DE3039496A1 - Optische einrichtung fuer die umverteilung von einfallender strahlung - Google Patents
Optische einrichtung fuer die umverteilung von einfallender strahlungInfo
- Publication number
- DE3039496A1 DE3039496A1 DE19803039496 DE3039496A DE3039496A1 DE 3039496 A1 DE3039496 A1 DE 3039496A1 DE 19803039496 DE19803039496 DE 19803039496 DE 3039496 A DE3039496 A DE 3039496A DE 3039496 A1 DE3039496 A1 DE 3039496A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- radiation
- lens
- area
- incident radiation
- peripheral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0927—Systems for changing the beam intensity distribution, e.g. Gaussian to top-hat
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0004—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
- G02B19/0009—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having refractive surfaces only
- G02B19/0014—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having refractive surfaces only at least one surface having optical power
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0004—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
- G02B19/0019—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having reflective surfaces only (e.g. louvre systems, systems with multiple planar reflectors)
- G02B19/0023—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having reflective surfaces only (e.g. louvre systems, systems with multiple planar reflectors) at least one surface having optical power
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0033—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
- G02B19/0047—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/095—Refractive optical elements
- G02B27/0955—Lenses
- G02B27/0966—Cylindrical lenses
Description
fatentanwälte
Di?i.-ing. E. Eder
DipU-lng.K.Schieschke 8München40,E!isabethsUaBe34
3039498
COULTER ELECTRONICS, INC. HIALEAH,FLORIDA,U.S.A.
Optische Einrichtung für die Umverteilung von einfallender Strahlung
Die Erfindung betrifft eine optische Einrichtung für die Umverteilung vcn einfallender Strahlung mit ungleichmäßiger
Intensitätsverteilung auf eine resultierende Strahlung mit einer gewünschten Intensitätsverteilung in einem
vorbestimmten Bereich einer Ausgangsebene.
Viele bekannte Fluß-Zytometer benutzen einen Laserstrahl
für die Beleuchtung von Teilchen, welche in einem fließenden Medium suspendiert sind, um so auswertbare optische
Signale zu erhalten. Diese Fluß-Zytometer verschwenden viel von dem teueren,hochwertigen einfallenden Licht. Optische
Einrichtungen, welche die Formgebung* des Strahles beeinflussen, sammeln typischerweise das Licht des Lasers in
eine schlitzartige Ellipse in demjenigen Gebiet, wo die Teilchen beleuchtet werden. Da es notwendig ist, die Teilchen
mit einer relativ gleichförmigen/hohen Intensität über
den Bereich möglicher Durchgänge zu beleuchten, wird normalerweise nur ein sehr schmaler Zentralbereich des einfallenden
Lichts benutzt, wie er in Fig. 5 durch den Bereich von (-a<X<+a) definiert ist, wobei a dem begrenzenden χ Koordinatenwert
für einen Teilchendurchgang entspricht. Die unbenutzte Energie, die somit in den Seitenflügeln des
Schlitzes verlorengeht, kann 8^°/o der Gesamtenergie für eine
130Q18/OS81
2 /oige Variation in der Intensität über den möglichen Teilchendurchgang ausmachen, und zwar unter der Voraussetzung,
daß eine Gauß-Intensitäts-Verteilung über der
x-Richtung der Fig. 5 auftritt. Wenn ein kleinerer Wert
an Intensitätsänderung gefordert wird (z.B. 1 °/o), dann wird ein höherer Prozentsatz der einfallenden Energie
nicht genutzt.
Daraus ist ersichtlich, daß ein Bedarf auf dem Gebiet der Zytologie für ein Zytometer besteht, welches mehr der verfügbaren
Strahlungsenergie nutzt, wobei gleichzeitig vernachlässigbare oder sehr geringe Intensitätsvariationen
über die möglichen Teilchendurchgänge auftreten sollen. Verallgemeinert ausgedrückt besteht ein Bedarf im optischen
Bereich für die Umformung einer einfallenden Strahlung in eine Strahlung, welche eine gewünschte Intensitätsverteilung
aufweist.
Einschlägiger Stand der Technik ist beschrieben in dem U.S.-Patent 3476463 (Kreuzer), dem U.S.-Patent 4128308
(McNaney), dem Datenblatt Kr. 512 vom Januar 1978 der
Spawr Optical Research, Inc. sowie in dem Buch "Fluoreszenz-Technik
in der Zellbiologie" von A.A. Thaer und M.Sernetz (Springer-Verlag 1973) Seite 80.
Gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung wird,ausgehend
von einer optischen Einrichtung der eingangs genannten Art, eine verbesserte Intensitätsverteilung dadurch erreicht, daß
die optische Einrichtung eine Umlenkeinrichtung aufweist, die mit einem zentralen Bereich und einem peripheren Bereich
versehen ist, wobei jeder dieser Bereiche für den Empfang eines Teils der einfallenden Strahlung ausgelegt und gestaltet
ist, daß der zentrale Bereich so gestaltet ist, daß er die einfallende Strahlung den vorbestimmten Bereich der Ausgangsebene
bestrahlen läßt, daß der periphere Bereich so gestaltet ist, daß er bestimmte Strahlen der einfallenden
130018/0881
BAD ORIGINAL
Strahlung auf bestimmte Stellen in dem vorgegebenen Bereich der Ausgangsebene lenkt, wobei iie bestimmten Stellen zusätzlich
bestrahlt werden, um so die gewünschte Intensitätsverteilung in dem vorbestimmten Gebiet zu erhalten.
Eine weitere Ausführungsform der Erfindung geht aus von
einer optischen Einrichtung für einen Teilchenanalysator, bei dem Teilchen zur Erzeugung auswertbarer Signale beleuchtet
werden und eine Strahlungsquelle eine auftreffende Strahlung mit einer ungleichmäßigen Strahlungsverteilung
für die Beleuchtung der Teilchen erzeugt. Diese optische Einrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß eine Umlenkeinrichtung
für die Umverteilung der einfallenden Strahlung zu einer resultierenden Strahlung vorgesehen ist, die eine
im wesentlichen gleichmäßige Intensitätsverteilung in einer Ausgangsebene aufweist und daß die Ausgangsebene so positioniert
ist, daß sie Teilchen enthält, wobei die Teilchen von der resultierenden Strahlung beleuchtet werden.
Die Erfindung ist auf eine optische Einrichtung gerichtet und auf ein Verfahren für die Verteilung einer einfallenden,
gegliederten Strahlung, welche eine ungleichmäßige Intensitätsverteilung aufweist. Das Ziel ist eine resultierende
Strahlung zu erhalten, welche eine gewünschte Intensitätsverteilung aufweist. Die optische Einrichtung enthält eine
umlenkende Oberfläche in der Form eines reflektierenden Spiegels oder einer brechenden Linsenoberfläche, welche
spezifische Strahlen der einfallenden Strahlung auf spezifische Bereiche innerhalb einer Ausgangsebene lenkt, um
dadurch die Ausgangsebene zu beleuchten. Das Ausmaß der optischen Beinflussung der einfallenden Strahlen durch die
umlenkende Oberfläche ist eine Funktion der Richtung.der Dimensionen, der Energie und der Lage des einfallenden
Strahlungsprofils und des gewünschten resultierenden Strahlungsprofils.
Bei einigen Ausführungsformen der Erfindung treffen die Strahlen auf einen peripheren Bereich der TJm-
130018/0811
lenk-Oberflache und werden auf bestimmte Punkte der Ausgangsebene
gerichtet. Diese gleichen Punkte werden auch von spezifischen Strahlen beleuchtet, weiche durch den zentralen Teil
der Umlenkeinrichtung hindurchgehen bzw. diesen treffen. Die Überlagerung von Strahlung aus dem peripheren Bereich und aus
dem zentralen Bereich konzentriert die einfallende Strahlung und liefert dadurch die resultierende Strahlung, welche eine
in
gewünschte Intensitätsverteilung/der Ausgangsebene aufweist.
gewünschte Intensitätsverteilung/der Ausgangsebene aufweist.
Bei anderen Ausführungsformen werden die meisten oder alle
Strahlen, welche die umlenkende Oberfläche treffen, optisch modifiziert, um sie zu konzentrieren, und zwar ohne Überlappung
in die resultierende Strahlung, welche dann die gewünschte Intensitätsverteilung in der Ausgangsebene aufweist.
Die vorstehend beschriebene Erfindung hat eine besondere, neue Anwendung bei den bekannten Texlchenanalysatoren, bei
denen Teilchen beleuchtet werden, um auswertbare optische Signale zu erzeugen. Teilchenanalysatoren bekannter Art verschwenden
viel von dem teueren, hochwertigen einfallenden Licht, weil dieses Licht eine ungleichmäßige Intensitätsverteiung
aufweist. Das optische System nach der Erfindung verteilt dagegen das einfallende Licht, um eine im wesentlichen
gleichförmige, hochintensitive Lichtvertoilung in der
Ausgangsebene zu erreichen, wobei die zu beleuchtenden Teilchen in dieser Ausgangsebene enthalten sind. Die optische
Einrichtung nach der Erfindung vermeidet es, den größten T-eil der Energie zu verschwenden, wobei sie zur gleichen
Zeit sicherstellt, daß geringe Intensitäts-Ä'nderungen über
die möglichen Teilchenbahnen auftreten. Die optische Einrichtung nach der Erfindung kann in analoger Weise auch für
andere nützliche Anwendungsfälle herangezogen werden. Die Erfindung offenbart somit eine optische Einrichtung,
welche die Umverteilung eines einfallenden Licht-Intensitätsprofils betrifft, um dadurch ein neues, erwünschtes Intensitätsprofil
zu erhalten. Gemäß einer Anwendung der Erfindung dient die Konzentration des Lichtes in ein neues ge-
130018/OSS1
wünschtes Intensitätsprofil der Beleuchtung von Teilchen.
Die Erfindung sowie ihre Weiterbildungen werden nachfolgend anhand von Zeichnungen näher erläutert» Es zeigen
Fig. 1 eine Ansicht der Strahlungsverteilung in einer Ebene
eines Reflektors als Ausführuiigsbeispiel der Erfindung,
Fig. 2 eine Ansicht einer Strahlungsuirilenkeinrichtung in einer Ebene einer Linse als weiteres Ausführungsbeispiel
der Erfindung,
Fig. 3 eine Darstellung einer Abwandlung der Ausführungsform
nach Fig. 2,
Fig. k eine Darstellung einer Strahlungs-Umlenkeinrichtung
in einer Ebene einer anders ausgebildeten Linse als Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 5 eine Querschnittsdarstellung eines elliptischen Strahlungs-Profils
für die Beleuchtung eines Stromes,
Fig. 6 eine einfallende Strahlungsverteilung mit einer entsprechenden,
geänderten,resultierenden Verteilung,
Fig. 7 eine Querschnittsdarstellung des Strahlungsprofils,
nach-^dem die einfallende Strahlung gemäß der Erfindung
für die Beleuchtung eines Stromes umverteilt wurde,
Fig. 8 eine einfallende Intensitätsverteilung mit einer entsprechenden
resultierenden, geänderten Verteilung,
Fig. 9 noch eine weitere, einfallende Intensitätsverteilung mit einer korrespondierenden, resultierenden Verteilung,
Fig.10 eine Abwandlung der Auεführungsform nach Fig. 2,
Fig.11 eine Anzahl von zusammengehörenden einfallenden und
resultierenden Intensitätsverteilungen,
Fig.12 eine Seitenansicht, welche eine besondere Anwendung
für die Ausführungsform nach Fig. 2 darstellt,
Fig.13 eine Draufsicht der Anordnung nach Fig. 12,
Fig. 1^- in einer perspektivischen Darstellung eine Ausführungsform
einer Linse, welche die Strahlungsumver-
130018/0861
teilung der Linse nach Fig. 2 beinhaltet,
Fig.15 in perspektivischer Darstellung die Ausführungsform
eines Reflektors, welcher die Strahlungsverteilung des Reflektors nach Fig. 1 verwirklicht,
Fig.16 eine Ausführungsform einer Linse in perspektivischer
Darstellung, welche die Strahlungsverteilung der Linse nach Fig. k ergibt,
Fig.17 in Querschnittsdarstellung- ein kreisförmiges Strahlungsprofil
für die Beleuchtung eines Stromes,
Fig.18 in Querschnittsdarstellung ein rechteckiges Strahlungsprofil
für die Beleuchtung eines Stromes,
Fig.19 die Vorderansicht einer Linsen-Ausführungsform, welche
die Strahlungsumverteilung der Linse nach Fig. 2 liefert und
Fig.20 in Vorderansicht die Ausführungsform einer Linse,
welche die Strahlungsumverteilung der Linse nach Fig.2 bewirkt.
Ein optisches System nach der Erfindung entsprechend Fig. 1
hat eine Lichtquelle 10, welche eine einfallende Lichtstrahlung erzeugt, die normalerweise eine ungleichmäßige
Intensitätsverteilung aufweist. Eine Umlenkeinrichtung in der Form eines Reflektors 12 verteilt das einfallende, eine
umgleichmäßige Intensitätsverteilung aufweisende Licht so, daß ausgangsseitig ein Licht entsteht, welches eine gewünschte
vorbestimmte Verteilung in einer Ausgangsebene 1/f aufweist.
Die Lichtquelle 10 kann beispielsweise ein Gaslaser sein, der mit entsprechenden optischen Elementen zur Strahlformung
versehen ist und der einen kontinuierlichen oder intermittierenden Strahl 16 von Licht ausgibt. Die Lichtquelle 10 kann auch durch eine Hochdruck-Quecksilberlampe
realisiert werden, welche ebenfalls die konventionellen Mittel zur Beeinflussung des Lichtstrahles aufweist. Der
Reflektor 12 ist im Querschnitt dargestellt und hat im Zentrum seine optische Achse 18. Dieser Reflektor 12 hat einen
zentralen Reflektorbereich 20 und unmittelbar anschließend
130018/0861
303949a
zwei konkave, periphere Reflektorbereiche 22. Der zentrale
Reflektorbereich 20 ist unter einem Winkel dc angeordnet, und zv/ar in Bezug auf die optische Achse 18. Entsprechend
dieser geometrischen Anordnung - wird ein Zentralbereich Zk des Lichtes, der im wesentlich zentrisch zu der optischen
Achse 18 liegt, von dem zentralen Reflektorbereich 20 reflektiert und geht von diesem aus. Dementsprechend wird der
zentrale Bereich Zk des Lichtes in seiner Richtung um den Winkel Zol geändert. Der periphere Reflektorbereich 22 ist
in Bezug auf das einfallende Licht konkav ausgebildet, wodurch eine Umverteilung des einfallenden Lichtes in einem
peripheren Bereich 26, und zv/ar im Bezug auf das Licht in dem Mittelbereich Zk stattfindet. Der periphere Reflektorbereich
22 wird im Bezug auf die Ausgangsebene 1 Zf so angepaßt,
daß der periphere Bereich 26 des Lichtes in der Ausgangsebene 1i| dem Licht des zentralen Bereichs Zk überlagert
wird. Genauer ausgedrückt bewirkt der Reflektor 12 eine räumliche Umverteilung oder Umlenkung des peripheren Bereiches
26 des Lichtes in den gleichen Bereich, in dem der zentrale Bereich Zk des Lichtes verläuft. Auf diese Weise ergibt die
Umlenkung der peripheren Lichtstrahlen eine Formierung des gewünschten Intensitätsprofils in der Ausgangsebene I^ in
Richtung auf ein gleichförmiges Profil.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel eines optischen Systems nach der Erfindung ist in Fig. 2 dargestellt. Bei dieser
Anordnung enthält die Umlenkoberfläche 11 für die räumliche Verschiebung des Lichtes eine Linse 27» welche die gleichen
Ergebnisse in der Ausgangsebene 14 liefert wie der Reflektor
12 nach Fig. 1. Die Linse 27 hat eine Öffnung 28, welche in ihrem Inneren angebracht ist, und die Linse 27 mit
ihrer Öffnung 28 ist konzentrisch positioniert zu der optischen Achse 18. Die Öffnung 28 ist so dimensioniert und
angeordnet, daß sie den Mittelbereich Zk des Lichtes passieren läßt, wobei die Richtung dieses Lichtes optisch praktisch
nicht verändert wird. Ein fester äußerer Bereich 29
130018/0881
- 1 i+ -
303949a
der Linse 27 ist so angeordnet und dimensioniert, daß er den peripheren Bereich 26 des Lichtes empfängt und dieses Licht
so bricht, daß es sich mit dem mittleren Bereich Zk des Lichtes
überlappt und dadurch die gewünschte Verteilung in der Ausgangsebene schafft. Die Linse 27 hat eine ebene äußere
Oberfläche 30, welche senkrecht zur optischen Achse 18 verläuft
und das Licht praktisch nicht bricht. Weiterhin ist eine gekrümmte äußere Oberfläche 31 vorgesehen, welche das
Licht in einer nachfolgend zu beschreibenden Weise bricht. Es sei hier darauf hingewiesen, daß die Oberfläche 30 im
Gegensatz zur hier vorliegenden Darstellung ebenfalls gekrümmt ausgebildet sein kann. Demzufolge würde die Oberfläche
30 in Kombination mit der Oberfläche 31 die gewünschte
Brechung ergeben. Eine weitere geringere Abänderung der Ausführungsform nach Fig. 2 ist in Fig. 3 gezeigt. Hier hat die
Linse 27 anstelle einer Öffnung 28 einen zentralen Linsenbereich 32, der ein Paar von ebenen, parallelen Begrenzungen
34 und 36 aufweist. Der zentrale Linsenbereich 32 liefert
die gleichen Eigenschaften wie die Öffnung 28, nämlich dahingehend, daß er das Licht ohne eine ins Gewicht fallende optische
Modifikation hindurchgehen läßt.
Fig. k zeigt eine weitere Ausführungsform eines optischen
Systems nach der Erfindung. Die umlenkende Oberfläche 11 dieser Ausführungsform enthält eine Linse 38, die im
Querschnitt dargestellt ist und auf der optischen Achse 18 zentriert wird. Die Linse 38 hat eine ebene äußere Oberfläche
40, welche senkrecht zur optischen Achse 18 verläuft. Weiterhin
weist sie eine gekrümmte äußere Oberfläche l\Z für die
Umlenkung der einfallenden Strahlung von der Lichtquelle in eine gewünschte Intensitätsverteilung in der Ausgangsebene
H auf. Bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel nach Fig. h werden die Strahlen allmählich durch die Linse 38
nach innen gebrochen, wobei der V/ert der Lichtbrechung vom Zentrum in Richtung auf die Peripherie der Linse 38 zunimmt.
13001 8/0 8
Es hat sich in der Praxis gezeigt, daß die Lichtintensität über einen Laserstrahl eng durch eine Gauß- oder Normal-Verteilung
wiedergegeben werden kann, welche mathematisch durch die Gleichung
(1) I(r) = exp
[-(r/a)2]
beschrieben wird. Dabei ist I(r) die Intensität in einer Entfernung r (in Metern) von der optischen Achse 18,und
zwar gemessen in Watt/m und a ist ein Maßstabsfaktor (in Metern). Weiterhin ist es auf dem Gebiet der Durchflußzytologie,
wo die Teilchen in einem Durchflußstrom durch einen Gauß1 sehen Laserstrahl beleuchtet v/erden, besonders
günstig, eine gleichmäßige Intensitäts-Beleuchtung in der Ausgangsebene zu haben, wobei diese Beleuchtung mit einem
Minimum an verschwendetem Licht und einem Maximum an Intensität das fließende Medium durchdringt. Bezugnehmend auf
Fig. 5 kann der senkrecht zu der Zeichnungsebene verlaufende Lichtstrahl 16 eine Gauß-Verteilung haben und einem typischen
strömenden Medium i+Zf überlagert werden, welcher Vorgang
beispielsweise in dem Artikel "Quantitative Single Cell Analysis and Sorting" in der Zeitschrift "Science" Band 198,
Nr. 4313 beschrieben ist. Typischerweise treten in einer
konventionellen Durchfluß-Anordnung, wie z.B. bei dem Durchflußstrom
44 Zellen in eine Durchflußkammer unter Druck über ein Einführungsrohr ein, welches von einer schützenden
Flüssigkeit umgeben ist. Allgemein bekannte Techniken der laminaren Schutzhüllen-Durchströmung erlauben es, die Zellen
im Zentrum der Durchflußströmung zu begrenzen,und zwar nahe bei und entlang der Y-Achse. Die Durchflußströmung 44 ist
normalerweise eine Flüssigkeitsdüse, wobei die Teilchen darin suspendiert sind und von einem sie ruhig stellenden
Gas oder einer Flüssigkeit umgeben werden. Die Durchflußströmung 44 könnte auch ein Gasstrahl sein, der von einem
anderen Gas umgeben ist. Im allgemeinen hat der einfallende Strahl ein schlitzartiges, im Querschnitt gesehen elliptisches
130018/0861
Profil 45· Die Sröße der Lichtintensität wird durch eine
Vielzahl von Intensitäts-Konturlinien 46 angegeben, wobei
diese Linien 46 die allmähliche Zunahme der Intensität des
Strahles 16 in Richtung auf die optische Achse 18 verdeutlichen. Da die dargestellte Größenverteilung der Durchfluß-Strömung
44 und des Strahles 16 so sind, wie sie in Wirklichkeit
im Schnittpunkt der beiden beim bekannten Stand der Technik bei Zytometern auftreten, liegt es auf der Hand,
daß ein großer Betrag des Lichtes nicht in die Durchflußströmung 44 eindringt und deshalb verschwendet wird. Bei der
Ausführungsform nach dem bekannten Stand der Technik ist
somit die Intensität des Lichtes, durch welches die Partikel fließen, geringer als die Intensität, welche bei einer Anordnung
nach der Erfindung erreicht wird. Eine gewisse Überlappung über den Strahl 16 in Bezug auf die Durchflußströmung
44 ist notwendig, um eine gewisse seitliche Bewegung der Durchflußströmung 44 zuzulassen. Jedoch ist die meiste Überlappung
eine Funktion der Notwendigkeit dahingehend, daß eine gleichmäßige Beleuchtung der Durchflußströaung 44 erzielt
werden soll. Dementsprechend haben die bekannten Zytometer-Einrichtungen
nur die Möglichkeit gehabt, einen kleinen Zentralbereich 47 des Strahls 16 nutzvoll auszuwerten.
Dementsprechend wird die Erfindung nachfolgend im Zusammenhang mit einem speziellen Ausführungsbeispiel beschrieben,
in welchem die einfallende Gauß-Verteilung benutzt wird, um die Durchflußströmung 44 eines konventionellen Zytometers zu
beleuchten.
Fig. 6 zeigt die einfallende Intensitätsvertexlung des Lichtes, wie sie von einer Lichtquelle 10 geliefert wird,
welche im vorliegenden Ausführungsbeispiel als Gauß-Verteilung eines Lasers in einer TEM0n Mode vorhanden ist. Die
Intensität I(r) des ausgesandten Lichtes wird als eine Funktion des Abstandes r von der optischen Achse 18 betrachtet.
Unter der Annahme einer Gauß-Verteilung 48, wie beispielsweise
die einfallende Licht-Intensitäts-Verteilung des
130018/0881
Strahles 16 bei den Ausführungsformen nach Fig. 1, 2 und 4 —
wird die gewünschte resultierende Intensitätsverteilung durch eine gleichmäßige Intensitätsverteilung 50 wiedergegeben.
Wenn die vorliegende Erfindung auf die Teilchenanalyse angewendet wird, dann ist die gleichmäßige Verteilung
50 wünschenswert, um eine gleichmäßigere Beleuchtung der Teilchen zu erhalten, welche in der Durchflußströraung ifi+
vorhanden sind. Die beiden Anteile 48 und 50 sind in Fig. 6
gemeinsam eingetragen, um dadurch zu zeigen, wie das Licht durch die Umlenkoberflächen 11 der Fig. 1, 2 und 4 neu verteilt
wird. Der Mittelbereich 52 der Verteilungen 48 und 50,
v/elcher sich von b bis -b entlang der x-Achse erstreckt, fällt mit der Breite des Mittelbereichs 24 des einfallenden
Lichtes zusammen. Die beiden einander gegenüberliegen Bereiche 54 und 56 der Verteilung außerhalb des Bereiches von
-b bis b entsprechen dem einfallenden Licht in dem peripheren Bereich 26. In der einfallenden Verteilung 48 ergibt sich die
einfallende Leistung Pm (in Watt) aus den Anteilen P1 der
gegenüberliegenden Bereiche 54 und 56 und aus dem Anteil
P_ des mittleren Bereiches 52. Es gilt:
(2) P1 + P2 = PT .
P„ wird so gewählt, daß eine konstante oder gewünschte
Intensitätsverteilung erhalten wird. P1 muß nicht notwendigerweise
gleich Pp sein. Nach einer Reflexion durch den Reflektor
12 oder einer Brechung durch die Linsen 27 oder 38 wird eine gleichmäßige Intensitätsverteilung 50 erzeugt, in
der periphere Bereiche 26 des Lichtes außerhalb des Bereiches von -b bis b in den Mittelbereich 24 des Lichtes
verschoben worden sind. Bei der gleichmäßigen Intensitätsverteilung
50 wird die Leistung Pp des mittleren Bereiches
52 und die Leistung P1 der gegenüberliegenden Bereiche 54
und 56 jeweils wie folgt definiert:
130018/0
(3) P2 = P T ^nd P1 = O
Auf diese V/eise wird die nicht unerhebliche Vergeudung des Lichtes in den gegenüberliegenden Bereichen 5A- und 56 vermieden
und eine im wesentlichen gleichförmige Beleuchtung der Durchflußströmung kk erhalten. Gleichzeitig wird die
Intensität in dem mittleren Bereich 52 erhöht. Durch die
vorliegende Erfindung läßt sich somit im Ergebnis ein weniger starker Laser verwenden, um die gleichen Ergebnisse zu
erhalten,wie sie ohne die Anwendung der umlenkenden Oberfläche 11 zu erzielen wären. Somit wird anstatt des länglichen
Lichtprofils 45, wie es in Fig. 5 dargestellt wird,
ein etwa rechteckiges Profil 58 erreicht, welches in in Fig. 7 gezeigt ist.
Bei Benutzung der Linse 27 nach Fig. 2 oder des Reflektors
12 kann die Gauß-Verteilung 48 in eine gleichmäßige Verteilung50
umgeformt werden, wie sie in Fig. 6 dargestellt ist. Dies kann erfolgen durch ein allmähliches Umfalten des
äußeren Bereiches 26 des Lichtes, derart, daß das äußerste Ende 60 der Gauß-Verteilung 48 verlagert wird nahe zu der
optischen Achse 18 und damit nahe dem Maximum der Gauß-Verteilung.
Jeder der aufeinanderfolgenden kleinen Segmente des peripheren Bereichs 26 des Lichtes, welcher von dem äußeren
Ende 60 nach innen verlagert wird, läßt sich fortlaufend weiter nach außen von der optischen Achse 18 neu anordnen.
Obwohl die Lichtabschnitte 62 nicht unbedingt in einer genauen fortlaufenden Verteilung von ganz innen nach ganz außen verschoben
v/erden müssen, bringen andere Verfahren der Verschiebung der Segmente für diese spezielle Verteilung if8 und 50
im wesentlichen größere Ungleichmäßigkeiten der Linsen mit sich. Die Anzahl der Abschnitte, welche für die Überlagerung
des peripheren Bereichs 26 des Lichtes über den mittleren Bereich Zk des Lichtes erforderlich sind, ist Sache der Auslegung
im einzelnen.
13001 8/0881
Bei Benutzung einer Linse 38 entsprechend Fig. k läßt sich
die Gauß-Verteilung 48 in eine gleichmäßige Verteilung 50
entsprechend Fig. 6 dadurch verwandeln, daß der Betrag der Brechung der Linse 38 von der optischen Achse 18 in Richtung
auf die Peripherie der Linse 38 allmählich zunimmt.
In Fig. 8 ist eine Intensitätsverteilung 61+ dargestellt,
welche zwei Maxima aufweist und als Ausführungsbeispiel einer Lichtquelle 10 dient, die einen Laser in der TEM^1
Mode aufweist. Bei einer derartigen Verteilung Gh für die
einfallende Strahlung wurden die Ränder derselben durch die umlenkende Oberfläche entsprechend der vorliegenden Erfindung
so versetzt, daß sie das Tal auffüllen wurden und so eine gewünschte Intensitätsverteilung ergeben, welche der
gleichmäßigen Verteilung 50 entspricht.
In Fig. 9 ist eine typische Intensitätsverteilung 66 für eine inkoherente Lichtquelle 10 dargestellt, wie sie beispielsweise
durch eine Hochdruck-Quecksilberlampe geliefert wird. Es können die verschiedenen Ausführungsformen der
Erfindung,wie sie in der. Fig. 1, 2 und k dargestellt sind,
benutzt werden, um die seitlichen Bereiche der Verteilung 66 in eine gewünschte Verteilung räumlich umzusetzen und
dadurch die gleichmäßige Intensitätsverteilung 50 zu erhalten.
In den Fig. 6, 8 und 9 ist die gewünschte resultierende
Intensitätsverteilung so gewählt, daß sie eine gleichmäßige Intensitätsverteiluxig 50 ergibt. Wie bereits erwähnt, ist
die gleichförmige Intensitätsverteilung 50 in der Ausgangsebene
1 if besonders dann nützlich, wenn auf dem Gebiet der
Zytologie Teilchen bestrahlt werden sollen. Es ist aber darauf hinzuweisen, daß die Ausführungsformen der Erfindung,
wie sie in den Figuren 1, 2 und h dargestellt sind, auch dazu
herangezogen werden können, um eine gewünschte Intensitätsverteilung zu erreichen, welche von der gleichförmigen In-*
13001 8/0881
tensitätsverteilung 50 abweicht. Auch sollte darauf hingewiesen
werden, daß der zentrale Reflektorbereich 20 und der zentrale Linsenbereicla 32 in ihrer Dimensionierung und in
ihrer Konfiguration so geändert werden können /laß eine gewünschte
Intensitätsverteilung erreichbar ist.
Bei den Ausführungsformen nach den Fig. 1, 2 und Zf liefert
die Lichtquelle 10 einen Lichtstrahl 16, welcher zum Zweck der Erläuterung als kollimiert angenommen ist. Es versteht
sich jedoch, daß irgendeine gestaltete Strahlung, sei sie kollimiert, divergent oder konvergent die einfallende Strahlung
enthalten kann und im Rahmen der Ausführungsbeispiele der Erfindung benutzbar ist. Nur zum Zweck der Erläuterung
ist eine von vielen Variationen des Lichtstrahles 16, die
innerhalb des durch die Ansprüche definierten Schutzbereichs der Erfindung liegen, in Fig. 10 dargestellt. Die Fig. 10
zeigt die Benutzung einer umlenkenden Oberfläche 11 für einen
konvergenten Strahl 16. Die Linse 27 lenkt das Licht in
einer bereits beschriebenen Weise ab. Ebenso ist die Ausgangsebene
1^ zwischen der Linse 2? und dem Brennpunkt 70
angeordnet; sie könnte jedoch auch auf der anderen Seite des Brennpunktes 70 liegen. Es gibt viele Variationen der
Betriebsweise für das einfallende Licht mit entsprechenden Modifikationen der umlenkenden Oberfläche 11, wobei diese
für den Fachmann jederzeit durchführbar sind.
In den Figuren 1, 2 und 1+ wurde das optische System in
einer einzigen Querschnittsebene 71 dargestellt, welche senkrecht zu der Ebene der Zeichnungen entsprechend Fig. 5
und 7 verläuft und parallel zur x-Achse liegt. Unter Bezugnahme auf Fig. 5 soll herausgestellt werden, daß es eine
unendliche Anzahl dieser Ebenen 71 gibt, welche die y-Achse
senkrecht schneiden und eine Gauß-Verteilung A-8 aufweisen.
Entsprechend einer Anwendung der umlenkenden Oberfläche 11 der Erfindung wird jede dieser Ebenen 71 in einer Art und
V/eise modifiziert, wie sie in den Fig. 1, 2 und k dargestellt
130018/0861
ist. In Fig. 7 zum Beispiel schneiden die Ebenen 71, welche von der optischen Achse 18 weiter entfernt sind, das elliptische
Profil i+5 so, daß sie eine geringere Leistung aufweisen
als diejenigen Ebenen, die näher der optischen Achse 18 liegen. Unter der Annahme, daß der Bereich von -b bis b
beispielsweise mit einer gleichförmigen Intensitätsverteilung
50 erhalten wird, würde die Intensität I der Verteilung
50 einer gegebenen Ebene 71 geringer werden bezogen auf die Intensitätswerte der Verteilung 50 für Ebenen 71>
welche näher der optischen Achse 18 liegen. Wie in Fig. 11 dargestellt, kann eine Vielzahl von Folgen korrespondierender
Gauß-Verteilungen if8 und 50 und' gleichmäßiger Intensitätsverteilungen
erhalten werden, welche mit 72, 7^, 76 und 78 bezeichnet
sind. Ϋ/eil der Teilchendurchgang in Bezug auf die x-Achse in Fig. 7 von dieser abweicht, würde ein gegebenes
Teilchen innerhalb einer im wesentlichen gleichmäßigen Beleuchtung dargeboten werden, wobei außer Betracht bleibt die
Brechung, welche durch die Strömung kk verursacht wird.
Andererseits wurden, da Teilchen das Strahlungsprofil entlang der y-Achse durchlaufen, sich einige Variationen in der
Intensität der Beleuchtung ergeben. Es ist darauf hinzuweisen, daß der Bereich von -b bis b so gewählt werden muß, daß in
irgendeiner gegebenen Folge 72 oder einer anderen das Maximum der Intensität der Gauß-Verteilung i^8 nicht die gewünschte
Intensität der gleichmäßigen Verteilung 50 überschreitet.
Andernfalls würde es notwendig werden, Licht von dem zentralen Bereich Zl\ wegzuverschieben. Wie sich aus den dreidimensionalen
Darstellungen der nachfolgenden Ausführungsbeispiele ergeben wird, kann der Bereich von -b bis b konstant
bleiben oder sich ändern, und zwar in Abhängigkeit von der Konfiguration des zentralen Bereiches 2k· Wie sich zeigen
wird, wird die dreidimensionale·resultierende Verteilung
in typischer Weise so modifiziert, daß sie gleichmäßig ist in Bezug auf nur eine Achse. Wenn jedoch der Bereich von -b
bis b in einer vorbestimmten Weise variiert wird oder, wenn eine Licht-Umverteilung in Bezug auf beide Achsen vorgenommen
130018/0861
wird, dann kann die dreidimensionale, resultierende Verteilung
gleichmäßig gemacht werden in Bezug auf sowohl die x-Achse als auch die y-Achse. Dies wird nachfolgend im einzelnen
näher beschrieben. Eine Veränderung des Bereiches von b bis -b ist im allgemeinen nicht wünschenswert, und zwar deswegen,
weil hierfür nicht-lineare Oberflächen notwendig werden. Obwohl die Ebenen 79 aus Fig. 5 und 7, die senkrecht zu der
Zeichnungsebene und parallel zur x-Achse verlaufen, ebenfalls Gauß-Verteilungen enthalten, ist für die Anwendung der Teilchen-Analyse
die Variation bei der Beleuchtung des elliptischen Profils If5 in Bezug auf die y-Achse so klein, daß das
einfallende Licht nicht modifiziert v/erden muß in Bezug auf die y-Achse.
Die Ausführungsform/nach Fig. 12 und 13 sind speziell gerichtet
auf die Anwendung einer Linse 27 für die Durchführung der Teilchenanalyse in einem konventionellen Zytometer. Bei
bekannten Meßeinrichtungen dieser Art werden die in der Durchströmung ^k enthaltenen Teilchen mit einer Strahlung
beaufschlagt, welche ein schlitzartiges, elliptisches Profil 45 entsprechend der Darstellung nach Fig. 5 aufweist. Bei
den Ausführungsformen des bekannten Standes der Technik wird
eine zylindrische Linse 80 benutzt, um den Strahl 16 in Bezug auf die y-Achse zu sammeln. Wie aus Fig. 13 hervorgeht, ist
eine zweite zylindrische Lins'e (nicht dargestellt) bei den Anordnungen nach dem Stand der Technik dort vorgesehen, wo
hier die Linse 27 positioniert ist. Erstere wird benutzt, um
einem geringen Umfang das Licht in Bezug auf die x-Achse zu konvergieren, wobei eine derartige Konvergierung durch die
äußeren Grenzlinien 82 und 8^+ eines typischen Strahls nach
dem Stand der Technik angedeutet ist. Bei dem Ausführungsbeispiel der Erfindung entsprechend Fig. 12 und 13 ersetzt
die Linse 27, welche eine modifizierte, zylindrische Linse enthält, die zweite zylindrische Linse. Es ist zu beachten,
daß der Lichtstrahl 16 der Lichtquelle 10 im Querschnitt
gesehen eine im wesentlichen kreisförmige Verteilung hat,
130018/0881
bevor er auf die Linse 27 trifft. Bei dem Ausführungsbeispiel entsprechend Fig. 12 und 13 ist die Linse 80 zwischen
der Ausgangsebene 14 und der Linse 27 angeordnet. Es ist
darauf hinzuweisen, daß die Anordnung anderer optischer Oberflächen zwischen der umlenkenden Oberfläche 11 und der
Ausgangsebene 14 innerhalb des beanspruchten Bereiches der
durch die Ansprüche definierten Erfindung liegt. Die Einfügung derartiger optischer Oberflächen, etwa der Linse 80,
führt zu einer korrespondierenden Modifikation der umlenkenden Oberfläche 11, so daß die Kombination der umlenkenden
Oberfläche 11 und der dazuwischen angeordneten optischen Oberfläche das gewünschte Intensitätsprofil in der Ausgangsebene
14 ergibt. Fig. 15 zeigt in perspektivischer Darstellung
den Reflektor 12, welcher der Linse 27 der Fig. 14 äquivalent ist. Fig. 16 zeigt die Linse 38 in perspektivischer
Darstellung, welche bei der vorstehend beschriebenen Anwendung benutzt werden kann. Jede der umlenkenden Oberflächen
11 in den Fig. 14> 15 und 16 modifiziert optisch
das einfallende Licht in Ebenen 71 in Bezug auf die x-Achse. Eine solche Modifikation für die Linse 27 von Fig. 14 ist
in Fig. 2 dargestellt, für den Reflektor 12 in Fig. 1 und für die Linse 38 in Fig. 4·
In Fig. 17 ist der Strahl 16 mit einem im wesentlichen
kreisförmigen Querschnittsprofil 86 dargestellt. Bei dem elliptischen Profil 45 von Fig. 5» welches in typischer
V/eise durch zwei zylindrische Linsen in der vorstehend beschriebenen '-'.eise erhalten wird, besteht keine Notwendigkeit,
das Licht in stärkerem Maße in Bezug auf die y-Achse zu konzentrieren. Dies ist jedoch nicht der Fall bei einer
Anordnung entsprechend Fig. 17, welche als Beispiel für die Notwendigkeit einer Modifikation des einfallenden Lichtes
in zwei Dimensionen dient, und zwar sowohl in Bezug auf die x-Achse, als auch in Bezug auf die y-Achse. Als eine Möglichkeit
kann der einfallende Strahl 16 von Fig. 17 modifiziert
werden in Bezug auf die y-Achse in einer Art und ¥.'eise3
130018/0861
- Zh, -
ähnlich der, welche erreicht wird durch die Verwendung der Linse 80 bei den Fig. 12 und 13. Dann kann der einfallende
Strahl 16 in Bezug auf die x-Achse in einer Weise modifiziert
werden, wie sie in den Fig. 1, 2 und l\ dargestellt ist,
um dadurch ein Licht-Intensitätsprofil 58 entsprechend Fig. 7 zu erhalten. Als angenommenes Beispiel besteht eine
andere Möglichkeit darin, daß die resultierende Intensitätsverteilung in beiden Richtungen eine gleichmäßige Intensitätsverteilung
50 aufweist, wie sie in den Fig. 6, 8 und 9 gezeigt ist. Dann muß das einfallende Licht in zwei Dimensionen
durch die Techniken nach Fig. 1, 2 und Zf modifiziert
ein
werden, um/im wesentlichen rechteckiges Lichtprofil 88 zu erhalten, wie es in Fig. 18 dargestellt ist. Um eine Lichtumlenkung in der vorstehend beschriebenen Weise zu erhalten, müssen die Linse 27, der Reflektor 12 und die Linse 38 eine umlenkende Oberfläche 11 mit einer asphärischen Form aufweisen. Die Fig. 19 zeigt als Beispiel eine solche Abwandlung für die Linse 27· Darüber hinaus hat die Öffnung 28 eine rechteckige Gestalt. In Bezug auf eine der Achsen bleibt der Bereich von -b bis b vorzugsweise konstant. Wie bereits erläutert, kann der einfallende Strahl i6 bei der Ausführungsform 19 umverteilt werden unter Benutzung der Maßnahmen entsprechend Fig. 2 um eine gleichmäßige Licht-Intensität in einer Dimension zu erreichen. Der einfallende Strahl 16 kann aber auch alternativ in zwei Dimensionen umgeordnet werden, und zwar durch Benutzung konventioneller mathematischer iterativer Verfahren, um so das Licht in Bezug sowohl auf die x-Achse,als auch auf die y-Achse umzulenken.
werden, um/im wesentlichen rechteckiges Lichtprofil 88 zu erhalten, wie es in Fig. 18 dargestellt ist. Um eine Lichtumlenkung in der vorstehend beschriebenen Weise zu erhalten, müssen die Linse 27, der Reflektor 12 und die Linse 38 eine umlenkende Oberfläche 11 mit einer asphärischen Form aufweisen. Die Fig. 19 zeigt als Beispiel eine solche Abwandlung für die Linse 27· Darüber hinaus hat die Öffnung 28 eine rechteckige Gestalt. In Bezug auf eine der Achsen bleibt der Bereich von -b bis b vorzugsweise konstant. Wie bereits erläutert, kann der einfallende Strahl i6 bei der Ausführungsform 19 umverteilt werden unter Benutzung der Maßnahmen entsprechend Fig. 2 um eine gleichmäßige Licht-Intensität in einer Dimension zu erreichen. Der einfallende Strahl 16 kann aber auch alternativ in zwei Dimensionen umgeordnet werden, und zwar durch Benutzung konventioneller mathematischer iterativer Verfahren, um so das Licht in Bezug sowohl auf die x-Achse,als auch auf die y-Achse umzulenken.
Entsprechend Fig. 20 kann eine zweidimensionale Uniformität
der Intensität erreicht werden durch Einbeziehung der Licht-Umlenktechniken der Fig. 1, 2 und Zf, um so die radialen
Ebenen 90 der umlenkenden Oberfläche 11 zu modifizieren.
Als erläuterndes Beispiel können die radialen Ebenen 90, welche durch die optische Achse 18 verlaufen, bei der Linse
27 in jeder radialen Ebene in einer Weise modifiziert werden,
13001 8/08Θ1
wie sie in Fig. 2 dargestellt ist. Bei dieser Ausführungsform hat die Linse 27 eine radiale Symmetrie in Bezug auf
die optische Achse 18, wobei die Öffnung 28 kreisförmig gestaltet ist. Dies erzeugt ein resultierendes, kreisförmiges
Intensitätsprofil (nicht dargestellt) mit im wesentlichen
gleichförmiger Intensität in Bezug sowohl auf die x-Achse,
als auch auf die y-Achse.
Bei der Ausführungsform nach Fig. 20 kann das durch die
radial-symmetrische Linse 27 erzeugte kreisförmige Lichtprofil von gleichmäßiger Intensität ebenso wie bei den
anderen Ausführungsformen weiterhin dadurch modifiziert
werden, daß andere optische Komponenten zwischen der radialsymmetrischen Linse 27 und der Ausgangsebene 1^ angeordnet
werden. Beispielsweise kann die radial-symmetrische Linse 27 , wie sie in Fig. 20 dargestellt ist, durch die modifizierte,
zylindrische Linse 27 in den beiden optischen Anordnungen der Fig. 12 und 13 ersetzt werden. In einem solchen
Fall würde das resultierende Lichtprofil eine nahezu elliptische Konfiguration aufweisen, wobei das Licht in Bezug auf
die x-Achse im wesentlichen eine gleichmäßige Verteilung aufweist. Um den Schutzbereich dieser durch die Ansprüche definierten
Erfindung festzulegen, sollte darauf hingewiesen werden, daß die Ausgangsebene W+ als durch den Strom kk hindurchreichend
dargestellt ist und viele lichtumlenkende Elemente aufweisen kann, die zwischen der Ausgangsebene M\ und der
Lichtquelle 10 liegen, so wie es in den Fig. 12 und 13 dar- '
gestellt ist.
Zusammengefaßt ausgedrückt sind Konzentrationen des einfallenden Strahles 16 in einer Dimension innerhalb einer Ebene
in den Figuren 1, 2 und k dargestellt, wobei die umlenkende
Oberfläche 11 benutzt wird, welche verschiedene Formen annehmen kann, beispielsweise die Form einer Linse 27, die Form
eines Reflektors 12 und die Form einer Linse 38. Für den Fachmann liegt es auf der Hand, daß eine Strahlkonzentration
130018/0801
in einer Ebene durch eine große Anzahl dreidimensionaler Brechungs- und Reflektoranordnungen verwirklicht werden kann,
wie etwa die bevorzugte Ausführungsform einer zylindrischen,
umlenkenden Oberflächen-Anordnung bei den Figuren 12 und 13 zeigt. Bei dieser vorteilhaften Ausführungsform hat die
modifizierte,zylindrische Uralenkoberfläche 11 (vergleiche
Fig. 1Zf) eine Öffnung 28 mit gleichförmiger Weite, welche
bevorzugt den einfallenden Strahl so modifiziert, daß das resultierende Strahlungsprofil gleichmäßig ist in Bezug auf
eine der Achsen der Ausgangsebene 1Zf. Andere weniger vorteilhafte
Reflektor- und Brechungs-Anordnungen können Modifikationen der Einrichtungen der Strahlkonzentration nach
den Fig. 1, 2 und k aufweisen, und zwar solche, wie sie in den Fig. 19 und 20 dargestellt sind. Darüber hinaus kann
ein gleichmäßiges Intensitätsprofil erzeugt werden bei der Ausgangsebene 1Zf, bei der eine zweidimensional Uniformität
der Intensität in Bezug auf beide Achsen erreicht ist.
Obwohl die Beleuchtung von Teilchen als ein möglicher Anwendungsfall
für die vorstehend beschriebenen Umverteilungs-Techniken als besonders nützlich angegeben ist, ergeben sich
für den Fachmann auch andere Anwendungsgebiete für diese Maßnahmen. Obwohl der Begriff "Licht" bei der Beschreibung
der bevorzugten Ausführungsbeispiele verwendet wurde, kann die umlenkende Oberfläche 11 auch mit anderen Arten νο·η
strahlender Energie angewendet werden und ist nicht notwendig beschränkt auf sichtbare Wellenlängen.
Nachfolgend v/erden die mathematischen Beziehungen für die Umlenkung der Lichtstrahlen durch die Linsen 27 und 28 entsprechend
den Ausführungsbeispielen der Erfindung wiedergegeben. Es sind vier grundlegende Fälle zu unterscheiden:
1) die symmetrische Linse 27 mit überkreuzenden Strahlen,
wie sie bei der Ausführungsform nach Fig. 20 dargestellt ist,
2) die asymmetrische Linse 27 mit überkreuzenden Strahlen,
130018/08S1
wie sie bei dem Ausführungsbeispiel von Fig. I^ dargestellt
ist,
3) die symmetrische Linse 38 ohne überkreuzende Strahlen , welche im Querschnitt in Fig. k dargestellt ist und
k) die asymmetrische Linse 3S ohne überkreuzende Strahlen,
wie sie bei der Ausführungsform von Fig. 16 dargestellt
ist.
In allen vier vorstehend beschriebenen Fällen werden die nachfolgenden Schreibweisen angewandt: R. und Rp sei der
strahlende Durchfluß der einfallenden Strahlung auf eine der Linsen 27 oder 38 und die Ausgangsebene 1^, und zwar
jeweils gemessen in Watt. Mit M.. und Mp wird die Strahlungsverteilung der einfallenden Strahlung und in der Ausgangsebene
(entsprechend R. und Rp) in Watt/m angegeben. Weiterhin
ist angenommen, daß die einfallende Strahlungsenergie, welche auf die Linse trifft, zylinder-symmetrisch um die
optische Achse 18 verteilt ist. Bei der nachfolgenden Ausv;ertung v/erden die Effekte, welche darauf zurückgehen, daß
eine Reflexion beim Linsenmaterial und eine Absorption von Licht in der Linse auftritt, zum Zwecke der Vereinfachung
weggelassen.
Auf Grund des Gesetzes über die Erhaltung der Energie ergibt sich
und entsprechend
(5) / M1Cr)'da = j Mp(r)'da
a1 a2
Dabei sind a, und a? die Bereiche senkrecht zu der optischen
Achse 18 der einfallenden Strahlung, welche einen Radius a hat, während die Ausgangsebene 14 einen Radius b aufweist.
130018/08 61
Der radiale Abstand von der optischen Achse 18 beträgt r.
In den Fäller. 1 und 3 (die symmetrischen Linsen 27 und
arbeiten jeweils mit und ohne uberkreuzung der Strahlen) soll M1 eine Gauß-Verteilung aufweisen.(Dieser Formalismus
kann auch für andere Verteilungen in gleicher Weise benutzt v/erden.) Dementsprechend gilt:
(6)
Dabei ist M0 die strahlende Erregung von M1 bei r = O und
r ist eine Konstante mit der Dimension einer Länge. Für a
ein konstantes Profil in der Ausgangsebene M\ und gleich
Mp kann man nach M_ auflösen. Aus der Gleichung 5 ergibt
sich:
/rr
(7) J0 V0M0- exp -
r dr
Dabei ist φ der Azimuth-V/inkel. Infolge der Beziehung
o,yyv ergibt sich folgende Gleichung:
a
(8)
Nachfolgend wird der Fall 1 (symmetrische Linse 27 überkreuzenden Strahl en ) genauer betrachtet.
Die einfallenden Strahlen, welche im Abstand r1. mit j= O,
1, ...,N liegen, werden so ausgewählt, daß diese Strahlen gebrochen werden in Abstände von der optischen Achse
in der Ausgangsebene Ik von jeweils r-, j=O, 1, ...,K.
Dabei soll die Übereinkunft gelten, daß rQ = r'Q = b und
rw = 0 und r1«· = a^>>r . Es wird angenommen, daß Werte r1 .
jeweils gleichen Abstand haben, das heißt, es gilt
n j ~ j
j-i
und
130018Ζ08β1
130018Ζ08β1
Die korrespondierenden r --Werte v/erden aus der Addition der
strahlenden Flüsse zwischen r1 - und r1 . - sowie zwischen
r- » und r. berechnet und geteilt durch den Bereich in der
3~ '0 2 2\
Ausgangsebene H5 ^(r^i - r-; )· Das Resultat wird dem
Viert Mp aus der Gleichung (8) gleichgesetzt und es ergibt
sich:
J0
J 'exp(-r^)-r dr
exp (-rf ) - expC-r^2-) + expC-r·.2^ -exp(-rl2 )
J J^J JjzJ D
r 2 - r 2 3-1 3
Es vverden jene r--Werte benötigt, welche die Gleichung (9)
erfüllen, und zwar beginnend mit r^ = b. Dieses Verfahren
kann nach den üblichen Methoden der numerischen Analyse durchgeführt v/erden.
An der brechenden Oberfläche werden K Parabeln zusammengesetzt,
und zwar derart, daß ihre ersten Ableitungen über die r1 .-Werte konstant sind. Die j-te Parabel hat die Form
3 ρ
ζ · = aQ + a, r' · + a2r' · . Der Abstand parallel zu der
optischen Achse von dem Scheitel der Linse 27 (wo die brechende Oberfläche die optische Achse 18 kreuzt) zu der
brechenden Oberfläche ist z, O^z., j = 0, 1, ...,K. Der
Abfall ist gegeben durch:
m. =
3
3
3 dr1
rf=r·.
130018/0861
Alle Werte r1· und r. sind bekannt. Für ein gegebenes j
J J
werden beim Iterationsprozeß die nächsten z- und m-Werte benötigt. Die Koeffizienten, welche die nächste Parabel
(aQ, a«, &p) beschreiben, sind erforderlich:
a0
(1Ob) ζ- = an + a^r«. + a? · r'-
J ^ 'J ^- J
(10c) mj-i= a1 + 2a2*rj-1
(1Od) m, ^a1+ 2a?.r^
(1Od) m, ^a1+ 2a?.r^
J ' *— J
Die Gleichung (10a) zeigt an, daß die j-te Parabel durch
den Punkt (r1 . 15 z. -) gehen muß. Die Gleichung (10b)
J~ ι J~I
deutet an, daß die j-te Parabel durch (r., z.) geht. Die Gleichung (10c) · zeigt an, daß die j-te Parabel den
gleichen Abfall m._. bei (r1 ._., z._.) hat, wie die(j-1)-te
tJ * «J J
Parabel. Die Gleichung (1Od) gibt an, daß die j-te Parabel den gewünschten Abfall m. bei (r1., z-) hat.
J JJ
Es sind vier Gleichungen vorhanden und fünf Unbekannte (z-, Di-, an, a1 , ap). Deshalb ist noch eine andere Beziehung
erforderlich. Diese wird erhalten durch die Betrachtung der Brechung des einfallenden Strahles parallel zur optischen
Achse 18 zu dem gewünschten Ort in der Ausgangsebene 1Zf. Dabei soll Θ. der j-te Einfallswinkel bei (r! ·, z.)
J JJ
Es gilt dann
(11) Θ, = Arctan (-m,)} Θ,
>0
J JJ
Wenn Θ- der j-te Brechungswinkel bei (r1., z.) ist, dann
J Jj
ergibt sich nach dem Snell'sehen Gesetz die folgende Gleichung:
130018/0861
(12) θ!· = Aresin (η · sine,), θ1.
>Ο
Der relative Brechungsindex der Linse 27,verglichen mit dem
umgebenden Medium,sei n. 0. ist der positive Winkel zwischen
dem (τ!·, ζ^) treffenden Lichtstrahl bei dem Ort in der Aus-J
J
gangsebene (r·, B) und der optischen Achse 18. Dabei ist
J
B der Abstand zwischen dem Scheitelpunkt der Linse 27 und der Ausgangsebene 18. Der Wert ζ wird gemessen vom Scheitel und die positive Richtung geht von der Linse 27 in Richtung auf die Ausgangsebene 18. Es gilt:
B der Abstand zwischen dem Scheitelpunkt der Linse 27 und der Ausgangsebene 18. Der Wert ζ wird gemessen vom Scheitel und die positive Richtung geht von der Linse 27 in Richtung auf die Ausgangsebene 18. Es gilt:
(13) 0-j = Arctan
3 J ;
Drei oder mehr Gleichungen (11 - 13) und zwei Unbekannte sind hinzugefügt worden; Θ. und Θ1-, B und η sind gegeben
J J
und r1 - und i-- sind vorbestimmt. Die Gleichung (13) kann
J J
für eine günstigere Auswertung umgeschrieben werden:
für eine günstigere Auswertung umgeschrieben werden:
r' . - r. (Ii+) z, = B - —* Ί
Der folgende Algorithmus läßt sich benutzen:
1. Man wählt einen Ansatz m zwischen m. XnKm . , wobei
j-1 mm'
m . = tan θ und wobei θ der kritische Einfallsmm
c ο
winkel
G = Aresin (l/n)
ist. Man benutzt die Gleichung (1^), um z- für diesen
Ansatz von m zu berechnen.
2. Man benutzt die Gleichungen (10a) bis (10c), um die Koeffizienten (a0» a-, a,) zu berechnen.
130018/0861
3. Man berechnet F = m. - a, -2apr'. aus der Gleichung (iod)
Man geht zurück zum Schritt 1 und findet denjenigen Wert von m, welcher F=O ergibt. Dann ist m = m. .
4. Man berechnet a ζ- entsprechend zu m. unter Benutzung
der Gleichung (Ii+). Man benutzt die Gleichungen (1Oa),
(10b) und (lOd), um die endgültigen Werte (a0, a,, a?)
zu berechnen.
Jetzt wird der Fall 2 (asymmetrische Linse 27 mit überkreuzenden Strahlen ) im einzelnen betrachtet. Unter Benutzung
der x-y-Koordinaten entsprechend Fig. 7 existiert in
der Ausgangsebene Ik die folgende Beziehung:
(15) MP = Mn · C · exp -(y/r )
Dabei sind c und r Konstante. Unabhängig davon, welchen
Pfad das Teilchen innerhalb der Durchflußströmung kk von
Fig. 7 nimmt, ist es einer Strahlungsverteilung ausgesetzt, welche durch die Gleichung (15) wiedergegeben ist. Man löst
nach c unter Benutzung der Gleichungen (^)3 (5) und (15)
auf und erhält folgende Gleichung:
(16) M2 =J4ra * Mo · exp
Man drückt M1 (x, y) in einem x-y-Koordinatensystem aus
2 2 2
unter Benutzung der Beziehung r = χ + y sowie der Gleichung (6) und erhält:
(17) M1(XJy) = M0 · exp -(x/r&) · exp -(y/r a)j
Man teilt die x-Koordinaten in gleicher Weise wie die r-Yferte
geteilt wurden, wobei χ., x'^, 3=0, 1, <^.. N. Dann berech-
(J J
net man die Strahlungserregung über eine elementare Verschiebung in der y-Richtung mit dem Wert Ay, wobei man das Ergebnis
in der Ausgangsebene 1 i+ feststellt und einfallenden
Strahlungserregung gleichsetzt.
13001 3/0861
(18) Jb Jy -ay/2 U2 . dy dx
x, 1 y+Äy/2 je«. χ + Ay/2
f J ' Γ M · dy dx +M Γ M1 · dy dx
Jx. Jy -Ay/21 Jx· ^y -Ay/21
Unter Benutzung der Gleichungen (16) und (17) ergibt sich
eingesetzt in Gleichung (18) folgende Beziehung:
erf (χ. -/ra) - erf (χ./r ) + erf(xl/r )-erf(x·. ./r )
(I9) I _ IrJ—_ J 2 J—s -ι- ι a_
Dabei ist die Fehlerfunktion definiert durch: (20) erf (z) = f exp(-t2)· d t
Die x1 -Werte werden zu gleichen Inkrementen angesetzt,
ebenso wie die r-Werte es mit x· = b und x· T = a»r .
υ in " a
Unter Benutzung der Gleichung (19) können alle χ--Werte
Δ erhalten werden und die Oberfläche der Linse kann gebildet
werden unter Benutzung des Formalismus, welcher zu den Gleichungen (10) und (14) führte.
Jetzt wendet man sich im einzelnen den Fällen 3 und 4 zu
(symmetrische und unsymmetrische Linse 38 ohne Uberkreuzung der Strahlen), wobei die Ausgangsebene 14 in gleiche Abschnitte
für r und χ geteilt wird, und zwar ähnlich zu r1 -
und x1 . im vorangegangenen Text. Man benutzt den Formalismus,
welcher zu den Gleichungen (10) bis (14) geführt hat, um die Oberfläche der Linse festzulegen.
Dipl.-Ing. E Eder Dlpl.-Ing. IC/Schieschke
8 München «;JpjfeabethstraBe
13001 8/0861
Leerseite
Claims (13)
1. Optische Einrichtung für die Umverteilung von einfallender Strahlung mit ungleichmäßiger Intensitätsverteilung
auf eine resultierende Strahlung mit einer gewünschten Intensitätsverteilung in einem vorbestimmten Bereich
einer Ausgangsebene, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Einrichtung Umlenkeinrichtung (12 oder 27)
aufweist, die mit einem zentralen Bereich (20, 28 oder 32) und einem peripheren Bereich (22 oder 29) versehen
ist-, wobei jeder dieser Bereiche für den Empfang eines Teils der einfallenden Strahlung (16) ausgelegt und gestaltet
ist, daß der zentrale Bereich (20, 28 oder 32)
so gestaltet ist, daß er die einfallende Strahlung den vorbestimmten Bereich der Ausgangsebene (14) bestrahlen
läßt, daß der periphere Bereich (22 oder 29) so gestaltet ist, daß er bestimmte Strahlen der einfallenden
Strahlung (16) auf bestimmte Stellen in dem vorgegebenen Bereich der Ausgangsebene (Ii+) lenkt, wobei die bestimmten
Stellen zusätzlich bestrahlt werden, um so die gewünschte Intensitätsvertexlung (50) in dem vorbestimmten
130018/0861
Gebiet zu erhalten.
2. Optische Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der vorgegebene Bereich der Ausgangsebene (IiLf) eine Konfiguration mit mindestens einigen kleineren
Dimensionen in zwei Richtungen aufweist, die senkrecht zu den entsprechenden Dimensionen der einfallenden
Strahlung (16) verlaufen, und daß die resultierende Strahlung bei der Ausgangsebene (14) ein kleineres
Profil von höherer Intensität hat als das Profil der einfallenden Strahlung (16).
3· Optische Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die einfallende Strahlung eine kolimierte Strahlung, eine konvergente Strahlung oder eine divergente
Strahlung enthält.
l\. Optische Einrichtung für einen Teilchenanalysator, bei
dem Teilchen zur Erzeugung auswertbarer Signale beleuchtet werden und eine Strahlungsquelle eine auftreffende
Strahlung mit einer ungleichmäßigen Strahlungsverteilung für die Beleuchtung der Teilchen erzeugt, dadurch gekennzeichnet,
daß die Einrichtung eine Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) für die Umverteilung der einfallenden
Strahlung (16) zu einer resultierenden Strahlung aufweist,
die eine im wesentlichen gleichmäßige Intensitätsverteilung (50) in einer Ausgangsebene aufweist,
daß die Ausgangsebene (1Zf) so positioniert ist, daß sie
Teilchen enthält, wobei die Teilchen von der resultierenden Strahlung beleuchtet werden.
5. Optische Einrichtung nach Anspruch if, dadurch gekennzeichnet,
daß die Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) eine Linse (38) mit einer umlenkenden Oberfläche (11)
für die Brechung der einfallenden Strahlung (16) über
mindestens einen größeren Teil hiervon aufweist, und
130018/0801
3039498
daß die Linse (38) so konstruiert ist, daß sie die einfallende Strahlung (i6) in einem vorbestimmten Bereich
der Ausgangsebene (Ik) ohne Überlappung der einzelnen
Strahlen konzentriert.
6. Optische Einrichtung nach Anspruch 5>
dadurch gekennzeichnet, daß die Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) einen zentralen Bereich (20, 28 oder 32) und einen
peripheren Bereich (22 oder 29) aufweist, daß jeder dieser Bereiche für die Aufnahme eines Teils der einfallenden
Strahlung (16) angeordnet und ausgebildet ist, daß der zentrale Bereich (20, 28 oder 32) so gestaltet
ist, daß er der einfallenden Strahlung gestattet, einen vorgegebenen Bereich der Ausgangsebene zu beleuchten,
der die Teilchen enthält, daß der periphere Bereich (22 oder 29) so konstruiert ist, daß er spezifische
Strahlen der einfallenden Strahlung (16) auf bestimmte
Stellen in dem vorgegebenen Bereich der Ausgangsebene (1Zf) . . lenkt., wobei die bestimmten Stellen zusätzlich
beleuchtet werden, um eine resultierende Strahlung mit einer gleichmäßigen Intensitätsverteilung (50) innerhalb
des vorbestimmten Gebietes zu erzeugen.
7. Optische Einrichtung nach Anspruch 1 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Umlenkeinrichtung (12, 27 oder
38) eine Linse aufweist, die einen peripheren Linsenteil (29) und eine innerhalb der Linse (27) gebildete Öffnung
(28) "besitzt, daß der periphere Teil (22 oder 29) der Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) den genannten peripheren
Linsenteil (29) enthält, wobei dieser periphere Linsenteil (29) eine gekrümmte äußere Oberfläche (31)
für die Umlenkung der einfallenden Strahlung (16) aufweist,und daß der zentrale Bereich (20, 28 oder 38) der
Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) die genannte Öffnung (28) enthält, wobei die einfallende Strahlung (16) die
genannte Öffnung (28) praktisch ohne optische Veränderung
13001 8/08G1
3039498
durchläuft.
8. Optische Einrichtung nach Anspruch 1 oder 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) eine Linse aufweist, die einen peripheren Teil (29) und
einen integral geformten zentralen Teil (32) hat, daß der periphere Bereich (29) der Umlenkeinrichtung (12, 27
oder 38) den genannten peripheren Teil (29) der Linse enthält, daß der periphere Teil (29) der Linse eine gekrümmte
äußere Oberfläche (31) für die Umlenkung der einfallenden Strahlung (16) aufweist, daß der zentrale Teil
(20, 28.oder 32) der Ümlenkeinrichtung (12, Z7 oder 38)
den genannten zentralen Teil (32) der Linse enthält, daß der zentrale Teil (32) der Linse gegenüberliegende ebene
Oberflächen/aufweist, wobei die einfallende Strahlung (i6) den zentralen Teil (32) der Linse praktisch ohne
optische Veränderung durchläuft.
9. Optische Einrichtung nach Anspruch 1 oder 6, dadurch gekenn-zeichnet,
daß die Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) einen Reflektor (12) mit einem zentralen Reflektorteil (20)
und einem peripheren Reflektorteil· (22) aufweist, daß der periphere Bereich (22 oder 29) der Umlenkeinrichtung
(12, 27 oder 38) den genannten peripheren Reflektorteil (.Z2) enthält, daß der periphere Reflektorteil eine konkave
Konfiguration für die Umlenkung der einfallenden
Strahlung (16) aufweist,und daß der zentrale Bereich
(20, 28 oder 32) der Umlenkeinrichtung den zentralen Reflektorteil (20) enthält und dieser eine ebene Konfiguration
zeigt.
10. Optische Einrichtung nach Anspruch 1 oder 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der vorbestimmte Bereich der Ausgangsebene (1if) eine Konfiguration mit mindestens einigen
kleineren Dimensionen in mindestens einer Richtung bezogen auf .die entsprechenden Dimensionen der einfallenden
Strahlung (16) aufweist, wobei die resultierende Strah-
13 0 018/0801
lung bei der Ausgangsebene ein geringeres Profil von höherer Intensität hat als das Profil der einfallenden
Strahlung (16).
11. Optische Einrichtung nach Anspruch 1 oder 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) Mittel für die Verlegung von peripher verteilter
einfallender Strahlung (26) enthält, welche von einem Paar gegenüberliegender Ränder der ungleichmäßigen
Intensitätsverteilung gebildet ist, die in einer überlappenden Beziehung mit zentral verteilter Strahlung (29)
verteilt wird, welche von dem verbleibenden Zentrum der ungleichmäßigen Intensitätsverteilung gebildet wird,
um so eine resultierende Strahlung zu erzeugen, die eine wesentlich engere, flacher gewünschte Verteilung in der
Ausgangsebene (14) aufweist.
12. Optische Einrichtung nach Anspruch 1 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die einfallende Strahlung (16) eine
Gauß-Intensitäts-Verteilung (48) mit einem Zentralbereich
(52) und einem Paar von gegenüberliegenden Randbereichen (54, 56) aufweist, die derart definiert sind,
daß sie aufeinanderfolgende Abschnitte (62) von Strahlung aufweisen, daß der mittlere Bereich (20, 28 oder 32) der
Umlenkeinrichtung so gestaltet und dimensioniert ist, daß die einfallende, von dem Zentralbereich der Gauß-Verteilung
(48) repräsentierte Strahlung (16) hier hindurchgeht zu dem vorbestimmten Bereich der Ausgangsebene
(14), wobei das vorbestimmte Gebiet aufeinanderfolgende
hat
Positionen darin definiert/, daß d^r periphere. Bereich (22 oder 29) der Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) so gestaltet und dimensioniert ist'-, daß :er- fortschreitend die aufeinanderfolgenden Segmente (62) der Strahlung zu den aufeinanderfolgenden Bereichen der Ausgangsebene (I4) verschiebt ., wobei der entfernteste Abschnitt/jedes Randes (54, 56) zu der nächsten erreichbaren Position
Positionen darin definiert/, daß d^r periphere. Bereich (22 oder 29) der Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) so gestaltet und dimensioniert ist'-, daß :er- fortschreitend die aufeinanderfolgenden Segmente (62) der Strahlung zu den aufeinanderfolgenden Bereichen der Ausgangsebene (I4) verschiebt ., wobei der entfernteste Abschnitt/jedes Randes (54, 56) zu der nächsten erreichbaren Position
130018/0861
303949©
in Bezug auf das Zentrum der einfallenden Strahlung (16)
verschoben wird, welche durch den mittleren Bereich (20, 28 oder 32) der Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38)
hindurchgeht,und daß die Ränder (5*f>
56) der einfallen den Strahlungs-Intensitäts-Verteilung (16) umgefaltet sind, um die gewünschte Intensitäts-Verteilung (50) mit
einer geringeren Weite und einem flacheren Profil zu erzeugen.
13· Optische Einrichtung nach Anspruch 1 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß der periphere Bereich (22 oder 29)
der Umlenkeinrichtung;- (12, 27 oder 38)eine modifizierte zylindrische Konfiguration aufweist, daß eine
zylindrische Linse (80) zwischen dem peripheren Bereich der Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) und der Ausgang^bene
(14) angeordnet ist, daß die zylindrische
Linse (80) so angeordnet ist, daß sie die Strahlung in eine im wesentlichen senkrecht zu derjenigen Richtung
verlaufende Richtung .
/ausrichtet, m welcher die Strahlung von der Umlenkeinrichtung
(12, 27 oder 38) modifiziert wird.
1if. Optische Einrichtung nach Anspruch 1 oder 6, dadurch
gekennzeichnet, daß der periphere Bereich (22 oder 29) der Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) eine radiale
Symmetrie aufweist, und daß der zentrale Bereich (20, oder 32) der Umlenkeinrichtung (12, 27 oder 38) eine
kreisförmige äußere Begrenzung aufweist.
Patentanwälte
Dipl.-Ing. E. Eder DIpI.-Ing. K. ScMieschke
β München 40, EIis#S§thstraBe
130018/0861
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/087,110 US4327972A (en) | 1979-10-22 | 1979-10-22 | Redirecting surface for desired intensity profile |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3039496A1 true DE3039496A1 (de) | 1981-04-30 |
Family
ID=22203171
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19803039496 Withdrawn DE3039496A1 (de) | 1979-10-22 | 1980-10-20 | Optische einrichtung fuer die umverteilung von einfallender strahlung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4327972A (de) |
CA (1) | CA1147182A (de) |
DE (1) | DE3039496A1 (de) |
GB (1) | GB2062282A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0098048A1 (de) * | 1982-06-25 | 1984-01-11 | Philip Morris Incorporated | Strahlteiler |
DE3233055A1 (de) * | 1982-09-06 | 1984-03-08 | Coulter Electronics, Inc., 33010 Hialeah, Fla. | Optische durchflussvorrichtung zur untersuchung von in einer fluessigkeitsstroemung suspendierten teilchen |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4484334A (en) * | 1981-11-17 | 1984-11-20 | Allied Corporation | Optical beam concentrator |
US4685780A (en) * | 1984-09-12 | 1987-08-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Reflection type optical device |
JPS6167821A (ja) * | 1984-09-12 | 1986-04-08 | Toshiba Corp | 反射光学装置 |
DE3530326A1 (de) * | 1985-08-24 | 1987-02-26 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Integrierender kondensor |
US5148442A (en) * | 1986-09-30 | 1992-09-15 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Dye lasing arrangement including an optical assembly for altering the cross-section of its pumping beam and method |
JPH07104499B2 (ja) * | 1987-07-31 | 1995-11-13 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 照明用光学系 |
DE3912237A1 (de) * | 1989-04-14 | 1990-10-18 | Zeiss Carl Fa | Spiegel zur veraenderung der geometrischen gestalt eines lichtbuendels |
US5285320A (en) * | 1989-04-14 | 1994-02-08 | Carl-Zeiss-Stiftung | Mirror for changing the geometrical form of a light beam |
US5138490A (en) * | 1989-04-29 | 1992-08-11 | Carl-Zeiss-Stiftung | Arrangement for changing the geometrical form of a light beam |
US4964718A (en) * | 1989-08-14 | 1990-10-23 | Mcdonnell Douglas Corporation | Optical corrector |
DE4023904A1 (de) * | 1990-07-27 | 1992-01-30 | Zeiss Carl Fa | Spiegel zur veraenderung der geometrischen gestalt eines lichtbuendels |
JPH04253044A (ja) * | 1990-12-27 | 1992-09-08 | Sanyo Electric Co Ltd | 液晶プロジェクタ |
US5303084A (en) * | 1991-08-27 | 1994-04-12 | Kaman Aerospace Corporation | Laser light beam homogenizer and imaging lidar system incorporating same |
US5515123A (en) * | 1994-02-17 | 1996-05-07 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Condensers for illumination systems |
US5918968A (en) * | 1996-06-28 | 1999-07-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Illuminating device for projector |
JP3990472B2 (ja) * | 1996-08-19 | 2007-10-10 | 富士フイルム株式会社 | ビーム径制御方法および装置 |
EP1744349A3 (de) * | 1998-10-05 | 2007-04-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laserbestrahlungsvorrichtung, Laserbestrahlungsverfahren, Strahlhomogenisierer und Herstellungsverfahren für ein Halbleiterbauelement |
JP3562389B2 (ja) * | 1999-06-25 | 2004-09-08 | 三菱電機株式会社 | レーザ熱処理装置 |
US6654183B2 (en) * | 1999-12-15 | 2003-11-25 | International Business Machines Corporation | System for converting optical beams to collimated flat-top beams |
US6454433B1 (en) | 2001-05-24 | 2002-09-24 | Eveready Battery Company, Inc. | Dual faceted reflector |
TW552645B (en) * | 2001-08-03 | 2003-09-11 | Semiconductor Energy Lab | Laser irradiating device, laser irradiating method and manufacturing method of semiconductor device |
US7026227B2 (en) * | 2001-11-16 | 2006-04-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of irradiating a laser beam, and method of fabricating semiconductor devices |
US6827475B2 (en) * | 2002-09-09 | 2004-12-07 | Steven Robert Vetorino | LED light collection and uniform transmission system |
US7125160B2 (en) * | 2004-10-29 | 2006-10-24 | Applied Innovative Technologies, Inc. | Led light collection and uniform transmission system using a conical reflector with a roughed up inner surface |
US20060198004A1 (en) * | 2005-03-04 | 2006-09-07 | Shigeru Ozawa | Light beam scanning device |
TWI299311B (en) * | 2006-09-27 | 2008-08-01 | Ind Tech Res Inst | Illuminating device |
CN101236150B (zh) * | 2007-02-02 | 2012-09-05 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 用于基于流式细胞术的仪器的光电传感器及其照射单元 |
DE102009010693A1 (de) * | 2009-02-26 | 2010-09-02 | Limo Patentverwaltung Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur Homogenisierung von Laserstrahlung |
US8330938B2 (en) * | 2009-02-27 | 2012-12-11 | Corning Incorporated | Solid-state array for lithography illumination |
KR101428846B1 (ko) * | 2009-06-30 | 2014-08-14 | 엘지전자 주식회사 | 로봇청소기의 충전장치 |
JP5534214B2 (ja) * | 2009-10-05 | 2014-06-25 | ベイバイオサイエンス株式会社 | フローサイトメータおよびフローサイトメトリ方法 |
KR20120036230A (ko) * | 2010-10-07 | 2012-04-17 | 삼성전자주식회사 | 형광 검출 광학계 및 이를 포함하는 다채널 형광 검출 장치 |
CN104024813B (zh) * | 2011-05-12 | 2016-11-09 | Xy有限责任公司 | 流式细胞仪中的uv二极管激光器激发 |
RU2624454C2 (ru) * | 2012-03-12 | 2017-07-04 | Филипс Лайтинг Холдинг Б.В. | Удаленное формирование светового пучка |
JP2014170034A (ja) * | 2013-03-01 | 2014-09-18 | Panasonic Corp | 画像表示装置 |
EP3869181A1 (de) | 2013-03-14 | 2021-08-25 | Abbott Laboratories | Strahlformungsoptik von durchflusszytometersystemen und zugehörige verfahren |
WO2019206399A1 (de) * | 2018-04-24 | 2019-10-31 | Trumpf Lasersystems For Semiconductor Manufacturing Gmbh | Reflektierendes optisches element, strahlführungseinrichtung und euv-strahlungserzeugungseinrichtung |
US10908065B2 (en) | 2018-09-17 | 2021-02-02 | Inguran, Llc | Light collection from objects within a fluid column |
KR102547657B1 (ko) * | 2018-10-01 | 2023-06-26 | 삼성디스플레이 주식회사 | 레이저 가공 장치 |
US11584662B2 (en) | 2020-03-16 | 2023-02-21 | Inguran, Llc | Systems and method for correction of positionally dependent electromagnetic radiation detected from objects within a fluid column |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2080352A (en) * | 1934-01-06 | 1937-05-11 | Weisse Ernst | Optical instrument |
DE927311C (de) * | 1953-09-19 | 1955-05-05 | Bayerische Motoren Werke Ag | Stromlinienfoermige Bugverkleidung fuer Einspurkraftfahrzeuge |
US3476463A (en) * | 1965-05-11 | 1969-11-04 | Perkin Elmer Corp | Coherent light optical system yielding an output beam of desired intensity distribution at a desired equiphase surface |
GB1266916A (de) * | 1968-04-25 | 1972-03-15 | ||
US4155626A (en) * | 1977-02-17 | 1979-05-22 | Leonard Grech | Spectacles with a wide angle of vision and method |
US4128308A (en) * | 1977-04-14 | 1978-12-05 | Mcnaney Joseph T | Optical system for changing the cross sectional dimensions of a collimated beam of light |
-
1979
- 1979-10-22 US US06/087,110 patent/US4327972A/en not_active Expired - Lifetime
-
1980
- 1980-10-20 GB GB8033802A patent/GB2062282A/en not_active Withdrawn
- 1980-10-20 CA CA000362822A patent/CA1147182A/en not_active Expired
- 1980-10-20 DE DE19803039496 patent/DE3039496A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0098048A1 (de) * | 1982-06-25 | 1984-01-11 | Philip Morris Incorporated | Strahlteiler |
DE3233055A1 (de) * | 1982-09-06 | 1984-03-08 | Coulter Electronics, Inc., 33010 Hialeah, Fla. | Optische durchflussvorrichtung zur untersuchung von in einer fluessigkeitsstroemung suspendierten teilchen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2062282A (en) | 1981-05-20 |
CA1147182A (en) | 1983-05-31 |
US4327972A (en) | 1982-05-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3039496A1 (de) | Optische einrichtung fuer die umverteilung von einfallender strahlung | |
DE3212698C2 (de) | ||
EP1489438B1 (de) | Zylinderlinsenarray zur Homogenisierung eines Lichtstrahls | |
EP0402740B2 (de) | Verfahren zum Bestimmen der Form eines Reflektors | |
DE3507407A1 (de) | Durchfluss-zytometriegeraet | |
DE102011115141B4 (de) | Solar-Simulator | |
WO2009068192A1 (de) | Vorrichtung zur strahlformung | |
DE102004020250A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Strahlhomogenisierung | |
WO1999046627A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur optischen strahltransformation | |
WO2005085934A1 (de) | Vorrichtung zur erzeugung eines linearen fokusbereichs einer laserlichtquelle | |
DE10139355A1 (de) | Anordnung und Vorrichtung zur optischen Strahlhomogenisierung | |
DE19841040A1 (de) | Vorrichtung zum Markieren einer Oberfläche mittels Laserstrahlen | |
DE102020108648A1 (de) | Optische Anordnung und Lasersystem | |
EP2976672B1 (de) | Vorrichtung zur homogenisierung eines laserstrahls | |
EP0154700B1 (de) | Braggzellen-Spektralanalysator mit einem Prismenaufweitungssystem | |
DE2906440A1 (de) | Spektrometer | |
DE102008027229A1 (de) | Vorrichtung zur Strahlformung | |
DE10331442B4 (de) | Anordnung zur Transformation eines optischen Strahlungsfelds | |
DE19820154A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Strahltransformation | |
DE102008008580B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Strahlformung eines homogenisierten Lichtstrahls | |
WO2021069441A1 (de) | Laservorrichtung zur erzeugung von laserstrahlung sowie 3d-druck-vorrichtung mit einer derartigen laservorrichtung | |
DE10109592C2 (de) | Anordnung zum Erzeugen eines leuchtenden Feldes | |
DE69733553T2 (de) | Anordnung zur strahl-emission | |
DE10121747A1 (de) | Element zur kombinierten Symmetrisierung und Homogenisierung eines Strahlenbündels | |
EP3577514A1 (de) | Vorrichtung zur kollimation eines lichtstrahls, hochleistungslaser und fokussieroptik sowie verfahren zum kollimieren eines lichtstrahles |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |