DE3611567A1 - Verfahren zur beruehrungslosen temperaturmessung mit einem mehrkanalpyrometer - Google Patents
Verfahren zur beruehrungslosen temperaturmessung mit einem mehrkanalpyrometerInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur berührungslosen Messung
der Temperatur von Objekten mit einem sich verändernden
Anteil unterschiedlich emittierender Oberflächen gleicher
Temperatur mittels Mehrkanalpyrometer, z. B. für pyrometrische
Messungen an rotierenden Walzen, an denen sich in unterschiedlichem
Maß Reste von zu bearbeitendem Material befinden.
Die pyrometrische Messung mit Gesamtstrahlungs- bzw. Bandstrahlungspyrometern
verlangt bei den im Anwendungsgebiet der Erfindung
beschriebenen Meßfällen einen künstlichen Emissionsgradausgleich
mit Hilfe von Mattlacken oder dünnen Folien.
Diese Maßnahmen sind oftmals nur bedingt realisierbar. Die
andere Möglichkeit des Einsatzes von Spitzenwertspeichern bei
meßtechnischer Berücksichtigung des Stoffes mit dem höchsten
Emissionsgrad setzt voraus, daß der Meßfleck während der
Gesamtmeßzeit wenigstens einmal mit dem betreffenden Material
ausgefüllt wird. Der Einsatz von Verhältnispryrometern erweist
sich nur dann als sinnvoll, wenn alle Materialien in den spektralen
Meßbereichen grau strahlen, so daß ihre Mischprodukte
auch ein graues Emissionsgradverhalten zeigen.
Dies ist aber bei vielen Anwendungsfällen nicht gegeben.
Ziel der Erfindung ist es, für die o. g. Anwendungsfälle die
Meßgenauigkeit einer pyrometrischen Temperaturmessung zu erhöhen.
Aufgabe der Erfindung ist es, die Objekttemperatur unter
Berücksichtigung der Strahlungsanteile der verschiedenen
Oberflächen zu messen.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß die
spektralen Signalspannungen U ÿ in Abhängigkeit von der Differenz
U oj -U uj für die i = 1 bis m im Emissionsgrad unterschiedlichen
Oberflächen des Objektes festgestellt, wenigstens
m spektrale Signalspannungen U j gemessen und die Objekttemperatur
aus der additiven Überlagerung der m Strahlungsquellen im
Meßfleck ermittelt wird.
Die von einem nichttransparenten Stoff mit der Objekttemperatur
T o und einem Emissionsgrad ε ÿ ausgehende Temperaturstrahlung
wird in den j = 1 bis n Kanälen bei der Umgebungstemperatur T u
als spektrale Signalspannung
gemessen. Hierzu sind U oj und U uj die den Temperaturen T o bzw.
T u entsprechenden spektralen Signalspannungen. Der Zusammenhang
zwischen den Temperaturen und den Signalspannungen wird
wie üblich für jedes Pyrometer am Schwarzen Strahler kalibriert.
Zusätzlich werden erfindungsgemäß für jedes beim Anwender an
dem spektralen Objekt vorkommende Oberflächenmaterial die
Beziehungen
ebenfalls kalibriert. Es werden der für den Einsatzfall zu
erwartende Temperaturbereich und die ihm entsprechenden mittleren
Temperaturen bestimmt.
Bei diesen mittleren Temperaturen werden für die i = 1 bis m
im Emissionsgrad verschiedenen Oberflächenmaterialien die Signalspannungen
U ÿ bei bekannter Oberflächentemperatur gemessen
und gespeichert.
Im Einsatzfall werden die Spannungen U j für eine unbekannte
Verteilung der m Materialien auf dem Objekt und unbekannte Objekttemperatur
gemessen. Der Anteil des i-ten Materials an der
Objektoberfläche sei a i mit
Dann ergibt sich aus (1), daß
ist.
Die Gleichungen (3) und (4) stellen ein Gleichungssystem von
n + 1 Gleichungen mit m unbekannten Oberflächenmaterialanteilen
und der unbekannten Objekttemperatur dar. Es ist für m n
eindeutig lösbar, da die n unbekannten Signalspannungen U oj
über die Kalibrierkurven für jeweils eine Objekttemperatur T o
einander zugeordnet sind. Es ist also möglich, das Gleichungssystem
nach den U oj umzustellen und dabei die a i zu eliminieren,
die aus der zweiten Kalibrierung für ε ÿ ermittelten Signalspannungen
und die U uj entsprechend der mittleren Umgebungstemperatur
T u einzusetzen und die so erhaltene Gleichung zu
lösen, indem nacheinander die U oj -Wertpaare eingesetzt werden.
Ein Wertepaar erfüllt die Gleichung am besten. Ihm entspricht
die gesuchte Objekttemperatur. Mit ihm können aus Gleichung (4)
ebenfalls die unbekannten Oberflächenanteile a i ermittelt
werden.
In den Zeichnungen zeigen
Fig. 1 die Kalibrierkennlinie eines Zweikanalpyrometers;
Fig. 2 die Fehlerkurven des Meßfehlers mit einem
Bandstrahlungspyrometer nach dem bisherigen
Verfahren (Kurve 2) und mit einem Zweikanalpyrometer
nach dem erfindungsgemäßen Verfahren
(Kurve 1).
Ermittelt wurde die Temperatur eines "verschmutzten" Objekts
aus blankem Aluminium (ε ≈ 0,1) mit Ruß (ε ≈ 1).
Der Ruß wurde in unterschiedlichen Flächenanteilen a 1 auf der
Aluminiumoberfläche verteilt. Es wurde mit einem Zweikanalpyrometer
gemessen. Die üblichen Kalibrierkurven gemäß Fig. 1
waren bereits bekannt. Direkt am blanken Aluminium und am Ruß
wurden bei der bekannten Temperatur von 100°C die Signalspannungen
U ÿ gemessen und daraus die spektralen Emissionsgrade
ε 11, ε 12, ε 21 und e 22 berechnet.
Das Zweikanalpyrometer war über einen A/D-Wandler an einen
Mikrorechner angeschlossen. Die Wertepaare aus den Kalibrierkurven
gemäß Fig. 1 waren im ROM gespeichert. Die berechneten
Emissionsgrade wurden in einem zusätzlichen (nicht flüchtigen)
RAM gespeichert.
Die Logik der Gleichungen (3) und (4) ihre Auflösung nach U oj
und a i einschließlich des iterativen Lösungsalgorithmus wurden
programmiert. Die Auswertung der unterschiedlich"verschmutzten"
Materialproben ergab eine Objekttemperatur von 85°C und
Flächenanteile gemäß Vorgabe mit dem in Fig. 2 in Kurve 1 dargestellten
Fehler.
In Fig. 2 sind im Vergleich zum erfindungsgemäßen Verfahren
in Kurve 2 die Fehler bei Verwendung des herkömmlichen Bandstrahlungspyrometers
mit fest eingestelltem Emissionsgrad
dargestellt.
Claims (1)
- Verfahren zur berührungslosen Messung der Temperatur von Objekten mit einem sich ändernden Anteil unterschiedlich emittierender Oberflächen gleicher Temperatur durch die Messung der spektralen Signalspannungen U j bei j = 1 bis n effektiven Wellenlängen bei einer unbekannten mittleren Umgebungstemperatur T u und einer durch Kalibrierung festgestellten Abhängigkeit der Differenz U oj -U uj von den Temperaturen eines schwarzen Strahlers, gekennzeichnet dadurch, daß die spektralen Signalspannungen U ÿ in Abhängigkeit von der Differenz U oj -U uj für die i = 1 bis m im Emissionsgrad unterschiedlichen Oberflächen des Objektes festgestellt, wenigstens m spektrale Signalspannungen U j gemessen und die Objekttemperatur aus der additiven Überlagerung der m Strahlungsquellen im Meßfleck ermittelt wird.
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