DE4002356C1 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Abstandsmeßgerät nach dem Ober
begriff des Patentanspruchs 1.
Derartige Abstandsmeßgeräte (DE 34 29 062 A1) dienen dazu,
beispielsweise im Bereich von 2 bis 10 m liegende Abstände
von dem Abstandsmeßgerät auf elektronischem Wege zu messen,
wobei die Meßgenauigkeit im Bereich einiger mm liegt. Auf
diese Weise können die Füllstände von Behältern oder bei
spielsweise auch die Füllungsgrade von Regalen meßtechnisch
erfaßt und auf elektronischem Wege zu einer Zentrale gemel
det werden.
Normalerweise verwenden derartige Abstandsmeßgeräte einen
Meß- und einen Referenzempfänger, was die Gefahr eines unter
schiedlichen Driftens der beiden Empfangsschaltungen mit
sich bringt und außerdem zu nachteiligen Einflüssen unter
schiedlicher Sperrschichtkapazitäten bzw. Reaktionszeit
änderungen der beiden für den Empfang verwendeten Photo
dioden führt. Die Verwendung nur einer Lichtsendediode
bringt andererseits das Problem mit sich, daß ein Überspre
chen zwischen Meß- und Referenzstrecke nicht ausgeschlossen
werden kann.
Das Ziel der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein
Abstandsmeßgerät der eingangs genannten Gattung zu schaffen,
bei dem die Empfangsschaltung driftunempfindlich ist, das
Signal/Rauschverhältnis verbessert wird und mit dem eine
extrem hohe Übersprechdämpfung von Meß- und Referenzkanal
möglich ist, wobei Meß- und Referenzstrecke weitgehend unab
hängig vom Ort ihres Anfangs gewählt werden können.
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des kennzeichnen
den Teils des Patentanspruchs 1 vorgesehen. Bevorzugt ist da
bei die Ausführungsform nach Anspruch 2.
Erfindungsgemäß werden also zwei komplementär schaltbare
Laserdioden auf der Sendeseite für den Meß- bzw. Referenz
kanal verwendet, während auf der Empfangsseite lediglich ein
einziges Photodiodenelement vorgesehen ist. Dadurch werden
gegenüber einer Lösung mit zwei Empfängern (Meß- und
Referenzempfänger) bzw. einem elektrischen Referenzpfad
folgende Vorteile erzielt:
- - Die Empfangsschaltung ist driftunempfindlich; Sperrschicht kapazitäts- bzw. Reaktionszeitänderungen der im Empfang verwendeten Photodiode werden vom Referenzpfad erfaßt.
- - Es ist ein einfacher Betrieb mit Avalanche-Photodioden möglich; eine temperaturabhängige Spannungsnachführung verursacht Parameteränderungen der betreffenden Photodio de, welche jedoch von dem Referenzpfad erfaßt werden. Erfindungsgemäß ist nur eine Avalanche-Photodiode nötig.
- - Das Signal-Rauschverhältnis wird verbessert; die Photodio denkapazität kann erfindungsgemäß in einen Schwingkreis hoher Güte eingebunden werden, während der Realteil (Trans impedanzwiderstand) bei gleichzeitiger hoher Arbeitsfre quenz vergrößert wird. Eine Phasendrift wird vom Referenz pfad erfaßt.
- - Die Erzielung einer extrem hohen Übersprechdämpfung von Meß- und Referenzkanal ist möglich; der jeweils ausgeschal tete Laser kann insbesondere dann, wenn er gemäß Anspruch 5 mit einer negativen Spannung beaufschlagt ist, schal tungsbedingt kein optisches Signal aussenden. Die Über sprechdämpfung wird nur noch von der optischen Trennung zwischen Meß- und Referenzstrecke bzw. von elektromagneti schen Einkopplungen des Senders auf die Empfangseinrich tung bestimmt.
- - Eine einfache Realisierung einer Kollimationsoptik für den Meßkanal ist auf diese Weise möglich; es wird keine Strahl aufspaltung für einen Referenzpfad benötigt. Die Referenz strecke wird durch den Raum zwischen der Referenz-Laser diode und der Empfangs-Photodiode bestimmt.
- - Die Halbleiterumschaltung kann erfindungsgemäß vereinfacht werden; an die Halbleiterschalter werden in bezug auf die Sperrdämpfung keine hohen Anforderungen gestellt. Die Lauf zeitdifferenzen des Schaltelementes können durch gute An passung der parasitären Größen wie Serienwiderstand und Sperrkapazität durch die Verwendung einer Doppeldiode sehr klein gehalten werden. Die Umschaltung kann mit hohen Pe geln erfolgen, was störtechnisch von Vorteil ist.
- - Es wird eine geringe Laufzeitdrift erzielt; für Meß- und Referenzkanal können bis zur Diodenumschaltung gemeinsame Modulationspfade benutzt werden. Durch die hohe Modula tionsbandbreite von Meß- und Referenzlaser (1 GHz) und vergleichbare Betriebsbedingungen (Temperatur, Arbeits punkt) wird die resultierende Laufzeitdifferenz vernachläs sigbar klein.
- - Die beiden Laserdioden können räumlich so angeordnet wer den, wie es eine optimale Lichtführung auf Meß- und Refe renzstrecke erfordert; beide Lichtwege können auf diese Weise mit hoher Lichtenergie versorgt werden, wodurch äußere Störeinflüsse minimiert werden.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind durch die
Ansprüche 3 und 4 gekennzeichnet.
Die besonders gute Sperrung der gerade inaktivierten Laser
diode kann durch die Maßnahmen der Ansprüche 4 bis 6 weiter
verbessert werden.
Die Ansprüche 7 bis 9 beschreiben vorteilhafte Ausführungs
beispiele für die Schaltung und Regelung der Laserdioden.
Bevorzugte Ausführungsformen für die Hochfrequenzschaltung
sind durch die Ansprüche 10 bis 12 definiert.
Eine besonders zweckmäßige Intensitätsregelung für die Laser
dioden ergibt sich aus Anspruch 13.
Dieses Ausführungsbeispiel wird zweckmäßigerweise gemäß
Anspruch 14 weitergebildet.
Die Erfindung enthält also eine Vorrichtung zur Selbstkali
brierung von Distanzmeßvorrichtungen nach dem Laufzeitverfah
ren.
Erfindungsgemäß wird eine laufzeitneutrale, elektronische
Umschaltung zwischen einem Meßweg und einem Referenzweg
durch zwei optoelektronische Sender, vorzugsweise Halblei
ter-Laserdioden, vorgesehen. Für die Umschaltvorrichtung
können Halbleiterschalter, insbesondere Schalterdioden, ver
wendet werden. Wird der jeweilige Laser vom Arbeitsstrom
kreis getrennt, so sorgt eine Schalterdiode gleichzeitig für
eine Entkopplung vom Modulationskreis mit der entsprechenden
Hochfrequenzinformation. Um im ausgeschalteten Zustand jeg
liche Lichtemission mit Modulationsanteil zu unterbinden,
wird dem Laser eine Hilfsspannung in Sperrichtung zugeführt.
Der aktive Schaltvorgang wird über zwei Hilfsschalter, vor
zugsweise Transistorschalter, im niederfrequenten Teil des
Regelkreises ausgelöst. Diese können gleichzeitig als Stell
glieder eines beiden Lasern gemeinsamen PI-Reglers herangezo
gen werden. Der Regelkreis wird über eine Stromsummenschal
tung beider Monitordioden geschlossen.
Erfindungsgemäß werden also die Nachteile, wie sie bei einer
Referenznahme durch einen Referenzempfänger entstehen wür
den, vermieden. Die hohe Modulationsbandbreite der Laserdio
den in Verbindung mit Diodenschaltern ermöglicht eine gute
Laufzeitkonstanz und damit eine geringe Offsetdrift der
Selbstkalibrierung. Durch Wegfall des einen Referenzempfan
gers kann der Empfangspfad schmalbandig (selektiv) und damit
unempfindlicher gegenüber äußeren Störeinflüssen bzw. Rau
schen gemacht werden. Die Detektivität kann dadurch verbes
sert werden.
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise anhand der
Zeichnung beschrieben; in dieser zeigt
Fig. 1 eine blockschaltbildartige Gesamtansicht eines
erfindungsgemäßen Abstandsmeßgerätes,
Fig. 2 eine etwas detailliertere, schematische Darstellung
des in Fig. 1 gezeigten Lichtsenders und
Fig. 3 ein Schaltbild des in Fig. 2 nur schematisch darge
stellten Lichtsenders.
Nach Fig. 1 erzeugt ein Mutteroszillator 43 eine Frequenz
von z.B. 10 MHz, die über einen Phasenvergleicher 44 einem
variablen Oszillator 45 zugeführt ist, der an einen Digital-
Phasenshifter 46 angeschlossen ist. Der eine Ausgang P′ des
Digital-Phasenshifters 46 ist zum zweiten Eingang des Phasen
vergleichers 44 zurückgeführt, wodurch eine Phase Lock Loop
gebildet wird, aufgrund der der variable Oszillator eine
Frequenz von 300 MHz an den Digital-Phasenshifter 46 abgibt.
Die Frequenzeinstellung kann dadurch herbeigeführt werden,
daß dem Phasenvergleicher 44 bei 87 von einem Mikroprozessor
16 ein geeignetes Frequenzeinstellungssignal zugeführt wird.
Das Ausgangssignal P′ des Digital-Phasenshifters 46 wird
außerdem dem einen Eingang einer Mischstufe 47 zugeführt,
die dieses Signal mit einem von einem Lichtempfänger 12
kommenden Signal additiv oder multiplikativ mischt.
