DE4116054C2

DE4116054C2 - Vorrichtung zum Wahrnehmen einer Teilchenaggregation

Info

Publication number: DE4116054C2
Application number: DE4116054A
Authority: DE
Inventors: Masato Ohta; Yasuhiko Yokomori; Toshiyuki Furuta; Hideo Suda; Naoki Ozawa; Shogo Kida
Original assignee: Suzuki Motor Corp
Current assignee: Suzuki Motor Corp
Priority date: 1990-05-18
Filing date: 1991-05-16
Publication date: 1994-07-07
Anticipated expiration: 2011-05-17
Also published as: JP2874008B2; US5230026A; JPH0424539A; DE4116054A1

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Wahrnehmen einer Teilchenaggregation. Derartige Vorrichtungen verwenden im allgemeinen ein Mikrotitrierverfahren zur Erzeugung von Aggregationsmustern, bspw. um Bluttypen oder bestimmte Antigene und Antikörper festzustellen.

Aus der DE 26 54 596 C2 ist ein Mustererkennungsgerät zum Erkennen unterschiedlicher weißer Blutkörperchen bekannt, das mit Hilfe einer Kathodenstrahlröhre und eines Mikroskoplinsensystems mehrere Muster auf einem Objektträger abtasten kann. Das von der Kathodenstrahlröhre ausgesandte Licht geht durch den Objektträger und gelangt zu einem Farbteiler, um das Licht in die Spektralfarben zu zerlegen.

Bei diesem Verfahren werden die Blutkörperchen eingefärbt und in Abhängigkeit davon ob sie die Farbe annehmen oder nicht (neutrophile, basophile, eosinphile Blutkörperchen) können die unterschiedlichen Blutkörperchen festgestellt werden. Hier werden sowohl Kontrast- als auch Farbdaten der Blutkörperchen aufgenommen. Durch fokussieren auf ein Neutrophil und die Benachrichtigung eines Rechensystems kann ein erstes Blutkörperchen verwendet werden, um die Schwellen von Kontrast und Farbe einzustellen, wobei die Schwellwerte für die restlichen Messungen beibehalten werden.

In der DE 25 34 235 B2 ist ein Beleglaser beschrieben, zum optischen Abtasten von Belegen, bei dem Korrekturwerte auf Grundlage von Maxima und Minima berechnet werden, um systematisch bedingte Signalverzerrungen zu eliminieren.

Gemäß dem Mikrotitrierverfahren bei immunologischen Mes sungen wird Blut auf einer Prüfplatte durch ein vorbestimmtes Verfahren angehäuft, und es wird die Anwe senheit oder Abwesenheit des Ausfalls bzw. der Aggrega tion untersucht.

Bei der Wahrnehmung des Aggregationsmusters wird die An- oder Abwesenheit einer Aggregation beurteilt, in dem eine Teilchenverteilung in einem Behälter (z. B. Reaktions gefäß) als eine Fläche der Abschnitte wahrgenommen wird, deren Helligkeit gleich oder geringer als eine vorbe stimmte Helligkeit ist oder die mit einem Referenz muster oder einem Referenzmuster für keine Aggregation verglichen wird.

Fig. 9 zeigt ein herkömmliches Beispiel. In dem herkömm lichen Beispiel, das in Fig. 9 gezeigt wird, wird ein Aggregationsmuster P in einem Behälter (Reaktionsgefäß) 100 A, das auf einer Prüfplatte 100 ausgebildet ist, optisch auf einen CCD-Liniensensor 101 projiziert. Einer der Liniensensoren 101 oder der Prüfplatte 100 wird schrittweise fein bewegt, bezüglich zu dem anderen Ele ment in der Richtung senkrecht zu der Papieroberfläche, wobei ein (helles und dunkles) zweidimensionales Bild des Aggregationsbildes P erhalten wird. In Fig. 9 zeigt das Bezugszeichen 102 eine Lichtquelle, 103 eine Bild bildende Linse und 104 einen Linsenhalter an.

Jedoch wird beim herkömmlichen Beispiel der Sensoraus gang an beiden Endabschnitten E und F eines Fensters der Breite L ziemlich dunkel, wie er in Fig. 10 gemäß Ab bildungsfehlern oder dgl. des Linsenhalters 104 und der Linsen 103 gezeigt wird. Falls solche dunklen Ab schnitte ausgedehnt sind, tritt eine Unzulänglichkeit derart auf, daß die Wahrnehmung des Aggregationsmusters im mittigen Abschnitt behindert wird.

Außerdem wird die Wahrnehmung des Aggregationsmusters durch Rauschen gestört, wie es in Fig. 11 und in Fig. 12 dargestellt ist, so daß es zu einer Verfälschung der Ergebnisse kommt.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zum Wahrnehmen einer Teilchenaggregation so auszubilden, daß eine Teilchenaggregation sicher und störungsfrei wahrgenommen werden kann.

Die Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.

Durch das Vorgehen einer Vorrichtung zum Wahrnehmen einer Teilchenaggregation, bei der die Fläche eines Teilchenaggregationsmusters bestimmt wird und aufgrund der Größe der Fläche entschieden wird, ob eine Teilchenaggregation vorliegt, werden störende Einflüsse durch die Ränder ausgeschaltet, indem nur Daten um Maxima verwendet werden, die keine Randmaxima darstellen. Außerdem ist durch die Bestimmung eines Schwellwertes in Abhängigkeit des größten Maximums sichergestellt, daß eine geeignete Datenmenge zur Auswertung erhalten wird. Es ist somit eine sichere und störungsfreie Wahrnehmung einer Teilchenaggregation möglich.

Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen beschrieben. Es zeigen:

Fig. 1 Ein Blockdiagramm einer ersten Ausführung der Erfindung;

Fig. 2 ein Diagramm mit einigen der Funktionen der schwellwertbestimmenden Vorrich tung in Fig. 1;

Fig. 3 ein Flußdiagramm des Ablaufes nach Fig. 1;

Fig. 4 ein Diagramm mit einigen von den Funktionen der Musterfeldberechnungseinrich tung aus Fig. 1;

Fig. 5 ein Diagramm eines anderen Beispiels von Funktionen einer Musterfeldberechnungsvor richtung aus Fig. 1;

Fig. 6 ein Diagramm mit einem anderen Beispiel von Funk tionen einer Schwellwertbestim mungsvorrichtung aus Fig. 1;

Fig. 7 ein Blockdiagramm mit einer zweiten Ausführung der Erfindung;

Fig. 8 ein Diagramm mit dem Ablauf aus Fig. 7; und

Fig. 9 bis 12 Diagramme mit dem Aufbau und Arbeitsablauf von herkömm lichen Systemen.

In Fig. 1 ist der CCD-Liniensensor 101 unter der Prüf platte 100 angeordnet, die ein Reaktionsgefäß hat, und ein optisches System 103 ist in einer Art und Weise ähn lich dem oben genannten herkömmlichen Beispiel aus Fig. 9 dazwischen angebracht. Die Prüfplatte 100 wird durch eine Prüfplattenantriebseinrichtung 110 angetrieben und schrittweise relativ zum CCD Sensor 101 um einen Mikro abstand zu einem Zeitpunkt in einer ersten Richtung senkrecht zu der Abtastrichtung des CCD-Liniensensors 101 und in einer zweiten Richtung, die entgegengesetzt zu der ersten Richtung ist, bewegt. Das Bezugszeichen 111 zeigt einen Stellungswahrnehmungssensor an. Der Stellungswahrnehmungssensor 111 entscheidet über ein Umdrehen der Richtung des Bewegungsabstandes der Prüf platte 100. Eine Ausgabe des Sensors 111 wird zu einer ersten Steuereinheit 1A in einem Hauptsteuerabschnitt 1 geschickt. Folglich wird die Stellung der Prüfplatte 100 immer bestimmt und die Prüfplatte 100 wird vorwärts, rückwärts bewegt oder angehalten, wie es notwendig ist.

Der CCD-Liniensensor 101 wird durch eine Sensorabtast antriebseinheit 112 angetrieben, die durch die zweite Steuereinheit 2A gesteuert wird. Der CCD-Liniensensor 101 wird betriebsbereit gemacht und kann schrittweise die Teilchenaggregationsmuster auf der Prüfplatte 100, wie oben genannt, in Liniendaten in einem Zustand kon vertieren, in dem das Muster durch den Sensor 101 bei eng benachbarten Intervallen abgeschnitten wurde. Im Be zug auf die Fig. 2, 6 und 11 definiert jeder Satz von Liniendaten vom CCD-Liniensensor 101 eine Intensitäts kurve der Helligkeit, die im allgemeinen eine eindimen sionale Komponente des zweidimensionalen Aggregations musterbildes darstellt.

Ferner hat die Ausführung aus Fig. 1 eine Datenspeicher einheit 3, um schrittweise die Liniendaten zu speichern, die vom CCD-Liniensensor 101 zu vorbestimmten Zeitpunk ten ausgegeben werden. Andererseits hat die Vorrichtung eine Schwellwert-Bestimmungseinrichtung 4, um einen vor bestimmten Schwellwert auf Grundlage der gespeicherten Daten in der Datenspeichereinheit 3 zu bestimmen und eine Musterflächen-Berechnungseinrichtung 5 zum Entneh men des Teilchenaggregationsmusters aus den gespeicher ten Liniendaten in der Datenspeichereinheit 3 auf Grund lage des Schwellwertes, der durch die Schwellwert-Be stimmungseinrichtung 4 bestimmt ist und zum Erhalten einer Form und einer Fläche des Teilchenaggregationsmu sters. Das Bezugszeichen 6 zeigt eine Unter scheidungseinheit und 7 Aufzeichnungseinrichtungen an.

Die Schwellwert-Bestimmungseinrichtung 4 umfaßt eine Maximumbestimmungseinheit 4A, um das Maximum jedes Sat zes von Liniendaten zu erhalten, eine Maximumspeicher einheit 4B, um das Maximum zu speichern, das durch die Maximumbestimmungseinheit 4A bestimmt wird und eine Schwellwertstelleinheit 4C, um einen vorbestimmten Schwellwert (z. B. ein Wert von der Hälfte des Maximums) auf Grundlage des Maximums zu bestimmen, der endgültig durch die Maximumbestimmungseinheit 4A bestimmt wird.

Die Maximumbestimmungseinheit 4A hat eine erste Maxim umbestimmungsfunktion, um ein Maximum von jedem Satz von Liniendaten im Datenspeicher 3 zu erhalten und eine zweite Maximumbestimmungsfunktion, um ein weiteres, übergeordnetes Maximum aus den Maxima, die durch die erste Maximumbestimmungsfunktion erhalten wurden, zu er halten. Folglich ist das übergeordnete Maximum das größ te der vorher bestimmten Maxima.

Das Maximum jedes Satzes von Liniendaten wird, wie z. B. in Fig. 2 gezeigt, bestimmt. D. h., eine Helligkeitsin tensitätskurve der Liniendaten, wie sie von dem CCD-Li niensensor 101 abgegeben werden, wird durch das Fenster der Breite L abgeschnitten. Es gibt drei Datenwerte X₁, X₂ und X₃, die das gewünschte Maximum in dem Bereich von L aus Fig. 2 sein könnten. In diesem Fall arbei tet die erste Maximumbestimmungsfunktion sofort, wählt zwei Datenpunkte "a" und "b" aus, die jeweils vor und nach jedem der Werte X₁, X₂ und X₃ der jeweiligen Daten linie angeordnet sind. Der Wert X_n, der gleichzeitig die Bedingungen

X_n < a und X_n < b_n,

erfüllt, wird als ein Maximum der Liniendaten bestimmt.

Im Fall von Fig. 2 werden folgende Relationen erhalten:

"X₁ < a₁, X₁ < b₁"; "X₂ < a₂, X₂ < b₂";
"X₃ < a₃, X₃ < b₃".

Daher wird im Fall von Fig. 2 X₂ als Maximum von den Liniendaten bestimmt, d. h. X_max = X₂.

Infolgedessen werden gemäß der ersten Ausführung nur die Liniendaten, die im mittigen Abschnitt angeordnet sind, als Daten relevant für das Teilchenaggregationsmuster bestimmt. D. h. in der Berechnung des Maximumsbestim mungsvorganges werden die Störungsfaktoren der Linien daten wirkungsvoll eliminiert, wie aus dem folgenden offensichtlich wird.

Fig. 3 ist ein Flußdiagramm, das den Betriebsvorgang der gesamten Vorrichtung zeigt. Der Unterscheidungsvorgang eines Teilchenaggregationsmusters wird durch fünf Schritte ausgeführt, der Datenaufnahme im ersten Schritt S1 bis zur Unterscheidung im fünften Schritt S5.

Ferner hat die Musterflächen-Berechnungseinrichtung 5 eine Flächenberechnungsdaten-Bestimmungsfunktion, um ein Liniensegment in einem Bereich, der beim Maximum von jeden, der oben genannten Liniendaten beginnt und den Schwellwert von den Daten zur Berechnung einer Muster fläche erreicht, und eine Musterflächenberechnungsfunk tion, um eine Fläche des Aggregationsmusters zu berech nen auf Grundlage von Daten für die Berechnungen der Musterflächen von all den Liniendaten, die durch die Flächenberechnungsdaten-Bestimmungsfunktion bestimmt werden. Im Detail erklärt, umfaßt die Musterflächen-Be rechnungseinrichtung 5 eine Aggregationsmuster-Entnah meeinheit bzw. Aggregationsmuster-Wahrnehmungseinheit 5A zum Entnehmen der Linienelemente eines Par tikelaggregationsmusters aus den Liniendaten aus der Datenspeichereinheit 3 auf Grundlage des Schwellwertes eines vorbestimmten Niveaus, das von der oben genannten Schwellwert-Bestimmungseinheit 4C ausgegeben ist und eine Flächenberechnungseinheit 5B zum Hinzufügen der Linienelemente, die durch die Aggregationsmuster-Entnah meeinheit 5A entnommen wurden und zum Berechnen einer Fläche des Aggregationsmusters.

Die Aggregationsmuster-Entnahmeeinheit 5A holt nur die Liniensegmentdaten, die sich zwischen dem Maximum X und dem Schwellwert S befinden, als Flächenberechnungsdaten, wie in Fig. 4 gezeigt. Daher sind die, wie in Fig. 4 ge zeigt, bei E und F angezeigten Flächen, die die Stö rungsfaktoren darstellen, aktiv aus den Flächenberech nungsdaten entfernt.

In Bezug auf Fig. 4 wird nur der Abschnitt der Linien daten zwischen dem Wert X und dem Schwellwert S durch die Einheit 5A betrachtet, so daß die Einheit 5A ein Liniensegment mit der Länge l₀ begrenzt. Nachdem all die Liniensegmente (siehe Fig. 6) durch die Einheit 5A be stimmt worden sind, addiert dann die Einheit 5B die Län gen der Liniensegmente hinzu. Die sich ergebende Summe wird verwendet, um die schraffierte Fläche A in Fig. 11 anzunähern.

Wie oben genannt, gibt es gemäß der Ausführungsform ei nen Vorteil, so daß die Einflüsse durch Störungslicht und Rauschen beseitigt sind und die Flächendaten, die nur zum Teilchenaggregationsmuster gehören, berechnet werden können.

Die oben genannte Ausführung ist in Bezug auf den Fall beschrieben worden, bei dem nur die Liniensegmentdaten, die zwischen dem Maximum X und dem Schwellwert S liegen, als Daten für die Flächenberechnung durch die Musterent nahmeeinheit 5A aufgenommen werden. Jedoch ist es auch möglich, andere äquivalente Verfahren zu verwenden, wie z. B. das in Fig. 5 gezeigte in Bezug auf die Linienseg mentdaten der Datenabschnitte E′ und F′, die an beiden Enden der Fensterbreite L durchgehend sind, wobei sie nicht verwendet werden, um einen Flächenwert zu berech nen, wenn ein ähnliches äquivalentes Verfahren verwendet wird.

Andererseits ist es in der Ausführungsform auch möglich, falls Störungselemente unregelmäßig auftreten und das Maximum X_n jedes Satzes von Liniendaten gemäß Fig. 6 verteilt ist, eine maximumbestimmende Funktion zu ver wenden, so daß unter den Maxima, die durch die vorherge hende erste Maximumbestimmungsfunktion bestimmt worden sind, die Maxima aller Liniendaten ausgewählt werden und aus einer Vielzahl von Maxima bestimmt werden, die fast im mittigen Abschnitt des Fensters L liegen und die auf fast derselben Linie (Linie Y in Fig. 6) vorkommen.

Folglich gibt es, falls das übergeordnete Maximum nur aus den Maxima nahe an der Linie Y gewählt wird, einen Vorteil, so daß die Wirkung der Maxima (Störungselemen te), die von der Maximumlinie Y (siehe X₁ bis X₄ in Fig. 6) abweichen können, im mittigen Abschnitt des Fensters L völlig beseitigt werden kann.

Aus der obigen Beschreibung sollte es selbstverständlich sein, daß die Hauptsteuereinheit 1, der Schwellwert- Bestimmungseinrichtung 4 und die Musterflächenberech nungseinrichtung 5 mit einer herkömmlichen Mikroprozes soreinheit ausgeführt werden können.

Ein zweites Ausführungsbeispiel wird nun auf Grundlage von Fig. 7 beschrieben. Die gleichen Komponenten wie bei dem Ausführungsbeispiel aus Fig. 1 werden durch die gleichen Bezugszeichen angezeigt.

In dem Ausführungsbeispiel, das in Fig. 7 gezeigt ist, ist auch eine Minimumentnahmeeinheit 40A in der Schwell wert-Bestimmungseinheit 40 vorgesehen, und ein Schwell wert kann auch auf Grundlage einer Ausgabe der Minimu mentnahmeeinheit 40A bestimmt werden. D. h., ein Aus gangszustand der Datenspeichereinheit 3 wird in die Schwellwert-Bestimmungseinheit 40 durch einen Umschalter 14 eingegeben. Die Minimumentnahmeeinheit 40A und die Maximumbestimmungseinheit 4A sind in der Schwellwertbe stimmungseinheit 40 vorgesehen. Die Ausgaben der Mini mumentnahmeeinheit 40A und der Maximumbestimmungseinheit 4A werden an eine Schwellwertsetzeinheit 40C eingegeben, die an der Ausgangsseite von derselben vorgesehen ist. Die Bezugszeichen 4B und 40B zeigen Speichereinheiten an, die für die Maximum-Bestimmungseinheit 4A und die Minimumentnahmeeinheit 40A jeweils vorgesehen sind.

Die Minimumentnahmeeinheit 40A hat eine erste Minimumbe stimmungsfunktion, um ein Minimum aus jedem Satz der Liniendaten mit Hilfe des Speichers 40B in der Speicher einheit 3 zu erhalten und eine zweite Minimumbestim mungsfunktion, um ferner ein Minimum aus dem Satz von Minima zu erhalten, die durch die erste Minimumbestim mungsfunktion erhalten wurden. Die Schwellwertsetzein heit 40C hat eine Funktion, die äquivalent zu der Schwellwertsetzeinheit 4C aus dem oben genannten Ausfüh rungsbeispiel aus Fig. 1 ist und hat auch eine Schwell wertbestimmungsfunktion mit einem anderen Verfahren, so daß ein Schwellwert von einer vorbestimmten Größe be stimmt wird, auf Grundlage der Minima, die durch den Vorgang der vorhergehenden zweiten Minimumbestimmungs funktion erhalten wurden.

Ein Schwellwert-Bestimmungsverfahren, das auf dem Mini mum der Liniendaten beruht, wird nun ferner im Detail beschrieben. Zuerst arbeitet die erste Minimumbestim mungsfunktion der Minimumentnahmeeinheit 40A für jeden Satz von Liniendaten. In Bezug zur Fig. 8 werden die Minimumdatenpunkte, die auf der linken und rechten Seite des Maximums eines jeden Satzes von Liniendaten liegen, jeweils als erstes und zweites Minimum bestimmt. Dann arbeitet die zweite Minimumbestimmungsfunktion und die Maxima zwischen den ersten und zweiten Minima aller Li niendaten, bestimmt durch die vorhergegangene erste Mi nimumbestimmungsfunktion, werden als ein Minimum be stimmt, betreffend die relevanten Aggregationsmusterda ten.

Die Schwelle S in Fig. 8 ist nicht hoch genug, um der Einheit 5A zu erlauben, die geforderten Liniensegmente, wie sie in Fig. 4 veranschaulicht sind, zu definieren. Wenn das zweite bzw. größte Minimum in Fig. 8 durch die zweite Mi nimumbestimmungsfunktion gewählt wird, kann vom Schwell wert S verlangt werden, mindestens so groß zu sein wie das zweite bzw. größte Minimum. Dies sichert, daß der Schwellwert S groß genug sein wird, um der Einheit 5A zu erlauben, die Liniensegmente, wie in Fig. 4 veranschaulicht, zu defi nieren.

Deshalb, nachdem der Schwellwert durch die Verwendung der Minimumentnahmeeinheit 40A in dem zweiten Ausfüh rungsbeispiel gesetzt wird, kann z. B. eine Unzuläng lichkeit, wie z. B., daß das Maximum nicht bestimmt wer den kann, selbst wenn z. B. der Schwellwert S gesetzt wurde, wie in Fig. 8 angezeigt, völlig beseitigt werden. Die Meßgenauigkeit und die Zuverlässigkeit der gesamten Vorrichtung kann bemerkenswert verbessert werden.

Die anderen Aufbauten und Arbeitsvorgänge sind dieselben wie die in dem oben genannten Ausführungsbeispiel von Fig. 1.

Wie oben dargelegt, ist es gemäß der Erfindung möglich, eine außergewöhnliche Teilchenaggregationsmuster-Unter scheidungsvorrichtung vorzusehen, die es bis jetzt noch nicht gab und in der das Maximum (oder das Minimum, falls notwendig) der Teilchenaggregationsmuster-Daten mit einer hohen Genauigkeit erhalten werden kann, ohne durch Störungen beeinflußt zu werden. Der Schwellwert kann willkürlich genau gesetzt werden, ohne durch die Störungen, die auf den Maxima (Störungen) beruhen, be einflußt zu werden, und eine Form und eine Fläche, die notwendig sind, um ein Teilchenaggregationsmuster zu unterscheiden, können wahrgenommen und mit einer hohen Genauigkeit bestimmt werden, so daß entgegenwirkende Einflüsse durch die Störungen beseitigt werden können und die Zuverlässigkeit der gesamten Vorrichtung verbes sert werden kann.

Vorrichtung zum Unterscheiden eines Teilchenaggrega tionsmusters umfassend eine Speichereinheit zum Spei chern von Liniendatenausgaben aus einem CCD-Liniensen sor, wobei die Liniendaten das Aggregationsmuster dar stellen. Ein Maximum wird für jeden Satz von Liniendaten erhalten und danach wird ein weiteres Maximum von den vorher genannten, vorher erhaltenen Maxima erhalten. Ein Schwellwert wird auf der Grundlage eines weiteren Maxi mums bestimmt und wird dann auf die Liniendaten zum Ent nehmen von Informationen daraus angewendet, die die Form und die Fläche des Aggregationsmusters betreffen. In einer anderen Ausführungsform wird der Schwellwert auf der Grundlage von Minimas, die aus den Liniendaten er halten werden, bestimmt.

Es kann auch das Minimum der Maxima zwischen den ersten und zweiten Minima aller Liniendaten, die durch die erste Minimumbestimmungsfunktion erhalten werden, als Schwellwert bestimmt werden.

Claims

1. Vorrichtung zum Wahrnehmen einer Teilchenaggregation, umfassend
ein Gefäß zur Aufnahme einer Probe, das mittels einer Lichtquelle (102) und eines beweglichen CCD-Liniensensors (101) abtastbar ist, um Lichtdurchlässigkeitsdaten des Prüfgefäßes aufzunehmen, wobei die Lichtdurchlässigkeitsdaten längs zueinander paralleler Linien (Liniendaten) erfaßt werden,
eine Schwellwertbestimmungseinrichtung (4), die die Maxima der einzelnen Linien innerhalb eines Bereichs L) bestimmt, wobei Randmaxima am Rande dieses Bereichs (L) ausgeschlossen werden, und aufgrund des größten derartig bestimmten Maximums einen Schwellwert (S) festlegt, und
eine Musterflächenberechnungseinheit (5), die ununterbrochene Liniensegmente bestimmt, deren Liniendaten größer oder gleich dem Schwellwert (S) sind und die die Maxima einschließen, wobei die Liniensegmente eine Fläche bilden, die dem Teilchenaggregationsmuster entspricht, und aufgrund der Größe der Fläche entschieden wird, ob eine Teilchenaggregation im Prüfgefäß vorliegt.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Randmaxima in einer Art und Weise ausgeschlossen werden, indem zwei Liniendatenpunkte a und b jeweils vor und nach einem möglichen Maximum (X) liegend ausgewählt werden, und alle möglichen Maxima für die nicht gleichzeitig gilt, daß X < a und X < bals Maximum des jeweiligen Satzes von Liniendaten ausgeschlossen werden.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Maxima nur Werte der Liniendaten bestimmt werden, die fast im mittigen Abschnitt des Bereichs (L) liegen.

4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Schwellwertbestimmungseinrichtung (4) die Minima der einzelnen Linien innerhalb des Bereichs (L) bestimmt und den Schwellwert (S) so festlegt, daß er mindestens so groß ist wie das größte Minimum.

5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Schwellwert (S) etwa halb so groß wie das größte Maximum ist.