DE20317873U1 - Vorrichtung zur Korrektur der Empfindlichkeit einer CCD-Kamera - Google Patents
Vorrichtung zur Korrektur der Empfindlichkeit einer CCD-Kamera Download PDFInfo
- Publication number
- DE20317873U1 DE20317873U1 DE20317873U DE20317873U DE20317873U1 DE 20317873 U1 DE20317873 U1 DE 20317873U1 DE 20317873 U DE20317873 U DE 20317873U DE 20317873 U DE20317873 U DE 20317873U DE 20317873 U1 DE20317873 U1 DE 20317873U1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- pixels
- ccd camera
- pixel
- sensitivity
- ring systems
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/002—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70425—Imaging strategies, e.g. for increasing throughput or resolution, printing product fields larger than the image field or compensating lithography- or non-lithography errors, e.g. proximity correction, mix-and-match, stitching or double patterning
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/40—Picture signal circuits
- H04N1/401—Compensating positionally unequal response of the pick-up or reproducing head
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
- H04N25/672—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction between adjacent sensors or output registers for reading a single image
Abstract
Vorrichtung zur Korrektur von Ungleichmäßigkeiten der Empfindlichkeit von Pixeln einer CCD-Kamera, gekennzeichnet, durch Einrichtungen zum Ändern der Wellenlänge eines Lasers in Schritten von bevorzugt 0,05 pm, ein Fabry-Perot-Etalon zum Erzeugen einer Anzahl (k) von Ringsystemen auf der CCD-Kamera, einen Speicher zum Abspeichern der mit der CCD-Kamera gemessenen Ringsysteme, und einen Rechner zum Ermitteln der Empfindlichkeiten S(i) der einzelnen Pixel aufgrund der abgespeicherten Ringsysteme.
Description
- Bei Lasern dieses Wellenlängenbereichs handelt es sich z. B. um KrF- oder ArF-Excimerlaser und F2-Laser. Diese Laser werden beispielsweise in der Lithographie für die Herstellung von Halbleiterchips benutzt. Die Anforderungen an die Laserstrahleigenschaften sind in der Lithographie besonders hoch und müssen daher ständig kontrolliert und nachgeregelt werden. Diese Kontrolle der Laserstrahleigenschaften wird durch ein Monitormodul (MOM) gewährleistet, welches Bestandteil des Lasers ist und aus diversen Komponenten besteht. Eine Komponente ist z.B. der Energiemonitor, welcher eine UV-taugliche Photodiode beeinhaltet. Eine weitere Komponente des MOM ist ein Fabry-Perot-Etalon und eine CCD (Charge Coupled Device) – Kamera. Mit der CCD-Kamera kann das durch das Fabry-Perot erzeugte Ringsystem aufgenommen werden. Aus diesem Ringsystem kann die Bandbreite der Laserstrahlung ermittelt werden. Die entsprechenden theoretischen Zusammenhänge zwischen registriertem Ringsystem und Bandbreite, sind in gängigen Lehrbüchern der Physik nachzulesen. Die auf die CCD-Kamera auffallende Strahlung führt nach einiger Zeit zu einer geringeren Empfindlichkeit an den bestrahlten Stellen als an den unbestrahlten Stellen, d.h. die CCD-Kamera degradiert an Stellen, wo UV-Licht auftrifft. Typischerweise kann bei den verwendeten CCD-Kameras ab einigen 100 Millionen Laserpulsen eine geringere Empfindlichkeit nachgewiesen werden, es kann sogar