An den Ausgang der Mischstufe 47 ist ein Approximationsfil
ter 48 angeschlossen, welches besonders schmalbandig ist. An
seinem Ausgang erscheint das Integral PxP′, wobei P das vom
Digital-Phasenshifter 46 zu einem Lichtsender 11 abgegebene
Lichtwellenzug-Signal ist. Die Phaseneinstellung des Digi
tal-Phasenshifters 46 erfolgt bei 88 vom Mikroprozessor 16
aus.
Im Digital-Phasenshifter 46 werden zeitlich nacheinander
vier im 90°-Raster einstellbare Phasenpaare mit einer Fre
quenz von 75 MHz erzeugt und als entsprechende Wellenzug
signale P bzw. P′ an den Sender 11 bzw. den Mischer 47
weitergeleitet.
Im Sender 11, der vom Mikroprozessor 16 bei 89 mit Hellig
keitssollwerten und bei 90 mit Schaltsignalen in der weiter
unten beschriebenen Weise gesteuert wird, sind zwei vom
Mikroprozessor 16 über den Anschluß 89 komplementär geschal
tete Laserdioden 18, 19 vorgesehen, von denen die eine (18)
über eine Meßstrecke 14 einen hochfrequent modulierten
Lichtwellenzug zu einem Ziel 13 aussendet, von welchem das
Licht zum unmittelbar neben dem Lichtsender 11 angeordneten
Empfänger 12 zurückreflektiert wird, in welchen nur eine
einzige Photodiode 20 angeordnet ist, die sowohl das Licht
von der Meßstrecke 14 als auch von einer im gleichen Gehäuse
17 wie Lichtsender 11 und Lichtempfänger 12 untergebrachten
Referenzstrecke 15 empfängt, die durch die zweite Laserdiode
19 beschickt wird. Im Lichtempfänger 12 befindet sich auch
ein Verstärker, dessen Ausgangssignal an die Mischstufe 47
angelegt ist.
Die Empfangskreisabstimmung im Empfänger 12 wird bei 91 vom
Mikroprozessor 16 vorgenommen. Weiter führt vom Lichtempfän
ger 12 eine Steuerleitung 92 zum Mikroprozessor 16, aufgrund
der von diesem die Dynamikauswertung vorgenommen wird.
Auch das Approximationsfilter 48 wird über eine Steuerlei
tung 93 vom Mikroprozessor 16 beaufschlagt und bezüglich
seiner Bandbreite gesteuert.
Der Ausgang des Approximationsfilters 48 ist über eine
Analog-Digital-Schaltung 49 an den Mikroprozessor 16 ange
legt, welcher die Signalauswertung in der folgenden Weise
durchführt:
Jeder der vom Digital-Phasenshifter 46 abgegebenen und
jeweils um 90° zueinander phasenversetzten Wellenzüge wird
einmal direkt (P′) auf den einen Eingang der Mischstufe 47
und zum anderen bei P über den Sender 11 und abwechselnd die
Meßstrecke 14 oder die Referenzstrecke 15 sowie den Licht
empfänger 12 an den anderen Eingang der Meßstufe 47 gegeben,
wo eine Multiplikation mit dem Signal P′ stattfindet. Auf
grund der Phasenverschiebung zwischen den über die Meß
strecke 14 und den über die Referenzstrecke 15 gegangenen
Lichtwellenzüge werden am Ausgang des Approximationsfilters
verschiedene Phasensignale erscheinen, aus denen auf die
unterschiedlichen Laufzeiten der Lichtwellenzüge über die
Meßstrecke 14 einerseits und die Referenzstrecke 15 anderer
seits geschlossen werden kann, was im Mikroprozessor 16 aus
gewertet wird. Unter Berücksichtigung der Lichtgeschwindig
keit kann so der Abstand des Gehäuses 17 vom Ziel 13 ermit
telt werden.
Erfindungsgemäß ist im Lichtempfänger 12 nur eine einzige
sowohl von der Meßstrecke 14 als auch von der Referenz
strecke 15 her beaufschlagte Photodiode 20 vorgesehen.
Nach Fig. 2 besitzt der Lichtsender 11 zwei Laserdioden 18,
19, von denen die eine die Meßstrecke 14 und die andere die
Referenzstrecke 15 mit einem gebündelten Lichtstrahl ver
sorgt.
Nach Fig. 2 sind die Laserdioden 18, 19 mit ihren Pluspolen
über jeweils einen Hilfsschalter 21, 22 mit zugeordnetem Reg
ler bei 23 an eine positive Speisegleichspannungsquelle mit
einer Spannung von beispielsweise +5,2 V angeschlossen.
Die negativen Pole der Laserdioden 18, 19 sind über einen
Hochfrequenzschalter 24 bzw. 25 an eine geerdete Induktivi
tät 33 angelegt, die Teil eines Hochpasses bildet, zu dem
auch ein Kondensator 34 gehört, der von schematisch angedeu
teten Hochfrequenz-Modulationsspannungsklemmen 26, 27 beauf
schlagt ist, denen die Wellenzugsignale P (Fig. 1) zugeführt
werden.
An den positiven Pol der Laserdioden 18, 19 ist über jeweils
einen hochohmigen Widerstand 29 bzw. 30 und eine Klemme 28
eine negative Hilfsspannung von z.B. -12 V angeschlossen.
Die Hilfsschalter mit Regelung 21, 22 werden über an Klemmen
bzw. angelegte Schaltsignale komplementär zueinander
geschaltet. Wenn - wie in Fig. 2 dargestellt - der Schalter
21 geschlossen ist, dann ist der andere Schalter 22 offen
und umgekehrt.
Jeder Laserdiode 18, 19 ist eine Monitordiode 18′ bzw. 19′
zugeordnet, die abwechselnd einen PI-Regler 41 ansteuern,
dem außerdem von den Schaltklemmen bzw. entsprechend
der Stellung der Hilfsschalter 21, 22 abwechselnd zugeschal
tete Sollwerte S1 bzw. S2 zugeführt sind.
Der PI-Regler 41 gibt bei 94, 95 Regelsteuersignale für den
Regelteil der Schalter 21, 22 ab. Auf diese Weise kann der
Strom zu den Laserdioden 18, 19 so eingeregelt werden, daß
die Lichtintensität der Laserdioden 18, 19 konstant ist.
Über die Sollwertzuführung S1, S2 kann weiter dafür gesorgt
werden, daß einer Degradation der Laserdioden 18, 19 durch
eine stärkere Öffnung der Regler der Schalter 21, 22
entgegengewirkt wird. Auch Voreinstellungen bestimmter Licht
intensitäten sind durch eine Veränderung der Sollwerte S1
und S2 möglich.
Kondensatoren 35, 37 zwischen den Pluspolen der Laserdioden
18, 19 und Masse stellen einen Hochpaß für die über die
Diodenschalter 24, 25 zugeführte Hochfrequenz-Modulations
spannung dar.
Die Schaltung nach Fig. 2 arbeitet wie folgt:
Über die Schaltklemmen 18, 19 werden Schaltsignale für die
Schalter 21, 22 in der Weise zugeführt, daß stets der eine
Schalter geschlossen, der andere offen ist. Synchron damit
werden auch die Hochfrequenzschalter 24, 25 geschlossen bzw.
geöffnet, was durch gestrichelte Kopplungslinien 96, 97
angedeutet ist. Sofern die Schalter 21, 24 (siehe linke Dar
stellung in Fig. 2) geschlossen sind, liegt die zugeordnete
Laserdiode 18 zwischen der positiven Speisespannungsklemme
23 und Masse und wird daher eingeschaltet. Über den Hochpaß
33, 34, 35 wird gleichzeitig der durch die Laserdiode 18
fließende Gleichstrom mit einer entsprechenden Hochfrequenz
spannung von z.B. 75 MHz moduliert.
Nachdem auf diese Weise viele Lichtwellenzüge geeigneter Län
ge über die Meßstrecke 14 zur Empfangsdiode 20 (Fig. 1) ge
schickt worden sind, schaltet das Schaltsignal an der Schalt
klemme den Schalter 21 und damit auch den Schalter 24 in
die Offenstellung zurück, während ein komplementäres Schalt
signal an der Schaltklemme den Schalter mit Regler 22
sowie den Hochfrequenzschalter 25 schließt. Nunmehr setzt
sich das Arbeitsspiel an der Laserdiode 19 entsprechend
fort, und die Lichtwellenzüge werden über die Referenz
strecke 15 (Fig. 1) geschickt.
Je nachdem, welche Laserdiode (18 oder 19) aktiv ist, gibt
die zugeordnete Monitordiode 18′ oder 19′ über eine gemein
same Leitung 98 ein Istwert-Signal an den PI-Regler 41 ab.
Gleichzeitig sorgen die Schaltsignale an den Schaltklemmen
, dafür, daß auch das der betreffenden Laserdiode 18
oder 19 zugeordnete Sollwertsignal S1 oder S2 dem PI-Regler
zugeleitet wird, welches dann den Regler des betreffenden
Schalters 21 oder 22 entsprechend so einstellt, daß die
Laserdioden 18, 19 mit einer vorbestimmten Intensität Licht
wellenzüge abgeben.
Ein nach dem Prinzipschaltbild der Fig. 2 arbeitendes Schal
tungsbeispiel wird im folgenden anhand von Fig. 3 erläutert.
Die beiden Laserdioden 18, 19 sind einerseits über einen
Schalt-Regeltransistor 21 bzw. 22 und einen in dessen Emit
terkreis eingeschalteten Widerstand 50, 51 an die auf einem
Potential von +5,2 V liegende positive Speisegleichspannungs
klemme 23 angelegt. Der negative Pol der Laserdioden 18, 19
ist andererseits über jeweils eine einen Hochfrequenzschal
ter bildende in der gleichen Richtung wie die Laserdioden
18, 19 eingeschaltete Schaltdiode 24 bzw. 25 und eine gemein
same Induktivität 32 an Masse angelegt, deren Potential über
eine Klemme 52 zugeführt ist.
Die Induktivität 33 ist Bestandteil eines auch einen Konden
sator 34 aufweisenden Hochpaßfilters, welches über einen
Widerstand 53 an eine Modulationstreiberstufe 54 angeschlos
sen ist, die aus zwei mittels der Basen miteinander verbun
denen Transistoren und den zugeordneten Widerständen besteht
und ebenfalls zwischen Masse und die Speisegleichspannungs
klemme 23 geschaltet ist. Ein Kondensator 55 sowie eine
Induktivität 56 bewirken eine Fernhaltung der Hochfrequenz
modulationsspannung von der Speisegleichspannungsleitung. An
den Emitter des einen Transistors der Treiberstufe 54 ist
über einen Widerstand 57 und einen Kondensator 58 die Aus
gangsspannung eines Übertragers 59 angeschlossen, dessen
Eingangswicklung über ein Potentiometer 60 an die Hochfre
quenz-Modulationsspannungsklemmen 26, 27 angelegt ist, der
die Wellenzugsignale P (Fig. 1) zugeführt sind. Die positive
Zuleitung zu den Laserdioden 18, 19 ist über Hochfrequenz-
Ableitungskondensatoren 35, 36 bzw. 37, 38 an Masse und über
hochohmige Widerstände 29 bzw. 30 an eine Klemme 28 für die
Zuführung einer Hilfsspannung von -12 V angelegt.
Der Verbindungspunkt zwischen den Laserdioden 18, 19 und den
zugeordneten Schaltdioden 24, 25 ist über eine entgegen den
Laserdioden 18, 19 geschaltete Hilfsdiode 61 bzw. 62 eben
falls an die positive Zuleitung der Laserdioden 18, 19 ange
schlossen. Der von den Transistoren 21, 22 abgewandte Pol
der Hilfsdioden 61, 62 ist außerdem über einen Widerstand
63, 64 geerdet.
Jeder Laserdiode 18, 19 ist eine Monitordiode 18′, 19′ zuge
ordnet, die einerseits an die positive Zuleitung und anderer
seits über in der gleichen Richtung wie die Dioden 24, 25
eingeschaltete Dioden 39, 40 gemeinsam an den Eingang des
PI-Reglers 41 angelegt sind, welcher zwei hintereinanderge
schaltete Operationsverstärker 65 bzw. 66 enthält. Die Be
triebsspannungen werden in der dargestellten Weise von der
auf -12 V liegenden Klemme 28 und einer weiteren auf +12 V
liegenden Klemme 67 abgeleitet. Der Minus-Eingangsklemme des
Operationsverstärkers 66 werden abwechselnd zwei Sollsignale
S1, S2 zugeführt, die über parallel geschaltete Sollwert-Ein
stellungspotentiometer 68 bzw. 69 und Schalttransistoren 70
bzw. 71 von einer eine exakte Konstantgleichspannung führen
den Klemme 42 abgeleitet sind. Die Gleichspannung wird den
Potentiometern 68, 69 über Schalttransistoren 70, 71 zuge
führt, die von den bei , anliegenden Schaltsignalen
synchron mit den Laserdioden 18, 19 geöffnet und geschlossen
werden. Auf diese Weise wird beim Einschalten einer jeden
Laserdiode 18 oder 19 dem Eingang des Operationsverstärkers
66 gerade der für die betreffende Laserdiode vorgesehene
Sollwert S1 oder S2 zugeführt.
Der Ausgang des PI-Reglers 41 ist über Widerstände 72 bzw.
73 dem Kollektor eines Schalttransistors 31 bzw. 32 zuge
führt, der über eine Diode 74 bzw. 75 in der dargestellten
Weise an die positive Versorgungsgleichspannung +5,2 V ange
legt ist. Die positive Speisegleichspannungsleitung ist über
einen Kondensator 76 zur weiteren Hochfrequenzentkopplung
geerdet.
Dem Kollektor der Schalttransistoren 31 bzw. 32 wird jeweils
über einen Widerstand 77 bzw. 78 von den Klemmen bzw.
die Schaltspannung für die Laserdioden 18, 19 zugeführt.
Die Emitter der Schalttransistoren 31, 32 sind über Kondensa
toren 79 bzw. 80 und Widerstände 81 bzw. 82 an die positive
Gleichspannungsklemme 23 angelegt. Weiter ist er mit der
Basis des Transistors 21 bzw. 22 verbunden, dessen Emitter
wie oben bereits erwähnt über einen Widerstand 50 bzw. 51 an
der positiven Speisegleichspannung +5,2 V liegt und dessen
Kollektor mit der positiven Zuleitung für die Laserdioden 18
bzw. 19 verbunden ist.
Von den Emittern der Regel-Schalttransistoren 21 bzw. 22
wird über Widerstände 83 bzw. 84 eine Spannung abgegriffen
und zu einer Klemme 85 geführt. Dieses Signal ist für den
durch die Laserdioden 18, 19 fließenden Strom repräsentativ
und kann im Mikroprozessor 16 (Fig. 1) zur Überwachung des
Regelkreises bezüglich Einhaltung der Laserschutzklasse oder
der Degradation beider Laser herangezogen werden. Zu diesem
Zweck ist auch eine weitere Überwachungsklemme S6 vorge
sehen, die über einen Widerstand 87 an den Ausgang des
Operationsverstärkers 65 des PI-Reglers 41 angelegt ist. Da
dieses Signal von der Lichtbeaufschlagung der Monitordioden
18′, 19′ abhängig ist, ist es repräsentativ für die Hellig
keit der Laserdioden 18, 19 bei einem bestimmten angelegten
Strom, der wiederum an der Klemme 85 gemessen werden kann.
Auf diese Weise kann der Mikroprozessor 16, an den die Klem
men 85, 86 angeschlossen sind, feststellen, wenn beispiels
weise für einen bestimmten Diodenstrom die Lichtleistung
nachläßt, was dann bei der Auswertung Berücksichtigung fin
den kann.
Die Funktion der beschriebenen Schaltung ist wie folgt:
Über die Laserdioden-Schaltklemmen und werden vom
Mikroprozessor 16 abwechselnd Einschaltsignale für die Laser
dioden 18 bzw. 19 abgegeben, welche über die Schalttransisto
ren 31 bzw. 32 die Regel-Schalttransistoren 21, 22 öffnen,
und zwar jeweils so, daß zu einer Zeit immer nur einer der
Transistoren 21 oder 22 geöffnet, der andere dagegen ge
schlossen ist. Nunmehr wird über den Widerstand 50 der Laser
diode 18 oder über den Widerstand 51 der Laserdiode 19 der
für das Aufleuchten erforderliche Gleichstrom zugeführt, der
über die Schaltdioden 24 oder 25 und die Induktivität 33
nach Masse abfließt.
Aufgrund der den Widerständen 29 bzw. 30 zugeführten negati
ven Spannung von -12 V ist jeweils nur diejenige Schaltdiode
24 oder 25 geöffnet, deren Laserdiode 18 oder 19 über den zu
geordneten Transistor 21 oder 22 eine positive Spannung zuge
führt ist. Hierdurch entfällt nämlich der von der negativen
Spannung durch die Dioden 61 bzw. 62 und die Widerstände 63
bzw. 64 gezogenen Strom, welcher den positiven Pol der
Schalttransistoren 24 oder 25 negativ gemacht hatte, so daß
die betreffende Schaltdiode sperrte. Die Schaltdioden 24, 25
öffnen und schließen also synchron mit den zugehörigen
Laserdioden 18, 19.
Sobald eine Laserdiode z.B. 18 aktiv ist, kann über die
nunmehr offene Schaltdiode, z.B. 24, vom Hochpaß 33, 34 her
die bei 26, 27 angelegte Hochfrequenz-Modulationsspannung zu
der zugeordneten Laserdiode, z.B. 18, gelangen. Sie wird
über die Kondensatoren 35, 36 oder 37, 38 nach Masse abge
führt. Auf diese Weise erfolgt die Modulation der Laser
dioden 18, 19, während sie von einer sie zum Leuchten brin
genden Gleichspannung beaufschlagt sind. Die Modulationstie
fe ist so groß, daß die Dioden während der Modulation in
Rhythmus der zugeführten Hochfrequenz-Modulationsspannung
erlöschen und wieder aufleuchten und kann am Potentiometer
60 eingestellt werden.
Aufgrund des Anschlusses des Kollektors der Transistoren 31,
32 an den Ausgang des PI-Reglers 41 wird der Öffnungsgrad
der Regel-Schalttransistoren 21 bzw. 22 gerade so eingere
gelt, daß die Laserdioden 18 bzw. 19 die an den Potentio
metern 68 bzw. 69 eingestellte Lichtstärke annehmen. Die
Regel-Schalttransistoren 21, 22 erfüllen also eine Dop
pelfunktion als Stellglieder des Regelkreises wie auch als
Schalter für die Zu- und Abschaltung der Laserdioden 18, 19.
Erfindungsgemäß führen also die Schaltdioden 24, 25 sowohl
den Gleich-Laserstrom als auch den überlagerten Modulations-
Hochfrequenzstrom. Es handelt sich um Hochfrequenzschalter,
weil sie beim Abschalten der zugeordneten Laserdiode 18 oder
19 öffnen und beim Zuschalten von selbst wieder schließen.
Wesentlich ist auch noch, daß bei abgeschalteten Laserdioden
18 bzw. 19 die positiven Zuleitungen die Laserdioden über
die Widerstände 29, 30 an eine negative Hilfsspannung ange
legt sind, so daß in diesen Perioden eine die Laserdioden
vollständig sperrende Spannung an ihnen anliegt. Im abge
schalteten Zustand der Laserdioden 18 oder 19 liegt jeweils
ein Spannungsteiler über den Widerstand 63, die Diode 61 und
den Widerstand 29 bzw. den Widerstand 64, die Diode 62 und
den Widerstand 30 vor. Die Dioden 61, 62 begrenzen diese
Hilfsspannung auf einen zulässigen Wert. Dadurch werden die
gewünschten Eigenschaften, nämlich insbesondere das Aufleuch
ten der Laserdioden nur in den gewünschten Perioden unter
stützt.
Die Helligkeit der beiden Laserdioden kann durch die
Potentiometer 68 oder 69 voreingestellt werden.
Die Regelbandbreite des PI-Reglers 41 ist sehr viel kleiner
als die Modulationsfrequenz.
Während jeder Einschaltperiode einer der Laserdioden 18, 19
werden einige tausend hochfrequenzmodulierte Lichtwellenzüge
über die Meßstrecke 14 bzw. die Referenzstrecke 15 übertra
gen.
Claims (14)
1. Abstandsmeßgerät mit einem photoelektrischen Lichtempfän
ger (12) und einem vorzugsweise daneben angeordneten
photoelektrischen Lichtsender (11), der hochfrequent
modulierte Lichtwellenzüge abwechselnd über eine Meß
strecke (14) und ein an deren Ende angeordnetes reflek
tierendes Ziel (13), dessen Abstand vom Lichtsender (11)/
Lichtempfänger (12) gemessen werden soll, und über eine
vorzugsweise innerhalb des Gehäuses (17) zwischen Licht
sender (11) und Lichtempfänger (12) vorgesehene Referenz
strecke (15) bekannter Länge zu dem Lichtempfänger (12)
schickt, sowie mit einer Auswerteelektronik, die
vorzugsweise einen Mikroprozessor (16) enthält und die
vom Lichtempfänger (12) abwechselnd empfangenen
Lichtwellenzüge auf die Differenz der Laufzeit über die
Meßstrecke (14) einerseits und die Referenzstrecke (15)
andererseits auswertet und daraus unter Berücksichtigung
der Lichtgeschwindigkeit und der bekannten Länge der
Referenzstrecke (15) den Abstand des Lichtsenders
(11)/Lichtempfängers (12) vom Ziel (13) ermittelt,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Lichtsender (11) zwei elektronisch komplementär
schaltbare, optoelektronische Licht-Sendeelemente, insbe
sondere Licht-Sendehalbleiterelemente und vorzugsweise
Laserdioden (18, 19) enthält, von denen die eine (18) die
Lichtwellenzüge auf die Meßstrecke (14), die andere (19)
die Lichtwellenzüge auf die Referenzstrecke (15) schickt,
und daß der Lichtempfänger (12) ein sowohl die Lichtwel
lenzüge von der Meßstrecke (14) als auch die Lichtwellen
züge von der Referenzstrecke (15) empfangendes optoelek
tronisches Licht-Empfangselement, insbesondere Licht-
Empfangshalbleiterelement, vorzugsweise Photodiodenele
ment (20) enthält das an die Auswerteelektronik ange
schlossen ist.
2. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Lichtwellenzüge eine Wellenlänge in der Größenord
nung des zu messenden Abstandes aufweisen und die Auswer
teelektronik die Phasendifferenz der Modulation der über
die Meßstrecke (14) und der über die Referenzstrecke (15)
gegangenen Lichtwellenzüge mißt.
3. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Laserdioden (18, 19) durch komplementär schalt
bare Hilfsschalter (21, 22) an eine Speisegleichspannung
(23) und durch vorzugsweise synchron mit den Hilfsschal
tern (21, 22) komplementär schaltbare Hochfrequenzschal
ter (24, 25) an die Hochfrequenz-Modulationsspannung (26,
27) anschließbar sind.
4. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Hilfsschalter (21, 22) in die positiven Zuleitun
gen und die Hochfrequenzschalter (24, 25) in die nega
tiven Zuleitungen zu den Laserdioden (18; 19) eingeschal
tet sind.
5. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 3 oder 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die jeweils abgeschaltete Laserdiode (18; 19) mit
einer vorzugsweise negativen Spannung (28) in Sperrich
tung beaufschlagt ist.
6. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die positive Klemme jeder Laserdiode (18; 19) über
einen größenordnungsmäßig höheren Widerstand (29; 30) als
der Widerstandswert der durchgeschalteten Laserdiode (18;
19) an eine vorzugsweise negative Sperr-Gleichspannung
(28) angeschlossen ist.
7. Abstandsmeßgerät nach einem der Ansprüche 3 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die positive Klemme jeder Laserdiode (18; 19) über je
einen den Hilfsschalter bildenden Transistor (21, 22) an
die positive Speisespannung (23) angeschlossen ist.
8. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Transistor (21; 22) sowohl von einem Schaltsignal
(, ) als auch von einem Regelsignal zur Einhaltung
einer vorbestimmten Lichtintensität und vorzugsweise auch
zur Ausregelung von Laserdregadationen beaufschlagt ist.
9. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem kombinierten Schalt-Regel-Transistor (21; 22) ein
vorzugsweise an seiner Basis von dem Schaltsignal (,
) und vorzugsweise an seinem Kollektor von dem Regel
signal beaufschlagter Schalttransistor (31; 32) vorge
schaltet ist.
10. Abstandsmeßgerät nach einem der Ansprüche 3 bis 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß in die negative Zuleitung zu den Laserdioden (18;
19) als Hochfrequenzschalter in der gleichen Richtung
wie die Laserdioden (18; 19) gepolte Schaltdioden (24;
25) eingeschaltet sind, welche gemeinsam über die
Induktivität (33) eines von der Hochfrequenz-Modulations
spannung (26, 27) beaufschlagten Hochpaßfilters (33, 34)
an den negativen Pol der Speisespannung bzw. Masse ange
legt sind.
11. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Verbindungspunkt jeder Schaltdiode (24; 25) mit
der Laserdiode (18; 19) bei ausgeschalteter Laserdiode
(18; 19) an einer negativen Spannung (28) liegt.
12. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 10 oder 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der positiven Zuleitung der Laserdioden
(18, 19) und dem negativen Pol der Speisespannung bzw.
Masse Hochfrequenz-Entkopplungskondensatoren (35, 36,
37, 38) eingeschaltet sind.
13. Abstandsmeßgerät nach einem der Ansprüche 3 bis 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß jeder Laserdiode (18; 19) eine vorzugsweise inte
grierte Monitordiode (18′; 19′) zugeordnet ist, welche
vorzugsweise über eine in gleicher Richtung wie die
Schaltdioden (24, 25) eingeschaltete Diode (39, 40) an
den Eingang eines PI-Reglers (41) angeschlossen ist, der
vorzugsweise über die Schalt-Regel-Transistoren (21, 22;
31, 32) die Laserdioden (18; 19) auf einen vorbestimmten
Intensitätswert einregelt.
14. Abstandsmeßgerät nach Anspruch 13,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem PI-Regler (41) auch ein die Degradation der
Laserdioden (18; 19) berücksichtigendes bzw. der Einstel
lung der Laserdiodenhelligkeit dienendes Sollwertsignal
(42) zugeführt wird, und zwar vorzugsweise für jede
Laserdiode (18, 19) ein gesondertes Sollwertsignal (S1,
S2).
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE4002356A DE4002356C2 (de) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | Abstandsmeßgerät |
DE59108629T DE59108629D1 (de) | 1990-01-26 | 1991-01-02 | Abstandsmessgerät |
EP91100115A EP0439011B1 (de) | 1990-01-26 | 1991-01-02 | Abstandsmessgerät |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE4002356A DE4002356C2 (de) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | Abstandsmeßgerät |
Publications (2)
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DE4002356C1 true DE4002356C1 (de) | 1991-02-28 |
DE4002356C2 DE4002356C2 (de) | 1996-10-17 |
Family
ID=6398873
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE4002356A Expired - Fee Related DE4002356C2 (de) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | Abstandsmeßgerät |
DE59108629T Expired - Fee Related DE59108629D1 (de) | 1990-01-26 | 1991-01-02 | Abstandsmessgerät |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE59108629T Expired - Fee Related DE59108629D1 (de) | 1990-01-26 | 1991-01-02 | Abstandsmessgerät |
Country Status (4)
Country | Link |
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US (1) | US5180922A (de) |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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DE4002356C2 (de) | 1996-10-17 |
JP3188282B2 (ja) | 2001-07-16 |
EP0439011B1 (de) | 1997-03-26 |
DE59108629D1 (de) | 1997-04-30 |
EP0439011A3 (en) | 1993-01-20 |
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D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8366 | Restricted maintained after opposition proceedings | ||
8305 | Restricted maintenance of patent after opposition | ||
D3 | Patent maintained restricted (no unexamined application published) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |