DE19758197A1 - Stapelanordnung für zwei Halbleiterspeicherchips und Leiterplatte zur Aufnahme einer Vielzahl derartiger Stapelanordnungen - Google Patents
Stapelanordnung für zwei Halbleiterspeicherchips und Leiterplatte zur Aufnahme einer Vielzahl derartiger StapelanordnungenInfo
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Description
Auf dem Gebiet der Rechneranwendungen werden immer größere
Speicherkapazitäten benötigt. Das gilt auch für Personal Com
puter, die immer weitere Verbreitung finden. Markterforder
nisse wie Mobilität, Komfort, Anwendungsvielfalt und dgl.
sind wichtige Antriebskräfte für fortschreitende Integration
und weitere Miniaturisierung der Packungstechnik. So rechnet
man in der Entwicklung von Halbleiterspeicherchips alle zwei
Jahre mit der Vervierfachung der Kapazität. Trotzdem ist es
nötig, mit jeder Generation von Halbleiterspeicherchips
Packungstechniken anzuwenden, die möglichst große Gesamtkapazi
täten erreichen.
Während man bisher die Halbleiterspeicherchips in Personal
Computern insbesondere in Einsteckmontage auf Platinen gelö
tet hat, kommen mehr und mehr sog. Memory Cards zur Anwen
dung. Diese Speicherkarten enthalten zahlreiche gleichartige
Halbleiterspeicherchips auf engem Raum und sind für den Nut
zer leicht anwendbar. Schon länger bekannt sind Chipmodule,
die ebenfalls mehrere Halbleiterspeicherchips enthalten, aber
meist auf Hauptplatinen eingelötet werden müssen.
Auf dem Gebiet der Speicherkarten hat sich ein Gremium zur
Standardisierung etabliert, das unter der Bezeichnung PCMCIA
(Personal Computer Memory Card International Association) in
zwischen allgemein bekannt ist. Speicherkarten bzw. Memory
Cards haben demnach ein Format von 60 × 94 mm und 68 An
schlüsse bei einer Dicke von bis zu 3,3 mm (Typ I), bis zu 5 mm
(Typ II), bis zu 10,5 mm (Typ III) und in Planung bis zu
16,5 mm (Typ IV). Derartige Speicherkarten sind leicht zu
handhaben und speziell für den zukünftigen Einsatz in Laptops
und Notebooks vorgesehen. Der übliche Aufbau besteht in der
Montage gehäuster Halbleiterspeicherchips in sog. SMT
(Surface Mount Technology) auf Leiterplatten. Auch die Draht
kontaktierung ungekapselter Halbleiterspeicherchips auf die
Verdrahtung ist bekannt. Wegen der notwendigen Vermaschung
der Halbleiterspeicherchips untereinander sind doppelseitige
oder mehrlagige Verdrahtungen notwendig.
Der in den Ansprüchen 1 und 6 angegebenen Erfindung liegt das
Problem zugrunde, die Zusammenfassung gleichartiger Halblei
terchips auf engem Raum einfacher zu gestalten und damit eine
kostengünstige Herstellung zu ermöglichen.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß zwei Halb
leiterspeicherchips auf eine flexible Verdrahtung aufgebracht
und durch einfache Faltung der flexiblen Verdrahtung zu einem
platzsparenden Zweierstapel umgeformt werden können, dessen
Außenkontakte an nur einer Seite der Stapelanordnung ausge
bildet sind. Durch diesen Aufbau kann dann andererseits eine
Vielzahl derartiger Stapelanordnungen auf einfach ausgebilde
te Leiterplatten aufgebracht werden, d. h. mit der vorliegen
den Erfindung wird eine Einfachbauweise für Speicherkarten
bzw. Memory Cards ermöglicht.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Sta
pelanordnung gehen aus den Ansprüchen 2 bis 5 hervor.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Leiter
platte gehen aus den Ansprüchen 7 bis 11 hervor.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 2 ermöglicht in Anlehnung an
die TAB-Technik (Tape Automated Bonding) durch die frei über
Aussparungen in der Trägerfolie ragenden Innenanschlüsse die
Kontaktierung eines Halbleiterspeicherchips in face-up-Lage
und die Kontaktierung des anderen Halbleiterspeicherchips in
face-down-Lage. Damit wird eine spiegelsymmetrische Anordnung
der Anschlußkonfigurationen mit einer einfachen und kreu
zungsfreien Führung sämtlicher Leiter auf nur einer Seite der
Trägerfolie ermöglicht.
