DE2731775A1 - Interferenzfiltermonochromator - Google Patents

Interferenzfiltermonochromator

Info

Publication number
DE2731775A1
DE2731775A1 DE19772731775 DE2731775A DE2731775A1 DE 2731775 A1 DE2731775 A1 DE 2731775A1 DE 19772731775 DE19772731775 DE 19772731775 DE 2731775 A DE2731775 A DE 2731775A DE 2731775 A1 DE2731775 A1 DE 2731775A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
filter
interference
light
filters
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19772731775
Other languages
English (en)
Inventor
Einar Skau Mathisen
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of DE2731775A1 publication Critical patent/DE2731775A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0235Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using means for replacing an element by another, for replacing a filter or a grating

Description

Böblingen, den 13. Juli 1977 pr-nf/sz
Anmelderin:
International Business Machines Corporation, Armonk, N. Y. 10504
Amtliches Aktenzeichen: Aktenzeichen der Anmelderin:
Neuanmeldung PO 976 003
Vertreter:
Patentanwalt Dipl. -Phys. H. Preisher
7030 Böblingen
Bezeichnung: Interferenzfilte !-monochromator
70988 R /0642
Bei der Sprektralanalyse eines Materials wird das von Material ausgehende Licht durch Filter in seine spektralen Komponenten zerlegt. Um das für das analysierte Material charakteristische Spektrum zu erhalten, werden die relativen Itensitäten der !
I ι
'Strahlen bei verschiedenen Wellenlängen graphisch aufgetragen j und analysiert. Ein für diese Zwecke geeignetes Filter besteht aus einen keilförmigen Interferenzfilter, bei dem die Wellenlänge des durchgelassenen Lichtes eine Funktion des Ortes, an dem das Licht das Filter durchsetzt, ist. Derartige Filter umfassen von einem Ende zum anderen das gesamte sichtbare Spektrum von etwa 400 bis 700 nm. In vielen Fällen sind diese Filter ringförmig ausgebildet und auf einer von einem schmalen Lichtstrahl durchsetzten, drehbaren Scheibe angeordnet. Durch 'die Drehung der Scheibe kann der Ort des Auftreffens des Licht !Strahls und somit die gewünschte Frequenz des durchtretenden Lichts bestimmt werden. Derartige ringförmige Filter und jedoch mit der erforderlichen Auflösung sehr schwer herzustellen.
der Literaturstelle "Military Standardization Handbook, Optical Design", (MIL-HDBK-141), Selten 20 bis 71, Defense Supply Agency, Washington 25, D.C, 5, Oktober 1962, und 'aus der US-PS 3 861 788 sind Interferenzfilter bekannt, deren ,
I !
DurchlaBbereich in gewissem Umfang eine Funktion des Ein- j
!fallswinkels der zu analysierenden Strahlen ist.
jDle Erfindung geht von der Aufgabe aus, die Nachteile der bls- I her bekannten Monochromatoren zu vermeiden und eine Vorrichi
tung anzugeben, bei der mit einfachen Mitteln und geringem konstruktivem Aufwand Spektralanalysen unter Ausnutzung eines breiten Frequenzbandes großer Genauigkeit und in kürzester Seit aufgeführt werden können. Weiterhin soll es möglich sein, die Auswertung der Analysen vollautomatisch durchzuführen. Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 gekennzeichnete Erfindung gelöst.
PO 976 003
709886/0642
