DE69529452T2 - Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Abmessungen eines Abtastlichtpunktes - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Abmessungen eines Abtastlichtpunktes

Info

Publication number
DE69529452T2
DE69529452T2 DE69529452T DE69529452T DE69529452T2 DE 69529452 T2 DE69529452 T2 DE 69529452T2 DE 69529452 T DE69529452 T DE 69529452T DE 69529452 T DE69529452 T DE 69529452T DE 69529452 T2 DE69529452 T2 DE 69529452T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light spot
scanning light
measuring dimensions
dimensions
measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69529452T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69529452D1 (de
Inventor
Stephen A Swierceczek
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eastman Kodak Co
Original Assignee
Eastman Kodak Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Eastman Kodak Co filed Critical Eastman Kodak Co
Application granted granted Critical
Publication of DE69529452D1 publication Critical patent/DE69529452D1/de
Publication of DE69529452T2 publication Critical patent/DE69529452T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4257Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
DE69529452T 1994-12-21 1995-11-30 Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Abmessungen eines Abtastlichtpunktes Expired - Lifetime DE69529452T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/361,090 US5499094A (en) 1994-12-21 1994-12-21 Apparatus and method for measuring the length and width of a spot of light utilizing two different masks

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69529452D1 DE69529452D1 (de) 2003-02-27
DE69529452T2 true DE69529452T2 (de) 2003-11-27

Family

ID=23420607

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69529452T Expired - Lifetime DE69529452T2 (de) 1994-12-21 1995-11-30 Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Abmessungen eines Abtastlichtpunktes

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5499094A (de)
EP (1) EP0718659B1 (de)
JP (1) JP3588177B2 (de)
DE (1) DE69529452T2 (de)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6693292B1 (en) * 1999-06-30 2004-02-17 Vishay Infrared Components, Inc. Optical spot sensor
US6788398B1 (en) * 1999-11-03 2004-09-07 Photon, Inc. Far-field scanning apparatus and method for rapid measurement of light source characteristics with high dynamic range
US6646728B1 (en) 2001-07-09 2003-11-11 3D Systems, Inc. Calibrating a focused beam of energy in a solid freeform fabrication apparatus by measuring the propagation characteristics of the beam
US7414759B2 (en) * 2003-11-26 2008-08-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Scanner linearity tester
JP2007192660A (ja) * 2006-01-19 2007-08-02 Fujifilm Corp フイルムの表面欠陥検出方法及び検出機
CN112146851B (zh) * 2020-09-27 2022-06-07 南京南智先进光电集成技术研究院有限公司 一种光斑尺寸和形状的测量方法及装置
CN114833455B (zh) * 2022-05-23 2024-02-23 荣烯新材(北京)科技有限公司 飞秒激光进行轧辊辊面无序微造型的方法、装置及应用

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3612885A (en) * 1969-12-10 1971-10-12 Bell Telephone Labor Inc Gaussian laser beam-waist radius measuring apparatus
JPS5226242A (en) * 1975-08-22 1977-02-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Unit for analysing the distribution of a light mode
JPS592848B2 (ja) * 1977-09-14 1984-01-20 富士通株式会社 ビ−ム径測定装置
GB1596295A (en) * 1978-04-28 1981-08-26 Sira Institute Optical apparatus and method
JPS5526458A (en) * 1978-08-17 1980-02-25 Hitachi Ltd Spot size measuring system of laser beam
JPS5574407A (en) * 1978-11-30 1980-06-05 Fujitsu Ltd Measurement of shape of light beam
JPS5619025A (en) * 1979-07-26 1981-02-23 Fuji Photo Film Co Ltd Correcting device for scanning line interval in light beam recorder
JPS5646433A (en) * 1979-09-25 1981-04-27 Nec Corp Measuring device of laser beam diameter
JPS5674029A (en) * 1979-11-17 1981-06-19 Meidensha Electric Mfg Co Ltd Protecting relay
GB2064759B (en) * 1979-12-07 1983-07-06 Ibm Determining beam dimensions at the screen of a shadow mask cathode ray tube
US4404571A (en) * 1980-10-14 1983-09-13 Canon Kabushiki Kaisha Multibeam recording apparatus
DE3270794D1 (en) * 1982-11-06 1986-05-28 Hell Rudolf Dr Ing Gmbh Method to adjust and monitor a light spot
US4596993A (en) * 1984-11-29 1986-06-24 Polaroid Corporation Thermal recording system and method
US4663524A (en) * 1986-01-27 1987-05-05 Rca Corporation Apparatus for measuring parameters of light spots with a moving knife-edge mask
JPS6358119A (ja) * 1986-08-27 1988-03-12 Fujitsu Ltd 光ビ−ムパワ−分布測定法
JPS6385319A (ja) * 1986-09-30 1988-04-15 Toshiba Corp ビ−ム形状測定装置
DE3706271A1 (de) * 1987-02-26 1988-09-08 Erwin Strigl Vorrichtung zum messen des intensitaetsprofils eines laserstrahls
JPS6424717A (en) * 1987-07-20 1989-01-26 Iizuka Kyoko Mold for preparing multi-needle inoculating device
JPS6440920A (en) * 1987-08-07 1989-02-13 Fuji Photo Film Co Ltd Optical scanning and recording device
JPS6488516A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Shaken Kk Detector for quantity of fluctuation of optical beam of optical scanner
US4828384A (en) * 1987-12-03 1989-05-09 Westinghouse Electric Corp. High power laser beam intensity mapping apparatus
JPH02205740A (ja) * 1989-02-03 1990-08-15 Toshiba Corp 半導体発光素子の放射角測定方法
US5060283A (en) * 1989-04-20 1991-10-22 Fuji Photo Film Co. , Ltd. Method and system for reading images with a movable light intercepting plate
US5267012A (en) * 1989-04-27 1993-11-30 Coherent, Inc. Apparatus for measuring the mode quality of a laser beam
DD301495A7 (de) * 1989-09-28 1993-02-11 Robotron Elektronik Anordnung zur ermittlung geometrischer parameter bewegter lichtflecke
US5105296A (en) * 1989-11-20 1992-04-14 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Method and apparatus for detecting beam spot shape
JPH076836B2 (ja) * 1990-01-29 1995-01-30 大日本スクリーン製造株式会社 ビームスポットの形状検出方法
JPH05346311A (ja) * 1992-06-12 1993-12-27 Konica Corp ビーム径測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3588177B2 (ja) 2004-11-10
JPH08233534A (ja) 1996-09-13
US5499094A (en) 1996-03-12
EP0718659B1 (de) 2003-01-22
DE69529452D1 (de) 2003-02-27
EP0718659A1 (de) 1996-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69521451D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen von einem Gaskomponenten
DE69430152D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Glukoseverwandten Substanzen
DE69520850D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Urinbestandteilen
DE69622121T2 (de) Verfahren un Vorrichtung zum Messen von einem vorbestimmten Gaskomponenten eines Messgases
DE69635717D1 (de) Verfahren zum Bestimmen eines Analyten und Vorrichtung dafür
DE69626435D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Abtasten eines Dokuments
DE69314714D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Lesen eines Bildes
DE69524347T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Wegmessung
DE59606131D1 (de) Vorrichtung und verfahren zum vermessen von zwei einander gegenüberliegenden oberflächen eines körpers
DE69306865T2 (de) Gerät und Verfahren zum Positionieren eines Laserstrahls
DE69601395T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Spektren
DE69425020T2 (de) Verfahren zum Erfassen eines Signales und Gerät zum Erfassen eines Signales
DE69327354D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Ziehen von Konturen eines Bildes
ATE221843T1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen des durchmessers eines bahnwickels
DE69616849D1 (de) Verfahren und Gerät zum Fokussieren eines Laserstrahls
DE69830696D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Empfang eines Lichtsignals
DE59504696D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum abtasten eines ultraschallfeldes
DE69736165D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Höhe eines Gegenstands
DE69516255T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Lesen eines Bildes
DE69529452T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Abmessungen eines Abtastlichtpunktes
DE59704620D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen und prüfen von werkstücken
DE69510976T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen der optischen Qualität der Oberfläche eines durchsichtigen Gegenstandes
DE69827406D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen von strahlung
DE69625959D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Messen der Winkelgeschwindigkeit
DE59209124D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Entfernungen

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition