DE60131440T2 - Verfahren zur modifizierung von silber-elektroden mittels eines chlorplasmas - Google Patents

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Description

  • Diese Erfindung bezieht sich auf die Chlorplasmamodifizierung von Silberelektroden.
  • Silberelektroden, die mit Silberchloridschichten (Ag/AgCl-Elektroden) beschichtet sind, bilden seit vielen Jahren die Grundlage für medizinische Elektroden aufgrund der ausgezeichneten Ladungsübertragungscharakteristiken und Nicht-Polarisierbarkeit des Silberchloridmaterials. Die Hauptanwendungen von Ag/AgCl-Elektroden betreffen amperometrische (stromempfindliche) und potentiometrische (spannungsempfindliche) Sensoren. In der Tat haben Ag/AgCl-Schichten die Grundlage für zahlreiche Elektrokardiogramm-Elektroden (EKG-Elektroden) gebildet und sind in sowohl Fühlern als auch Bezugselektroden inkorporiert worden.
  • Eine übliche Weise zur Produktion von Ag/AgCl-Elektroden ist die elektrochemische Methode, bei der Chloridionen auf der damit reagierenden Silberoberfläche abgelagert werden, um eine Silberchloridschicht (AgCl) zu bilden. Gesinterte Ag/AgCl-Elektroden sind genauso wie serigraphische Tinte in der Vergangenheit verwendet worden. Letztere ist als „Dickschicht"-Technologie bekannt und kombiniert eine Mischung aus Silber- und Silberchloridpartikeln, die in einem Polymer eingefangen sind. Eine übliche Alternative zu diesen Verfahren ist das chemische Chlorieren, das eine Methode ist, die sowohl in der Dünn- als auch der Dickschichttechnologie angewendet wird.
  • Je dicker die auf der Silberelektrode gebildete Schicht von Silberchlorid (AgCl) ist, desto weniger empfindlich wird die Elektrode. Als solches wird die Dünnschichttechnologie zu einem essentiellen Schlüssel der Abtastung und Bioabtastung aufgrund des Konzepts der Miniaturisierung. Mikroskopische Skalierungsvorrichtungen ermöglichen zunehmend genauere Lesungen. Daher sind Ag/AgCl-Elektroden entworfen und auf Dünnschichttechnologie angepasst worden, um als Mikrosensoren verwendet zu werden.
  • Die vorliegenden Dünnschichtverfahren zur Produktion von Ag/AgCl-Elektroden haben sich jedoch im Allgemeinen als nicht zufriedenstellend herausgestellt. Die Methode des chemischen Chlorierens von Dünnschichten ist eine schwierige Aufgabe, die schwierig zu kontrollieren ist und oft in der Bildung einer Silberchloridschicht resultiert, die zu dick ist und im Ganzen keine einheitlichen Eigenschaften aufweist. Je dicker die Silberchloridschicht ist, desto höher ist die elektrische Impedanz der Elektrode, was die Empfindlichkeit reduziert. Das chemische Chlorieren involviert ebenfalls einfach die Oberflächenabsorption von Chlor auf der Silberelektrode und stellt als solches nicht immer einen AgCl-Film mit einer starken Haftung an der Oberfläche der Silberelektrode bereit.
  • Die Ablagerung von Chloridionen auf der Silberelektrode unter Verwendung von Galvanisieren ist ebenfalls ein schwierig zu kontrollierender Vorgang, und die resultierende Ag/Cl-Schicht ist oft zu dick und es mangelt ihr an Einheitlichkeit. Es ist ebenfalls gezeigt worden, dass diese Methode keine gute Haftung der AgCl-Schicht an der Silberelektrode bereitstellt und ebenfalls Rissbildung in der Oberfläche bereitstellt, was beides die Effektivität der Elektrode reduziert.
  • EP 1026500 offenbart eine Silber/Silberhalogenidelektrode, bestehend aus einem nicht elektrisch leitenden Auflageblech (11), einer Silbermetallschicht (22) und einer Silberhalogenidschicht (33) der Reihenfolge nach. Dies wird in der Empfindlichkeit verbessert, indem die Silberhalogenidschicht fast vollständig von dem Schwermetallelement befreit wird, zum Beispiel durch das Oxidieren der Silbermetallschicht auf ihrer Oberflächenseite mit einer oxidierenden Verbindung, die kein Schwermetallelement oder eine chelierte oxidierende Eisenverbindung in der Anwesenheit eines Halogenids, das kein Schwertmetallelement enthält, enthält.
  • Die vorliegende Erfindung zielt darauf ab, diese Probleme zu bewältigen und stellt ein Verfahren bereit, das die Bildung und Dicke der Silberchloridschicht näher kontrollieren kann. Das Verfahren stellt ebenfalls eine Silberchloridschicht bereit, die einheitlicher und stabiler in der Struktur ist, wodurch ein empfindlicheres, beständigeres und genaueres Lesen bereitgestellt wird.
  • Gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren bereitgestellt, um die Impedanz einer Oberfläche einer Silberelektrode zu reduzieren, wobei die Oberfläche mit einem Chlorplasma behandelt wird.
  • Die Kontrolle der Leistung, Flussdichte und Zeitsteuerung stellen die Art und Weise zur Modifizierung der Silberoberfläche bereit, und implantieren so die Chloratome und Ionen in das Silber. Unterschiedliche Kontrollparameter stellen unterschiedliche Silberoberflächen bereit, z. B. dicker oder dünner, wie gewünscht oder notwendig.
  • Die Silberelektrode ist vorzugsweise in der Form einer Dünnschicht aus Silber. Noch bevorzugter wird die Silberelektrode durch die Verdampfung von Silber auf eine Glasscheibe gefertigt, um eine Dünnschicht aus Silber zu bilden. Die Glasscheibe wird vorzugsweise gereinigt und mit einer dünnen metallischen Unterschicht vor der Zugabe von Silber beschichtet. Die Unterschicht ist vorzugsweise eine Unterschicht aus Chrom oder Nichrom und wird unter Verwendung eines Sputtersystems auf die Glasscheibe aufgetragen.
  • Das Sputtersystem kann typischerweise ein Nordiko NM200/RFG1250 Sputtersystem sein, das ein inertes Plasma und ein Chromtarget verwendet. Das inerte Plasma ist vorzugsweise Argonplasma.
  • Die Modifizierung der Oberfläche der Silberelektrode kann in einer Plasmakammer stattfinden. Eine Oberfläche der Silberelektrode wird mit dem Chlorplasma bombardiert. Die Modifizierung der Silberelektrode findet vorzugsweise in einer Reaktives Ionenätzen (RIE) Radiofrequenz(RF)-Plasmakammer statt. Die Kammer wird vorzugsweise vor der Modifizierung der Silberelektrode abgepumpt.
  • Das Plasma kann vorzugsweise in der Form eines Stroms sein und wird aus einem Chlorgas gebildet.
  • Die Modifizierung der Silberoberfläche kann in einer Plasmakammer stattfinden. Eine Oberfläche der Silberelektrode wird mit dem Plasmastrom bombardiert. Die Modifizierung des Silbers findet vorzugsweise in einer Reaktives Ionenätzen (RIE) Radiofrequenz(RF)-Plasmakammer statt. Die Kammer wird vorzugsweise vor der Modifizierung des Metalls abgepumpt.
  • Das Verfahren ist zum Beispiel für die Behandlung von Silberelektroden in der Form einer Dünnschicht, die möglicherweise durch die Verdampfung des Metalls auf eine Glasscheibe gefertigt wird, geeignet.
  • Die Erfindung erstreckt sich auf eine Silberelektrode, die eine durch Plasmamodifizierung bereitgestellte Oberflächenschicht aus Silberchlorid aufweist.
  • Die Erfindung wird durch die Beschreibung davon unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen verständlicher, in denen:
  • 1(a) eine graphische Darstellung des Impedanzspektrums einer Dünnschicht aus Silber vor der Behandlung gemäß der vorliegenden Erfindung ist;
  • 1(b) eine graphische Darstellung der Impedanzspektren der Dünnschicht aus Silber nach dem Elektrochlorieren in einer 0,5 M KCl-Lösung ist;
  • 1(c) eine graphische Darstellung der Impedanzspektren einer Dünnschicht aus Silber nach der Behandlung gemäß der vorliegenden Erfindung ist;
  • 2(a) eine REM-Ansicht der Oberfläche der Dünnschicht aus Silber nach dem Elektrochlorieren (× 2,5 k) ist;
  • 2(b) eine REM-Ansicht der Oberfläche der Dünnschicht aus Silber nach der Behandlung gemäß der vorliegenden Erfindung ist (× 15 k);
  • 3 eine graphische Darstellung von EDX-Messungen, die auf einer Dünnschicht aus Silber, die Spektren von Ag (weiß) und AgCl (rot) zeigt, realisiert werden, ist;
  • 4 eine graphische Darstellung von XPS-Spektren von Dünnschicht aus Silber, die gemäß der vorliegenden Erfindung modifiziert werden, ist;
  • 5 graphische Darstellungen sind, die Ag 3d5/2 und Ag 3d5/2 bindende Energieverschiebungen zeigen; und
  • 6 graphische Darstellungen sind, die CI 2p3/2 und CI 2p3/2 bindende Energieverschiebungen zeigen.
  • Um beim Verständnis und den Vorteilen der vorliegenden Erfindung behilflich zu sein, wurden experimentelle Untersuchungen auf einer Silberelektrode, die gemäß der vorliegenden Erfindung (2) modifiziert war, unternommen und mit identischen Untersuchungen auf einer nicht beschichteten Silberelektrode und auf einer Silberelektrode mit darauf abgelagerten Chloridionen unter Verwendung der Methode des Galvanisierens (1) verglichen.
  • Für die Zwecke dieses Experiments wurden alle verwendeten Silberelektroden durch das Verdampfen von Silber in einer 99,99% reinen Form (zum Beispiel Silber des Typs 99,99% Reinheit, Goodfellow, Cambridge U. K.) gefertigt, um eine Dünnschicht aus Silber auf einem einfachen BDH Mikroskopträger aus Glas zu bilden. Verdampfung wurde unter Verwendung einer Elektronenstrahlkammer (Leybold L560E-Beam) bei einer Verdampfungsrate von 100 Å/s9 unter hohem Vakuum (2,10–5 mbar) ausgeführt. Vor der Verdampfungsstufe wurden die Glasträger gereinigt und dann in ein Nordiko NM200/RFG1250 Sputtersystem unter Verwendung eines Argonplasmas und eines Chromtargets eingeführt. Eine Unterschicht des Chroms wurde auf dem Glasträger abgelagert und dies verbesserte die Haftung der Dünnschicht aus Silber an dem Glasträger, wenn darauf abgelagert. Die so gebildeten Silberelektroden (Elektrodenproben) wurden dann weiter wie folgt behandelt:
  • (1) ELEKTROCHEMISCHES CHLORIEREN-GALVANISIEREN
  • Ein Abschnitt der Elektrodenproben wurde in einer elektrochemischen Zelle verkapselt, was eine aktive Elektrodenoberfläche von 0,96 cm2 ermöglicht. Die Elektroden wurden in eine 0,5 M Kaliumchlorid(KCl)-Lösung getaucht. Ein anodischer Strom von 0,98 mAmps wurde für verschiedene Zeitdauern (5 s, 7 s, 10 s, 15 s, 20 s und 25 s) angewendet. Die Chloridionen in der KCl-Lösung migrierten zu der positiven Silberelektrode und wurden darauf abgelagert. Die Chloridionen reagierten mit dem Silber und bildeten eine Schicht von Silberchlorid (AgCl). Das elektrochemische Chlorieren wurde unter Verwendung von AutoLabTM Instrumentierung, zum Beispiel einem General Purpose Electrochemical System (GPES) und einem Frequency Response Analyser (FRA), durchgeführt.
  • (2) PLASMAMODIFIZIERUNG
  • Ein anderer Abschnitt der Elektrodenproben wurde gemäß der vorliegenden Erfindung mit einem Chlorplasmastrom modifiziert. Der verwendete Plasmastrom war ein reiner Chlorplasmastrom, in einer Reaktives Ionenätzen (RIE) Radiofrequenz (RF) Plasmakammer. Typische Betriebsparameter für die Plasmakammer werden unten in Tabelle 1 gegeben.
  • Tabelle 1
    • 1 bis 100 mTorr:
    • 5 bis 500 Watt (pro cm2):
    • 1 bis 50 sccms (Standard cm3) Chlor:
    • 1 ms bis 5 Sekunden Plasmazeit
  • Betriebsparameter zur Zubereitung von zum Beispiel einer Elektrode mit niedriger Impedanz für ein geeignetes System sind:
    10–20 mTorr
    ~170 Watt 5–10 sccms
    1 zweite Plasmazeit
  • EXPERIMENTELLE UNTERSUCHUNG
  • Die oben behandelten Elektrodenproben (elektrochemische Elektrode und Plasmaelektrode) und die nicht behandelten Standard-Elektroden wurden dann den folgenden Tests unterzogen:
    Elektrochemische Tests;
    Röntgenphotoelektronenspektroskopie
    (XPS)-Erforschungen;
    energiezerstreuende Röntgenspektroskopieanalyse (EDX-Analyse); und
    Rasterelektronenmikroskopie-Analyse (REM-Analyse).
  • Alle elektrochemischen Tests und Messungen wurden mit einer AutoLab-Vorrichtung (GPES und FRA) ausgeführt. Eine Wechselspannung von 5 mV unter Verwendung eines Frequenzbereichs von 10 000 Hz bis 0,1 Hz wurde für all diese Tests angewendet und Messungen wurden in einer Phosphatpufferlösung (PBS), zu der 0,9% NaCl zugegeben wurde, ausgeführt.
  • XPS-Erforschungen wurden auf einer KRATOS XSAM 800-Vorrichtung ausgeführt. Die Röntgenquelle wurde mit MgKa-Röntgenstrahlen bei 240 W (13,8 kV, 18 mA) laufen gelassen.
  • REM-Bilder wurden von einem REM/EDX-System, einem Hitachi S3200N-Mikroskop, gekoppelt mit einem Oxford Instrument Link ISIS EDX-Spektrometer, genommen.
  • Als ein Standard wurden die nicht behandelten Elektrodenproben zuerst durch Elektrochemie und REM charakterisiert. Die Dünnschichten aus Silber (Ag TF), abgelagert durch die Verdampfungsmethode, weisen eine sehr glatte Oberfläche auf und reagieren schlecht mit dem Elektrolyt (große Impedanz), wie in 1(a) gezeigt.
  • Nach dem elektrochemischen Chlorieren der Elektrodenproben zeigt die REM-Analyse große Körnchen an der Oberfläche der Silberschicht, was eine sehr raue Oberflächentopographie ergibt. Inseln von Silberchlorid sind gewachsen, die eine nicht einheitliche Oberfläche erzeugen, wie in 2(a) gezeigt, an der Elektrolyte leicht reagieren können. Sobald das Ag/AgCl-Reduktions-/Oxidationspaar gebildet ist, wird eine fast nicht polarisierbare Elektrode erhalten. Die Anwesenheit der AgCl-Schicht, die als eine Brücke zwischen der Elektrode und dem Elektrolyt wirkt, und das Aufrauen der Elektrodenoberfläche sind direkt mit der gesamten Elektrodenimpedanz verknüpft. Wie in 1(b) gezeigt, wird eine reduzierte Impedanz eines Faktors von 100 für die Probenelektroden, die auf diese Weise behandelt werden (elektrochemische Elektrode), realisiert. Die Impedanz der elektrochemischen Elektrode wurde bei Intervallen von 12 und 15 Sekunden getestet und zeigt, dass sich die Impedanz dieser Elektrode mit der Zeit erhöht, was ein Hinweis darauf ist, dass die AgCl-Schicht nicht stabil ist.
  • Für die Elektrodenproben, die gemäß der vorliegenden Erfindung mit einem Chlorplasmastrom behandelt werden (Plasmaelektrode), wird eine ähnliche Reduzierung in der Impedanz ebenfalls beobachtet. Diese Behandlung schuf offensichtlich eine einzelne physikalische Reaktion zwischen der Silberschicht und den Chloratomen, Molekülen und Ionen, die innerhalb des Plasmas präsent sind. Die Impedanz ist ebenfalls niedriger als die der Probenelektroden um einen Faktor von 100, wie in 1(c) gezeigt, und dies kann nur erreicht werden, wenn eine sich als „Brücke" verhaltende Verbindung, die fähig ist, Ladungen mit dem Elektrolyt auszutauschen, geschaffen wird.
  • Die REM-Analyse der Plasmaelektrode zeigt Bilder einer „Blumenkohl" ähnlichen Struktur, die der der elektrochemischen Elektrode ähnlich ist. In dem Fall einer Plasmaelektrode ist die darauf gebildete Schicht jedoch dünner, einheitlicher und kontrollierbarer. Die so gebildete Schicht umfasst, was als eine Kombination einer AgCl-Schicht, einer Chloridform von Chlor (Cl) und einzelner Chloratome, die in der Oberfläche des Silbers eingebettet sind, erscheint.
  • Die nach den zwei Behandlungen (1) und (2) oben erhaltene Ähnlichkeit in Verhalten und Struktur legt möglicherweise nahe, dass in jedem Fall eine ähnliche AgCl-Schicht geschaffen wurde. EDX-Messungen der Plasmaelektrode, die in 3 gezeigt werden, zeigen jedoch die Anwesenheit von verbleibenden Chloratomen in der Oberfläche der Silberelektrode, was die Möglichkeit der Schaffung einer AgCl-Schicht unter Verwendung dieser Behandlung unterstützt.
  • XPS-Messungen wurden auf einigen Probenelektroden, die mit anderen Plasmaströmen als Chlorplasma behandelt wurden, ausgeführt, um die chemische Beschaffenheit und physikalische Struktur der Dünnschicht aus AgCl, die aus dem zweiten Behandlungsvorgang gebildet wird, zu bestimmen. Die verwendeten Plasmen waren aus ähnlichen reaktiven Gasen wie etwa Fluor (Fl), da AgCl angenähert werden kann, um sich als jede beliebige andere Form von Silberhalogenid zu verhalten, wobei ihre elektronische Struktur sehr ähnlich ist. Die XPS-Ergebnisse zeigen Energiehöchstwerte, die mit den elektronischen Bahnen von Ag 3d und Cl 2p verwandt sind, wie in 4 gezeigt.
  • Die Verschiebungen in der Energie beziehen sich auf Veränderungen innerhalb dieser elektronischen Bahnen. Als Erstes, wie durch EDX-Messungen gezeigt, zeigen Chlorhöchstwerte auf Spektren, dass die Verbindung der Oberflächenmodifizierung an der Oberfläche der Elektrodenprobe nach der Plasmabehandlung verbleibt. Dann werden sowohl der Chlor- als auch der Silberhöchstwert zu niedrigeren Energien hin verschoben. 5 und 6 vergleichen den Wert dieser Höchstwerte mit den theoretischen Höchstwerten von reinem Silber und Chlor, wie bezeichnet in der Literatur [ref. Web + XPS Handbook]. Silberhalogenide (Agl und AgF) Ag3d5/2-Höchstwerte zeigen eine Verschiebung von ±0,27 eV im Vergleich zu reinem Silber. Der Silberhöchstwert der mit Plasma behandelten Probenelektrode wird um ungefähr ±0,4 für den gleichen Ag 3d5,2-Höchstwert verschoben. Die Differenz der Energieverschiebung ist ähnlich zu den anderen getesteten Silberhalogeniden. Erwartungsgemäß verhält sich AgCl auf eine ähnliche Weise zu anderen Formen von Silberhalogenid, da die elektronische Struktur von jedem sehr ähnlich ist. Nichtsdestotrotz können die genauen Werte nicht unter Verwendung der Energiehöchstwerte der anderen Silberhalogenide abgezogen werden, dies ergibt jedoch eine gute Vorstellung von dem erwarteten Bereich der Energieverschiebung. Des Weiteren zeigte die Quantifizierung der unterschiedlichen Elemente, die an der Oberfläche der Dünnschicht aus Silber existieren, dass Silber und Chlor die Hauptspezies sind (75% bis 80% bzw. 12% bis 17%) und nur sehr wenige Kontaminanten vorhanden sind (d. h. Kohlenstoff und Sauerstoff). Folglich müssen nur wenige Oxidformen von Silber geschaffen werden, was die Verschiebung in den Höchstwerten unter dem Einfluss von Chlorionen lässt.
  • Chlor wurde ebenfalls in einer Chloridform erfasst, da die Cl 2p3,2-Höchstwerte innerhalb der gleichen Region von Bindungsenergie wie das Alkalichlorid sind, wie in 5 gezeigt, mit einer Energieverschiebung von ungefähr –0,25 eV. Selbst wenn diese Chloridverschiebung mit einer Nichtmetall-Chloridform verglichen wird, kann immer noch angenommen werden, dass die Struktur von AgCl und NaCl nah genug ist, um eine sehr ähnliche elektronische Verteilung der molekularen Bahnen (M. O.) und folglich einen analogen Verschiebungswert zu ergeben.
  • ERÖRTERUNG
  • Diese Ergebnisse unterstützen die Idee, dass die Chlorionen innerhalb des Plasmas chemisch mit der Silberoberfläche reagieren und eine Struktur des Typs Halogenidsilber/Alkalichlorid schaffen.
  • Die Textur und das Makro-Erscheinungsbild der Plasmaelektroden sind den elektrochemischen Elektroden nicht ähnlich, und dies wird klar durch den Vergleich von 2(a) und 2(b) gezeigt. Die Plasmaelektroden ergaben eine matte gelbliche Farbe, wie für die abnormal elektrochloridierten Elektroden in Crenner et al. beschrieben. Wenn die Chlorierzeit für eine gegebene Eingabeleistung und Chlorflussdichte erhöht wird, wandelt sich die Farbe der Probenelektroden von einer weißen/gelblichen Schattierung zu einem braunen/pflaumenfarbenen Farbton. Es ist berichtet worden (Yalcinkaya und Power (1997), Janz und Ives (1968) und Beck und Rice (1984)) dass der letztere Farbton charakteristisch für eine weitere Reduzierung von AgCl zu freiem interstitiellen Ag ist, und dass „die weiße allotrope Form von AgCl nicht dem Standardzustand von kristallinem Silberchlorid entspricht". Tatsächlich berichtete die 2. Ausgabe von Neuman Michael (1995), dass „reines Silberchlorid bernsteinfarben ist und wegen feiner Partikel von Silber dunkelgrau wird". Diese groben optischen Beobachtungen stimmen mit der Tatsache überein, dass erwartet würde, dass kein oder schlechtes kristallines AgCl an der Oberfläche der Dünnschicht wächst, wodurch eine matte gelbliche Farbe produziert wird. Weiteres Aussetzen gegenüber dem Chlorplasma, das hoch reaktiv ist, könnte anfällig dafür sein, Silbersputtern oder Ätzen zu induzieren (wie auf dem REM-Bild beobachtet werden kann). Daher ist es möglich, dass eine zunehmende Anzahl von Silberpartikeln innerhalb des geschaffenen Silberchlorids eingefangen sein könnte, was zu einer dunkleren Farbe führt, die für das interstitielle Silber spezifisch ist.
  • Die vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren bereit, um Silbermodifizierung durch Chlor bereitzustellen, um Dünnschichtsilberelektroden mit einer sehr kontrollierten Oberfläche zu produzieren. Derartige Elektroden können eine quantitative Qualität der Messung bereitstellen.

Claims (15)

  1. Ein Verfahren zum Reduzieren der Impedanz einer Oberfläche einer Silberelektrode, wobei die Oberfläche mit einem Chlorplasma behandelt wird.
  2. Verfahren gemäß Anspruch 1, wobei die Silberelektrode in der Form einer Dünnschicht aus Silber vorliegt.
  3. Verfahren gemäß Anspruch 2, wobei die Elektrode durch eine Verdampfung von Silber auf eine Glasscheibe gefertigt wird.
  4. Verfahren gemäß Anspruch 3, wobei die Glasscheibe vor der Zugabe von Silber mit einer dünnen metallischen Unterschicht beschichtet wird.
  5. Verfahren gemäß Anspruch 4, wobei die Unterschicht ein Chrom oder Nichrom ist.
  6. Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei die Unterschicht unter Verwendung eines Sputtersystems auf die Glasscheibe aufgetragen ist.
  7. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Verfahren in einer Plasmakammer ausgeführt wird.
  8. Verfahren gemäß Anspruch 7, wobei die Plasmakammer eine Reaktives Ionenätzen Radiofrequenz-Plasmakammer ist.
  9. Verfahren gemäß Anspruch 7 oder Anspruch 8, wobei die Plasmakammer vor der Modifizierung der Silberelektrode oder Metalloberfläche abgepumpt wird.
  10. Verfahren gemäß Anspruch 9, wobei sich der Betriebsdruck in der Plasmakammer innerhalb des Bereichs von 1 bis 100 mTorr befindet.
  11. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei sich die Betriebsleistung im Bereich von 5 bis 500 Watt (pro cm2) befindet.
  12. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei sich das Betriebsflussdichteverfahren im Bereich von 1 bis 50 sccms Gas befindet.
  13. Verfahren gemäß Anspruch 12, wobei das Gas Chlor ist.
  14. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei sich die Betriebszeit im Bereich von 1 ms bis 5 Sekunden Plasmazeit befindet.
  15. Eine Silberelektrode mit einer Oberflächenschicht aus Silberchlorid, die durch Plasmamodifizierung bereitgestellt wird.
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