Die Weiterbildung nach Anspruch 3 erleichtert durch das im
streifenförmigen Kontaktierbereich in die Trägerfolie einge
brachte Fenster die Faltung der Trägerfolie zu einer Sta
pelanordnung.
Gemäß Anspruch 4 wird eine besonders einfache Stapelung da
durch ermöglicht, daß die beiden Halbleiterspeicherchips nach
der Faltung der Trägerfolie kongruent in gleicher Lage der
Anschlüsse übereinander liegen.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 5 ermöglicht unter Verwendung
einer zweilagigen durchkontaktierten flexiblen Verdrahtung die
Bildung einer Stapelanordnung, bei welcher beide Halbleiter
speicherchips auf eine Seite aufgebracht sind. Die Leiter ge
hen im Kreuzungsfall auf die andere Seite, werden aber trotz
dem gemeinsam über den streifenförmigen Kontaktierbereich ge
führt.
Die Weiterbildung der Leiterplatte nach Anspruch 7 ermöglicht
die Anordnung einer großen Anzahl von Stapelanordnungen auf
engstem Raum, wobei die Führung der Leiterbahnen besonders
einfach und übersichtlich ist.
Bei der Ausgestaltung nach Anspruch 8 wird die Leiterplatte
als besonders einfache und kostengünstige einseitige Verdrah
tung realisiert.
Gemäß den Ansprüchen 9 bis 11 können die einzelnen Sta
pelanordnungen flach liegend, schräg überdeckend oder auf
rechtstehend auf die Leiterplatte montiert werden. Die tat
sächliche Anzahl der auf der Leiterplatte unterzubringenden
Stapelanordnungen hängt dabei nicht nur von der Auswahl der
Montageanordnung, sondern auch von der Anzahl der selektiv
anzusteuernden Innenanschlüsse, der Anzahl der auf der Lei
terplatte zur Verfügung stehenden Innenkontakte, der Ver
lustwärme der Halbleiterchips und den zu treffenden Kühlmaß
nahmen ab.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dar
gestellt und werden im folgenden näher beschrieben.
Es zeigen
Fig. 1 eine Draufsicht auf die Anschlüsse eines Halbleiter
speicherchips,
Fig. 2 eine Draufsicht auf eine Stapelanordnung für zwei
Halbleiterspeicherchips vor der Faltung der
flexiblen Trägerfolie,
Fig. 3 eine Seitenansicht der ungefalteten Stapelanordnung
gemäß Fig. 2,
Fig. 4 eine Draufsicht auf die Stapelanordnung nach den Fig.
2 und 3 nach der Faltung der flexiblen Trägerfolie,
Fig. 5 eine Seitenansicht der Stapelanordnung gemäß Fig. 4,
Fig. 6 eine Seitenansicht einer alternativ gefalteten Sta
pelanordnung,
Fig. 7 eine Draufsicht auf eine zur Aufnahme von 12 Sta
pelanordnungen vorgesehene Leiterplatte,
Fig. 8 eine teilweise Draufsicht auf die mit Stapelanordnun
gen bestückte Leiterplatte gemäß Fig. 7,
Fig. 9 eine Seitenansicht einer mit liegenden Stapelanord
nungen bestückten Leiterplatte,
Fig. 10 eine Seitenansicht einer Leiterplatte die mit schräg
überdeckend montierten Stapelanordnungen bestückt ist,
Fig. 11 eine Seitenansicht einer Leiterplatte die mit auf
recht stehenden Stapelanordnungen bestückt ist,
Fig. 12 eine Seitenansicht einer zweiten Ausführungsform ei
ner Stapelanordnung für zwei Halbleiterspeicherchips vor der
Faltung der flexiblen Trägerfolie,
Fig. 13 eine Seitenansicht der Stapelanordnung gemäß Fig. 12
nach der Faltung der flexiblen Trägerfolie,
Fig. 14 eine Seitenansicht einer dritten Ausführungsform ei
ner Stapelanordnung für zwei Halbleiterchips vor der Faltung
der flexiblen Trägerfolie und
Fig. 15 eine Seitenansicht der Stapelanordnung gemäß Fig. 14
nach der Faltung der flexiblen Trägerfolie.
