DE10323317A1 - Car object detection or distance measurement optical system path folding unit uses silicon micromirror reflectors - Google Patents

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Günter Fendt
Josef Bärenweiler
Engelbert Wörle
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Abstract

A car object (O) detection or distance measurement optical system path folding unit (1) has a pulsed laser diode light source (4) and synchronized detector (8) linked (2) by controllable silicon micromirror reflectors (3). Includes an INDEPENDENT CLAIM for use of the system to read bar codes in supermarket cash register systems.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Ablenkung des Strahlenverlaufs in einem optischen System sowie die Verwendung einer derartigen Vorrichtung.The The invention relates to a device for deflecting the beam path in an optical system and the use of such Contraption.

Bei optischen Systemen, wie z. B. Entfernungsmesssystemen in der Fahrzeugtechnik oder Kassensystemen an Supermarktkassen, bei denen eine Auswertung eines an einem Objekt reflektierten Lichtstrahls erfolgt, werden oftmals rotierende Polygonspiegel mit einer Mehrzahl von mit einem bestimmten Winkel geneigten Spiegelflächen zur Anwendung gebracht. Durch den rotierenden Polygonspiegel wird eine flächenhafte Bereichsabtastung erzielt.at optical systems, such as B. Distance measuring systems in vehicle technology or checkout systems at supermarket checkouts, where an evaluation of a light beam reflected from an object often rotating polygon mirrors with a plurality of with one certain angle inclined mirror surfaces applied. The rotating polygon mirror makes an areal Area scan achieved.

Nachteilig an Systemen mit rotierenden Polygonspiegeln ist zum einen, dass für die Lagerung des Polygonspiegels eine teure, nahezu spielfreie und robuste Präzisionsmechanik benötigt wird, und zum anderen, dass infolge des rauen Einsatzgebietes in der Fahrzeugtechnik bedingt durch Vibration, Motorgeräusche, Karosserieresonanzen, Fahrbahnunebenheiten, Schlaglöcher erhebliche mechanische Kräfte auf die relativ schwere Konstruktion einwirken, die sich negativ auf Messgenauigkeit und Lebensdauer des Systems auswirken.adversely in systems with rotating polygon mirrors, on the one hand, that for the Storage of the polygon mirror an expensive, almost free of play and robust precision mechanics needed and on the other hand that due to the rough application area in vehicle technology due to vibration, engine noise, body resonance, Road bumps, potholes considerable mechanical forces act on the relatively heavy construction, which is negative affect measurement accuracy and system life.

Aus dem Stand der Technik ist eine Vielzahl derartiger Systeme bekannt, bei denen ein Lichtstrahl durch einen rotierenden Polygonspiegel abgelenkt wird.Out A large number of such systems are known from the prior art, where a beam of light through a rotating polygon mirror is distracted.

Beispielsweise wird in der DE 101 39 237 A1 eine Vorrichtung mit einem Detektorelement zum Empfang eines an einem Objekt reflektierten Lichtstrahls mit Mitteln zur Umlenkung des reflektierten Lichtstrahls auf das Detektorelement beschrieben, bei der als Mittel zur Ablenkung des reflektierten Licht strahls ein sich drehender Polygonspiegel mit einer Mehrzahl von mit einem bestimmten Winkel geneigten Spiegelflächen vorgesehen ist, wobei das Detektorelement in Richtung der Drehachse des Polygonspiegels angeordnet ist und zur Fokussierung des reflektierten Lichtstrahls auf das Detektorelement jeder Spiegelfläche des Polygonspiegels eine Optik zugeordnet ist, die synchron mit dem Polygonspiegel rotiert. Die mitrotierenden Optiken verstärken die ohnehin auf den rotierenden Polygonspiegel wirkenden Trägheitskräfte, so dass die Anforderungen an die Präzision und Robustheit der Lagerung noch gesteigert werden.For example, in the DE 101 39 237 A1 describes a device with a detector element for receiving a light beam reflected from an object with means for deflecting the reflected light beam onto the detector element, in which a rotating polygon mirror with a plurality of mirror surfaces inclined at a certain angle is provided as means for deflecting the reflected light beam is, wherein the detector element is arranged in the direction of the axis of rotation of the polygon mirror and for focusing the reflected light beam on the detector element is assigned to each mirror surface of the polygon mirror, which rotates synchronously with the polygon mirror. The rotating optics amplify the inertial forces that are already acting on the rotating polygon mirror, so that the requirements for precision and robustness of the bearings are increased even further.

Aus DE 197 49 926 A1 und DE 197 49 923 A1 sind Aufzeichnungsvorrichtungen mit Laserabtastung bekannt, bei denen das von einer Laserlichtquelle abgegebene Laserlicht an einem Polygonspiegel zum Abtasten eines lichtempfindlichen Aufzeichnungsträgers reflektiert wird. Die beschriebenen Aufzeichnungsvorrichtungen kommen in Laserdruckern zum Einsatz und sollen Änderungen des Reflexionsgrades der Reflexionsflächen des Polygonspiegels durch Leistungssteuerung der Laserdiode ausgleichen.Out DE 197 49 926 A1 and DE 197 49 923 A1 Laser scanning recording devices are known in which the laser light emitted by a laser light source is reflected on a polygon mirror for scanning a light-sensitive recording medium. The recording devices described are used in laser printers and are intended to compensate for changes in the reflectance of the reflecting surfaces of the polygon mirror by controlling the power of the laser diode.

Weiterhin sind aus dem Anwendungsgebiet des Laserfernsehens zur Laserstrahlablenkung Silizium-Mikrospiegel (so genannte Torsionsaktoren) bekannt. Einen Überblick über solche Silizium-Mikrospiegel bieten die Website http://www.infotech.tuchemnitz.de/~zfm/forschung/mikrospiegel.html sowie die Dissertation "Ein neuartiger Mikroaktor zur ein- und zweidimensionalen Ablenkung von Licht", vorgelegt am Fachbereich Elektrotechnik der Gerhard-Mercator-Universität Gesamthochschule Duisburg von Dipl.-Phys. Harald Schenk. Derartige Mikrospiegel weisen bei ebener Spiegelfläche maximale Auslenkwinkel von 2° bis 5° statisch bzw. 10° bis 40° in Resonanz auf. Die Ansteuerung zur Aullenkung des Strahlenverlaufes erfolgt durch elektro-statische Anregung.Farther are from the field of application of laser television for laser beam deflection Silicon micromirrors (so-called torsion actuators) are known. An overview of such Silicon micromirrors are available on the website http://www.infotech.tuchemnitz.de/~zfm/forschung/mikrospiegel.html as well as the dissertation "Ein Novel microactuator for one- and two-dimensional deflection of Light " at the Department of Electrical Engineering at the Gerhard Mercator University Comprehensive University Duisburg by Dipl.-Phys. Harald Schenk. Such micromirrors have with a flat mirror surface maximum deflection angle from 2 ° to 5 ° static or 10 ° to 40 ° in resonance on. The control for the external steering of the beam path takes place through electrostatic excitation.

Ausgehend von diesem Stand der Technik stellt sich die vorliegende Erfindung die Aufgabe, eine Vorrichtung zur Ablenkung des Strahlenverlaufs in einem optischen System, insbesondere in einem System zur Abstandsmessung oder zur Detektion von Gegenständen in einem wählbaren Bereich um ein bewegtes Fahrzeug, anzugeben, die kostengünstig herzustellen ist, keine Präzisionslagerung benötigt, eine hohe Verschleißfestigkeit, hohe Zuverlässigkeit und lange Lebensdauer aufweist sowie unempfindlich gegenüber mechanischen Störgrößen ist und mit geringem Energieaufwand regelbar ist.outgoing the present invention is based on this prior art the task of a device for deflecting the beam path in an optical system, in particular in a system for distance measurement or for the detection of objects in a selectable Area to indicate a moving vehicle that can be manufactured inexpensively is, no precision storage needed high wear resistance, high reliability and has a long service life and is insensitive to mechanical Is and can be regulated with little energy.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe gelöst durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie Verwendungen der erfindungsgemäßen Vorrichtung nach Anspruch 8; vorteilhafte Weiterbildungen sind Gegenstand von Unteransprüchen.According to the Task solved by a device with the features of claim 1 and uses the device according to the invention according to claim 8; advantageous developments are the subject of Dependent claims.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Ablenkung des Strahlenverlaufs in einem optischen System, insbesondere in einem System zur Abstandsmessung oder zur Detektion von Gegenständen in einem wählbaren Bereich um ein bewegtes Fahrzeug umfasst mindestens eine Lichtquelle, mindestens ein Detektorelement sowie mindestens ein Umlenkelement zur Umlenkung des Lichtstrahls, wobei als Umlenkelement ein Silizium-Mikrospiegel vorgesehen ist.The device according to the invention for deflecting the beam path in an optical system, in particular in a system for distance measurement or for the detection of objects in a selectable Area around a moving vehicle comprises at least one light source, at least one detector element and at least one deflection element for deflecting the light beam, using a silicon micromirror as the deflecting element is provided.

Zur Abstandsmessung bzw. zur Detektion von Objekten in der Umgebung der Vorrichtung sendet die Lichtquelle in bekannter Weise einen Lichtstrahl aus. Die Lichtquelle kann beispielsweise eine Laserdiode oder eine Gasentladungslampe mit einem vorgeschalteten Polarisationsfilter sein. Die Verwendung monochromatischen oder polarisierten Lichts steigert die Zuverlässigkeit der Objekterkennung.For distance measurement or for detection The light source emits a light beam from objects in the vicinity of the device in a known manner. The light source can be, for example, a laser diode or a gas discharge lamp with an upstream polarization filter. The use of monochromatic or polarized light increases the reliability of object detection.

Der Lichtstrahl wird von in der Umgebung befindlichen Objekten reflektiert und anschließend von dem Detektorelement erfasst. Als Detektorelement kann beispielsweise ein so genannter CCD-Sensor verwendet werden. Im Strahlengang des Licht strahls angeordnet umfasst die Vorrichtung außerdem mindestens ein Umlenkelement zur Umlenkung des Lichtstrahls.The The light beam is reflected by objects in the area and subsequently detected by the detector element. For example, as a detector element a so-called CCD sensor can be used. In the beam path of the Arranged in a light beam, the device also comprises at least a deflecting element for deflecting the light beam.

Prinzipiell kann das Umlenkelement zu zwei verschiedenen Zwecken alternativ oder kumulativ eingesetzt werden.in principle the deflecting element can alternatively be used for two different purposes or used cumulatively.

Zum einen ist es möglich, mit dem Umlenkelement oder einer Anordnung mehrerer Umlenkelement den Lichtstrahl vor dem Aussenden so zu beeinflussen, dass ein möglichst großer Bereich der Umgebung beleuchtet wird.To the one is possible with the deflecting element or an arrangement of several deflecting elements to influence the light beam before sending it out in such a way that greater Area around it is illuminated.

Hierzu wird mittels eines oder mehrerer Umlenkelement mit dem Lichtstrahl die Umgebung ein- oder zweidimensional abgetastet oder der Lichtstrahl gestreut. Hierzu wird das Umlenkelement oder die Anordnung von Umlenkelementen an einer vor dem Austritt des Lichtstrahls aus der Vorrichtung liegenden Position im Strahlengang angeordnet. Das von einem im Ausleuchtungsbereich befindlichen Objekt reflektierte Licht wird von dem Detektorelement erfasst und anschließend in bekannter Weise, etwa nach dem Laufzeitverfahren, der Abstand des reflektierenden Objekts ermittelt und/oder die Existenz eines Objekts festgestellt.For this is by means of one or more deflecting element with the light beam the surroundings are scanned in one or two dimensions or the light beam is scattered. For this purpose, the deflection element or the arrangement of deflection elements on one located before the light beam emerges from the device Position arranged in the beam path. That of one in the lighting area reflected object is reflected by the detector element captured and then the distance in a known manner, for example using the runtime method of the reflecting object and / or the existence of a Object detected.

Zum anderen kann zur Verbesserung der Empfindlichkeit und Messgenauigkeit der Vorrichtung das einfallende reflektierte Licht mittels eines Umlenkelements oder einer Anordnung von Umlenkelementen so gebündelt werden, dass es dem Detektorelement zugeführt wird. Hierzu wird das Umlenkelement oder die Anordnung von Umlenkelementen an einer vor dem Detektorelement liegenden Position im Strahlengang angeordnet. Das reflektierte Licht wird von dem Detektorelement erfasst und anschließend wie oben beschrieben weiterverarbeitet.To the others can improve sensitivity and measurement accuracy the device the incident reflected light by means of a Deflecting elements or an arrangement of deflecting elements are bundled in such a way that it is fed to the detector element. For this purpose, the deflection element or the arrangement of deflection elements on one in front of the detector element lying position in the beam path. That reflected Light is detected by the detector element and then how processed as described above.

Beide Möglichkeiten der Anordnung des oder der Umlenkelement sind auch kumulativ in einer Vorrichtung einsetzbar, so dass der Lichtstrahl vor dem Austreten aus der Vorrichtung durch ein erstes Umlenkelement oder eine erste Anordnung von Umlen kelementen gestreut wird oder einen wählbaren Bereich der Umgebung abtastet und das reflektierte Licht nach dem Wiedereintreten in die Vorrichtung durch ein zweites Umlenkelement oder eine zweite Anordnung von Umlenkelementen auf das Detektorelement geleitet wird.Both possibilities the arrangement of the or the deflecting element are also cumulative in a device can be used so that the light beam before exiting out of the device by a first deflecting element or a first Arrangement of deflection elements is scattered or a selectable area scans the surroundings and the reflected light after re-entering into the device by a second deflection element or a second arrangement is guided by deflection elements onto the detector element.

Die Ablenkung des Lichtstrahls erfolgt vorzugsweise anstelle einer mechanisch aufwendigen Polygonspiegel-Konstruktion mittels eines Silizium-Mikrospiegels (eines so genannten Torsionsaktors) oder einer Anordnung solcher Silizium-Mikrospiegel. Diese stellen in der Vorrichtung das Umlenkelement dar. Alternativ kann der Silizium-Mikrospiegel auf einem als ASIC oder Halbleiterelement ausgebildeten Umlenkelement angeordnet sein. Durch Ansteuerung des oder der Silizium-Mikrospiegel mittels elektro-statischer Anregung zur Aullenkung des Strahlenverlaufes kann auf einfache Art und Weise eine Regelstrecke realisiert werden, damit der vorgegebene Soll-Auslenkungsbereich kontrolliert und gesteuert werden kann. Hierzu wird der abgelenkte Strahl z. B. an mindestens zwei Referenzpunkten kontrolliert und je nach dem aktuellen Ergebnis stärker oder schwächer abgelenkt. Dabei wird mittels Anlegen einer vorgegebenen Ablenkspannung in einer Prüf- oder Initialisierungsphase ermittelt, bei welchem Wert der Ablenkspannung die den Soll-Auslenkungsbereich begrenzenden oder einen Referenz-Ablenkwinkel bildenden Referenzpunkte erreicht sind. Anschließend kann kontinuierlich mittels eines Spannungshubes zwischen den ermittelten Werten für die Ablenkspannung ein beliebiger Auslenkungsbereich oder Ablenkwinkel eingestellt werden.The The light beam is preferably deflected instead of mechanically elaborate polygon mirror construction using a silicon micromirror (a so-called torsion actuator) or an arrangement of such Silicon micro-mirrors. These provide the deflecting element in the device Alternatively, the silicon micromirror on an ASIC or semiconductor element formed deflection element. By controlling the silicon micromirror or mirrors by means of electrostatic Suggestion for directing the beam path can be done easily Way a controlled system can be realized so that the given Target deflection range can be controlled and controlled. For this purpose, the deflected beam z. B. checked at at least two reference points and distracted more or less depending on the current result. Here, by applying a predetermined deflection voltage in a test or initialization phase determines at what value the deflection voltage those that limit the target deflection range or a reference deflection angle forming reference points are reached. Subsequently, continuously using a Any voltage swing between the determined values for the deflection voltage Deflection range or deflection angle can be set.

Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, dass bedingt durch den einfachen Aufbau der Vorrichtung unter Verwendung eines Silizium-Mikrospiegels als Umlenkelement ein besonders kostengünstiges System zur Abstandsmessung oder zur Detektion von Gegenständen in einem wählbaren Bereich um ein bewegtes Kraftfahrzeug ermöglicht ist, da keine Präzisionsmechanik in Form von Lagern etc. er forderlich ist. Weiterhin weist die Vorrichtung eine höhere Verschleißfestigkeit auf, da die beweglichen Teile ein deutlich geringeres Eigengewicht gegenüber einem Polygonspiegelsystem aufweisen, wodurch der Einfluss der Trägheitskräfte auf ein vernachlässigbar kleines Maß schrumpft. Das System ist weniger störanfällig und weist eine höhere Zuverlässigkeit und längere Lebensdauer als herkömmliche Systeme auf, da es unempfindlicher gegenüber mechanischen Störgrößen ist. Die Vorrichtung ist einfach und mit geringem Energieaufwand regelbar und realisiert eine kontinuierliche Umlenkung des Lichtstrahls.The Advantages achieved with the invention are in particular that due to the simple structure of the device using a Silicon micromirror as a deflecting element is a particularly cost-effective one System for measuring distance or for detecting objects in a selectable Area around a moving motor vehicle is possible because there is no precision mechanics in the form of bearings etc. he is required. Furthermore, the device a higher one wear resistance because the moving parts have a significantly lower weight across from have a polygon mirror system, whereby the influence of the inertial forces a negligible small size shrinks. The system is less prone to failure and exhibits greater reliability and longer Lifespan than conventional Systems because it is less sensitive to mechanical disturbances. The device is simple and can be regulated with little energy expenditure and realizes a continuous deflection of the light beam.

Die Vorrichtung kann für alle Arten optischer Erkennungsgeräte, wie Scannerkassen, Warenwirtschaftssysteme, Akten- oder Bibliothekenverwaltungssysteme, Pre-Crash-Systeme oder elektronische Deichseln zur Verwendung an Kraftfahrzeugen usw. eingesetzt werden.The device can be used for all types of optical recognition devices, such as scanner cash registers, merchandise management systems, files or libraries tion systems, pre-crash systems or electronic drawbars for use on motor vehicles, etc. are used.

Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand einer Zeichnung näher erläutert. Darin zeigen:embodiments the invention will be explained in more detail with reference to a drawing. In this demonstrate:

1 eine Vorrichtung zur Ablenkung eines Strahlungsverlaufs, bei der mehrere einzeln steuerbare Silizium-Mikrospiegel an einer vor dem Austritt des Lichtstrahls aus der Vorrichtung liegenden Position im Strahlengang angeordnet sind, 1 a device for deflecting a radiation path, in which a plurality of individually controllable silicon micromirrors are arranged in a position in the beam path before the light beam emerges from the device,

2 eine alternative Ausführungsform für eine Vorrichtung zur Ablenkung eines Strahlungsverlaufs, bei der mehrere einzeln steuerbare Silizium-Mikrospiegel an einer vor dem Detektorelement liegenden Position im Strahlengang angeordnet sind, und 2 an alternative embodiment for a device for deflecting a radiation course, in which a plurality of individually controllable silicon micromirrors are arranged at a position in front of the detector element in the beam path, and

3 ein Diagramm zur Einstellung eines Referenz-Ablenkwinkels mittels einer einstellbaren Ablenkspannung am Silizium-Mikrospiegel. 3 a diagram for setting a reference deflection angle by means of an adjustable deflection voltage on the silicon micromirror.

Einander entsprechende Teile sind in allen Figuren mit den gleichen Bezugszeichen versehen.each other Corresponding parts have the same reference symbols in all figures Mistake.

In 1 ist eine Vorrichtung 1 zur Ablenkung eines Strahlungsverlaufs (im Weiteren kurz Ablenkvorrichtung 1 genannt) dargestellt, bei der ein Umlenkelement 2 vorgesehen ist, das mindestens einen in seiner Position einstellbaren Silizium-Mikrospiegel 3 umfasst und an einer vor dem Austritt des Lichtstrahls aus der Ablenkvorrichtung 1 liegenden Position im Strahlengang angeordnet ist.In 1 is a device 1 for deflecting a radiation path (hereinafter briefly deflection device 1 called) shown, in which a deflecting element 2 it is provided that the at least one adjustable silicon micromirror in its position 3 comprises and at one before the light beam emerges from the deflection device 1 lying position is arranged in the beam path.

Die Ablenkvorrichtung 1 umfasst eine Lichtquelle 4, deren erzeugtes Licht L fällt zunächst innerhalb der Ablenkvorrichtung 1 auf den Silizium-Mikrospiegel 3 des Umlenkelements 2. Je nach Art und Ausbildung des Umlenkelements 2, insbesondere in Abhängigkeit vom Auflösungsgrad oder der Größe des zu erfassenden Raumes umfasst das Umlenkelement 2 wie dargestellt mehrere Silizium-Mikrospiegel 3, welche zeilen- und/oder spaltenförmig in Art einer Matrix angeordnet sein können.The deflector 1 includes a light source 4 whose generated light L first falls within the deflection device 1 on the silicon micromirror 3 of the deflecting element 2 , Depending on the type and design of the deflecting element 2 , in particular depending on the degree of resolution or the size of the space to be detected, comprises the deflecting element 2 as shown, multiple silicon micromirrors 3 , which can be arranged in rows and / or columns in the manner of a matrix.

Die einzelnen Silizium-Mikrospiegel 3 werden über Steuerleitungen 6 statisch so ausgerichtet, dass das von der Lichtquelle 4 ausgesandte Licht L von jedem Silizium-Mikrospiegel 3 in eine andere Richtung abgelenkt wird. Hierdurch wird erreicht, dass ein größerer Bereich des die Ablenkvorrichtung 1 umgebenden Raums ausgeleuchtet wird. Die Auslenkung der einzelnen Silizium-Mikrospiegel 3 kann vorteilhaft an die aktuelle Situation, beispielsweise eine geänderte Fahrtrichtung eines Fahrzeugs, angepasst werden.The individual silicon micromirrors 3 are about control lines 6 statically aligned so that from the light source 4 emitted light L from each silicon micromirror 3 is distracted in a different direction. This ensures that a larger area of the deflection device 1 surrounding room is illuminated. The deflection of the individual silicon micromirrors 3 can advantageously be adapted to the current situation, for example a changed direction of travel of a vehicle.

Alternativ können die Silizium-Mikrospiegel 3 auch dynamisch angesteuert werden, so dass mit dem ausgesendeten Licht L der zu überwachende Raum beispielsweise zeilenförmig abgetastet wird. In dieser Ausgestaltung der Ablenkvorrichtung 1 werden weniger Silizium-Mikrospiegel 3 benötigt, jedoch wird der zu überwachende Raum dann nicht permanent vollständig, sondern immer nur teilweise ausgeleuchtet.Alternatively, the silicon micromirrors 3 can also be controlled dynamically, so that, for example, the space to be monitored is scanned in line form with the emitted light L. In this embodiment, the deflection device 1 become less silicon micromirrors 3 required, however, the room to be monitored is then not permanently fully illuminated, but only partially illuminated.

Nach dem Ablenken durch die Silizium-Mikrospiegel 3 sendet die Ablenkvorrichtung 1 das Licht L aus.After being distracted by the silicon micromirror 3 sends the deflector 1 the light L off.

Trifft das von der Ablenkvorrichtung 1 auf diese Weise ausgesendete Licht L auf ein Objekt O, das sich innerhalb des ausgeleuchteten Raums befindet, so wird das Licht L von diesem Objekt O teilweise reflektiert. Das reflektierte Licht LR kehrt zur Ablenkvorrichtung 1 zurück und trifft dort auf ein zugehöriges Detektorelement 8. Das Detektorelement 8 verfügt über eine Datenschnittstelle 10, über die ein das reflektierte Licht LR repräsentierendes Messsignal ausgelesen und in nicht näher dargestellter Art und Weise einer Datenerfassungs- und Verarbeitungseinheit zur weiteren Verarbeitung zugeführt werden kann. Auf diese Weise kann mit Hilfe einer nicht dargestellten Datenerfassungs- und Verarbeitungseinrichtung, beispielsweise eines Bordcomputers eines Fahrzeuges, anhand der von dem Detektorelement 8 ermittelten Helligkeitswerte das Vorhandensein eines Objekts O im ausgeleuchteten Raum erkannt werden.Does that happen from the deflector 1 light L emitted in this way onto an object O which is located within the illuminated room, the light L is partially reflected by this object O The reflected light LR returns to the deflector 1 back and meets an associated detector element there 8th , The detector element 8th has a data interface 10 , via which a measurement signal representing the reflected light LR can be read out and fed to a data acquisition and processing unit for further processing in a manner not shown in any more detail. In this way, with the help of a data acquisition and processing device, not shown, for example an on-board computer of a vehicle, based on that of the detector element 8th determined brightness values, the presence of an object O in the illuminated room can be recognized.

In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung sendet die Lichtquelle 4 Lichtimpulse aus, so dass anhand der Laufzeit des Lichts L und/oder des reflektierten Lichts LR auch der Abstand des Objekts O ermittelt werden kann. Ebenfalls vorteilhaft ist es, das Auslesen des Detektorelements 8 mit dem Aussenden von Licht L durch die Lichtquelle 4 zu synchronisieren, so dass Störeinflüsse durch Fremdlicht verhindert werden.In an advantageous embodiment of the invention, the light source transmits 4 Light pulses so that the distance of the object O can also be determined on the basis of the propagation time of the light L and / or the reflected light LR. It is also advantageous to read the detector element 8th with the emission of light L through the light source 4 synchronize so that interference from external light is prevented.

Die beschriebene Ablenkvorrichtung 1 kann vorteilhaft in Kraftfahrzeugen mit so genannten Pre-Crash-Systemen oder so genannten elektronischen Deichseln, d. h. Systemen zur Einhaltung eines konstanten Abstandes zu einem vorausfahrenden Fahrzeug, verwendet werden. Auch ein Einsatz in Scannerkassen, Warenwirtschaftssystemen, Akten- oder Bibliothekenverwaltungssystemen beispielsweise zur Identifikation von Strichcodes ist möglich. Hierzu werden die Silizium-Mikrospiegel 3 des Umlenkelements 2 vorteilhaft dynamisch gesteuert, so dass der interessierende Raum kontinuierlich abgetastet wird.The described deflection device 1 can advantageously be used in motor vehicles with so-called pre-crash systems or so-called electronic drawbars, ie systems for maintaining a constant distance from a vehicle in front. It can also be used in scanner registers, merchandise management systems, file or library management systems, for example to identify bar codes. For this, the silicon micromirrors 3 of the deflecting element 2 advantageously controlled dynamically so that the space of interest is continuously scanned.

In 2 ist eine Ablenkvorrichtung 1 dargestellt, bei der ein aus einer Anordnung mehrerer einzeln steuerbarer Silizium-Mikrospiegel 3 bestehendes Umlenkelement 2 an einer vor dem Detektorelement 4 liegenden Position im Strahlengang angeordnet ist.In 2 is a deflector 1 shown in which one of an arrangement of several one controllable silicon micromirror 3 existing deflection element 2 on one in front of the detector element 4 lying position is arranged in the beam path.

Das von der Lichtquelle 4 erzeugte Licht 11 tritt ohne Ablenkung direkt aus der Ablenkvorrichtung 1 aus. Gegebenenfalls kann der Lichtstrahl durch eine nicht dargestellte, zur Lichtquelle 4 gehörende Linsenanordnung gestreut werden, so dass durch das ausgesendete Licht L eine möglichst gute Ausleuchtung des zu überwachenden Raumes erzielt wird.That from the light source 4 generated light 11 emerges directly from the deflection device without distraction 1 out. If necessary, the light beam can go through a light source, not shown 4 belonging lens arrangement are scattered, so that the best possible illumination of the room to be monitored is achieved by the emitted light L.

Trifft das von der Ablenkvorrichtung 1 auf diese Weise ausgesendete Licht L auf ein Objekt O, das sich innerhalb des ausgeleuchteten Raums befindet, so wird das Licht L von diesem Objekt O teilweise reflektiert. Das reflektierte Licht LR kehrt zur Ablenkvorrichtung 1 zurück und trifft dort innerhalb der Ablenkvorrichtung 1 auf die Silizium-Mikrospiegel 3 des Umlenkelements 2. Bei dem Umlenkelement 2 kann es sich beispielsweise um ein ASIC- oder um ein Halbleiterelement handeln, auf welchem ein Silizium-Mikrospiegel 3 angeordnet ist.Does that happen from the deflector 1 light L emitted in this way onto an object O which is located within the illuminated room, the light L is partially reflected by this object O The reflected light LR returns to the deflector 1 back and hits there inside the deflector 1 on the silicon micromirror 3 of the deflecting element 2 , With the deflecting element 2 it can be, for example, an ASIC or a semiconductor element on which a silicon micromirror 3 is arranged.

Die einzelnen Silizium-Mikrospiegel 3 werden über Steuerleitungen 6 statisch so ausgerichtet, dass das aus unterschiedlichen Raumrichtungen einfallende, reflektierte Licht LR von jedem Silizium-Mikrospiegel 3 auf das Detektorelement 8 gelenkt wird. Hierdurch wird erreicht, dass reflektiertes Licht LR aus dem gesamten zu überwachenden Raum erfasst wird. Die Auslenkung der einzelnen Silizium-Mikrospiegel 3 kann vorteilhaft an die aktuelle Situation, beispielsweise eine geän derte Fahrtrichtung eines Fahrzeugs, angepasst werden. 3 zeigt beispielhaft ein Diagramm zur Einstellung eines mittels Referenzpunkten RP1, RP2 gebildeten Referenz-Ablenkwinkels α anhand einer am Silizium-Mikrospiegel 3 angelegten Ablenkspannung U an der Steuerleitung 6. Dabei wird mittels Anlegen der Ablenkspannung U in einer Prüfphase ermittelt, bei welchem Wert der Ablenkspannung U die Referenzpunkte RP1, RP2 des Referenz-Ablenkwinkels α erreicht sind. Im Betrieb der Ablenkvorrichtung 1 kann dann durch Änderung der Ablenkspannung U kontinuierlich oder schrittweise mittels eines Spannungshubes zwischen den ermittelten Werten der Ablenkspannung U für die Referenzpunkte RP ein beliebiger Referenz-Ablenkwinkel α eingestellt werden.The individual silicon micromirrors 3 are about control lines 6 statically aligned so that the reflected light LR from different spatial directions from each silicon micromirror 3 on the detector element 8th is directed. This ensures that reflected light LR is detected from the entire room to be monitored. The deflection of the individual silicon micromirrors 3 can advantageously be adapted to the current situation, for example a changed direction of travel of a vehicle. 3 shows an example of a diagram for setting a reference deflection angle α formed by reference points RP1, RP2 on the basis of a silicon micromirror 3 deflection voltage U applied to the control line 6 , By applying the deflection voltage U in a test phase, it is determined at which value of the deflection voltage U the reference points RP1, RP2 of the reference deflection angle α have been reached. In operation of the deflector 1 By changing the deflection voltage U, any reference deflection angle α can then be set continuously or stepwise by means of a voltage swing between the determined values of the deflection voltage U for the reference points RP.

Alternativ oder zusätzlich können die Silizium-Mikrospiegel 3 auch dynamisch angesteuert werden, so dass aus verschiedenen Richtungen des zu überwachenden Raums einfallendes reflektiertes Licht LR beispielsweise zeilenförmig abgetastet wird. In dieser Ausgestaltung der Ablenkvorrichtung 1 werden weniger Silizium-Mikrospiegel 3 benötigt, jedoch wird aus verschiedenen Richtungen des zu überwachenden Raums einfallendes reflektiertes Licht LR dann nicht permanent vollständig, sondern immer nur teilweise erfasst.Alternatively or additionally, the silicon micromirrors can be used 3 can also be controlled dynamically, so that reflected light LR incident from different directions of the room to be monitored is, for example, scanned in a line shape. In this embodiment, the deflection device 1 become less silicon micromirrors 3 required, however, reflected light LR incident from different directions of the room to be monitored is then not permanently completely, but always only partially detected.

Nach dem Ablenken durch die Silizium-Mikrospiegel 3 trifft das reflektierte Licht LR auf das Detektorelement 8. Das Detektorelement 8 verfügt über eine Datenschnittstelle 10, über die ein aus dem reflektierten Licht LR erfasstes Messsignal ausgelesen und zur weiteren Verarbeitung einer Datenerfassungs- und Verarbeitungseinheit zugeführt werden kann. Auf diese Weise kann mit Hilfe einer nicht dargestellten Datenerfassungs- und Verarbeitungseinrichtung, beispielsweise eines Bordcomputers eines Kraftfahrzeuges, anhand der von dem Detektorelement 8 ermittelten Helligkeitswerte das Vorhandensein eines Objekts O im ausgeleuchteten Raum erkannt werden.After being distracted by the silicon micromirror 3 the reflected light LR strikes the detector element 8th , The detector element 8th has a data interface 10 , via which a measurement signal recorded from the reflected light LR can be read out and fed to a data acquisition and processing unit for further processing. In this way, with the aid of a data acquisition and processing device, not shown, for example an on-board computer of a motor vehicle, based on that of the detector element 8th determined brightness values, the presence of an object O in the illuminated room can be recognized.

Die Ablenkvorrichtung 1 kann auch zwei Umlenkelemente 2 umfassen, von denen eines vor dem Austritt des Lichtstrahls aus der Ablenkvorrichtung 1 liegenden Position im Strahlengang angeordnet ist und das andere an einer vor dem Detektorelement 8 liegenden Position im Strahlengang angeordnet ist.The deflector 1 can also have two deflection elements 2 comprise, one of which before the light beam exits the deflection device 1 lying position is arranged in the beam path and the other on one in front of the detector element 8th lying position is arranged in the beam path.

Die beschriebene Ablenkvorrichtung 1 kann vorteilhaft in Kraftfahrzeugen mit Pre-Crash-Systemen oder so genannten elektronischen Deichseln, d. h. Systemen zur Einhaltung eines konstanten Abstandes zu einem vorausfahrenden Fahrzeug, verwendet werden. Auch ein Einsatz in Scannerkassen, Warenwirtschaftssystemen, Akten- oder Bibliothekenverwaltungssystemen beispielsweise zur Identifikation von Strichcodes ist möglich. Hierzu werden die Silizium-Mikrospiegel 3 des Umlenkelements 2 vorteilhaft dynamisch gesteuert, so dass der interessierende Raum kontinuierlich abgetastet wird.The described deflection device 1 can advantageously be used in motor vehicles with pre-crash systems or so-called electronic drawbars, ie systems for maintaining a constant distance from a vehicle in front. It can also be used in scanner registers, merchandise management systems, file or library management systems, for example to identify bar codes. For this, the silicon micromirrors 3 of the deflecting element 2 advantageously controlled dynamically so that the space of interest is continuously scanned.

Die Ablenkvorrichtung 1 ist kostengünstig herzustellen, benötigt keine Präzisionslagerung, weist eine hohe Verschleißfestigkeit, eine hohe Zuverlässigkeit und lange Lebensdauer auf und ist unempfindlich gegenüber mechanischen Störgrößen und mit geringem Energieaufwand regelbar.The deflector 1 is inexpensive to manufacture, requires no precision storage, has high wear resistance, high reliability and a long service life and is insensitive to mechanical disturbances and can be regulated with little energy consumption.

11
Ablenkvorrichtungdeflector
22
Umlenkelementdeflecting
33
Silizium-MikrospiegelSilicon micromirror
44
Lichtquellelight source
66
Steuerleitungencontrol lines
88th
Detektorelementdetector element
1010
DatenschnittstelleData Interface
LL
ausgesendetes Lichtsent out light
LRLR
reflektiertes Lichtreflected light
OO
Objektobject
RP1, RP2RP1, RP2
Referenzpunktereference points
UU
Ablenkspannungdeflection
αα
Referenz-AblenkwinkelReference deflection angle

Claims (11)

Vorrichtung (1) zur Ablenkung des Strahlenverlaufs in einem optischen System, insbesondere in einem System zur Abstandsmessung oder zur Detektion von Gegenständen in einem wählbaren Bereich um ein bewegtes Fahrzeug, umfassend mindestens eine Lichtquelle (4), mindestens ein Detektorelement (8) sowie mindestens ein Umlenkelement (2) zur Umlenkung des Lichtstrahls, wobei das Umlenkelement (2) mindestens einen Silizium-Mikrospiegel (3) aufweist.Contraption ( 1 ) for deflecting the beam path in an optical system, in particular in a system for measuring distance or for detecting objects in a selectable area around a moving vehicle, comprising at least one light source ( 4 ), at least one detector element ( 8th ) and at least one deflection element ( 2 ) for deflecting the light beam, the deflecting element ( 2 ) at least one silicon micromirror ( 3 ) having. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Umlenkelement (2) eine Anordnung mehrerer einzeln steuerbarer Silizium-Mikrospiegel (3) umfasst.Device according to claim 1, characterized in that the deflecting element ( 2 ) an arrangement of several individually controllable silicon micromirrors ( 3 ) includes. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass ein Umlenkelement (2) an einer vor dem Austritt des Lichtstrahls liegenden Position im Strahlengang angeordnet ist.Device according to claim 1 or 2, characterized in that a deflecting element ( 2 ) is arranged at a position in the beam path before the light beam emerges. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass ein Umlenkelement (2) an einer vor dem Detektorelement (8) liegenden Position im Strahlengang angeordnet ist.Device according to one of claims 1 to 3, characterized in that a deflecting element ( 2 ) in front of the detector element ( 8th ) lying position is arranged in the beam path. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (4) eine Laserdiode ist.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the light source ( 4 ) is a laser diode. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (4) pulsierend betrieben wird.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the light source ( 4 ) is operated pulsating. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Auslesen des Detektorelements (8) synchron oder synchronisiert mit dem Aussenden des Lichts (L) durch die Lichtquelle (4) erfolgt.Device according to one of the preceding claims, characterized in that the reading of the detector element ( 8th ) synchronized or synchronized with the emission of light (L) by the light source ( 4 ) he follows. Verwendung einer Vorrichtung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 7 zur Detektion von Objekten (O) in einem wählbaren Raum.Using a device ( 1 ) according to one of claims 1 to 7 for the detection of objects (O) in a selectable space. Verwendung einer Vorrichtung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 7 zur Abstandsmessung zwischen der Vorrichtung (1) und einem im Raum befindlichen Objekt (O).Using a device ( 1 ) according to one of claims 1 to 7 for measuring the distance between the device ( 1 ) and an object in the room (O). Verwendung einer Vorrichtung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 7 zur Erkennung charakteristischer Merkmale eines im Raum befindlichen Objekts (O).Using a device ( 1 ) according to one of claims 1 to 7 for recognizing characteristic features of an object (O) located in space. Verwendung einer Vorrichtung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 7 zur Identifikation eines Strichcodes.Using a device ( 1 ) according to one of claims 1 to 7 for identification of a bar code.
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