signalübertragungssystem, mit dem eine Signalübertragung großer Kapazität mit hoher Geschwindigkeit zwischen LSIs und zwischen Vorrichtungen durchgeführt werden kann, die mit mehreren LSIs aufgebaut sind.
  • Die US-A 5 327 031 offenbart eine variable Verzögerungsschaltung, die eine feste Verzögerungsschaltung aufweist, um ein Eingangssignal um eine feste Verzögerung zu verzögern und um ein verzögertes Signal auszugeben, sowie eine Kombinationsschaltung, um das Eingangssignal und das verzögerte Signal zu kombinieren und ein Kombinationssignal mit Wichtungs- und einem Integriereffekt des Eingangs- und der verzögerten Signals auszugeben, wobei die variable Verzögerungsschaltung so dimensioniert ist, dass die feste Verzögerung geringer ist als die Übertragungszeit, die das Kombinationssignal hat, wenn lediglich das Eingangssignal angelegt wird. Der Hauptgegenstand des US-A 5 327 031 umfasst eine Kombinationsschaltung, auf die eine Integrierschaltung folgt, angewandt auf ein Kombinationssignal, wobei das Ergebnis dieses Betriebs als Signal ausgegeben wird, ohne mit einer Referenzspannung verglichen zu werden. Daher entspricht das Ausgangssignal der variablen Verzögerungsschaltung einem analogen Signal.
  • Die EP-A 0 317 759 offenbart eine einstellbare Verzögerungsschaltung, wobei ein Verzögerungselement vorgesehen ist, um ein Ausgangssignal als Antwort auf eine Änderung des Zustands eines Eingangssignals zu erzeugen. Diese einstellbare Verzögerungsschaltung entsprechend der EP-A 0 317 759 umfasst ein differentielles Einganssignal mit einem Puffer und ein differentielles Ausgangssignal, welches in bezug auf das Eingangssignal gemäß der Größe eines differentiellen Steuersignals einstellbar verzögert ist. Außerdem wird die einstellbare Verzögerungsschaltung gemäß der EP-A 0 317 759 durch Bipolar-Transistoren gebildet und eine variable Wichtung wird durch Steuern eines Basisstroms von zwei differentiellen Transistoren erlangt.
  • Der Stand der Technik und die Probleme mit dem Stand der Technik werden ausführlich später in Verbindung mit den Zeichnungen beschrieben.
  • Eine Aufgabe eines ersten Merkmals besteht darin, eine integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung bereitzustellen, welche eine Zeitgeberausbildung mit einer relativ hohen Einstellungsgenauigkeit erlaubt, die in einer kurzen Zeitperiode durchgeführt wird. Eine Aufgabe eines zweiten Merkmals besteht darin, ein Signalübertragungssystem bereitzustellen, welches für eine fehlerfreie Hochgeschwindigkeitssignalübertragung in der Lage ist, ohne durch eine Asymmetrie auf jeder Signalleitung beeinträchtigt zu werden. Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, einen Phaseninterpolator nach Patentanspruch 1 bereitzustellen. Eine Zeitgabe-Signalerzeugungsschaltung, die den Phaseninterpolator aufweist, kann mit einfachem Schaltungsaufbau und mit hoher Genauigkeit mehrere Zeitgabesignale, die vorgeschriebene Phasenunterschiede habe, synchron mit einem Referenztakt erzeugen.
  • Es wird eine integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung bereitgestellt, die einen Befehlsdecoder hat, um einen Steuerbefehl gemäß einem gelieferten Steuersignal auszugeben, einen DRAM-Kern und eine Zeitgebereinstellschaltung, um den Steuerbefehl, der für eine vorher festgelegte Zeitdauer aktiv gesetzt ist, als ein DRAM-Steuersignal zum DRAM-Kern zu liefern, wobei die Zeitgebereinstellschaltung n unterschiedliche Takte erzeugt, die in Bezug auf die Phase in Bezug auf einen gelieferten Referenztakt verschoben sind, und das DRAM-Steuersignal erzeugt, wobei der Steuerbefehl in einem vorgeschriebenen Betriebszyklus lediglich für eine Periode aktiv gesetzt wird, die von einem ersten vorher festgelegten Taktimpuls eines ersten Takts der n Takte beginnt und bei einem zweiten vorher festgelegten Taktimpuls eines zweiten Takts der n Takte endet.
  • Die Zeitgebereinstellschaltung kann ein logisches Gate aufweisen, um das erzeugte DRAM-Steuersignal zur Ausgabe lediglich für eine Periode, während der Steuerbefehl ausgegeben wird, freizugeben. Die integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung kann eine MPU aufweisen, die auf den DRAM zugreift. Die Zeitgebereinstellschaltung kann einen ersten Zähler aufweisen, um den ersten Takt zu zählen; einen zweiten Zähler, um den zweiten Takt zu zählen; und eine Zeitgeberpufferschaltung, um das DRAM-Steuersignal zu erzeugen, indem der Steuerbefehl für eine Zeitdauer aktiv gesetzt wird, beginnend vom Zeitpunkt, wo der Zählwert des ersten Zählers einen ersten Wert erreicht und bis zu dem Zeitpunkt endet, wo der Zählwert des zweiten Zählers einen zweiten Wert erreicht.
  • Der erste Zähler und der zweite Zähler können Schleifenzähler sein. Zumindest kann der erste und/oder der zweite Zähler eine Auswahlschaltung aufweisen, um Mehrfachbit-Ausgabesignale vom Zähler zu akzeptieren und um ein Bitausgangssignal von den Mehrfachbit-Ausgangssignalen auszuwählen, um dies gemäß einem Auswahlsteuer-Eingangswert auszugeben; und einen Zeitgebereinstellabschnitt, um den Auswahlsteuerungs-Eingangswert zu speichern und auszugeben.
  • Der Zeitgebereinstellabschnitt kann ein Register sein. Das Ausgangssignal des Zeitgebereinstellabschnitts kann vor Auslieferung gemäß Produktionsprozessbedingungen festgesetzt sein. Das Ausgangssignal des Zeitgebereinstellabschnitts kann vor der Auslieferung gemäß der erforderlichen Betriebsgeschwindigkeit eingestellt sein.
  • Die Zeitgebereinstellschaltung kann einen gemeinsamen Zähler aufweisen, um einen der n Takte oder den Referenztakt als gemeinsamen Takt zu zählen; ein erstes logisches Gate, um einen der n Takte lediglich zur Ausgabe für eine Periode, während der der Zählwert des gemeinsamen Zählers einen ersten Wert zeigt, freizugeben; ein zweites logisches Gate, um einen der n Takte zur Ausgabe lediglich für eine Periode freizugeben, während der der Zählwert des gemeinsamen Zählers einen zweiten Wert zeigt; und eine Zeitgeberpufferschaltung, um das DRAM-Steuersignal zu erzeugen, wobei der Steuerbefehl für eine Zeitdauer aktiv gesetzt wird, die von dem Zeitpunkt beginnt, wo das Ausgangssignal des ersten logischen Gates aktiv wird, und bis zu dem Zeitpunkt dauert, wo das Ausgangssignal des zweiten logischen Gates aktiv wird.
  • Der gemeinsame Zähler kann ein Schleifenzähler sein. Der gemeinsame Zähler kann eine Auswahlschaltung aufweisen, um Mehrfachbit-Ausgangssignale vom Zähler zu akzeptieren und um ein Bit, welches von mehreren Bitausgangssignalen ausgegeben wird, für eine Ausgabe gemäß einem Auswahlsteuer-Eingangswert auszugeben; und einen Zeitgebersetzabschnitt, um den Auswahlsteuer-Eingangswert zu speichern und auszugeben.
  • Die integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung kann ein logisches Gate aufweisen, um den gemeinsamen Takt zum ersten Zähler lediglich für eine Periode zu liefern, während der der Steuerbefehl ausgegeben wird. Der Befehlsdecoder kann ein logisches Gate aufweisen, um den ersten Wert, der als Zählwert des ersten Zählers angezeigt wird, zur Ausgabe zu der Zeitgeberpufferschaltung lediglich für die Periode freizugeben, während der der Steuerbefehl ausgegeben wird.
  • Die integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung kann eine Auswahlschaltung aufweisen, um einen der n Takte gemäß einem Auswahlsteuer-Eingangswert auszuwählen und um den ausgewählten Takt als Takt zum ersten logischen Gate oder zum zweiten logischen Gate zu liefern, und einen Zeitgebersetzabschnitt, um den Auswahlsteuer-Eingangswert zu speichern und auszugeben. Der Zeitgebersetzabschnitt kann ein Register sein. Das Ausgangssignal des Zeitgebersetzabschnitts kann vor Auslieferung gemäß Produktionsprozessbedingungen gesetzt werden. Das Ausgangssignal des Zeitgebersetzabschnitts kann vor Auslieferung gemäß der erforderlichen Betriebsgeschwindigkeit gesetzt werden.
  • Es ist außerdem eine Zeitgebereinstellschaltung vorgesehen, um n unterschiedliche Takte zu erzeugen, die jeweils bezüglich der Phase in Bezug auf einen gelieferten Referenztakt phasen-verschoben sind, und um ein Steuersignal zu erzeugen, welches in einen aktiven Zustand in einem vorgeschriebenen Betriebszyklus lediglich für eine Zeitdauer gesetzt wird, die bei einem ersten vorher festgelegten Taktimpuls eines ersten Taktes von n Takten beginnt und bei einem zweiten vorher festgelegten Taktimpuls eines zweiten Takts der n Takte endet.
  • Außerdem wird ein Signalübertragungssystem bereitgestellt, um Signale zu übertragen und zu empfangen, wobei mehrere Signalleitungen verwendet werden, welches eine Zeitgabeeinstelleinheit aufweist, die Höhe der Signalverzögerung einzustellen, welche während der Übertragung und des Empfangs der Signale verursacht wird, gemäß der Asymmetrie auf jeder der Signalleitungen, wodurch die Signallatchzeitgabe in einer Empfangsschaltung eingestellt wird, welche für jede der Signalleitungen vorgesehen ist, so dass die Latch-Zeitgabe für die Signalleitung optimal wird.
  • Die Zeitgabeeinstelleinheit kann in Wirklichkeit eine variable Verzögerung in Bezug auf einen Takt liefern, der verwendet wird, jeder der Empfangsschaltungen anzusteuern, um jedes der Signale zu speichern. Die Zeitgabeeinstelleinheit kann einen Phaseninterpolator aufweisen, der mehrere Takte mit unterschiedlichen Phasen erzeugt, wobei ein neuer Takt eine Zwischenphase hat. Die Zeitgabeeinstelleinheit kann einen Phaseninterpolator aufweisen, der von mehreren Takten mit unterschiedlichen Verzögerungshöhen einen neuen Takt erzeugt, der einen Zwischenverzögerungsbetrag hat. Die Zeitgabeeinstelleinheit kann eine variable Verzögerung für jedes der Signale am Übertragungsende wirksam liefern.
  • Das Signalübertragungssystem kann außerdem eine Wiedereintaktschaltung aufweisen, um die mehreren Signale, welche mit optimalem Zeittakt gespeichert sind, von den mehreren Signalleitungen wiedereinzutakten, so dass alle der mehreren Signale sich synchron mit einem gemeinsamen Takt ändern; und eine Beseitigungs-Asynchronschaltung, um im Fall des Auftretens eines asymmetrischen Signals, welches größer oder gleich einem Datenzyklus ist, eine notwendige Verzögerungshöhe äquivalent einem ganzzahligen Vielfachen des Datenzyklus einzufügen.
  • Die Zeitgabeeinstelleinheit kann mehrere Latch-Schaltungen aufweisen, um die Signale vorübergehend zu speichern, und Verschachtelungsoperationen können zwischen zwei oder mehreren Teilen unter Verwendung der mehreren Latch-Schaltungen durchgeführt werden. Die mehreren Latch-Schaltungen, welche die Verschachtelungsoperationen durchführen, können als eine Schaltung jeweils aufgebaut sein, bei der ein PRD-Verfahren verwendet wird. Der Takt, der verwendet wird, um jede der Empfangsschaltungen anzusteuern, um jedes der Signale vorübergehend zu speichern, kann von einem Signal auf einer eigens dafür bestimmten Taktleitung hergeleitet werden. Der Takt, der dazu verwendet wird, jede der Empfangsschaltungen anzusteuern, um jedes der Signale vorübergehend zu speichern, kann intern auf Basis eines Phasenvergleichs zwischen einem Signal auf einer Datenleitung oder einer eigens dafür bestimmten Taktleitung erzeugt werden, und einem Referenztakt, der in der Empfangsschaltung vorhanden ist.
  • Die Zeitgabeeinstelleinheit kann an ihrem Empfangsanschluss eine Optimal-Zeitgabe-Bestimmungseinheit aufweisen, um einen optimalen Punkt des Signal-Latch-Zeitgabe zu bestimmen, und die Optimal-Zeitgabe-Bestimmungseinheit kann den optimalen Punkt des Signal-Latch-Zeitgabepunkts unter Verwendung eines ersten Takts und eines zweiten Takts, der eine vorher festgelegte Phasendifferenz in Bezug auf den ersten Takt hat, bestimmen.
  • Der zweite Takt kann eine Phasendifferenz von ungefähr 180° in Bezug auf den ersten Takt haben. Die Optimal-Zeitgabe-Bestimmungseinheit kann einen Datenübergangsbereich unter Verwendung des ersten Takts ermitteln und kann den optimalen Punkt der Signal-Latch-Zeitgabe unter Verwendung des zweiten Takts bestimmen, so dass das Signalzwischenspeichern in der Empfangsschaltung im optimalen Zeitpunkt erreicht wird. Die Zeitgabeeinstelleinheit kann an dem Empfangsanschluss eine Optimal-Zeitgabe-Bestimmungseinheit aufweisen, um einen optimalen Punkt der Signal-Latch-Zeitgabe zu bestimmen, und die Optimal-Zeitgabe-Bestimmungseinheit kann den optimalen Punkt der Signal-Latch-Zeitgabe unter Verwendung eines Takts bestimmen, der einen Tastgrad von ungefähr 50% hat.
  • Die Optimal-Zeitgabe-Bestimmungseinheit kann einen Datenübergangsbereich unter Verwendung des Takts ermitteln und den optimalen Zeitpunkt der Signal-Latch-Zeitgabe unter Verwendung des Komplements des Takts bestimmen, so dass das Signalzwischenspeichern in der Empfangsschaltung mit optimaler Zeitgabe erreicht wird. Die Zeitgabeeinstelleinheit kann am Übertragungsanschluss eine Optimal-Zeitgabe-Bestimmungseinheit aufweisen, um einen optimalen Punkt der Signal-Latch-Zeitgabe zu bestimmen, und die Optimal-Zeitgabe-Bestimmungseinheit kann Daten mit solcher Zeitgabe übertragen, dass ein Takt am Empfangsanschluss in einem optimalen Zeitpunkt von Daten auftritt.
  • Die Optimal-Zeitgabe-Bestimmungseinheit kann einen Kalibrierungsmodus aufweisen, um Daten mit erster Zeitgabe zu übertragen, und einen Datenübertragungsmodus, um Daten, mit einer Zeitgabe zu übertragen, welche um eine vorher festgelegte Phasendifferenz in Bezug auf die erste Zeitgabe verschoben sind, und wobei der Kalibrierungsmodus einen Übergangsbereich in den Daten der ersten Zeitgabe unter Verwendung des Takts am Empfangsanschluss ermitteln kann, und der Datenübertragungsmodus sicherstellen kann, dass die Daten der Zeitgabe, welche um die vorher festgelegte Phasendifferenz in Bezug auf die erste Zeitgabe verschoben sind, durch die Empfangsschaltung unter Verwendung des Takts am Empfangsanschluss zwischengespeichert werden. Die Zeitgabe, welche durch die vorher fest gelegte Phasendifferenz in Bezug auf die erste Zeitgabe verschoben ist, kann die Zeitgabe sein, welche eine Phasendifferenz von ungefähr 180° in Bezug auf die erste Zeitgabe hat.
  • Das Signalübertragungssystem kann außerdem eine Phaseninformations-Extraktionseinheit aufweisen, um eine Phaseninformation eines Takts auf einer Taktleitung oder einer Datenleitung zu extrahieren; und eine Speichereinheit, um die Phaseninformation des Takts zu jeder der Empfangsschaltungen zu senden und um für jede der Empfangsschaltungen einen relativen Phasenwert zu speichern, der die Phasendifferenz zwischen der optimalen Empfangszeitgabe zu zeigen, die in jeder der Empfangsschaltungen erforderlich ist, und den Takt, der aktuell verwendet wird, und wobei, wenn das Signalzwischenspeichern durchgeführt wird, die Optimal-Empfangszeitgabe in jeder der Empfangsschaltungen bestimmt wird, in dem eine Summe der Phaseninformation des Takts hergenommen wird, und der gespeicherte relative Phasenwert für jede der Empfangsschaltungen.
  • Die Zeitgabeeinheit kann am Empfangsanschluss eine Verzögerungsschaltung zum Verzögern von Daten aufweisen. Die Verzögerungsschaltung kann als variable Verzögerungsschaltung ausgebildet sein, die in der Lage ist, ein Analogsignal zu verzögern.
  • Außerdem ist eine Zeitgabesignal-Erzeugungsschaltung vorgesehen, welche eine Hauptschaltung aufweist, um eine Rückführsteuerung eines internen Signals zu erzeugen, welches die gleiche Periode oder die gleiche Phase wie die des zugeführten Referenzsignals hat; und eine Nebenschaltung, um ein Zeitgabesignal zu erzeugen, welches eine vorgeschriebenen Zeitgabe in Bezug auf das Referenzsignal hat, wobei das interne Signal und ein Steuersignal von der Hauptschaltung empfangen werden.
  • Mehrere Nebenschaltungen können für eine Hauptschaltung vorgesehen sein. Die Hauptschaltung kann eine Schaltung enthalten, welche der Nebenschaltung entspricht, so dass die Hauptschaltung ebenfalls ein Zeitgabesignal selbst ausgeben kann.
  • Die Hauptschaltung kann eine Komparatorschaltung aufweisen, um die Periode oder die Phase des internen Signals mit der des Referenzsignals zu vergleichen, eine Steuersignal-Erzeugungsschaltung, um das Steuersignal gemäß einem Ausgangssignal der Komparatorschaltung zu variieren, und eine variable Verzögerungsleitung, um das interne Signal auszugeben, wobei eine Verzögerungshöhe für das Referenzsignal gemäß dem Steuersignal gesteuert wird.
  • Die Hauptschaltung kann eine DLL-Schaltung sein, welche einen groben Verzögerungssteuerblock aufweist, um eine grobe Verzögerungssteuerung durchzuführen, und einen Feinverzögerungs-Steuerblock, um Feinverzögerungssteuerung durchzuführen, und die Nebeneinheit enthält eine Schaltung, welche dem Feinverzögerungs-Steuerblock entspricht. Der Grobverzögerungs-Steuerblock kann Abgriffe von der Verzögerungsleitung nehmen, welche aus mehreren Verzögerungseinheiten besteht, und kann grobe Verzögerungssteuerung durchführen, wobei ein Ausgangssignal jedes der Abgriffe ausgewählt wird, während der Feinverzögerungs-Steuerblock ein Signal empfängt, um die DLL-Schaltung im Grobverzögerungs-Steuerblock zu steuern, und ein Signal, welches der Grobverzögerungssteuerung unterworfen wird im Grobverzögerungs-Steuerblock, und Feinverzögerungssteuerung über einen Interpolator unter Verwendung des Grobverzögerungs-Steuersignals durchführt.
  • Die Steuersignal-Erzeugungsschaltung kann eine Ladepumpenschaltung aufweisen, um einen Ausgangsspannungspegel gemäß einem Aufwärtssignal und einem Abwärtssignal von der Komparatorschaltung zu steuern. Die Steuersignal-Erzeugungsschaltung kann einen Aufwärts-/Abwärts-Zähler aufweisen, um ein Aufwärtssignal und ein Abwärtssignal von der Komparatorschaltung zu zählen, und einen D/A-Umsetzer, um Digital-Analog-Umsetzung in Bezug auf ein Ausgangssignal des Aufwärts-/Abwärts-Zählers durchzuführen.
  • Die Hauptschaltung kann eine Komparatorschaltung aufweisen, um die Periode oder Phase des internen Signals mit der des Referenzsignals zu vergleichen, eine Steuersignal-Erzeugungsschaltung, um das Steuersignal gemäß einem Ausgangssignal der Komparatorschaltung zu variieren, und einen spannungsgesteuerten Oszillator, um ein internes Signal gemäß dem Referenzsignal gemäß dem Steuersignal zu erzeugen.
  • Die Nebenschaltung kann einen spannungsgesteuerten Oszillator aufweisen, um das Zeitgabesignal gemäß dem Steuersignal von der Hauptschaltung auszugeben. Die Steuersignal-Erzeugungsschaltung kann eine Ladepumpenschaltung aufweisen, um einen Ausgangsspannungspegel gemäß einem Aufwärtssignal und einem Abwärtssignal von der Komparatorschaltung zu steuern. Die Steuersignal-Erzeugungsschaltung kann einen Aufwärts-Abwärts-Zähler aufweisen, um ein Aufwärtssignal und ein Abwärtssignal von der Komparatorschaltung zu zählen, und einen D/A-Umsetzer, um Digital-Analog-Umsetzung in Bezug auf ein Ausgangssignal des Aufwärts-/Abwärts-Zählers durchzuführen.
  • Die Nebenschaltung kann eine variable Verzögerungsleitung aufweisen, um das Zeitgabesignal auszugeben, wobei das interne Signal gemäß dem Steuersignal von der Hauptschaltung verzögert wird. Die Nebenschaltung kann einen Phaseninterpolator aufweisen, um Eingangssignale unterschiedlicher Phasen anzunehmen und um ein feineres Zeitgabesignal einer Zwischenphase auszugeben.
  • Die Nebenschaltung kann einen Phaseninterpolator aufweisen, um Eingangssignale unterschiedlicher Phasen anzunehmen und um ein feineres Zeitgabesignal einer Zwischenphase auszugeben.
  • Die Eingangssignale unterschiedlicher Phasen können Dreiphasen- oder Vierphasen-Takte sein. Der Phaseninterpolator kann eine Spannungs-Strom-Umsetzungseinheit aufweisen, um mehrere Eingangsspannungssignale entsprechend Stromsignalen umzusetzen, eine Strom-Spannungs-Umsetzungseinheit, um die umgesetzten Stromsignale zurück in Spannungssignale umzusetzen, indem Spannungsumsetzungsfaktoren variiert werden, und eine Vergleichseinheit, um eine Summe der umgesetzten Stromsignale mit dem Referenzsignal zu vergleichen.
  • Das Steuersignal, welches von der Hauptschaltung zur Nebenschaltung gesendet wird, kann ein Stromsteuersignal sein. Eine Stromsteuersignal-Erzeugungsschaltung zum Erzeugen des Stromsteuersignals kann in der Hauptschaltung vorgesehen sein, und eine Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltung zum Umsetzen des Stromsteuersignals in ein Spannungssignal kann in der Nebenschaltung vorgesehen sein. Die Nebenschaltung kann eine Verstärkerschaltung aufweisen, deren Ansprechgeschwindigkeit gemäß einem Signal von der Hauptschaltung variiert, und kann ein Signal mit sinusförmiger Schwingungsform als Zeitgabesignal erzeugen.
  • Die Nebenschaltung kann dazu verwendet werden, ein Zeitgabesignal zu erzeugen, um die Zeitgabe eines Eingangs- oder Ausgangssignals mit einem Bit oder mehreren Bits zu steuern, und die Zeitgabesignal-Erzeugungsschaltung kann eine Zeitgabesignal-Einstelleinheit aufweisen, welche gemeinsam für jede der Nebenschaltungen vorgesehen ist, um das Zeitgabesignal so einzustellen, um das S/N-Verhältnis eines übertragenen und empfangenen Signals zu steigern. Die Zeitgabesignal-Einstelleinheit kann eine Auswahleinheit aufweisen, um ein Eingangs- oder Ausgangssignal einer Schaltung auszuwählen, welches durch das Zeitgabesignal von jeder Nebenschaltung gesteuert wird, und eine Zeitgabesignal-Erzeugungseinheit, um die Ausgabezeitgabe des Zeitgabesignals zu steuern, indem der Pegel des Eingangs- oder Ausgangssignals der Schaltung, welche durch die Auswahleinheit ausgewählt wird, ermittelt wird.
  • Die Nebenschaltung kann dazu verwendet werden, ein Zeitgabesignal zu erzeugen, um die Zeitgabe von Eingangs- oder Ausgangssignalen mit einem Bit oder Mehrfach-Bits zu steuern, und jede der Nebenschaltungen kann eine Zeitgabesignal-Einstelleinheit aufweisen, um das Zeitgabesignal so einzustellen, um das S/N-Verhältnis eines übertragenen und empfangenen Signals zu steigern.
  • Zusätzlich ist eine integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung vorgesehen, bei der eine Zeitgabesignal-Erzeugungsschaltung verwendet wird, welche eine Hauptschaltung und zumindest eine Nebenschaltung aufweist, wobei die Hauptschaltung und die Nebenschaltung auf dem gleichen Halbleiterchip gebildet sind, der für die integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung verwendet wird, wobei die Hauptschaltung ein internes Signal erzeugt, welches die gleiche Periode und die gleiche Phase wie die eines Eingangsreferenzsignals durch Rückführungssteuerung erzeugt; und die Nebenschaltung ein Zeitgabesignal erzeugt, welches eine vorgeschriebene Zeitgabe in Bezug auf das Referenzsignal hat, wobei das interne Signal und ein Steuersignal von der Hauptschaltung empfangen werden.
  • Außerdem ist ein integrierte Halbleiterschaltungssystem vorgesehen, bei dem eine Zeitgabesignal-Erzeugungsschaltung verwendet wird, welche eine Hauptschaltung und zumindest eine Nebenschaltung aufweist, wobei das integrierte Halbleiterschaltungssystem mehrere integrierte Halbleiterschaltungseinrichtungen hat, wobei jede integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung die Hauptschaltung und/oder die Nebenschaltung hat und auf entsprechend einem Halbleiterchip gebildet ist, wobei die Hauptschaltung ein internes Signal erzeugt, welches die gleiche Periode oder die gleiche Phase wie die eines Eingangsreferenzsignals durch Rückführungssteuerung hat; und die Nebenschaltung ein Zeitgabesignal erzeugt, welches vorgeschriebene Zeitgabe in Bezug auf das Referenzsignal hat, wobei das interne Signal und ein Steuersignal von der Hauptschaltung empfangen werden.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung wird ein Phaseninterpolator bereitgestellt, der aufweist:
    eine analoge periodische Schwingungserzeugungseinrichtung zum Erzeugen mehrerer analoger periodischer Schwingungsformen, deren Werte in analoger Weise variieren, von periodischen Digitalsignalen, deren Amplituden Digitalwerte zeigen;
    eine Wichtungssteuerungseinrichtung zum Steuern der Wichtung jeder der analogen periodischen Schwingungsformen;
    eine Summierungsschwingungsform-Erzeugungseinrichtung zum Erzeugen einer summierten Schwingungsform durch Summieren mehrerer analoger periodischer Schwingungsformen, welche durch die Wichtungssteuerungseinrichtung gewichtet wurden, von periodischen Digitalsignalen, die längs der Zeitachse angezeigt werden; und
    eine Analog-Digital-Umsetzungseinrichtung zum Umsetzen der summierten Schwingungsform in eine digitale Schwingungsform, wobei die Analog-Digital-Umsetzungseinrichtung ein Komparator ist, um die summierte Schwingungsform mit einem Referenzpegel zur Umsetzung in die digitale Schwingungsform zu vergleichen,
    wobei die Analog-Digital-Umsetzungseinrichtung ein Komparator ist, der eine Referenzspannung empfängt und diese summierte Schwingungsform mit der Referenzspannung vergleicht, um die summierte Schwingungsform in die digitale Schwingungsform umzusetzen.
  • Die analoge periodische Schwingungserzeugungseinheit kann eine Sinuswellen-Erzeugungsschaltung aufweisen, und die Wichtungssteuereinheit kann mehrere Übertragungsgates aufweisen, welche parallel geschaltet sind und zur Schaltung gesteuert werden. Jedes Übertragungsgate in der Wichtungssteuereinheit kann einen Transistor der gleichen Größe haben, und die Wichtung der analogen periodischen Schwingungsform kann durch Steuern der Anzahl von Übergangsgates gesteuert werden, wobei veranlasst wird, dass diese leiten. Jedes Übergangsgate in der Wichtungssteuereinheit kann einen Transistor einer unterschiedlichen Größe haben, und die Wichtung der analogen periodischen Schwingungsform kann dadurch gesteuert werden, dass veranlasst wird, dass zumindest ein Übergangsgate einen Transistor einer vorgeschriebenen Größe hat, um leitfähig zu sein.
  • Die analoge periodische Schwingungsformerzeugungseinheit kann mehrere CMOS-Inverter aufweisen, und die Steuereinheit kann die Anzahl von CMOS-Invertern, die anzuschalten sind, steuern. Die analoge periodische Schwingungsformerzeugungseinheit kann mehrere CMOS-Inverterausgangsstufen aufweisen, und die Wichtungssteuereinheit kann die Anzahl von Ausgangstransistoren steuern, wobei die mehreren CMOS-Inverterausgangsstufen gebildet werden.
  • Die analoge periodische Schwingungsformerzeugungseinheit kann eine Hochfrequenz-Dämpfungsschaltung sein, um Hochfrequenzkomponenten des digitalen periodischen Signals zu dämpfen, und die Wichtungssteuereinheit kann ein Ausgangssignal der Hochfrequenz-Dämpfungsschaltung in einen Strom mittels eines variablen Transconduktors umsetzen und den umgesetzten Strom an einen gemeinsamen Anschluss anlegen. Die analoge periodische Schwingungsformerzeugungseinheit kann eine Integratorschaltung sein.
  • Die Erfindung wird besser aus der Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen verstanden, die anschließend mit Hilfe der beiliegenden Zeichnungen beschrieben werden, wobei:
  • 1 ein Diagramm ist, welches die Organisation eines DRAM nach dem Stand der Technik in schematischer Form zeigt;
  • 2 ein Blockdiagramm ist, welches in schematischer Form eine integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung zeigt;
  • 3 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches einen Bereich einer Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung in der integrierten Halbleiterschaltungseinrichtung von 2 zeigt;
  • 4 ein Zeitablaufdiagramm ist, welches ein Beispiel eines Betriebs der Schaltungen von 2 und 3 zeigt;
  • 5 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches einen Bereich der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 6 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches einen Bereich der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 7 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches einen Bereich einer DRAM-Steuerschaltung zeigt;
  • 8 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches einen Bereich der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 9 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches einen Bereich der DRAM-Steuerschaltung zeigt;
  • 10 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form ein Beispiel des Signalübertragungssystems nach dem Stand der Technik zeigt;
  • 11 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form den grundsätzlichen Funktionsaufbau eines Signalübertragungssystems zeigt;
  • 12 ein Zeitablaufdiagramm (Teil 1) ist, um ein Beispiel eines Betriebs im Signalübertragungssystem von 11 zu erläutern;
  • 13 ein Zeitablaufdiagramm (Teil 2) ist, um ein Beispiel des Betriebs im Signalübertragungssystem von 11 zu erläutern;
  • 14 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 15 ein Zeitablaufdiagramm ist, um ein Betriebsbeispiel im Signalübertragungssystem von 14 zu erläutern;
  • 16 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form ein modifiziertes Beispiel des in 14 gezeigten Signalübertragungssystems zeigt;
  • 17 ein Zeitablaufdiagramm ist, um ein Beispiel der Arbeitsweise im Signalübertragungssystem des in 16 gezeigten modifizierten Beispiels zu erläutern;
  • 18 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 19 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 20 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 21 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel eines Phaseninterpolators im Signalübertragungssystem von 20 zeigt;
  • 22 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 23 ein Zeitablaufdiagramm (Teil 1) ist, um ein Betriebbeispiel im Signalübertragungssystem von 22 zu erläutern;
  • 24 ein Zeitablaufdiagramm (Teil 2) ist, um ein Betriebsbeispiel im Signalübertragungssystem von 22 zu erläutern;
  • 25 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 26 ein Zeitablaufdiagramm (Teil 1) ist, um ein Betriebsbeispiel im Signalübertragungssystem von 25 zu erläutern;
  • 27 ein Zeitablaufdiagramm (Teil 2) ist, um ein Betriebsbeispiel im Signalübertragungssystem von 25 zu erläutern;
  • 28 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 29 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel eines PRD-Verstärkers im Signalübertragungssystem von 28 zeigt;
  • 30 ein Diagramm ist, um Zeitgebersignale zu erläutern, welche bei dem Signalübertragungssystem von 28 verwendet werden;
  • 31 ein Diagramm (Teil 1) ist, um ein Betriebsbeispiel im Signalübertragungssystem von 28 zu erläutern;
  • 32 ein Diagramm (Teil 2) ist, um ein Betriebsbeispiel im Signalübertragungssystem von 28 zu erläutern;
  • 33 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 34 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystems zeigt;
  • 35 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form ein modifiziertes Beispiel des Signalübertragungssystems von 34 zeigt;
  • 36 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 37 ein Zeitablaufdiagramm ist, um ein Betriebsbeispiel im Signalübertragungssystem von 36 zu erläutern;
  • 38 ein Diagramm ist, welches die Beziehung zwischen dem internen Taktzustand und dem Ausgangssignal jedes Latchspeichers im Signalübertragungssystem von 36 zeigt;
  • 39 ein Zeitablaufdiagramm (Teil 1) ist, um das Signalübertragungssystem zu erläutern;
  • 40 ein Blockschaltungsdiagramm (Teil 1) ist, welches das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 41 ein Blockschaltungsdiagramm (Teil 2) ist, welches das Signalübertragungssystem zeigt;
  • 42 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel einer Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung nach dem Stand der Technik zeigt;
  • 43 ein Blockdiagramm ist, welches den grundsätzlichen Funktionsaufbau einer Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 44 ein Blockdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 45 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel einer Verzögerungseinheit zeigt, die in einer variablen Verzögerungsleitung in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 44 verwendet wird;
  • 46 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel einer Phasenkomparatorschaltung in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 44 zeigt;
  • 47 ein Zeitablaufdiagramm ist, um die Arbeitsweise der Phasenkomparatorschaltung von 46 zu erläutern;
  • 48 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel einer Ladepumpenschaltung in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 44 zeigt;
  • 49 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein weiteres Beispiel der Verzögerungseinheit zeigt, welche in der variablen Verzögerungsleitung in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 44 verwendet wird;
  • 50 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel einer Steuersignal-Erzeugungsschaltung in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 51 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel einer Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltung zeigt, um das Ausgangssignal der Steuersignal-Erzeugungsschaltung von 50 umzusetzen;
  • 52 ein Blockdiagramm ist, welches ein Beispiel des Aufbaus eines wesentlichen Bereichs der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 53 ein Blockschaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel eines Digital-Analog-Umsetzers zum Durchführen einer Digital-Analog-Umsetzung der Ausgangssignale eines Aufwärts-Abwärts-Zählers in 52 zeigt;
  • 54 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel einer Strommatrixzelle im in 53 gezeigten D/A-Umsetzer zeigt;
  • 55 ein Blockdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel einer Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt, die für eine Nebenschaltung anwendbar ist;
  • 56 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel eines Phaseninterpolators in 55 zeigt;
  • 57 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zeigt;
  • 58 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt, die verwendet wird, eine Simulation durchzuführen;
  • 59 ein Diagramm ist, welches Simulationsergebnisse für die Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 58 zeigt;
  • 60 ein Blockdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 61 ein Blockdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 62 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel einer Sinuswellen-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 63A, 63B und 63C Diagramme sind, welche Simulationsergebnisse für die Sinuswellen-Erzeugungsschaltung von 62 zeigen;
  • 64 ein Blockdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 65 ein Blockdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 66 ein Blockdiagramm ist, welches ein Beispiel des Aufbaus eines wesentlichen Bereichs der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt;
  • 67 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel des Phaseninterpolators (Phaseneinstellungsorgan) in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 66 zeigt;
  • 68 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel einer Vier-Phasen-PLL-Schaltung zeigt, die zur Verwendung in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 66 anwendbar ist;
  • 69 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel eines Signalumsetzungsblocks in der Vier-Phasen-PLL-Schaltung von 68 zeigt;
  • 70 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel eines Differenzverstärkerblocks in der Vier-Phasen-PLL-Schaltung von 68 zeigt;
  • 71 ein Diagramm ist, welches Ausgangssignale der Vier-Phasen-PLL-Schaltung von 68 zeigt;
  • 72 ein Blockdiagramm ist, welches den grundsätzlichen Funktionsaufbau des Phaseninterpolators zeigt;
  • 73 ein Schwingungsformdiagramm ist, um die Arbeitsweise des Phaseninterpolators von 72 zu erläutern;
  • 74 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zeigt;
  • 75 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Aufbaubeispiel eines Wichtungssteuerungsblocks im Phaseninterpolator von 74 zeigt;
  • 76 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zeigt;
  • 77 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zeigt;
  • 78 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zeigt;
  • 79A und 79B Schaltungsdiagramme sind, welche Beispiele von Transconduktoren im Phaseninterpolator von 78 zeigen;
  • 80 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel eines Phaseninterpolators zeigt;
  • 81 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Beispiel einer Schaltung zeigt, um Vorspannungssignale im Phaseninterpolator von 80 zu erzeugen;
  • 82 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein weiteres Beispiel der Schaltung zeigt, um die Vorspannungssignale im Phaseninterpolator von 80 zu erzeugen;
  • 83 ein Schaltungsdiagramm ist, welches ein Aufbaubeispiel einer variablen Stromquelle als modifiziertes Beispiel von 80 zeigt;
  • 84 ein Schaltungsdiagramm ist, um ein Aufbaubeispiel eines Bereichs eines Phaseninterpolators zu zeigen; und
  • 85 ein Diagramm ist, um ein Aufbaubeispiel eines Phaseninterpolators zu erläutern.
  • Bevor Ausführungsformen gemäß jedem Modus der vorliegenden Erfindung beschrieben werden, wird zunächst eine integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung nach dem Stand der Technik beschrieben.
  • 1 zeigt die Organisation eines DRAM nach dem Stand der Technik in schematischer Form. In der folgenden Beschreibung werden Signale, welche einen aktiven Zustand bei einem niedrigen Pegel "L" (aktive Niedrigsignale) annehmen, allgemein durch Voranstellen von "/" bezeichnet.
  • Ein Chipauswahlsignal /CS, ein Reihenadress-Strobesignal /RAS, ein Spaltenadress-Strobesignal und ein Schreibfreigabesignal /WE werden zu einem Befehlsdecoder 1 geliefert; außerdem werden Signale, die logische Werte anderer Signale kombinieren, zu diesem wenn notwendig geliefert. Ein Befehlssignal, welches vom Befehlsdecoder 1 ausgegeben wird, wird zu einer Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 2 geliefert. Dieses Befehlssignal wird mit einem vorher festgelegten zeitlichen Ablauf aktiviert oder deaktiviert und als DRAM-Steuersignal zu einem DRAM-Kern 3 geliefert. Der vorher festgelegte zeitliche Ablauf hier wird durch Verzögern des zeitlichen Ablaufs der Befehlserzeugung oder des zeitlichen Ablaufs einer Flanke eines Takts CLKi über eine Verzögerungsschaltung gebildet. Der Takt CLKi wird durch Liefern eines externen Takts CLK zu einer Taktpufferschaltung 4 erhalten.
  • Während einer Hochpegelperiode "H" des Reihenadress-Strobesignals /RAS wird ein Steuersignal PR von der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 2 ausgegeben und zu einer Vorladeschaltung 5 geliefert, so dass Bitleitungen BL und BL in einer Speicherzellenbaugruppe 6 vorgeladen werden, beispielsweise auf ein Potential VDD/2. Das Vorladen eines CAS-Datenbusses DB und einer UO-Datenpufferschaltung 13 wird durchgeführt, wenn das Spaltenadress-Strobesignal /CAS auf einem hohen Pegel "H" ist.
  • Wenn das Reihenadress-Strobesignal /RAS einen Übergang auf einen niedrigen Pegel "L" macht, wird die folgende Reihe von RAS-bezogenen Operationen asynchron mit dem Takt CLKi durchgeführt. Das heißt, der höherwertige Teil der Adresse A23-A12 wird im Reihenadress-Pufferregister 7 durch ein Signal von der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 2 verriegelt und durch einen Reihendecoder 8 decodiert. Die ausgewählte Wortleitung WL wird auf eine hohe Spannung durch ein Signal RX von der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 2 angehoben, und die Ladung in einer Zelle 6a wird auf die Bitleitung BL ausgelesen. Durch die Steuersignale SAP (um einen pMOS-Transistor in einer Abtastverstärkerbaugruppe 9 einzuschalten oder auszuschalten) und SAN (um einen nMOS-Transistor in einer Abtastverstärkerbaugruppe 9 einzuschalten oder auszuschalten) von der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 2 wird die Abtastverstärkerbaugruppe 9 aktiviert, und es wird eine sehr kleine Potentialdifferenz, die sich zwischen den Bitleitungen BL und BL entwickelt hat, verstärkt. Wenn die Aktivierung voreilig initialisiert wird, kann die Potentialdifferenz zwischen den Bitleitungen BL und BL nicht adäquat sein und kann in der entgegengesetzten Richtung aufgrund von Rauschen verstärkt werden.
  • Wenn das Spaltenadress-Strobesignal /CAS einen Übergang zu einem niedrigen Pegel "L" macht, wird eine Reihe von CAS-bezogenen Operationen initialisiert. Bei dem Anstieg des Spaltenadress-Strobesignals /CAS wird, wenn das Schreibfreigabesignal /WE auf einem hohen Pegel "H" ist, ein Lesebetrieb initialisiert, und wenn dies auf einem niedrigen Pegel "L" ist, wird ein Schreibbetrieb initialisiert. Der niedrigwertige Teil der Adresse A11–A0 wird im Spaltenadress-Pufferregister 10 durch ein Signal von der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 2 verriegelt und durch den Spaltendecoder 11 decodiert, um ein Spaltengate in einer Spaltengatebaugruppe 12 auszuwählen, um somit die Bitleitungen BL und BL mit dem Datenbus DB zu verbinden. Bei einer Leseoperation werden Daten auf den Bitleitungen BL und BL über die UO-Datenpufferschaltung 13 ausgelesen, und bei einer Schreiboperation werden Daten auf dem Datenbus DB in die Zelle 6a über die Bitleitungen BL und BL geschrieben. Anschließend wird die Wortleitung BL auf den niedrigen Pegel angesteuert, und die Steuersignale SAP und SAN werden deaktiviert, um die Abtastverstärkerbaugruppe 9 abzuschalten.
  • Bei taktsychronen DRAMs, beispielsweise synchronen DRAMs (SDRAMs) und Rambus-DRAMs (DRAMs konform mit der Rambus-Spezifikation), werden höhere Geschwindigkeiten durch Pipelining-Bildung der CAS-bezogenen Operationen synchron mit einem Takt erreicht. Für die RAS-bezogenen Operationen werden jedoch Zeitgaben für Signalaktivierung und Deaktivierung in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 2 durch Verwendung von Signalverzögerungen über Lasten eingestellt, beispielsweise Transistoren, Kondensatoren, Verdrahtung usw. unabhängig davon, ob der DRAM ein taktsynchroner DRAM oder ein asynchroner DRAM ist. Die Planung für diese Zeitgebereinstellungen wird unter Verwendung von Simulation durchgeführt, um die Zeitgebereinstellung mit hoher Genauigkeit zu erreichen, wobei jedoch, da Variationen im Herstellerprozess, Schwankungen in der Versorgungsspannung usw. in Betracht gezogen müssen, die Planungszeit länger wird und die Herstellungskosten entsprechend erhöht werden.
  • Im Fall von Allzweck-DRAMs, die in großen Mengen pro Einheit erzeugt werden, wird dies weniger ein Problem sein, da eine lange Planungszeit zulässig ist, wobei im Fall von DRAM/logischen gemischten Chips, beispielsweise ASICs, die eine kurze Auslieferungszeit erfordern und in kleinen Mengen erzeugt werden, dies ein Problem darstellt. Dieses Problem wird ausgeprägter, wenn die Operationstaktfrequenz ansteigt. Um die Chipplanungszeit abzukürzen, wird ein Verfahren vorgeschlagen, bei dem die RAS-bezogenen Operationen ebenfalls synchron mit dem gleichen Takt wie mit dem Operationstakt der Logikschaltung ausgeführt werden.
  • Wenn jedoch die Taktfrequenz beispielsweise 100 MHz ist, wird der zeitliche Ablauf in Einheiten von ns geplant; sogar, wenn sowohl die ansteigenden als auch die abfallenden Taktflanken genutzt werden, werden Zeitgebereinstellungen lediglich in Einheiten von 5 ns möglich, und die Notwendigkeit nach höheren DRAM-Operationsgeschwindigkeiten kann nicht erfüllt werden.
  • Anschließend werden Beispiele für ein besseres Verständnis der vorliegenden Erfindung mit Hilfe von 29 beschrieben.
  • 2 ist ein Blockdiagramm, welches in schematischer Form eine integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung 20 zeigt. Die gleichen Teile wie die in 1 sind mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet.
  • Wie in 2 gezeigt ist, ist die integrierte Halbleiterschaltungseinrichtung 20 eine ASIC, die enthält: einen DRAM, der einen Befehlsdecoder 1, einen DRAM-Kern 3, eine Taktpufferschaltung 4 und eine Zeitgeber-Signalerzeugungsschaltung 22 aufweist; eine Logikschaltung 24, beispielsweise eine CPU oder Speichersteuerung; oder andere logische Schaltungen 25.
  • Die Logikschaltungen 24 und 25 arbeiten synchron mit dem Takt CLKi. Die Logikschaltung 24 liefert ein Chipauswahlsignal /CS, ein Reihenadress-Strobesignal /RAS, ein Spaltenadress-Strobesignal /CAS und ein Schreibfreigabesignal /WE zum Befehlsdecoder 1, und ein Befehl, der zur Kombination der Logikwerte von diesen Signalen bei dem Anstieg des Taktes CLKi geeignet ist, wird beispielsweise vom Befehldecoder 1 ausgegeben. Der Befehl ist SANC, SAPC, PRC oder PXC entsprechend den früher erläuterten SAN, SAP, PR oder PX. In der folgenden Beschreibung wird ein beliebiger dieser Befehle als CNTC be zeichnet, und das DRAM-Steuersignal entsprechend dem Befehl CNTC wird als CNT bezeichnet.
  • Eine Multiphasen-Takterzeugungsschaltung 26 erzeugt Takte ϕ1 bis ϕn, die bezüglich der Phase um θ bis nθ in Bezug auf den Takt CLKi verschoben sind, durch Verzögern des Taktes CLKi beispielsweise um 2m, 4m, 6m,... 2(n–1) m, bzw. den 2nm-Invertern. Hier ist m eine natürliche Zahl. Die Multiphasen-Takterzeugungsschaltung 26 kann aus einer DLL-Schaltung aufgebaut sein, die die Phase des ϕn an die Phase des Taktes CLKi anpasst. In diesem Fall werden Einstellungen automatisch ausgeführt, so dass nθ = 2π. Takte ϕ1 bis ϕ6 für den Fall von n = 6 und nθ = 2π sind in 4 zusammen mit dem Takt CLKi gezeigt. Der Taktzyklus T ist der gleiche für die Takte ϕ1 bis ϕ6 wie für den Takt CLKi.
  • In der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 22 in 2 zählt eine Zählerschaltung 28 die Takte ϕ1 bis ϕ6, welche durch die Multiphasen-Takterzeugungsschaltung 26 erzeugt werden, und bestimmt den zeitlichen Ablauf zur Aktivierung und Deaktivierung des Steuersignals CNT; das resultierende Signal wird zu einer Zeitgeberpufferschaltung 27 geliefert, welches dann das Steuersignal CNT dieses zeitlichen Ablaufs bildet und dieses zum DRAM-Kern 3 liefert. Eine Zeitgeberpufferschaltung 271, die einen Teil der Zeitgeberpufferschaltung 27 bildet, wird durch Zähler 281 und 282 gesteuert, welche einen Teil der Zählerschaltung 28 bilden.
  • 3 ist ein Blockdiagramm, welches einen Bereich der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 22 in der integrierten Halbleiterschaltungseinrichtung von 2 zeigt, und 4 ist ein Zeitablaufdiagramm, welches ein Beispiel der Operation der Schaltungen, die in 2 und 3 gezeigt sind, zeigt.
  • Die Zeitgeberpufferschaltung 271 besitzt einen Flipflop 30, der unter Verwendung von Invertern 31 und 32 aufgebaut ist, wobei der Ausgang jedes Inverters mit dem Eingang des anderen verbunden ist. Der Eingangsanschluss des Flipflops 30 ist mit dem Drain der pMOS-Transistoren 33A und 33B und eines nMOS-Transistors 35 verbunden. Die Sourcen der pMOS-Transistoren 33A und 33B sind mit der Spannungsversorgungsleitung VDD verbunden, während die Source des nMOS-Transistors 35 mit der Erdleitung verbunden ist. Das Ausgangssignal des Flipflops wird zu einem Eingangsanschluss eines UND-Gates 36 geliefert, dessen anderer Eingangsanschluss mit dem Steuerbefehl CNTC beliefert wird.
  • Der Inhalt jedes Schleifenzählers 281 und 281 wird so gesetzt, dass lediglich ein Bit bezüglich des Werts von den anderen verschieden ist, und wird beispielsweise auf "00... 1" durch einen Resetimpuls RST, wie gezeigt ist, initialisiert. Die Takte ϕ3 und ϕ4 werden zu Takteingangsanschlüssen CK der Schleifenzähler 281 bzw. 282 geliefert.
  • Ein negativer Resetimpuls /RST wird zum Gate des pMOS-Transistors 33A geliefert, und das Ausgangssignal des Flipflops 30 wird somit auf den niedrigen Pegel "L" initialisiert. Das erste Bit, welches vom Schleifenzähler 281 ausgegeben wird, wird als Aktivierungszeitgebersignal CNT1 zum Gate des nMOS-Transistors 35 geliefert. Nachdem dies durch den Resetimpuls RST initialisiert wurde, wird der Schleifenzähler 281 auf "10... 0" durch den ersten Impuls des Taktes ϕ3 gesetzt, was bewirkt, dass der nMOS-Transistor 35 eingeschaltet wird und das Ausgangssignal des Flipflops 30 auf den hohen Pegel "H" geht. Das Ausgangssignal des zweiten Bits des Schleifenzählers 282 wird als Deaktivierungszeitgebersignal CNT2 zum Gate des pMOS-Transistors 33B geliefert. Nachdem dies durch den Resetimpuls RST initialisiert wurde, wird der Schleifenzähler 282 auf "01...0" durch Anlegen von zwei Impulsen des Takts ϕ4 gesetzt, wodurch bewirkt wird, dass der pMOS-Transistor 33B eingeschaltet wird und das Ausgangssignal des Flipflops 30 somit auf den niedrigen Pegel "L" geht.
  • Der Steuerbefehl CNTC, wie beispielsweise in 4 gezeigt ist, steigt synchron mit dem Abfallen des Reihenadress-Strobesignals /RAS an, welches den Anfang eines Speicheroperationszyklus definiert, bei dem das UND-Gate 36 geöffnet wird und das Ausgangssignal des Flipflops 30 über das UND-Gate 36 geleitet wird und als Steuersignal CNT geliefert wird. Der Steuerbefehl CNTC geht über zum niedrigen Pegel "L" bei der nächsten abfallenden Flanke des Reihenadress-Strobesignals /RAS, beispielsweise, wenn der Steuerbefehl PRC vom Befehlsdecoder 1 ausgegeben wird.
  • Zeitgebereinstellungen für die anderen Befehle werden auch unter Verwendung der Schaltung, die ähnlich der ist, die in 3 gezeigt ist, durchgeführt.
  • Da Takte mit vorgeschriebenen Phasen, welche von der Multiphasen-Takterzeugungsschaltung 26 ausgegeben werden, durch die Zähler gezählt werden, um den Zeitgeber zur Aktivierung und Deaktivierung des Steuerbefehls CNTC einzustellen, d.h., da der Zeittakt in Einheiten von ganzzahligen Vielfachen der Anzahl von Verzögerungsstufen in der Multiphasen-Takterzeugungsschaltung 26 eingestellt wird (in einer digitalen Weise), keine Notwendigkeit, Herstellungsprozessveränderungen und Spannungsversorgungsschwankungen bei der Zeitgeberplanung in Betracht zu ziehen. Wenn weiter beispielsweise der Takt CLKi 100 MHz und n = 6 beträgt, kann die Planung für Zeitgebereinstellungen in Einheiten von 10/6 = 1,7 ns ausgeführt werden, so dass die Einstellung der Befehlaktivierungs- und Deaktivierungs-Zeitgeber mit einer relativ hohen Genauigkeit erreicht werden kann.
  • 5 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches einen Bereich der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt.
  • Bei dem obigen Beispiel muss die Bitlänge lang genug ausgeführt werden, dass der Inhalt der Schleifenzähler 281 und 282 keinen vollständigen Zyklus rundum die Schleife innerhalb eines RAS-Zyklus macht, der am Abfall des Reihenadress-Strobesignals /RAS beginnt und bei dessen nächstem Abfall endet.
  • Im Hinblick darauf zählt in der Zählerschaltung 28A der zweiten Ausführungsform, wie in 5 gezeigt ist, der Schleifenzähler 281 den Takt CLKi, und der Takt ϕ3 und ein vorher festgelegtes Bit, welches vom Schleifenzähler 281 ausgegeben wird, werden zu einem UND-Gate 37 geliefert, um das Aktivierungszeitgebersignal CNT1 zu bilden, während der Takt ϕ4 und ein vorher festgelegtes Bit, welches durch den Schleifenzähler 281 ausgegeben wird, zu einem UND-Gate 38 geliefert werden, um das Deaktivierungszeitgebersignal CNT2 zu bilden.
  • Wenn man so verfährt, können die Ausgangssignale des Schleifenzählers 281 auch gemeinsam zur Einstellung aller anderen Befehle verwendet werden, was dazu dient, den Aufbau der Zählerschaltung 28A zu vereinfachen. In anderer Hinsicht ist der Aufbau der gleiche wie der, der in 3 gezeigt ist.
  • 6 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches einen Bereich der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 22 zeigt.
  • Wie in 6 gezeigt ist, ist in der Schaltung des obigen Beispiels das UND-Gate 36 in 5 beseitigt, und anstelle davon wird ein UND-Gate 283 in der Zählerschaltung 28B verwendet, und der Takt CLKi und der Steuerbefehl CNTC werden zum UND-Gate 283 geliefert, dessen Ausgangssignal dann durch den Schleifenzähler 281 gezählt wird.
  • Gemäß diesem Aufbau kann das Ausgangssignal des Flipflops 30 unmittelbar als Steuersignal CNT verwendet werden, und es besteht keine Notwendigkeit, die Verzögerung in Verbindung mit dem UND-Gate 36 in 5 in Betracht zu ziehen. Da außerdem der Takt CLKi über das UND-Gate 283 geführt und durch den Schleifenzähler 281 nur dann gezählt wird, wenn der Steuerbefehl CNTC auf einem hohen Pegel "H" liegt, kann der Leistungsverbrauch der Zählerschaltung 28B reduziert werden.
  • Außerdem sind die pMOS-Transistoren 33A und 33B und der nMOS-Transistor 35 in 5 durch nMOS-Transistoren 35A und 35B bzw. durch den pMOS-Transistor 33 ersetzt, und die Spannungsversorgungsverdrahtung ist umgekehrt, so dass ein negatives logisches Steuersignal /CNT vom Flipflop 30 ausgegeben wird. In anderer Hinsicht ist der Aufbau der gleiche wie der, der in 5 gezeigt ist.
  • 7 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches einen Bereich einer DRAM-Steuerschaltung zeigt.
  • Wie in 7 gezeigt ist, ist in der DRAM-Steuerschaltung das UND-Gate 36 in 5 beseitigt, und anstelle davon ist ein UND-Gate 1a im Befehlsdecoder 1A vorgesehen, und ein Ausgangssignal des Schleifenzählers 281 und der Steuerbefehl CNTC werden zum UND-Gate 1a geliefert. In diesem Fall bilden das UND-Gate 1a und der Befehlsdecoder 1 in 2 zusammen einen Befehlsdecoder 1A.
  • Wenn die Aktivierungsperiode des Steuersignals CTN kürzer ist oder gleich einem Zyklus des Taktes CLKi, kann das Ausgangssignal des UND-Gates 1a durch die UND-Gates 37 und 38 anteilig verwendet werden.
  • Außerdem muss der Schleifenzähler 281 nicht nur den Takt CLKi oder einen der Takte ϕ1 bis ϕ6 zählen; in 7 wird der Takt ϕ2 gezählt, und in einem vorgeschriebenen Zyklus von diesem wird das Steuersignal CNT für eine Periode lang aktiviert, die mit dem Anstieg des Taktes ϕ3 beginnt und bei dem Anstieg des Taktes ϕ1 im nächsten Zyklus des Taktes CLKi endet.
  • Das Ausgangssignal des Flipflops 30 unmittelbar als Steuersignal CNT verwendet werden, und es besteht keine Notwendigkeit, die Verzögerung in Verbindung mit dem UND-Gate 36 in 5 in Betracht zu ziehen.
  • 8 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches einen Bereich der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt.
  • Bei Anwendungen, wo niedrige DRAM-Operationsgeschwindigkeiten zugelassen sind, können die Produktionsausbeuten von integrierten Halbleiterschaltungen durch Planung der Schaltung verbessert werden, um eine größere Zeitgebergrenze in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 22 zuzulassen. Es ist jedoch mühsam, die Planung gemäß der Anwendung zu ändern.
  • Im Hinblick darauf sind Auswahlschaltungen 284A, 284B, 285A und 285B und eine Zeitgebersetzschaltung 286 in der Zählerschaltung 28D vorgesehen, wie in 8 gezeigt ist. Hier werden die jeweiligen Ausgangsbits vom Schleifenzähler 281 gemeinsam zu den Auswahlschaltungen 284A und 285A und die Takte ϕ1 bis ϕ6 zu den Auswahlschaltungen 284B und 285B geliefert, und es werden Vorsehungen getroffen, so dass das gewünschte Eingangssignal in jeder der Auswahlschaltungen 284A, 284B, 285A und 285B durch die Ausgabe des Zeitgebersetzabschnitts 286 ausgewählt werden kann.
  • Das Ausgangssignal des Zeitgebersetzabschnitts 286 kann wie gewünscht gesetzt werden, beispielsweise durch selektives Durchbrennen von Sicherungen unter Verwendung eines Laserstrahls. Durch Setzen des Ausgangssignals vor Verpackung jedes Halbleiterchips gemäß der Anwendung oder gemäß den Produktionsprozessbedingungen können Produkti onsausbeuten der integrierten Halbleiterschaltungseinrichtungen gesteigert werden, ohne die Schaltungsausbildung ändern zu müssen. Anders ausgedrückt ist der Aufbau der gleiche wie der, der in 5 gezeigt ist.
  • 9 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches einen Bereich der DRAM-Steuerschaltung zeigt.
  • Bei der DRAM-Steuerschaltung wird das Konzept von 7 auf die Schaltung von 8 angewandt, und ein Zeitgebersetzregister 286A wird als eine Form des Zeitgebersetzabschnitts 286 in 8 verwendet.
  • Setzungen und Änderungen können in Bezug auf das Zeitgebersetzregister 286A leicht ausgeführt werden.
  • In 9 sind CNT1 und CTN2A, welche von den UND-Gates 261A und 261B im Befehlsdecoder 1B ausgegeben werden, grobe Aktivierungszeitgebersignale.
  • Der Aufbau kann so sein, dass die Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung 22 lediglich für /RAS-bezogenen Operationen verwendet wird. In diesem Fall ist der "vorgeschriebene Operationszyklus", der im Patentanspruch 1 festgelegt ist, nicht ein 1/RAS-Zyklus, sondern bezieht sich auf eine Niedrigpegelperiode des /RAS, und durch Setzen des Resetsignals RST auf aktiv während der Periode, wenn /RAS auf dem hohen Pegel "H" ist, kann die Bitlänge des Schleifenzählers reduziert werden.
  • In den vergangenen Jahren wurde die Leistungsfähigkeit von Komponenten, die bei Computern und anderen Informationsverarbeitungsgeräten verwendet werden, stark verbessert, und damit ist die Notwendigkeit nach einer Hochgeschwindigkeits-Signalübertragung und Empfang zwischen LSIs (LSI-Chips) oder zwischen Einrichtungen, welche durch mehrere LSIs aufgebaut sind, angestiegen.
  • Anschließend wird eine Beschreibung eines Signalübertragungssystems angegeben. Zuvor wird ein Beispiel eines Signalübertragungssystems nach dem Stand der Technik mit Hilfe von 10 beschrieben.
  • 10 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form ein Beispiel eines Signalübertragungssystems nach dem Stand der Technik zeigt. In 10 ist das Bezugszeichen 401 eine Ansteuerschaltung (Puffer) für einen Takt clk am Übertragungsanschluss, 411 bis 41n sind Ansteuerschaltungen für Daten DD1 bis DDn am Übertragungsanschluss, 402 ist eine Taktleitung (Taktsignalleitung), 421 bis 42n sind Datenleitungen (Datensignalleitungen), 403 ist eine Ansteuerschaltung für den Takt am Empfangsanschluss, 431 bis 43n sind Ansteuerschaltungen für die Daten am Empfangsanschluss, und 441 bis 44n sind Datenlatchschaltungen (Eingangslatchschaltungen).
  • Wie in 10 gezeigt ist, werden bei dem Signalübertragungssystem nach dem Stand der Technik zum Handhaben großer Datenmengen Signale unter Verwendung der mehreren Signalleitungen 402 und 421 bis 42n übertragen. Das heißt, der Takt clk wird beispielsweise zum Empfangspuffer (Taktpuffer) 403 über den Übertragungspuffer 401 und die Taktsignalleitung 402 übertragen und dann zu einem Taktanschluss (Latchzeitgeber-Steueranschluss) auf jedem der Eingänge der Zwischenspeicher 441 bis 44n geliefert.
  • Dagegen werden die Daten (Signale) DD1 bis DDn zu den Empfangspuffern 431 bis 43n über die Übertragungspuffer 411 bis 41n bzw. die Datensignalleitungen 421 bis 42n übertragen und dann zu den Eingangszwischenspeichern 441 bis 44n geliefert, deren Latchzeitgeber durch den Takt (Strobesignal), welcher Taktpuffer 403 geliefert wird, gesteuert wird.
  • Bei dem Signalübertragungssystem nach dem Stand der Technik, wie in 10 gezeigt ist, erleiden wegen der Verwendung der mehreren Signalleitungen 402 und 421 bis 42n und der Puffer 401, 411 bis 41n, 403 und 431 bis 43n die Signale, welche über die jeweiligen Signalleitungen übertragen werden, unterschiedliche Verzögerungen. Dies bedeutet, dass die optimale Latchzeitgabe für jedes der Signale (Daten), welche über die jeweiligen Signalleitungen (Datensignalleitungen 421 bis 42n) übertragen werden, verschieden ist. Diese Verzögerungsdifferenz (Skew) auf jeder Signalleitung wird zu einer Hauptangelegenheit, beispielsweise, wenn die Frequenz des Taktes clk für schnellere Operationsgeschwindigkeiten (Übertragungsgeschwindigkeiten) ansteigt.
  • Wenn folglich die Signale (Daten) durch Liefern eines gemeinsamen Strobesignals (Takt clk) zu den Eingangszwischenspeichern 441 bis 44n verriegelt werden, die nacheinander für die Signalleitung 421 bis 42n vorgesehen sind, kann wie bei dem Signalübertragungssystem nach dem Stand der Technik, welches in 10 gezeigt ist, der Skew zwischen den Signalleitungen nicht adressiert werden.
  • Wenn insbesondere die Differenz in der optimalen Signallatchzeitgabe zwischen Eingangszwischenspeichern 441 bis 44n für den jeweiligen Signalleitungen extrem groß ist, können nicht alle Signale korrekt unter Verwendung des gemeinsamen Zeitgebers (Takt clk) gespeichert (empfangen) werden, wobei als Ergebnis davon der Abstand und die Übertragungsgeschwindigkeit für korrekte Signalübertragung begrenzt sind. Um anderseits die Signalübertragungsentfernung zu steigern oder die Übertragungsgeschwindigkeit (für vergrößerte Bitrate) zu vergrößern, müssen teuere Kabel, die speziell abgestimmt sind, für den reduzierten Skew verwendet werden, wobei dies nicht nur die Kosten vergrößert, sondern wesentliche Verbesserungen in der Übertragungsdistanz und Übertragungsgeschwindigkeit auch nicht erreicht werden können. Dies kann daher keine fundamentale Lösung sein.
  • 11 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form den grundsätzlichen Funktionsaufbau des Übertragungssystems zeigt, und 12 und 13 sind Zeitgeberdiagramme (Zeitablaufdiagramme), um ein Beispiel der Operation im Signalübertragungssystem von 11 zu erläutern.
  • In 11 sind die Bezugszeichen 511 bis 51n Ansteuerschaltungen (Treiber) für Daten DD1 bis DDn am Übertragungsanschluss, 521 bis 52n sind Datenleitungen (Datensignalleitungen), 531 bis 53n sind Zeitgebereinstellschaltungen (optimale Zeitgeberbestimmungseinrichtung) und 541 bis 54n sind Daterilatchschaltungen (Eingangslatchschaltungen).
  • Wie in 11 gezeigt ist, werden bei dem Signalübertragungssystem Signale unter Verwendung der mehreren Signalleitungen (Datensignalleitungen) 521 bis 52n übertragen; d.h., die Daten (Signale) DD1 bis DDn werden zu den Zeitgebereinstellschaltungen (Zeitgebereinstelleinrichtungen) 531 bis 53n am Empfangsanschluss über die jeweiligen Übertragungsansteuerungen 511 bis 51n und die Datensignalleitungen 521 bis 52n geliefert.
  • Die Zeitgebereinstellschaltungen 531 bis 53n werden ebenfalls mit dem Takt clk beliefert, und der Signallatchzeitgeber bei jedem der Eingangssignalspeicher (Empfangsschaltungen 541 bis 54n) ist gemäß dem Skew auf jedem der Signalleitungen 521 bis 53n optimiert. Hier sind die Zeitgebereinstellschaltungen 531 bis 53n so aufgebaut, Strobesignale (Takte) clk1 bis clkn in der Nähe der Mitte der Periode (Datenfenster), während die Daten DD1 bis DDN gültig sind, auszugeben.
  • Insbesondere existiert, wie in 12 gezeigt ist, Skew aufgrund der Signalleitungen usw. zwischen den Daten (Signalen) DD1 bis DDn an der Position, welche mit PT5 auf den Signalleitungen 521 bis 52n im Signalübertragungssystem angedeutet ist, welches in 11 gezeigt ist. Folglich können mit dem Takt clk, der zum Speichern der Daten DD1 optimal ist, welche über die Signalleitung 521 übertragen werden (das Strobesignal im zeitlichen Ablauf in der Nähe der Mitte der Periode während der die Daten DD1 gültig sind), beispielsweise die Daten DDn, welche über die Signalleitung 52n übertragen werden, nicht verriegelt werden, da der Taktzeitgeber mit dem Übergangszeittakt der Daten DDn übereinstimmt.
  • Um dies zu adressieren, optimieren im Signalübertragungssystem die Zeitgebereinstellschaltungen 531 bis 53n die Signallatchzeitgeber in den jeweiligen Eingangslatchspeichern 541 bis 54n gemäß dem Skew auf jeder der Signalleitungen 521 bis 52n, wie in 13 gezeigt ist. Insbesondere wird das Strobesignal (Takt) clk1, dessen Zeitgeber durch die Zeitgebereinstellschaltung 531 unter Abwägung des Skews aufgrund der Signalleitung 521 usw. eingestellt wird, zum Eingangslatchspeicher 541 geliefert, der die Daten DD1 verriegelt; das Strobesignal clk2, dessen zeitlicher Ablauf durch die Zeitgebereinstellschaltung 532 unter Abwägung des Skews aufgrund der Signalleitung 522 usw. eingestellt ist, wird zum Eingangslatchspeicher 542 geliefert, der die Daten DD2 verriegelt; und das Strobesignal clkn, dessen zeitlicher Ablauf durch die Zeitgebereinstellschaltung 53n unter Abwägung des Skews aufgrund der Signalleitung 52n eingestellt wird, usw., wird zum Eingangslatchspeicher 54n geliefert, der die Daten DDn verriegelt. Hier stimmt die zeitliche Anstiegszeit des Strobesignals clk1 im Wesentlichen mit der Mitte der Periode überein, während der die Daten DD1 gültig sind. Die Anstiegszeit des Strobesignals clk2 stimmt im Wesentlichen mit der Mitte der Periode überein, während der die Daten DD2 gültig sind, und die Anstiegszeit des Strobesignals clkn stimmt im Wesentlichen mit der Mitte der Periode überein, während die Daten DDn gültig sind.
  • Auf diese Art und Weise kann eine fehlerfreie Hochgeschwindigkeitssignalübertragung erreicht werden, ohne durch den Skew auf jeder Signalleitung beeinträchtigt zu werden.
  • Im Signalübertragungssystem sind die Zeitgebereinstellschaltungen 531 bis 53n nicht auf die gezeigte Ausführungsform begrenzt, wo der zeitliche Ablauf der Strobesignale clk1 bis clkn, welche zu den jeweiligen Zeitgebereinstellschaltungen 531 bis 53n geliefert werden, am Empfangsanschluss eingestellt wird. Beispielsweise kann der Aufbau so sein, dass die zeitliche Ablauf der Daten DD1 bis DDn am Übertragungsanschluss eingestellt wird.
  • Mit Hilfe von 14 bis 41 werden nun Beispiele des Signalübertragungssystems ausführlich anschließend beschrieben.
  • 14 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt, und 15 ist ein Zeitablaufdiagramm, um ein Beispiel einer Operation im Signalübertragungssystem von 14 zu erläutern.
  • In 14 ist das Bezugszeichen 530 eine Zeitgebereinstellschaltung (optimale Zeitgeberbestimmungseinrichtung), 5301 ist eine Phasenkomparatorschaltung, 5302 und 5303 sind variable Verzögerungsschaltungen, 540 ist eine Datenlatchschaltung (Eingangslatchspeicher), und 520 ist eine Signalleitung (Datensignalleitung). Hier haben die variablen Verzögerungsschaltungen 5302 und 5303 einen identischen Aufbau und liefern die gleiche Menge an Verzögerung gemäß einem Ausgangssignal von der Phasenkomparatorschaltung 5301. Die Daten DD, die Signalleitung 520, die Zeitgebereinstellschaltung 530 und die Eingangslatchschaltung 540 im ersten Beispiel entsprechen beispielsweise den Daten DD1, der Signallei tung 521, der Zeitgebereinstellschaltung 531, und der Eingangslatchschaltung 541 in 11. Daher ist der Schaltungsblock, der hier gezeigt ist, für alle Daten (DD1 bis DDn) vorgesehen.
  • Bei dem Signalübertragungssystem ist die Zeitgebereinstellschaltung 530 zum Einstellen der relativen Zeitgeberbeziehung zwischen dem Empfangssignal (Daten) DD und dem Takt clk (clk') am empfangsseitigen Anschluss vorgesehen, so dass der Eingangslatchspeicher 540 die Daten DD mit dem optimalen Zeitablauf (dem Zeitablauf in der Nähe der Mitte der Periode, während die Daten DD gültig sind) verriegelt. Insbesondere umfasst, wie in 14 gezeigt ist, die Zeitgebereinstellschaltung 530 die erste variable Verzögerungsschaltung 5302, welche eine Verzögerung zum ersten Takt clk bereitstellt, die zweite variable Verzögerungsschaltung 5303, welche eine Verzögerung zum zweiten Takt clk' bereitstellt, und die Phasenkomparatorschaltung 5301, welche die Phase der Daten DD mit der Phase des zweiten Taktes clk' vergleicht, der über die zweite variable Verzögerungsschaltung 5303 geliefert wird. Hier ist das zweite Takt clk' ein Signal, welches bezüglich der Phase um 180° in Bezug auf den ersten Takt clk verschoben ist. Die zweite Ausführungsform verwendet die Zweiphasentakte clk und clk', die eine Phasendifferenz von 180° in Bezug zueinander haben.
  • Hier vergleicht, wie in 15 gezeigt ist, die Phasenkomparatorschaltung 5301 die Phase der Daten DD mit der des zweiten Taktes clk' und steuert die Höhe der Verzögerung in der zweiten variabeln Verzögerungsschaltung 5303 so, damit der Anstiegszeitablauf des zweiten Takts clk' mit dem Übergangszeitablauf der Daten DD übereinstimmt. Außerdem steuert die Phasenkomparatorschaltung 5301 auch die Verzögerung in der ersten variablen Verzögerungsschaltung 5302 in der gleichen Weise, wie sie diese in die Verzögerung in der zweiten variablen Verzögerungsschaltung 5303 steuert, und gibt den ersten Takt (Strobesignal) clk, der die gleiche Höhe an Verzögerung wie die in der zweiten variablen Verzögerungsschaltung 5303 hat, aus. Als Ergebnis wird erreicht, dass der Anstiegszeitablauf des ersten Taktes clk, der eine Phasendifferenz von 180° in Bezug auf den zweiten Takt clk' hat, im Wesentlichen mit dem zeitlichen Ablauf in der Mitte der Periode (Datenfenster) übereinstimmt, während der die Daten DD gültig sind, wodurch Datenempfang mit geringen Fehlerraten erreicht wird.
  • Die Zeitgebereinstellschaltung 530 ist für alle Signalleitungen (521 bis 52n) vorgesehen, so dass die Daten für alle Datenleitungen korrekt empfangen werden können. In 14 sind die variablen Verzögerungsschaltungen 5302 und 5303 aus Multistufeninverter aufgebaut, und die Verzögerungshöhe wird durch Variieren der Anzahl von Inverterstufen variiert, wobei jedoch angemerkt werden sollte, dass viele andere Aufbauarten möglich sind.
  • 16 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form ein modifiziertes Beispiel des Signalübertragungssystems zeigt, welches in 14 gezeigt ist, und 17 ist ein Zeitablaufdiagramm, um ein Operationsbeispiel im Signalübertragungssystem von 16 zu erläutern.
  • Wie man aus dem Vergleich zwischen 13 und 16 und auch aus 17 ersehen kann, kann das modifizierte Beispiel (Zeitgebereinstellschaltung 530') des ersten Beispiels angewandt werden, wenn der Takt (clk0) ein Tastverhältnis von ungefähr 50% hat, d.h., dass die Hochpegelperiode des Takts clk0 ungefähr gleich in der Länge wie deren Niedrigpegelperiode ist. Der Takt clk0 wird als zweiter Takt clk' in 14 verwendet, und der erste Takt clk und die erste variable Verzögerungsschaltung 5302 in 14 können beseitigt werden.
  • Wie in 16 und 17 gezeigt ist, wird die Höhe der Verzögerung in der variablen Verzögerungsschaltung 5303 so gesteuert, dass der zeitliche Ablauf des Taktes clk0 mit dem zeitlichen Ablauf der Daten DD übereinstimmt, und der Datenlatchzeitgeber in der Eingangslatchschaltung 540 wird durch ein Signal (/clk0) gesteuert, welches durch Invertieren des Taktes clk0 über einen Inverter 5304 erzeugt wird.
  • Insbesondere wird der Anstiegszeitablauf des Taktes clk0 so ausgeführt, dass er mit dem Übergangszeitablauf der Daten DD übereinstimmt, und zwar mittels der Phasenkomparatorschaltung 5301 und der variablen Verzögerungsschaltung 5303. In diesem Zeitpunkt stimmt der Anstiegszeitablauf des Strobesignals (Takt) /clk0, das Komplement des Taktes clk0, im Wesentlichen mit dem zeitlichen Ablauf in der Mitte der Periode überein, während der die Daten DD gültig sind; daher verriegelt unter Verwendung dieses Signals /clk0 die Eingangslatchschaltung 540 die Daten. Auf diese Weise kann gemäß dem modifizierten Beispiel unter Verwendung eines Einzelphasentaktes, der ein Tastverhältnis von ungefähr 50% hat, eine fehlerfreie Hochgeschwindigkeitssignalübertragung erreicht werden, ohne durch einen Bitversatz (Skew) beeinträchtigt zu werden.
  • 18 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt. In 18 ist das Bezugszeichen 550 eine Zeitgebereinstellschaltung, 5501 ist eine Anzapfungsverzögerungsschaltung, und 5502 ist ein Abschlusswiderstand.
  • Wie in 18 gezeigt ist, wird bei dem Signalübertragungssystem der Takt clk unmittelbar als Strobesignal für den Eingangslatch 540 verwendet, und anstelle davon wird die Anzapfverzögerungsschaltung 5501 in den Pfad der Daten DD eingefügt, um den Zeitgeber (zeitlichen Ablauf) einzustellen. Hier ist die Anzapfverzögerungsschaltung 5501 eine An zapfübertragungsleitung, die beispielsweise aus einer Dünnfilmschaltung oder einem Zwischenverbindungsmuster auf einer gedruckten Schaltungsplatte gebildet ist; mehrere Anzapfungen, die jeweils einen Kondensator CC, einen Schalter WS aufweisen, und einen Widerstand RR aufweisen, sind längs der Übertragungsleitung vorgesehen, und die Verzögerungshöhe, die in die Daten DD eingeführt werden soll, wird in einer variablen Weise durch Einschalten des gewünschten Schalters gesteuert. Eine Übertragungsleitung, die einen Übertragungsabstand von ungefähr 5 cm und eine maximale Verzögerung von ungefähr 1 ns beispielsweise hat, kann als Anzapfverzögerungsschaltung 5501 verwendet werden. Es ist jedoch vorteilhaft, dass andere Anordnungen ebenso für die Anzapfverzögerungsschaltung 5501 verwendet werden können, vorausgesetzt, dass diese eine variable Verzögerungsschaltung ist, die in der Lage ist, ein analoges Signal (Daten DD) zu verzögern.
  • Obwohl diese die Bereitstellung einer externen Verzögerungsleitung (die Anzapfverzögerungsschaltung 5501) erfordert, kann das Signalübertragungssystem eine schnellere Signalübertragung erzielen, da diese hochstabil über der Temperatur ist, usw., und eine Verzögerungssteuerung mit einer ausgezeichneten Frequenzcharakteristik ausführen kann.
  • 19 ist ein Blockdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt. In 19 sind die Bezugszeichen 561 bis 56n Zeitgebereinstellschaltungen (optimale Zeitgeberbestimmungseinrichtungen), 5601 ist eine Datenlatchschaltung (Ausgangslatch) und 5602 ist eine variable Verzögerungsschaltung.
  • Wie in 19 gezeigt ist, erzielt das Signalübertragungssystem Zeitgebereinstellungen am Signalübertragungsanschluss, wobei die Übertragungszeitgabe variabel gemacht wird. Der Ausgangslatch 5601 ist vor jeder Übertragungsansteuerschaltung (Treiber) 511 bis 51n vorgesehen, und der Takt clk, der über die variable Verzögerungsschaltung 5602 verzögert wird, wird als Strobesignal zum Ausgangslatch 5601 verwendet. Das heißt, der Zeitgeber jeder der Treiber 511 bis 51n wird durch das Ausgangssignal der variablen Verzögerungsschaltung 5602 eingestellt, deren Verzögerungshöhe in einer variablen Weise gesteuert wird.
  • Insbesondere steuert die Zeitgebereinstellschaltung 561 beispielsweise den Treiber 511 so, dass die Daten DD1 mit einem solchen Zeitablauf übertragen werden, dass der Takt am empfangenden Anschluss am optimalen Punkt der Daten DD1 auftritt (der Zeitablauf, der im Wesentlichen mit der Mitte der Periode übereinstimmt, während der die Daten DD gültig sind). Bei dem Signalübertragungssystem wird der Übertragungszeitgeber der Daten (DD1 bis DDn) durch die Zeitgebereinstellschaltung (561 bis 56n) am Übertragungsanschluss eingestellt, und diese Zeitgebereinstellung wird beispielsweise unter Verwendung eines Kommunikationsprotokolls durchgeführt, wenn die Spannung eingeschaltet wird. Insbesondere, wenn beispielsweise die Spannung eingeschaltet wird, werden vorgeschriebene Signale (Daten) über die entsprechenden Signalleitungen 521 bis 52n übertragen, wobei deren zeitlicher Ablauf sequentiell durch die jeweiligen Zeitgebereinstellschaltungen 561 bis 56n variiert wird und der zeitliche Ablauf, der für das Datenspeichern am Empfangsanschluss optimal ist, durch Rückführung dieser zurück zu den jeweiligen Zeitgebereinstellungen 561 bis 56n bestimmt wird.
  • Das Signalübertragungssystem kann den Schaltungsaufbau am Empfangsanschluss vereinfachen, und es wird beispielsweise bevorzugt, wenn Kostenverminderungen von Empfangseinrichtungen stark erwünscht sind.
  • 20 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt. In 20 ist das Bezugszeichen 5310 eine Zeitgebereinstellschaltung, und 5311 ist ein Phaseninterpolator.
  • Wie in 20 gezeigt ist, weist bei dem Signalübertragungssystem die Zeitgebereinstellschaltung 5130 den Phaseninterpolator 5311 auf, der aus mehreren Takten mit unterschiedlichen Phasen einen neuen Takt, der eine Zwischenphase hat, erzeugt. Insbesondere werden Vierphasentakte ϕ0 bis ϕ3 zum Phaseninterpolator 5311 geliefert, und, auf der Basis dieser Vierphasentakte wird eine Zwischenphase erzeugt, und das resultierende Strobesignal (clk00) wird zum Eingangspuffer 540 geliefert. Es braucht nicht ausgeführt werden, dass dieser Phaseninterpolator 5311 für jeden Eingangslatch 540 (541 bis 54n) vorgesehen ist, der die Daten DD (DD1 bis DDn), welche über jede Signalleitung 520 (521 bis 52n) übertragen werden, verriegelt.
  • 21 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel des Phaseninterpolators im Signalübertragungssystem von 20 zeigt.
  • Wie in 21 gezeigt ist, nimmt der Phaseninterpolator 5311 eine Wichtungssumme der Vierphasen-Eingangstakte ϕ0 bis ϕ3, indem er den Reststrom von beiden Differenzverstärkerstufen 5312 und 5313 variiert und Signale S1 und S2 von den beiden Differenzverstärkerstufen 5312 und 5313 zu einem Komparator 5313 liefert, um ein Ausgangssignal (Strobesignal clk00) zu erhalten, welches eine Phase zwischen den Phasen dieser beiden Signale S1 und S2 hat. Hier wird das Wichten der Eingangstakte ϕ0 bis ϕ3 in den Differenzverstärkerstufen 5312 und 5313 unter Verwendung von mehreren Steuertransistorpaaren ausgeführt, die jeweils beispielsweise aus zwei nMOS-Transistoren bestehen, die seriell geschaltet sind. Ein Transistor (5315) in jedem Paar wird an seinem Gate mit einem Steuercode (C01, C02,... C0n; C11, C12,... C1n) beliefert, während die Gates der anderen Transistoren in den jeweiligen Paaren zusammengeschaltet sind und mit einer Steuerspannung (Vcn) beliefert werden. Die Verwendung des Phaseninterpolators 5311 mit einem solchen Aufbau bietet den Vorteil, dass der Zeitgeber des Ausgangssignals (Strobesignal clk00) in einer digitalen Weise mit einer Auflösung eingestellt werden kann, die höher ist als die einer Verzögerungseinheitsstufe. Damit können hochgenaue Zeitgebereinstellungen erreicht werden.
  • 22 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt. In 22 ist das Bezugszeichen 570 eine Wiedereintaktschaltung, 571 bis 573 sind Latchschaltungen, 574 ist ein Auswahlorgan, 575 ist ein Schieberegister, 576 ist eine variable Verzögerungsschaltung und 577 ist eine Verzögerungssteuerschaltung. Dieses Beispiel wird bei einem Fall angewandt, bei dem die variable Verzögerungsschaltung 576 in den Pfad des Taktes (Strobesignal) eingefügt ist, der verwendet wird, den Eingangslatch 540 am Empfangsanschluss anzusteuern. Die variable Verzögerungsschaltung 576 und die Verzögerungssteuerschaltung 577, die hier gezeigt sind, entsprechen beispielsweise der variablen Verzögerungsschaltung 5302 und der Phasenkomparatorschaltung 5301 im ersten Beispiel, welches in 14 gezeigt ist.
  • Bei dem Signalübertragungssystem des oben beschriebenen Beispiels wird beispielsweise die variable Verzögerungsschaltung 576 (5302) in den Pfad des Taktes zum Eingangslatch 540 eingefügt, um zu ermöglichen, dass die Daten DD mit dem optimalen Zeittakt gespeichert werden, jedoch, wie für das Signal, welches durch den Eingangslatch 540 läuft, obwohl der Signalpegel digitalisiert ist, ist der Datenänderungszeittakt für jede Signalleitung (Datenleitung) 520 wegen des Bitversatzes (Skew) auf dem Kabel verschieden.
  • Im Hinblick darauf folgt bei dem Signalübertragungssystem auf den Eingangslatch 540 die Wiedereintaktschaltung 570, um die Daten wiederum zu verriegeln, so dass alle Daten sich mit dem gleichen zeitlichen Ablauf ändern werden; außerdem wird eine Verzögerung von einem Bit oder länger als einem Bit zwischen jedem Datenwort durch das Schieberegister 575 eingestellt.
  • Wie in 22 gezeigt ist, weist die Wiedereintaktschaltung 570 die Latchschaltungen 571 bis 573 und das Auswahlorgan 574 auf; das Ausgangssignal der zweistufigen Kaskadenlatchschaltungen 571 und 572 und/oder das Ausgangssignal der Latchschaltung 573 wird durch das Auswahlorgan 574 ausgewählt. Hier wird ein Strobesignal RPB zur Latchschaltung 571 und ein Strobesignal RTA zu den Latchschaltungen 572 und 573 geliefert. Das Strobesignal RTA hat eine Phasendifferenz von 180° in Bezug auf das Strobesignal RTB.
  • 23 und 24 sind Zeitablaufdiagramme, um ein Operationsbeispiel im Signalübertragungssystem von 22 zu erläutern.
  • Wie in 23 gezeigt ist, ist, obwohl jedes Datenwort (Signal DD (Dd1 bis DDn)) mit dem optimalen zeitlichen Ablauf der Ausgangsposition des Eingangslatches 540 (541 bis 54n), was durch PT51 in 22 gezeigt ist, verriegelt ist, der Datenänderungszeitablauf gegenüber jedem Datenwort DD (DD1 bis DDn) aufgrund des Bitversatzes (Skew) aufgrund der Signalleitung usw. verschieden.
  • Jedoch ist, gleich bei welcher Position jedes Datenwort sich ändert, das Datenverriegeln mit dem Zeitablauf (ansteigendem Zeitablauf) von zumindest einem der beiden Signale (Strobesignale) RTA und RTB möglich, die um 180° voneinander außer Phase sind. Insbesondere, wenn der Anstiegszeitablauf eines Strobesignals RTA im Übertragungsbereich der Daten DD2 und DDn auftritt, beispielsweise der Anstiegszeitablauf des anderen Strobesignals RTB, welches um 180° außer Phase in Bezug auf das Signal RTA ist, tritt Unbeständigkeit während der Periode, wenn die Daten DD2 und DDn gültig sind, auf, und die Daten können somit verriegelt werden.
  • In der Wiedereintaktschaltung 570 wird das Ausgangssignal des Eingangszwischenspeichers 540 sowohl durch die Latchschaltung 571, zu der das Strobesignal RTB geliefert wird, als auch durch die Latchschaltung 573, zu der das Strobesignal RTA geliefert wird, verriegelt, so dass zumindest eine der Latchschaltungen die korrekten Daten verriegeln kann; außerdem können durch die Bereitstellung der Latchschaltung 572 im Anschluss an die Latchschaltung 571 die Ausgangssignale der Latchschaltungen 571 (572) und 573 zum Auswahlorgan 574 mit den Zeitablauf geliefert werden, der durch das Strobesignal RTA definiert ist. Hier wird das Ausgangssignal der Verzögerungssteuerschaltung 577 zum Auswahlorgan 574 geliefert, um zu bestimmen, welches der beiden Ausgangssignale, d.h., der Latchschaltung 572 oder 573 ausgewählt werden soll.
  • Als Ergebnis ändern sich, wie in 24 gezeigt ist, die Daten DD1 bis DDn mit dem gleichen Zeitablauf (die Daten sind wiedereingetaktet) an der Ausgangsposition des Auswahlorgans 574, was durch PT52 in 22 angedeutet ist. Es besteht jedoch eine Möglichkeit, dass eine Verzögerung von einem Bit oder länger als einem Bit zwischen den Daten DD1 bis DDn existieren kann.
  • Beispielsweise kann ein Fall auftreten, wo die Daten DD1 um ein Bit in Bezug auf die Daten DD2 verzögert sind, und die Daten DDn um zwei Bits in Bezug auf die Daten DD2 verzögert sind, wie in 24 gezeigt ist. Um diesem zu begegnen ist bei dem Signalübertragungssystem das Schieberegister 575 vorgesehen, welches auf das Auswahlorgan 574 folgt, um den Ausgabezeitablauf aller Daten in Bezug auf den Zeitablauf der Daten, die die größte Verzögerung haben (beispielsweise die Daten DDn), anzupassen (den Bitversatz aufzuheben).
  • 25 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt, und 26 und 27 sind Zeitablaufdiagramme, um ein Beispiel einer Operation im Signalübertragungssystem von 25 zu erläutern. In 25 ist das Bezugszeichen 580 eine Wiedereintaktschaltung, 581 bis 584 sind Latchschaltungen, 585 und 586 sind variable Verzögerungsschaltungen, und 540a und 540b sind Eingangszwischenspeicher (Eingangslatchschaltungen).
  • Wie in 25 gezeigt ist, ist im Signalübertragungssystem der Eingangslatch 540 in der obigen Beispiel durch die beiden Eingangszwischenspeicher 540a und 540b ersetzt, die in einer Verschachtelungsweise arbeiten. Insbesondere werden zwei Takte (Strobesignale) aa und bb, die um 180° außer Phase zueinander sind, wie in 26 gezeigt ist, zu den Eingangszwischenspeichern 540a und 540b über die variablen Verzögerungsschaltungen 585 bzw. 586 geliefert, so dass die Daten abwechselnd durch die beiden Eingangszwischenspeicher 540a und 540b verriegelt werden. Hier ist die Frequenz der Strobesignale aa und bb die Zweifache der Frequenz von beispielsweise den Signalen RTA und RTB bei dem obigen Beispiel, und die Daten DD (..., DD(m–2), DD(m–1), DD(m), DD(m+1), DD(m+2),...), die sequentiell über die Signalleitung 520 übertragen werden, werden abwechselnd durch die Eingangszwischenspeicher 540a und 540b verriegelt. Folglich müssen die Eingangszwischenspeicher 540a und 540b nicht nur mit der halben Geschwindigkeit der aktuellen Datenrate (der übertragenen Signalrate) arbeiten. Die obige Verschachtelungsoperation ist nicht auf die Verschachtelung zwischen zwei Teilen beschränkt, sondern die Verschachtelung kann zwischen drei oder mehr Teilen durchgeführt werden.
  • Die Wiedereintaktschaltung 580 weist eine zweistufige Kaskade von Latchschaltungen 581 und 582 auf, welche das Ausgangssignal des Eingangszwischenspeichers 540a empfängt, und eine zweistufige Kaskade von Latchschaltungen 583 und 584, die das Ausgangssignal des anderen Eingangssignalzwischenspeichers 540b empfängt; ein Strobesignal RTC wird zu den Latchschaltungen 581, 582 und 584 geliefert, und ein Strobesignal RTD wird zur Latchschaltung 583 geliefert.
  • Wie in 27 gezeigt ist, sind die Strobesignale RTC und RTD um 180° außer Phase zueinander, und, unter Verwendung dieser Signale als Strobesignale, können die Daten DD (..., DD(m–2), DD(m–1), DD(m), DD(m+1), DD(m+2),...), die sequentiell über die Signalleitung 520 übertragen werden, in der Form der Ausgangssignale der Latchschaltungen 581, 582 und 584 empfangen werden.
  • Da auf diese Weise der Schaltungsaufbau von den Eingangszwischenspeichern (540a und 540b) aufwärts mit einer halben Ubertragungsrate der Signalleitung aufgrund der Verschachtelungsoperation betrieben werden kann, ist das Signalübertragungssystem für Hochgeschwindigkeitsübertragung von Signalen geeignet. Dies bietet außerdem den Vorteil, den Schaltungsaufbau zu vereinfachen, da Zeitzwänge für Latchoperationen in der Wiedereintaktschaltung 580 gelockert werden.
  • 28 ist ein Blockdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt, in welchem ein sogenannter PRD-Latch (Partialantwortermittlung) (Differential-PRD-Empfänger) als Verschachtelungslatch verwendet wird. In 28 sind die Bezugszeichen 520a und 520b Signalleitungen, um komplementäre Signale (Daten) DD und /DD zu übertragen, und 590a und 590b sind PRD-Verstärker, die in einer Verschachtelungsweise arbeiten. Bei diesem Beispiel sind die beiden Signalleitungen 520a und 520b für ein Datenwort DD vorgesehen, welches somit als komplementäres Datenwort DD und/DD übertragen wird. Man wird es als vorteilhaft erkennen, dass bei anderen Beispielen ebenfalls entweder eine einzelne Leitung oder Differentialleitungen (komplementäre) Leitungen zur Signalübertragung verwendet werden können.
  • Wie in 28 gezeigt ist, weist die Empfängerschaltung (Eingangslatch) den ersten PRD-Empfänger 590a und den zweiten PRD-Empfänger 590b auf, zu dem die komplementären Daten DD und /DD geliefert werden, und die in Verschachtelungsweise arbeiten, wobei sie durch die Steuersignale ϕ10 und ϕ20 gesteuert werden. Hier werden die Ausgangssignale vom ersten und vom zweiten PRD-Verstärker 590a und 590b beispielsweise über eine Seriell-Parallel-Umsetzungsschaltung oder dgl. zwecks einer niedrigeren Operationssequenz in der nachfolgenden Stufe verarbeitet.
  • 29 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel des PRD-Verstärkers im Signalübertragungssystem von 28 zeigt. In 29 ist das Bezugszeichen 591 ein PRD-Funktionsblock, 592 ist ein Differenzverstärkerblock, der eine Vorladefunktion hat, und 593 und 594 sind ein Schwingungsform-Differenzverstärker und ein Inverter.
  • Wie in 29 gezeigt ist, besitzt der PRD-Funktionsblock 591 vier Kondensatoren C10a, C10b, C20a und C20b und vier Übertragungsgates (Schalteinrichtungen) 5911, 5912, 5913 und 5914, und die Verbindungen der Kondensatoren werden durch die Steuersignale ϕ10 (/ϕ10) und ϕ20 (/ϕ20) gesteuert, so dass der Intersymbol-Interferenz-Komponentenbeseitigungsbetrieb und der Signalentscheidungsbetrieb in 31 und 32 abwechselnd durchgeführt werden können.
  • Wenn die in 29 gezeigte Schaltung als PRD-Differenzempfänger verwendet wird, muss die Beziehung C20 = 1/3·C10 zwischen dem Kondensator C10 der Kondensatoren C10a und C10b und dem Kondensator C20 der Kondensatoren C20a und C20b gelten. Wenn die Schaltung als automatischer Nullempfänger und nicht als PRD-Empfänger verwendet wird, sollte C10 gleich C20 gemacht werden.
  • Der Differenzverstärkerblock 592 verstärkt die Eingangssignale differentiell und trifft eine Entscheidung in Bezug auf die Daten. Außerdem weist der Differenzverstärkerblock 582 Übertragungsgates 5921 und 5922 auf, so dass eine Vorladeoperation während der Intersymbol-Interferenz-Komponentenschätzoperation durchgeführt wird.
  • Der Differenzverstärker 593 und der Inverter 594 sind dazu vorgesehen, den Ausgangspegel des Differenzverstärkerblocks 592 zu verstärken und ein Schwingungsformsignal auszugeben. In der Schaltung von 29 werden komplementäre Übertragungsgates als Schalteinrichtungen verwendet, wobei jedoch andere Einrichtungen, die Schaltfunktionen haben, ebenfalls verwendet werden können; beispielsweise können die Schalteinrichtungen unter Verwendung lediglich von nMOS-Transistoren oder von lediglich pMOS-Übertragungsgates aufgebaut sein. Außerdem ist der Differenzverstärkerblock 592 als ein nMOS-Gateempfangstypus ausgebildet, wobei es jedoch von der Technologie usw. davon abhängen sollte, ob dieser als ein nMOS-Gateempfangstypus oder als ein pMOS-Gateempfangstypus ausgebaut werden sollte, wobei ausgewählt werden kann, was geeignet ist.
  • 30 ist ein Diagramm, um Zeitgebersignale (Steuersignale ϕ10 und ϕ20), welche beim Signalübertragungssystem von 28 verwendet werden zu erläutern, und 31 und 32 sind Diagramme, um ein Operationsbeispiel im Signalübertragungssystem von 28 zu erläutern.
  • Die Empfängerschaltung, welche in 28 gezeigt ist, führt Verschachtelungsoperationen durch, so dass bei einer Zeitgabe ein PRD-Verstärker (der erste PRD-Verstärker 590a) eine Intersymbol-Interferenz-Komponentenschätzoperation ausführt, während der andere PRD-Verstärker (der zweite PRD-Verstärker 590b) eine Datenentscheidungsoperation ausführt, und mit der nächsten Zeitgabe der eine PRD-Verstärker (der erste PRD-Verstärker 590a) eine Datenentscheidungsoperation ausführt, während der andere PRD-Verstärker (der zweite PRD-Verstärker 590b) eine Intersymbol-Interferenz-Komponentenschätzungsoperation ausführt.
  • Hier wird im PRD-Verstärker, der die Intersymbol-Interferenz-Komponentenschätzungsoperation ausführt, das Vorladen des gleichen PRD-Verstärkers im gleichen Zeitpunkt ausgeführt, und der Eingangspegel wird auf eine vorgeschriebene Spannung (Vorladespannung Vpr) über die Übertragungsgates 5921 und 5922 vorgeladen. Da dieses Vorladen im Hintergrund während der Verschachtelungsdaten-Leseperiode durchgeführt wird, beeinträchtigt die Vorladezeit nicht den Datenübertragungszyklus.
  • Gemäß dem Signalübertragungssystem dieses Beispiels wird, da die Komponente in Verbindung mit der Antwort erster Ordnung des Signalübertragungssystems von der Intersymbol-Interferenz beseitigt ist, welche im Eingangssignal (Daten DD, /DD) enthalten sind, ein stabiler Empfang unbeeinträchtigt durch die DC-Signaldrift möglich. Bei einem selbsteichenden Empfänger, wo die Beziehung zwischen der Kapazität C10 der Kondensatoren C10a und C10b und dem Kandensator C20 der Kondensatoren C20a und C20b auf C10 = C20 festgelegt ist, kann Phasenrauschen usw. beseitigt werden, und es wird eine stark verbesserte Phasenrausch-Standhaltescharakteristik erzielt.
  • 33 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt. In 33 ist das Bezugszeichen 501 eine Ansteuerschaltung (Takttreiber) für den Takt clk am Übertragungsende (Übertragungsanschluss), 502 ist eine Taktleitung, 503 ist ein Taktempfänger und 611 bis 61n sind variable Verzögerungsschaltungen (Taktzeitgeber-Einstellschaltungen).
  • Wie in 33 gezeigt ist, wird bei dem Signalübertragungssystem der Zeitgeber des Übertragungstakts clk auf das Empfangsende durch die variablen Verzögerungsschaltungen 611 bis 61n eingestellt, welche für die Eingangslatch 541 bis 54n vorgesehen sind, um die Datenlatchzeitgeber bei den Eingangslatches 541 bis 54n zu optimieren.
  • Hier wird der Takt clk vom Übertragungsende (Übertragungsanschluss) zusammen mit den Daten DD1 bis DDn (der Takt wird als Spezialdaten eines Bitmusters gesendet, welche wiederholt als "0101...") gesendet; wenn es einen Jitter in der Takterzeugungsschaltung am Übertragungsanschluss gibt, ist der Jitter für alle Übertragungsdaten und dem Takt clk gemeinsam. Folglich verursacht im Signalübertragungssystem Jitter keinen schlechten Effekt, solange die Daten unter Verwendung dieses Takts clk verriegelt werden.
  • 34 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt. In 34 sind die Bezugszeichen 602 und 621 Latchschaltungen, 603 ist eine Ladepumpenschaltung, 604, 641 und 651 sind variable Verzögerungsschaltungen und 661 ist eine Verzögerungshöhe-Speicherschaltung. Hier wird das Ausgangssignal der Latchschaltung 602 über zwei Inverterstufen zur Ladepumpenschaltung 603 geliefert.
  • Wie in 34 gezeigt ist, wird bei dem Signalübertragungssystem wie bei dem vorhergehenden Beispiel der Takt clk vom Übertragungsanschluss zusammen mit den Daten DD1 (DD1 bis DDn) geliefert. Dieser Takt clk wird durch den Eingangslatch 602 gespeichert, der einen identischen Aufbau mit anderen Datenempfangs-Zwischenspeichern hat; hier wird ein interner Takt clki, der durch die variable Verzögerungsschaltung 604 läuft, als Strobesignal verwendet, um den Takt clk im Latch 602 zu verriegeln. Das heißt, der Takt, der ver wendet wird, den Latch 602 anzusteuern, wird durch Durchlassen des Referenztaktes (interner Takt clki) am Empfangsanschluss durch eine variable Verzögerungsstufe (die variable Verzögerungsschaltung 604) erhalten.
  • Bei dem obigen Aufbau kann, wenn eine Verzögerung dem internen Takt clki gegeben wird, indem ein Signal ausgegeben wird, um die Verzögerung zu vergrößern (nach unten: DN), wenn das Ausgangssignal des Eingangslatches 602 "0" ist (niedriger Pegel "L"), und ein Signal, um die Verzögerung zu vermindern (nach oben: UP), wenn das Ausgangssignal "1" ist (hoher Pegel "H"), der zeitliche Ablauf, mit dem der Takt clk zu verriegeln ist, beim Anstieg des internen Takts clki verriegelt werden. Dann wird unter Verwendung des UP/DN-Signals die Ladepumpenschaltung 603 betrieben, und ein Verzögerungssteuersignal DCS von der Ladepumpenschaltung 603 wird zur variablen Verzögerungsschaltung 604 geliefert, um die Verzögerung zu steuern. Außerdem wird das Verzögerungssteuersignal DCS zur variablen Verzögerungsschaltung 641 geliefert, um in gleicher Weise den Taktzeitgeber des Eingangslatches 621 für eine andere Datenleitung in einer variablen Weise zu steuern; auf diese Weise kann die Jitter-Komponente, die simultan auf den Takt clk und die Daten DD1 aufgeprägt wurde, eliminiert werden, wie bei dem obigen Beispiel, wodurch verhindert wird, dass ein nachteiliger Effekt in Bezug auf das Ausgangssignal verursacht wird. Zusätzlich zu dem Vorteil des obigen Beispiels hat das Signalübertragungssystem die Vorteile, dass das Rauschen, welches dem Takt clk überlagert ist, beseitigt werden kann, und keine Notwendigkeit besteht, eine spezielle Bereitstellung zu treffen, um die Phasenverschiebung im Taktempfangssystem an die Phase des Datenempfangssystems anzupassen, da exakt die gleichen Zwischenspeicher (Latchschaltungen) 602 und 621 für den Empfang des Takts clk und der Daten DD1 (DD1 bis DDn) verwendet werden können.
  • 35 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form ein modifiziertes Beispiel des Signalübertragungssystems von 34 zeigt.
  • Wie man aus dem Vergleich zwischen 34 und 35 ersehen kann, ist bei dem modifizierten Beispiel die variable Verzögerungsschaltung (641), welche für alle Daten DD1 (DD1 bis DDn) zum Verzögern des internen Takts clki vorgesehen ist, beseitigt, und das Ausgangssignal der variablen Verzögerungsschaltung 604, welches als Strobesignal zum Taktlatch 602 geliefert wird, wird ebenfalls zur variablen Verzögerungsschaltung 651, welche für alle Daten DD1 vorgesehen ist, geliefert.
  • 36 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches in schematischer Form das Signalübertragungssystem zeigt. Dieses Beispiel ist beispielsweise für ein Codierschema, bei spielsweise 8B/10B anwendbar, wo die Existenz einer Taktkomponente in einer Datensequenz garantiert ist. In 36 sind die Bezugszeichen 671 bis 673 Latchschaltungen.
  • Wie in 36 gezeigt ist, wird bei dem Signalübertragungssystem ein Signal, welches Daten und einen codierten Takt unter Verwendung beispielsweise des 8B/10B Codes trägt, durch die drei Zwischenspeicher 671, 672 und 673 verriegelt. Das heißt, ein Strobesignal (interner Takt) ϕ02 wird zu den Zwischenspeichern 671 und 672 geliefert, und ein Strobesignal (interner Takt) ϕ01 wird zum Latch 673 geliefert. Hier sind die Strobesignale ϕ01 und ϕ02 um 190° außer Phase zueinander.
  • 37 ist ein Zeitablaufdiagramm, um ein Operationsbeispiel im Signalübertragungssystem von 36 zu erläutern, und 38 ist ein Diagramm, um die Beziehung zwischen dem internen Taktzustand und dem Ausgangssignal jedes Zwischenspeichers im Signalübertragungssystem von 36 zu zeigen.
  • Wie in 37 gezeigt ist, sind die Strobesignale ϕ01 und ϕ02 bezüglich der Phase um 180° zueinander verschoben. Wenn beispielsweise der Anstiegszeitablauf des Strobesignals ϕ01 im Übergangsbereich (DT) von Daten auftritt (beispielsweise ein Signal, welches durch den Code 8B/10B codiert ist), tritt der Anstiegszeitablauf des Strobesignals ϕ02 in der Nähe der Mitte der Periode auf, während der die Daten gültig sind. Da die Zwischenspeicher 671 und 672 mit dem Strobesignal ϕ02 beliefert werden, sind beispielsweise die Daten DB, die aktuell empfangen werden, das Ausgangssignal des Latch 671 und die Daten DA, die unmittelbar den Daten DB vorhergehen, sind Ausgangssignal des Zwischenspeichers 672. Das heißt, wenn das Ausgangssignal des Latch 673, welches die Daten durch das Strobesignal ϕ01 verriegelt ist, mit dem Übergangsbereich (einer Datenfenstergrenze DT) der Daten übereinstimmt, können die Daten korrekt durch den Latch 671 ausgegeben werden, der die Daten durch das Strobesignal ϕ02 verriegelt hat, welche bezüglich der Phase um 180° in Bezug auf das Strobesignal ϕ01 verschoben sind.
  • 38 zeigt die Beziehung des Ausgangssignals des Latch 671 (laufende Daten DB), des Ausgangssignals des Latch 672 (unmittelbar vorhergehende Daten DA), und des Ausgangssignals des Latch 673 (Übergangsbereichsdaten DT) in Bezug auf die internen Takte (Strobesignale ϕ01 und ϕ02). Das heißt, wenn DA, DT, DB "0, 0, 1" oder "1, 1, 0" sind, zeigt dies, dass der interne Takt (ϕ01, ϕ02) vorgeeilt ist, wobei in diesem Fall der interne Takt (ϕ01, ϕ02) unter Verwendung beispielsweise des Signals DN verzögert ist. Wenn dagegen DA, DT, DB "0, 1, 1" oder "1, 0, 0" sind, zeigt dies, dass der interne Takt (ϕ01, ϕ02) verzögert ist, wobei in diesem Fall der interne Takt (ϕ01, ϕ02) unter Verwendung bei spielsweise des Signals UP voreilt. Hier kann die interne Takteinstellung unter Verwendung des Signals UP oder DN unter Verwendung der Ladepumpenschaltung und der variablen Verzögerungsschaltung oder anderer bekannter Schaltung erreicht werden.
  • Bei dem Signalübertragungssystem wird eine Spezialperiode (Kalibrierungsmodus) vorgesehen, um den Latchzeitablauf für Normaldaten einzustellen; wenn die Daten unter Verwendung des Codes 8B/10B codiert sind und die Existenz einer Komponente in der Datensequenz somit garantiert ist, kann die Einstellarbeit immer während des Datenempfangs (Datenübertragungsmodus) durchgeführt werden.
  • 39 ist ein Zeitablaufdiagramm, um das Signalübertragungssystem zu erläutern. Das Signalübertragungssystem verwendet beispielsweise einen Aufbau, der ähnlich dem des in 33 gezeigten Beispiels ist und überträgt vom Übertragungsanschluss Phaseneinstelldaten DDP (eine Bitsequenz von 0101...), die um 180° außer Phase in Bezug zu Normaldaten sind, und, am Empfangsanschluss wird der Takt clk auf die Phaseneinstelldaten DDP synchronisier. Beispielsweise wird die Verzögerungshöhe in der variablen Verzögerungsschaltung so gesteuert, dass der zeitliche Ablauf des Anstiegs und des Abfallens des Takts clk jeweils mit der Datenfenstergrenze übereinstimmt. 39 zeigt den Fall von DDR (Doppeldatenrate), d.h., ein Beispiel des Falls, wo die Daten auf sowohl den zeitlichen Ablauf des Anstiegs als auch des Abfallens des Takts clk verriegelt werden. Man wird es als vorteilhaft erkennen, dass bei anderen Beispielen das Signalübertragungssystem DDR so angewandt werden kann, dass Daten bei sowohl dem zeitlichen Anstieg als auch Abfall des Takts verriegelt werden können.
  • Nachdem der Takt clk auf die Phaseneinstelldaten DDP synchronisiert wurde, werden die aktuellen Daten DD (DD1 bis DDn) übertragen. Da die aktuellen Daten bezüglich der Phase um 180° in Bezug auf die Phaseneinstelldaten DDP verschoben sind, wird der zeitliche Anstieg und Abfall des Taktes clk, der mit den Phaseneinstelldaten DDP synchronisiert ist, an der Mitte des Datenfensters auftreten (der Mitte der Periode, während der die Daten gültig sind).
  • Da keine Notwendigkeit besteht, eine Schaltung usw. am Empfangsanschluss bereitzustellen, um die Taktphase um 180° zu verschieben, kann das Übertragungssystem nach dem elften Beispiel die Empfängerschaltung vereinfachen und kann beispielsweise den Leistungsverbrauch am Empfangsanschluss reduzieren.
  • 40 und 41 sind Blockschaltungsdiagramme, welche das Signalübertragungssystem zeigen. In 40 und 41 ist das Bezugszeichen 680 eine DLL-Schaltung (Verzögerungsverriegelungs-Schleifenschaltung), 681 ist ein Latchblock für den Takt clk, 682 ist eine Steuersignal-Erzeugungsschaltung, 683 ist ein Aufwärts-/Abwärtszähler (UDC) und 685 ist ein Takterzeugungsschaltung (CLKGE). Außerdem sind die Bezugszeichen 6811 und 681n Latchblöcke für die Daten DD1 bis DDn entsprechend, 6841 bis 684n sind Phaseninterpolatoren (PIP), 6861 bis 686n sind Addierschaltungen, 6871 bis 687n sind Anfangswert-Setzschaltungen für die jeweiligen Datenleitungen (521 bis 52n), 6881 bis 688n sind Wiedereintaktschaltungen, und 6891 bis 689n sind Bitversatzbeseitigungs- und Seriell-Parallel-Umsetzungsschaltungen (DSKW & SPC).
  • Wie in 40 und 41 gezeigt ist, wird im Signalübertragungssystem der Takt clk, der über die Taktsignalleitung 502 übertragen wird, durch den Taktlatchblock 681 verriegelt. Der Taktlatchblock 681 umfasst zwei Latchschaltungen 681a und 681b, welche mit dem Takt clk beliefert werden und welche in einer Verschachtelungsweise arbeiten. Die Latchschaltungen 681a und 681b sind jeweils so aufgebaut, den Takt clk in einem vorgeschriebenen Zeitablauf durch ein Signal (Strobesignal) vom Phaseninterpolator 684 zu verriegeln.
  • Die Steuersignal-Erzeugungsschaltung 682 gibt ein Aufwärtssignal UP und ein Auwärtssignal DN an den Aufwärts-/Abwärtszähler 683 gemäß den Ausgangssignalen der Latchschaltungen 681a und 681b aus, und der Aufwärts-/Abwärtszähler 683 zählt das Aufwärtssignal UP und das Abwärtssignal DN für Rückführsteuerung des Phaseninterpolators 684, wodurch der zeitliche Ablauf des Strobesignals zu den Latchschaltungen 681a und 681b gesteuert wird. Das Ausgangssignal des Aufwärts-/Abwärtszählers 683 wird ebenfalls zu den Phaseninterpolatoren 6841 bis 684n für die jeweiligen Daten DD1 bis DDN geliefert, um den Latchzeitgeber in den Latchschaltungen 6811a, 6811b bis 681na, 681nb in den jeweiligen Latchblöcken 6811 bis 681n zu steuern.
  • Hier führen die Anfangswert-Setzschaltungen 6871 bis 687n, welche für die jeweiligen Datenleitungen 521 bis 52n vorgesehen sind, beispielsweise einen Phaseneinstelltest als Kalibrierungsmodus aus, wenn die Spannung eingeschaltet wird, und speichern Verzögerungswerte für jeweiligen Signalleitungen; danach werden ihre Anfangswerte und der Ausgangswert des Aufwärts-/Abwärtszählers 683 durch die jeweiligen Addierschaltungen 6861 bis 686n addiert, und die Ergebnisse werden zu den jeweiligen Phaseninterpolatoren 6841 bis 684n geliefert, die Phasenvariationen zwischen den jeweiligen Signalleitungen am Anfangszustand absorbieren, um sicherzustellen, dass die Daten im Normaldatenübertragungsmodus korrekt verriegelt werden. Außerdem wird ein Haupttakt (Empfangstakt) clkm durch die DLL-Schaltung 680 verarbeitet, und ein Vierphasentakt, der durch Teilen der Frequenz f des Taktes clkm um 8 erlangt wird, wird zu allen Phaseninterpolatoren 684 und 6841 bis 684n geliefert. Das Signal, welche vom Aufwärts-/Abwärtszähler 683 zu den Phaseninterpolatoren 684 und 6841 bis 684n geliefert wird, und die Anfangswerte, welche in den Anfangswert-Setzschaltungen 6871 bis 687n gespeichert sind, sind beispielsweise 6-Bit-Signale. Der Aufwärts-/Abwärtszähler 683 entspricht hier beispielsweise der Ladepumpe 603, welche in 34 gezeigt ist. Während jedoch die Ladepumpe bei dem neunten Beispiel die Phaseninformation des Taktes in einer analogen Weise verarbeitet, unterscheidet sich der Aufwärts-/Abwärtszähler 683 bei dem zwölften Beispiel dahingehend, dass die Taktphaseninformation als Digitalwert verarbeitet wird.
  • Die Ausgangssignale des Phaseninterpolators 684 werden zu den Wiedereintaktschaltungen 6881 bis 688n wie auch zur Takterzeugungsschaltung 685 geliefert, die einen Takt clkc für die logische Schaltung erzeugt. Die Wiedereintaktschaltung 6881 (6861 bis 688n) weist drei Latchschaltungen 6881a, 6881b und 6881c auf. Das gleiche Strobesignal wie das, welches zur Latchschaltung 681a im Taktlatchblock 681 geliefert wird, wird zur Latchschaltung 6881a geliefert, während das gleiche Strobesignal wie das, welches zur Latchschaltung 681b im Taktlatchblock 681 geliefert wird, zu den Latchschaltungen 6881b und 6881c geliefert wird.
  • Von den Wiedereintaktschaltungen 6881 bis 688n werden Signale, die sich mit dem gleichen Zeittakt ändern, beispielsweise die Daten DD1 bis DDn, die beispielsweise in 24 gezeigt sind, erhalten. Jedoch besteht, wie oben mit Hilfe von 24 erläutert wurde, die Möglichkeit, dass eine Verzögerung von einem Bit oder länger als einem Bit zwischen diesen Daten DD1 bis DDn existieren kann. Um diesem zu begegnen werden die Ausgangssignale der Wiedereintaktschaltungen 6881 bis 688n zur Bitversatzbeseitigungs- und Seriell-Parallel-Umsetzungsschaltungen (DSKW & SPC) 6891 bis 689n geliefert, wo eine Verarbeitung so durchgeführt wird, dass der Ausgangszeitablauf aller Daten eingestellt wird, um sich an den zeitlichen Ablauf der Daten anzupassen, die die größte Verzögerung haben. Die Bitversatzbeseitigungs- und Seriell-Parallel-Umsetzungsschaltungen 6891 bis 689n führen Seriell-Parallel-Umsetzung von Daten durch, um dadurch die Operationsfrequenz in den Logikschaltungen abzusenken (der Empfangsschaltung).
  • Auf diese Weise gibt es, da gemäß dem Signalübertragungssystem die Verteilung der Taktphaseninformation unter Verwendung von Digitalsignalen durchgeführt wird, keine Sorge über das Auftreten von Jitter während des Übertragungsprozesses, und es kann somit eine stabile Übertragung und Empfang von Multibitsignalen erreicht werden.
  • Wie oben beschrieben können gemäß den Beispielen Signale korrekt empfangen werden, sogar beispielsweise, wenn es einen Bitversatz gibt, der um vieles größer ist als die Datenperiode, und außerdem, da der zeitliche Signallatchablauf für jede Datenleitung optimiert ist, kann eine fehlerfreie Hochgeschwindigkeits-Signalübertragung erreicht werden.
  • Wie oben ausführlich beschrieben kann gemäß dem Signalübertragungssystem eine fehlerfreie Signalübertragung hoher Kapazität mit hoher Geschwindigkeit durchgeführt werden, ohne durch Bitverschiebung beeinträchtigt zu sein.
  • Anschließend wird eine Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung beschrieben, jedoch zuvor wird ein Beispiel der Zeitablaufsignal-Erzeugungsschaltung nach dem Stand der Technik mit Hilfe von 42 beschrieben.
  • 42 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches ein Beispiel einer Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung nach dem Stand der Technik zeigt, bei der eine DLL-Schaltung verwendet wird. In 42 ist das Bezugszeichen 100 die DLL-Schaltung, 111 ist eine variable Verzögerungsleitung, 112 ist eine Phasenkomparatorschaltung, 113 ist eine Steuersignal-Erzeugungsschaltung, 114 ist eine Ansteuerschaltung (Takttreiber), 102 ist eine Verzögerungsschaltung und 103 ist eine Empfängerschaltung.
  • Die DLL-Schaltung 100 weist die variable Verzögerungsleitung 111, die Phasenkomparatorschaltung 112 und die Steuersignal-Erzeugungsschaltung 113 auf. Der Referenztakt CKr und das Ausgangssignal der Taktansteuerung 114 (interner Takt CKin) werden als Eingangssignale zur Phasenkomparatorschaltung 112 geliefert, und die Verzögerungshöhe (die Anzahl von Stufen der Verzögerungseinheiten D) in der variablen Verzögerungsleitung 111 wird so gesteuert, um die Phasendifferenz zwischen den Takten CKr und CKin zu minimieren. Insbesondere liefert die Phasenkomparatorschaltung 112 ein Aufwärtssignal UP oder ein Abwärtssignal DN zur Steuersignal-Erzeugungsschaltung 113 in Abhängigkeit von der Phasendifferenz zwischen dem Referenztakt CKr und dem internen Takt CKin, und die Steuersignal-Erzeugungsschaltung 113 steuert die Verzögerungshöhe in der variablen Verzögerungsleitung 111, wobei ein Steuersignal CS (ein Signal zum Auswählen der Anzahl von Stufen der Verzögerungseinheiten D) gemäß dem Aufwärtssignal UP oder dem Abwärtssignal DN ausgegeben wird. Auf diese Weise wird der interne Takt CKin, der mit dem Referenztakt CKr phasen-synchronisiert ist, erzeugt.
  • Das Ausgangssignal der Taktansteuerung 114 wird als interner Takt CKin des LSI-Chips geliefert; der interne Takt CKin wird über die Verzögerungsschaltung 102 (mit der geeigneten Anzahl von Verzögerungsstufen) geliefert, und beispielsweise als Zeitgebersignal TS in der Empfängerschaltung 103 verwendet. Das heißt, die Empfängerschaltung 103 verriegelt beispielsweise ein Übertragungssignal SS mit dem internen Takt CKin, der über die Verzögerungsschaltung 102 geliefert wird. Hier ist die Verzögerungsschaltung 102 vorgese hen, um das Zeitgebersignal TS zu erzeugen, wobei der zeitliche Ablauf des internen Takts CKin eingestellt wird, der aufgrund der Ansteuerfähigkeit der Taktansteuerung 114, der Ladekapazität der Signalleitung usw. verzögert wurde.
  • Bei der oben beschriebenen Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung nach dem Stand der Technik, bei der die DLL-Schaltung verwendet wird, die in 42 gezeigt ist, oder einer Zeitgebererzeugerschaltung, die einen ähnlichen Aufbau hat, jedoch eine PLL-Schaltung anstelle der DLL-Schaltung verwendet wird, kann der interne Takt CKin, der mit dem Referenztakt CKr phasen-synchronisiert ist, erzeugt werden, wobei jedoch, wenn der interne Takt CKin beispielsweise zur Hochgeschwindigkeits-Signalübertragung zwischen LSI-Chips verwendet wird, es Probleme gibt, die noch zu lösen sind.
  • Zunächst wird zur Signalübertragung zwischen LSI-Chips (oder zwischen elektronischen Vorrichtungen) eine Multibitübertragung häufig verwendet, bei der mehrere Signalleitungen verwendet werden, um die notwendige Signalübertragungsbandbreite zu erlangen, jedoch in diesem Fall unterscheidet sich der optimale Empfangszeitablauf für jedes Bit wegen der Variationen der Verzögerungskenndaten der entsprechenden Signalleitungen usw.. Um diesem zu begegnen werden mehrere DLL-Schaltungen beispielsweise vorgesehen, um den zeitlichen Ablauf für die jeweiligen Bits einzustellen, wobei dies jedoch die Schwierigkeit mit sich bringt, dass der Schaltungsaufbau äußerst groß wird.
  • Weiter ist sogar bei einer Übertragung mit einer Breite von 1 Bit der optimale Empfangszeitablauf in der Empfängerschaltung üblicherweise vom Anstiegszeitablauf oder vom Abfallzeitablauf des Referenztakts CKr verschieden, wodurch daher das Bilden eines Empfangstaktes erforderlich ist, wobei der Referenztakt CKr über eine Verzögerungsstufe geführt wird. Sogar, wenn der interne Takt CKin unabhängig von Veränderungen der Einrichtungskenndaten erzeugt wird, indem man die Unannehmlichkeit betritt, eine DLL-Schaltung oder eine PLL-Schaltung zu verwenden, tritt, da eine Verzögerung, die keine Relevanz zum Zyklus des Referenztakts CKr hat, durch die Verzögerungsstufe verursacht wird, die Schwierigkeit auf, dass der Signalempfang mit dem optimalen Zeitablauf unmöglich wird, wenn die Taktfrequenz sich ändert.
  • Zunächst wird der grundsätzliche Funktionsaufbau der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung mit Hilfe von 43 beschrieben.
  • 43 ist ein Blockdiagramm, welches den grundsätzlichen Funktionsaufbau der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt. In 43 ist das Bezugszeichen 301 eine Hauptschaltung, 302 sind Nebenschaltungen, 310 ist eine DLL-Schaltung, 311 eine variable Verzö gerungsleitung, 312 ist eine Phasenkomparatorschaltung, 313 ist eine Steuersignal-Erzeugungsschaltung, und 314 ist eine Ansteuerschaltung (Takttreiber).
  • Wie in 43 gezeigt ist, weist die Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung die Hauptschaltung 301 und mehrere Nebenschaltungen 302 auf. Die Hauptschaltung 301 hat einen ähnlichen Aufbau wie die in 42 gezeigte Signalerzeugungsschaltung nach dem Stand der Technik, und weist die DLL-Schaltung 310 und die Taktansteuerung 314 auf. Die Hauptschaltung 301 ist jedoch nicht auf den Aufbau beschränkt, bei dem die DLL-Schaltung verwendet wird, sondern ein Aufbau unter Verwendung beispielsweise einer PLL-Schaltung ist ebenfalls anwendbar.
  • Die DLL-Schaltung 310 weist die variable Verzögerungsleitung 311, die Phasenkomparatorschaltung 312 und die Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313 auf. Der Referenztakt CKr und das Ausgangssignal der Taktansteuerung 314 (interner Takt CKin) werden als Eingangssignale zur Phasenkomparatorschaltung 312 geliefert, welche die Phase des Taktes CKin mit der Phase des Taktes CKr vergleicht. Auf der Basis des Ergebnisses des Phasenvergleichs erzeugt die Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313 ein Steuersignal CS (Spannung oder Strom eines Analogwertes). Unter Verwendung des Steuersignals CS von der Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313 wird die Verzögerungshöhe in der variablen Verzögerungsleitung 311 gesteuert, und eventuell wird die Phasendifferenz zwischen dem Referenztakt CKr und dem internen Takt CKin minimiert. Hier wird das Ausgangssignal (CKin) der Taktansteuerung 314 nicht nur zurück zur Phasenkomparatorschaltung 312 geführt, sondern auch zu den Hilfsschaltungen 302 geliefert, zu denen ebenfalls das Steuersignal CS von der Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313 geliefert wird.
  • Wie in 43 gezeigt ist, wird in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung das Steuersignal (das Ausgangssignal der Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313), welches in der Hauptschaltung 301 verwendet wird, auch dazu verwendet, die mehreren Nebenschaltungen 302 zu steuern. Das heißt, dass das Steuersignal CS, welches verwendet wird, den Wert der Verzögerung in der variablen Verzögerungsleitung 311 der DLL-Schaltung 310 in der Hauptschaltung 301 zu steuern, auch in jeder Nebenschaltung 302 verwendet wird, so dass eine Verzögerung proportional zum Zyklus des Referenztakts CKr bereitgestellt werden kann, wobei Verzögerungselemente verwendet werden, welche im Wesentlichen die gleichen sind wie die Verzögerungselemente (Verzögerungseinheiten D), welche in der variablen Verzögerungsleitung 311 verwendet werden.
  • Als Ergebnis kann jede Nebenschaltung 302 ebenfalls ein Zeitgebersignal (TS), welches einen Verzögerungswert hat, auf der Basis des Zyklus des Referenztakts CKr erzeu gen (d.h., der eine vorher festgelegte Phasendifferenz in Bezug auf den Referenztakt hat). Unter Verwendung des Steuersignals CS, welches in der Hauptschaltung 301 erzeugt wird, auch in den Nebenschaltungen 302 können die Ansprechfrequenzkenndaten der Nebenschaltungen 302 gemäß der Frequenz des Referenztakts CKr gesteuert werden. Speziell ausgedrückt kann die charakteristische Frequenz (beispielsweise die Grenzfrequenz) einer Filterschaltung, die beispielsweise in jeder Nebenschaltung 302 verwendet wird, proportional zur Frequenz des Referenztakts CKr gemacht werden. Unter Verwendung dieses Merkmals kann jede Nebenschaltung 302 beispielsweise eine Sinuswelle mit konstanter Amplitude erzeugen, wobei ein Rechteckwellentakt der CMOS-Amplitude ausgefiltert wird.
  • Auf diese Weise kann gemäß der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung das Zeitablaufsignal, welches mit dem Referenztakt CKr synchronisiert ist, in jeder Nebenschaltung 302 erzeugt werden, die einen viel einfacheren Schaltungsaufbau als die Hauptschaltung 301 hat. Durch Variieren der Ansprechgeschwindigkeit der Nebenschaltung 302 gemäß der Frequenz des Referenztakts CKr kann ein hochgenaues Zeitgebersignal TS über einen breiten Frequenzbereich erzeugt werden.
  • Beispiele der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung werden anschließend mit Hilfe der beiliegenden Zeichnungen beschrieben.
  • 44 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt.
  • Wie in 44 gezeigt ist, ist die variable Verzögerungsleitung 311 aus mehreren Verzögerungseinheiten D gebildet, und die Höhe der Verzögerung in der variablen Verzögerungsleitung 311 wird durch Auswahl der notwendigen Anzahl von Verzögerungseinheiten D in der variablen Verzögerungsleitung 311 gesteuert, indem das Steuersignal CS verwendet wird. Die Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313 besteht aus einer Ladepumpenschaltung 131 und einem Pufferverstärker 132 und erzeugt das Steuersignal CS als Antwort auf das Aufwärtssignal UP oder das Abwärtssignal DN, welches von der Phasenkomparatorschaltung 312 ausgegeben wird, gemäß der Phasendifferenz zwischen dem Referenztakt CKr und dem internen Takt CKin.
  • Wie außerdem in 44 gezeigt ist, weist die Nebenschaltung 302 eine variable Verzögerungsleitung 321 auf, die aus mehreren Verzögerungseinheiten D gebildet ist, die identisch zu den Verzögerungseinheiten D sind, welche die variable Verzögerungsleitung 311 in der Hauptschaltung 301 bilden, und der interne Takt CKin, das Ausgangssignal der Taktansteuerung 314 in der Hauptschaltung 301, wird ein Eingangssignal zur variablen Verzögerungsleitung in der Nebenschaltung 302 geliefert. Die Nebenschaltung 302 wird verwendet, ein Zeitgebersignal (TS) zu erzeugen, welches beispielsweise eine vorher festgelegte Verzögerung in Bezug auf den Taktzyklus hat.
  • Die Höhe der Verzögerung (die Anzahl von Stufen von Verzögerungseinheiten D) in der variablen Verzögerungsleitung 321 in der Nebenschaltung 302 wird durch das Steuersignal CS gesteuert, welches von der Steuersignal-Erzeugungsschaltung 310 (dem Pufferverstärker 132) in der Hauptschaltung 301 ausgegeben wird. Auf diese Weise werden die Verzögerungseinheiten D, welche identisch denjenigen sind, die in der variablen Verzögerungsleitung 311 in der Hauptschaltung 301 verwendet werden, in der Nebenschaltung 302 verwendet, so dass mehrere Zeitablaufsignale (TS1, TS2,...), die jeweils eine Verzögerungshöhe proportional zum Zyklus des Referenztakts CKr haben, erzeugt werden können. Diese Zeitgebersignale TS1, TS2,... haben vorher festgelegte Verzögerungshöhen in Bezug auf den Referenztakt CKr, wobei deren zeitlicher Ablauf verzögert ist, beispielsweise um 1/m, 2/m, ... Zyklen in Bezug auf den Referenztakt CKr. Außerdem kann mehr als eine Nebenschaltung 302 für eine Hauptschaltung 301 vorgesehen sein, wobei in diesem Fall die variable Verzögerungsleitung 321 in jeder Nebenschaltung 302 mit einem kleineren Schaltungsaufwand als die variable Verzögerungsleitung 311 in der Hauptschaltung 301, d.h., mit weniger Verzögerungseinheiten D aufgebaut werden kann.
  • Bei dem obigen Aufbau können die Hauptschaltung 301 und die mehreren Nebenschaltungen 302 innerhalb einer einzelnen integrierten Halbleiterschaltungseinrichtung (LSI-Chip) gebildet sein, wobei anstelle davon die Hauptschaltung 301 und die mehreren Nebenschaltungen 302 entsprechend auf unterschiedlichen integrierten Halbleiterschaltungseinrichtungen aufgebaut sein können. Das heißt, die Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung kann bei einem integrierten Halbleiterschaltungssystem angewandt werden, welches mehrere integrierte Halbleiterschaltungseinrichtungen hat.
  • 45 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel jeder Verzögerungseinheit D zeigt, die in den variablen Verzögerungsleitungen in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 44 verwendet wird. Das Schaltungsbeispiel der Verzögerungseinheit D, welche in 45 gezeigt ist, ist auf sowohl die Verzögerungseinheiten, die bei der variablen Verzögerungsleitung 311 in der Hauptschaltung 301 verwendet werden, als auch auf die Verzögerungseinheiten, welche in der variablen Verzögerungsleitung 321 in der Nebenschaltung 302 verwendet werden, anwendbar.
  • Wie in 45 gezeigt ist, weist jede Verzögerungseinheit D auf: einen CMOS-Inverter DI, der aus einem p-Kanal-MOS-Transistor (pMOS-Transistor) und einem n-Kanal-MOS-Transistor (nMOS-Transistor) besteht, der zwischen der Hochpegel-Spannungsversor gungsleitung (Vcc) und einer Niedrigpegel-Spannungsversorgungsleitung (Vss) vorgesehen sind; und einen nMOS-Transistor DT und einen Kondensator DC, welche zwischen dem Ausgang des CMOS-Inverters DI und der Niedrigpegel-Spannungsversorgungsleitung (Vss) vorgesehen sind. Die variable Verzögerungsleitung 311 (321) ist aus mehreren dieser Verzögerungseinheiten D, die kaskadenförmig geschaltet sind, aufgebaut. Die Verzögerungseinheit D, welche in 45 gezeigt ist, ist so aufgebaut, dass eine Steuerspannung Vcs (Steuersignal CS) an das Gate des Transistors DT angelegt wird, wobei die Verzögerungseinheit D jedoch nicht auf diesen bestimmten Aufbau beschränkt ist. Es sind auch verschiedene andere Ausbildungen möglich. Beispielsweise kann ein Transistor, der in einem Konstantstrommodus arbeitet, auf der Source-Seite jedes der Transistoren (pMOS und nMOS), welche den CMOS-Inverter DI bilden, hinzugefügt sein, wie in 49, die später beschrieben wird, gezeigt ist, wobei in diesem Fall die Verzögerung unter Verwendung von Steuerspannungen Vcn und Vcp gesteuert werden kann, die an diese Zusatztransistoren angelegt werden. Um logische Umkehr zu vermeiden, können außerdem zwei Verzögereinheiten D zu einer Einheit (einer Stufe) kombiniert sein.
  • 46 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches ein Beispiel der Phasenkomparatorschaltung 312 in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 44 zeigt, und 47 ist ein Zeitablaufdiagramm, um die Arbeitsweise der Phasenkomparatorschaltung von 46 zu erläutern.
  • Wie in 46 gezeigt ist, vergleicht die Phasenkomparatorschaltung 312 die Phase des internen Takts CKin mit der Phase des Referenztakts CKr und gibt ein Aufwärtssignal (/UP) oder ein Abwärtssignal ((DN) gemäß der Phasendifferenz zwischen den Taktsignalen aus; hier werden das negative logische Aufwärtssignal (/UP) und das Abwärtssignal (/DN) durch Teilen der Frequenz des Referenztakts CKr und des internen Takts CKin durch zwei und durch Durchführen von logischen Operationen in Bezug auf den resultierenden Referenztakt CKr' und des internen Takts CKin', dessen Taktzyklus das Zweifache des ursprünglichen Taktzyklus ist, erzeugt.
  • Wenn insbesondere der Übergangszeitablauf des Niedrigpegels "L" zum hohen Pegel "H" des halbierten internen Takts CKin' in Bezug auf den Übergangszettaktes des niedrigen Pegel "L" zum hohen Pegel "H" des halbierten Referenztakts CKr' voreilt, wie in 47 gezeigt ist, wird das Aufwärtssignal /UP des niedrigen Pegels "L" ausgegeben: umgekehrt, wenn dies in Bezug auf den Übergangszeitablauf des niedrigen Pegels "L" zum hohen Pegel "H" des halbierten Referenztakts CKr' verzögert wird, wird das Abwärtssignal /DN mit dem niedrigen Pegel "L" ausgegeben.
  • 48 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel der Ladepumpenschaltung 131 in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 44 zeigt.
  • Wie in 48 gezeigt ist, ist die Ladepumpenschaltung 131 zwischen der Hochpegel-Spannungsversorgungsleitung (Vcc) und der Niedrigpegel-Spannungsversorgungsleitung (Vss) vorgesehen und weist einen pMOS-Transistor, der an seinem Gate mit der Aufwärtssignal /UP (invertes logisches Aufwärtssignal) beliefert wird, und einen nMOS-Transistor auf, der an seinem Gate mit dem Abwärtssignal DN beliefert wird. Das heißt, wenn das Aufwärtssignal /UP mit dem niedrigen Pegel "L" angelegt wird, steigt das Potential des Ausgangssignals Vco an, und wenn das Abwärtssignal /DN mit den hohen Pegel "H" angelegt wird (wenn /DN auf dem niedrigen Pegel "L" ist), wird das Potential des Ausgangspegels Vco abgesenkt.
  • Das Ausgangssignal Vco der Ladepumpenschaltung 131 wird über den Pufferverstärker 132 als Steuerspannung Vcs (Steuersignal cs) an den Transistor DT in jeder Verzögerungseinheit D von 45 angelegt. Wenn die Steuerspannung Vcs ansteigt, steigt die Ladekapazität am Ausgang jedes CMOS-Inverters DI an, wodurch der Verzögerungswert in der variablen Verzögerungsleitung 311 (321) vergrößert wird und somit die Phase des internen Takts CKin verzögert wird. Wenn umgekehrt die Steuerspannung Vcs absinkt, vermindert sich die Ladekapazität am Ausgang jedes CMOS Inverters DI, wodurch der Verzögerungswert in der variablen Verzögerungsleitung 311 (321) vermindert wird und somit die Phase des internen Takts CKin voreilt.
  • 49 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein weiteres Beispiel jeder Verzögerungseinheit D zeigt, welche bei den variablen Verzögerungsleitungen in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 44 verwendet wird.
  • Wie in 49 gezeigt ist, ist in der Verzögerungseinheit D ein Transistor, der in einem Konstantstrommodus arbeitet, auf der Source-Seite eines jeden der Transistoren (pMOS und nMOS), die den CMOS-Inverter DI bilden, hinzugefügt, und die Verzögerung wird unter Verwendung von Steuerspannungen Vcn und Vcp, welche an diese Zusatztransistoren angelegt werden, gesteuert. Insbesondere ist ein pMOS-Transistor DTp zwischen der Hochpegel-Spannungsversorgungsleitung (Vcc) und der Source des pMOS-Transistors des CMOS-Inverters DI vorgesehen, und ein nMOS-Transistor DTn ist zwischen der Niedrigpegel-Spannungsversorgungsleitung (Vss) und der Source des nMOS-Transistors des CMOS-Inverters DI vorgesehen. Die Steuerspannung Vcp wird an das Gate des Transistors DTp angelegt, und die Steuerspannung Vcn wird an das Gate des Transistors DTn angelegt. Die in 49 gezeigte Verzögerungseinheit D hat den Vorteil, dass sie in der Lage ist, die Verzöge rungshöhe über einen weiten Bereich mit lediglich einer Verzögerungseinheit zu verändern. Wie oben beschrieben können zwei Verzögerungseinheiten D zu einer Einheit (einer Stufe) kombiniert werden, um logische Umkehr zu vermeiden.
  • 50 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches den Aufbau der Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313 in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt, und 51 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel einer Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltung 133 zeigt, um das Ausgangssignal der Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313 von 50 umzusetzen.
  • Wie in 50 gezeigt ist, weist die Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313 die Ladepumpenschaltung 131 und mehrere pMOS-Transistoren 1321 und 1322 in einem Stromspiegelaufbau auf. Die Sourcen der pMOS-Transistoren 1321 und 1322 sind mit der Hochpegel-Spannungsversorgungsleitung (Vcc) verbunden, und ihre Gates sind mit dem Ausgang der Ladepumpenschaltung 131 gekoppelt. Die Steuersignale CS zur Hauptschaltung 301 und zur Nebenschaltung 302 werden von den Drains der jeweiligen pMOS-Transistoren 1321 und 1322 ausgegeben. Das heißt, dass bei dem zweiten Beispiel Stromsignale zur Lieferung der Steuersignale CS zur Hauptschaltung 301 und zur Nebenschaltung 302 verwendet werden. Wie für den pMOS-Transistor 1322 für die Nebenschaltung können mehrere solcher Transistoren entsprechend beispielsweise der Anzahl von Nebenschaltungen 302 vorgesehen sein.
  • Wie in 51 dann gezeigt ist, wird in der Hauptschaltung 301 und in jeder Nebenschaltung 302 das Steuersignal (Stromsignal) CS von der Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313 (vom pMOS-Transistor 1321 oder 1322) durch die Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltung 133 in die Steuerspannungen Vcn und Vcp umgesetzt. Diese Steuerspannungen Vcn und Vcp werden beispielsweise an die Gates der jeweiligen Transistoren DTn und DTp in der Verzögerungseinheit, welche in 49 gezeigt ist, angelegt. Im Fall der Verzögerungseinheit, welche in 45 gezeigt ist, wird die Steuerspannung Vcn als Steuerspannung Vcs verwendet. Die Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltung 133, die hier gezeigt ist, besteht aus nMOS-Transistoren 1331 und 1333 und einem pMOS-Transistor 1332, wobei der Aufbau nicht auf dieses bestimmte Beispiel begrenzt ist.
  • Durch Liefern der Steuersignale CS als Stromsignale hat dieses Beispiel den Vorteil, dass die Steuersignale CS ohne Problem unabhängig von Veränderungen in der Transistorschwellenwertspannung übertragen werden können, die beispielsweise auftreten kann, wenn die Hauptschaltung 301 und die Nebenschaltung 302 weiter weg voneinander innerhalb eines Chips angeordnet sind.
  • 52 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau eines wesentlichen Bereichs der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt, und 53 ist ein Blockschaltungsdiagramm, welches ein Beispiel eines D/A-Umsetzers zeigt, um eine Digital-Analog-Umsetzung (D/A-Umsetzung) der Ausgangssignale des Aufwärts-/Abwärtszählers zu zeigen, der in 52 gezeigt ist.
  • Wie man aus dem Vergleich zwischen 52 und 44 ersehen kann, nutzt das dritte Beispiel den Aufwärts-Abwärtszähler 134 anstelle der Ladepumpenschaltung 131 bei dem vorhergehenden Beispiel. Insbesondere zählt der Aufwärts-Abwärtszähler 134 das Aufwärtssignal UP und das Abwärtssignal DN, welche von der Phasenkomparatorschaltung 312 geliefert werden, und liefert beispielsweise ein Zählsignal aus sechs Bits b0–b5 zum D/A-Umsetzer 135, der in 53 gezeigt ist.
  • Der D/A-Umsetzer 135 ist ein Strommatrixzellen-D/A-Umsetzer und gibt das Steuersignal CS, beispielsweise durch Umsetzen des Zählsignals aus sechs Bits b0–b5, welches vom Aufwärts-Abwärtszähler 134 ausgegeben wird, in ein Analogsignal, aus.
  • 54 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Aufbaubeispiel einer jeder Strommatrixzelle (U) im in 53 gezeigten D/A-Umsetzer 135 zeigt.
  • Wie in 54 gezeigt ist, weist jede Strommatrixzelle U ein UND-Gate UA, ein ODER-Gate UO, und zwei nMOS-Transistoren UT1 und UT2 auf; viele dieser Zellen U sind in einer Matrixgruppe angeordnet, um einen Strommatrixblock 1350 zu bilden, und Zählsignale (b2, b3; b4, b5) werden zu den Strommatrixzellen U über Decoder 1351 und 1352 geliefert. Die Zählsignale b0 und b1 höherer Ordnung werden zu den Gates von nMOS-Transistoren (1353 und 1355) in zwei Transistorpaaren (1353, 1354; 1355, 1356) geliefert, von denen jeder aus zwei nMOS-Transistoren besteht, welche seriell zwischen dem Ausgangsanschluss und der Niedrigpegel-Spannungsversorgungsleitung (Vss) geschaltet sind. Die Steuerspannung Vc wird an die Gates der anderen Transistoren (1354 und 1356) in den jeweiligen Transistorpaaren angelegt. Diese Steuerspannung Vc wird ebenfalls an das Gate des Transistors UT2 in jeder Strommatrixzelle U angelegt.
  • Unter Verwendung einer Kombination des Aufwärts-Abwärtszählers 134 und des und des D/A-Umsetzers 135 hat das in 52 bis 54 gezeigte Beispiel die Vorteile, dass die Ausbildung eines Schleifenfilters erleichtert wird und dass sogar, wenn der Vergleichsbetrieb der Schleife unter Verwendung der DLL-Schaltung vollständig angehalten wird, die Verzögerungshöhe bei einem konstanten Pegel beibehalten werden kann und der Leistungsverbrauch somit reduziert werden kann.
  • 55 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt, die bei der Nebenschaltung anwendbar ist, und 56 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel eines Phaseninterpolators, der in 55 gezeigt ist, zeigt.
  • Wie in 55 gezeigt ist, werden ein Eingangstakt (in2) und ein Signal (in1), das um eine Stufe in Bezug auf den Eingangstakt verzögert ist, zum Phaseninterpolator 136 geliefert, der dann das Zeitgebersignal TS in der Nebenschaltung 302 erzeugt.
  • Wie in 56 gezeigt ist, nimmt der Phaseninterpolator 136 eine Wichtungssumme der beiden Eingangssignale (in1 und in2), indem er die Vorspannungsströme der Eingangstransistoren (Reststrom) von zwei Differenzverstärkerstufen 1361 und 1362 variiert, und die Signale S1 und S2 von den beiden Differenzverstärkerstufen 1361 und 1362 zu einem Komparator 1363 liefert, um ein Ausgangssignal (Zeitgebersignal TS), welches eine Zwischenphase zwischen Phasen der beiden Signale S1 und S2 hat, zu erlangen. Das Wichten der Eingangssignale in1 und in2 in den Differenzverstärkerstufen 1361 und 1362 kann beispielsweise durch Anwenden eines Steuercodes (C01, C02,... C0n; C11, C12,... C1n) an einen Transistor (1364) in jedem Transistorpaar, das aus zwei nMOS-Transistoren besteht, die seriell geschaltet sind, und einer Steuerspannung (Vcs) an das Gate des anderen Transistors (1365) in jedem Paar erreicht werden. Die Verwendung des Phaseninterpolators 156 mit einem solchen Aufbau bietet den Vorteil, in der Lage zu sein, den Zeitgeber des Ausgangssignals (Zeitgebersignal CS) mit einer Auflösung einzustellen, die höher ist als die einer Verzögerungseinheitsstufe. Es können somit hochgenaue Zeitgebereinstellungen erreicht werden.
  • 57 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein weiteres Beispiel des Phaseninterpolators 136 zeigt.
  • Der in 57 gezeigte Phaseninterpolator 136 weist zwei Spannungs-Strom-Umsetzungsschaltungen 136a und 136b auf, von denen jede pMOS-Transistoren 61 und 63 und nMOS-Transistoren 62 und 64 aufweist. Die Spannungs-Strom-Umsetzungsschaltungen 136a und 136b setzen die Spannungseingangssignale in1 und in2 in Stromausgangssignale um. Die Anzahl von Ausgangstransistoren (65 und 66) in jeder Spannungs-Strom-Umsetzungsschaltung wird durch eine Schalteinrichtung 67 unter Verwendung eines externen Signals gesteuert, wodurch somit der Umsetzungsfaktor der Strom-Spannungs-Umsetzung variiert wird. Die umgesetzten Ströme werden miteinander addiert, und die Ergebnisse werden zum Komparator geliefert, um das Zeitgebersignal (TS) zu erlangen.
  • 58 ist ein Schaltungsdiagramm, welches den Aufbau der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung (Phaseninterpolator 136) zeigt, die verwendet wird, um eine Simulation durchzuführen, und 59 ist ein Diagramm, welches Simulationsergebnisse (SPICE-Simulationsergebnisse) für die Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 58 zeigt.
  • Wie in 58 gezeigt ist, weist der Phaseninterpolator 136 die Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltungen 136a und 136b auf, die entsprechend die Eingangssignale (Spannungssignale) in1 und in2 in Stromsignale umsetzen. Hier ist eine Verzögerungseinheit D (die gleiche Verzögerungseinheit, wie diese in der variablen Verzögerungsleitung 311 verwendet wird, siehe 45 oder 49) am Eingang jedes der Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltungen 136a und 136b eingefügt, und Signale in1* und in2*, welche durch Ändern der Änderung der Eingangssignale in1 und in2 über die jeweiligen Verzögerungseinheiten D erlangt werden, werden zu den Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltungen 136a bzw. 136b geliefert. Die Referenzzeichen Wo bis W7 (/W0 bis /W7) in 58 sind die externen Signale, die verwendet werden, das Umschalten der Übertragungsgates (Übertragungseinrichtung) 67 zu steuern; durch Verwendung dieser externen Signale Wo bis W7 (/W0 bis /W7) werden die Übertragungsgates geöffnet oder geschlossen, um die Anzahl von Ausgangstransistoren (65 und 66) in der Spannungs-Strom-Umsetzungsschaltung 136a (136b) zu steuern. Auf diese Art und Weise kann der zeitliche Ablauf der Ausgabe (Out) geändert werden, wie in 59 gezeigt ist. Insbesondere werden durch Verändern des Umsetzungsfaktors der Spannungs-Strom-Umsetzungsschaltungen 136a und 136b die Wichtungen, welche den beiden Eingangssignalen in1 und in2 zugeordnet werden, variiert, wodurch die Operation des Phaseninterpolators 136 ausgeführt wird. Der Phaseninterpolator 136 des fünften Beispiels hat den Vorteil, eine niedrigere Spannungsoperation zuzulassen, da dieser keine Stromspiegel-Differenzverstärkerstufen wie beim obigen Beispiel, welches in 56 gezeigt ist, verwendet.
  • 60 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt.
  • Wie in 60 gezeigt ist, ist eine DLL-Schaltung unter Verwendung der Hauptschaltung 301 und der Nebenschaltung 302 gebildet. Insbesondere sind ein Grobverzögerungs-Steuerblock zum Durchführen von grober Verzögerungssteuerung und ein Feinverzögerungs-Steuerblock zum Durchführen feiner Verzögerungssteuerung in der Hauptschaltung 301 vorgesehen und eine Schaltung entsprechend dem Feinverzögerungs-Steuerblock in der Hauptschaltung 301 ist in der Nebenschaltung 302 enthalten.
  • Der Grobverzögerungs-Steuerblock in der Hauptschaltung 301 weist eine Verzögerungsleitung 311, eine Phasenkomparatorschaltung 312a, einen Aufwärts-Abwärtszähler 134a, einen D/A-Umsetzer 135 und ein Auswahlorgan 315, und der Feinverzögerungs-Steuerungsblock in der Hauptschaltung 301 weist einen Phaseninterpolator 136 und zwei Verzöge rungseinheiten D auf, um das Ausgangssignal des Grobverzögerungs-Steuerungsblocks (das Auswahlorgan 315) beispielsweise um eine oder zwei Verzögerungsstufen zu verzögern und um die verzögerten Ausgangssignale zum Phaseninterpolator 136 zu liefern. Hier werden der Referenztakt CKr und das Ausgangssignal der Endverzögerungsstufe in der Verzögerungsleitung 311, die beispielsweise aus m Verzögerungseinheiten D besteht, als Eingangssignale zur Phasenkomparatorschaltung 312a geliefert. Außerdem wird ein Ausgangsignal (Stromsteuersignal) vom D/A-Umsetzer 135 zur Verzögerungsleitung 311 geliefert, die an das Auswahlorgan 315 ein Zeitgebersignal ausgibt, dessen Phase gleichmäßig gemäß der Anzahl von Stufen der Verzögerungseinheiten D unterteilt ist. Das Auswahlorgan 315 und der Phaseninterpolator 116 werden außerdem mit einem Steuersignal beliefert, welches durch eine Phasenkomparatorschaltung 312b und den Aufwärts-Abwärtszähler 134b erzeugt wird. Das heißt, dass der Grobverzögerungs-Steuerungsblock Anzapfungen weg von der Verzögerungsleitung 311 nimmt, die aus den mehreren Verzögerungseinheiten besteht, das Ausgangssignal jeder Anzapfung unter Verwendung des Auswahlorgans (Auswahleinrichtung) 315 auswählt und das Ausgangssignal zu jedem Feinverzögerungs-Steuerblock liefert.
  • Wie in 60 gezeigt ist, weist jede Nebenschaltung 302 einen Feinverzögerungs-Steuerblock auf, der, wie der Feinverzögerungs-Steuerblock in der Hauptschaltung 301, einen Phaseninterpolator 236 und zwei Verzögerungseinheit D aufweist, um das Ausgangssignal des Grobverzögerungs-Steuerblocks (das Auswahlorgan 315) in der Hauptschaltung 301 um eine und zwei Verzögerungsstufen zu verzögern und um die verzögerten Ausgangssignale zum Phaseninterpolator 236 zu liefern. Hier kann der Aufbau der Verzögerungseinheiten im Feinverzögerungs-Steuerblock in verschiedener Art und Weise modifiziert werden.
  • Wie in 60 gezeigt ist, sind der Grobverzögerungs-Steuerblock in der Hauptschaltung 301 und der Feinverzögerungs-Steuerblock (in der Masterschaltung 301 oder in jeder Nebenschaltung 302) seriell geschaltet, und eine DLL-Schleife ist mit dem Grobverzögerungs-Steuerblock selbst gebildet. Mit dem Feinverzögerungs-Steuerblock, wobei ein Phaseninterpolator 136 oder 236) verwendet wird, wird eine Verzögerung mit einer Auflösung, die höher ist als die einer Verzögerungsstufe (Verzögerungseinheit D) der Hauptschaltung 301 erlangt. Die Verzögerungseinheiten, welche für den Phaseninterpolator (136 oder 236) im Feinverzögerungs-Steuerblock verwendet werden, sind identisch mit den Verzögerungseinheiten D, welche in der Verzögerungsleitung 311 im Grobverzögerungs-Steuerblock verwendet werden. Außerdem wird das Ausgangssignal (Stromsteuersignal) des D/A-Umsetzers 135 auch zu jeder Nebenschaltung 302 geliefert.
  • Auf diese Weise kann gemäß diesem Beispiel eine Verzögerung mit einer Auflösung, die höher ist als die Auflösung der Verzögerungsleitung 311, erzeugt werden, wobei ein Digitalsignal verwendet wird, und somit kann ein hochgenaues DLL-Signal erlangt werden. Außerdem kann eine digital-gesteuerte DLL-Schaltung erlangt werden, welche erlaubt, dass die Phasenvergleichsoperation für eine lange Zeitdauer angehalten werden kann, und welche die Operation in einer kurzen Zeitperiode von einem Schlafmodus aus wiederaufnehmen kann. Es gibt außerdem den Vorteil, dass durch Anordnen von mehreren Feinverzögerungsblöcken (Phaseninterpolatoren 236) als Nebenschaltungen 302 mehrere Zeitgebersignale, die jeweils eine Verzögerung mit einer Auflösung haben, die höher ist als die Auflösung der Verzögerungsleitung 311, erhalten werden.
  • 61 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau einer Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt.
  • Nicht nur das Steuersignal CS (das Ausgangssignal der Steuersignal-Erzeugungsschaltung 313), sondern auch Dreiphasen-Interntakte CK1 bis CK3 (die verzögerten Ausgangssignale der Verzögerungsleitung 311) werden von der Hauptschaltung 301 zur Nebenschaltung 302 geliefert. In der Nebenschaltung 302 wird ein Zeitgebersignal (Ausgangstakt) mit einer gewünschten Phase durch den Phaseninterpolator 236 auf der Basis der Dreiphasentakte CK1 bis CK3, die von der Hauptschaltung 301 geliefert werden, erzeugt.
  • Insbesondere werden, wie in 61 gezeigt ist, Dreiphasentakte CK1 bis CK3 zum Schaltblock 238 in der Nebenschaltung 302 über Verzögerungseinheiten D geliefert, die beispielsweise vorgesehen sind, die Signaländerungen zu bremsen. Vorgeschriebene Kombinationen der Dreiphasentakte werden durch den Schaltblock 238 ausgewählt und zu den Eingängen der Operationsverstärker 237a und 237b geliefert. Die Ausgangssignale der Operationsverstärker 237a und 237b werden zum Phaseninterpolator 236 geliefert, wo die Phase unterteilt wird und ein vorgeschriebenes Zeitgebersignal zur Ausgabe erzeugt wird. Das siebte Beispiel hat den Vorteil, dass ein Zeitgebersignal (Ausgabetakt), das einen gewünschten Phasenwinkel innerhalb 360° hat, in der Nebenschaltung 302 erzeugt werden kann.
  • 62 ist ein Schaltungsdiagramm, welches den Aufbau einer Sinuswellen-Erzeugungsschaltung zeigt.
  • In den vergangenen Jahren hat die Verwendung einer Sinuswelle als Taktschwingungsform Aufmerksamkeit auf sich gezogen, da sie den Leistungsverbrauch von Takttreibern reduzieren kann und außerdem Harmonische für reduziertes Taktrauschen eliminieren kann. Die Verwendung eines sinusförmigen Taktes kann den Leistungsverbrauch der Takttreiber reduzieren, da die Takttreiber aus kleinen Transistoren aufgebaut sein können, welche kleine Ansteuerfähigkeiten haben (Transistoren mit niedrigen Leistungsverbrauch), da die Ausgangsschwingungsform nicht so sein muss, dass sie steil ansteigt und steil abfällt (das Ausgangssignal muss lediglich dazu dienen, allmählich anzusteigen und allmählich abzufallen). 62 zeigt ein Beispiel der sinusförmigen Takterzeugungsschaltung, die beispielsweise zur Verwendung in der Nebenschaltung 302 anwendbar ist.
  • Wie in 62 gezeigt ist, wird durch Führen der Spannungen (Steuerspannungen) Vcn und Vcp, welche durch die Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltung 130 erhalten werden, wie in 51 gezeigt ist, durch die Verzögerungseinheit, wie in 49 beispielsweise gezeigt ist, ein CMOS-Takt (Rechteckwelle) voller Amplitude in eine Dreieckswelle umgesetzt, und dann wird diese Dreieckswelle durch einen Konstantstromtreiber CD geführt, der nicht lineare Eingangs-/Ausgangs-Charakteristik hat, die Dreieckswelle in eine Sinuswelle umgesetzt (Pseudosinuswelle). Hier wird die Verzögerungseinheit D, welche mit dem Steuersignal (CS) von der Hauptschaltung 301 arbeitet, für den Bereich verwendet, der die Dreieckswelle erzeugt; da die Verzögerung in dieser Verzögerungseinheit D proportional zum Zyklus des Referenztaktes (CKr) ist, wird die Amplitude der Dreieckswelle auf einen konstanten Pegel unabhängig von Schwankungen in der Referenztaktfrequenz gehalten. Folglich hat dieses Beispiel den Vorteil, in der Lage zu sein, die Sinuswelle über einen breiten Frequenzbereich zu erzeugen.
  • 63A bis 63C sind Diagramme, welche Simulationsergebnisse (SPICE-Simulationsergebnisse) für die Sinuswellen-Erzeugungsschaltung von 62 zeigen: 63A zeigt den Fall eines Eingangssignals (Takt) von 40 MHz, 63B den Fall eines Eingangssignals von 100 MHz, und 63C den Fall eines Eingangssignal von 400 MHz. Die Simulation wurde durch Bereitstellen – am Ausgang der Sinuswellen-Erzeugungsschaltung – eines Widerstands R durchgeführt, der einen Widerstandswert beispielsweise gleich einer Hälfte der Kenndatenimpedanz der Übertragungsleitung hat.
  • Wie man aus 63A bis 63C ersehen kann, kann für jede Frequenz (40 MHz, 100 MHz, 400 MHZ) die Sinuswellen-Erzeugungsschaltung von 62 eine zugeführte Rechteckwelle in eine substantielle Sinuswellenschwingungsform umsetzen.
  • 64 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt, das sich mit einem Beispiel der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung unter Verwendung einer PLL-Schaltung befasst.
  • In 64 ist das Bezugszeichen 312 eine Phasenkomparatorschaltung, 134 ist ein Aufwärts-Abwärtszähler, 135 ist ein D/A-Umsetzer, und 321 ist ein spannungs-gesteuerter Oszillator (VCO). Der spannungs-gesteuerte Oszillator 321 ist aus einem Ringoszillator auf gebaut, der beispielsweise durch Kaskadenbildung von drei Schaltungsstufen gebildet ist, von denen jede einen ähnlichen Aufbau wie die Verzögerungseinheit D hat, welche in 49 gezeigt ist, und die Steuerspannungen Vcp und Vcn, welche von der Steuersignal-Erzeugungsschaltung (Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltung 133) ausgegeben werden, werden an die Gates der Steuertransistoren (DTp und DTn) in jeder Stufe angelegt, um die Oszillatorfrequenz zu steuern. Hier weist jede Nebenschaltung 302 die Strom-Spannungs-Umsetzungsschaltung 133 und den spannungsgesteuerten Oszillator 321 auf.
  • Da auf diese Art und Weise die Hauptschaltung 301 die PLL-Schaltung und nicht die DLL-Schaltung verwendet, kann das Ausgangssignal (Zeitgebersignal) sogar in Fällen erzeugt werden, wenn ein vollständiges periodisches Taktsignal nicht erlangt werden kann. Das heißt, sogar wenn beispielsweise Jitter im Eingangsreferenztakt CKr enthalten ist, ist, da die Jitterkomponente durch den spannungs-gesteuerten Oszillator (Ringoszillator) 301 usw. entfernt werden kann, dieses Beispiel besonders vorteilhaft, wenn eine Taktkomponente von den Empfangsdaten wiederentwickelt wird.
  • 65 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt.
  • Bei diesem Beispiel verwendet die Hauptschaltung 301 eine DLL-Schaltung, die einen internen Takt (CKin) ausgibt, der auf den Referenztakt (CKr) verriegelt ist, und es sind Nebenschaltungen 302a bis 302z für die jeweiligen Bits der Multibit-Empfängerschaltungen 303a bis 303z vorgesehen. Die Hauptschaltung 301 ist hier nicht auf die in 60 gezeigte beschränkt, sondern es sind verschiedene andere Anordnungen möglich.
  • Wie in 65 gezeigt ist, weisen die Nebenschaltungen 302a bis 302z (302a) jeweils ein Auswahlorgan 211, eine Verzögerungsleitung 215, zwei Verzögerungseinheiten D und einen Phaseninterpolator 236 auf, jeweils entsprechend dem Auswahlorgan (315), der Verzögerungsleitung 311, den Verzögerungseinheiten (D), und dem Phaseninterpolator (136), die in 60 gezeigt sind, und liefern Zeitgebersignale TSa bis TSz zu entsprechenden Empfängerschaltungen 303a bis 303z, um den zeitlichen Ablauf für die jeweiligen Empfängerschaltungen 303a bis 303z zu steuern, um Signale SSa bis SSz zu verriegeln.
  • In diesem Beispiel ermitteln die Nebenschaltungen 302a bis 302z sequentiell die Pegel des Signals SSa bis SSz in den jeweiligen Empfängerschaltungen 303a bis 303z und steuern die jeweiligen Verzögerungsbeträge, um optimalen Verriegelungszeitablauf bereitzustellen. Insbesondere werden sie Signale von den Empfängerschaltungen sequentiell durch eine Schalteinrichtung 210 (beispielsweise das Signal SSa von der Empfängerschaltung 303a wird ausgewählt) ausgewählt, und das ausgewählte Signal wird zu einem A/D-Umsetzer zur Analog-Digital-Umsetzung (A/D-Umsetzung) geliefert. Dann wird die Auswahl (die Verzögerungshöhe in der Verzögerungsleitung 211) durch das Auswahlorgan 315 über eine Steuerschaltung 230 so gesteuert, um den Signalpegel (um das S/N-Verhältnis zu steigern) zu maximieren. Wenn das Signal SSa in der Empfängerschaltung 303a mit beispielsweise dem optimalen Zeitablauf TSa verriegelt wird, ist der Pegel des Signals SSa maximal. Bei der zehnten Ausführungsform wird daher der Zeitgeber des Zeitgebersignals TSa unter Verwendung dieser Kenndaten bestimmt.
  • Insbesondere wird die Verzögerungshöhe in der Verzögerungsleitung 211 unter Verwendung beispielsweise eines 6-Bit-Digitalsignals gesteuert, und dieses Digitalsignal wird so gesteuert, dass die Signalstärke zur größten in jeder der Empfängerschaltungen 303a bis 303z wird. Hier werden Vorsehungen getroffen, dass die Signalstärke-Optimierungsoperation ausgeführt wird, während ein Spezialsignal für diesen Zweck (beispielsweise eine Bitsequenz "1010...") übertragen wird. Gemäß diesem Beispiel ist der Vorteil der, sogar für parallele Signalübertragung von Mehrfachbits, dass der Operationszeitablauf jeder Empfängerschaltung auch durch Betrachtung der Signalleitungsverzögerung zwischen jedem Bit optimiert werden kann.
  • 66 ist ein Blockdiagramm, welches den Aufbau eines wesentlichen Bereichs der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung zeigt.
  • Bei diesem Beispiel wird, wie bei dem obigen Beispiel, der Empfangszeitgeber für Mehrfachbits für jedes Bit optimiert, und die Hauptschaltung 302 erzeugt ein Signal (interner Takt CKin), der auf den Referenztakt CKr verriegelt ist. Hier sind die Nebenschaltungen 302 (302a bis 302z) wie beim obigen Beispiel für die jeweiligen Bits der Multibit-Empfängerschaltungen 303 (303a bis 303z) vorgesehen, und, wie in 66 gezeigt ist, weist jede Nebenschaltung 302 einen Feinverzögerungs-Steuerblock auf, wobei ein Phaseninterpolator 236 verwendet wird, und steuert den Eingangsabtastzeittakt (CL1, CL2 unter Verwendung eines 6-Bit-Digitalsignals.
  • In 66 ist das Bezugszeichen 212 eine Logik-Kombinationsschaltung, 234 ein Aufwärts-Abwärtszähler und 241 und 242 Empfangslatchschaltungen. Der Phaseninterpolator 236 wird mit den Ausgangssignalen (ϕ1, /ϕ1, /ϕ2, /ϕ2) einer Vierphasen-PLL-Schaltung (250) in der Hauptschaltung 301 beliefert und gibt die Taktsignale CL1 und CL2 aus, um den Abtastzeitablauf der Latchschaltungen 241 und 242 zu steuern. Die Latchschaltungen 241 und 242 bestehen jeweils aus zwei D-Flipflops (D-FFs); das Abtasten durch die beiden Flipflops in der Latchschaltung 241 wird durch den Steuertakt CL1 gesteuert, während das Abtasten durch die beiden Flipflops in der Latchschaltung 242 durch die Steuertakte CL1 bzw. CL2 gesteuert wird.
  • Insbesondere sind in jeder Nebenschaltung 302 (302a bis 302z) zwei Empfangslatchschaltungen 241 und 242 für ein Bit vorgesehen. Die Latchschaltung 242 tastet das Eingangssignal in der Mitte eines Datenempfangsfenster (auch als Bitzelle bezeichnet) ab, während die andere Latchschaltung 242 dieses an der Grenze zwischen zwei benachbarten Bitzellen abtastet. Für diesen Zweck werden die beiden Latchschaltungen 241 und 242 durch die Steuertakte CL1 und CL2 180° außer Phase in Bezug zueinander gesteuert, so dass das Eingangssignal mit einer Abtastrate abgetastet wird, die das Zweifache der üblichen Abtastrate ist. Durch Verwendung der beiden Latchschaltungen 241 und 242 ist es, wenn ein Datenübergang von "0" auf "1" oder von "1" auf "0" zwischen zwei benachbarten Bitzellen auftritt, möglich, zu erfahren, ob der Abtastzeitablauf (die Zeitgabe der Steuertakte CL1 und CL2) in Bezug auf die Daten voreilt oder verzögert wird.
  • Wenn insbesondere ein Datenübergang auftritt, so dass die N-ten Daten gleich "1" sind und die (N+1-ten Daten gleich "0" sind, ist die Sequenz von "D(N), B(N), D(N+1)" gleich "1, 0, 0" oder "1, 1, 0", wobei D(N) das Ausgangssignal der Latchschaltung 241 zeigt, welche das Bitzellenzentrum abtastet, und D(B) das Ausgangssignal der Latchschaltung 242 zeigt, welches die Bitzellengrenze abtastet. Hier zeigt die Sequenz "1, 0, 0", dass der Zeitablauf der Abtaststeuertakte (CL1 und CL2) in Bezug auf die Daten verzögert ist, während die Sequenz "1, 1, 0" zeigt, dass der Zeitablauf der Steuertakte in Bezug auf die Daten voreilt.
  • Wenn danach ein Datenübergang auftritt, so dass die N-ten Daten gleich "0" sind und die (n+1)-ten Daten gleich "1" sind, folgt daraus, wenn die Sequenz von "D(N), B(N), D(N+1)" gleich "0, 0, 1" ist, dass der Zeitablauf der Abtaststeuertakte (CL1 und CL2) in Bezug auf die Daten voreilt. Wenn die Sequenz gleich "0, 1, 1" ist, folgt daraus, dass Zeitablauf des Steuertakts in Bezug auf die Daten verzögert ist.
  • Durch Führen der Ausgangssignale der beiden Latchschaltungen 241 und 242 durch die Logik-Kombinationsschaltung 212 kann danach ein Entscheidungssignal (Aufwärtssignal UP oder Abwärtssignal DN) erlangt werden, welches zeigt, ob die Steuertakte CL1 und CL2 verzögert werden sollten oder voreilen sollten. Dieses Entscheidungssignal (UP, DN) wird durch den Aufwärts-Abwärtszähler 234 gezählt, und der Inhalt wird in ein 6-Bit-Signal (C00, C01, C02; C10, C11, C12) umgesetzt, welches zum Phaseninterpolator 236 geliefert wird, um den Zeitablauf der Steuertakte CL1 und CL2 zu steuern, um dadurch den Signalempfangszeitablauf für maximales S/N-Verhältnis zu optimieren.
  • Hier sollte die Verarbeitung zum Optimieren des Signalempfangszeitablaufs lediglich durchgeführt werden, während ein Signal, welches der Zeitablaufoptimierung gewidmet ist (ein Spezialsignal beispielsweise eine Sequenz "1011010... ") übertragen wird. Auf diese Weise bietet dieses Beispiel die Vorteile, dass der A/D-Umsetzer 220 zum Auswerten der Signalempfangsstärke als analoger Wert wie bei dem obigen Beispiel weggelassen werden kann, und dass die Verarbeitung für die Zeitablaufoptimierung parallel für Mehrfachbits durchgeführt werden kann, ohne sequentiell die Bits durch die Schalteinrichtung 210 auszuwählen zu müssen. Folglich kann in den Fällen, wo das Auftreten eines Übergangs von "0" auf "1" oder "1" auf "0" mit einer vorgeschriebenen Frequenz für jedes Bit garantiert wird (beispielsweise, wenn die Daten durch ein Codierschema, beispielsweise 10B/8B codiert werden), die Verarbeitung zur Empfangszeitablaufoptimierung für jedes Bit parallel mit der Datenübertragung und Empfang durchgeführt werden.
  • 67 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel des Phaseninterpolators 236 (Phaseneinsteller) in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 66 zeigt.
  • Wie in den 66 und 67 gezeigt ist, werden das 6-Bit-Signal (C00, C01, C02; C10, C11, C12) vom Aufwärts-Abwärtszähler 234 und die Ausgangssignale (ϕ1, /ϕ1, ϕ2, /ϕ2) von der Vierphasen-PLL-Schaltung (250) in der Hauptschaltung 301 zum Phaseninterpolator 236 geliefert. Die Differentialeingangssignale für die Differenzverstärkerstufen 2361 und 2362 werden unter Verwendung des 6-Bit-Signals gewichtet. Die Ausgangssignale ((ϕ1, /ϕ1, ϕ2, /ϕ2) von der Vierphasen-PLL-Schaltung werden zu den Eingängen der jeweiligen Differenzverstärkerstufen 2361 und 2362 geliefert, wo sie über eine Schalteinrichtung 2360 umgeschaltet werden, die durch die Steuersignale Sns und /Sns gesteuert wird. Dann werden die Signale, die von den beiden Differenzverstärkerstufen 2361 und 2362 ausgegeben werden, über eine Ausgangsstufe (Komparator) 2363 geführt, um die Steuertakte CL1 und CL2 zu erzeugen, wie im oben erläuterten Fall von 56.
  • 68 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel der Vierphasen-PLL-Schaltung 250 zeigt, die zur Verwendung in der Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung von 66 anwendbar ist.
  • Wie in 68 gezeigt ist, weist die Vierphasen-PLL-Schaltung 250 vier Stufen von Differenzverstärkerblöcken 2511 bis 2514 auf, vier Signalumsetzungsblöcke 2521 bis 2524 und vier Inverter 2531 bis 2534 auf. Das heißt, die vier Differenzverstärkerblöcke 2511 bis 2514 sind kaskadenförmig geschaltet, vorgeschriebene Signale werden zu den Signalumsetzungsblöcken 2521 und 2524 geliefert, und die Signalpegel werden invertiert und es wird Schwingungsformgebung durch die Inverter 2351 und 2354 durchgeführt, um die Vierphasen-Ausgangssignale ϕ1, /ϕ1, ϕ2 und /ϕ2 zu erlangen.
  • 69 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel des Signalumsetzungsblocks 252 (2521 bis 2524) in der Vierphasen-PLL-Schaltung von 68 zeigt, und 70 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel des Differenzverstärkerblocks 251 (2511 bis 2514) in der Vierphasen-PLL-Schaltung von 68 zeigt.
  • Wie in 68 und 69 gezeigt ist, akzeptiert der Signalumsetzungsblock 252 (2521 bis 2524) zwei Eingangssignale (A und B) und erzeugt ein Ausgangssignal (Z). Insbesondere werden die beiden Ausgangssignale vom zweistufigen Differenzverstärkerblock 2512 oder vom vierstufigen Differenzverstärkerblock 2514 in der Vierstufenkaskade der Differenzverstärkerblöcke als Eingangssignale A und B zu jedem Signalumsetzungsblock 252 (2521 bis 2524) geliefert, der das einzige Ausgangssignal Z durch Verarbeitung der beiden Eingangssignale A und B erzeugt. Danach wird das Ausgangssignal Z dem Inverter 253 (2531 bis 2534) zur Pegelinvertierung und Schwingungsformung zugeführt. Die Vierphasen-PLL-Schaltung 250 erzeugt somit die Ausgangssignale ϕ1, /ϕ1, /ϕ2, /ϕ2. Jeder Signalumsetzungsblock 252 gibt hier immer ein Signal "Z" mit einem Pegel "H" aus, wenn das Signal INH auf einem hohen Pegel "H" ist, und gibt ein Signal (Z), dessen Pegel von den Eingangssignalen A und B abhängig ist, wenn das Signal INH auf einen niedrigen Pegel "L" ist und das Steuersignal CTL auf einem hohen Pegel "H" ist, aus.
  • Wie in 68 und 70 gezeigt ist, sind die Differenzverstärkerblöcke 252 (2511 bis 2514) kaskadenförmig angeordnet, so das die Ausgangssignale (OUT1 und OUT2) von den Differenzverstärkerblöcken 2511, 2512 und 2513 als Eingangssignale IN1 und IN2 zu den Differenzverstärkerblöcken 2512, 2513 und 2514 in den entsprechenden nachfolgenden Stufen geliefert werden. Hier werden zum erststufigen Differenzverstärkerblock 2511 die Ausgangssignale von der letzten Stufe (vierte Stufe) des Differenzverstärkerblocks 2514 geliefert. Jeder Differenzverstärkerblock 252 wird aktiviert, wenn das Steuersignal CTL auf einem hohen Pegel "H" ist.
  • 71 ist ein Diagramm, welches die Ausgangssignale der Vierphasen-PLL-Schaltung von 68 zeigt.
  • Die Vierphasen-Ausgangssignale ϕ1, /ϕ2, ϕ1 und /ϕ2, wobei ein Signal bezüglich der Phase um 90° in Bezug auf das nächste verschoben ist, wie in 71 gezeigt ist, werden von der Vierphasen-PLL-Schaltung 250 erlangt, die unter Verwendung der Signalumsetzungsblöcke 252 und der Differenzverstärkerblöcke 252, die in 69 und 70 gezeigt sind, aufgebaut ist. Wie oben angemerkt werden diese Signale ϕ1, ϕ2, /ϕ1 und /ϕ2 zum Phaseninterpolator 236 in der Nebenschaltung 302 geliefert, die beispielsweise in 66 gezeigt ist.
  • Man wird es als vorteilhaft erkennen, dass die Vierphasen-PLL-Schaltung 250, die Signalumsetzungsblöcke 252 und die Differenzverstärkerblöcke 252 bezüglich ihres Aufbaus nicht auf die oben beschriebenen beschränkt sind, sondern dass auch verschiedene andere Schaltungsanordnungen möglich sind.
  • Wie oben beschrieben kann gemäß der beschriebenen Zeitgebersignal-Erzeugungsschaitung das Zeitgebersignal, welches mit dem Referenztakt synchronisiert ist, in jeder Nebenschaltung erzeugt werden, die einen viel einfacheren Aufbau hat als die Hauptschaltung. Durch Verändern der Ansprechgeschwindigkeit der Nebenschaltung gemäß der Frequenz des Referenztaktes wird es außerdem möglich, ein hochgenaues Zeitgebersignal über einen breiten Frequenzbereich zu erzeugen. Das heißt, dass Zeitgeberimpulse, die eine vorher festgelegte Phasendifferenz zueinander haben, synchron mit dem Referenztakt erzeugt werden können, indem viele Nebenschaltungen verwendet werden, die einen einfachen Aufbau haben, und hochgenaue Zeitgebersignale, welche für den Übertragung und Empfang von Hochgeschwindigkeitssignale notwendig sind, unter Verwendung des Schaltungsaufbaus, der einen kleinen Bereich einnimmt, erzeugt werden können.
  • Obwohl die Hauptschaltung und die mehreren Nebenschaltungen innerhalb einer integrierten Halbleiterschaltungseinrichtung (LSI-Chip) vorgesehen sein können, ist es auch möglich, die Hauptschaltung und die Nebenschaltungen entsprechend auf unterschiedlichen integrierten Halbleiterschaltungseinrichtungen aufzubauen. Das heißt, jede Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltung gemäß vorherigen Beispielen kann auch bei einem integrierten Halbleiterschaltungssystem angewandt werden, welches mehrere integrierte Halbleiterschaltungseinrichtungen hat, oder bei einem Multichip-Modul (MCM) oder dgl..
  • Wie oben ausführlich beschrieben können mehrere Zeitgebersignale, die auf den Referenztakt synchronisiert sind und eine vorher festgelegte Phasendifferenz zueinander haben, mit hoher Genauigkeit erzeugt werden, wobei ein einfacher Schaltungsaufbau verwendet wird.
  • Anschließend werden Beispiele des Phaseninterpolators mit Hilfe der beiliegenden Zeichnungen beschrieben.
  • 72 ist ein Blockdiagramm, welches den grundsätzlichen Funktionsaufbau des Phaseninterpolators zeigt, und 73 ist ein Schwingungsformdiagramm, um die Operation des Phaseninterpolators von 72 zu erläutern.
  • In 72 sind die Bezugszeichen 41 und 42 periodische Schwingungsform-Erzeugungsblöcke, 43 ist ein Wichtungssteuerblock, 44 ist ein Summenbildungs-Schwingungsformerzeugungsblock, und 45 ist ein Analog-Digital-Umsetzungsblock.
  • Wie in 72 gezeigt ist, empfängt der analoge periodische Schwingungsformerzeugungsblock 41 ein erstes periodisches Digitalsignal DIS1 und erzeugt eine erste analoge periodische Schwingungsform (f1: siehe 73), deren Wert in einer analogen Weise variiert, und der analoge periodische Schwingungsformerzeugungsblock 42 empfängt ein periodisches zweites Digitalsignal DIS2 und erzeugt eine zweite analoge periodische Schwingungsform (f2: siehe 73), deren Wert in einer analogen Weise variiert. Hier sind das erste periodische Digitalsignal DIS1 und das zweite periodische Digitalsignal DIS2 Signale, die in Bezug zueinander längs der Zeitachse phasen-verschoben sind (Signale mit unterschiedlichen Phasen). Der Phaseninterpolator ist eine Einrichtung, der beispielsweise die Digitalsignale DIS1 und DIS2, die unterschiedliche Phasen haben, akzeptiert und von diesen ein Digitalsignal erzeugt, welches eine beliebige Zwischenphase hat.
  • Die erste analoge periodische Schwingungsform f1 und die zweite analoge periodische Schwingungsform f2 werden im Wichtungssteuerblock 43 gewichtet und im Summenbildungs-Schwingungsform-Erzeugungsblock 44 summiert, der somit eine dritte analoge periodische Schwingungsform erzeugt (f3: siehe 73). Das heißt, die dritte analoge periodische Schwingungsform f3, so dass f3 = (1–x) f1 + f2, wobei 0 ≤ x ≤ 1, wird am Ausgang des Summenbildungs-Schwingungsform-Erzeugungsblocks 44 erhalten.
  • Der Analog-Digital-Umsetzungsblock 45 setzt dann die dritte analoge periodische Schwingungsform f3 in ein Digitalsignal um, welches eine vorgeschriebene Phase hat, welches als drittes periodisches Digitalsignal D0 ausgegeben wird. Hier ist der Analog-Digital-Umsetzungsblock 45 beispielsweise aus einem Komparator aufgebaut, der die dritte periodische analoge Schwingungsform f3 mit der Referenzspannung Vr vergleicht und "0" oder "1" ausgibt.
  • Der Phaseninterpolator kann beispielsweise wie die Phaseninterpolatoren 136 und 236 (55, 60, 61 usw.) in den oben beschriebenen Zeitgebersignal-Erzeugungsschaltungen verwendet werden, wobei man es als vorteilhaft schätzen wird, dass er breit bei verschiedenen anderen Schaltungen verwendet werden kann.
  • 74 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zeigt, und 75 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Aufbaubeispiel des Wichtungssteuerungsblocks im Phaseninterpolators von 74 zeigt. In 74 sind die Bezugszeichen 41a, 41b und 42a, 42b Sinuswellen-Erzeugungsschaltungen, 430 ist eine Wich tungssteuerungsschaltung (Wichtungssteuerungsblock), 440 ist eine Operationsverstärkerschaltung (Summenbildungs-Schwingungsform-Erzeugungsschaltung), und 450 ist eine Komparatorschaltung (Analog-Digital-Umsetzungsschaltung).
  • Wie oben mit Hilfe von 62 erläutert setzt der Phaseninterpolator nach dem Beispiel, welches in 74 gezeigt ist, Rechteckschwingungsformen in Dreiecksschwingungsformen um, wobei die Digitalsignale (Rechteckschwingungen) DIS1 und DIS2 über die Verzögerungsschaltungen 41a und 42a geführt werden, und setzt außerdem die Dreieckschwingungsformen in Sinusschwingungsformen (Pseudosinusschwingungsformen) um, indem die Dreiecksschwingungsformen über die Ansteuerschaltungen (nicht lineare Verstärkerschaltungen) 41b und 42b geführt werden. Diese Sinuswellen (f1 und f2) werden dann in die Wichtungssteuerschaltung 430 geführt, wo sie vorgeschriebenen Wichtungen durch die jeweiligen Wichtungssteuerungsblöcke (4301 und 4302) zugeordnet werden; danach werden die Sinuswellen in der Operationsverstärkerschaltung 440 addiert und die resultierende Welle wird dem Komparator 450 zugeführt.
  • Wie in 75 gezeigt ist, ist der Wichtungssteuerungsblock 4301 (4302) aus mehreren Übertragungsgates (mit der Anzahl n) aufgebaut, die parallel zwischen Eingang und Ausgang vorgesehen sind. Diese n (beispielsweise 16) Übertragungsgates werden zur Verbindung durch Steuersignale C41 bis C4n entsprechend gesteuert, so dass die Sinuswelle f1 (f2) gemäß der Anzahl von Übertragungsgates gewichtet wird, wobei veranlasst wird, eine leitende Verbindung zwischen dem Eingang und Ausgang herzustellen. Insbesondere werden in dem Schaltungsbeispiel von 75 von den Steuersignalen C41 bis C4n eine beliebige Anzahl von Steuersignalen auf den hohen Pegel "H" gesetzt, um zu veranlassen, dass die entsprechende Anzahl von Übertragungsgates eingeschaltet wird und somit die Leitfähigkeit (die Leitfähigkeit an der Innenseite der Operationsverstärkerschaltung 440) verändert wird.
  • In 75 haben die nMOS-Transistoren und die pMOS-Transistoren, welche die jeweiligen Übertragungsgates bilden, die gleiche Größe, wobei jedoch alternativ die nMOS-Transistoren und pMOS-Transistoren, die jedes Übertragungsgate bilden, bezüglich der Größe variiert werden können (beispielsweise, wenn die Gatebreite des kleinsten Transistors 1 sein soll, werden die Gatebreiten der anderen Transistoren auf 1, 1, 1, 2, 1, 3,... entsprechend gesetzt). Im letzteren Fall kann die Sinuswelle f1 (f2) durch Einschalten eines beliebigen Übertragungsgates oder einer beliebigen Anzahl von Übertragungsgates in einer gewünschten Kombination gewichtet werden, d.h., durch Veranlassen, dass zumindest ein Übertragungsgate leitend wird.
  • 76 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zeigt. In 76 ist das Bezugszeichen 4101 eine Auswahlschaltung, 4111 bis 411n sind CMOS-Inverter, 4103 ist eine kapazitive Last, und 4104 ist eine Komparatorschaltung (Komparator).
  • Die Auswahlschaltung 4101 führt Steuerung aus, um die Anzahl k von CMOS-Inverter 4111 bis 411k, zu denen das erste periodische Digitalsignal DIS1 geliefert wird, und die Anzahl n–k der CMOS-Inverter 411k bis 411n, auszuwählen, zu denen das zweite periodische Digitalsignal DIS2 geliefert wird. Das heißt, die Anzahl (k) von CMOS-Invertern, denen das erste periodische Digitalsignal DIS1 zugeführt wird, und die Anzahl (n–k) von CMOS-Invertern, denen das zweite periodische Digitalsignal DIS2 zugeführt wird, wird durch die Auswahlschaltung 4101 gesteuert. Hier ist die Gesamtzahl von CMOS-Invertern 4111 bis 411n beispielsweise 16. Außerdem sind die Ausgänge der CMOS-Inverter 4111 bis 411n gemeinsam miteinander verbunden und mit dem Anschluss (einem Eingangsanschluss des Komparators 4104) gekoppelt, mit dem die kapazitive Last 4103 verbunden ist. Der Komparator 4104 vergleicht das Eingangssignal mit der Referenzspannung Vr (1/2·Vcc) und gibt das periodische Digitalsignal D0 "0" oder "1" aus.
  • Alle CMOS-Inverter 4111 bis 411n nehmen das Digitalsignal DIS1 oder DIS2, eine Rechteckwelle unmittelbar als deren Eingangssignal, wobei jedoch das Ausgangssignal jedes CMOS-Inverters 4111 bis 411n zu einer periodischen analogen Schwingungsform wird, deren Wert in analoger Weise aufgrund der Anwesenheit der kapazitiven Last 4103 variiert. Der Phaseninterpolator der dreizehnten Ausführungsform liefert die Umsetzung der Digitalsignale (DIS1 und DIS2) in analoge Schwingungsformen simultan mit deren Wichtungssteuerung, wobei die Anzahl von CMOS-Invertern, die an das erste und zweite periodische Digitalsignal DS1 bzw. DIS2 angeschaltet sind, gesteuert wird. Der Phaseninterpolator bietet somit den Vorteil, dass keine Notwendigkeit besteht, Sinuswellen-Erzeugungsschaltungen vorzusehen, und die Linearität der Wichtungssteuerung ist hoch.
  • 77 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zeigt.
  • Bei dem Phaseninterpolator des vierzehnten Beispiels werden die Digitalsignale DIS1 und DIS2 durch entsprechende Inverterpaare 42111, 4212 und 4221, 4222 empfangen, und nMOS- und pMOS-Transistoren in jedem von mehreren CMOS-Inverterausgangsstufen 4231 bis 423n und 4241 bis 424n werden durch die Ausgangssignale dieser Inverter 4211, 4212 und 4221, 4222 angesteuert. Hier werden die Ausgangssignale der Ausgangsstufen 4231 bis 423n (4241 bis 424n) über die jeweiligen Transfergates hereingenommen, welche zur Verbindung durch jeweilige Steuersignale C411 bis C41n (C421 bis C42n) gesteuert werden, und werden miteinander verbunden und als ein Eingangssignal zum Komparator 4250 geliefert.
  • Insbesondere verwendet der Phaseninterpolator mehrere CMOS-Inverter zur Wichtungssteuerung, jedoch mit dem Unterschied, dass lediglich die Anzahl von Ausgangsstufen zur Verbindung durch die Steuersignale gesteuert wird, wobei der Eingangsschaltungsaufwand (die Inverter 4211, 4212 und 4221, 4222) gemeinsam vorgesehen sind. Hier werden die nMOS- und pMOS-Transistoren, welche die jeweiligen Ausgangsstufen (und Übertragungsgates) 4231 bis 423n und 4241 bis 424n bilden, so gewählt, dass sie die gleiche Größe haben, und die Anzahl von Ausgangsstufen, die zur Verbindung gesteuert werden, beträgt beispielsweise 16 oder 32.
  • Da die Eingangskapazität der Schaltung unabhängig von Wichtungswerten konstant ist, hat der Phaseninterpolator den Vorteil, dass eine Phasenverschiebung aufgrund der Belastungswirkung in Bezug auf digitale Eingangssignale DIS1 und DIS2 nicht auftritt, wodurch es ermöglicht wird, das Digitalsignal D0 zu erzeugen, welches einen genaueren Zeitgeber (Phasendifferenz) hat.
  • 78 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators der vorliegenden Erfindung zeigt, und 79A und 79B sind Schaltungsdiagramme, welche Beispiel von Transconduktoren im Phaseninterpolator von 78 zeigen.
  • Wie in 78 gezeigt ist, werden im Phaseninterpolator die digitalen Eingangssignale DIS1 und DIS2 in Dreieckswellen durch Integratorschaltungen umgesetzt, die jeweils aus einem Inverter 4501, 4302 und einer kapazitiven Last 4303, 4304 bestehen, und sie werden zu den jeweiligen Transconduktoren (variable Transconduktoren) 4305 und 4306 geliefert. Hier kann jede Integratorschaltung durch Umschalten des Konstantstroms durch das Digitalsignal erhalten werden, wobei verschiedene andere Integratorschaltungen verwendet werden können. Außerdem können Filterschaltungen, die Hochfrequenzkomponenten der Digitalsignale dämpfen, anstelle der Integratorschaltungen verwendet werden.
  • Wie in 79A und 79B gezeigt ist, ist das Transconduktor 4305, 4306 vorgesehen, um ein Stromausgangssignal entsprechend der Eingangsspannung zu extrahieren.
  • Der Transconduktor 4305 von 79A besteht aus pMOS-Transistoren 4351 und 4354, einem nMOS-Transistor 4352 und einem Widerstand 4353, und ist so aufgebaut, dass ein Strom entsprechend der Eingangsspannung (IN), welche an das Gate des Transistors 4352 angelegt wird, zum Transistor 4351 fließt, und der Strom, der durch den Transistor 4354 fließt, der in einer Stromspiegelanordnung mit dem Transistor 4351 verbunden ist, als Stromausgangssignal extrahiert wird.
  • Dagegen besteht der Transconduktor 4305 von 79B aus pMOS-Transistoren 4361, 4364 und 4366 und aus nMOS-Transistoren 4362, 4363 und 6365 und ist so aufgebaut, dass der Strom, der durch den Transistor 4364 fließt, gemäß der Eingangsspannung (IN), die an einen Eingangsanschluss der Differenzschaltung (dem Gate des Transistors 4362) angelegt wird, und der Referenzspannung (1/2·Vcc), die an dessen anderen Eingangsanschluss angelegt wird, als Stromausgangssignal vom Transistor 4366 extrahiert wird, der in einer Stromspiegelanordnung mit dem Transistor 4364 geschaltet ist.
  • Neben der Transconduktoren 4305 und 4306, welche in 79A und 79B gezeigt sind, können verschiedene Transconduktorschaltungen, die auf dem Gebiet von analoger zeitlich stetiger Verarbeitung bekannt sind, für den obigen Zweck verwendet werden.
  • Wie in 78 gezeigt ist, werden, nachdem die Dreiecksschwingungen durch die Transconduktoren 4305 du n4306 in Stromsignale umgesetzt wurden, die Stromsignale an die Widerstandslast 4307 ausgegeben, um eine Wichtungssumme zu erreichen. Der Komparator 4308 vergleicht dann die Wichtungssumme mit der Referenzspannung (1/2·Vcc), um das Digitalsignal D0 zu erzeugen, welches eine vorgeschriebene Phase hat.
  • Der Phaseninterpolator bietet den Vorteil, dass eine hochgenaue Schaltungsausbildung aufgrund des Schaltungsaufbaus möglich wird, um die Umsetzung in Dreieckswellen durchzuführen, und der Schaltungsaufbau, um die Summe zu bilden, separat optimiert werden kann.
  • 80 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zeigt. In 80 entspricht das Bezugszeichen V1+ dem ersten periodischen Digitalsignal DIS1, V1– entspricht dem invertierten Signal (/Dis1) des ersten periodischen Digitalsignals DIS1, V2+ entspricht dem zweiten periodischen Digitalsignal DIS2, und V2– entspricht dem invertierten Signal (/DIS2) des zweiten periodischen Digitalsignals DIS2.
  • Wie in 80 gezeigt ist, ist der analoge periodische Schwingungsformerzeugungsblock und der Summierungsschwingungsform-Erzeugungsblock durch Verbinden der Konstantstromquellen mit Schaltern (4401, 4403 und 4402, 4404) mit den entsprechenden kapazitiven Lasten (4405 und 4406) aufgebaut. Das heißt, wenn das erste digitale Eingangssignal DIS1 (V1+) auf einem hohen Pegel "H" ist, ist in der Konstantstromquelle mit den Schaltern 4401 ein nMOS-Transistor 4414 eingeschaltet und ein pMOS-Transistor 4411 ist ausgeschaltet, und, in der Konstantstromquelle mit den Schaltern 4402 ist ein nMOS-Transistor 4424 ausgeschaltet und ein pMOS-Transistor 4421 eingeschaltet. Als Ergebnis fließt Strom zur kapazitiven Last 4405 über die nMOS-Transistoren 4413 und 4414, und in gleicher Weise fließt Strom zur kapazitiven Last 4406 über die pMOS-Transistoren 4421 und 4422. Wenn umgekehrt das erste digitale Eingangssignal DIS1 bei einem niedrigen Pegel "L" ist, fließt Strom zur kapazitiven Last 4405 über die pMOS-Transistoren 4411 und 4412, und in gleicher Weise fließt Strom zur kapazitiven Last 4406 über die nMOS-Transistoren 4423 und 4424. Das gleiche gilt für das zweite digitale Eingangssignal DIS2 (V2+), welches bezüglich der Phase verschieden ist. Außerdem ist ein Anschluss der kapazitiven Last 4405, deren anderer Anschluss mit dem positiven logischen Eingang des Komparators 4407 verbunden ist, auf einem Zwischenpotential 1/2·'Vcc gehalten, und in gleicher Weise ist ein Anschluss der kapazitiven Last 4406, deren anderer Anschluss mit dem negativen logischen Eingang des Komparators 4407 verbunden ist, ebenfalls auf dem Zwischenpotential (1/2·Vcc) gehalten.
  • Die analoge Summenschwingungsform (die Schwingungsform am anderen Anschluss der kapazitiven Last 4405), welche durch Summieren der positiven logischen periodischen Digitalsignale DIS1 und DIS2 (V1+ und V2+) erlangt wird, wird im Komparator 4407 mit der analogen Summenschwingungsform verglichen (der Schwingungsform an diesem anderen Anschluss der kapazitiven Last 4406), die durch Summierung der negativen periodischen logischen Digitalsignale /DIS1 und /DIS2 (V1– und V2–) erlangt wird, und das periodische Digitalsignal D0 entsprechend dem Ergebnis des Vergleichs wird ausgegeben.
  • Im Phaseninterpolator wird die Wichtungssteuerung durch Ändern der Spannungspegel der Vorspannungssignale (Vcp1, Vcn1; Vcp2, Vcn2) durchgeführt. Schaltungen zum Erzeugen der Vorspannungssignale werden später mit Hilfe der 81 und 82 beschrieben.
  • Auf diese Weise weist im Phaseninterpolator der analoge periodische Schwingungsformerzeugungs- und Summierungsschwingungsform-Erzeugungsblock eine Strompolaritäts-Schalteinrichtung (4411, 4414 und 4421, 4424), um die Polarität des Stroms, der von den Konstantstromquellen (4412, 4413 und 4422, 4423) fließt, auf die gemeinsamen kapazitiven Lasten (4405 und 4406) durch das erste periodische Digitalsignal DIS1 (V1+, V1–) umzuschalten, und die Stromwert-Steuerungseinrichtung (4412, 4413 und 4422, 4423) auf um die Stromwerte der Stromquellen zu steuern. Der Aufbau ist grundsätzlich der gleiche für das zweite periodische Digitalsignal DIS2.
  • Die Konstantstromquelle mit den Schaltern 4401 (4402 bis 4406) ist durch Einfügen des pMOS-Transistors 4412 und des nMOS-Transistors 4413 aufgebaut, welche im Konstantstrommodus auf der Drainseite des pMOS-Transistors 4411 und des nMOS-Transistors 4414 vorgespannt sind, die einen CMOS-Inverter bilden. Alternativ können der pMOS-Tran sistor und der nMOS-Transistor, welche im Konstantstrommodus vorgespannt sind, nicht auf der Drainseite, sondern auf der Source-Seite der Transistoren, die den CMOS-Inverter bilden, eingefügt sein (d.h., zwischen der Hochpegel-Spannungsversorgungsleitung Vcc und der Source des pMOS-Transistors 4411 und zwischen der Niedrigpegel-Spannungsversorgungsleitung Vss und der Source des nMOS-Transistors 4414).
  • Der Phaseninterpolator lässt die Funktion zum Umsetzen des digitalen Eingangssignals in Analogsignale (die Funktion des analogen periodischen Schwingungsform-Erzeugungsblocks) und die Funktion zum Erzeugen der Summe (die Funktion des Summenbildungsschwingungsform-Erzeugungsblocks) zu, die auf einem Endgerät ausgeführt werden. Dies dient dazu, den Schaltungsaufbau zu vereinfachen und den Leistungsverbrauch zu reduzieren.
  • 81 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Beispiel der Schaltung zeigt, um die Vorspannungssignale im Phaseninterpolator von 80 zu erzeugen, und 82 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein weiteres Beispiel der Schaltung zeigt, um die Vorspannungssignale im Phaseninterpolator von 80 zu erzeugen.
  • Wie oben beschrieben wird im Phaseninterpolator, der in 80 gezeigt ist, die Wichtungssteuerung für die periodische Digitalsignale DIS1, DIS2, /DIS1 und /DIS2 durch Ändern des Spannungspegels der Vorspannungssignale Vcp1, Vcn1, Vcp2 und Vcn2 durchgeführt. Beispiele der Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung (4408) zum Erzeugen der Vorspannungssignale sind in 81 und 82 vorgesehen.
  • Wie in 81 gezeigt ist, sind bei einem Beispiel der Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung 4408 mehrere Transistorpaare, von den jedes aus zwei pMOS-Transistoren 4481 und 4482 besteht, die in Serie geschaltet sind, parallel vorgesehen, und, mit der Referenzspannung (Ver), welche an das Gate eines Transistors 4481 in jedem Paar angelegt wird, werden Steuersignale (Digitalsignale) C431 bis C43n an die anderen Transistoren 4482 in den jeweiligen Paaren angelegt, um deren Schaltoperationen zu steuern.
  • Hier sind alle Transistorpaare (4481, 4482) gemeinsam mit einem Anschluss eines nMOS-Transistors 4483 verbunden, so dass die Summe der Ströme, welche durch die Transistorpaare fließen, die durch die Steuersignale C431 bis C43n ausgewählt wurden, zum nMOS-Transistor 4483 fließt. Der Strom, der in den Transistor 4483 fließt, fließt weiter zu einem nMOS-Transistor 4484, der in einer Stromspiegelanordnung geschaltet ist, und auch zu einem pMOS-Transistor 4485, der in Reihe mit dem Transistor 4484 geschaltet ist. Die Vorspannungssignale Vcp1 (Vcp2) und Vcn1 (Vcn2) werden somit über die Transistoren 4485 und 4484 (4483) erhalten. Für den Phaseninterpolator von 80 werden zwei Vorspan nungssignal-Erzeugungsschaltungen benötigt, und zwar eine zum Erzeugen der Vorspannungssignale Vcp1 und Vcn1 und die andere zum Erzeugen der Vorspannungssignale Vcp2 und Vcn2, und die Wichtungssteuerung wird so durchgeführt, dass, wenn die positiven logischen Steuersignale C431 bis C43n zur Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung geliefert werden, welche die Vorspannungssignale Vcp1 und Vcn1 beispielsweise erzeugt, die Komplemente der Steuersignale /C431 bis /C43n zur Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung, welche die Vorspannungssignale Vcp2 und Vcn2 erzeugt, geliefert werden.
  • Auf diese Weise ist die Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung 4408, welche in 81 gezeigt ist, als Stromausgabe-D/A-Umsetzer ausgebildet, und die Stromquelle an der gesteuerten Seite erlangt einen variablen Konstantstrom durch Spiegeln des Stroms, der durch den D/A-Umsetzer empfangen wird, unter Verwendung der Stromspiegelschaltung, und erzeugt die Vorspannungssignale Vcp1 (Vcp2) und Vcn1 (Vcn2), die einen vorher festgelegten Spannungspegel haben, der für die Steuersignale C431 bis C43n geeignet ist. Da die Stromquelle an der Steuerseite bezüglich des Aufbaus vereinfacht werden kann, ist der Vorteil so, dass die Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung mit einem relativ kleinen Schaltungsaufwand realisierbar ist.
  • 82 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein alternatives Beispiel der Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung im Phaseninterpolator von 80 zeigt.
  • Wie in 82 gezeigt ist, ist bei dem alternativen Beispiel der Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung 4408 der Drain jeder der mehreren pMOS-Transistoren 4486, von denen jeder mit der Referenzspannung (Vr) beliefert wird, mit einem Anschluss (der Source) eines jeden der pMOS-Transistoren 4487 und 4488 verbunden, deren Schaltoperationen durch die Steuersignale (Digitalsignale) C441 bis C44n gesteuert werden. Hier werden die Transistoren 4487 in den jeweiligen Transistorpaaren an ihren Gates mit den entsprechenden Steuersignalen C441 bis C44n beliefert, während die Transistoren 4488 in den jeweiligen Transistorpaaren an ihren Gates mit den Steuersignalen (/C441 bis /C44n) beliefert werden, die durch die jeweiligen Inverter 4489 invertiert wurden. Folglich ist in jedem Transistorpaar einer der Transistoren 4487 oder 4488 eingeschaltet und der andere ist ausgeschaltet.
  • Die anderen Anschlüsse (die Drains) der Transistoren 4487 in den jeweiligen Transistorpaaren sind zusammengeschaltet, so dass die Summe der Ströme, welche durch die Transistoren 4487 im Einschaltezustand fließt, zu einem nMOS-Transistor 44832 fließt. In gleicher Weise sind die anderen Anschlüsse der Transistoren 4488 in den jeweiligen Transistorpaaren zusammengeschaltet, so dass die Summe der Ströme, über die Transistoren 4488 im Einschaltezustand fließt, zu einem nMOS-Transistor 44831 fließt. Dann fließen in der glei chen Weise, wie mit Hilfe von 81 erläutert wurde, die Ströme, welche über die Transistoren 44831 und 44832 fließen, zu nMOS-Transistoren 44841 und 44842, die entsprechend in einer Stromspiegelkonfiguration geschaltet sind, und auch zu pMOS-Transistoren 44851 und 44852, die seriell mit den jeweiligen Transistoren 44841 und 44842 geschaltet sind, womit somit die Vorspannungssignale Vcp1, Vcn1 und Vcp2, Vcn2 erhalten werden.
  • Auf diese Weise wird in der Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung 4408, welche in 82 gezeigt ist, das Ausgangssignal des Stromsteuerungs-D/A-Umsetzers zum Steuern des Ausgangssignalwerts der Stromquelle zur Verbindung mit den komplementären Ausgangssignalknoten umgeschaltet. Da hier der Ausgangsstrom des D/A-Umsetzers immer als konstant beibehalten wird, wird die Ausgangstransistorspannung des D/A-Umsetzers konstant gehalten, wobei der resultierende Vorteil dahin ist, dass Übergangsantwortspitzen, wie diese gesehen werden, wenn der Strom unterbrochen wird, beseitigt sind. Außerdem kann der Stromverbrauch des Stromausgangs-D/A-Umsetzers ebenfalls reduziert werden (ungefähr um eine Hälfte).
  • 83 ist ein Schaltungsdiagramm, welches den Aufbau einer variablen Stromquelle (4500) als modifiziertes Beispiel von 80 zeigt. Dieses Beispiel ist auf jede Konstantstromquelle (4401 bis 4404) im oben beschriebenen Phaseninterpolator von 80 anwendbar. In der Stromquelle 4500, welche in 83 gezeigt ist, sind die Vorspannungssignale (Vorspannungen) Vcp und Vcn Konstantspannungspegelsignale, und die Wichtungssteuerung wird unter Verwendung der Steuersignale C451 bis C45n durchgeführt.
  • Wie in 83 gezeigt ist, unterscheidet sich die variable Stromquelle 4500 dieses modifizierten Beispiels gegenüber der Konstantstromquelle 4401 in 80 dahingehend, dass die Transistoren 4501 und 4503 (entsprechend den Transistoren 4412 und 4413), zu denen die Vorspannungssignale Vcp (Vcp1) und Vcn (Vcn1) geliefert werden, in mehreren Paaren vorgesehen sind und ein pMOS-Transistor 4506 und ein nMOS-Transistor 4508 zwischen den Transistoren 4501 und 4503 in jedem Paar vorgesehen sind. Hier werden die positiven logischen Steuersignale C451 bis C45n zu den Gates der Transistoren 4508 in den jeweiligen Paaren geliefert, während die Steuersignale (/C451 bis /C45n), die durch die jeweiligen Inverter 4507 invertiert wurden, zu den Gates der Transistoren 4506 in den jeweiligen Paaren geliefert werden. Der Knotenpunkt zwischen den Transistoren 4506 und 4508 in jedem Paar ist zusammengeschaltet mit den entsprechenden Knotenpunkten in den anderen Paaren, um ein Ausgangssignal "aus" zu erzeugen (Ausgangsanschluss). Der Ausgangsanschluss "out" ist beispielsweise mit einem Anschluss der kapazitiven Last (4405 oder 4406) und dem anderen Eingangsanschluss des Komparators (4407), wie in 80 gezeigt ist, verbunden.
  • Auf diese Weise steuert die variable Stromquelle des in 83 gezeigten modifizierten Beispiels die Anzahl von Ausgangstransistoren (4506 und 4508) im Stromspiegel, um die variable Stromquelle zu erlangen, und hält die Gatevorspannung (Vorspannungssignale Vcp und Vcn) der Stromspiegel-Betriebstransistoren (4502 und 4503) immer auf einem konstanten Pegel. Dies dient dazu, die Stromstabilität zu verbessern. Außerdem hat die variable Stromquelle des modifizierten Beispiels den Vorteil einer ausgezeichneten Linearität, da die Stromsteuerung durch Steuern der Anzahl der Transistoren erreicht wird.
  • 84 ist ein Schaltungsdiagramm, welches ein Aufbaubeispiel eines Bereichs des Phaseninterpolators zeigt, bei dem eine Klemmschaltung 4600 zwischen den beiden Eingangsanschlüssen des Komparators 4407 im Phaseninterpolator von 80 vorgesehen ist.
  • Wenn die Klemmschaltung 4600 vorgesehen ist, beispielsweise zwischen den beiden Eingangsanschlüssen (den Knoten, wo analoge Schwingungsformen durch Summierung erzeugt werden) des Komparators 4407 im Phaseninterpolator von 80, wie in 84 gezeigt ist, werden die gemeinsamen Knotenpotentiale dieser Knotenpunkte durch die Klemmschaltung 4600 konstant gehalten, sogar dann, wenn es ein Ungleichgewicht in den Stromwerten der Stromwellen gibt. Als Ergebnis kann der Komparator 4407 in der nachfolgenden Stufe immer den Vergleichsbetrieb unter einem konstanten Zustand durchführen, und es kann somit die Zeitgebergenauigkeit verbessert werden.
  • Die in 84 gezeigte Klemmschaltung 4600 ist so aufgebaut, dass 1/2·Vcc (Referenzspannung) an die Gates von zwei nMOS-Transistoren 4601 und 4602, die seriell geschaltet sind, und auch den Knotenpunkt zwischen diesen Transistoren 4601 und 4602 angelegt wird, um die Spannung zwischen den beiden Eingangsanschlüssen des Komparators 4407 zu klemmen. Für die Klemmschaltung 4600 sind verschiedene Anordnungen, die anders sind als die in 84 gezeigte, anwendbar.
  • 85 ist ein Diagramm, um ein Aufbaubeispiel des Phaseninterpolators zu erläutern. In 85 zeigt die Horizontalachse einen D/A-Eingangscode, d.h., die Anzahl von Transistoren, die durch Steuersignale ausgewählt (geschaltet) sind, und die Vertikalachse zeigt den Ausgangsstrom als Summe der Ströme, welche durch die ausgewählten Transistoren fließen.
  • Wie insoweit beschrieben, wählt, um die Wichtungssteuerung zum Steuern der Wichtung in jeder analogen periodischen Schwingungsform zu steuern, der Phaseninterpolator mehrere Transistoren aus, beispielsweise von der gleichen Größe unter Verwendung von Steuersignalen (Digitalsignalen), um dadurch die Anzahl von Transistoren zu steuern, die anzuschalten sind und somit den Ausgangsstrom einzustellen.
  • Die Kenndatenkurve LL1 in 85 zeigt die Beziehung zwischen dem Ausgangsstrom und der Anzahl von Transistoren, die angeschaltet sind, wenn die Transistoren mit der gleichen Größe durch die Steuersignale ausgewählt sind. Wie gezeigt ist, ist die Beziehung durch eine nichtlineare Kurve dargestellt.
  • Im Hinblick darauf wird die Größe jedes Transistors so eingestellt, dass die Beziehung zwischen den Ausgangstrom und der Anzahl von Transistoren, welche durch die Steuersignale gesteuert werden, zu einer Geraden wird, wie durch die Kennlinienkurve LL2 in 85 gezeigt ist.
  • Beispielsweise wird in der Vorspannungssignal-Erzeugungsschaltung, welche in 81 gezeigt ist, die Anzahl von Transistoren 4482, bei denen veranlasst wird, leitend zu werden, gemäß den Steuersignalen C431 bis C43n gesteuert, und die Summe der Ströme, welche über die leitenden Transistoren 4482 fließen, fließt zum Transistor 4483. Wenn dies auf einen derartigen Aufbau angewandt wird, wird die Größe jedes Transistors 4482 (4481) so eingestellt, dass eine lineare Beziehung zwischen dem Strom (Ausgangsstrom), der zum Transistor 4483 fließt, und der Anzahl von Transistoren 4482, die gemäß den Steuersignalen C431 bis C43n leitend sind, fließt. Diese Transistorgrößeneinstellung kann nicht nur für Transistoren im oben beschriebenen Strom-D/A-Umsetzer angewandt werden, sondern auch bei Transistoren (beispielsweise Transistoren 4483, 4484, 4485 usw.) in Verbindung mit der Stromspiegelschaltung, usw., um nichtlineare Komponenten, welche in der Stromspiegelschaltung auftreten, usw., zu kompensieren.
  • Auf diese Weise wird es möglich, die Zeitgebergenauigkeit der Signale, welche der Phaseninterpolator ausgibt, zu verbessern.
  • Viele verschiedene Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung können erdacht werden, ohne den Rahmen der vorliegenden Erfindung zu verlassen, wobei verstanden sein sollte, dass die vorliegende Erfindung nicht auf die speziellen Ausführungsformen begrenzt ist, die in dieser Ausführung beschrieben wurde, mit der Ausnahme, wie diese in den beigefügten Patentansprüchen definiert ist.

Claims (8)

  1. Phaseninterpolator (136, 236), der aufweist: eine analoge periodische Schwingungserzeugungseinrichtung (41, 42) zum Erzeugen mehrerer analoger periodischer Schwingungsformen (f1, f2), deren Werte in analoger Weise variieren, von periodischen Digitalsignalen (DIS1, DIS2), deren Amplituden Digitalwerte zeigen; eine Wichtungssteuerungseinrichtung (43) zum Steuern der Wichtung jeder der analogen periodischen Schwingungsformen (f1, f2); eine Summierungsschwingungsform-Erzeugungseinrichtung (44) zum Erzeugen einer summierten Schwingungsform (f3) durch Summieren mehrerer analoger periodischer Schwingungsformen, welche durch die Wichtungssteuerungseinrichtung (43) gewichtet wurden, von periodischen Digitalsignalen (DIS1, DIS2), die längs der Zeitachse angezeigt werden; und eine Analog-Digital-Umsetzungseinrichtung (45) zum Umsetzen der summierten Schwingungsform (f3) in eine digitale Schwingungsform (D0), wobei die Analog-Digital-Umsetzungseinrichtung (45) ein Komparator ist, um die summierte Schwingungsform (f3) mit einem Referenzpegel (Vr) zur Umsetzung in die digitale Schwingungsform (D0) zu vergleichen, dadurch gekennzeichnet, dass die Analog-Digital-Umsetzungseinrichtung (45) ein Komparator ist, der eine Referenzspannung (Vr) empfängt und diese summierte Schwingungsform (f3) mit der Referenzspannung (Vr) vergleicht, um die summierte Schwingungsform (f3) in die digitale Schwingungsform (D0) umzusetzen.
  2. Phaseninterpolator (136, 236) nach Anspruch 1, wobei die analoge periodische Schwingungsformerzeugungseinrichtung (41, 42) eine Sinuswellen-Erzeugungsschaltung (41a, 41b, 42a, 42b) aufweist und die Wichtungssteuerungseinrichtung (430) mehrere (n) Übertragungsgates aufweist, die parallel geschaltet sind und zur Verbindung gesteuert sind.
  3. Phaseninterpolator (136, 236) nach Anspruch 2, wobei jedes Übertragungsgate in der Wichtungssteuerungseinrichtung (430) einen Transistor der gleichen Größe hat, und die Wichtung der analogen periodischen Schwingungsform (f1, f2) durch Steuern der Anzahl von Übertragungsgates gesteuert wird, wobei veranlasst wird, dass diese leiten.
  4. Phaseninterpolator (136, 236) nach Anspruch 2, wobei jedes Übertragungsgate in der Wichtungssteuereinrichtung (430) einen Transistor einer verschiedenen Größe hat, und die Wichtung der analogen periodischen Schwingungsform (f1, f2) gesteuert wird, indem veranlasst wird, dass zumindest ein Übertragungsgate, welches einen Transistor einer vorgeschriebenen Größe hat, leitfähig ist.
  5. Phaseninterpolator (136, 236) nach Anspruch 1, wobei die analoge periodische Schwingungsformerzeugungseinrichtung (41, 42) mehrere (n) CMOS-Inverter (4111, 4112, 4113,... 411n) aufweist und die Wichtungssteuerungseinrichtung (4101) die Anzahl (k) von CMOS-Invertern (4111, 4112, 4113,... 411n) steuert, um angeschaltet zu sein.
  6. Phaseninterpolator (136, 236) nach Anspruch 1, wobei die analoge periodische Schwingungsformerzeugungseinrichtung (41, 42) mehrere (n) CMOS-Inverterausgangsstufen (4231, 4232,... 423n, 4241, 4242,... 424n) aufweist und die Wichtungssteuerungseinrichtung (43) die Anzahl von Ausgangstransistoren steuert, welche die mehreren (k) CMOS-Inverterausgangsstufen (4231, 4232,... 423n, 4241, 4242,... 424n) bilden.
  7. Phaseninterpolator (136, 236) nach Anspruch 1, wobei die analoge periodische Schwingungsformerzeugungseinrichtung (41, 42) eine Hochfrequenz-Dämpfungsschaltung ist, um Hochfrequenzkomponenten des periodischen Digitalsignals (DIS1, DIS2) zu dämpfen, und die Wichtungssteuerungseinrichtung (43) ein Ausgangssignal der Hochfrequenz-Dämpfungsschaltung in einem Strom mittels eines variablen Transconduktors (4305, 4306) umsetzt und den umgesetzten Strom an einen gemeinsamen Anschluss anlegt.
  8. Phaseninterpolator (136, 236) nach Anspruch 1, wobei die analoge periodische Schwingungsformerzeugungseinrichtung (41, 42) eine Integratorschaltung ist.
DE69837689T 1997-06-12 1998-06-10 Zeitgeberschaltung, Vorrichtung und System für integrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem Expired - Lifetime DE69837689T2 (de)

Applications Claiming Priority (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15542997 1997-06-12
JP15542997A JP3961072B2 (ja) 1997-06-12 1997-06-12 半導体装置及びそのタイミング調整方法
JP225498 1998-01-08
JP225498 1998-01-08
JP7940198 1998-03-26
JP07940198A JP4063392B2 (ja) 1998-03-26 1998-03-26 信号伝送システム
JP13561098 1998-05-18
JP13561098A JP3955150B2 (ja) 1998-01-08 1998-05-18 位相インターポレータ、タイミング信号発生回路、および、該タイミング信号発生回路が適用される半導体集積回路装置並びに半導体集積回路システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69837689D1 DE69837689D1 (de) 2007-06-06
DE69837689T2 true DE69837689T2 (de) 2007-08-23

Family

ID=27453587

Family Applications (4)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69837689T Expired - Lifetime DE69837689T2 (de) 1997-06-12 1998-06-10 Zeitgeberschaltung, Vorrichtung und System für integrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem
DE69841282T Expired - Lifetime DE69841282D1 (de) 1997-06-12 1998-06-10 egrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem
DE69840135T Expired - Lifetime DE69840135D1 (de) 1997-06-12 1998-06-10 egrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem
DE69833467T Expired - Lifetime DE69833467T2 (de) 1997-06-12 1998-06-10 Zeitgeberschaltung, Vorrichtung und System für integrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem

Family Applications After (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69841282T Expired - Lifetime DE69841282D1 (de) 1997-06-12 1998-06-10 egrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem
DE69840135T Expired - Lifetime DE69840135D1 (de) 1997-06-12 1998-06-10 egrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem
DE69833467T Expired - Lifetime DE69833467T2 (de) 1997-06-12 1998-06-10 Zeitgeberschaltung, Vorrichtung und System für integrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem

Country Status (5)

Country Link
US (4) US6247138B1 (de)
EP (4) EP1492121B1 (de)
KR (4) KR100313820B1 (de)
DE (4) DE69837689T2 (de)
TW (1) TW387065B (de)

Families Citing this family (265)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5978379A (en) 1997-01-23 1999-11-02 Gadzoox Networks, Inc. Fiber channel learning bridge, learning half bridge, and protocol
JP4197755B2 (ja) 1997-11-19 2008-12-17 富士通株式会社 信号伝送システム、該信号伝送システムのレシーバ回路、および、該信号伝送システムが適用される半導体記憶装置
EP0953982B1 (de) * 1998-04-28 2008-08-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Eingangsschaltung
TW440767B (en) * 1998-06-02 2001-06-16 Fujitsu Ltd Method of and apparatus for correctly transmitting signals at high speed without waveform distortion
US7430171B2 (en) 1998-11-19 2008-09-30 Broadcom Corporation Fibre channel arbitrated loop bufferless switch circuitry to increase bandwidth without significant increase in cost
US6285216B1 (en) * 1998-12-17 2001-09-04 United Microelectronics Corporation High speed output enable path and method for an integrated circuit device
US6636993B1 (en) * 1999-02-12 2003-10-21 Fujitsu Limited System and method for automatic deskew across a high speed, parallel interconnection
JP3789247B2 (ja) * 1999-02-26 2006-06-21 Necエレクトロニクス株式会社 クロック周期検知回路
US6111796A (en) * 1999-03-01 2000-08-29 Motorola, Inc. Programmable delay control for sense amplifiers in a memory
US6654897B1 (en) * 1999-03-05 2003-11-25 International Business Machines Corporation Dynamic wave-pipelined interface apparatus and methods therefor
US6928128B1 (en) * 1999-05-03 2005-08-09 Rambus Inc. Clock alignment circuit having a self regulating voltage supply
US6424194B1 (en) 1999-06-28 2002-07-23 Broadcom Corporation Current-controlled CMOS logic family
JP2001156255A (ja) * 1999-11-25 2001-06-08 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路
TW483255B (en) * 1999-11-26 2002-04-11 Fujitsu Ltd Phase-combining circuit and timing signal generator circuit for carrying out a high-speed signal transmission
US6961363B1 (en) * 1999-12-02 2005-11-01 International Business Machines Corporation Frequency look-ahead and link state history based scheduling in indoor wireless pico-cellular networks
US7315599B1 (en) * 1999-12-29 2008-01-01 Intel Corporation Skew correction circuit
IT1311463B1 (it) * 1999-12-31 2002-03-12 Cit Alcatel Metodo di recupero del segnale d'orologio in un sistema ditelecomunicazioni e relativo circuito.
JP4301680B2 (ja) * 2000-02-29 2009-07-22 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
JP3495311B2 (ja) * 2000-03-24 2004-02-09 Necエレクトロニクス株式会社 クロック制御回路
AU2001257348A1 (en) * 2000-04-28 2001-11-12 Broadcom Corporation Methods and systems for adaptive receiver equalization
US6658580B1 (en) * 2000-05-20 2003-12-02 Equipe Communications Corporation Redundant, synchronous central timing systems with constant master voltage controls and variable slave voltage controls
JP3667196B2 (ja) * 2000-05-26 2005-07-06 Necエレクトロニクス株式会社 タイミング差分割回路
US7006635B2 (en) * 2000-08-31 2006-02-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method and apparatus for clock synchronization using quantum mechanical non-locality effects
US6889272B1 (en) * 2000-11-03 2005-05-03 Applied Micro Circuits Corporation Parallel data bus with bit position encoded on the clock wire
WO2002047063A1 (fr) * 2000-12-07 2002-06-13 Hitachi, Ltd. Circuit integre a semiconducteur, dispositif d'attaque de cristaux liquides et systeme d'affichage a cristaux liquides
JP4592179B2 (ja) 2000-12-19 2010-12-01 ルネサスエレクトロニクス株式会社 ディレイロックドループ、当該ディレイロックドループを含む半導体装置およびクロック同期により動作するシステムのための制御方法
DE10064929A1 (de) * 2000-12-23 2002-07-04 Alcatel Sa Verfahren und Kompensationsmodul zur Phasenkompensation von Taktsignalen
US6304119B1 (en) * 2000-12-27 2001-10-16 Chroma Ate Inc. Timing generating apparatus with self-calibrating capability
US7050512B1 (en) * 2001-01-08 2006-05-23 Pixelworks, Inc. Receiver architecture
JP3558599B2 (ja) * 2001-02-02 2004-08-25 日本電気株式会社 データ伝送システム及びデータ伝送方法
US6675272B2 (en) 2001-04-24 2004-01-06 Rambus Inc. Method and apparatus for coordinating memory operations among diversely-located memory components
US8391039B2 (en) 2001-04-24 2013-03-05 Rambus Inc. Memory module with termination component
WO2002095943A2 (en) * 2001-05-21 2002-11-28 Vasily Grigorievich Atyunin Programmable self-calibrating vernier and method
JP3918145B2 (ja) * 2001-05-21 2007-05-23 株式会社ルネサステクノロジ メモリコントローラ
US7194059B2 (en) * 2001-08-17 2007-03-20 Zarlink Semiconductor, Inc. Method and apparatus for skip-free retiming transmission of digital information
WO2003021499A1 (en) * 2001-08-29 2003-03-13 Morphics Technology Inc. Integrated circuit chip design
US6504438B1 (en) * 2001-09-17 2003-01-07 Rambus, Inc. Dual loop phase lock loops using dual voltage supply regulators
KR100487637B1 (ko) * 2001-09-20 2005-05-03 주식회사 하이닉스반도체 디지털 지연 라인
JP4308461B2 (ja) * 2001-10-05 2009-08-05 ラムバス・インコーポレーテッド 半導体記憶装置
US6930524B2 (en) * 2001-10-09 2005-08-16 Micron Technology, Inc. Dual-phase delay-locked loop circuit and method
US6920540B2 (en) * 2001-10-22 2005-07-19 Rambus Inc. Timing calibration apparatus and method for a memory device signaling system
US6759911B2 (en) 2001-11-19 2004-07-06 Mcron Technology, Inc. Delay-locked loop circuit and method using a ring oscillator and counter-based delay
US7203259B2 (en) * 2002-01-02 2007-04-10 Intel Corporation Phase interpolator
US7103126B2 (en) * 2002-01-17 2006-09-05 Micron Technology, Inc. Method and circuit for adjusting the timing of output data based on the current and future states of the output data
US20030135675A1 (en) * 2002-01-17 2003-07-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Configurable synchronous or asynchronous bus interface
JP4107847B2 (ja) * 2002-02-01 2008-06-25 富士通株式会社 タイミング信号発生回路および受信回路
AU2002230357A1 (en) * 2002-02-14 2003-09-04 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Seamless clock
GB2385728B (en) * 2002-02-26 2006-07-12 Fujitsu Ltd Clock recovery circuitry
US7035368B2 (en) * 2002-03-18 2006-04-25 Texas Instruments Incorporated High speed parallel link receiver
US6642760B1 (en) * 2002-03-29 2003-11-04 Rambus, Inc. Apparatus and method for a digital delay locked loop
US6621316B1 (en) 2002-06-20 2003-09-16 Micron Technology, Inc. Synchronous mirror delay (SMD) circuit and method including a counter and reduced size bi-directional delay line
US7047384B2 (en) * 2002-06-27 2006-05-16 Intel Corporation Method and apparatus for dynamic timing of memory interface signals
US7085993B2 (en) * 2002-07-29 2006-08-01 International Business Machine Corporation System and method for correcting timing signals in integrated circuits
US6727740B2 (en) 2002-08-29 2004-04-27 Micron Technology, Inc. Synchronous mirror delay (SMD) circuit and method including a ring oscillator for timing coarse and fine delay intervals
EP1394972B1 (de) * 2002-09-02 2006-03-01 STMicroelectronics S.r.l. Hochgeschwindigkeitschnittstelle für Funkanlagen
US7123675B2 (en) * 2002-09-25 2006-10-17 Lucent Technologies Inc. Clock, data and time recovery using bit-resolved timing registers
JP2004127147A (ja) * 2002-10-07 2004-04-22 Hitachi Ltd デスキュー回路およびそれを用いたディスクアレイ制御装置
WO2004046943A1 (ja) * 2002-11-19 2004-06-03 Fujitsu Limited 信号処理回路
US7356720B1 (en) * 2003-01-30 2008-04-08 Juniper Networks, Inc. Dynamic programmable delay selection circuit and method
US6937076B2 (en) * 2003-06-11 2005-08-30 Micron Technology, Inc. Clock synchronizing apparatus and method using frequency dependent variable delay
KR100583951B1 (ko) * 2003-07-11 2006-05-26 삼성전자주식회사 메모리 시스템 및 이 시스템의 타이밍 조절 방법
DE10331829B4 (de) * 2003-07-14 2009-04-16 Qimonda Ag Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung einer Referenzspannung
US6930932B2 (en) * 2003-08-27 2005-08-16 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Data signal reception latch control using clock aligned relative to strobe signal
JP4100300B2 (ja) * 2003-09-02 2008-06-11 セイコーエプソン株式会社 信号出力調整回路及び表示ドライバ
JP4632652B2 (ja) * 2003-10-10 2011-02-16 日本電気株式会社 量子暗号鍵配布システム及びそれに用いる同期方法
KR100512940B1 (ko) * 2003-10-27 2005-09-07 삼성전자주식회사 데이터 전송 시스템 및 방법
JP4237038B2 (ja) * 2003-12-01 2009-03-11 エルピーダメモリ株式会社 半導体集積回路装置
US6958634B2 (en) * 2003-12-24 2005-10-25 Intel Corporation Programmable direct interpolating delay locked loop
US7310751B2 (en) * 2004-02-20 2007-12-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Timeout event trigger generation
JP2005244479A (ja) * 2004-02-25 2005-09-08 Fujitsu Ltd 伝送装置
JP3982517B2 (ja) * 2004-05-12 2007-09-26 日本電気株式会社 データ伝送システム、制御装置及びその方法
KR100608365B1 (ko) * 2004-05-17 2006-08-08 주식회사 하이닉스반도체 메모리 장치의 내부 제어 신호를 측정하는 방법 및 장치
GB0413071D0 (en) 2004-06-12 2004-07-14 Texas Instruments Ltd Triangulating phase interpolator
US7043392B2 (en) * 2004-06-16 2006-05-09 Intel Corporation Interpolator testing system
JP4291225B2 (ja) * 2004-06-30 2009-07-08 富士通株式会社 パラレルデータを受信する装置および方法
DE102004032547A1 (de) * 2004-07-06 2006-02-02 Atmel Germany Gmbh Transponder mit einer Taktversorgungseinheit
US7149145B2 (en) * 2004-07-19 2006-12-12 Micron Technology, Inc. Delay stage-interweaved analog DLL/PLL
JP4419067B2 (ja) * 2004-07-26 2010-02-24 株式会社日立製作所 ディジタルインターフェースを有する半導体装置、メモリ素子及びメモリモジュール
US7301831B2 (en) 2004-09-15 2007-11-27 Rambus Inc. Memory systems with variable delays for write data signals
US7173877B2 (en) * 2004-09-30 2007-02-06 Infineon Technologies Ag Memory system with two clock lines and a memory device
EP1643644B1 (de) * 2004-09-30 2017-07-12 Infineon Technologies AG Verzögerungsschaltung mit akkurater Zeit-Frequenz-Wandlung
US7130226B2 (en) * 2005-02-09 2006-10-31 Micron Technology, Inc. Clock generating circuit with multiple modes of operation
US7412618B2 (en) * 2005-02-11 2008-08-12 International Business Machines Corporation Combined alignment scrambler function for elastic interface
US7461287B2 (en) * 2005-02-11 2008-12-02 International Business Machines Corporation Elastic interface de-skew mechanism
US7583772B2 (en) * 2005-02-22 2009-09-01 Broadcom Corporation System for shifting data bits multiple times per clock cycle
JP2006260190A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Fujitsu Ltd マージンレス判定回路
JP2006295668A (ja) * 2005-04-13 2006-10-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 信号発生装置および方法ならびに半導体集積回路システム
EP1878116A4 (de) * 2005-04-18 2010-04-07 Agency Science Tech & Res Zeitverzögerungsvorrichtung
US20060245473A1 (en) * 2005-04-28 2006-11-02 Cheng Roger K Integrating receivers for source synchronous protocol
US7602859B2 (en) * 2005-04-28 2009-10-13 Intel Corporation Calibrating integrating receivers for source synchronous protocol
KR100679261B1 (ko) * 2005-05-10 2007-02-05 삼성전자주식회사 위상 인터폴레이션 회로 및 그에 따른 위상 인터폴레이션신호의 발생방법
KR100615700B1 (ko) 2005-08-23 2006-08-28 삼성전자주식회사 메모리 제어장치 및 그의 메모리 제어방법
US7366966B2 (en) * 2005-10-11 2008-04-29 Micron Technology, Inc. System and method for varying test signal durations and assert times for testing memory devices
JP4955250B2 (ja) 2005-10-14 2012-06-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及びそのテスト方法
KR100672033B1 (ko) * 2005-10-14 2007-01-19 삼성전자주식회사 두 개의 입력 기준 클럭을 가지는 지연동기루프회로, 이를포함하는 클럭 신호 발생 회로 및 클럭 신호 발생 방법
JP4751178B2 (ja) * 2005-10-27 2011-08-17 エルピーダメモリ株式会社 同期型半導体装置
US7379382B2 (en) * 2005-10-28 2008-05-27 Micron Technology, Inc. System and method for controlling timing of output signals
US7614737B2 (en) * 2005-12-16 2009-11-10 Lexmark International Inc. Method for identifying an installed cartridge
US7375558B2 (en) * 2005-12-21 2008-05-20 Integrated Device Technology, Inc. Method and apparatus for pre-clocking
KR100759786B1 (ko) * 2006-02-01 2007-09-20 삼성전자주식회사 반도체 장치의 지연동기루프 회로 및 지연동기루프제어방법
FR2901930B1 (fr) * 2006-05-31 2008-09-05 Valeo Equip Electr Moteur Procede et dispositif de generation de signaux binaires dephases et leur utilisation
KR100809690B1 (ko) * 2006-07-14 2008-03-07 삼성전자주식회사 저속 테스트 동작이 가능한 반도체 메모리 장치 및 반도체메모리 장치의 테스트 방법
US7908528B1 (en) * 2006-10-09 2011-03-15 Altera Corporation Phase-detector-less method and apparatus for minimizing skew between bonded channel groups
US20080084955A1 (en) * 2006-10-10 2008-04-10 Wei-Zen Chen Fast-locked clock and data recovery circuit and the method thereof
US7593273B2 (en) 2006-11-06 2009-09-22 Altera Corporation Read-leveling implementations for DDR3 applications on an FPGA
KR100801032B1 (ko) * 2006-11-15 2008-02-04 삼성전자주식회사 비휘발성 반도체 메모리 장치의 입력회로 및 비휘발성반도체 메모리 장치의 데이터 입력방법
JP4968671B2 (ja) * 2006-11-27 2012-07-04 Nltテクノロジー株式会社 半導体回路、走査回路、及びそれを用いた表示装置
JP2008140821A (ja) * 2006-11-30 2008-06-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置および半導体装置の設計方法
GB2444745B (en) * 2006-12-13 2011-08-24 Advanced Risc Mach Ltd Data transfer between a master and slave
KR100855980B1 (ko) * 2007-02-16 2008-09-02 삼성전자주식회사 쉬프터와 가산기를 이용하여 지연 시간을 조절하는 지연고정 루프 및 클럭 지연 방법
JP4357538B2 (ja) * 2007-03-07 2009-11-04 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
US7429944B1 (en) * 2007-03-20 2008-09-30 Analog Devices, Inc. Converter systems having reduced-jitter, selectively-skewed interleaved clocks
JP2008251070A (ja) * 2007-03-29 2008-10-16 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
EP1976105B1 (de) * 2007-03-30 2011-09-21 Alstom Technology Ltd Steuersequenz für einen Aktivgenerator
KR100892640B1 (ko) * 2007-05-10 2009-04-09 주식회사 하이닉스반도체 반도체 집적 회로
JP4657252B2 (ja) * 2007-06-04 2011-03-23 三洋電機株式会社 チャージポンプ回路及びスライスレベルコントロール回路
US8615205B2 (en) * 2007-12-18 2013-12-24 Qualcomm Incorporated I-Q mismatch calibration and method
GB0807625D0 (en) * 2008-04-25 2008-06-04 Glonav Ltd Method and system for detecting timing characteristics in a communications system
US7728638B2 (en) * 2008-04-25 2010-06-01 Qimonda North America Corp. Electronic system that adjusts DLL lock state acquisition time
US8970272B2 (en) * 2008-05-15 2015-03-03 Qualcomm Incorporated High-speed low-power latches
US8521979B2 (en) * 2008-05-29 2013-08-27 Micron Technology, Inc. Memory systems and methods for controlling the timing of receiving read data
US7979757B2 (en) 2008-06-03 2011-07-12 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for testing high capacity/high bandwidth memory devices
US8041537B2 (en) * 2008-06-27 2011-10-18 International Business Machines Corporation Clock duty cycle measurement with charge pump without using reference clock calibration
US7855931B2 (en) 2008-07-21 2010-12-21 Micron Technology, Inc. Memory system and method using stacked memory device dice, and system using the memory system
US8756486B2 (en) 2008-07-02 2014-06-17 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for repairing high capacity/high bandwidth memory devices
US8289760B2 (en) 2008-07-02 2012-10-16 Micron Technology, Inc. Multi-mode memory device and method having stacked memory dice, a logic die and a command processing circuit and operating in direct and indirect modes
US7940202B1 (en) 2008-07-31 2011-05-10 Cypress Semiconductor Corporation Clocking analog components operating in a digital system
US8127204B2 (en) 2008-08-15 2012-02-28 Micron Technology, Inc. Memory system and method using a memory device die stacked with a logic die using data encoding, and system using the memory system
US8510589B2 (en) * 2008-08-29 2013-08-13 Intel Mobile Communications GmbH Apparatus and method using first and second clocks
KR20100037427A (ko) * 2008-10-01 2010-04-09 삼성전자주식회사 Ac 커플링 위상 보간기 및 이 장치를 이용하는 지연 고정루프
JP5284756B2 (ja) * 2008-10-31 2013-09-11 凸版印刷株式会社 電源回路及び電源安定化方法
US8712357B2 (en) * 2008-11-13 2014-04-29 Qualcomm Incorporated LO generation with deskewed input oscillator signal
US8718574B2 (en) 2008-11-25 2014-05-06 Qualcomm Incorporated Duty cycle adjustment for a local oscillator signal
KR100992004B1 (ko) * 2008-12-12 2010-11-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 도메인 크로싱 회로
JP5353277B2 (ja) * 2009-02-06 2013-11-27 日本電気株式会社 ストリーム信号伝送装置及び伝送方法
US8850256B2 (en) * 2009-05-18 2014-09-30 Nec Corporation Communication circuit and communication method
US8063683B2 (en) * 2009-06-08 2011-11-22 Integrated Device Technology, Inc. Low power clock and data recovery phase interpolator
US8386829B2 (en) * 2009-06-17 2013-02-26 Macronix International Co., Ltd. Automatic internal trimming calibration method to compensate process variation
US8847638B2 (en) * 2009-07-02 2014-09-30 Qualcomm Incorporated High speed divide-by-two circuit
US8791740B2 (en) 2009-07-16 2014-07-29 Qualcomm Incorporated Systems and methods for reducing average current consumption in a local oscillator path
US7994837B1 (en) * 2009-08-07 2011-08-09 Altera Corporation Techniques for phase interpolation
JP2011045220A (ja) * 2009-08-24 2011-03-03 Panasonic Corp 端末装置及び供給電流制御方法
US7944300B2 (en) * 2009-08-25 2011-05-17 Micron Technology, Inc. Bias circuit and amplifier providing constant output current for a range of common mode inputs
US8289061B2 (en) * 2009-09-29 2012-10-16 Integrated Device Technology, Inc. Technique to reduce clock recovery amplitude modulation in high-speed serial transceiver
JP4843704B2 (ja) * 2009-09-30 2011-12-21 日本電波工業株式会社 周波数シンセサイザ
US8832336B2 (en) * 2010-01-30 2014-09-09 Mosys, Inc. Reducing latency in serializer-deserializer links
JP2011160369A (ja) * 2010-02-04 2011-08-18 Sony Corp 電子回路、電子機器、デジタル信号処理方法
US8320149B2 (en) * 2010-02-04 2012-11-27 Richtek Technology Corporation, R.O.C. Multi-chip module with master-slave analog signal transmission function
JP2011234157A (ja) * 2010-04-28 2011-11-17 Elpida Memory Inc 半導体装置
US9288089B2 (en) 2010-04-30 2016-03-15 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) Orthogonal differential vector signaling
US9106220B2 (en) 2010-05-20 2015-08-11 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for high bandwidth chip-to-chip communications interface
US9251873B1 (en) 2010-05-20 2016-02-02 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for pin-efficient memory controller interface using vector signaling codes for chip-to-chip communications
US9288082B1 (en) 2010-05-20 2016-03-15 Kandou Labs, S.A. Circuits for efficient detection of vector signaling codes for chip-to-chip communication using sums of differences
US9077386B1 (en) 2010-05-20 2015-07-07 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for selection of unions of vector signaling codes for power and pin efficient chip-to-chip communication
JP5308576B2 (ja) * 2010-05-25 2013-10-09 富士通株式会社 位相補間器、受信回路及び情報処理装置
CN102834867A (zh) * 2010-06-08 2012-12-19 拉姆伯斯公司 集成电路设备时序校准
TWI425364B (zh) * 2010-06-22 2014-02-01 Mstar Semiconductor Inc 記憶體共享系統及方法
DE102010034112A1 (de) 2010-08-12 2012-02-16 Gm Global Technology Operations Llc (N.D.Ges.D. Staates Delaware) Interner Wärmetauscher für eine Kraftfahrzeug-Klimaanlage
KR101180405B1 (ko) * 2010-09-03 2012-09-10 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 이의 테스트 방법
US8400808B2 (en) 2010-12-16 2013-03-19 Micron Technology, Inc. Phase interpolators and push-pull buffers
EP2659589A4 (de) * 2010-12-29 2015-01-21 Ericsson Telefon Ab L M Phasenfrequenzdetektionsverfahren
US8854098B2 (en) 2011-01-21 2014-10-07 Qualcomm Incorporated System for I-Q phase mismatch detection and correction
JP5743063B2 (ja) * 2011-02-09 2015-07-01 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体集積回路、半導体チップ、及び半導体集積回路の設計手法
CN102413608B (zh) 2011-10-31 2014-02-05 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 一种参考电压调节方法、电路及应用其的恒流源驱动电路
US9843315B2 (en) 2011-11-01 2017-12-12 Rambus Inc. Data transmission using delayed timing signals
JP5849757B2 (ja) 2012-02-17 2016-02-03 セイコーエプソン株式会社 レシーバー回路、通信システム及び電子機器
US9882823B2 (en) * 2012-03-08 2018-01-30 Marvell World Trade Ltd. Systems and methods for blocking transmission of a frame in a network device
US9154077B2 (en) 2012-04-12 2015-10-06 Qualcomm Incorporated Compact high frequency divider
US8896358B2 (en) * 2012-11-08 2014-11-25 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Phase interpolator having adaptively biased phase mixer
KR102032225B1 (ko) * 2012-11-20 2019-10-16 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치
KR102041471B1 (ko) * 2012-12-24 2019-11-07 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 장치
JP6068193B2 (ja) * 2013-02-28 2017-01-25 シナプティクス・ジャパン合同会社 受信装置及び送受信システム
KR102047825B1 (ko) * 2013-03-06 2019-11-22 삼성전자 주식회사 분주 클록 생성 장치 및 분주 클록 생성 방법
US8754678B1 (en) * 2013-03-15 2014-06-17 Analog Devices, Inc. Apparatus and methods for invertible sine-shaping for phase interpolation
WO2014172377A1 (en) 2013-04-16 2014-10-23 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for high bandwidth communications interface
KR102087437B1 (ko) * 2013-06-17 2020-03-10 에스케이하이닉스 주식회사 수신장치를 포함하는 반도체시스템
WO2014210074A1 (en) 2013-06-25 2014-12-31 Kandou Labs SA Vector signaling with reduced receiver complexity
JP5807048B2 (ja) * 2013-08-26 2015-11-10 株式会社セレブレクス キャリブレーション装置,キャリブレーション機能付き画像表示装置
US9171597B2 (en) 2013-08-30 2015-10-27 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for providing strobe signals to memories
JP6241156B2 (ja) * 2013-09-11 2017-12-06 株式会社ソシオネクスト 並列データを受信するために使用するクロックの位相を決定する方法、受信回路及び電子装置
US20150109034A1 (en) * 2013-10-17 2015-04-23 Qualcomm Incorporated Delay architecture for reducing downtime during frequency switching
US10579580B2 (en) 2013-12-18 2020-03-03 Qorvo Us, Inc. Start of sequence detection for one wire bus
US10528502B2 (en) 2013-12-18 2020-01-07 Qorvo Us, Inc. Power management system for a bus interface system
US10540226B2 (en) 2013-12-18 2020-01-21 Qorvo Us, Inc. Write technique for a bus interface system
KR102165231B1 (ko) * 2013-12-30 2020-10-14 에스케이하이닉스 주식회사 스큐를 보정하는 리시버 회로, 이를 포함하는 반도체 장치 및 시스템
US9806761B1 (en) 2014-01-31 2017-10-31 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for reduction of nearest-neighbor crosstalk
EP3100424B1 (de) 2014-02-02 2023-06-07 Kandou Labs S.A. Verfahren und vorrichtung für chip-to-chip-kommunikationen mit niedriger leistungsaufnahme mit eingeschränktem isi-verhältnis
EP3111607B1 (de) 2014-02-28 2020-04-08 Kandou Labs SA Vektorsignalisierungskodes mit eingebettetem takt
US9509437B2 (en) 2014-05-13 2016-11-29 Kandou Labs, S.A. Vector signaling code with improved noise margin
US9443572B2 (en) * 2014-06-06 2016-09-13 Qualcomm Incorporated Programmable power for a memory interface
US9337817B2 (en) * 2014-06-17 2016-05-10 Via Alliance Semiconductor Co., Ltd. Hold-time optimization circuit and receiver with the same
US9852806B2 (en) 2014-06-20 2017-12-26 Kandou Labs, S.A. System for generating a test pattern to detect and isolate stuck faults for an interface using transition coding
US9112550B1 (en) 2014-06-25 2015-08-18 Kandou Labs, SA Multilevel driver for high speed chip-to-chip communications
US9900186B2 (en) * 2014-07-10 2018-02-20 Kandou Labs, S.A. Vector signaling codes with increased signal to noise characteristics
US9432082B2 (en) 2014-07-17 2016-08-30 Kandou Labs, S.A. Bus reversable orthogonal differential vector signaling codes
KR102243423B1 (ko) 2014-07-21 2021-04-22 칸도우 랩스 에스에이 다분기 데이터 전송
KR101949964B1 (ko) 2014-08-01 2019-02-20 칸도우 랩스 에스에이 임베딩된 클록을 갖는 직교 차동 벡터 시그널링 코드
US9674014B2 (en) 2014-10-22 2017-06-06 Kandou Labs, S.A. Method and apparatus for high speed chip-to-chip communications
US9251906B1 (en) * 2015-05-18 2016-02-02 Freescale Semiconductor, Inc. Data strobe signal generation for flash memory
CN106330142B (zh) * 2015-06-17 2023-09-29 意法半导体研发(深圳)有限公司 时钟相移电路
EP3700154A1 (de) 2015-06-26 2020-08-26 Kandou Labs, S.A. Hochgeschwindigkeitskommunikationssystem
US10055372B2 (en) 2015-11-25 2018-08-21 Kandou Labs, S.A. Orthogonal differential vector signaling codes with embedded clock
US9712143B2 (en) * 2015-12-16 2017-07-18 Texas Instruments Incorporated System and method for a reduced harmonic content transmitter for wireless communication
KR102510446B1 (ko) 2016-01-15 2023-03-15 삼성전자주식회사 외부 클락을 이용하여 비디오 동기 신호를 발생시키는 디스플레이 컨트롤러, 이를 포함하는 애플리케이션 프로세서, 및 이를 포함하는 전자 시스템
WO2017130983A1 (ja) * 2016-01-25 2017-08-03 アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 メモリコントローラ
US9608611B1 (en) * 2016-01-28 2017-03-28 Xilinx, Inc. Phase interpolator and method of implementing a phase interpolator
US10698847B2 (en) 2016-03-01 2020-06-30 Qorvo Us, Inc. One wire bus to RFFE translation system
US10579128B2 (en) * 2016-03-01 2020-03-03 Qorvo Us, Inc. Switching power supply for subus slaves
CN115085727A (zh) 2016-04-22 2022-09-20 康杜实验室公司 高性能锁相环
US10003454B2 (en) 2016-04-22 2018-06-19 Kandou Labs, S.A. Sampler with low input kickback
WO2017185070A1 (en) 2016-04-22 2017-10-26 Kandou Labs, S.A. Calibration apparatus and method for sampler with adjustable high frequency gain
US9509319B1 (en) * 2016-04-26 2016-11-29 Silab Tech Pvt. Ltd. Clock and data recovery circuit
US10153591B2 (en) 2016-04-28 2018-12-11 Kandou Labs, S.A. Skew-resistant multi-wire channel
WO2017189931A1 (en) 2016-04-28 2017-11-02 Kandou Labs, S.A. Vector signaling codes for densely-routed wire groups
US10193716B2 (en) 2016-04-28 2019-01-29 Kandou Labs, S.A. Clock data recovery with decision feedback equalization
EP3449606A4 (de) 2016-04-28 2019-11-27 Kandou Labs S.A. Mehrstufiger treiber mit geringem stromverbrauch
US9906358B1 (en) 2016-08-31 2018-02-27 Kandou Labs, S.A. Lock detector for phase lock loop
US10411922B2 (en) 2016-09-16 2019-09-10 Kandou Labs, S.A. Data-driven phase detector element for phase locked loops
US10200188B2 (en) 2016-10-21 2019-02-05 Kandou Labs, S.A. Quadrature and duty cycle error correction in matrix phase lock loop
US10200218B2 (en) 2016-10-24 2019-02-05 Kandou Labs, S.A. Multi-stage sampler with increased gain
US10372665B2 (en) 2016-10-24 2019-08-06 Kandou Labs, S.A. Multiphase data receiver with distributed DFE
JP2018082328A (ja) 2016-11-17 2018-05-24 東芝メモリ株式会社 データ送信装置
US10558607B2 (en) 2017-02-01 2020-02-11 Qorvo Us, Inc. Bus interface system for power extraction
US10210918B2 (en) * 2017-02-28 2019-02-19 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for determining a phase relationship between an input clock signal and a multiphase clock signal
DE112018002643T5 (de) 2017-05-22 2020-05-07 Invention Mine, Llc Multimodale datengetriebene taktwiederherstellungsschaltung
US10116468B1 (en) 2017-06-28 2018-10-30 Kandou Labs, S.A. Low power chip-to-chip bidirectional communications
US10686583B2 (en) 2017-07-04 2020-06-16 Kandou Labs, S.A. Method for measuring and correcting multi-wire skew
US10203226B1 (en) 2017-08-11 2019-02-12 Kandou Labs, S.A. Phase interpolation circuit
US10333532B2 (en) * 2017-09-07 2019-06-25 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for detecting a loop count in a delay-locked loop
JP2019053444A (ja) * 2017-09-13 2019-04-04 東芝メモリ株式会社 半導体集積回路及び半導体装置
US10347283B2 (en) 2017-11-02 2019-07-09 Kandou Labs, S.A. Clock data recovery in multilane data receiver
CN107979357A (zh) * 2017-11-16 2018-05-01 湖南工业大学 采样式干扰脉冲过滤方法
US10326623B1 (en) 2017-12-08 2019-06-18 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for providing multi-stage distributed decision feedback equalization
CN108092649B (zh) * 2018-01-03 2021-05-04 龙迅半导体(合肥)股份有限公司 一种相位插值器和相位插值器的控制方法
US10554380B2 (en) 2018-01-26 2020-02-04 Kandou Labs, S.A. Dynamically weighted exclusive or gate having weighted output segments for phase detection and phase interpolation
KR20190096746A (ko) * 2018-02-09 2019-08-20 에스케이하이닉스 주식회사 클럭 분배 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치
JP2019145186A (ja) 2018-02-21 2019-08-29 東芝メモリ株式会社 半導体記憶装置
EP4145705A1 (de) 2018-06-12 2023-03-08 Kandou Labs SA Kombiniertes taktdatenrückgewinnungslogiknetzwerk und ladungspumpenschaltung mit niedriger latenzzeit
CN108899876B (zh) * 2018-06-12 2020-02-11 昂宝电子(上海)有限公司 开关电源中电流检测端的短路保护系统
CN112313878A (zh) * 2018-06-29 2021-02-02 三菱电机株式会社 相位振幅控制振荡装置
US10418125B1 (en) * 2018-07-19 2019-09-17 Marvell Semiconductor Write and read common leveling for 4-bit wide DRAMs
JP7195916B2 (ja) 2018-12-21 2022-12-26 キオクシア株式会社 半導体記憶装置
US10599601B1 (en) 2019-01-16 2020-03-24 Qorvo Us, Inc. Single-wire bus (SuBUS) slave circuit and related apparatus
US10804924B2 (en) 2019-01-24 2020-10-13 Media Tek Singapore Pte. Ltd. Systems for reducing pattern-dependent inter-symbol interference and related methods
US10727847B1 (en) 2019-02-07 2020-07-28 International Business Machines Corporation Digital control of a voltage controlled oscillator frequency
US10958251B2 (en) 2019-04-08 2021-03-23 Kandou Labs, S.A. Multiple adjacent slicewise layout of voltage-controlled oscillator
US10630272B1 (en) 2019-04-08 2020-04-21 Kandou Labs, S.A. Measurement and correction of multiphase clock duty cycle and skew
US10673443B1 (en) 2019-04-08 2020-06-02 Kandou Labs, S.A. Multi-ring cross-coupled voltage-controlled oscillator
US11119958B2 (en) 2019-04-18 2021-09-14 Qorvo Us, Inc. Hybrid bus apparatus
US11226924B2 (en) 2019-04-24 2022-01-18 Qorvo Us, Inc. Single-wire bus apparatus supporting slave-initiated operation in a master circuit
US11075743B2 (en) * 2019-08-27 2021-07-27 Nxp Usa, Inc. Adjustable high resolution timer
US10983942B1 (en) 2019-12-11 2021-04-20 Qorvo Us, Inc. Multi-master hybrid bus apparatus
US11409677B2 (en) 2020-11-11 2022-08-09 Qorvo Us, Inc. Bus slave circuit and related single-wire bus apparatus
US11489695B2 (en) 2020-11-24 2022-11-01 Qorvo Us, Inc. Full-duplex communications over a single-wire bus
KR20220100182A (ko) 2021-01-08 2022-07-15 삼성전자주식회사 글리치 없는 단조 증가 위상 보간기 및 이를 포함하는 통신 장치
US11595137B1 (en) * 2021-02-17 2023-02-28 Keysight Technologies, Inc. System and method of measuring error vector magnitude in the time domain
US11463092B1 (en) 2021-04-01 2022-10-04 Kanou Labs Sa Clock and data recovery lock detection circuit for verifying lock condition in presence of imbalanced early to late vote ratios
US11791827B2 (en) * 2021-04-06 2023-10-17 Wuxi Esiontech Co., Ltd. Phase interpolation circuit with high linearity
US11563605B2 (en) 2021-04-07 2023-01-24 Kandou Labs SA Horizontal centering of sampling point using multiple vertical voltage measurements
US11496282B1 (en) 2021-06-04 2022-11-08 Kandou Labs, S.A. Horizontal centering of sampling point using vertical vernier
US11581877B1 (en) * 2021-11-02 2023-02-14 Nxp B.V. Negative-feedback four-phase generator with twenty-five percent duty cycle output
US11706048B1 (en) 2021-12-16 2023-07-18 Qorvo Us, Inc. Multi-protocol bus circuit
JP2023141195A (ja) * 2022-03-23 2023-10-05 キオクシア株式会社 電圧生成回路及び半導体記憶装置
TWI816348B (zh) * 2022-03-31 2023-09-21 友達光電股份有限公司 資料驅動器以及控制方法
US20230378945A1 (en) * 2022-05-19 2023-11-23 Texas Instruments Incorporated Pulse width distortion correction

Family Cites Families (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3737808A (en) * 1971-12-29 1973-06-05 Honeywell Inf Systems Pulse shaping network
GB1533577A (en) * 1975-11-05 1978-11-29 Computer Technology Ltd Synchronising means
GB2089609A (en) 1980-12-12 1982-06-23 Philips Electronic Associated Clock pulse phase shifter
DE3520301A1 (de) 1984-06-16 1985-12-19 ANT Nachrichtentechnik GmbH, 7150 Backnang Phasenvergleichsverfahren
US4623805A (en) * 1984-08-29 1986-11-18 Burroughs Corporation Automatic signal delay adjustment apparatus
JPH0744531B2 (ja) 1986-06-30 1995-05-15 日本電気株式会社 高速光バス
US4890248A (en) * 1987-06-01 1989-12-26 Hughes Aircraft Company Method and apparatus for reducing aliasing in signal processing
US4833695A (en) * 1987-09-08 1989-05-23 Tektronix, Inc. Apparatus for skew compensating signals
US4795923A (en) * 1987-11-25 1989-01-03 Tektronix, Inc. Adjustable delay circuit
US5258660A (en) * 1990-01-16 1993-11-02 Cray Research, Inc. Skew-compensated clock distribution system
DE69128559T2 (de) 1990-05-15 1998-06-04 Seiko Epson Corp Speicherkarte
JPH0476610A (ja) 1990-07-13 1992-03-11 Hitachi Ltd クロック分配方式
EP0476585B1 (de) * 1990-09-18 1998-08-26 Fujitsu Limited Elektronische Anordnung mit einem Bezugsverzögerungsgenerator
US5157634A (en) * 1990-10-23 1992-10-20 International Business Machines Corporation Dram having extended refresh time
US5157277A (en) * 1990-12-28 1992-10-20 Compaq Computer Corporation Clock buffer with adjustable delay and fixed duty cycle output
US5208833A (en) * 1991-04-08 1993-05-04 Motorola, Inc. Multi-level symbol synchronizer
US5134407A (en) * 1991-04-10 1992-07-28 Ashtech Telesis, Inc. Global positioning system receiver digital processing technique
US5287025A (en) * 1991-04-23 1994-02-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Timing control circuit
JPH07101917B2 (ja) * 1991-05-14 1995-11-01 富士ゼロックス株式会社 領域制御装置
EP0586565B1 (de) 1991-05-29 1999-08-11 Pacific Microsonics, Inc. Verbessertes System zur Kodierung/Dekodierung von Signalen
JPH0548536A (ja) 1991-08-09 1993-02-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 並列光伝送装置
JPH0575542A (ja) 1991-09-13 1993-03-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 並列光伝送装置
US5272390A (en) * 1991-09-23 1993-12-21 Digital Equipment Corporation Method and apparatus for clock skew reduction through absolute delay regulation
US5157276A (en) 1991-09-26 1992-10-20 Tektronix, Inc. Low jitter clock phase adjust system
JPH05110550A (ja) 1991-10-16 1993-04-30 Fujitsu Ltd スキユーキヤンセル方式
US6090150A (en) * 1991-12-28 2000-07-18 Nec Corporation Method of designing clock wiring and apparatus for implementing the same
US5465346A (en) * 1991-12-30 1995-11-07 Dell Usa, L.P. Method and apparatus for synchronous bus interface optimization
FR2690022B1 (fr) * 1992-03-24 1997-07-11 Bull Sa Circuit a retard variable.
US5615358A (en) * 1992-05-28 1997-03-25 Texas Instruments Incorporated Time skewing arrangement for operating memory in synchronism with a data processor
US5485490A (en) * 1992-05-28 1996-01-16 Rambus, Inc. Method and circuitry for clock synchronization
DE4242201A1 (de) * 1992-12-15 1994-06-16 Philips Patentverwaltung Schaltungsanordnung zum Verzögern eines Nutzsignals
EP1120913A1 (de) * 1993-02-05 2001-08-01 Sun Microsystems, Inc. Verfahren und Vorrichtung zur Taktsteuerung
US5552726A (en) * 1993-05-05 1996-09-03 Texas Instruments Incorporated High resolution digital phase locked loop with automatic recovery logic
DE4342266C2 (de) * 1993-12-10 1996-10-24 Texas Instruments Deutschland Taktgenerator sowie Phasenkomparator zur Verwendung in einem solchen Taktgenerator
KR970001636B1 (ko) * 1994-01-20 1997-02-11 엘지전자 주식회사 영상신호의 시간축 보정 장치
US5554945A (en) 1994-02-15 1996-09-10 Rambus, Inc. Voltage controlled phase shifter with unlimited range
JPH0818414A (ja) * 1994-04-26 1996-01-19 Hitachi Ltd 信号処理用遅延回路
JP3523718B2 (ja) 1995-02-06 2004-04-26 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
US5546355A (en) 1995-02-24 1996-08-13 Motorola, Inc. Integrated circuit memory having a self-timed write pulse independent of clock frequency and duty cycle
US5687202A (en) * 1995-04-24 1997-11-11 Cyrix Corporation Programmable phase shift clock generator
JPH098796A (ja) * 1995-06-16 1997-01-10 Hitachi Ltd データ転送装置
US5748914A (en) * 1995-10-19 1998-05-05 Rambus, Inc. Protocol for communication with dynamic memory
KR100197563B1 (ko) * 1995-12-27 1999-06-15 윤종용 동기 지연라인을 이용한 디지탈 지연 동기루프 회로
JP2778572B2 (ja) * 1996-03-21 1998-07-23 日本電気株式会社 クロック分配回路
JP3469006B2 (ja) * 1996-09-30 2003-11-25 株式会社東芝 半導体集積回路及びその設計方法
JP3566007B2 (ja) * 1996-11-12 2004-09-15 富士通株式会社 デスクランブル回路、スクランブルパターン生成回路及びスクランブルパターン生成方法
US5835401A (en) * 1996-12-05 1998-11-10 Cypress Semiconductor Corporation Dram with hidden refresh
JP3739525B2 (ja) * 1996-12-27 2006-01-25 富士通株式会社 可変遅延回路及び半導体集積回路装置
US5864246A (en) * 1997-03-31 1999-01-26 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for doubling a clock signal using phase interpolation
JP3211739B2 (ja) * 1997-08-25 2001-09-25 日本電気株式会社 半導体記憶装置
US5944834A (en) * 1997-09-26 1999-08-31 International Business Machines Corporation Timing analysis method for PLLS
JP2001084763A (ja) * 1999-09-08 2001-03-30 Mitsubishi Electric Corp クロック発生回路およびそれを具備した半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP1489619A2 (de) 2004-12-22
EP1492120A2 (de) 2004-12-29
US8065553B2 (en) 2011-11-22
EP1492120A3 (de) 2005-02-02
EP1489619B1 (de) 2008-10-15
US20010007136A1 (en) 2001-07-05
EP1492120B1 (de) 2007-04-25
DE69841282D1 (de) 2009-12-17
US7496781B2 (en) 2009-02-24
DE69840135D1 (de) 2008-11-27
KR100399427B1 (ko) 2003-09-29
DE69837689D1 (de) 2007-06-06
KR19990006950A (ko) 1999-01-25
EP1492121A3 (de) 2005-02-02
KR100346804B1 (ko) 2002-08-03
KR100313820B1 (ko) 2001-12-28
EP0884732B1 (de) 2006-02-15
US6484268B2 (en) 2002-11-19
EP1489619A3 (de) 2005-02-02
EP1492121B1 (de) 2009-11-04
US20030042957A1 (en) 2003-03-06
TW387065B (en) 2000-04-11
EP0884732A2 (de) 1998-12-16
US20090195281A1 (en) 2009-08-06
US6247138B1 (en) 2001-06-12
DE69833467T2 (de) 2006-08-24
KR100340298B1 (ko) 2002-06-14
EP0884732A3 (de) 2001-03-21
DE69833467D1 (de) 2006-04-20
EP1492121A2 (de) 2004-12-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69837689T2 (de) Zeitgeberschaltung, Vorrichtung und System für integrierten Halbleiterschaltkreis unter deren Anwendung und Signalübertragungssystem
DE102005027452B4 (de) Digitaler Tastverhältniskorrektor
DE10023248B4 (de) Schaltung und Verfahren zur Taktsignalsynchronisation
DE60027038T2 (de) Bussystem optimierung
DE10144247B4 (de) Halbleiterspeicherbauelement und zugehöriges Halbleiterspeichersystem
DE60036457T2 (de) Gerät und verfahren um von der topographie abhängig zu signalisieren
DE69838852T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur kopplung von signalen zwischen zwei schaltungen, in verschiedenen taktbereichen arbeitend
DE602004004224T2 (de) Phasengesteuerte Hochgeschwindigkeitsschnittstellen
DE69637314T2 (de) Eingangspufferschaltkreis, der mit einem hochfrequenten Taktsignal zurechtkommt
DE69432587T2 (de) Verzögerungsleitungsseparator für datenbus
DE102007005708A1 (de) Takt- und Datenrückgewinnungsschaltung, die erste und zweite Stufen umfasst
DE29825196U1 (de) Schaltung zum Einstellen einer Taktverzögerung
DE102004032478A1 (de) Verzögerungsregelkreis in Halbleiterspeichervorrichtung und sein Taktsynchronisierverfahren
DE102006062385A1 (de) Hochgeschwindigkeitsschnittstellenhalbleiterelement, -system und -verfahren
DE10326774B4 (de) Auf-Chip Erfassung der Systemoperationsfrequenz in einem DRAM, um DRAM-Operationen einzustellen
DE10393657T5 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Datenabfrage
DE102007040577A1 (de) DLL-Schaltung und damit ausgestattete Halbleitervorrichtung
DE20122739U1 (de) Kommunikationsschnittstelle mit mehrstufiger niedriger Verzögerung
DE10164917B4 (de) Halbleiterspeichersystem
EP1668778B1 (de) Verzögerungsregelkreis
EP1668465B1 (de) Vorrichtung zur verwendung bei der synchronisation von taktsignalen, sowie taktsignal-synchronisationsverfahren
DE60308006T2 (de) System mit phasensprung-regelkreisschaltung
DE102006051213B4 (de) Speichervorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Abtastungstaktsignals in einem Kommunikationsblock einer Speichervorrichtung
DE102006051292A1 (de) Takterzeugungsschaltung, Multiphasen-Takterzeuger, Speicherelement, Verfahren zum Erzeugen von Taktsignalen und Verfahren zum Verriegeln der Phase
DE20221502U1 (de) Vorrichtung zur Datenwiederherstellung in einem synchronen Chip-zu-Chip-System

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition