DE10257680A1 - Circuit arrangement for leakage current limitation, sample and hold circuit with the circuit arrangement and charge pump circuit with the circuit arrangement - Google Patents
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Abstract
Es ist eine Schaltungsanordnung zur Leckstrombegrenzung vorgesehen, bei der zwischen zwei Schaltungsknoten (1, 2) eine Schaltstrecke (3, 4) gebildet ist, die wahlweise hochohmig oder niederohmig geschaltet werden kann. Die Schaltstrecke umfaßt eine Serienschaltung aus einem Hauptschalter (3) und einem Hilfsschalter (4), wobei der Hilfsschalter (4) ausgelegt ist zur Leckstrombegrenzung, während die Potentialdifferenz zwischen den Schaltungsknoten (1, 2) über dem Hauptschalter (3) abfällt. Die beschriebene Schaltungsanordnung ist besonders zur Anwendung in MOS-Schaltungstechnik für alle Schaltungen geeignet, bei denen es auf die Vermeidung oder Reduzierung von Leckströmen ankommt. Dies ist beispielsweise in Ladungspumpenschaltungen oder Sample-And-Hold Schaltungen der Fall.A circuit arrangement for leakage current limitation is provided, in which a switching path (3, 4) is formed between two circuit nodes (1, 2), which can optionally be switched with high or low resistance. The switching path comprises a series circuit comprising a main switch (3) and an auxiliary switch (4), the auxiliary switch (4) being designed to limit leakage current, while the potential difference between the circuit nodes (1, 2) drops above the main switch (3). The circuit arrangement described is particularly suitable for use in MOS circuit technology for all circuits in which the avoidance or reduction of leakage currents is important. This is the case, for example, in charge pump circuits or sample-and-hold circuits.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Leckstrombegrenzung, eine Abtast-Halte-Schaltung mit der Schaltungsanordnung zur Leckstrombegrenzung sowie eine Ladungspumpenschaltung mit der Schaltungsanordnung zur Leckstrombegrenzung.The present invention relates to a circuit arrangement for leakage current limitation, a sample and hold circuit with the circuit arrangement for leakage current limitation and a charge pump circuit with the circuit arrangement for leakage current limitation.
Im Zuge der Integration immer komplexerer Schaltungen auf einer ständig kleiner werdenden Chipfläche nimmt in den unterschiedlichen Schaltungstechniken auch die Kanallänge integrierter Transistoren immer weiter ab.In the course of the integration of increasingly complex circuits on one constantly smaller chip area takes the channel length of integrated transistors in the different circuit technologies ever further.
Damit ist beispielsweise in modernen Sub-Mikrometer-CMOS-Technologien der Nachteil verbunden, daß der Kanalleckstrom eines ausgeschalteten, das heißt hochohmigen MOS-Transistors stetig ansteigt. Dies führt zu einer ständigen Zunahme der Standby-Ströme in CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)-Schaltkreisen.This is the case, for example, in modern sub-micron CMOS technologies Disadvantage connected that the Channel leakage current of a switched off, that is, high-impedance MOS transistor continuously increases. this leads to to a constant Increase in standby currents in CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) circuits.
Diese Tendenz hat sogar zur Folge, daß viele bisher verwendete Schaltungsanordnungen und schaltungstechnische Modelle, die einen MOS-Transistor als idealen Schalter betrachtet haben, in heutigen, integrierten Schaltungstechniken nicht mehr anwendbar sind.This tendency even means that many so far used circuit arrangements and circuit models, who saw a MOS transistor as an ideal switch, no longer applicable in today's integrated circuit technologies are.
Verschärft wird die beschriebene Problematik noch dadurch, daß der Leckstrom eines MOS-Transistors stark temperaturabhängig ist. Der Leckstrom nimmt mit steigender Temperatur stark zu.The problem described is exacerbated still in that the Leakage current of a MOS transistor is strongly temperature-dependent. The leakage current increases sharply with increasing temperature.
Weiterhin ist der Leckstrom abhängig von der Spannung zwischen Drain- und Source-Anschluß eines als Schalter arbeiten den Feldeffekt-Transistors. Je höher die Drain/Source-Spannung ist, desto größer ist der Leckstrom im ausgeschalteten Zustand des Transistorschalters.Furthermore, the leakage current is dependent on the Voltage between the drain and source connection of a switch work as Field-effect transistor. The higher the drain / source voltage is the bigger the leakage current when the transistor switch is switched off.
Speziell solche Schaltungsanordnungen, bei denen ein MOS-Schalter zwei Schaltungspunkte im ausgeschalteten Zustand hochohmig voneinander trennen soll, werden stark negativ durch den Leckstrom im abgeschalteten Zustand des MO5-Transistors beeinflußt. Solche Schaltungsanordnungen kommen beispielsweise in Abtast-Halte-Gliedern vor. Derartige Schaltungen werden auch als Sample-And-Hold Schaltungen bezeichnet. Auch Ladungspumpenschaltungen, die standardmäßig in Phasenregelkreisen verwendet werden, sind ein häufiges Anwendungsgebiet von hochohmig trennenden Schaltern.Such circuit arrangements in particular, where a mos switch Separate two switching points from each other with high resistance when switched off should be strongly negative due to the leakage current in the switched off State of the MO5 transistor affected. Such circuit arrangements come, for example, in sample-and-hold elements in front. Such circuits are also called sample-and-hold circuits designated. Also charge pump circuits, which are standard in phase locked loops are a common area of application of high-resistance isolating switches.
Ladungspumpenschaltungen umfassen üblicherweise einen Quellenstromzweig und einen Senkenstromzweig. In Abhängigkeit von einem Steuersignalpaar wird entweder eine vorgebbare Ladungsmenge an den Signalausgang abgegeben oder aus dem Signalausgang abgezogen. Hierfür sind MOS-Transistorschalter vorgesehen. An den Signalausgang ist normalerweise ein Schleifenfilter zur Dimensionierung des Phasenregelkreises, englisch: Phase Locked Loop, PLL, in dem sich die beiden Schaltungsblöcke befinden, angeschlossen.Charge pump circuits typically include a source current branch and a sink current branch. Dependent on A control signal pair either becomes a predeterminable amount of charge delivered to the signal output or subtracted from the signal output. Therefor MOS transistor switches are provided. At the signal output is usually a loop filter for dimensioning the phase-locked loop, English: Phase Locked Loop, PLL, in which the two circuit blocks are located, connected.
Durch Entladung von Kapazitäten des Schleifenfilters der PLL, durch einen Leckstrom der Ladungspumpe im abgeschalteten Zustand et cetera können Fehlladungen in der PLL auftreten. Um diese auszugleichen werden MOS-Schalter am Ausgang der Ladungspumpe kurzzeitig geschlossen. Dieser Ladungspumpen-Leckstrom ist hauptsächlich bedingt durch nicht ideal trennende Schalter und die Abstimmspannung, die eine Potentialdifferenz über den Transistoren erzeugt. Dieser nachteilhafte Effekt wird zusätzlich verstärkt durch die Tendenz, die Gateoxiddicke von Feldeffekttransistoren immer weiter zu verringern, ebenso wie die Kanallänge. Problematisch dabei ist, daß derartige Leckströme zu einer unzureichenden Nebenlini enunterdrückung im Oszillator bzw. Synthesizer führen. Dies wiederum gefährdet die Einhaltung von Mobilfunkstandards von Mobilfunkgeräten, die CMOS-Ladungspumpenschaltungen zur Frequenzsynthese verwenden.By discharging the capacities of the loop filter the PLL, due to a leakage current of the charge pump in the switched off Condition et cetera can Incorrect loads occur in the PLL. To compensate for this MOS switch at the output of the charge pump briefly closed. This charge pump leakage current is mainly due to non-ideally isolating switches and the tuning voltage, which has a potential difference across the Transistors generated. This disadvantageous effect is further reinforced by the tendency to always get the gate oxide thickness of field effect transistors further decrease, as does the channel length. The problem is that such leakage currents inadequate sideline suppression in the oscillator or synthesizer to lead. This in turn jeopardizes compliance with cellular standards of cellular devices that Use CMOS charge pump circuits for frequency synthesis.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Schaltungsanordnung zur Leckstrombegrenzung sowie eine Abtaste-Halte-Schaltung und eine Ladungspumpenschaltung mit der Schaltungsanordnung anzugeben, bei denen im hochohmigen Schaltzustand eine deutliche Reduzierung von Leckströmen bei verhältnismäßig geringer Chipfläche ermöglicht ist.Object of the present invention is a circuit arrangement for leakage current limitation as well as a Abtaste hold circuit and to specify a charge pump circuit with the circuit arrangement, a significant reduction in those in the high-resistance switching state leakage currents at relatively less chip area allows is.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe bezüglich der Schaltungsanordnung gelöst durch eine Schaltungsanordnung zur Leckstrombegrenzung, aufweisend eine Schaltstrecke,
- – die zwischen einem ersten und einem zweiten Schaltungsknoten gebildet ist,
- – die wahlweise zwischen einem niederohmigen und einem hochohmigen Zustand umgeschaltet werden kann und
- – die eine Serienschaltung mit einem Hauptschalter und einem Hilfsschalter umfasst, wobei der Hilfsschalter ausgelegt ist zur Leckstrombegrenzung in dem hochohmigen Zustand.
- Which is formed between a first and a second circuit node,
- - Which can optionally be switched between a low-resistance and a high-resistance state, and
- - Which comprises a series circuit with a main switch and an auxiliary switch, the auxiliary switch being designed to limit leakage current in the high-resistance state.
Die beschriebene Schaltungsanordnung ist bevorzugt in integrierter Schaltungstechnik ausgeführt.The circuit arrangement described is preferably implemented in integrated circuit technology.
Haupt- und Hilfsschalter werden bevorzugt jeweils gleichzeitig ein- und ausgeschaltet. Hierfür sind bevorzugt Steueranschlüsse von Haupt- und Hilfsschalter miteinander verbunden.Main and auxiliary switches are preferred, respectively switched on and off at the same time. Control connections from are preferred for this purpose Main and auxiliary switches connected to each other.
Gemäß dem vorliegenden Prinzip ist es vorgesehen, zum hochohmigen Trennen zweier Schaltungsknoten nicht nur einen Schalter vorzusehen, sondern eine Serienschaltung aus zwei Schaltern. Dabei ist der Hilfsschalter so ausgelegt, daß im hochohmigen Zustand der Schaltstrecke zwischen den beiden Schaltungsknoten eine Leckstrombegrenzung erfolgt.According to the present principle it is intended for high-resistance separation of two circuit nodes not just to provide a switch, but a series connection from two switches. The auxiliary switch is designed so that in the high-resistance State of the switching path between the two switching nodes Leakage current limitation.
Bevorzugt ist hierfür der Hauptschalter so dimensioniert und/oder geschaltet, daß praktisch die gesamte Potentialdifferenz zwischen den beiden durch die Schaltstrecke gekoppelten Schaltungsknoten im hochohmigen Schaltzustand über dem Hauptschalter abfällt.For this purpose, the main switch is preferably dimensioned and / or switched such that practically the entire potential difference between the two circuit nodes coupled by the switching path drops in the high-resistance switching state above the main switch.
Demgemäß ist die über der Laststrecke des Hilfsschalters im hochohmigen Zustand abfallende Spannung praktisch null. Dies wiederum ermöglicht eine weitere Reduzierung des Leckstroms, da dieser unter anderem abhängig ist von der über der Schaltstrecke des Hilfsschalters abfallenden Spannung.Accordingly, that is over the load path of the auxiliary switch voltage dropping in the high-resistance state practically zero. This in turn enables one further reduction of the leakage current, since this is dependent among other things from the over the switching distance of the auxiliary switch.
Um die beschriebene, inhomogene Spannungsverteilung über die eine Serienschaltung bildenden Schalter der Schaltstrecke zu verbessern, ist bevorzugt ein Steuermittel vorgesehen, welches mit dem Hilfsschalter gekoppelt ist und welches so ausgelegt ist, daß eine über dem Hilfsschalter im hochohmigen Zustand der Schaltstrecke abfallende Spannung null ist oder sehr gering ist.To the described, inhomogeneous voltage distribution over the to improve a switch of the switching path forming a series connection, a control means is preferably provided which is connected to the auxiliary switch is coupled and which is designed so that one above the auxiliary switch in the high-resistance State of the switching path dropping voltage is zero or very is low.
Die Spannung ist dabei bevorzugt so gering einzustellen, daß der sich ergebende Leckstrom zumindest gerade noch tolerierbar ist.The voltage is preferred so low that the resulting leakage current is at least just tolerable.
Das Steuermittel umfaßt bevorzugt zumindest einen Stützkondensator, der an dem Hilfsschalter angeschlossen ist. Der Stützkondensator ist bevorzugt zwischen einen Lastanschluß. des Hilfsschalters und einen Referenzpotentialanschluß geschaltet und steuert dadurch im hochohmigen Zustand der Schaltstrecke die über dem Hilfsschalter abfallende Spannung zu null.The control means preferably comprises at least one backup capacitor, connected to the auxiliary switch. The backup capacitor is preferred between a load connection. of the auxiliary switch and one Reference potential connection switched and thereby controls the high resistance of the switching path over the Auxiliary switch dropping voltage to zero.
Der mit dem Hilfsschalter verbundene Anschluß des Stützkondensators ist dabei bevorzugt mit demjenigen Verbindungsknoten verbunden, der in der Schaltstrecke Hauptschalter und Hilfsschalter miteinander verbindet.The one connected to the auxiliary switch Connection of the backup capacitor is preferably connected to that connection node, the main switch and auxiliary switch in the switching path with each other combines.
Die Schaltungsanordnung ist bevorzugt in einer integrierten HalbleiterSchaltungstechnik aufgebaut. Besonders bevorzugt ist die Schaltungsanordnung in MOS-Schaltungstechnik realisiert.The circuit arrangement is preferred built in an integrated semiconductor circuit technology. Especially the circuit arrangement is preferably implemented in MOS circuit technology.
Besonders in MOS-Schaltungstechnik kommen die Vorteile des vorgeschlagenen Prinzips bezüglich der signifikanten Leckstrombegrenzung mit geringem Aufwand vorteilhaft zur Geltung. Somit können die negativen Folgen einer Leckstrombildung bei abgeschalteten MOS-Transistoren deutlich verringert bzw. eliminiert werden.Especially in MOS circuit technology come the advantages of the proposed principle in terms of significant leakage current limitation with little effort advantageous to advantage. So you can the negative consequences of leakage current formation when the MOS transistors are switched off be significantly reduced or eliminated.
Hauptschalter und Hilfsschalter sind bevorzugt jeweils als Transistor ausgeführt.Main switches and auxiliary switches are preferably each designed as a transistor.
Bei Ausführung in MOS-Schaltungstechnik können Haupt- und Hilfsschalter beispielsweise als p-Kanal-Transistor oder als n-Kanal-Transistor ausgeführt sein.When using MOS circuit technology, main and auxiliary switches, for example as a p-channel transistor or as n-channel transistor executed his.
Der Hilfsschalter ist bevorzugt als sogenanntes Transmission-Gate ausgeführt. Der Hilfsschalter umfaßt dabei bevorzugt zwei parallel geschaltete Transistoren von komplementärem Leitfähigkeitstyp.The auxiliary switch is preferred as so-called transmission gate executed. The auxiliary switch includes preferably two transistors of complementary conductivity type connected in parallel.
Bezüglich der Abtast-Halte-Schaltung wird die Aufgabe gelöst durch eine Abtast-Halte-Schaltung mit einer Schaltungsanordnung zur Leckstrombegrenzung wie vorstehend beschrieben, aufweisend
- – einen Eingang zum Zuführen eine abzutastenden Signals, der mit dem ersten Schaltungsknoten der Schaltungsanordnung zur Leckstrombegrenzung verbunden ist,
- – einen Ausgang zum Abgreifen eines Abtastwertes, der mit dem zweiten Schaltungsknoten der Schaltungsanordnung zur Leckstrombegrenzung verbunden ist, und
- – einen Abtastkondensator, der zwischen den Ausgang der Abtast-Halte-Schaltung und einen Bezugspotentialanschluss geschaltet ist.
- An input for supplying a signal to be sampled, which is connected to the first circuit node of the circuit arrangement for leakage current limitation,
- An output for tapping a sample value, which is connected to the second circuit node of the circuit arrangement for leakage current limitation, and
- - A sampling capacitor, which is connected between the output of the sample-and-hold circuit and a reference potential connection.
Das vorgeschlagene Prinzip vermeidet die Ausbildung eines Leckstroms im abgeschalteten Zustand, wenn sich eine Potentialdifferenz über dem herkömmlichen Schalter, vorliegend den Hauptschalter der Abtast-Halte-Schaltung, aufbaut.Avoid the proposed principle the formation of a leakage current when switched off, if a potential difference over the conventional Switch, in the present case the main switch of the sample-and-hold circuit, builds.
Gemäß dem vorgeschlagenen Prinzip mit Hilfsschalter wird der Leckstrom im hochohmigen Zustand des Schalters deutlich reduziert.According to the proposed principle the leakage current in the high-resistance state of the Switch significantly reduced.
Eine weitere Verringerung des Leckstroms bis hin zu einem praktisch verschwindenden Leckstrom kann dadurch erzielt werden, daß ein Stützkondensator vorgesehen ist, der den Verbindungsknoten zwischen Hauptschalter und Hilfsschalter mit einem Versorgungspotentialanschluß oder einem Bezugspotentialanschluß verbindet.A further reduction in the leakage current up can lead to a practically vanishing leakage current be that a backup capacitor is provided, which is the connection node between the main switch and auxiliary switches with a supply potential connection or Reference potential connection connects.
Hierdurch wird die Potentialdifferenz über dem Hilfsschalter, der bevorzugt als MOS-Transistor ausgeführt ist, konstant auf 0 Volt gehalten. Hierdurch kann kein nennenswerter Leckstrom fließen. Hauptschalter, Hilfsschalter und Stützkondensator sind dabei anwendungsabhängig in ihrer Größe zu dimensionieren.As a result, the potential difference over the Auxiliary switch, which is preferably designed as a MOS transistor, kept constant at 0 volts. As a result, no significant Leakage current flow. Main switch, Auxiliary switches and backup capacitors are depending on the application dimension in size.
Bezüglich der Ladungspumpenschaltung wird die Aufgabe gelöst durch eine Ladungspumpenschaltung mit einer Schaltungsanordnung wie vorstehend beschrieben, aufweisend
- – einen Quellenstromzweig mit einem ersten Hauptschalter zum Ein- und Ausschalten des Quellstromes,
- – einen Senkenstromzweig mit einem zweiten Hauptschalter zum Ein- und Ausschalten des Senkenstromes,
- – einen Verbindungsknoten, an den der Quellenstromzweig und der Senkenstromzweig angeschlossen ist, und
- – den Hilfsschalter, der als Transmission Gate ausgebildet ist und den Verbindungsknoten mit einem Signalausgang der Ladungspumpenschaltung verbindet.
- A source current branch with a first main switch for switching the source current on and off,
- A sink current branch with a second main switch for switching the sink current on and off,
- A connection node to which the source current branch and the sink current branch are connected, and
- - The auxiliary switch, which is designed as a transmission gate and connects the connection node to a signal output of the charge pump circuit.
Das zusätzliche Transmission-Gate am Ausgang der Ladungspumpenschaltung erfüllt die Funktion des Hilfsschalters zur Leckstrombegrenzung bei der Ladungspumpe. Somit kann bei ausgeschalteten Haupttransistoren der Ausgangsstufe der Ladungspumpe kein Leckstrom an den Signalausgang der Ladungspumpe gelangen. Folglich sind auch bei einem üblicherweise in einer Phasenregelschleife an den Ausgang der Ladungspumpe angeschlossenen Schleifenfilter Fehlladungen aufgrund von Leck- strömen ausgeschlossen. Da die zusätzlichen Transistoren im Transmission-Gate mit einer Source-/Drain-Spannung von ungefähr 0 V betrieben werden, sperren diese Transistoren optimal und nahezu temperaturunabhängig.The additional transmission gate at the output of the charge pump circuit fulfills the function of the auxiliary switch for leakage current limitation in the charge pump. Thus, with the main transistors of the output stage of the charge pump switched off, no leakage current can reach the signal output of the charge pump. Consequently, even with a loop filter usually connected to the output of the charge pump in a phase-locked loop, incorrect charges are due to leakage currents men excluded. Since the additional transistors in the transmission gate are operated with a source / drain voltage of approximately 0 V, these transistors block optimally and almost independently of temperature.
Zur weiteren Stabilisierung der Spannung von 0 V über dem Transmission-Gate können Stützkondensatoren vorgesehen sein.To further stabilize the tension of 0 V over the transmission gate supporting capacitors be provided.
Die Ansteuerung des Transmission-Gates erfolgt mit denjenigen Steuersignalen, die ohnehin in einer Ladungspumpenschaltung vorgesehen sind zur Steuerung der Schalter in der Ausgangsstufe der Ladungspumpe zum Ein- und Ausschalten von Senkenzweig bzw. Quellenzweig.The transmission gate is controlled with those control signals that are in a charge pump circuit anyway are provided to control the switches in the output stage the charge pump for switching the sink branch or source branch on and off.
Weitere Einzelheiten der vorliegenden Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.Further details of the present Invention are the subject of the dependent claims.
Die Erfindung wird nachfolgend an mehreren Ausführungsbeispielen anhand der Zeichnungen näher erläutert.The invention will follow several embodiments based on the drawings explained.
Es zeigen:Show it:
Während
der Hauptschalter
Zum Ein- und/oder Ausschalten der
Schaltstrecke, d. h. zum Umschalten zwischen hochohmigem und niederohmigem
Leitzustand, ist bevorzugt eine hier nicht dargestellte Ansteuerschaltung
vorgesehen, welche das Hochohmigschalten bzw. Niederohmigschalten
der Schaltstrecke durch gleichzeitiges Betätigen der Schalter
Auch bei modernen Sub-Mikrometer-CMOS-Technologien kann somit der Kanalleckstrom auch bei kleinen Kanallängen eines ausgeschalteten MOS-Transistors verschwinden oder eine vorgebbare Schranke unterschreiten.Even with modern sub-micrometer CMOS technologies the channel leakage current can be reduced even with small channel lengths turned off MOS transistor disappear or a predetermined Fall below the barrier.
Dies erlaubt, die Serienschaltung
aus Hauptschalter und Hilfsschalter
Aufgrund der geringen, über dem Hilfsschalter im hochohmigen Leitzustand abfallenden Spannung ist auch keine merkliche Temperaturabhängigkeit des Leckstroms vorhanden.Because of the small, above that Auxiliary switch in the high-impedance conductive state is the voltage drop there is also no noticeable temperature dependence of the leakage current.
Eine alternative Ausführungsform
des Schalters
Eine Kombination der Hilfsschalter
gemäß
Eine Weiterbildung des Transmission-Gates
In MOS-Schaltungstechnik werden Versorgungs-
und Bezugspotentialanschluß
Die Ansteuerung der Schalter
Der Stützkondensator
Eine Besonderheit der vorliegenden
Ladungspumpenschaltung ist, daß der
Verbindungsknoten
Zur Begrenzung der im hochohmigen
Zustand dieser Schaltstrekken über
dem Hilfsschalter
Steueranschlüsse S1, S2 der Ladungspumpenschaltung,
welche an den Schaltern M3, M4 Gate-seitig angeschlossen sind, dienen
auch zur Steuerung des Hilfsschalters
Bei Anwendung der Ladungspumpe in
einem Phasenregelkreis werden die Steueranschlüsse S1, S2 normalerweise mit
dem Ausgang eines Phasendetektors verbunden, der eingangsseitig
ein Referenzsignal bezüglich
Phase und/oder Frequenz vergleicht mit dem heruntergeteilten Ausgangssignal
eines steuerbaren Oszillators. Der Steuereingang des steuerbaren
Oszillators wiederum ist dabei an den Signalausgang
Durch die zusätzlichen Schalttransistoren M7
und M8 wird bei der Ladungspumpe gemäß
Selbstverständlich liegt es im Rahmen der vorliegenden Erfindung, die Schaltungsanordnung mit dem Hilfsschalter gemäß vorliegendem Prinzip auch in anderen Schaltungsblöcken anzuwenden, bei denen es auf die Vermeidung oder Verringerung von Leckströmen im hochohmigen Schaltzustand ankommt.Of course it is within the scope of the present Invention, the circuit arrangement with the auxiliary switch according to the present Principle can also be used in other circuit blocks where it on avoiding or reducing leakage currents in high impedance Switching state arrives.
Auch kann das beschriebene Prinzip im Rahmen der Erfindung von CMOS auch auf andere Schaltungstechniken übertragen werden.The principle described can also in the context of the invention of CMOS also transferred to other circuit technologies become.
- 11
- erster Schaltungsknotenfirst circuit node
- 22
- zweiter Schaltungsknotensecond circuit node
- 33
- Hauptschaltermain switch
- 44
- Hilfsschalterauxiliary switch
- 55
- Stützkondensatorbackup capacitor
- 66
- Stützkondensatorbackup capacitor
- 77
- Stützkondensatorbackup capacitor
- 88th
- Stützkondensatorbackup capacitor
- 99
- VersorgungspotentialanschlußSupply potential connection
- 1010
- BezugspotentialanschlußReference potential connection
- 1111
- Hauptschaltermain switch
- 1212
- Hilfsschalterauxiliary switch
- 1313
- Abtast-KondensatorSampling capacitor
- 1414
- Stützkondensatorbackup capacitor
- 1515
- ReferenzpotentialanschlußReference potential terminal
- 1616
- Inverterinverter
- 1717
- Verbindungsknotenconnecting node
- 1818
- Stromquellepower source
- 1919
- Stromquellepower source
- 2020
- Hilfsschalterauxiliary switch
- 2121
- Signalausgangsignal output
- 2222
- UND-GatterAND gate
- 2323
- Inverterinverter
- 2424
- ODER-GatterOR gate
- 2525
- Inverterinverter
- C1C1
- Kondensatorcapacitor
- C2C2
- Kondensatorcapacitor
- ININ
- Signaleingangsignal input
- M1M1
- Transistortransistor
- M2M2
- Transistortransistor
- M3M3
- Schalttransistorswitching transistor
- M4M4
- Schalttransistorswitching transistor
- M5M5
- Transistortransistor
- M6M6
- Transistortransistor
- M7M7
- Transistortransistor
- M8 M8
- Transistor transistor
- OUTOUT
- Signalausgangsignal output
- S1 S1
- Steuereingang control input
- S2S2
- Steuereingangcontrol input
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5289062A (en) * | 1991-03-18 | 1994-02-22 | Quality Semiconductor, Inc. | Fast transmission gate switch |
US5517150A (en) * | 1991-10-01 | 1996-05-14 | Nec Corporation | Analog switch formed of thin film transistor and having reduced leakage current |
US6160432A (en) * | 1999-04-30 | 2000-12-12 | Conexant Systems, Inc. | Source-switched or gate-switched charge pump having cascoded output |
US6169419B1 (en) * | 1998-09-10 | 2001-01-02 | Intel Corporation | Method and apparatus for reducing standby leakage current using a transistor stack effect |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3521141A (en) * | 1967-10-30 | 1970-07-21 | Ibm | Leakage controlled electric charge switching and storing circuitry |
US5550503A (en) * | 1995-04-28 | 1996-08-27 | Motorola, Inc. | Circuits and method for reducing voltage error when charging and discharging a capacitor through a transmission gate |
JP2001273786A (en) * | 2000-03-29 | 2001-10-05 | Kawasaki Steel Corp | Sample-and-hold circuit |
KR100416589B1 (en) * | 2001-01-06 | 2004-02-05 | 삼성전자주식회사 | Charge pump circuit for improving switching characteristics and reducing leakage current and phase locked loop having the same |
-
2002
- 2002-12-10 DE DE2002157680 patent/DE10257680A1/en not_active Ceased
-
2003
- 2003-12-09 WO PCT/DE2003/004049 patent/WO2004053887A1/en not_active Application Discontinuation
- 2003-12-09 AU AU2003296519A patent/AU2003296519A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5289062A (en) * | 1991-03-18 | 1994-02-22 | Quality Semiconductor, Inc. | Fast transmission gate switch |
US5517150A (en) * | 1991-10-01 | 1996-05-14 | Nec Corporation | Analog switch formed of thin film transistor and having reduced leakage current |
US6169419B1 (en) * | 1998-09-10 | 2001-01-02 | Intel Corporation | Method and apparatus for reducing standby leakage current using a transistor stack effect |
US6160432A (en) * | 1999-04-30 | 2000-12-12 | Conexant Systems, Inc. | Source-switched or gate-switched charge pump having cascoded output |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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AU2003296519A1 (en) | 2004-06-30 |
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