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Figuren näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 die schematische Darstellung eines zum Stande ■ der Technik gehörenden Interferenzfilters,
Fig. 2 die schematische Darstellung eines unter Verwendung eines Interferenzfilters aufgebauten Monochrouators,
Fign. 3 und 4 schematische Darstellungen eines Ausfuhrungsbeispiels der Erfindung.
Das in Fig. 1 dargestellte, zum Stande der Technik gehörende ] Interferenzfilter mit Durchlaemaximum besteht aus zwei Glasplatten 12 und 14 und einer dazwischen angeordneten dielektrischen Schicht 16 mit konstanter Dicke t. An den inneren FlSchen der beiden Glasplatten sind zwei Metallschichten 18 bzw. 20 aus Silber oder Aluminium angeordnet, die als tellre-,flektierende Flächen wirken. Ein auf eine der Glasplatten 12, 1 14 auftreffender Lichtstrahl durchsetzt das Interferenzfilter auf zwei Wegen. Im ersten Fall durchsetzt das Licht dasFilter j auf dem kürzesten Wege, beispielsweise auf dem durch die Linie: ; 22 angedeuteten Weg. Im zweiten Fall wird das Licht nach Ein- , l tritt in den Interferenzfilter zunächst an den inneren Flächen j der Schichten 18 und 20 reflektiert. Es ist offensichtlich, 'das die Wege 22 und 24 verschieden lang sind. Fällt ein Strahl 26 senkrecht auf die Filterfläche auf, so ist die Differenz zwischen der Länge der Wege 22 und 24 gleich der doppelten Dicke t der dielektrischen Schicht 16. In diesem Falle tritt ein Durchlaemaximum für eine Wellenlänge ηλ - 2t auf, da die beiden austretenden Strahlen 22 und 24 einander durch Interferenz verstärken. Mit größer werdendem Einfallswinkel θ wird
FO 976 003
709886/0642
die Wellenlänge λ, für die ein Durchlaßmaxlmum vorliegt, kleiner. Diese Tatsache ist darauf zurückzuführen, daß die Wegdifferenzen innerhalb des Dielektrikums kleiner werden, was ein Kleinerwerden der Wellenlänge zur Folge hat, bei denen für die Strahlen 22 und 24 verstärkende Interferenz auftritt. Gemäß der Erfindung werden die an sich bekannten Eigenschaften eines Interferenz filters, die Wellenlänge des Transmissionsmaximums als Funktion des Einfallswinkels des zu filternden Lichtes zu verändern, in einem Monochromator ausgenutzt. Wie aus den Fign, 2, 3 und 4 ersichtlich, werden 14 Schmalband-Interferenzfilter 28 auf einem trommeiförmigen Träger in bezug auf den Trommelumfang tangential angeordnet. Jedes Filter weist eine andere Wellenlänge für das Tranemissionsmaximum auf, das im vorliegenden Ausführungebeispiel im sichtbaren Bereich liegt. Eine Lichtquelle erzeugt einen radial in Richtung auf den Trommelumfang verlaufenden Strahl, der jeweils an einem Ende der Filter auf die Filterfläche senkrecht auftrifft. Bei einer ' sich drehenden Trommel 30 ändert sich der Einfallswinkel des Lichtstrahles auf die Filter von 0° bis zu einem bestimmten j Vert, so daß die Wellenlänge des durchgelassenen Lichtes beim J Durchlauf jedes Filters kleiner wird. Im Ausführungsbeispiel , weist das Filter 28a die größte Wellenlänge des Durchlaßmaximums auf, während das Filter 28b die zweitgrößte Wellenlänge des Durchlaßmaximums aufweist. Die Durchlaßmaxima der anderen Filter liegen im Bereich immer kürzer werdender Wellenlängen. Wird die Trommel 30 daher im Uhrzeigersinn bewegt, so wird die Länge der durchgelassenen, monochromatischen Strahlung immer ι kleiner. In Fig. 2 erzeugt eine Lichtquelle 34 einen aus weißem Licht bestehenden Strahl, der in ein Glasfaserbündel 36 eintritt, anschließend kollimiert wird, ein zu analysierendes, lichtdurchlässiges Objekt 38 durchsetzt, fokussiert wird, in ein zweites Glasfaserbündel 40 eintritt, dessen Lichtauftrittsfläche, wie aus Fig. 4 ersichtlich, in einem etwa 0,6 ram brei- i ten Schlitz ausläuft. Das aus dem Glasfaserbündel 40 austre- I tende Licht wird mittels einer Linse 42 kollimiert, so daß ein '
!schmaler, das Filter 28 durchsetzender Lichtstrahl entsteht.
PO 976 003
709886/0642
- Sf-
Das aua dem Filter 28 austretende Licht wird mittels einer Linse 44 fokussiert und durch ein zweites Glasfaserbündel 46 su eine« Photomultiplier 48 übertragen. Der elektrische Aus-,gang 50 des Photomultipliers wird in einen Verstarker 52 verjstärkt, in einem Analog/Digitalumformer 54 umgeformt und einem \ digitalen Analysator 56 zugeleitet. Dem digitalen Analysator j werden zusätzlich Informationen vom Ausgang eines Codierers 58 ; über zwei Leitungen 60 und 62 zugeführt. Die erste dieser · Leitungen, nämlich die Leitung 60, überträgt jedesmal einen Impuls, wenn der Lichtstrahl 32 durch die Ausgangsposition an j der vorderen Seite 64 des ersten Filters 28a hindurchtritt. < Die zweite Leitung, nämlich die Leitung 62, überträgt jedes-Imal dann ein Impuls, wenn die Trommel 30 sich um einen bestimmt ι ten kleinen Winkel gedreht hat. Dem digitalen Analysator werden1 'somit Informationen zugeführt, die besagen, durch welchen der j Filter 28 der Lichtstrahl 32 hindurchtritt und unter welchem !Winkel dieser Lichtstrahl auf das jeweilige Filter fällt. Das i !die Änderung der Winkellage der Trommel angebende Signal wird \
Iauch dem Analog/Digitalumformer 54 zugeführt, so daß die um- j
formung der Werte zu den jeweiligen Inkrementierzeiten erfolgt.]
Die Anordnung ist so getroffen, daft, während ein Filter 28 ι seine Winkellage, in der es vom Lichtstrahl 42 durchsetzt wirdJ ändert, die Wellenlänge des Durchschlagsmaximums als Funktion des Auftreffwinkels ebenfalls geändert wird. Beim übergang des Lichtstrahls von einem Filter zum anderen wird die Wellenlänge des Durchlaßaaximums, wegen der oben angegebenen Dlmensionierung der einzelnen Filter, des die Filter verlassenden monochromatischen Lichtes von Filter zu Filter kontinuierlich kleiner. Geht man von der theoretischen Ausnahme aus, daß die Wellenlänge des durchgelassenen monochromatischen Lichtes sich vom Zustand des senkrechten Auftreffens bis zum maximalen Auftreffwinkel jedes Filters um 3 % ändert, so wird durch eine Anordnung von 14 Filtern das gesamte sichtbare Spektrum erfaßt.
FO 976 003
709886/0642
Die nominale Wellenlänge der Durchlässigkeit des ersten Filters 28a sei 700 mn und umfasse den Bereich von 700 bis 679 nm. Die nominale Wellenlänge der Durchlässigkeit des zweiten Filters würde dann von 679 nm bis 659 nm reichen. Bei entsprechender Verschiebung der Durchlaßbereiehe in den folgenden Filtern kann somit das gesamte sichtbare Spektrum durch 14 Filter übertragen werden.
PO 976 003
709886/0642
Leerseite

Claims (6)

PATENTANSPRÜCHE
1. j Interferenzfilterroonochromator, gekennzeichnet durch ν ,-- mehrere, kreisförmig um einen gemeinsamen Mittelpunkt drehbar angeordnete Interferenzfilter (28a bis 28n) mit voneinander verschiedenen Durchlaßbereichen, deren Flächen jeweils im Bereich einer Filterkante senkrecht zu einem sie schneidenden Kreisradius liegen und die von einem zu analysierenden, in radialer Richtung verlaufenden Lichtstrahl (32) durchsetzt werden, sowie durch an der gegenüberliegenden Seite der Interferenzfilter angeordnete Detektoren (48).
2. Interferenzmonochromator nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine breitbandige Lichtquelle (34), einen ersten, das Licht zu einem zu analysierenden Objekt (38) übertragenden Lichtleiter (36), einen zweiten, das Licht vom Objekt (38) in den Bereich der Interferenzfilter (28) übertragenden Lichtleiter (40), sowie einen dritten, das Licht aus dem Bereich der Interferenzfilter (28) zu einem Detektor (48) führenden Lichtleiter (46).
3. Interferenzmonochromator nach den Ansprüchen 1 und 2, gekennzeichnet durch einen Codierer (58) zur Angabe des Durchgangs des ersten Filters (28) durch den Lichtstrahl in der Ausgangslage der Filteranordnung und zur Angabe der schrittweisen Änderung der Drehlage der einzelnen Filter.
4. Interferenzmonochromator nach den Ansprüchen 1 bis 3, gekennzeichnet durch eine Vorrichtung (56) zum Analysieren des aus dem Bereich der Filter (28) austretenden Lichtes und der vom Codierer (58) erzeugten elektrischen Impulse.
PO 976 003
709886/0642
ORIGINAL INSPECTED
5. Interferenzmonochromator nach den Ansprüchen 1 bis 4, gekennzeichnet durch eine solche Bemessung der Durchlaßbereiche und der Anzahl der Filter (28a bis 28n), daß der Durchlaßbereich der Filteranordnung das gesamte, sichtbare Spektrum umfaßt.
6. Interferenzinonochromator nach den Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Nominalwellenlänge des Durchlaßbereichs eines Filters (28) bei senkrechtem Auftreffen des Lichtstrahls (32) im wesentlichen gleich ist der kürzesten Wellenlänge des Durchlaßbereichs des benachbarten Filters mit einer höheren Nominalwellenlänge.
PO 976 003
7098 8 R/0642
DE19772731775 1976-07-19 1977-07-14 Interferenzfiltermonochromator Withdrawn DE2731775A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/706,982 US4084909A (en) 1976-07-19 1976-07-19 Drum monochromator

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2731775A1 true DE2731775A1 (de) 1978-02-09

Family

ID=24839881

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19772731775 Withdrawn DE2731775A1 (de) 1976-07-19 1977-07-14 Interferenzfiltermonochromator

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4084909A (de)
JP (1) JPS5312345A (de)
DE (1) DE2731775A1 (de)
FR (1) FR2359405A1 (de)
GB (1) GB1530547A (de)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3617123A1 (de) * 1985-07-04 1987-01-08 Cammann Karl Verfahren zur selektivitaetsverbesserung spektrometrischer messungen, sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE3936825A1 (de) * 1988-11-04 1990-05-10 Instrumentarium Oy Verfahren und vorrichtung zur erkennung von gasen
DE3942375A1 (de) * 1989-12-21 1991-06-27 Guenter Knapp Vorrichtung zur gleichzeitigen erfassung mehrerer wellenlaengenbereiche
EP0520463A1 (de) * 1991-06-28 1992-12-30 CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. Hochauflösendes Spektroskopsystem
US5910840A (en) * 1996-07-12 1999-06-08 Deutsche Forschungsanstalt Fur Luft-Und Raumfahrt E.V. Apparatus and method for interferometric measurements
DE112011100321B4 (de) 2010-01-21 2023-05-11 Hamamatsu Photonics K.K. Spektralvorrichtung

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4176916A (en) * 1977-03-14 1979-12-04 Neotec Corporation Cam filter wheel
US4737034A (en) * 1981-02-20 1988-04-12 Pacific Scientific Company Rectangular impinging beam
US4419575A (en) * 1981-06-02 1983-12-06 The Perkin-Elmer Corporation Apparatus useful for positioning a light filter
JPS59221629A (ja) * 1983-05-31 1984-12-13 Yamatake Honeywell Co Ltd カラ−マ−ク検出方式
US4601579A (en) * 1983-11-04 1986-07-22 Pritchard James L High intensity Fourier spectrometer
GB2187302B (en) * 1986-02-28 1989-11-08 Ferranti Plc Optical scanning apparatus
US4738535A (en) * 1986-07-22 1988-04-19 Pacific Scientific Company Optical instrument employing fiber optics to direct light through tilting filter wheel
JPH04113235A (ja) * 1990-09-04 1992-04-14 Minolta Camera Co Ltd 光センサー
EP0655129B1 (de) * 1992-08-14 1998-05-13 BLAIS, John, F.,Jr. Spektrometer mit drehbarem biegsamem filter
US5604585A (en) * 1995-03-31 1997-02-18 Tencor Instruments Particle detection system employing a subsystem for collecting scattered light from the particles
KR100442828B1 (ko) * 1997-09-12 2004-09-18 삼성전자주식회사 모노크로메이터
JP2003106899A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Ando Electric Co Ltd 光学式分光器
US7280735B2 (en) * 2004-06-07 2007-10-09 Andre Sean Thibault Combined optical fiber wheel, beamsplitter, switch, and logic gate
KR20070026610A (ko) * 2004-06-21 2007-03-08 니혼 덴산 산쿄 가부시키가이샤 광 빔 주사 장치
JP4804727B2 (ja) * 2004-06-24 2011-11-02 オリンパス株式会社 光走査型共焦点顕微鏡
KR100601964B1 (ko) * 2004-09-07 2006-07-19 삼성전자주식회사 다채널 다중 컬러 측정을 위한 광검출장치 및 이를 채용한다채널 시료 분석기
US20070027374A1 (en) * 2005-05-19 2007-02-01 Foss Analytical Ab Optical blood analyte monitor
EP1882166A1 (de) * 2005-05-19 2008-01-30 FOSS Analytical AB Optischer analysator
US7773300B2 (en) * 2006-05-12 2010-08-10 Semrock, Inc. Multiphoton fluorescence filters
US8958156B1 (en) 2007-05-30 2015-02-17 Semrock, Inc. Interference filter for non-zero angle of incidence spectroscopy
US9354370B1 (en) 2007-09-25 2016-05-31 Semrock, Inc. Optical thin-film notch filter with very wide pass band regions
US8049894B2 (en) * 2007-10-05 2011-11-01 Lightwaves 2020, Inc. Multiple wavelength optical analyzer device
US8879150B1 (en) 2009-03-20 2014-11-04 Semrock, Inc. Optical thin-film polarizing bandpass filter
US8441710B2 (en) * 2010-01-08 2013-05-14 Semrock, Inc. Tunable thin-film filter
US8059327B1 (en) 2010-04-29 2011-11-15 Semrock, Inc. Variable spectral filter apparatus
JP5759117B2 (ja) * 2010-07-07 2015-08-05 浜松ホトニクス株式会社 分光装置
JP5646555B2 (ja) * 2012-07-19 2014-12-24 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置及び光検出システム
US9304237B1 (en) 2012-12-10 2016-04-05 Semrock, Inc. Tunable band-pass filter
WO2016002468A1 (ja) * 2014-07-03 2016-01-07 株式会社村田製作所 ガス濃度測定装置
EP3165905B1 (de) * 2014-07-03 2019-10-02 Murata Manufacturing Co., Ltd. Gaskonzentrationsmessvorrichtung
US10345237B1 (en) 2019-01-31 2019-07-09 Rarecyte, Inc. Spectral edge detection
US10753875B1 (en) 2019-01-31 2020-08-25 Rarecyte, Inc. Spectral unmixing of spectroscopic emission images

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3416864A (en) * 1965-04-29 1968-12-17 Beckman Instruments Inc Circular variable interference filter monochromator
JPS4523992Y1 (de) * 1965-10-30 1970-09-21
US3765775A (en) * 1972-03-15 1973-10-16 Neotec Corp Optical internal quality analyzer
US3794425A (en) * 1972-08-22 1974-02-26 Shell Oil Co Scanning infrared spectroscopic analyzer using rotating variable filter
US3922092A (en) * 1973-12-06 1975-11-25 Den Bosch Francois J G Van Monochromator and light dispersing apparatus
US4012147A (en) * 1974-11-06 1977-03-15 George Edouard Walrafen Slit-less spectrometer

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3617123A1 (de) * 1985-07-04 1987-01-08 Cammann Karl Verfahren zur selektivitaetsverbesserung spektrometrischer messungen, sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE3936825A1 (de) * 1988-11-04 1990-05-10 Instrumentarium Oy Verfahren und vorrichtung zur erkennung von gasen
DE3936825C2 (de) * 1988-11-04 2000-08-24 Instrumentarium Oy Helsinki Verwendung einer Vorrichtung zur Erkennung von Anästhesiegasen
DE3942375A1 (de) * 1989-12-21 1991-06-27 Guenter Knapp Vorrichtung zur gleichzeitigen erfassung mehrerer wellenlaengenbereiche
US5206708A (en) * 1989-12-21 1993-04-27 Knapp Guenter Apparatus for the simultaneous detection of ranges of wavelengths
EP0520463A1 (de) * 1991-06-28 1992-12-30 CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. Hochauflösendes Spektroskopsystem
US5910840A (en) * 1996-07-12 1999-06-08 Deutsche Forschungsanstalt Fur Luft-Und Raumfahrt E.V. Apparatus and method for interferometric measurements
DE19628200B4 (de) * 1996-07-12 2007-03-01 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Vorrichtung zur Durchführung interferometrischer Messungen
DE112011100321B4 (de) 2010-01-21 2023-05-11 Hamamatsu Photonics K.K. Spektralvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
US4084909A (en) 1978-04-18
FR2359405B1 (de) 1980-02-08
JPS5312345A (en) 1978-02-03
FR2359405A1 (fr) 1978-02-17
GB1530547A (en) 1978-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2731775A1 (de) Interferenzfiltermonochromator
DE2929170C2 (de) Meßeinrichtung zur Ermittlung des Fluoreszenz-Emissionsspektrums von Partikeln
DE2642170C2 (de) Spektrophotometer
DE2364069C3 (de) Spektralphotometer
EP0098423B1 (de) Gitterspektrometer
DE2552541A1 (de) Gleichzeitige durchlaessigkeit periodischer spektralkomponenten durch vielfach interferometrische geraete
DE2739585A1 (de) Spektrophotometer
DE3901869A1 (de) Optischer codierer
DE2054084B2 (de) Zweistrahl-infrarotmessung im reflexions- oder durchstrahlungsverfahren
DE3937851A1 (de) Laser-doppler-geschwindigkeitsmesser
EP0427037A2 (de) Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator zur gleichzeitigen Messung der Konzentration mehrerer Komponenten einer Gasprobe
DE2147142A1 (de) Photometrischer Analysator für zwei Wellenlängen zur quantitativen Analyse von Elementen in einer Lösung
DE2229541A1 (de) Spektrometer
DE3800053A1 (de) Optische fehlerinspektionsvorrichtung
DE3339006C2 (de) Schlitzmechanismus zur Verwendung in einem Monochromator
DE3914135C2 (de)
DE3113984C2 (de) Doppelmonochromator
DE2212498A1 (de) Raman-Spektrometer
DE2948590C2 (de) Vorrichtung zur Absorptionsmessung von Gasgemischen
DE2829802A1 (de) Spektrograph
DE2038963A1 (de) Spektrometer
DE2744168C3 (de) Magnetooptisches Spektralphotometer
DE3005352A1 (de) Optische anordnung zum erzeugen von zeitlich aufeinanderfolgenden messstrahlenbuendeln unterschiedlicher wellenlaenge
EP0231538B1 (de) Optischer Weg-Sensor mit einem Filter
DE3539667C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee