DE4124404C2 - Verfahren zur Korrektur von systematischen Meßfehlern einer Oberflächenpotential-Meßeinrichtung - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Korrektur von systematischen Meßfehlern einer Oberflächenpotential-Meßeinrichtung, welche das Oberflächenpotential eines photoleitfähigen Aufzeichnungselements einer elektrophotographischen Bilderzeugungseinrichtung mißt.

Aus der JP-A-1-107179 ist bereits ein Verfahren zur Korrektur von Meßfehlern einer Oberflächenpotential-Fühleinrichtung bekannt. Bei diesem bekannten Verfahren wird ebenfalls das Oberflächenpotential eines photoleitfähigen Elements einer Bilderzeugungseinrichtung gemessen, wobei das photoleitfähige Element mit einer Lade-/Entladeeinrichtung versehen ist, um das photoleitfähige Element gleichförmig auf vorgegebene Spannungspotentiale zu entladen oder zu laden. Bei diesem bekannten Verfahren ist jedoch eine Berücksichtigung von Änderungen im Kennlinienverlauf einer Potential-Fühlreinrichtung oder im Kennlinienverlauf eines photoleitfähigen Elements nicht möglich. Mit anderen Worten basiert dieses bekannte Verfahren darauf, daß die im Neuzustand des betreffenden Gerätes meßbaren Parameter unverändert beibehalten werden, was aber in der Praxis nicht der Fall ist.

Aus der JP-A-1-295271 ist ein Bilderzeugungsgerät bekannt, welches ein photoempfindliches Element enthält, das zu Beginn eines Kopiervorganges zunächst auf eine vorbestimmte hohe Spannung aufgeladen wird. Diese hohe Spannung wird dann mit Hilfe eines Potentialsensors gemessen. Eine Steuereinrichtung steuert ferner die Ausgangsgröße einer Lade-/Entladeeinrichtung, um die Oberfläche des photoempfindlichen Elements zu laden. Die Ausgangsgröße dieser Ladeeinrichtung wird so eingestellt, daß sie der Ausgangsgröße des Potentialsensors entspricht. Mit Hilfe einer weiteren Schaltungsanordnung wird automatisch die Ausgangsgröße des Potentialsensors auf eine feste Zeitsteuerung geeicht, so daß die Ausgangsgröße des das Oberflächenpotential messenden Sensors immer geeicht wird.

Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, ein Verfahren zur Korrektur von systematischen Meßfehlern einer Oberflächenpotential-Meßeinrichtung zu schaffen, welches die Möglichkeit bietet, den Korrekturvorgang an Veränderungen des Kennlinienverlaufes von sowohl der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung als auch des photoleitfähigen Aufzeichnungselements anpassen zu können, um dadurch umweltbedingten Änderungen des betreffenden Kennlinienverlaufes entgegenzuwirken und eine hochgenaue Potentialeinstellung des photoleitfähigen Aufzeichnungselements zu erreichen.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im Patentanspruch 1 aufgeführten Merkmale gelöst.

Erfindungsgemäß wird zunächst zur Durchführung einer Korrektur das Restpotential des photoleitfähigen Elements auf einen bekannten Bezugswert, nämlich Nullpotential, gebracht. Das photoleitfähige Aufzeichnungselement wird dann mit Hilfe einer Lade-/Entladeeinrichtung auf einen ersten bestimmten Ladespannungswert geladen, es wird dann eine Messung mit Hilfe der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung durchgeführt und damit eine erste Ladespannung gemessen und abgespeichert. Daran anschließend wird das photoleitfähige Aufzeichnungselement auf einen zweiten bestimmten Ladespannungswert aufgeladen und es wird daran anschließend dieser zweite bestimmte Ladespannungswert mit Hilfe der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung gemessen, so daß ein zweiter Meßwert erhalten wird. Nach Abspeicherung dieses zweiten Meßwertes wird auf der Grundlage der so erhaltenen Meßwerte eine Kennlinie der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung berechnet, die abgespeichert wird und für nachfolgende Potential-Messungen zur Korrektur der ermittelten Potential-Meßwerte herangezogen wird.

Bei dem Verfahren nach der vorliegenden Erfindung werden somit Veränderungen in den jeweiligen Kennlinien von sowohl der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung als auch von dem photoleitfähigen Aufzeichnungselement kompensiert und es wird damit eine sehr wirksame und genaue Potentialeinstellung erreicht, die von Umwelteinflüssen oder Veränderungen in den Kennlinienverläufen unabhängig ist.

Besonders vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens ergeben sich aus den Unteransprüchen.

Im folgenden wird die Erfindung anhand von bevorzugten Ausführungsbeispielen unter Hinweis auf die Zeichnung näher erläutert. Es zeigt

Fig. 1 ein Blockdiagramm, in welchem schematisch eine Bilderzeugungseinrichtung mit Merkmalen nach der Erfindung dargestellt ist, welche als ein Kopierer ausge­ führt ist;

Fig. 2 ein Blockdiagramm, in welchem schematisch ein Teil eines Vorspannungssteuersystems wiedergegeben ist, das in der Ausführungsform enthalten ist;

Fig. 3 ein Zeitdiagramm, in welchem eine spezielle PWM­ (Pulsbreitenmodulations-) Signalwellenform wieder­ gegeben ist, welche von einem in Fig. 2 dargestell­ ten PWM-Generator zu erzeugen ist;

Fig. 4 ein Blockdiagramm einer spezifischen Ausführung eines in Fig. 1 dargestellten berührungslosen Potentialsensors;

Fig. 5a und 5b Flußdiagramme von spezifischen Operationen einer Zentraleinheit (CPU) in der Schaltungsanord­ nung der Fig. 2;

Fig. 6 einen Graphen, welcher eine Ein-Ausgangskennlinie des in Fig. 1 dargestellten Potentialsensors wieder­ gibt;

Fig. 7 eine vergrößerte Seitenansicht eines Abstandes bzw. Zwischenraumes zwischen der Oberfläche eines photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements und einem berührungslo­ sen Potentialsensor; und

Fig. 8 einen Graphen, welcher eine Beziehung der Ein- Ausgangskennlinie eines berührungslosen Poten­ tialsensors an dem in Fig. 7 dargestellten Abstand oder Zwischenraum wiedergibt.

Zum besseren Verständnis der Erfindung wird kurz eine her­ kömmliche Bilderzeugungseinrichtung der Art beschrieben, bei welcher die Erfindung realisiert werden kann. Bei einer Bilderzeugungs­ einrichtung ist es üblich gewesen, das Oberflächenpotential eines photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements durch einen berührungslosen Sensor zu fühlen, und die Entwicklungs-Vorspannung oder ei­ nen entsprechenden Parameter auf der Basis des gefühlten Oberflächenpotentials einzustellen, um dadurch die Bildqua­ lität zu erhöhen. Das Problem bei dieser Ausführung besteht darin, daß der Abstand zwischen dem Sensor und der Oberflä­ che des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements und daher das Ausgangssig­ nal des Sensors sich infolge mechanischer Unregelmäßigkeiten ändert.

Insbesondere in Fig. 7 und 8 sind eine Beziehung zwischen dem Abstand oder Zwischenraum d zwischen dem berührungslosen Sensor 70 und der Oberfläche des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 80 bzw. eine Beziehung zwischen dem Eingangs- und Ausgangssig­ nals des Sensors 70 dargestellt. Das Eingangssignal ist das wahre Oberflächenpotential des photoleit­ fähigen Aufzeichnungs-Elements 80, das Ausgangssignal das vom Sensor 70 ermittelte Potential. Beispielsweise ist, selbst wenn der Sensor 70 und das photo­ leitfähige Aufzeichnungs-Element 80 so positioniert sind, daß dazwischen ein Zwischenraum d₀ festgelegt ist, infolge mechanischer Unregel­ mäßigkeiten der tatsächliche Abstand d₁ oder d₂. Folglich weicht die Spannung V₁ oder V₂, welche dem Zwischenraum d₁ oder d₂ entspricht, von der Spannung V₀ ab, welche dem vorgesehenen Abstand d₀ entspricht. Die Differenz zwischen den Spannungen V₀ und V₁ soll groß sein, d. h. |V₀-V₁|/V₀ ist 0,1. Dann wird, obwohl das tatsächliche Oberflächenpotential des photo­ leitfähigen Aufzeichnungs-Elements 80 800 V ist, 880 V gefühlt, wenn der Ab­ stand d₁ ist. Wenn eine Vorspannung angelegt wird, welche zu dem Oberflächenpotential von 880 V paßt, wird ein Bild mit ei­ ner entsprechenden Dichte-Abweichung wiedergege­ ben.

Obwohl verschiedene Ausführungen, wie beispielsweise ein Sen­ sor mit einer Abstandskompensationsschaltung und eine spe­ zielle Meßeinrichtung vorgeschlagen worden sind, ist keiner dieser Lösungsvor­ schläge voll zufriedenstellend.

In Fig. 1 ist eine Bilderzeugungseinrichtung mit Merkmalen nach der Erfin­ dung dargestellt, die beispielsweise als ein Kopiergerät aus­ geführt ist. Wie dargestellt, hat der Kopierer eine Glas­ platte 1, auf welcher eine Vorlage 2 gelegt wird. Die Optik 3 enthält eine Lampe 3a und eine Anzahl Spiegel und tastet die Vorlage 2 synchron mit der Drehbewegung eines photoleitfähi­ gen Aufzeichnungs-Elements 4 ab. Die Oberfläche des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Ele­ ments ist mittels eines Hauptladers 5 mit einem vorherbestimm­ ten, hohen Potential gleichförmig geladen worden. Während die Lampe 3a die Vorlage 2 beleuchtet, trifft das von der Vorlage reflektierte Licht auf die geladene Ober­ fläche 4a des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4, wodurch auf diesem ein latentes elektrostatisches Bild erzeugt wird. Zu diesem Zeitpunkt ist die geladene Oberfläche des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 außerhalb seines Bilderzeugungsbereiches mittels einer Löscheinheit 6 entladen worden. Mittels einer Entwick­ lungseinheit 7 wird das latente Bild mittels eines Toners in ein Tonerbild entwickelt.

Mittels eines Transferladers 8 wird das Tonerbild auf ein Aufzeichnungsmedium in Form eines nicht dargestellten Blattes übertragen, welches von einem nicht dargestellten Blattzuführ­ abschnitt in der Weise zugeführt wird, daß es zu einem vorher­ bestimmten Zeitpunkt an der Oberfläche 4a des photoleitfä­ higen Aufzeichnungs-Elements 4 eintritt. Ein Trennlader 9 trennt das Aufzeich­ nungsblatt mit dem Tonerbild von dem photoleitfähigen Aufzeichnungs-Element 4. Danach wird mittels einer Reinigungseinheit 10 der Toner entfernt, welcher auf der Oberfläche 4a des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 verblieben ist. Das Aufzeichnungsblatt wird mit­ tels eines Bandes 11 zu einer Fixiereinheit 12 transportiert. Mittels der Fixiereinheit 12 wird das Tonerbild durch Wärme auf dem Aufzeichnungsblatt fixiert. Dann wird das Aufzeich­ nungsblatt über eine nicht dargestellte Blattaustraganordnung aus dem Kopierer ausgetragen.

In der dargestellten Ausführungsform ist ein berührungsloser Potentialsensor 20 an einer Stelle unmittelbar vor der Ent­ wicklungseinheit 7 angeordnet. Eine derartige Position des Sensors 20 schafft einen ausreichenden Spielraum hinsicht­ lich der Ansprechzeit des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4, d. h. der Sensor 20 ist in einem hinreichenden Abstand von der Position angeordnet, in welcher das Aufzeichnungs-Element 4 bildmäßig zu belichten ist. Zum Heizen des Aufzeichnungs-Elements 4 ist ein Heizelement 13 in dem photoleitfähigen Aufzeichnungs-Element 4 untergebracht. Ein nicht dargestellter Temperaturfühler oder Thermistor zum Steuern der Temperatur des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 ist neben dem Potentialsensor 20 in der zu der Blattoberfläche der Fig. 1 senkrechten Richtung angeordnet, um so effektiv den begrenzten Platz um das Aufzeichnungs-Element 4 zu nutzen. Der Ther­ mistor ist an dem photoleitfähigen Aufzeichnungs-Element 4 in Anlage ge­ halten, außer wenn das photoleitfähige Aufzeichnungs-Element 4 auszuwech­ seln ist. Während der Potentialsensor 20 das Oberflächenpo­ tential des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 fühlt, wird die Entwicklungs-Vorspannung auf der Basis des gefühlten Ober­ flächenpotentials gesteuert.

In Fig. 2 ist eine Schaltungsanordnung zum Steuern der Vor­ spannung dargestellt, welche an die in Fig. 1 dargestellte Ent­ wicklungseinheit 7 anzulegen ist. Wie dargestellt, setzt ein Analog-Digital-Umsetzer (ADC) 30 das analoge Ausgangssignal des Potentialsensors 20 in ein digitales Signal um. Anhand des digitalen Ausgangssignals bestimmt ein Mikrocomputer oder eine Zentraleinheit (CPU) 40 das genaue Oberflächenpotential des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 durch eine Prozedur, welche noch beschrieben wird. Das Oberflächenpotential, das so mittels der Zentraleinheit 40 bestimmt worden ist, wird bezüglich der Entwicklungs-Vorspannung rückgekoppelt. Folglich kann, selbst wenn sich die Kenndaten des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 bei­ spielsweise infolge Alterung ändern, verhindert werden, daß die Qualität eines aufgezeichneten Bildes schlechter wird. In dieser Ausführungsform erzeugt ein PWM-(Pulsbreiten-Modula­ tions-)Generator 50 eine PWM-Signalwellenform, um dadurch die Vorspannung festzulegen, welche durch eine Hochspannungs- oder Vorspannungsquelle 60 zu erzeugen ist.

Eine spezifische PWM-Signalwellenform, welche der PWM-Genera­ tor 50 erzeugt, ist in Fig. 3 dargestellt. Die in Fig. 3 darge­ stellte PWM-Signalwellenform hat eine Periode von 1 ms und eine Pulsbreite von 0,6 ms (ein Tastverhältnis von 60%). Der Impulsbreite von 0,6 ms ist eine Vorspannung von 600 V zuge­ ordnet. Es ist eine Vorspannung von 100 V zu erhalten, wenn die Pulsbreite auf 0,1 ms verringert wird, während eine Vor­ spannung von 800 V erreichbar ist, wenn die Pulsbreite auf 0,8 ms erhöht wird.

In Fig. 4 ist eine spezielle Ausführung des Potentialsen­ sors 20 dargestellt. Der Potentialsensor 20 besteht aus einem Fühlabschnitt 20a, einem Wechselspannung verstärkenden Abschnitt 20b, einem gleichrichtenden Abschnitt 20c, einem Gleichspannung verstärkenden Abschnitt 20d und einem Stimmgabel-Ansteuerab­ schnitt 20e. Der Stimmgabel-Ansteuerabschnitt 20e steuert eine Stimmgabel an, welche in dem Fühlabschnitt 20a vorgesehen ist. Wenn die Stimmgabel durch den Stimmgabel-Ansteuerab­ schnitt 20e zum Schwingen gebracht wird, gibt der Fühlab­ schnitt 20a ein gefühltes Wechselspannungspotential ab. Das gefühlte Wechselspannungspotential wird über den Wechselspan­ nung verstärkenden Abschnitt 20b, den gleichrichtenden Ab­ schnitt 20c und den Gleichspannung verstärkenden Abschnitt 20d geleitet, wodurch eine Gleichspannung erhalten wird.

Anhand von Fig. 5a und 5b werden nunmehr spezifische Opera­ tionen der Zentraleinheit (CPU) 40 beschrieben. Hierbei zeigt Fig. 5a insbesondere eine Prozedur, um eine lineare Gleichung zu bestimmen, welche die Bezugs-Eingangs-Ausgangs-Kennlinie des Potentialsensors darstellt ("Sensor-Kalibrierung"). Wenn bei dieser Prozedur die Energiequelle eingeschaltet wird (Schritt 1), löscht die Zentraleinheit 40 ein Flag F, was noch beschrieben wird (Schritt 2). Dann bestimmt die Zentral­ einheit 40, ob die photoleitfähige Schicht, welche die Ober­ fläche des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 darstellt, auf Null­ potential gehalten ist oder nicht (Schritt 3). Wenn die Ant­ wort beim Schritt 3 nein ist, stellt die Zentraleinheit 40 Nullpotential an der photoleitfähigen Schicht durch ein Un­ terprogramm "Nullpotential-Verarbeitung", wie beispielsweise eine Beleuchtung ein (Schritt 4). In der dargestellten Aus­ führungsform ist das photoleitfähige Aufzeichnungs-Element 4 durch einen Träger in Form einer Aluminiumtrommel und durch eine photo­ leitfähige Selenschicht ausgeführt, welche auf der hochglanz­ polierten Oberfläche des Trägers aufgebracht ist. Wenn in dieser Ausführung das Potential der photoleitfähigen Schicht null bezüglich des Aluminiumträgers ist, ist das Oberflächen­ potential der photoleitfähigen Schicht dasselbe wie das Poten­ tial des Aluminiumträgers. Zu diesem Zeitpunkt besteht dann die Voraussetzung, daß der Aluminiumträger bezüglich des Ge­ häuses des Kopierers potentialfrei ist. Folglich ist, wenn eine Spannung an den Aluminiumträger angelegt wird, das Potential des Trägers dasselbe wie die angelegte Span­ nung.

Anschließend legt, wie in Fig. 6 dargestellt ist, die Zentral­ einheit 40 100 V an den Aluminiumträger des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 an (Schritt 5). Dann liest die Zentraleinheit 40 einen Wert, welcher dem daraus resultierten Ausgangswert des Potentialsensors 20 entspricht, und bestimmt, ob er eine gefühlte Signalspannung Va ist (Schritte 6 und 7). In der Aus­ führungsform wird die Spannung von 100 V über ein Relais von einer Hochspannung liefernden Vorspannungsquelle 60 aus ange­ legt. Danach legt die Zentraleinheit 40 800 V von der Vorspan­ nungsquelle 60 aus an den Alumiumträger an (Schritt 8) und be­ stimmt einen Wert, welcher dem daraus resultierenden Ausgangs­ wert des Sensors 20 entspricht, als eine weitere gefühlte Signalspannung Vb (Schritte 9 und 10). Basierend auf der Tat­ sache, daß die Eingangs-Ausgangs-Kennlinie des Potentialsen­ sors 230 linear ist, berechnet die Zentraleinheit 40 die fol­ gende lineare Gleichung (Werte von a und b) aus den zwei Punkten, welche bei den Schritten 5 bis 10 bestimmt worden sind:

Y = aX + b (1)

Die Zentraleinheit 40 schreibt eine solche lineare Gleichung in einen nicht dargestellten Speicher (Schritte 11 und 12). Anschließend setzt die Zentraleinheit 40 das vorher erwähnte Flag F, welches anzeigt, daß die lineare Gleichung oder die Bezugsgröße eingestellt worden ist (Schritt 13).

Wie vorstehend ausgeführt, wird bei der wiedergegebenen Aus­ führungsform für jedes Gerät eine lineare Gleichung oder Be­ zugsgröße eingestellt, welche die Eingangs-Ausgangskennlinie des Potentialsensors darstellt. Selbst wenn der tatsächliche Abstand oder Zwischenraum d zwischen dem Sensor 20 und dem photoleitfähigen Aufzeichnungs-Element 4 gegenüber dem vorgesehenen Abstand abweicht, können folglich auf der Basis der linearen Gleichung die tatsächlichen Oberflächenpotentiale berechnet werden.

Obwohl bei der Ausführungsform eine Berechnung mit Hilfe der linearen Gleichung, d. h. der Werte a und b jedesmal dann durchgeführt wird, wenn die Energiequelle angeschaltet wird, kann die Berechnung auch periodisch bewirkt werden, wobei die sich ergebenden Koeffizienten a und b in einem leistungs­ unabhängigen Speicher gespeichert werden.

In Fig. 5b ist eine Prozedur "Vorspannung einstellen" wieder­ gegeben, welche die Zentraleinheit (CPU) 40 durchführt, um die Vorspannung entsprechend dem Ausgangswert des Potentialsen­ sors 20 zu steuern. Zuerst prüft die Zentraleinheit 40 das Flag F, um zu sehen, ob die lineare Gleichung (Fig. 5a) einge­ stellt worden ist. Wenn die Antwort beim Schritt 21 nein ist, führt die Zentraleinheit 40 die anschließenden Schritte nicht durch, da es ziemlich wahrscheinlich ist, daß das mittels des Sensors 20 zu fühlende Potential nicht das genaue Oberflä­ chenpotential des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 ist. Wenn das Flag F gesetzt worden ist,was beim Schritt 21 festgestellt wird, bestimmt die Zentraleinheit 40, ob der Sensor 20 das Oberflächenpotential des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 gefühlt hat oder nicht (Schritt 22). Wenn die Antwort bezüglich des Schrittes 22 ja ist, liest die Zentraleinheit 40 einen Wert, welcher dem Potentialwert entspricht, und setzt ihn als ei­ nen Wert Y₁ fest (Schritt 23). Die Zentraleinheit 40 setzt dann den Wert Y₁ für den Wert Y in der G1.(1) ein, um dadurch das Oberflächenpotential X₁ des photoleitfähigen Aufzeichnungs-Elements 4 zu bestimmen. Dann setzt die Zentraleinheit 40 eine Vorspan­ nung fest, welche zu dem berechneten Oberflächenpotential paßt, und be­ wirkt, daß der PWM-Generator 50 die PWM-Signalwellenform er­ zeugt (Fig. 3), welche zu der festgelegten Vorspannung paßt (Schritte 25 und 26).

Gemäß der Erfindung wird eine lineare Gleichung, welche die Eingangs-Ausgangs-Kennlinie eines Potentialsensors darstellt, als eine Bezugsgröße erzeugt, und ein Oberflächenpotential, welches genau der Ausgangsspannung des Potentialsensors ent­ spricht, wird mit Hilfe der linearen Gleichung berechnet. Die Entwicklungs-Vorspannung oder ein ähnlicher Bilderzeugungs­ parameter wird in Anpassung an das berechnete Oberflächenpo­ tential entsprechend gesteuert. Hierdurch ist mit Erfolg er­ reicht, daß Oberflächenpotential-Daten frei sind von dem Einfluß aufgrund der Unregelmäßigkeit im Abstand zwischen dem Sensor und dem photoleitfähigen Aufzeichnungs-Element. Folglich sind genaue Bilderzeugungs-Bedingungen erreichbar.

Claims (4)

1. Verfahren zur Korrektur von systematischen Meßfehlern einer Oberflächenpotential-Meßeinrichtung, welche das Oberflächnepotential eines photoleitfähigen Aufzeichnungselementes einer elektrophotographischen Bilderzeugungseinrichtung mißt, bei dem

• - das Oberflächenpotential des photoleitfähigen Aufzeichnungselements auf Nullpotential gebracht wird,
• - die Steuereinrichtung des Geräts anschließend an das leitende Substrat des photoleitfähigen Aufzeichnungselements eine erste vorbestimmte Spannung anlegt und die Oberflächenpotential-Meßeinrichtung zur Messung eines ersten an der Oberfläche des Aufzeichnungselements sich daraufhin einstellenden Oberflächenpotentials ansteuert und den Meßwert speichert
• - die Steuereinrichtung des Geräts anschließend an das leitende Substrat des photoleitfähigen Aufzeichnungselements eine zweite vorbestimmte Spannung anlegt und die Oberflächenpotential-Meßeinrichtung zur Messung des zweiten an der Oberfläche des Aufzeichnungselements sich daraufhin einstellenden Oberflächenpotentials ansteuert und den Meßwert speichert und bei dem die Steuereinrichtung aus den ersten und zweiten vorbestimmten Spannuungswerten und aus den beiden Meßwerten für das Oberflächenpotential eine Kennlinie der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung berechnet, diese einspeichert und die Kennlinie bei nachfolgenden Potentialmessungen zur Korrektur der mit der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung ermittelten Potential-Meßwerte heranzieht.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste vorbestimmte Spannung kleiner ist als die zweite vorbestimmte Spannung.

3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Meßverfahren und die anschließende Einspeicherung einer Kennlinie der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung jedesmal dann durchgeführt wird, wenn die Stromversorgung eingeschaltet wird.

4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Meßverfahren und die anschließende Einspeicherung einer Kennlinie der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung in peridoischen Zeitabständen durchgeführt wrid.