Gruppen von Halbleiterchips können derart verdrahtet werden,
daß man die meisten ihrer Anschlüsse parallel schaltet und
nur einige zu ihrer selektiven Ansteuerung benutzt. Bei dem
in Fig. 1 als Beispiel für einen Halbleiterspeicherchip HSC
dargestellten 4 M-Chip sind insgesamt 30 Anschlüsse zu erken
nen. Von diesen 30 Anschlüssen führen in der Einzelgehäuse-
Bauart zwanzig zu achtzehn Pins. Die beiden Anschlüsse VSS
und die beiden Anschlüsse VCC sind jeweils zusammengefaßt.
Die Anschlüsse WPBE und BFE dienen zur Einstellung der Be
triebsart und sind entweder offen (normal) oder auf VCC ge
legt. Im gewählten Ausführungsbeispiel entfallen sie. Es ent
fallen ebenfalls sämtliche Analyseanschlüsse VBB, VDC, VBI,
VPL, GENSW, INHBSW sowie DQ1 und DQ2.
Damit bleiben im Extremfall 13 gemeinsam ansteuerbare An
schlüsse VCC, A3, A2, A1, A0, A10/A9, VSS, A9/OE, A8, A7, A6, A5 und A4
sowie fünf selektiv anzusteuernde Anschlüsse RAS,
WE, D1/DQ0, DO/DQ3 und CAS. Bei günstiger Organisation sind
nur die beiden Anschlüsse D1/DQ0 und DO/DQ3 als selektiv an
zusteuernde Anschlüsse nötig sowie sechzehn gemeinsam anzu
steuernde Anschlüsse. In den folgenden Ausführungsbeispielen
werden jeweils zwei selektiv anzusteuernde Anschlüsse der
Halbleiterchips HSC angenommen. Da das Prinzip der Stapelbil
dung nur beispielhaft geschildert werden soll, wird auf eine
etwa notwendige Reihen- oder Zeilenansteuerung in Abhängig
keit von der Anordnung nicht eingegangen.
Fig. 2 zeigt eine Draufsicht auf eine einlagige flexible
Verdrahtung, die unter Anwendung der TAB-Technik hergestellt
wurde und dementsprechend am oberen und am unteren Rand eine
Transportperforation TP aufweist. Diese flexible Verdrahtung
umfaßt eine flexible Trägerfolie TF1, auf deren Oberseite ei
ne erste Gruppe von Leitern L1 und eine zweite Gruppe von
Leitern L2 kreuzungsfrei aufgebracht sind. In die Trägerfolie
TF1 sind zwei rechteckförmige Aussparungen A eingebracht, in
welche zugeordnete Endbereiche der Leiter L1 und L2 hineinra
gen und jeweils eine Konfiguration von Innenanschlüssen IA
bilden. Auf die in Fig. 2 im Bereich der oberen Aussparung A
gebildete Konfiguration von Innenanschlüssen IA ist ein er
ster Halbleiterspeicherchip HSC von oben her in face-down-
Lage kontaktiert. Auf die in Fig. 2 im Bereich der unteren
Aussparung A gebildete Konfiguration von Innenanschlüssen IA
ist ein zweiter, gleichartiger Halbleiterspeicherchip HSC von
unten her in face-up-Lage kontaktiert. Die vorstehend erwähn
te erste Gruppe von Leitern L1 verbindet gemeinsam ansteuer
bare Innenanschlüsse IA der beiden Halbleiterchips HSC mit
einander, wobei die einzelnen Leiter L1 dabei im mittleren
Bereich der Trägerfolie TF1 einen mit KB1 bezeichneten strei
fenförmigen Kontaktierbereich überqueren. Die der zweiten
Gruppe zugehörigen Leiter L2 gehen jeweils von selektiv anzu
steuernden Innenanschlüssen IA der beiden Halbleiterchips HSC
aus und führen in den streifenförmigen Kontaktierbereich
KB1. In den streifenförmigen Kontaktierbereich KB1 ist ein
rechteckförmiges Fenster F derart eingebracht, daß dort samt
liche Leiter L1 und L2 freiliegen.
Durch die Anordnung der beiden Halbleiterchips HSC in
face-down-Lage und in face-up-Lage - die im übrigen auch in der
Seitenansicht gemäß Fig. 3 gut zu erkennen ist - wird eine
spiegelsymmetrische Führung der Leiter L1 und eine im wesent
lichen spiegelsymmetrische Führung der Leiter L2 ermöglicht.
Damit ist es möglich, sämtliche Leiter L1 und L2 kreuzungs
frei auf eine Seite der flexiblen Trägerfolie TF1 aufzubrin
gen.
Die Trägerfolie TF1 besteht im geschilderten Ausführungsbei
spiel aus einer 50 µm starken Polyimidfolie. Die Leiter L1
und L2 wurden aus einer 25 µm starken und auf die Polyimidfo
lie aufkaschierten Kupferfolie herausgeätzt. Die beiden Aus
sparungen A und das Fenster F können beispielsweise durch
chemisches Ätzen, durch physikalisches Ätzen oder durch La
serablation in die Trägerfolie TF1 eingebracht werden.
In den Fig. 2 und 3 ist jeweils eine mittig zum streifen
förmigen Kontaktierbereich KB1 bzw. mittig zum Fenster F ver
laufende, strichpunktierte Symmetrielinie zu erkennen. Bei
dieser mit BL1 bezeichneten Linie handelt es sich um eine
Biegelinie, um welche die gesamte in den Fig. 2 und 3 dar
gestellte Anordnung gefaltet wird. Das Ergebnis dieser Fal
tung ist eine in Fig. 4 und Fig. 5 dargestellte Sta
pelanordnung SO, bei welcher beide Halbleiterspeicherchips
HSC kongruent in gleicher Lage der Innenanschlüsse übereinan
der liegen. In dem gefalteten streifenförmigen Kontaktierbe
reich KB1 bilden die frei liegenden Leiter L1 und L2 randsei
tig in einer Reihe nebeneinander liegende Außenkontakte AK.
Die vorstehend beschriebene Stapelanordnung kann durch Biegen
nach beiden Seiten erzeugt werden, wobei die zweite Möglich
keit der Faltung aus Fig. 6 ersichtlich ist. Bei der Faltung
kann gemäß Fig. 5 eine isolierende Zwischenlage ZL verwendet
werden oder es liegen beide Hälften lose zusammen. Zur Küh
lung kann auch eine Metallverbundfolie eingelegt werden. Par
tielles Fixieren der beiden Hälften oder ein Verkleben mit
Kleber oder Folie sind ebenfalls möglich.
Die nicht benötigten Randbereiche der flexiblen Trägerfolie
TF1 können vor oder vorzugsweise nach der Faltung abgetrennt
werden. Im geschilderten Ausführungsbeispiel beträgt die in
Fig. 4 mit a bezeichnete Breite der Stapelanordnung SO ca.
18 mm, während die mit b bezeichnete Höhe ca. 11 mm beträgt.
Die in Fig. 6 mit d bezeichnete Stärke der Stapelanordnung
beträgt ca. 1 mm. Das in Fig. 4 nicht näher bezeichnete Ra
ster der Außenkontakte KA beträgt ca. 0,4 mm.
Fig. 7 zeigt eine Draufsicht auf eine insgesamt mit LP be
zeichnete Leiterplatte, auf welche insgesamt zwölf der in den
Fig. 4 und 5 dargestellten Stapelanordnungen SO kontak
tiert werden sollen. Die Leiterplatte LP umfaßt ein Substrat
S aus einem elektrisch isolierenden Material, insgesamt 68 in
Fig. 7 auf der oberen Randseite des Substrats S angeordnete
Randkontakte RK, insgesamt 12 Gruppen von auf dem Substrat S
angeordneten Innenkontakten IK, eine erste Gruppe von auf dem
Substrat S verlaufenden Leiterbahnen LB1, welche gemeinsam an
steuerbare Innenkontakte IK untereinander und mit zugeordne
ten Randkontakten RK verbinden, sowie eine zweite Gruppe von
auf dem Substrat S verlaufenden Leiterbahnen LB2, welche se
lektiv ansteuerbare Innenkontakte IK jeweils mit zugeordneten
Randkontakten RK verbinden. Die Innenkontakte IK sind in ih
rem Raster und in ihrer Anzahl auf die Außenkontakte AK der
Stapelanordnungen SO gemäß den Fig. 5 und 6 abgestimmt.
Die Innenkontakte IK sind dabei in zwei Reihen mit jeweils
sechs Gruppen auf dem Substrat S angeordnet, wobei die den
gemeinsam ansteuerbaren Außenkontakten AK der Stapelanordnun
gen SO (vgl. Fig. 4 und 5) zugeordneten Leiterbahnen LB1
in Form einer U-förmigen Leiterbahnschar auf das Substrat S
aufgebracht sind.
Auf jede der zwölf Gruppen von Innenkontakten IK wird dann
eine Stapelanordnung SO mit ihren Außenkontakten AK (vgl. 4
und 5) kontaktiert, wobei die Kontaktierung mit einem auf die
entsprechenden Abmessungen abgestimmten streifenförmigen Löt
werkzeug jeweils in einem Arbeitsgang vorgenommen werden
kann. Fig. 8 zeigt eine abgebrochen dargestellte Draufsicht
auf die mit Stapelanordnungen SO bestückte Leiterplatte LP.
Die Abmessungen dieser Leiterplatte LP, die als Speicherkarte
bzw. Memory Card oder auch als Speichermodul eingesetzt wird,
betragen 60 mm × 94 mm.
Die Fig. 9 bis 11 zeigen verschiedene Montageanordnungen
der Stapelanordnungen SO auf einer Leiterplatte LP. Dabei
zeigt Fig. 9 eine der Fig. 8 entsprechende liegende Anord
nung der einzelnen Stapelanordnungen SO. Die Fig. 10 und
11 zeigen eine schräg überdeckende Anordnung bzw. eine auf
recht stehende Anordnung der Stapelanordnungen SO auf der
Leiterplatte LP. Prinzipiell wäre auch eine beidseitige An
ordnung der Stapelanordnungen auf einer Leiterplatte möglich.
Natürlich hängt die erzielbare Packungsdichte auch von der
abzuführenden Verlustwärme ab. Hier sind Kühlmöglichkeiten
durch eingelegte Wärmeverteiler und ihre thermische Ankopp
lung an eine beispielsweise metallene Abdeckung denkbar.
Die Fig. 12 und 13 zeigen in stark vereinfachter schemati
scher Darstellung eine zweite Ausführungsform einer Sta
pelanordnung für zwei Halbleiterspeicherchips. Gemäß Fig. 12
wird hier unter Verzicht auf die TAB-Technik eine flexible
Trägerfolie TF2 ohne Aussparungen für die Halbleiterspeicher
chips und ohne Fenster im Biegebereich verwendet. Sämtliche
Innenanschlüsse IA sind auf eine Seite der Trägerfolie TF2
aufgebracht. Auf dieser Seite verlaufen auch im wesentlichen
beide Gruppen von Leitern, von welchen in Fig. 12 nur die
Leiter L1 erkennbar sind. Lediglich im Kreuzungsfall sind die
einzelnen Leiter über Durchkontaktierungen D1 auf die andere
Seite der Trägerfolie TF2 geführt. In Fig. 12 ist auch zu
erkennen, daß beide Halbleiterspeicherchips HSC in face-down-Lage
auf die zugeordneten Innenanschlüsse IA kontaktiert
sind. Wichtig ist dabei, daß sämtliche Leiter gemeinsam über
den hier mit KB2 bezeichneten streifenförmigen Kontaktierbe
reich geführt sind, so daß nach der Faltung um die Biegelinie
BL2 gemäß Fig. 13 die Außenkontakte AK gebildet werden. Bei
der in Fig. 12 durch einen Pfeil PF1 aufgezeigten Richtung
der Faltung liegen bei der fertigen Stapelanordnung gemäß Fig.
13 beide Halbleiterspeicherchips HSC auf gegenüberliegen
den Außenseiten des Stapels.
Die Fig. 14 und 15 zeigen in stark vereinfachter schemati
scher Darstellung eine dritte Ausführungsform einer Sta
pelanordnung für zwei Halbleiterspeicherchips. Gemäß Fig. 14
wird auch hier unter Verzicht auf die TAB-Technik eine flexi
ble Trägerfolie TF3 ohne Aussparungen für die Halbleiterspei
cherchips und ohne Fenster im Biegebereich verwendet. Sämtli
che Innenanschlüsse IA sind auf eine Seite der Trägerfolie
TF3 aufgebracht. Auf diese Seite sind auch beide Halbleiter
speicherchips HSC in face-down-Lage auf die zugeordneten In
nenanschlüsse IA kontaktiert. Beide Gruppen von Leitern, von
welchen in Fig. 14 nur die Leiter L1 erkennbar sind, wech
seln dann über Durchkontaktierungen D2 auf die gegenüberlie
gende Seite der flexiblen Trägerfolie TF3, auf welcher sie
gemeinsam über den hier mit KB3 bezeichneten streifenförmigen
Kontaktierbereich geführt sind. In Fig. 14 ist ferner zu er
kennen, daß einzelne Leiter auch im Kreuzungsfall über Durch
kontaktierungen D2 auf die den beiden Halbleiterspeicherchips
HSC gegenüberliegende Seite der flexiblen Trägerfolie TF3 ge
führt sind.
Nach der Faltung der flexiblen Trägerfolie TF3 um die Biege
linie BL3 bilden dann die im streifenförmigen Kontaktierbe
reich KB3 liegenden Leiter gemäß Fig. 15 Außenkontakte AK.
Bei der in Fig. 14 durch einen Pfeil PF2 aufgezeigten Rich
tung der Faltung liegen bei der fertigen Stapelanordnung ge
mäß Fig. 15 beide Halbleiterspeicherchips HSC im Inneren des
Stapels.
Für die Kontaktierung der Halbleiterspeicherchips HSC auf zu
geordnete Innenanschlüsse IA und für die Kontaktierung der
Stapelanordnungen SO auf zugeordnete Innenkontakte IA der
Leiterplatte LP stehen bei sämtlichen Ausführungsformen ver
schiedene Möglichkeiten zur Verfügung. So können Halbleiter
speicherchips HSC mit Aluminium-Pads durch Thermosonik-
Einzelkontaktierung mit den zugeordneten Innenanschlüssen IA
verbunden werden. Weisen die Halbleiterspeicherchips HSC
Höcker auf, so ist auch eine Simultan-Löt- oder Thermokompressi
onsverbindung möglich. Andruckverbindungen unter Verwendung
einer nicht leitenden Klebefolie sind ebenfalls möglich.
Bei den in den Fig. 12 und 13 sowie 14 und 15 dargestell
ten Ausführungsbeispielen ist neben der Flipchip-
Kontaktierung sogar eine Drahtkontaktierung möglich.
Die Kontaktierung der Stapelanordnungen SO auf die Leiter
platte LP kann als normale Lötverbindung zu der beloteten
Leiterplatte LP mit Hilfe der bereits erwähnten streifenför
migen Lötwerkzeuge vorgenommen werden. Aber auch hier ist zur
weiteren Kosteneinsparung eine Klebeverbindung möglich, die
entweder wie bei der Kontaktierung der Halbleiterspeicher
chips HSC als Andruckverbindung mit darüber angeordneter Kle
befolie oder unter Verwendung einer anisotrop leitenden Kle
befolie ausgeführt wird.
Claims (11)
1. Stapelanordnung (SO) für zwei Halbleiterspeicherchips
(HSC), mit
- - einer flexiblen Trägerfolie (TF1; TF2; TF3) aus einem elektrisch isolierenden Material,
- - einer ersten Konfiguration von Innenanschlüssen (IA), auf welche der eine Halbleiterspeicherchip (HSC) kontak tiert ist,
- - einer zweiten Konfiguration von Innenanschlüssen (IA), auf welche der zweite Halbleiterspeicherchip (HSC) kon taktiert ist,
- - einer ersten Gruppe von zumindest teilweise auf der Trä gerfolie (TF1; TF2; TF3) verlaufenden Leitern (L1), die einen streifenförmigen Kontaktierbereich (KB1; KB2; KB3) überqueren und gemeinsam ansteuerbare Innenanschlüsse (IA) der beiden Halbleiterspeicherchips (HSC) miteinander verbinden,
- - einer zweiten Gruppe von zumindest teilweise auf der Trägerfolie (TF1; TF2; TF3) verlaufenden Leitern (L2), die jeweils von selektiv ansteuerbaren Innenanschlüssen (IA) der beiden Halbleiterspeicherchips (HSC) ausgehen und in den streifenförmigen Kontaktierbereich (KB1; KB2; KB3) führen, wobei
- - die flexible Trägerfolie (TF1; TF2; TF3) um eine im streifenförmigen Kontaktierbereich (KB1; KB2; KB3) lie gende Biegelinie (BL1; BL2; BL3) derart gefaltet ist, daß beide Halbleiterspeicherchips (HSC) stapelförmig übereinander angeordnet sind und daß die einzelnen Lei ter (L1, L2) im gefalteten Kontaktierbereich (KB1; KB2; KB3) randseitig in einer Reihe nebeneinanderliegende Außenkontakte (AK) bilden.
2. Stapelanordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß sämtliche Leiter (L1, L2) kreuzungsfrei auf eine Seite
der Trägerfolie (TF1) aufgebracht sind, daß die Trägerfolie (TF1)
im Bereich der ersten und der zweiten Konfiguration von
Innenanschlüssen (IA) jeweils mit einer Aussparung (A) verse
hen ist, daß der eine Halbleiterspeicherchip (HSC) in
face-up-Lage auf die zugeordneten Innenanschlüsse (IA) kontaktiert
ist und daß der zweite Halbleiterspeicherchip (HSC) in
face-down-Lage auf die zugeordneten Innenanschlüsse (IA) kontak
tiert ist.
3. Stapelanordnung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß im streifenförmigen Kontaktierbereich (KB1) ein Fenster
(F) in die Trägerfolie (TF1) eingebracht ist.
4. Stapelanordnung nach einem der Ansprüche 2 oder 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Trägerfolie (TF1) derart gefaltet ist,
daß beide Halbleiterspeicherchips (HSC) kongruent in gleicher
Lage der Anschlüsse übereinander liegen.
5. Stapelanordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß sämtliche Innenanschlüsse (IA) auf eine Seite der Träger
folie (TF2; TF3) aufgebracht sind, daß die Leiter (L1) mit
Hilfe von Durchkontaktierungen (D1; D2) kreuzungsfrei auf
beide Seiten der Trägerfolie (TF2; TF3) aufgebracht sind und
daß beide Halbleiterspeicherchips (HSC) in face-down-Lage auf
die zugeordneten Innenanschlüsse (IA) kontaktiert sind.
6. Leiterplatte (LP) zur Aufnahme einer Vielzahl von Sta
pelanordnungen (SO) nach einem der Ansprüche 1 bis 5, mit
- - einem Substrat (S) aus einem elektrisch isolierenden Ma terial,
- - einer Vielzahl von auf einer Randseite des Substrats (S) angeordneten Randkontakten (RK),
- - einer Vielzahl von auf dem Substrat (S) angeordneten In nenkontakten (IK), auf welche die Stapelanordnungen (SO) mit ihren zugeordneten Außenkontakten (AK) kontaktiert sind,
- - einer ersten Gruppe von auf dem Substrat (S) verlaufen den Leiterbahnen (LB1), welche gemeinsam ansteuerbare Außenkontakte (AK) der Stapelanordnungen (SO) unterein ander und mit zugeordneten Randkontakten (RK) verbinden, und mit
- - einer zweiten Gruppe von auf dem Substrat (S) verlaufen den Leiterbahnen (LB2), welche selektiv ansteuerbare Außenkontakte (AK) der Stapelanordnungen (SO) jeweils mit zugeordneten Randkontakten (RK) verbinden.
7. Leiterplatte (LP) nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Stapelanordnungen (SO) in zwei nebeneinander verlau
fenden Reihen auf dem Substrat (S) angeordnet sind und daß
die erste Gruppe von Leiterbahnen (LB1) in Form einer
U-förmigen Leiterbahnschar auf das Substrat (S) aufgebracht
ist.
8. Leiterplatte nach Anspruch 6 oder 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Randkontakte (RK), die Innenkontakte (IK), die erste
Gruppe von Leiterbahnen (LB1) und die zweite Gruppe von Lei
terbahnen (LB2) auf eine Seite des Substrats (S) aufgebracht
sind.
9. Leiterplatte nach einem der Ansprüche 6 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Stapelanordnungen (SO) flach liegend auf das Substrat
(S) aufgebracht sind.
10. Leiterplatte nach einem der Ansprüche 6 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Stapelanordnungen (SO) hinter ihren Außenkontakten
(AK) abgewinkelt und schräg überdeckend auf dem Substrat (S)
angeordnet sind.
11. Leiterplatte nach einem der Ansprüche 6 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Stapelanordnungen (SO) hinter ihren Außenkontakten
(AK) rechtwinklig abgebogen sind und aufrecht stehend auf dem
Substrat (S) angeordnet sind.
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D2 | Grant after examination | ||
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