vorkommen, dass einzelne Pixel der Kamera vollständig zerstört sind. Das Problem tritt insbesondere auf, wenn nach längerer Zeit die Wellenlänge gewechselt wird und damit durch das Ringsystem zum Teil vorher belichtete und daher degradierte Pixel und zum Teil vorher nicht belichtete (neuwertige) Pixel beleuchtet werden. Durch diese Degradation der CCD-Kamera werden die gemessenen Bandbreiten verfälscht wiedergegeben. Die Bandbreite ist aber ein wichtiger Wert für die Charakterisierung der Laserstrahiqualität und damit für die Herstellung der Halbleiterchips. Beschädigte CCD-Kameras müssen daher ausgetauscht werden und der Produktionsprozeß muß angehalten werden. Diese Wartungsarbeiten am Lasersystem sind insbesondere in der Halbleiterherstellung unerwünscht. Im Stand der Technik ist bekannt (
DE 200 04 616.0 ), dass z.B. UV-Photodioden zur Messung der Leistung von Excimer- und F2-Lasern benutzt werden. Versuche, derartige UV-Photodioden auch zur Messung der Leistung von im UV- und VUV-Wellenlängenbereich emittierenden Lasern einzusetzen, war wenig erfolgreich. In der Praxis hat sich nämlich herausgestellt, dass die hohe Quantenenergie (7,9 eV) der bei 157 nm emittierten Strahlung eines F2-Lasers zu einer raschen Abnahme der Photoempfindlichkeit der UV-Photodioden führt. - Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Konekturvorrichtung zur Verfügung zu stellen, mit der Ungleichmäßigkeiten der Empfindlichkeit einzelner Pixel einer CCD-Kamera ausgeglichen werden können.
- Die Aufgabe wird gelöst durch eine Korrekturvorrichtung gemäß Anspruch 1. Die Unteransprüche betreffen vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung.
- Die erfindungsgemäße Korrekturvorrichtung und der daraus resultierende Korrekturfaktor für jedes Pixel der CCD-Kamera arbeitet wie im Folgenden beschrieben.
- Die durch die UV-Strahlung hervorgerufene Veränderung der Empfindlichkeit der einzelnen Pixel der CCD-Kamera ist in
1 dargestellt.1 zeigt die Abhängigkeit des gemessenen Kamerasignals in Abhängigkeit von der Pixelnummer der CCD-Kamera. Die Messwerte1.1 zeigen das CCD-Kamerasignal einer neuen CCD-Kamera und die Messwerte1.2 das CCD-Kamerasignal nach 120 Millionen Laserpulsen. Die CCD-Kamera wurde mit einem ArF-Laser bei einer Repetitionsrate von 2 kHz bestrahlt. Der Bereich1.3 zeigt sehr deutlich, dass sich das Kamerasignal durch die Bestrahlung mit UV-Licht verändert. Bei der verwendeten CCD-Kamera änderte sich die Empfindlichkeit der bestrahlten Pixel im Bereich1.3 um bis zu 65%. Desweiteren wurde der Einfluß der UV-Laserstrahlung auf den Dunkelstrom der CCD-Kamera bestimmt. Das Ergebnis ist graphisch in2 dargestellt. Die Messwerte2.1 zeigen den Dunkelstrom in Abhängigkeit von der Pixelnummer der CCD-Kamera vor der Bestrahlung mit UV-Laserstrahlung. Die Messwerte2.2 zeigen den Dunkelstrom nach 120 Millionen Laserpulsen. Der Dunkelstrom steigt nach der Bestrahlung der CCD-Kamera mit UV-Laserstrahlung leicht an. - Im Folgenden wird nun die Korrektur für die Empfindlichkeit der einzelnen CCD-Kamerapixel beschrieben.
- Die Wellenlänge des Lasers wird in 0.05 pm Schritten geändert, bis die gesamte Wellenlängenänderung 4 pm beträgt. Nach jeder Wellenlängenänderung wird ein Ringsystem abgespeichert.
3 zeigt ein typisches Ringsystem, aufgenommen mit einem ArF-Laser Modell A2005 der Fa. Lambda Physik AG. Die Amplituden der einzelnen Interferenzpeaks unterscheiden sich deutlich. Zusätzlich sind nicht alle Peaks ideal symmetrisch. Oft weisen sie Artefakte, wie Schultern oder kleine Signaleinbrüche in den Flanken auf. Die Ursache hierfür können beschädigte Pixel der CCD-Kamera sein. Die k aufgenommenen Ringsysteme Ck werden pixelweise (i =1 – 2048) aufsummiert. - Im Ergebnis erhält man ein gemitteltes „Ringsystem" R(i). Da die Ringe der einzelnen Ringsysteme kontinuierlich verschoben sind, entspricht das gemittelte Ergebnis näherungsweise dem Bild einer homogen beleuchteten Kamerazeile. Aus diesem Bild wird die Empfindlichkeit S(i) jedes einzelnen Pixels der CCD-Zeile bestimmt.
- S(i) ist definiert als Quotient aus der über alle Pixel gemittelten mittleren Empfindlichkeit zum Wert jedes einzelnen Pixels. Damit wird jedem Pixel i ein Korrekturwert S(i) zugeordnet.
-
4 zeigt das Ringsystem aus3 mit vorgenommener Korrektur, nach dem oben beschriebenen Verfahren. Die Amplituden der Interferenzpeaks unterscheiden sich nur noch um wenige Prozent. Gleichzeitig ist die Symmetrie der Peaks gestiegen. Die5 vergleicht die aus unkorrigierten Ringsystemen berechnete Bandbreite5.1 mit der aus den gleichen korrigierten Ringsystemen berechneten Bandbreiten5.2 . Die Bandbreiteschwankungen haben sich nach der Korrektur deutlich reduziert. - Wie oben schon erwähnt, können durch die UV-Laserstrahlung Pixel der CCD-Kamera vollständig zerstört werden. Damit man die CCD-Kamera aber weiter benutzen kann, wurde ein Algorithmus entwickelt, der einzelne defekte Kamerapixel markiert und codiert. Ein defektes Pixel kann z.B. mit dem Wert 0 codiert werden. Durch ein geeignetes Interpolationsverfahren können defekte Pixel somit ausgeglichen werden. Die CCD-Kamera muß daher trotz einzelner defekter Pixel nicht ausgetauscht werden und die Herstellung von Halbleiterchips kann weiterlaufen.
Claims (7)
- Vorrichtung zur Korrektur von Ungleichmäßigkeiten der Empfindlichkeit von Pixeln einer CCD-Kamera, gekennzeichnet, durch Einrichtungen zum Ändern der Wellenlänge eines Lasers in Schritten von bevorzugt 0,05 pm, ein Fabry-Perot-Etalon zum Erzeugen einer Anzahl (k) von Ringsystemen auf der CCD-Kamera, einen Speicher zum Abspeichern der mit der CCD-Kamera gemessenen Ringsysteme, und einen Rechner zum Ermitteln der Empfindlichkeiten S(i) der einzelnen Pixel aufgrund der abgespeicherten Ringsysteme.
- Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Rechner programmiert ist, um aus der über die Ringsysteme gebildeten Summe die Empfindlichkeit S(i) jedes einzelnen Pixels der CCD-Kamera zu bestimmen.
- Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Rechner programmiert ist, um jedem Pixel (i) der CCD-Kamera einen Korrekturfaktor S(i) zuzuordnen.
- Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Rechner gemäß einem Algorithmus programmiert ist, um defekte Kamerapixel zu markieren und zu codieren.
- Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Rechner programmiert ist, um defekte Pixel zu interpolieren.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US42801902P | 2002-11-20 | 2002-11-20 | |
US60/428019 | 2002-11-20 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE20317873U1 true DE20317873U1 (de) | 2004-04-08 |
Family
ID=32108185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE20317873U Expired - Lifetime DE20317873U1 (de) | 2002-11-20 | 2003-11-19 | Vorrichtung zur Korrektur der Empfindlichkeit einer CCD-Kamera |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7253905B2 (de) |
DE (1) | DE20317873U1 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7710472B2 (en) * | 2006-05-01 | 2010-05-04 | Warner Bros. Entertainment Inc. | Detection and/or correction of suppressed signal defects in moving images |
US8976343B2 (en) * | 2012-06-21 | 2015-03-10 | Kla-Tencor Corporation | Laser crystal degradation compensation |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4751659A (en) * | 1987-08-26 | 1988-06-14 | Xerox Corporation | Defect compensation for discrete image bars |
US6618185B2 (en) * | 2001-11-28 | 2003-09-09 | Micronic Laser Systems Ab | Defective pixel compensation method |
US7038782B2 (en) * | 2001-12-11 | 2006-05-02 | Adc Telecommunications, Inc. | Robust wavelength locker for control of laser wavelength |
US7038720B2 (en) * | 2002-10-16 | 2006-05-02 | Exar Corporation | Pixel-by-pixel digital control of gain and offset correction for video imaging |
-
2003
- 2003-11-19 DE DE20317873U patent/DE20317873U1/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-11-20 US US10/718,484 patent/US7253905B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7253905B2 (en) | 2007-08-07 |
US20040233306A1 (en) | 2004-11-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP3268212B1 (de) | Verfahren und system umfassend eine strahlungsquelle und eine vorrichtung zur korrektur einer inhomogenen intensitätsverteilung eines von der strahlungsquelle erzeugten strahlungsfeldes | |
DE19823958C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bilderzeugung bei der digitalen dentalen Radioskopie | |
DE112016004275T5 (de) | Absolutwertgeber | |
DE69835153T2 (de) | System zur Herstellung eines Halbleiter-Wafers unter Verwendung von zwei Energiedetektoren für einen Laser | |
DE102010049310A1 (de) | Abtastvorrichtung und Verfahren zum Ermitteln der Kontur eines Objekts | |
DE2704784C2 (de) | Computer-Tomograph | |
DE69814105T2 (de) | Verfahren zur automatischen Regulierung der Eigenschaften eines optischen Codelesesystems | |
DE102012110538B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Abstandswerten und Abstandsbildern | |
DE19939643B4 (de) | Einrichtung und Verfahren zur Positionsbestimmung zwischen zwei relativ zueinander beweglichen Teilen | |
DE3640159A1 (de) | Optische verschiebungsmesseinrichtung | |
DE102017123114B3 (de) | Verfahren zur Korrektur der Critical Dimension Uniformity einer Fotomaske für die Halbleiterlithographie | |
DE2214556A1 (de) | Richtungsbestimmendes Navigationssystem | |
DE102004037603B3 (de) | Regelung der UV-Strahlungsquellen einer Bewitterungsvorrichtung auf der Basis der gemittelten Strahlungsintensität | |
DE20317873U1 (de) | Vorrichtung zur Korrektur der Empfindlichkeit einer CCD-Kamera | |
EP3591567A1 (de) | Optoelektronischer sensor und verfahren zur wiederholten optischen erfassung von objekten in unterschiedlichem objektabstand | |
CH373642A (de) | Verfahren zur elektronischen Farbkorrektur für die Reproduktion farbiger Bildvorlagen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE10220883A1 (de) | Ein Kalibrierungsverfahren zum Schnellstartscannen | |
DE3503273C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Übertragung eines Musters auf einen Wafer | |
DE102012216272A1 (de) | Röntgenfokusjustage | |
DE102015201494A1 (de) | Ermitteln von Funktionsdaten eines Röntgendetektors | |
DE102004045131A1 (de) | Korrekturverfahren für die Lichtmengenverteilung und Biochipleser | |
DE102006004060A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Höhe und/oder des Höhenverlaufs eines Objekts | |
DE102014205841A1 (de) | Verfahren zur Bildbearbeitung zur Entfernung von bright-burn-Artefakten und Röntgengerät | |
DE102015210590A1 (de) | Optischer Codierer und Verfahren zum Generieren von Referenzsignalen für einen optischen Codierer | |
DE3215673A1 (de) | Gestaltabtastvorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R207 | Utility model specification |
Effective date: 20040513 |
|
R156 | Lapse of ip right after 3 years |
Effective date: 20070601 |