DE4124739A1

DE4124739A1 - Verfahren und einrichtung zum generieren einer datenbank zur automatischen leiterplattenpruefung

Info

Publication number: DE4124739A1
Application number: DE4124739A
Authority: DE
Inventors: Ronald J Straayer
Original assignee: Gerber Scientific Instrument Co
Current assignee: Gerber Systems Corp
Priority date: 1990-07-27
Filing date: 1991-07-25
Publication date: 1992-02-06
Also published as: US5163128A; JPH04250575A

Description

Die Erfindung betrifft Fehlererfassungssysteme für die Herstellung von Leiterplatten, im engeren Sinne ein Sy stem, das eine Übergangsdatenbank generiert, welche To leranzinformationen über Schaltungsmuster enthält und bei der Fehlerprüfung hergestellter Leiterplatten be nutzt wird, wobei jedes Merkmal individuelle Toleranzen haben kann.

Leiterplatten werden gegenwärtig mit einem fast voll ständig automatisierten Verfahren hergestellt. Die Schaltungen für eine bestimmte Leiterplatte werden mit einer computergestützen Entwurfsmaschine (CAD) erzeugt, die nicht nur eine schematische Darstellung der be druckten Leiterplatte, sondern auch die Anordnung der darauf vorzusehenden Bauelemente wiedergibt. Diese Lay out-Information wird z. B. einem Laser-Plotter zuge führt, der die Vorlage zur Herstellung der Leiterplatte liefert. Diese enthält eine Reihe durchsichtiger und undurchsichtiger Bereiche entsprechend den Leiterbah nen.

Auf der Leiterplatte oder der Vorlage können jedoch Fehler vorhanden sein, die die Leiterplatte nutzlos ma chen. Es ist deshalb eine Referenz nötig, mit der die Vorlage oder die Leiterplatte verglichen werden kann. Die Fehler können verschiedene Ursachen haben, bei spielsweise Schrumpfung der Vorlage oder Fehler im Fa brikationsverfahren. Bekannte Systeme zur Fehlererfas sung von Leiterplatten arbeiten oft mit einem einfachen Vergleich einer vorgegebenen Leiterplatte mit einer fehlerfreien Vergleichsplatte (d. h. goldene Platte), um Fehler festzustellen, die während der Herstellung auf traten. Dieser einfache Vergleich führt jedoch zu einer großen Zahl kleinerer Fehler, die die Leiterplatte aber noch nicht unbrauchbar machen. Ferner führen globale Änderungen der Eigenschaften der Leiterplatte, die durch Schrumpfung der Vorlage verursacht sind, zu einer Fehlerfeststellung bei allen ausgewerteten Eigenschaf ten, wenn ein einfacher Vergleich mit einer goldenen Platte erfolgt.

Einige bekannte optische Prüfsysteme arbeiten mit Prüf marken, die neben den zu prüfenden Eigenschaften auf der Vorlage vorgesehen werden. Die Dimensionen der Aus richtungsmarken auf der Leiterplatte werden mit einer Referenz verglichen, um den Grad der Schrumpfung fest zustellen. Wenn sie einen gewissen Wert überschreitet, wird die Leiterplatte als unbrauchbar bewertet.

Die den verschiedenen Eigenschaften der Leiterplatte entsprechenden Informationen werden digitalisiert und auf einem magnetischen Speichermedium, beispielsweise auf Magnetband, gespeichert. Die tatsächliche Größe einer daraus sich ergebenden Raster-(X-Y)-Datenbank er fordert jedoch eine Datenkompression, um das Speicher volumen zu verringern und die Verarbeitungsgeschwindig keit zu erhöhen. Es sind bereits verschiedene Formate für die Datenkompression bei Datenbanken bekannt, dazu gehören die Lauflängenkodierung (RLE) und die Abtast zeilenanpassung (SLU), ein Format, das z. B. von der American Telephone and Telegraph Company (AT≧) benutzt wird.

Um ein Bild der Leiterplattenmerkmale zu erzeugen, müs sen die CAD-Daten in das Rasterformat umgesetzt und einem Laser-Direktbildgerät (LDI) zugeführt werden, wie es beispielsweise unter der Bezeichnung 9720 oder 9725 von der Gerber Scientific Instrument Company vertrieben wird. Der Vergleich von Leiterbahnen auf der Leiter platte mit Eigenschaften des Referenzbildes erfolgt z. B. mit dem Fehlererfassungssystem 1850, das gleich falls von der Gerber Scientific Instrument Company ver trieben wird.

Ein Verfahren zum Generieren einer Übergangsdatenbank für drei Zustände wurde bereits vorgeschlagen. Dieses Verfahren zeichnet sich durch einen Algorithmus aus, der aus einer Datenbank mit zwei Zuständen eine solche mit drei Zuständen (schwarz, weiß, grau) erzeugt, wobei jedes Merkmal eine einzige einheitliche Toleranz hat.

Es wäre vorteilhaft, wenn ein Verfahren und eine Ein richtung zum Generieren einer Datenbank aus Original- CAD-Daten für die Fehlererfassung von Leiterplatten verfügbar wäre, wodurch unterschiedliche Toleranzen für unterschiedliche individuelle Leiterplattenmerkmale möglich wären. Die Erfindung befaßt sich mit diesem Problem.

Demgemäß besteht die Aufgabe der Erfindung darin, ein Verfahren und eine Einrichtung für die automatische Leiterplattenprüfung anzugeben, durch die eine Daten bank generiert wird, welche unterschiedliche Toleranzen für unterschiedliche Leiterplattenmerkmale ermöglicht. Dabei sollen insbesondere drei Zustände möglich sein.

Diese Aufgabe löst die Erfindung durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 bzw. 2. Vorteilhafte Weiterbildungen sind Gegenstand von Unteransprüchen.

Die Erfindung sieht ein Verfahren zum Generieren einer Toleranz-Datenbank aus einer Nenn-Datenbank mit Signa len vor, die ein Bild von Leiterplattemerkmalen wieder geben, die jeweils Nenn-Dimensionen haben. Die Daten banken bestehen aus einer Anordnung von Pixeln, die einen ersten Zustand (schwarz) oder einen zweiten Zu stand (weiß) haben, wobei die schwarzen Pixel die Lei terplattenmerkmalen wiedergeben. Das Verfahren enthält die Schritte der Generierung einer Datenbank mit signa len, die mindestens einem Satz minimaler und maximaler Toleranzwerte für mindestens ein ausgewähltes Leiter plattenmerkmal entsprechen, des Bildens einer Minimal datenbank aus der Nenn- und der Toleranzwertdatenbank, so daß die Nenn-Dimensionen des ausgewählten Leiter plattenmerkmals durch den minimalen Toleranzwert ver ringert werden, und des Bildens einer Maximaldatenbank aus der Nenn- und der Toleranzwertdatenbank, so daß die Nenn-Dimensionen des ausgewählten Leiterplattenmerkmals durch den maximalen Toleranzwert vergrößert werden. Ferner sind die Schritte des Vergleichs des Zustands eines jeden Pixels in der Minimal- und Maximaldatenbank, des Erzeugens der Signale der To leranzdatenbank entsprechend dem Vergleich, des Vorse hens eines Pixels mit Schwarzzustand bei schwarzem Mi nimum- und Maximumpixel, des Vorsehens eines Pixels mit Weißzustand bei weißem Minimum- und Maximumpixel und des Vorsehens eines Pixels mit Grauzustands bei un terschiedlichen Zuständen von Minimum- und Maximum pixeln vorgesehen.

Die Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnung näher erläutert. Darin zeigen:

Fig. 1 eine vereinfachte schematische Dar stellung verschiedener Einrichtungen zum Herstellen einer Leiterplatte,

Fig. 2 eine vereinfachte Darstellung der Ar beitsweise eines Fehlererfassungssy stems nach der Erfindung als Ausfüh rungsbeispiel,

Fig. 3 eine schematische Darstellung eines Algorithmus, der mit einem Teil des Fehlererfassungssystems nach Fig. 2 ausgeführt wird,

Fig. 4 eine vereinfachte Darstellung einer Folge von Abtastzeilen, mit denen ein Merkmal eines Leiterplattenelements mit Pixeln übereinstimmender Farbe dargestellt wird, und

Fig. 5 die Darstellung des Bildes des Lei terplattenmerkmals nach Fig. 4 mit inneren und äußeren Toleranzen.

In Fig. 1 ist vereinfacht eine Reihe von Vorrichtungen dargestellt, die zu einem System 10 zur Herstellung einer Leiterplatte gehören. Die auf der Leiterplatte zu erzeugenden Schaltungen werden in einer CAD/CAM- Einrichtung 12 erzeugt, die eine Datei generiert, wel che ein Schema der Schaltungsanordnungen enthält. Die Schaltungen sind als geometrische Merkmale in der CAD/CAM-Datei konfiguriert. Diese Merkmale bestehen aus einer Reihe einfacher Elemente wie Kreise, Dreiecke, Rechtecke usw.. Jedes Merkmal wird aus den Original- CAD-Daten erzeugt, indem die CAD-Datenbefehle in ver bindung mit den CAD-Datenlücken zum "Einblenden" oder "Ziehen" interpretiert werden. Ein Einblendbefehl bringt eine Lücke an eine einzelne Stelle, während ein Ziehbefehl eine Lücke von einer Start- zu einer Stoppo sition bewegt, so daß sie über diesen Weg fortgesetzt erscheint.

Bei Block 14 wird diese Datei in einen Prozessor einge geben, der das physikalische Layout für die Leiterplat te erzeugt. Die Größe der entsprechenden Datei ist ziemlich umfangreich, so daß bei den meisten Systemen eine der verschiedenen bekannten Möglichkeiten zur Da tenkompression eingesetzt wird. Dazu gehören verschie dene Lauflängenkodierformate oder ein Abtastzeilenan passungsformat, wie das vorstehend genannte ATFormat. Diese Datei wird dann mehreren Vorrichtungen zugeführt, zu denen ein Photoplotter 16 gehört, welcher die zur Herstellung der Leiterplatte erforderliche Vor lage erzeugt. Der Photoplotter ist ein Laser-Direkt bildgerät (LDI). Dieses bewegt den belichtenden Laser strahl-Abtastpunkt relativ zu einer Schreibplatte und moduliert den Laserstrahl entsprechend den eingegebenen Daten. Nachdem diese Linie gezogen ist, wird die Platte um einen Betrag bewegt, der der Auflösung entspricht (d. h. 0,5×10^-3inch), und die nächste Linie wird gezo gen. Das Verfahren wird fortgesetzt, bis das gesamte Bild auf den Film belichtet ist. Für ein vollformatiges Leiterplattenbild ergeben sich 52000 Abtastungen mit jeweils 40800 Bit, 5000 Byte oder 2000 Worten mit je 16 Bit. Schließlich wird bei Block 18 die Leiterplatte unter Verwendung bekannter Einrichtungen hergestellt.

Um die Leiterplatte auf Fehler zu prüfen, wird eine To leranzen berücksichtigende Version der CAD-Daten in Form einer komprimierten Datei gleichfalls einem Feh lererfassungssystem 20 für Leiterplatten zugeführt, beispielsweise dem oben genannten System 1850. Wie im folgenden noch erläutert wird, dekomprimiert das System 1850 (drei Zustände pro Pixel) die Daten zurück in das Rasterformat, um ein Referenzbild der Leiterplatte zu erzeugen. Dieses Bild kann dann zum Vergleich mit einem Abtastbild der Leiterplatte dienen, um Fehler zu loka lisieren, die dann an einer Prüfstation 22 verifiziert werden.

In Fig. 2 ist ein Fehlererfassungssystem 20 nach der Erfindung vereinfacht dargestellt. Das System empfängt CAD-Daten entsprechend dem Original der Leiterplatten merkmale mit Nenn-Dimensionen (Block 24). Zwei Daten banken werden daraus entsprechend Leiterplattenmerkma len mit maximalen und minimalen zulässigen Dimensionen erzeugt (Blöcke 26, 28). Diese Datenbanken werden bei Block 30 verglichen, und bei Block 32 wird eine tole ranzbewertete Datenbank mit drei Zuständen erzeugt.

Fig. 3 zeigt im einzelnen schematisch einen Algorithmus 34, der mit einem Teil des Fehlererfassungssystems 20 nach der Erfindung ausgeführt wird, um Fehler auf einer Leiterplatte oder einer Leiterplattenvorlage zu lokali sieren. Das System erzeugt eine Übergangsdatenbank mit RLE-Daten dreier Zustände (schwarz weiß grau) aus RLE-Daten zweier Zustände (schwarz, weiß) in noch zu beschreibenender Weise. Die drei mit schwarz, weiß und grau bezeichneten Zustände entsprechen jeweils Stellen auf der Leiterplatte, wo dieses Merkmal erscheinen muß, nicht erscheinen muß oder sein Erscheinen nicht in teressiert. Obwohl die Erfindung vorzugsweise RLE-Daten mit zwei Zuständen in RLE-Daten mit drei Zuständen um setzt, wird der Fachmann erkennen, daß Daten zweier Zu stände im Rasterformat auch in eine Raster-Datenbank dreier Zustände umgesetzt werden können, indem die Pro gramme entsprechend umgeändert werden.

Bei Block 36 werden Daten entsprechend den Nenn-Eigen schaften auf einer Leiterplatte von einem CAD-System in eine Gerber-Datenbank GDB geliefert. Die Leiterplatten eigenschaften werden in Form geometrisch einfacher Ele mente wie oben beschrieben wiedergegeben. Bei 38 und 40 werden zwei Raster-Plot-Datenbanken (RPD-Datenbanken) verwendet, wobei Merkmalstoleranzdaten verwendet wer den, die durch eine Toleranzdatei 42 geliefert werden. Mit bekannten Einrichtungen könnte nur ein einzelner Toleranzwert für jedes Merkmal in der Datei spezifi ziert werden. Ein Unterschied der Erfindung gegenüber der bekannten Technik besteht jedoch in der Möglich keit, unterschiedliche Toleranzen nicht nur für unter schiedliche Merkmale, sondern auch für die individuelle Beispiele bestimmter Merkmale vorzusehen, falls dies nötig wird.

Die Toleranzdatei enthält minimale und maximale Tole ranzwerte für die Leiterplattenmerkmale. Die Leiter plattendatenbanken werden dann bei 44 und 46 in ein 16 Bit-RLE-Format für jeden minimalen und maximalen Toleranzwert umgesetzt, vorzugsweise dient hierzu das 16 Bit-Format des Fehlererfassungssystems 1850 der Ger ber Scientific Instrument Company. Die Daten werden dann bei 48 in eine Rasterform für jeden minimalen und maximalen Toleranzwert dekomprimiert. Die meisten Rech ner haben nicht die Möglichkeit, ein großes Rasterbild im Hauptspeicher aufzunehmen. Beispielsweise erfordert ein Leiterplattenbild mit einem Format von 18×24 inch bei einer Auflösung von 0,5×10^-3inch mehr als 200 MB Speicherkapazität. Entsprechend setzt das System das RLE-Bild in ein Hybrid-Rasterformat mit Blöcken von Ab tastlinien in noch zu beschreibender Weise um. Jeder Block wird nun mit einer Liste von Durchläufen und einem Block Rasterdaten beschrieben.

Die Daten-Toleranzeinrichtung empfängt bei 50 die LRE- Datenbanken im Hybridformat und vergleicht pixelweise die eine mit der anderen. Eine neue Datenbank wird aus diesem Vergleich entsprechend dem folgenden Algorithmus generiert.

Datenbank

Hierbei entsprechen B, W, G den oben genannten drei Pixelzuständen schwarz, weiß und grau. Die Eigen schaftstoleranzen werden durch den dritten Zustand grau wiedergegeben. Die Toleranzdaten werden dann in bekann ter Weise in das RLE-Format rekomprimiert, damit sie in dem Fehlererfassungssystem genutzt werden können (Block 52).

In Fig. 4 ist eine Draufsicht auf einen Teil einer Leiterplattenvorlage 55 gezeigt, wobei ein Bauelement oder ein Leiter auf der Leiterplatte dargestellt ist. Abtastzeilen 56, 57, 58, 59 und 60 sind auf die Vorlage zu schreiben. Jede Abtastzeile besteht aus einer line aren Anordnung von Pixeln. Die Abtastzeile 56 liegt au ßerhalb des Merkmals 61 und hat daher insgesamt helle Pixel oder weiße Pixel in dem Datenbankbild. Die Ab tastzeilen 57 bis 59 enthalten das Merkmal 61, und jede hat weiße Pixel 62, auf die schwarze Pixel 63 und dann weiße Pixel 64 folgen. Die Abtastzeile 60 enthält ins gesamt weiße Pixel, da sie außerhalb des Leiterplat tenmerkmals 61 liegt.

Wie vorstehend ausgeführt, sieht die Erfindung eine Übergangsdatenbank vor, in der die Merkmale einer Lei terplattenvorlage aus einer Referenzdatenbank so mo difiziert werden, daß sie Dimensionstoleranzen enthal ten. Für das System 20 kann eine globale Toleranz für Innen-/Außenmerkmale hinsichtlich ihrer Größe zuvor definiert sein. Ein wichtiger Unterschied der Erfindung gegenüber bisheriger Technik besteht aber in der Mö glichkeit, unterschiedliche Toleranzen für unter schiedliche Merkmale vorzusehen.

Fig. 5 zeigt das gemäß Fig. 4 erfaßte Leiterplatten merkmal nach der erfindungsgemäßen Verarbeitung unter Verwendung eines vorausgewählten Toleranzwertes für ein Pixel. Schwarze Pixel kennzeichnen Bildbereiche, wo ein Muster erscheinen muß, während weiße Pixel Bildbereiche kennzeichnen, wo dies nicht der Fall ist. Graue Pixel kennzeichnen einen Bildbereich, wo das Auftreten oder Fehlen eines Musters (schwarzes Pixel) unwichtig ist.

Diese "grauen" Pixel treten an Musterecken auf und kennzeichnen innere/äußere Toleranzen oder annehmbare Musterveränderungen. In Fig. 5 entspricht der Bereich 65 diesem Teil des Leiterplattenmerkmals, das erschei nen muß. Der Bereich 66 ist ein Nennbereich dieses Merkmals, während der Bereich 67 die größtmögliche Di mension dieses Leiterplattenmerkmals kennzeichnet.

Alternativ ermöglicht die Erfindung auch individuelle Toleranzen für jedes Leiterplattenmerkmal. Daher kann das rechteckförmige Merkmal 55 mit einer Pixeltoleranz versehen sein, wie Fig. 5 zeigt, während ein anderes Merkmal, beispielsweise ein Kreis, mit einer größeren Zahl grauer Toleranzpixel versehen sein kann. Ferner kann das Leiterplattenmerkmal bei jeder Wiederholung in der Leiterplattenvorlage mit einer größeren Zahl von Toleranzpixeln erzeugt werden. Diese Eigenschaft der vorliegenden Erfindung ergibt sich durch Zugriff auf die Toleranzdaten, die in einer Datei 42 (Fig. 3) für jede Eigenschaft zu finden sind. Bei dem vorzugsweisen Ausführungsbeispiel erfolgt der Zugriff auf die Tole ranzdatei während der Generierung der RPD-Datenbanken für Über- und Untergröße. Der Toleranzwert für jede Ei genschaft wird als ein Prozentwert der Dimension (X oder Y) in Form einer Nachschlagetabelle ausgedrückt. Beispielsweise sei die Eigenschaft 55 mit einem festen Prozentsatz in X- und Y-Dimension gleichmäßig tole ranzbehaftet. Der vorzugsweise Algorithmus greift auf die Toleranzdatei während der Generierung der RPD-Da tenbanken für Über- und Untergröße zu. Wenn eine Eigen schaft während des Generierungsprozesses bearbeitet wird, erfolgt eine Abfrage der Toleranzdatenbank, um festzustellen, welche Toleranzwerte hierfür vorliegen.

Ensprechend werden die Dimensionen dieses Merkmals je weils vergrößert bzw. verringert um den bzw. die Pro zentwerte der RPD-Datenbanken für Übergröße und Un tergröße. Dasselbe Verfahren wird für das nächste oder ein nachfolgendes Merkmal mit einem Betrag oder Beträ gen durchgeführt, die in der Toleranzdatei enthalten sind. Wie vorstehend ausgeführt, wird das Bild in Ab tastzeilenblöcken verarbeitet, und Fig. 6 und 7 zeigen die Verarbeitung eines Blockes. Der Fachmann wird er kennen, daß die Grenzbereiche zwischen den Blöcken be sonders zu beachten sind und daß diese Grenzbedingungen in bekannter Weise berücksichtigt werden können.

Claims

1. Verfahren zum Generieren einer Datenbank zur auto matischen Leiterplattenprüfung aus einer Nennda tenbank von Signalen, die ein Bild aus Leiterplat tenmerkmalen mit jeweils Nenndimensionen für eine Leiterplattenvorlage angeben, wobei die Nenndaten bank aus einer Anordnung von Pixeln mit einem er sten Zustand (schwarz) oder einem zweiten Zustand (weiß) besteht und die Pixel des ersten Zustandes den Leiterplattenmerkmalen entsprechen, gekenn zeichnet durch folgende Schritte:
Generieren einer Toleranzwert-Datenbank mit Si gnalen, die mindestens einem Satz minimaler und maximaler Toleranzwerte für mindestens ein ausge wähltes Merkmal der Leiterplattenvorlage entspre chen;
Vorsehen einer Minimalwert-Datenbank aus der Nenn datenbank und der Toleranzwert-Datenbank derart, daß die Nenndimensionen des ausgewählten Merkmals um einen minimalen Toleranzwert aus der Toleranz wert-Datenbank verringert werden;
Vorsehen einer Maximalwert-Datenbank aus der Nenn datenbank und der Toleranzwert-Datenbank derart, daß die Nenndimensionen des ausgewählten Merkmals um einen maximalen Toleranzwert aus der Toleranz wert-Datenbank erhöht werden;
Vergleichen der Zustände eines jeden Paars einan der entsprechender Pixel in der Minimalwert- und der Maximalwert-Datenbank; und
Generieren der Signale der Toleranzwert-Datenbank entsprechend dem Vergleich durch vorsehen eines Pixels mit Schwarzzustand, wenn die Zustände des Minimalwert- und des Maximalwertpixels schwarz sind, Vorsehen eines Pixels mit Weißzustand, wenn die Zustände des Minimalwert- und des Maximalwert pixels weiß sind, und Vorsehen eines Pixels mit Grauzustand, wenn die Zustände des Minimalwert und des Maximalwertpixels unterschiedlich sind.

2. Einrichtung zum Generieren einer Datenbank zur au tomatischen Leiterplattenprüfung aus einer Nennda tenbank von Signalen, die ein Bild aus Leiterplat tenmerkmalen mit jeweils Nenndimensionen für eine Leiterplattenvorlage angeben, wobei die Nenndaten bank aus einer Anordnung von Pixeln mit einem er sten Zustand (schwarz) oder einem zweiten Zustand (weiß) besteht und die Pixel des ersten Zustandes den Leiterplattenmerkmalen entsprechen, gekenn zeichnet durch:
eine Vorrichtung zum Generieren einer Toleranz wert-Datenbank mit Signalen, die mindestens einem Satz minimaler und maximaler Toleranzwerte für mindestens ein ausgewähltes Merkmal der Leiter plattenvorlage entsprechen;
eine Vorrichtung zum Vorsehen einer Minimalwert- Datenbank aus der Nenndatenbank und der Toleranz wert-Datenbank derart, daß die Nenndimensionen des ausgewählten Merkmals um einen minimalen Toleranz wert aus der Toleranzwert-Datenbank verringert werden;
eine Vorrichtung zum Vorsehen einer Maximalwert- Datenbank aus der Nenndatenbank und der Toleranz wertdatenbank derart, daß die Nenndimensionen des ausgewählten Merkmals um einen maximalen Toleranz wert aus der Toleranzwert-Datenbank erhöht werden;
eine Vorrichtung zum Vergleich der Zustände eines jeden Paars einander entsprechender Pixel in der Minimalwert- und der Maximalwert-Datenbank; und
eine Vorrichtung zum Generieren der Signale der Toleranzwert-Datenbank entsprechend dem Vergleich durch Vorsehen eines Pixels mit Schwarzzustand, wenn die Zustände des Minimalwert- und des Maxi malwertpixels schwarz sind, Vorsehen eines Pixels mit Weißzustand, wenn die Zustände des Minimal wert- und des Maximalwertpixels weiß sind, und Vorsehen eines Pixels mit Grauzustand, wenn die Zustände des Minimalwert- und des Maximalwert pixels unterschiedlich sind.

3. Einrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch übereinstimmende Größe der maximalen und der mini malen Toleranzwerte.

4. Einrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch ge kennzeichnet, daß die Toleranzwert-Datenbank Tole ranzwerte für mehr als ein Leiterplattenmerkmal enthält.

5. Einrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch ge kennzeichnet, daß die Toleranzwert-Datenbank einen einzigen minimalen Toleranzwert und einen einzigen maximalen Toleranzwert für alle Leiterplattenmerk male enthält.

6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 5, da durch gekennzeichnet, daß die Nenndatenbank in einem lauflängenkodierten Format konfiguriert ist, und daß eine Vorrichtung zum Dekomprimieren der Nenndatenbank in ein Rasterformat vorgesehen ist.

7. Einrichtung nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch eine Vorrichtung zum Umsetzen der Toleranzwert-Da tenbank in ein lauflängenkodiertes Format.