DE3817321A1 - Method and device for carrying out the dimensional checking (inspection) of a workpiece in an optoelectronic way - Google Patents
Method and device for carrying out the dimensional checking (inspection) of a workpiece in an optoelectronic wayInfo
- Publication number
- DE3817321A1 DE3817321A1 DE3817321A DE3817321A DE3817321A1 DE 3817321 A1 DE3817321 A1 DE 3817321A1 DE 3817321 A DE3817321 A DE 3817321A DE 3817321 A DE3817321 A DE 3817321A DE 3817321 A1 DE3817321 A1 DE 3817321A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- coordinates
- workpiece
- measuring
- points
- reference system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title claims description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000000844 transformation Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 16
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 7
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/245—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
Abstract
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und ein Gerät zur Durchführung der Maßkontrolle eines Werkstücks auf optoelektronischem Weg.The present invention relates to a method and a device for carrying out the dimensional control of a workpiece optoelectronic.
Bekanntlich ist es von grundlegender Bedeutung, bei der Fertigung mechanischer Teile mit einem Montageband genaue Maßkontrollen durchführen zu können. Man denke zum Beispiel an das immer stärker durchautomatisierte Gebiet des Kraft fahrzeugbaus, auf dem tunlichst alle in immer schnellerem Takt entlang einer Montagestraße geförderten Teile unter ständiger Maßkontrolle stehen sollten.As is well known, it is fundamental in the Manufacturing mechanical parts with an assembly line accurate To be able to carry out dimensional checks. For example, think to the increasingly automated field of power vehicle construction, wherever possible in ever faster Parts conveyed to a cycle along an assembly line constant dimensional control should be available.
In der Vergangenheit wurde die Maßkontrolle bei der Fertigung in der Kraftfahrzeugindustrie im allgemeinen durch den Einsatz herkömmlicher statischer Lehren durchgeführt, die sich offensichtlich für Kontrollen im großen Maßstab nur schlecht eigneten. Es wurden dann flexible Meßmaschinen ent wickelt, die in der Lage waren, unterschiedliche, auf ein zelne Baumuster und auf die Anzahl der Meßpunkte in den verschiedenen Baumustern abgestimmte Meßprogramme durchzu führen. Obwohl diese Maschinen eine beträchtliche Leistungs steigerung gegenüber den vorherigen Techniken darstellen, sind sie jedoch besonders kostenaufwendig, bedürfen einer peinlich genauen und ständigen Wartung und sind bei der Datenerfassung noch ziemlich langsam; aus diesem Grund können sie nur für statistische Abnahmeprüfungen auf der Grundlage eines vorgegebenen Probenahmeplans eingesetzt werden.In the past, the dimensional control at Manufacturing in the automotive industry in general performed the use of conventional static gauges, which is obviously only for large-scale controls badly suited. Flexible measuring machines were then developed wraps that were able to different on one individual models and on the number of measuring points in the various measurement programs to lead. Although these machines are of considerable power represent an increase over the previous techniques, however, if they are particularly expensive, they need one meticulously accurate and constant maintenance and are at the Data acquisition still fairly slow; for this reason can only be used for statistical acceptance tests on the Based on a specified sampling plan will.
In letzter Zeit wurden Meßmethoden eines optoelektroni schen Typs entwickelt, die zur Kontrolle vorgegebener Merk male aller Serienteile eingesetzt werden können. Gemäß diesen Methoden werden mittels optoelektronischer Geräte Abweichungen der geprüften Werkstückpunkte gegenüber den Meßpunkten eines Bezugsmusters, das im allgemeinen als "Mastermodell" bezeichnet wird, gemessen. Die Ergebnisse dieser Messungen hängen offensichtlich von der Lage und der Wiederholbarkeit des Musterstücks sowie von der Lage des zu prüfenden Werkstücks gegenüber dem Vermessungsgerät im Au genblick der Vermessung ab; ferner beziehen sich diese Er gebnisse nicht auf absolute Koordinaten (bezüglich des Werk stücks selbst, die in der Planungsphase angegeben werden).Lately methods of measuring an optoelectroni developed type to control the specified Merk Male of all series parts can be used. According to These methods are using optoelectronic devices Deviations of the checked workpiece points from the Measuring points of a reference pattern, which is generally called "Master model" is measured. The results these measurements obviously depend on the location and the Repeatability of the sample and the location of the testing workpiece against the surveying device in the Au moment of measurement; furthermore these refer to Er results on absolute coordinates (regarding the work pieces themselves, which are specified in the planning phase).
Zweck der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren und die Ausführung eines Geräts zur Durchführung der Maß kontrolle eines Werkstücks auf optoelektronischem Weg vor zuschlagen, die die Beurteilung aller Werkstücke einer ge samten Produktion während ihrer Förderung entlang der be treffenden Fertigungsstraße ermöglichen und die Meßdaten in einem absoluten Bezugssystem liefern (zum Beispiel im Be zugssystem des Werkstücks selbst). Ferner dürfen die obigen Daten nicht, oder wenigstens nur innerhalb bestimmter Tole ranzgrenzen, von der Ausrichtung und der Lage der zu kon trollierenden Werkstücke auf dem Produktionsband abhängen.The purpose of the present invention is a method and the execution of a device to carry out the measurement inspection of a workpiece using optoelectronic methods to strike the assessment of all workpieces of a ge entire production during its promotion along the entire enable appropriate production line and the measurement data in provide an absolute reference system (for example in Be traction system of the workpiece itself). Furthermore, the above No data, or at least only within certain toles borders, the orientation and the position of the con hang trolling workpieces on the production line.
Dieser Zweck wird mit der vorliegenden Erfindung er reicht, indem diese sich auf ein Verfahren zur Durchführung der Maßkontrolle eines Werkstücks auf optoelektronischem Weg bezieht, das durch die nachstehenden wesentlichen Verfah rensschritte gekennzeichnet ist:This purpose is achieved with the present invention suffices by referring to a procedure for implementation the dimensional control of a workpiece by optoelectronic means related by the following essential procedures is marked:
- - Anordnen einer Mehrzahl von dreidimensionalen Meß köpfen eines optoelektronischen Typs in einer Trägerkon struktion, so daß die relativen Stellungen dieser Meßköpfe gegenüber der genannten Konstruktion bekannt sind;- Arranging a plurality of three-dimensional measurements heads of an optoelectronic type in a carrier con structure, so that the relative positions of these measuring heads are known to the construction mentioned;
- - Einstellen der Meßköpfe auf das Werkstück, so daß vorgegebene Bezugspunkte sowie vorgegebene zu kontrollie rende Punkte desselben von den Meßköpfen aufgenommen werden;- Setting the measuring heads on the workpiece so that predefined reference points as well as predefined control points points of the same are recorded by the measuring heads;
- - Feststellen erster Koordinaten im Bezugssystem des Meßkopfs für jeden dieser Punkte; und- Determine first coordinates in the reference system of the Measuring head for each of these points; and
- - Umwandeln dieser ersten Koordinaten in zweite Koor dinaten in einem einzigen, auf das Werkstück bezogenen Be zugssystem mittels rotations-translatorischer Transforma tionen, die auf die genannten ersten Koordinaten angewandt werden.- Convert these first coordinates to second coor dinates in a single piece related to the workpiece traction system by means of rotation-translational transforma tions applied to the first coordinates mentioned will.
Ferner betrifft die vorliegende Erfindung ein Gerät zur
Maßkontrolle eines Werkstücks auf optoelektronischem Weg,
dadurch gekennzeichnet, daß es umfaßt:
Eine Mehrzahl von Meßköpfen eines optoelektronischen
Typs, von denen jeder einen oder mehrere der zu messenden
Punkte des Werkstücks erfaßt, und die an einer Trägerkon
struktion befestigt sind;
erste Speichermittel für Kalibrierparameter jedes Meß
kopfs bezüglich der Trägerkonstruktion; und
eine Datenverarbeitungs- und Recheneinheit, die mit den
Meßköpfen und den ersten Speichermitteln verbunden ist,
wobei diese Einheit in der Lage ist, erste, von den einzel
nen Meßköpfen aufgenommenen Koordinaten, die sich auf ein
Bezugssystem des jeweiligen Meßkopfs beziehen, in zweite
Koordinaten in dem einzigen Bezugssystem des Werkstücks
umzuwandeln.Furthermore, the present invention relates to an apparatus for dimensional control of a workpiece by optoelectronic means, characterized in that it comprises:
A plurality of measuring heads of an optoelectronic type, each of which detects one or more of the points of the workpiece to be measured, and which are attached to a support structure;
first storage means for calibration parameters of each measuring head with respect to the support structure; and
a data processing and arithmetic unit which is connected to the measuring heads and the first storage means, this unit being able to convert first coordinates recorded by the individual measuring heads, which relate to a reference system of the respective measuring head, into second coordinates in the to convert the single reference system of the workpiece.
Zwecks besseren Verständnisses der vorliegenden Erfin dung wird nachstehend ausschließlich beispielhaft und nicht einschränkend, und unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung, eine bevorzugte Ausführungsform beschrieben. Auf dieser ist bzw. sindFor a better understanding of the present invention below is only exemplary and not restrictive, and with reference to the accompanying Drawing, a preferred embodiment described. On this is or are
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines Teils einer Ausführungsform der Erfindung, die in einem An wendungsbeispiel näher erläutert wird; Fig. 1 is a perspective view of part of an embodiment of the invention, which is explained in an application example to;
Fig. 2 ein Blockschaubild eines im wesentlichen elektronischen Teils des Geräts der Fig. 1; FIG. 2 is a block diagram of an essentially electronic part of the device of FIG. 1;
Fig. 3 und 4 schematische Ansichten von Einzelheiten eines geprüften Werkstücks, die in unterschiedlichen Bezugs systemen betrachtet werden; FIGS. 3 and 4 are schematic views of details of an inspected workpiece that are considered systems in different reference;
Fig. 5 ein Flußdiagramm einer möglichen Ausführungsform eines Hauptprogramms einer arithmetischen Datenverarbeitungs einheit, die in Fig. 2 schematisch dargestellt ist; und FIG. 5 shows a flowchart of a possible embodiment of a main program of an arithmetic data processing unit, which is shown schematically in FIG. 2; and
Fig. 6 ein erweitertes Flußdiagramm, das im wesentlichen einen Block des Flußdiagramms der Fig. 5 betrifft. FIG. 6 is an expanded flow chart that essentially relates to a block of the flow chart of FIG. 5.
Unter besonderer Bezugnahme auf Fig. 1 wird mit 10 insgesamt ein Gerät bezeichnet, das in der Lage ist, der Reihe nach die Maßkontrolle mechanischer Werkstücke 11 vorzunehmen, die von einem Förderband einer (nicht darge stellten) Montagestraße getragen werden.With particular reference to Fig. 1, 10 designates a device which is able to perform the dimensional control of mechanical workpieces 11 , which are carried by a conveyor belt (not shown) assembly line.
Das Gerät 10 umfaßt eine bestimmte Anzahl völlig glei cher Meßköpfe 15, die von einer Konstruktion 16 gehalten werden, die im wesentlichen aus einem Querträger 17 besteht, der an seinen gegenüberliegenden Enden von entsprechenden starr im Boden befestigten Stützpfeilern 18 getragen wird. Ferner umfaßt das Gerät 10 eine elektronische Datenverarbei tungseinheit 20, deren entsprechenden Eingänge/Ausgänge mit den Meßköpfen 15 verbunden sind, und das ferner mit einer Eingangseinheit 21 (im vorliegenden Fall ein Tastenfeld) so wie mit zwei Ausgangseinheiten 22, 23 (im vorliegenden Fall ein Fernsehgerät und ein Drucker) versehen ist.The device 10 comprises a certain number of completely identical measuring heads 15 , which are held by a construction 16 , which consists essentially of a cross member 17 , which is supported at its opposite ends by corresponding rigid pillars 18 fixed in the ground. Furthermore, the device 10 includes an electronic data processing unit 20 , the corresponding inputs / outputs of which are connected to the measuring heads 15 , and furthermore with an input unit 21 (in the present case a keypad) and with two output units 22 , 23 (in the present case one) TV and a printer) is provided.
Unter besonderer Bezugnahme auf Fig. 2 umfaßt je der Meßkopf 15 im wesentlichen eine Fernsehkamera 25, eine Vorrichtung 26 zur Erzeugung eines Laserbündels 27, dessen optische Ausstrahlungsstärke kontinuierlich regelbar ist, sowie eine Beleuchtungsvorrichtung 28 mit Infrarotstrahlen, deren optische Ausstrahlungsstärke ebenfalls kontinuierlich regelbar ist, und die auf geeignete Weise mittels einer Mehr zahl (nicht dargestellter) Leuchtdioden verwirklicht wird, die beispielsweise als kreisförmiger Kranz um das Objektiv der Fernsehkamera 25 angeordnet sind.With particular reference to FIG. 2, each measuring head 15 essentially comprises a television camera 25 , a device 26 for generating a laser beam 27 , the optical radiation intensity of which can be continuously adjusted, and an illumination device 28 with infrared rays, the optical radiation intensity of which can also be continuously controlled, and which is implemented in a suitable manner by means of a plurality (not shown) of light-emitting diodes, which are arranged, for example, as a circular ring around the lens of the television camera 25 .
Die Datenverarbeitungseinheit 20 besteht im wesentli chen aus einer Einheit 29, die sowohl die Funktion einer Schnittstelle als auch die Aufbereitung (Filterung, Schwel lenwertbestimmung usw.) der von der Fernsehkamera 25 jedes Meßkopfs 15 ankommenden Signale übernimmt, aus einer Daten verarbeitungs- und Recheneinheit 30 und aus einer Mehrzahl von Speichern 31, 32, 33, 34, die ausschließlich aus Bequem lichkeitsgeründen einzeln dargestellt sind.The data processing unit 20 consists essentially of a unit 29 , which takes over both the function of an interface and the processing (filtering, threshold value determination, etc.) of the incoming signals from the television camera 25 of each measuring head 15 , from a data processing and computing unit 30 and from a plurality of memories 31 , 32 , 33 , 34 , which are shown individually only for convenience reasons.
In Fig. 3 wird in vergrößertem Maßstab und perspek tivisch eine schematische Ansicht eines Meßkopfs 15 und des entsprechenden Teils des Werkstücks 11 gezeigt, in dem beispielsweise eine Bohrung 35 hervorgehoben ist, die von dem obigen Meßkopf 15 vermessen werden soll. Mit Xh, Yh, Zh wird ferner das Bezugssystem des Meßkopfs 15 angegeben, in dem dieser die Werte der Koordinaten des Schwerpunkts der Bohrung 35 ermittelt, dessen Werte durch die Kombination der Anzeigen errechnet werden, die durch die Aufnahme des Bil des ohne das Laserbündel 27 und des Bildes mit diesem Laser bündel mit der Fernsehkamera 25 erhalten werden, wobei die ses Laserbündel einen im wesentlichen lamellenförmigen Quer schnitt hat, um auf der Oberfläche des Werkstücks 11 eine Spur 37 zu erzeugen.In Fig. 3 is shown on an enlarged scale and perspectively a schematic view of a measuring head 15 and the corresponding part of the workpiece 11 , in which, for example, a bore 35 is highlighted, which is to be measured by the above measuring head 15 . Xh, Yh, Zh also specifies the reference system of the measuring head 15 , in which it determines the values of the coordinates of the center of gravity of the bore 35 , the values of which are calculated by the combination of the indications obtained by taking the image without the laser beam 27 and the image with this laser bundle can be obtained with the television camera 25 , said laser bundle having a substantially lamellar cross-section to produce a track 37 on the surface of the workpiece 11 .
In Fig. 4 werden ein Teil des Werkstücks 11 mit der Bohrung 35 und drei Bezugspunkten 41, 42, 43 sowie drei Bezugssysteme Xmeas, Ymeas, Zmeas; Xref, Yref, Zref; und Xmod, Ymod, Zmod gezeigt.In FIG. 4 to be a part of the workpiece 11 with the bore 35 and three reference points 41, 42, 43 and three reference systems Xmeas, Ymeas, Zmeas; Xref, yref, zref ; and Xmod, Ymod, Zmod are shown.
Das erste Bezugssystem (Xmeas, Ymeas, Zmeas) ist das der Gesamtheit der Meßköpfe 15 und der entsprechenden Trägerkonstruktion 16.The first reference system (Xmeas, Ymeas, Zmeas) is that of the entirety of the measuring heads 15 and the corresponding support structure 16 .
Das zweite Bezugssystem (Xref, Yref, Zref) wird durch die drei auf dem Werkstück 11 liegenden Bezugspunkte 41, 42, 43 erzeugt.The second reference system (Xref, Yref, Zref) is generated by the three reference points 41, 42, 43 lying on the workpiece 11 .
Das dritte Bezugssystem (Xmod, Ymod, Zmod) ist das jenige, das vom Konstrukteur des Werkstücks 11 benützt wird, um alle Maßzahlen der Punkte und/oder der hervorstechenden Merkmale des Werkstücks 11 anzugeben.The third reference system (Xmod, Ymod, Zmod) is the one that is used by the designer of the workpiece 11 to indicate all dimensions of the points and / or the salient features of the workpiece 11 .
Wie anschließend gezeigt wird, werden die Werte der Koordinaten des Schwerpunkts der Bohrung 35 in aufeinander folgenden Schritten in die entsprechenden Koordinaten in diesen Bezugssystemen umgewandelt, um Koordinatenwerte zu erhalten, die sich ausschließlich auf das Werkstück 11 be ziehen.As will be shown subsequently, the coordinates of the center of gravity of the bore 35 are converted to the corresponding coordinates in these reference systems in successive steps to obtain coordinate values which relate exclusively to the workpiece 11 .
Kurz gesagt, das erfindungsgemäß vorgeschlagene Ver fahren zur Durchführung der Maßkontrolle des Werkstücks 11 auf optoelektronischem Weg erfordert im wesentlichen die Durchführung der nachstehenden wesentlichen Schritte:In short, the method proposed according to the invention for carrying out the dimensional control of the workpiece 11 optoelectronically essentially requires the following essential steps to be carried out:
- - Anordnen der Meßköpfe 15 in der Trägerkonstruktion 16, so daß die relativen Stellungen der Meßköpfe 15 gegen über dieser Konstruktion bekannt sind;- Arranging the measuring heads 15 in the support structure 16 so that the relative positions of the measuring heads 15 relative to this construction are known;
- - Einstellen des gesamten Geräts 10 auf das Werkstück 11, so daß vorgegebene Bezugspunkte sowie vorgegebene, zu kontrollierende Punkte desselben von den Meßköpfen 15 erfaßt werden;- Setting the entire device 10 on the workpiece 11 so that predetermined reference points and predetermined points to be checked thereof are detected by the measuring heads 15 ;
- - Feststellen erster Koordinaten für jeden der obigen Punkte im Bezugssystem (Xh, Yh, Zh) des betreffenden Meßkopfs 15; undDetermining first coordinates for each of the above points in the reference system (Xh, Yh, Zh) of the relevant measuring head 15 ; and
- - Umwandeln der obigen ersten Koordinaten in zweite Koordinaten in einem einzigen Bezugssystem (Xmod, Ymod, Zmod) auf dem Werkstück 11 mittels einer rotations-translatori schen Transformation, die auf diese ersten Koordinaten ange wandt wird.- Converting the first coordinates above into second coordinates in a single reference system (Xmod, Ymod, Zmod) on the workpiece 11 by means of a rotation-translatori's transformation, which is applied to these first coordinates.
Ferner wird darauf hingewiesen, daß vor der Gewinnung der obigen ersten Koordinaten die durch die verschiedenen Fernsehkameras 26 erhaltenen Informationen mittels geeig neter Triangulationsalgorithmen verarbeitet werden müssen, um die eigentümlichen physikalischen Merkmale der zu mes senden Objekte, wie beispielsweise den Schwerpunkt einer Bohrung, herauszuarbeiten. Diese Schritte werden durch den Einsatz von Beleuchtungsvorrichtungen mit Infrarotstrahlen erleichtert, mit dem Ziel, eine bessere Charakterisierung der Bilder und damit ihr leichteres und schnelleres Erkennen zu bewirken, das in der Fernsehkamera erfolgt und somit ein zweidimensionales Maß des untersuchten Punkts liefert. Furthermore, it is pointed out that before the above first coordinates are obtained, the information obtained by the various television cameras 26 must be processed using suitable triangulation algorithms in order to work out the peculiar physical characteristics of the objects to be measured, such as the center of gravity of a bore. These steps are facilitated by the use of illuminating devices with infrared rays, with the aim of achieving a better characterization of the images and thus their easier and faster recognition, which takes place in the television camera and thus provides a two-dimensional dimension of the examined point.
Im folgenden wird die genaue Reihenfolge der durchzu führenden Schritte unter der Steuerung der Datenverarbei tungseinheit 20 zur Durchführung der Maßkontrolle des Werk stücks 11, und insbesondere zur Gewinnung der Koordinaten des Schwerpunkts der Bohrung 35 unter besonderer Bezugnahme auf die Fig. 5 und 6 beschrieben.In the following the exact sequence of the steps to be carried out under the control of the data processing unit 20 for carrying out the dimensional control of the workpiece 11 , and in particular for obtaining the coordinates of the center of gravity of the bore 35 will be described with particular reference to FIGS. 5 and 6.
Zuerst gelangt man zu einem Block 50, der dafür sorgt, daß jede Fernsehkamera 25 das betreffende Bild unter dem von der zugehörigen Vorrichtung 26 ausgestrahlten Laserbündel 27 aufnimmt; parallel dazu wird durch Block 51 das genannte Bild ohne Laserbündel aufgenommen.First, one arrives at a block 50 , which ensures that each television camera 25 takes the relevant picture under the laser beam 27 emitted by the associated device 26 ; in parallel, block 51 records the image without a laser beam.
Die Ergebnisse dieser beiden Aufnahmen werden an den Block 52 gesandt, der den Unterschied feststellt, und zwar so, daß als Ergebnis nur die Informationen bezüglich der Leuchtspur 37 (siehe Fig. 3) erhalten werden. Anschlie ßend gelangt man zu einem Datenverarbeitungsblock 53, in dem die Aufbereitung des erhaltenen Bildes durchgeführt wird mit dem Ziel, die betroffenen Bereiche besser hervorzuheben (im vorliegenden Fall die Umgebung der Bohrung 35). Unter diesen Arbeitsbedingungen müssen die Generatoren des Laserbündels so geregelt werden, daß eine maximale optische Hervorhebung der Leuchtspur 37 auf der Oberfläche des Werkstücks 11 er reicht wird.The results of these two recordings are sent to block 52 , which determines the difference, in such a way that only the information relating to tracer 37 (see FIG. 3) is obtained as a result. A data processing block 53 is then reached , in which the processing of the image obtained is carried out with the aim of better highlighting the areas concerned (in the present case, the surroundings of the bore 35 ). Under these working conditions, the generators of the laser beam must be controlled so that a maximum optical highlighting of the tracer 37 on the surface of the workpiece 11 is sufficient.
Des weiteren verarbeitet Block 53 das aus den verschie denen Laserspuren 37 infolge der translatorischen Projektion der verschiedenen Laserebenen auf das Werkstück 11 unterhalb der Meßköpfe 15 gewonnene Bild und liefert für jedes Laser spursegment 37 die Werte des Schwerpunkts, die Koordinaten der Umfangspunkte, die Werte der Fläche und der Momente der ersten und zweiten Ordnung.Furthermore, block 53 processes the image obtained from the various laser tracks 37 as a result of the translational projection of the different laser planes onto the workpiece 11 below the measuring heads 15 and supplies the values of the center of gravity, the coordinates of the circumferential points, the values of the area for each laser track segment 37 and the first and second order moments.
Nachdem die Koordinaten der Laserspur in Bezug auf das identifizierte Ziel (im vorliegenden Fall die Bohrung 35) bekannt sind, gelangt man zum Rechenblock 54, der unter Be rücksichtigung des Umstands, daß jeder Punkt des Laserbün dels 27 in der Ebene seiner Generatorvorrichtung 26 liegen muß, die räumliche Lage des gesuchten Punkts mittels eines aus dem nachstehenden Gleichungstripel errechneten Triangu lationsalgorithmus rekonstruiert.After the coordinates of the laser track in relation to the identified target (in the present case, the bore 35 ) are known, one arrives at the computing block 54 which , taking into account the fact that every point of the laser beam 27 must lie in the plane of its generator device 26 , the spatial position of the sought point is reconstructed using a triangulation algorithm calculated from the following triplet of equations.
Perspektiv-Gleichungen für jede Fernsehkamera 16:Perspective equations for each television camera 16 :
Gleichung der Laserebene:Equation of the laser plane:
0 = A*x + B*y + C*z + D (3)0 = A * x + B * y + C * z + D (3)
Darin bedeuten:Where:
xi, yi = Bildkoordinaten der von der Laserspur betroffenen
Punkte;
x, y, z = Unbekannte räumliche Koordinaten des Bezugssystems
(Xh, Yh, Zh) des Meßkopfs;
aÿ = Die Richtungskosinus der Rotationsmatrix des
Bezugssystems der Fernsehkamera gegenüber dem
Bezugssystem des Meßkopfs;
xt, yt, zt = Verschiebungen Fernsehkamera/Meßkopf;
f = Brennweite der Fernsehkamera;
A, B, C, D = Koeffizienten der Ebene des Lichts aus dem
Laserprojektor, definiert im Bezugssystem des
Meßkopfs. xi, yi = image coordinates of the points affected by the laser track;
x, y, z = unknown spatial coordinates of the reference system (Xh, Yh, Zh) of the measuring head;
aÿ = the direction cosine of the rotation matrix of the reference system of the television camera compared to the reference system of the measuring head;
xt, yt, zt = displacements TV camera / measuring head;
f = focal length of the television camera;
A, B, C, D = coefficients of the plane of light from the laser projector, defined in the reference system of the measuring head.
Die Werte aÿ; xt, yt, zt; f; A, B, C, D beziehen sich auf die Kalibrierdaten der einzelnen Meßköpfe und werden durch den Speicherblock 55 bereitgestellt, dem beispielsweise in Fig. 2 der Speicher 31 entspricht.The values aÿ; xt, yt, zt; f; A, B, C, D relate to the calibration data of the individual measuring heads and are provided by the memory block 55 , to which the memory 31 corresponds in FIG. 2, for example.
Die Lösung der Gleichungen (1), (2) und (3) liefert die gesuchten Werte für die Koordinaten x, y, z der von der Laserspur betroffenen Punkte. The solution to equations ( 1 ), ( 2 ) and ( 3 ) provides the searched values for the coordinates x , y , z of the points affected by the laser track.
Die auf diese Weise erhaltenen Werte ermöglichen über einen weiteren Verarbeitungsblock 56 die Identifizierung der z-Koordinate der Bohrung 35, die an die z-Koordinate der Spur gebunden ist, mittels der von den Merkmalen der er faßten Einzelheit bestimmten geometrischen Beziehungen.The values obtained in this way make it possible, via a further processing block 56, to identify the z-coordinate of the bore 35 , which is linked to the z-coordinate of the track, by means of the geometric relationships determined by the features of the detail it detects.
Anschließend gelangt man zu einem Block 57, der - im Falle des nicht richtig angeordneten Werkstücks 11 - mittels eines geeigneten Kompensations-Algorithmus die erforderli chen Anpassungen für den Wert der berechneten Koordinate liefert, wobei er den benützten Wert der Koordinate zpt einem nachfolgenden Block 58 entnimmt.Then one arrives at a block 57 which - in the case of the workpiece 11 which is not arranged correctly - provides the necessary adjustments for the value of the calculated coordinate by means of a suitable compensation algorithm, wherein it takes the value of the coordinate used from a subsequent block 58 .
Vom Block 57 gelangt man zu einem Rechenblock 58 mit einem ersten Eingang, an dem die Kalibrierdaten des Meßkopfs aus Block 55 verfügbar sind. Ein zweiter Eingang des Blocks 58 liegt am Ausgang eines seriellen Blocktripels 60, 61, 62, das die Entwicklung der nachstehenden Schritte bestimmt:Block 57 leads to a computing block 58 with a first input, at which the calibration data of the measuring head from block 55 are available. A second input of block 58 is at the output of a serial block triplet 60 , 61 , 62 , which determines the development of the following steps:
Block 60: Mittels der Fernsehkamera 25 Erfassung des
durch die Beleuchtungsvorrichtungen 28 beleuchteten Bildes;
Block 61: Verarbeitung des mit der Beleuchtungsvorrichtung
28 erhaltenen Bildes;
Block 62: Berechnung der Koordinaten des Ziels (Bohrung
35) in der Bildebene.Block 60 : by means of the television camera 25 capturing the image illuminated by the lighting devices 28 ;
Block 61 : Processing the image obtained with the lighting device 28 ;
Block 62 : Calculation of the coordinates of the target (hole 35 ) in the image plane.
Block 58 löst das folgende System der Perspektive-Gleichungen.Block 58 solves the following system of perspective equations.
Perspektive-Gleichungen für jede Fernsehkamera 26:Perspective equations for each television camera 26 :
dabei sind:are:
xipt, yipt = Bildkoordinaten des Schwerpunkts der Bohrung;
xpt, ypt, zpt = Räumliche Koordinaten der Bohrung im Bezugssystem
(Xh, Yh, Zh) des Meßkopfs;
f = Brennweite der Fernsehkamera. xipt, yipt = image coordinates of the center of gravity of the hole;
xpt, ypt, zpt = spatial coordinates of the hole in the reference system (Xh, Yh, Zh) of the measuring head;
f = focal length of the television camera.
Die Ergebnisse der perspektivischen Transformation durch den Block 58 werden im Speicherblock 65 dargestellt.The results of the perspective transformation by block 58 are shown in memory block 65 .
Anschließend werden, unter Berücksichtigung der Stel lung jedes Meßkopfs 15 gegenüber der Konstruktion 16 (diese Stellung ist in Block 66 gespeichert, dem eine in der sche matischen Darstellung der Abb. 2 mit 32 bezeichnete Speicherzelle entspricht) in einem Block 67 die Werte xpt, ypt, zpt in die Werte Xmeasp, Ymeasp, Zmeasp bezüglich des allen Meßköpfen gemeinsamen Grundbezugssystems Xmeas, Ymeas, Zmeas (Fig. 4) umgewandelt und dann einem Speicherblock 68 (Fig. 6) zugeführt, der Teil eines Datenverarbeitungs- und Rechenblocks 70 ist.Then, taking into account the position of each measuring head 15 relative to the construction 16 (this position is stored in block 66 , which corresponds to a memory cell designated 32 in the schematic representation of FIG. 2) in a block 67 the values xpt, ypt , zpt into the values Xmeasp, Ymeasp, Zmeasp with respect to the basic reference system common to all measuring heads Xmeas, Ymeas, Zmeas ( FIG. 4) and then fed to a memory block 68 ( FIG. 6) which is part of a data processing and computing block 70 .
Unter besonderer Bezugnahme auf das Flußdiagramm der Fig. 6 (das eine Erweiterung des Diagramms aus Fig. 5 ist) und auf Fig. 4 werden dann im wesentlichen die Koordinaten Xmeasp, Ymeasp, Zmeasp des Schwerpunkts der Bohrung 35 mittels des nachstehend erläuterten Verfahrens in einem Datenverarbeitungs- und Rechenblock 70 in die entsprechenden Koordinaten des dem Werkstück 11 eigenen Bezugssystems (Xmod, Ymod, Zmod) umgewandelt.With particular reference to the flow diagram of FIG. 6 (which is an extension of the diagram of FIG. 5) and to FIG. 4, the coordinates Xmeasp, Ymeasp, Zmeasp of the center of gravity of the bore 35 are then essentially combined in one by the method explained below Data processing and arithmetic block 70 are converted into the corresponding coordinates of the reference system (Xmod, Ymod, Zmod) that is specific to the workpiece 11 .
Im einzelnen: Zunächst wird ein Maßsystem (Xref, Yref, Zref) auf dem Werkstück 11 definiert, indem auf diesem letzteren mit Hilfe eines von einem Block 71 generierten Befehls die Koordinaten der drei bereits genannten Bezugspunkte 41, 42, 43 (siehe Fig. 4) aufgenommen werden. Diese drei Punkte definieren eine Ebene, in die beispielsweise die Ach sen Xref, Yref gelegt werden; die Achse Zref wird so ge wählt, daß sie senkrecht auf der genannten Ebene steht und diese Ebene in einem der genannten Punkte (beispielsweise Punkt 42) schneidet.In detail: First, a measuring system (Xref, Yref, Zref) is defined on the workpiece 11 by using the latter with the help of a command generated by a block 71 , the coordinates of the three reference points 41 , 42 , 43 already mentioned (see FIG. 4 ) are included. These three points define a plane in which, for example, the axes Xref, Yref are placed; the axis Zref is chosen so that it is perpendicular to the plane mentioned and this plane intersects at one of the points mentioned (for example point 42 ).
Nach der Definition des neuen Bezugssystems mittels einer geometrischen Transformation herkömmlichen Typs, die im Rechenblock 72 ausgeführt wird, gelangt man zu einem Block 73, in dem die Koordinaten der Bohrung 35 (Xrefp, Yrefp, Zrefp) im letzten definierten Bezugssystem gespeichert sind. Dieses System liegt bereits auf dem Werkstück 11; jedoch wird, weil es im allgemeinen nicht mit dem vom Konstrukteur oder Planer zur Definition der Koordinaten (Xmodp, Ymodp, Zmodp) benützten Bezugssystem (Xmod, Ymod, Zmod) übereinstimmt, eine weitere geometrische Transforma tion vorgenommen. Diese wird in einem Rechenblock 75 aus geführt, wobei als Daten die theoretischen Daten der Koor dinaten der Bezugspunkte benützt werden, die vom Konstruk teur des Werkstücks 11 angegeben und in einem Block 76 ab gespeichert sind, beispielsweise zusammen mit den theore tischen Daten der Koordinaten der Punkte (Bohrung 35 usw.), die der Maßkontrolle unterworfen werden sollen. Die in Block 76 enthaltenen Daten tragen dazu bei, in einem Block 77 die Korrelation zwischen dem Bezugssystem (Xref, Yref, Zref) auf der Grundlage der Bezugspunkte 41, 42, 43 und dem theoretischen Bezugssystem (Xmod, Ymod, Zmod) des Werkstücks 11 zu definieren.After the definition of the new reference system by means of a geometric transformation of a conventional type, which is carried out in the calculation block 72 , a block 73 is reached in which the coordinates of the bore 35 (Xrefp, Yrefp, Zrefp) are stored in the last defined reference system. This system is already on the workpiece 11 ; However, another geometric transformers is because it is not generally coincident with the benützten by the design engineer or designer to define the coordinates (Xmodp, Ymodp, Zmodp) reference system (Xmod, YMOD, zmod) made tion. This is carried out in a calculation block 75 , the data used being the theoretical data of the coordinates of the reference points, which are specified by the designer of the workpiece 11 and are stored in a block 76 , for example together with the theoretical data of the coordinates of the Points (hole 35 etc.) that are to be subjected to dimensional control. The data contained in block 76 help in a block 77 the correlation between the reference system (Xref, Yref, Zref) based on the reference points 41, 42, 43 and the theoretical reference system (Xmod, Ymod, Zmod) of the workpiece 11 define.
Das Ergebnis der im Block 75 durchgeführten geometri schen Transformation der Koordinaten Xref, Yref, Zref bestimmt schließlich die Definition der Koordinaten Xmodp, Ymodp, Zmodp, die von dem Gerät 10 abgenommen und auf das vom Planer oder Konstrukteur des Werkstücks 11 verwendete Maßsystem übertragen werden. Diese Koordinaten werden in einem Speicherblock 78 bereitgestellt, wo sie abgerufen werden können, um in der Fernseheinheit 22 bzw. in der Druckereinheit 23 dargestellt zu werden. Ferner werden die im Block 78 abgespeicherten Koordinaten in einem Block 79 mit den in Block 76 abgespeicherten theoretischen Koordi naten verglichen, um ggf. die Anzeige einer Verschiebung gegenüber den entsprechenden theoretischen Werten zu er halten.The result of the geometric transformation of the coordinates Xref, Yref, Zref carried out in block 75 finally determines the definition of the coordinates Xmodp, Ymodp, Zmodp , which are taken from the device 10 and transferred to the measuring system used by the planner or designer of the workpiece 11 . These coordinates are provided in a memory block 78 , where they can be called up in order to be displayed in the television unit 22 or in the printer unit 23 . Furthermore, the coordinates stored in block 78 are compared in a block 79 with the theoretical coordinates stored in block 76 in order, if necessary, to obtain a display of a shift relative to the corresponding theoretical values.
Eine Prüfung der Merkmale des erfindungsgemäßen Ver fahrens und des erfindungsgemäßen Geräts zeigt eindeutig die damit zu erzielenden Vorteile.An examination of the features of the Ver driving and the device according to the invention clearly shows the advantages to be achieved thereby.
In erster Linie ergibt sich unmittelbar aus der Beob achtung, daß das Gerät 10 die Maßkontrolle eines Werkstücks in extrem knapper Zeit, und auf jeden Fall in kürzerer Zeit, als der normale Fördertakt eines Werkstücks entlang der Mon tagestraße beträgt, durchführt, daß es geeignet ist, alle Werkstücke einer gesamten Produktion während ihres Durch laufs durch die Montagestraße auf Maßabweichungen zu kon trollieren.First and foremost, it follows directly from the observation that the device 10 carries out the dimensional inspection of a workpiece in an extremely short time, and in any case in a shorter time than the normal conveying cycle of a workpiece along the daily route, that it is suitable to check all workpieces of an entire production as they pass through the assembly line for dimensional deviations.
Ferner bedeutet die Möglichkeit, die Daten im gleichen Bezugssystem, das auch der Konstrukteur bzw. Planer der Werkstücke benützt, zu erhalten, eine weitgehende Erleichte rung für die Benützung dieser Daten.It also means being able to see the data in the same Reference system that the designer or planner of Workpieces used to receive, largely facilitated for the use of this data.
Schließlich ermöglicht die Schaffung eines Bezugs systems auf der Grundlage vorgegebener, auf dem Werkstück verteilter Bezugspunkte die Durchführung korrekter Messun gen, auch wenn das Werkstück gegenüber einer bevorzugten Meßstellung verschoben ist, mit unzweifelhaften Vorzügen gegenüber denjenigen Geräten, die, wie oben ausgeführt, eine Meßmethode benützen, die den Vergleich mit einem Musterstück (Mastermodell) vorsieht.Finally, it enables the creation of a reference systems based on predetermined, on the workpiece distributed reference points to carry out correct measurements conditions, even if the workpiece is preferred Measuring position is shifted, with undoubted advantages compared to those devices that, as stated above, a Use measurement method that compares with a sample (Master model).
Ferner ist klar, daß beim oben beschriebenen Verfahren und Gerät Änderungen und Varianten möglich sind, ohne den Bereich der vorliegenden Erfindung zu verlassen.It is also clear that in the method described above and device changes and variants are possible without the To leave the scope of the present invention.
So können beispielsweise die Meßköpfe weitgehend ver ändert werden, und der Einsatz von mehreren Fernsehkameras, Laser- und Infrarot-Beleuchtungssvorrichtungen oder auch keiner wäre möglich. Auch können die sequentiellen Arbeits schritte der Datenverarbeitungseinheit 20, die im Flußdia gramm der Fig. 5 und 6 erläutert werden, unter Bei behaltung der oben beschriebenen Methodik weitgehend ver ändert werden. Schließlich wird noch darauf hingewiesen, daß auch mehr als drei Bezugspunkte auf dem Werkstück 11 gewählt werden können.For example, the measuring heads can be largely changed, and the use of several television cameras, laser and infrared lighting devices or none would be possible. The sequential work steps of the data processing unit 20 , which are explained in the Flußdia program of FIGS . 5 and 6, can be largely changed while maintaining the methodology described above. Finally, it is pointed out that more than three reference points can be selected on the workpiece 11 .
Claims (14)
- - Anordnen einer Mehrzahl von dreidimensionalen Meß köpfen (15) eines optoelektronischen Typs in einer Träger konstruktion (16) so, daß die relativen Stellungen dieser Meßköpfe (15) bezüglich der Konstruktion (16) bekannt sind;
- - Einstellen der Meßköpfe auf das Werkstück (11) so, daß vorgegebene Bezugspunkte (41, 42, 43) sowie vorgegebene zu kontrollierende Punkte (35) desselben von den Meßköpfen (15) erfaßt werden;
- - Feststellen erster Koordinaten im Bezugssystem des Meßkopfs (15) für jeden dieser Punkte (41, 42, 43, 35); und
- - Umwandeln dieser ersten Koordinaten in zweite Koor dinaten in einem einzigen, auf das Werkstück (11) bezogenen Bezugssystem mittels rotations-translatorischer Transforma tionen, die auf die ersten Koordinaten angewandt werden.
- - Arranging a plurality of three-dimensional measuring heads ( 15 ) of an optoelectronic type in a support structure ( 16 ) so that the relative positions of these measuring heads ( 15 ) with respect to the construction ( 16 ) are known;
- - Setting the measuring heads on the workpiece ( 11 ) so that predetermined reference points ( 41 , 42 , 43 ) and predetermined points to be checked ( 35 ) thereof are detected by the measuring heads ( 15 );
- - determining first coordinates in the reference system of the measuring head ( 15 ) for each of these points ( 41 , 42 , 43 , 35 ); and
- - Converting these first coordinates into second coordinates in a single reference system relating to the workpiece ( 11 ) by means of rotation-translational transformations that are applied to the first coordinates.
Eine Mehrzahl von Meßköpfen (15) eines optoelektroni schen Typs, von denen jeder einen oder mehrere der zu mes senden Punkte des Werkstücks (11) erfaßt, und die an einer Trägerkonstruktion (16) befestigt sind;
erste Speichermittel für Kalibrierparameter jedes Meß kopfs (15) in Bezug auf die genannte Trägerkonstruktion (16); und
eine Datenverarbeitungs- und Recheneinheit (20), die mit den Meßköpfen (15) und den ersten Speichermitteln ver bunden ist, wobei diese Einheit in der Lage ist, erste, von den einzelnen Meßköpfen (15) aufgenommene Koordinaten, die sich auf ein Bezugssystem des jeweiligen Meßkopfs (15) be ziehen, in zweite Koordinaten in dem einzigen Bezugssystem des Werkstücks (11) umzuwandeln.5. Device for carrying out the dimensional control of a workpiece by optoelectronic means, characterized in that it comprises:
A plurality of measuring heads ( 15 ) of an optoelectronic type, each of which detects one or more of the points of the workpiece ( 11 ) to be measured, and which are fastened to a support structure ( 16 );
first storage means for calibration parameters of each measuring head ( 15 ) with respect to said support structure ( 16 ); and
a data processing and computing unit ( 20 ) which is connected to the measuring heads ( 15 ) and the first storage means, which unit is capable of first coordinates recorded by the individual measuring heads ( 15 ), which relate to a reference system of the respective measuring head ( 15 ) be be converted to second coordinates in the single reference system of the workpiece ( 11 ).
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT8767944A IT1211500B (en) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | METHOD AND EQUIPMENT FOR CARRYING OUT THE DIMENSIONAL CONTROL OF A PIECE VIA OPTOELECTRONICS |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3817321A1 true DE3817321A1 (en) | 1989-05-18 |
Family
ID=11306582
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3817321A Withdrawn DE3817321A1 (en) | 1987-11-05 | 1988-05-20 | Method and device for carrying out the dimensional checking (inspection) of a workpiece in an optoelectronic way |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| BR (1) | BR8802554A (en) |
| DE (1) | DE3817321A1 (en) |
| FR (1) | FR2622968B1 (en) |
| IT (1) | IT1211500B (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19836192C1 (en) * | 1998-08-10 | 1999-12-16 | Stn Atlas Elektronik Gmbh | Optical testing of dimensional accuracy in flat laminated pieces |
| EP0999427A1 (en) * | 1998-11-04 | 2000-05-10 | Rover Group Limited | A method of determining body features |
| DE102004061177A1 (en) * | 2004-12-16 | 2006-06-29 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Construction unit calibrating device, has triangulation sensors arranged on measuring section under formation of position mismatch for determination of high and transverse profiles in section |
| DE102005035410A1 (en) * | 2005-07-28 | 2007-02-01 | Robert Bosch Gmbh | Optical detecting device for packaged foods, has camera for visual detection of packaged goods that are fed on conveyor, and mirrors deflecting beam paths of camera to form beam paths, which are larger than vertical dimension of housing |
| US7605929B2 (en) | 2006-03-22 | 2009-10-20 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Apparatus and method for measuring structural parts |
| US7671999B2 (en) | 2004-12-16 | 2010-03-02 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Device for measuring parts by triangulation sensors and an evaluation unit for determining |
| DE112011103090B4 (en) * | 2010-09-15 | 2021-02-11 | Perceptron, Inc. | Contactless measuring system and sensor device with a light source based on a micro-electro-mechanical system |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3399275A1 (en) * | 2017-05-04 | 2018-11-07 | MULTIVAC Sepp Haggenmüller SE & Co. KG | Determining the position and orientation of a conveyed promoted object |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2430851A1 (en) * | 1974-06-27 | 1976-01-15 | Werner Dipl Ing Aicher | Discrete test point's three-dimensional coordinates measurement - contactless method for points marked on object |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0086200B1 (en) * | 1981-08-14 | 1990-12-05 | The Broken Hill Proprietary Company Limited | Optical determination of surface profiles |
| JPS59171806A (en) * | 1983-03-22 | 1984-09-28 | Tokyo Inst Of Technol | Non-contact detector of three-dimentional coordinates |
| IT1168640B (en) * | 1983-08-31 | 1987-05-20 | Sincon Spa Sistemi Informativi | PROCEDURE AND EQUIPMENT FOR THE IDENTIFICATION OF THE POSITION OF OBJECTS IN THE SPACE THROUGH THE ACQUISITION OF IMAGES WITH MAXIMUM REDUCTION OF THE DATA TO BE MANAGED |
| FR2579745B1 (en) * | 1985-03-28 | 1990-06-01 | Usinor | METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE DIMENSIONS OF A REVOLUTION BODY AND THEIR APPLICATIONS |
-
1987
- 1987-11-05 IT IT8767944A patent/IT1211500B/en active
-
1988
- 1988-05-16 FR FR8806542A patent/FR2622968B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-05-20 DE DE3817321A patent/DE3817321A1/en not_active Withdrawn
- 1988-05-25 BR BR8802554A patent/BR8802554A/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2430851A1 (en) * | 1974-06-27 | 1976-01-15 | Werner Dipl Ing Aicher | Discrete test point's three-dimensional coordinates measurement - contactless method for points marked on object |
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| DE-Z: Industrie-Anzeiger, Nr. 31/32 vom 21.4.1987,S. 46, 48, 59 * |
| US-B: NOF, S.Y. (Hrsg.): Handbook of Industrial Robotics, John Wiley & Sons, New York, 1985, S. 272-285 * |
| US-B: Robotics International of SME: The Third Annual Applied Machine Vision - Conference Pro- ceedings, Chicago, 1984, MS 84-153 * |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19836192C1 (en) * | 1998-08-10 | 1999-12-16 | Stn Atlas Elektronik Gmbh | Optical testing of dimensional accuracy in flat laminated pieces |
| EP0999427A1 (en) * | 1998-11-04 | 2000-05-10 | Rover Group Limited | A method of determining body features |
| DE102004061177A1 (en) * | 2004-12-16 | 2006-06-29 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Construction unit calibrating device, has triangulation sensors arranged on measuring section under formation of position mismatch for determination of high and transverse profiles in section |
| US7671999B2 (en) | 2004-12-16 | 2010-03-02 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Device for measuring parts by triangulation sensors and an evaluation unit for determining |
| DE102004061177B4 (en) * | 2004-12-16 | 2011-07-07 | Benteler Automobiltechnik GmbH, 33102 | Device for measuring components |
| DE102005035410A1 (en) * | 2005-07-28 | 2007-02-01 | Robert Bosch Gmbh | Optical detecting device for packaged foods, has camera for visual detection of packaged goods that are fed on conveyor, and mirrors deflecting beam paths of camera to form beam paths, which are larger than vertical dimension of housing |
| US7605929B2 (en) | 2006-03-22 | 2009-10-20 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Apparatus and method for measuring structural parts |
| DE102006013584B4 (en) * | 2006-03-22 | 2014-07-10 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Device for measuring components |
| DE112011103090B4 (en) * | 2010-09-15 | 2021-02-11 | Perceptron, Inc. | Contactless measuring system and sensor device with a light source based on a micro-electro-mechanical system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2622968A1 (en) | 1989-05-12 |
| IT8767944A0 (en) | 1987-11-05 |
| BR8802554A (en) | 1989-05-23 |
| FR2622968B1 (en) | 1994-03-25 |
| IT1211500B (en) | 1989-11-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE102008041523B4 (en) | Method for three-dimensional measurement and device for three-dimensional measurement | |
| DE102015011914B4 (en) | Contour line measuring device and robotic system | |
| DE102018129425B4 (en) | System for recognizing a machining error for a laser machining system for machining a workpiece, laser machining system for machining a workpiece by means of a laser beam comprising the same, and method for detecting a machining error in a laser machining system for machining a workpiece | |
| DE112016006262B4 (en) | Three-dimensional scanner and processing method for measurement support therefor | |
| DE10137241A1 (en) | Arrangement, for detecting and measuring objects, optically projects markers onto object, records partial views of object in global coordinate system using information re-detected markers | |
| DE112010002174T5 (en) | METHOD AND DEVICE FOR A PRACTICAL 3D SEEDING SYSTEM | |
| DE102010029110A1 (en) | Calibration method and calibration device | |
| DE10020893A1 (en) | Optical determination of the shape of an object by determination of the normal to the surface of the object at a large number of points and relating the normals to image points so that an entire surface image is built-up | |
| DE2739679A1 (en) | PROCESS AND SYSTEM FOR THE THREE-DIMENSIONAL DETERMINATION OF THE SURFACE SHAPE OF A BODY | |
| DE4212404B4 (en) | Apparatus and method for determining the spatial shape of an elongate member | |
| DE10328523B4 (en) | Method and measuring device for non-contact measurement of a contour of a surface | |
| DE2259762B2 (en) | Process for the automatic evaluation of stereo images | |
| DE102008019435B4 (en) | Method for the contactless measurement of three-dimensional, complex shaped components | |
| DE3817321A1 (en) | Method and device for carrying out the dimensional checking (inspection) of a workpiece in an optoelectronic way | |
| DE102018114222A1 (en) | Procedure for examining matching test objects | |
| EP3071928B1 (en) | Image capturing simulation in a coordinate measuring apparatus | |
| DE4113992A1 (en) | Automatic three=dimensional monitoring of hazardous room - using three cameras calibrated to universal standard to relate points in room to those of screen display | |
| DE102005060980B4 (en) | Method and system for determining a collision-free three-dimensional space volume along a movement path with respect to a real environment | |
| DE4143193A1 (en) | SYSTEM FOR MATHEMATICALLY DETECTING THREE-DIMENSIONAL SURFACES | |
| WO2009018894A1 (en) | Method and device for determining geometric data of a measured object | |
| EP3433669A1 (en) | Method and apparatus for determining 3d coordinates of at least one predetermined point of an object | |
| DE102011084979A1 (en) | image measuring instrument | |
| DE3930290A1 (en) | METHOD FOR RECORDING DATA BY MEANS OF A DETECTOR ARRAY CONTAINING AT LEAST ONE DETECTOR ROW, AND DEVICE FOR IMPLEMENTING THE METHOD | |
| DE3446009C2 (en) | ||
| DE102011001475B4 (en) | Methods and devices for position determination |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| 8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |