DE69712840T2 - Mit einem röntgenstrahlungsfilter versehene röntgenstrahlprüfvorrichtung - Google Patents

Mit einem röntgenstrahlungsfilter versehene röntgenstrahlprüfvorrichtung

Info

Publication number
DE69712840T2
DE69712840T2 DE69712840T DE69712840T DE69712840T2 DE 69712840 T2 DE69712840 T2 DE 69712840T2 DE 69712840 T DE69712840 T DE 69712840T DE 69712840 T DE69712840 T DE 69712840T DE 69712840 T2 DE69712840 T2 DE 69712840T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
ray
device provided
testing device
radiation filter
ray radiation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69712840T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69712840D1 (de
Inventor
Ernst Geittner
Wilhelmus Linders
Hans-Juergen Lydtin
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Philips Intellectual Property and Standards GmbH
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Corporate Intellectual Property GmbH
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Corporate Intellectual Property GmbH, Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Philips Corporate Intellectual Property GmbH
Application granted granted Critical
Publication of DE69712840D1 publication Critical patent/DE69712840D1/de
Publication of DE69712840T2 publication Critical patent/DE69712840T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/10Scattering devices; Absorbing devices; Ionising radiation filters
DE69712840T 1996-02-14 1997-02-07 Mit einem röntgenstrahlungsfilter versehene röntgenstrahlprüfvorrichtung Expired - Fee Related DE69712840T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP96200360 1996-02-14
PCT/IB1997/000089 WO1997030459A1 (en) 1996-02-14 1997-02-07 X-ray examination apparatus with x-ray filter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69712840D1 DE69712840D1 (de) 2002-07-04
DE69712840T2 true DE69712840T2 (de) 2002-12-12

Family

ID=8223665

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69712840T Expired - Fee Related DE69712840T2 (de) 1996-02-14 1997-02-07 Mit einem röntgenstrahlungsfilter versehene röntgenstrahlprüfvorrichtung

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5768340A (de)
EP (1) EP0826220B1 (de)
JP (1) JP3839059B2 (de)
DE (1) DE69712840T2 (de)
WO (1) WO1997030459A1 (de)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5878111A (en) * 1996-09-20 1999-03-02 Siemens Aktiengesellschaft X-ray absorption filter having a field generating matrix and field sensitive liquids
JP3982839B2 (ja) * 1997-05-23 2007-09-26 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ フィルタを含むx線診断装置
DE69908494T2 (de) 1998-01-23 2004-05-06 Koninklijke Philips Electronics N.V. Röntgenstrahlung-prüfungsvorrichtung enthaltend ein filter
US6226355B1 (en) * 1998-07-01 2001-05-01 U.S. Philips Corporation X-ray examination apparatus including an X-ray filter
JP2002522137A (ja) * 1998-08-04 2002-07-23 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 調整可能なx線フィルタを有するx線検査装置
US6215852B1 (en) 1998-12-10 2001-04-10 General Electric Company Thermal energy storage and transfer assembly
EP1062671A1 (de) * 1999-01-13 2000-12-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Röntgenstrahlungen-prüfungsvorrichtung und verfahren zur deren regelung
JP2003516211A (ja) * 1999-12-08 2003-05-13 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線吸収度を調整しうるフィルタ素子を有するフィルタとx線吸収センサとを具えるx線装置
EP1169715A1 (de) * 2000-02-04 2002-01-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Röntgenstrahlungsvorrichtung mit einem filtereinheiten mit verstellbarer absorptionsfähigkeit enthaltenden filter
US6519313B2 (en) * 2001-05-30 2003-02-11 General Electric Company High-Z cast reflector compositions and method of manufacture
US6920203B2 (en) * 2002-12-02 2005-07-19 General Electric Company Method and apparatus for selectively attenuating a radiation source
US7308073B2 (en) * 2005-10-20 2007-12-11 General Electric Company X-ray filter having dynamically displaceable x-ray attenuating fluid
DE102008055921B4 (de) * 2008-11-05 2010-11-11 Siemens Aktiengesellschaft Modulierbarer Strahlenkollimator
JP2011145162A (ja) * 2010-01-14 2011-07-28 Japan Atomic Energy Agency 流体中微粒子のx線検出法
DE102012220750B4 (de) 2012-02-08 2015-06-03 Siemens Aktiengesellschaft Konturkollimator mit einer magnetischen, Röntgenstrahlung absorbierenden Flüssigkeit und zugehöriges Verfahren
DE102012201856B4 (de) 2012-02-08 2015-04-02 Siemens Aktiengesellschaft Konturkollimator und adaptives Filter mit elektroaktiven Polymerelementen und zugehöriges Verfahren
DE102012206953B3 (de) * 2012-04-26 2013-05-23 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Röntgenfilter und Verfahren zur adaptiven Schwächung einer Röntgenstrahlung
DE102012207627B3 (de) * 2012-05-08 2013-05-02 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Röntgenfilter zur Veränderung der lokalen Intensität einer Röntgenstrahlung
DE102012209150B3 (de) 2012-05-31 2013-04-11 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Röntgenfilter und Verfahren zur Veränderung der lokalen Intensität einer Röntgenstrahlung
DE102012217616B4 (de) * 2012-09-27 2017-04-06 Siemens Healthcare Gmbh Anordnung und Verfahren zur Veränderung der lokalen Intensität einer Röntgenstrahlung
US10588592B2 (en) 2014-10-04 2020-03-17 Ibex Innovations Ltd. Scatter in x-ray apparatus and methods of their use

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE347859B (de) * 1970-11-30 1972-08-14 Medinova Ab
US4310507A (en) * 1978-08-02 1982-01-12 Eastman Kodak Company Contrast agent for radiography
FR2599886B1 (fr) * 1986-06-06 1988-08-19 Thomson Csf Dispositif d'affichage d'image a fluide paramagnetique et son utilisation pour la realisation de filtres spatiaux de rayons x en imagerie medicale
FR2601493A1 (fr) * 1986-07-08 1988-01-15 Thomson Csf Dispositif pour former des images par deplacement de fluides et son utilisation a la realisation de filtres spatiaux a rayons x
NL8903110A (nl) * 1989-12-20 1991-07-16 Philips Nv Roentgenonderzoekapparaat met dynamisch filter.
GB9006977D0 (en) * 1990-03-28 1990-05-23 Nycomed As Compositions
AU642066B2 (en) * 1991-01-25 1993-10-07 Nanosystems L.L.C. X-ray contrast compositions useful in medical imaging
DE69505343T2 (de) * 1994-06-30 1999-05-27 Koninkl Philips Electronics Nv Mit einem filter ausgerüstetes röntgengerät
WO1996013040A1 (en) * 1994-10-25 1996-05-02 Philips Electronics N.V. X-ray apparatus comprising a filter
EP0786139B1 (de) * 1995-07-13 1999-11-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Einen filter enthaltende röntgenstrahlvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11506691A (ja) 1999-06-15
WO1997030459A1 (en) 1997-08-21
JP3839059B2 (ja) 2006-11-01
EP0826220B1 (de) 2002-05-29
EP0826220A1 (de) 1998-03-04
US5768340A (en) 1998-06-16
DE69712840D1 (de) 2002-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69712840T2 (de) Mit einem röntgenstrahlungsfilter versehene röntgenstrahlprüfvorrichtung
DE69731061D1 (de) Röntgenstrahluntersuchungsvorrichtung mit halbleiterröntgendetektor
DE69502039D1 (de) Entwicklungseinheit zur Nutzung in einem Bilderzeugungsgerät
DE69734641D1 (de) Röntgenabbildungssystem mit einem Bilddetektor
DE69730066D1 (de) Röntgenstrahlapparat
DE69515262T2 (de) Bilderzeugungsgerät
DE69714571T2 (de) Rontgenstrahlungsuntersuchungsvorrichtung mit rontgenstrahlungsfilter
DE69725165D1 (de) Neutronenstrahlungsdetektor
DE69908751D1 (de) Röntgenstrahlung-prüfungsvorrichtung enthaltend ein einstellbares röntgenstrahlungsfilter
DE69515374D1 (de) Bilderzeugungsgerät
DE69511147D1 (de) Bilderzeugungsgerät
DE69516347D1 (de) Bilderzeugungsgerät
DE59704742D1 (de) Röntgenuntersuchungsgerät mit einem Röntgenstrahler und einer damit verbundenen Blendeneinheit
DE69714014D1 (de) Strahlungsfeld-analysevorrichtung
DE69508309T2 (de) Bilderzeugungsgerät
DE69511212T2 (de) Bilderzeugungsgerät
DE69514282T2 (de) Bilderzeugungsgerät
DE69910524D1 (de) Röntgenstrahlung-prüfungsvorrichtung enthaltend ein röntgenstrahlungsfilter
DE69515139T2 (de) Strahlungsdetektor
DE69415725D1 (de) Röntgen-Untersuchungsgerät
DE69525802T2 (de) Ein Bilderzeugungsgerät
DE69413304D1 (de) Strahlungsuntersuchungsgerät
FI940707A0 (fi) Röntgenkuvauslaitteen suodinjärjestely
DE59408432D1 (de) Röntgenuntersuchungsgerät
DE69505359T2 (de) Einen röngtenstrahlungskollimator enthaltende röntgenstrahlungsanalysevorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH, 20

Owner name: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V., EINDHOVEN, N

8339 Ceased/non-payment of the annual fee