DE10257423A1 - Mikroskop - Google Patents

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Sebastian Enders
Jan Huisken
Steffen Lindek
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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, bei dem eine Schicht der Probe durch einen dünnen Lichtstreifen (11) beleuchtet wird und die Beobachtung senkrecht zu der Ebene des Lichtstreifens erfolgt. Die Dicke des Lichtstreifens (11) bestimmt somit wesentlich die Schärfentiefe des Systems. Für die Bildaufnahme wird das Objekt (4) durch den bezüglich des Detektors feststehenden Lichtstreifen (11) bewegt, und Fluoreszenz- oder/und Streulicht wird mit einem flächigen Detektor aufgenommen. Stark absorbierende oder stark streuende Objekte (4) werden aus mehreren Raumrichtungen beobachtet. Die dreidimensionalen Aufnahmen, die aus jeder Richtung gemacht werden, können nachträglich zu einer Aufnahme kombiniert werden, in der die Daten entsprechend ihrer Auflösung gewichtet werden. Die Auflösung der kombinierten Aufnahme wird dann durch die laterale Auflösung der einzelnen Aufnahmen dominiert.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskop gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
  • Im Gegensatz zu der Arbeit an einzelnen Zellen sind lichtmikroskopische Untersuchungen an Embryonen und anderen entwicklungsbiologischen Proben mit den besonderen Problemen der Absorption und des Auflösungsverlustes behaftet. Zum Beispiel können biologische Fragestellungen im Zusammenhang mit Genexpressionsmustern in sich entwickelnden Organismen derzeit nur schwer mit lichtmikroskopischen Bildgebungsverfahren beantwortet werden, da diese oft zu langsam, zu gering auflösend oder technisch komplex sind oder vom freien Arbeitsabstand oder von der Probenhalterung her eine Beobachtung von millimetergroßen Objekten nicht gestatten. Eine akzeptable Lösung muß die Handhabung großer Proben und eine schnelle, hochauflösende Aufnahme der Daten erlauben und dabei technisch möglichst einfach zu realisieren sein.
  • Aus der wissenschaftlichen Literatur ist ein Mikroskop für die ozeanographische Forschung bekannt, das dadurch gekennzeichnet ist, dass es mit einem Laser eine Beleuchtungslichtebene in einer Probenkammer erzeugt und senkrecht zu dieser Ebene mit einer Kamera die in der Beleuchtungslichtebene erzeugten Fluoreszenzsignale detektiert [E. Fuchs et al., Opt. Express 10, 145 (2002)]. Dieses Mikroskop ähnelt dem Ultramikroskop von H. Siedentopf und R. Zsigmondy [Ann. Phys. 10(4), 1 (1903)] und wird für die Detektion einzelner freischwimmender Partikel wie Bakterien eingesetzt. Es ist nicht dafür geeignet, millimetergroße, beispielsweise entwicklungsbiologische Proben aufzunehmen, da eine Küvette als Probenhalter dient. Ebenso ist es nicht für dreidimensionale Aufnahmen geeignet, da es über keine Möglichkeit verfügt, die Probe relativ zur Beleuchtungslichtebene zu bewegen.
  • Aus der DE 19720513 A1 bzw. der US 5,903,781 sowie aus der wissenschaftlichen Literatur [D. Huber et al., J. Microsc. 202, 208 (2001)] ist ein Instrument für die dreidimensionale Makrographie bekannt, bei dem eine Anordnung zur Erzeugung von Lichtebenen für die photographische Erfassung von Objekten eingesetzt wird. Dabei wird ein Objekt durch eine Beleuchtungsebene bewegt und das reflektierte und gestreute Licht mit einer Kamera detektiert. Dieses Gerät dient dazu, dreidimensionale Rekonstruktionen von zentimetergroßen Objekten anzufertigen. Es ist aber nicht für die Verwendung von Fluorezenzsignalen und auch nicht für die hochaufgelöste Wiedergabe der Objekte geeignet. Es wird eine Spaltfigurblende in Verbindung mit einer Spiegelanordnung für die Erzeugung der Lichtebenen eingesetzt. Durch den Einsatz eines nur linear beweglichen Probentischs kann die Probe nicht gedreht werden, so dass keine Beobachtung der Probe von mehreren Seiten möglich ist.
  • Ferner sind aus der technisch-wissenschaftlichen Literatur Aufbaue für optische Tomographie bekannt. Die optische Projektionstomographie wird beispielsweise in der Genexpressionsanalyse eingesetzt [J. Sharpe et al., Science 296, 541 (2002)]. Dabei handelt es sich um ein System, in dem Projektionen biologischer Proben aufgezeichnet werden, wobei die Probe um eine Achse senkrecht zur Detektionsrichtung gedreht wird. Da die Probe nicht senkrecht zur Detektionsachse durch eine Beleuchtungslichtebene selektiv beleuchtet wird, hat das Mikroskop im Gegensatz zum erfindungsgemäßen Mikroskop eine sehr große Schärfentiefe, durch den ein großer Teil der Probe erfaßt wird. Daher bietet das Mikroskop nicht die Möglichkeit, die Probe längs der Detektionsachse zu bewegen, um ein dreidimensionales Bild aufzunehmen. Ein dreidimensionales Bild der Probe mit räumlicher Auflösung ist somit nur durch die Rekonstruktion anhand der Projektionen möglich.
  • Aus der DE 43 26 473 C2 ist ein konfokales Theta-Mikroskop bekannt, das dadurch gekennzeichnet ist, dass es ein erstes Objektiv zur Punktbeleuchtung und ein zweites Objektiv zur Abbildung des Objektlichts auf einen Punktdetektor verwendet, wobei die Detektionsrichtung annähernd senkrecht auf der Beleuchtungsrichtung steht. Dadurch ist der konfokale Überlagerungsbereich des Beleuchtungsvolumens mit dem Detektionsvolumen besonders klein und das Mikroskop erreicht eine fast isotrope Auflösung, deren Größenordnung der lateralen Auflösung eines konfokalen Mikroskops entspricht.
  • Dieses Theta-Mikroskop ist jedoch konfokal arrangiert, was hohe Anforderungen an die relative Justierung des Beleuchtungs- und des Detektionsbrennpunkts stellt. Außerdem ist es trotz eines großen Arbeitsabstands nicht ohne weiteres in der Lage, Aufnahmen von großen Objekten zu machen. Dies liegt daran, dass das Objekt im Theta-Mikroskop bei der Objektrasterung nicht genug Bewegungsfreiheit hat und dass es wegen der Punktdetektion in drei Richtungen gerastert werden muß, wodurch eine Aufnahme sehr lange dauert. Das Beleuchtungslicht wird zu einem Beleuchtungspunkt fokussiert.
  • Die der vorliegenden Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, ein Mikroskop vorzuschlagen, das für die hochauflösende dreidimensionale Beobachtung von millimetergroßen biologischen Objekten geeignet ist, wobei eine schnelle Aufnahme der Daten möglich ist und der Aufbau technisch möglichst einfach zu realisieren ist.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch das im Anspruch 1 angegebene Mikroskop gelöst. Die Probe wird durch einen dünnen Lichtstreifen beleuchtet und die Beobachtung erfolgt senkrecht zu diesem Objektbeleuchtungsbereich, der eine flächenartige Ausdehnung hat. Die Dicke des Beleuchtungslichtstreifens bestimmt somit zu wesentlichen Teilen die Schärfentiefe des Systems. Für die Bildaufnahme wird das Objekt durch den raumfesten Lichtstreifen bewegt, und Fluoreszenz- oder/und Streulicht werden in jeder Position der Rasterbewegung mit einem flächigen Detektor aufgenommen. Da das Objekt in der bevorzugten Ausführungsform rotiert werden kann, ist es möglich, solche dreidimensionalen Aufnahmen von mehreren Seiten zu machen und sie zu einer einzigen dreidimensionalen Aufnahme zu kombinieren, deren Auflösung nur noch durch die laterale Auflösung der einzelnen Aufnahmen bestimmt wird. Die hohe Auflösung dieser Aufnahme ist das Ergebnis der fokussierten Beleuchtung, der senkrechten Detektion, der Bewegung des Objekts und der Kombination der einzelnen Aufnahmen durch Bildverarbeitung.
  • Das erfindungsgemäße Mikroskop verfügt über einen Beleuchtungslichtpfad und einen Detektionslichtpfad, die im Objektbeleuchtungsbereich vorzugsweise orthogonal zueinander stehen, wodurch die Detektionsrichtung senkrecht auf der Beleuchtungslichtebene steht. Jedoch werden die Vorteile der Erfindung in ausreichendem Maße auch dann noch erzielt, wenn der Winkel zwischen der Beleuchtungs- und der Detektionsrichtung bzw. zwischen der Beleuchtungslichtebene und der Detektionsrichtung in nicht zu großem Maße von einem rechten Winkel abweicht.
  • Vorteilhafterweise wird als Lichtquelle ein Laser eingesetzt, der die selektive Anregung von Fluoreszenzemission in der Probe ermöglicht. Zum Fokussieren des Beleuchtungslichts zu einem dünnen Streifen wird vorzugsweise eine Zylinderlinse verwendet, es kann aber auch ein anderes fokussierendes Element (beispielsweise ein holographisches Element oder eine konische Linse (Axicon) oder eine Phasenplatte oder andere Elemente zur Erzeugung eines Bessel-Strahls) eingesetzt werden.
  • Das detektierte Licht ist vorzugsweise Fluoreszenzlicht. Möglich ist aber auch die Detektion von Streulicht. Das Detektionslicht wird vorzugsweise mit einem telezentrischen System aus zwei Objektiven auf den Detektor abgebildet. Geeignet sind aber auch andere optische Baugruppen.
  • Die Detektion erfolgt vorzugsweise mit einem flächigen Detektor, der das ganze Feld detektiert, beispielsweise einer CCD-Kamera. Durch die Verwendung eines solchen Detektors ist eine schnelle Bildaufnahme möglich, und die Bewegung der Probe für eine dreidimensionale Aufnahme ist auf eine Richtung (nämlich längs der Detektionsachse) beschränkt. Die Auflösung des Systems wird durch die laterale Auflösung der Detektionsoptik bestimmt.
  • Da die Fläche der derzeit verfügbaren Detektoren im allgemeinen nicht ausreicht um eine vollständige, hochaufgelöste Aufnahme von mehreren Millimeter großen Objekten zu gewährleisten, besteht in einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Mikroskops die Möglichkeit, den Detektor in der Detektionsebene, also im Wesentlichen seitlich zur Detektionsrichtung, zu bewegen, um Bilder von Teilen des Objekts aufzunehmen, die zu einem Bild des gesamten Objekts zusammengesetzt werden können.
  • In einem einfachen, bevorzugten Aufbau werden keine optischen Elemente zur Führung der Strahlengänge verwendet. Es können aber beispielsweise Spiegel, dichroitische Spiegel, Strahlteiler oder optische Fasern für die Führung der Strahlengänge eingesetzt werden. Da in dem erfindungsgemäßen Mikroskop die Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengänge getrennt sind, kann auf den in anderen Fluoreszenzmikroskopen üblichen Einsatz passiver Bauteile wie dichroitischer Spiegel oder aktiver, beispielsweise akusto-optischer Bauteile, für die Trennung von Beleuchtungs- und Fluoreszenzlicht verzichtet werden.
  • Es besteht die Möglichkeit, den Aufbau zum Beispiel durch einen weiteren Beleuchtungslichtpfad zu ergänzen, dessen Licht zu einem Streifen bzw. Objektbeleuchtungsbereich fokussiert wird, der vorzugsweise in der gleichen Ebene wie der Objektbeleuchtungsbereich des ersten Beleuchtungslichtpfads liegt, so dass eine bessere Ausleuchtung der Probe erreicht wird. Das Licht für diesen weiteren Beleuchtungslichtpfad kann aus derselben Lichtquelle kommen. Vorteilhafterweise wird die Probe hierbei aus zwei gegenüberliegenden Richtungen beleuchtet. Im Gegensatz zu der 4Pi-konfokalen Mikroskopie [S. Hell und E.H.K. Stelzer, J. Opt. Soc. Am. A 9, 2159 (1992)] ist der Justieraufwand in dem erfindungsgemäßen Mikroskop gering, denn es müssen zwei nur mehrere Mikrometer dicke Lichtstreifen überlagert werden. Außerdem muß die Phase der Strahlen nicht berücksichtigt werden.
  • Das erfindungsgemäße Mikroskop kann aber auch als nicht-konfokales 4Pi-Theta-Mikroskop betrieben werden. Hierbei wird die Probe wie in einem 4Pi(A)-konfokalen Mikroskop aus zwei entgegengesetzten Richtungen kohärent beleuchtet, so dass längs dieser Beleuchtungsachse ein Interferenzmuster auftritt, das die Intensität in der Beleuchtungslichtebene räumlich moduliert. Dadurch wird das Beleuchtungsvolumen halbiert, und durch ein Verschieben des Interferenzmusters (durch eine Verstellung der Phasendifferenz zwischen den Strahlen) ist es möglich, sich ergänzende Bereiche der Probe zu beleuchten, so dass ein Bild mit erhöhter Auflösung längs der Beleuchtungsachse rekonstruiert werden kann.
  • Es ist zwar möglich, die Probe in dem erfindungsgemäßen Mikroskop auf einen Probentisch zu legen oder in Luft zu halten, jedoch wird die Probe vorzugsweise durch eine Halterung von oben in einer wassergefüllten Probenkammer gehalten und kann um die senkrechte, also in Schwerkraftrichtung liegende Achse gedreht werden. Dies hat den Vorteil, dass bei der Drehung der Probe für eine Aufnahme aus einer anderen Richtung keine Veränderung der auf die Probe wirkende Schwerkraft erfolgt und sie sich nicht verformt. Vorteilhafterweise wird bei einer solchen Drehung der Probe in der Probenkammer die Probenkammer nicht bewegt, so dass sich die optischen Weglängen (abgesehen von Unterschieden durch den Brechungsindex in der Probe selbst) während des Bewegungsvorgangs nicht ändern. Dies führt zu einer besseren Bildqualität. Vorteilhafterweise kann die auf diese Art gehaltene Probe so ausgerichtet werden, dass der Einfluß von stark streuenden oder absorbierenden Teilen der Probe bei der Bildaufnahme minimiert wird.
  • Es ist in einer weiteren Ausführungsform des erfindungsgemäßen Mikroskops auch möglich, die Beleuchtungs- und Detektionspfade um das raumfeste zu untersuchende Objekt zu drehen. Dann muß jedoch die Probe bzw. das Objekt im allgemeinen nachgeführt werden, um in weiteren Aufnahmen abgebildet zu werden.
  • Das zu untersuchende Objekt befindet sich bei einer Aufnahme in dem flächenartigen Objektbeleuchtungsbereich, wobei das Objekt wesentlich größer als die Dicke dieses Bereichs ist. Eine zweidimensionale Aufnahme der sich in diesem Bereich befindlichen Teile des Objekts erfolgt durch den flächigen Detektor. Eine dreidimensionale Aufnahme des Objekts erfolgt durch Rasterung des Objekts in Detektionsrichtung durch den raumfesten Beleuchtungsbereich (oder durch Rasterung des Beleuchtungsbereichs durch das Objekt), wobei in jeder Position des Objekts ein zweidimensionales Bild aufgenommen wird. Die Synchronisation von Bewegung, Beleuchtung und Detektion wird vorteilhafterweise optimiert, um die Probenbelastung zu minimieren.
  • Vorzugsweise wird die Drehung des Objekts (ebenso wie die lineare Rasterbewegung) elektronisch gesteuert, so dass die Aufnahme mehrerer Bilder aus verschiedenen Winkeln automatisiert werden kann und die Geschwindigkeit der Probenuntersuchung erhöht wird. Die Anzahl der Bilder und die Drehwinkel der Probe, die für eine Gesamtaufnahme mit einer bestimmten räumlichen Auflösung notwendig sind, können zugunsten einer kurzen Probenuntersuchungszeit und damit einer geringen Probenbelastung optimiert werden.
  • Vorteilhafterweise kann das zu untersuchende Objekt auch um die Beleuchtungsachse gekippt werden, so dass es noch aus zusätzlichen Richtungen beobachtet werden kann. In einer weiteren Ausführungsform des erfindungsgemäßen Mikroskops ist ein zweiter Detektionslichtpfad vorhanden, der die Detektion des nach unten emittierten Lichts erlaubt. Wird dann der Objektbeleuchtungsbereich um 90 Grad um die Beleuchtungsachse gedreht (beispielsweise durch die Drehung der Zylinderlinse), so kann die Probe horizontal optisch geschnitten werden (und durch eine vertikale Rasterbewegung kann eine dreidimensionale Aufnahme erzeugt werden).
  • Vorteilhafterweise kann in dem erfindungsgemäßen Mikroskop die Zylinderlinse vorzugsweise hochfrequent bewegt werden, beispielsweise im Beleuchtungslichtpfad hochfrequent längs der Zylinderachse und/oder der Beleuchtungsachse bewegt werden oder/und die Zylinderachse hochfrequent in Richtung der Beleuchtungsachse geneigt werden, so dass der Einfluß von Verschmutzungen auf der Zylinderlinse weniger stark ist und die Probe gleichmäßiger ausgeleuchtet wird.
  • Vorteilhafterweise kann die Halterung vieler biologischer Proben einfach durch Einbetten in ein Gel (ca. 99% Wasser) realisiert werden.
  • Die durch Drehung des zu untersuchenden Objekts realisierten Aufnahmen aus verschiedenen Richtungen erlauben eine dreidimensionale Rekonstruktion desselben durch die Kombination der einzelnen dreidimensionalen Rohdatensätze. Da bei der bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Mikroskops nur ein Teil der Probe optimal abgebildet werden (im allgemeinen die beiden Oktanten, die innerhalb des rechten Winkels zwischen Beleuchtungs- und Detektionsachse liegen), sind mindestens vier Aufnahmen für eine gute Rekonstruktion notwendig. Diese Aufnahmen lassen sich so kombinieren, dass die Rekonstruktion eine höhere Auflösung bietet als die einzelnen Aufnahmen. Die Qualität des rekonstruierten Bilds läßt sich durch Aufnahmen entlang weiterer Winkel verbessern, so dass die toten Winkel der gemeinsamen optischen Übertragungsfunktion aufgefüllt werden.
  • Durch die Verwendung von Objektiven mit langen Brennweiten steht ein Arbeitsabstand von mehreren Millimetern zur Verfügung. Die Größe des Objekts wird dadurch in erster Linie durch ihre Lichtdurchlässigkeit begrenzt: Sofern man das Objekt vollständig (und nicht nur die Randschichten) untersuchen will, muß hinreichend Licht aus jedem Teil von ihm in der einen oder anderen Orientierung den Detektor erreichen.
  • Die Erfindung wird nachstehend anhand der beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 die schematische Darstellung des Strahlengangs in einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Mikroskops, wobei ein einziger Beleuchtungsstrahlengang und ein einziger Detektionsstrahlengang vorhanden sind, betrachtet in Blickrichtung I der 2;
  • 2 die in 1 dargestellte Ausführungsform in Blickrichtung II in 1;
  • 3 eine Prinzipdarstellung des Beleuchtungsstrahlengangs, der von einer Zylinderlinse ausgeht und einen Objektbeleuchtungsbereich im Bereich einer Fokuslinie bildet;
  • 4 eine Draufsicht auf den Strahlengang der 3 in Blickrichtung IV in 3;
  • 5 die schematische Darstellung des Strahlengangs in einer weiteren Ausführungsform des erfindungsgemäßen Mikroskops, wobei zwei Beleuchtungsstrahlengänge vorhanden sind;
  • 6 eine weitere Prinzipdarstellung eines erfindungsgemäßen Mikroskops.
  • Die 1 zeigt eine Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Mikroskops 100. Der Aufbau umfasst eine Lichtquelle 1, deren kollimierter Lichtstrahl 2 durch eine Zylinderlinse 3 in die Probe 4 fokussiert wird. Dabei entsteht ein dünner vertikaler Lichtstreifen 11, durch den in der Probe 4 Fluoreszenzemission induziert werden kann. Das emittierte Licht 5 wird durch eine Detektionsoptik 6 auf den flächigen Detektor 8, beispielsweise eine CCD-Kamera abgebildet.
  • Durch die rechtwinklige Anordnung (= 90 Grad) von Beleuchtungs- 9 und Detektionsrichtung 10 ist der Aufbau besonders einfach. Insbesondere kann auf den Einsatz dichroitischer Spiegel für die Trennung von Beleuchtungs- und Fluoreszenzlicht im Detektionsstrahlengang 5 verzichtet werden. Die Filter 7 im Beleuchtungs- 2 und im Detektionsstrahlengang 5 sind Glasfilter oder akusto-/elektro-/magneto-optische Filter und erlauben die selektive Auswahl von Wellenlängen für die Beleuchtung und die Detektion.
  • Die Probe 4 wird durch eine Halterung 12 in einer Probekammer 13 gehalten und für die Bildaufnahme in Detektionsrichtung 10 durch die raumfeste Lichtebene 11 bewegt. Die Halterung 12 erlaubt außerdem die Drehung der Probe 4 um ihre senkrechte Achse 14, so dass die Probe 4 von mehreren Seiten beleuchtet und beobachtet werden kann.
  • Die 3 und 4 zeigen in prinzipieller Art und Weise den vorangehend angesprochenen und unter Einsatz der Zylinderlinse 3 erzeugten Beleuchtungsstrahlengang 2. Durch die Zylinderlinse 3, deren Brennweite vorzugsweise im Bereich zwischen 10 mm und 100 mm liegen kann, wird das von der Lichtquelle 1 emittierte Licht unter einem vergleichsweise kleinen Winkel α fokussiert. Es entsteht im Bereich einer Fokuslinie L somit ein in der 3 strichliert eingezeichneter Objektbeleuchtungsbereich 20, der näherungsweise eine flächenartige bzw. ebenenartige Struktur bzw. Ausdehnung hat und beiderseits der Fokuslinie durch Zylinderabschnitte gebil det ist. Bei einer in Richtung der Beleuchtungsachse bzw. Beleuchtungsrichtung gemessenen Abmessung a dieses Objektbeleuchtungsbereichs 20 von etwa 5 mm und einer Dickenabmessung des Beleuchtungsstrahlengangs 2 im Bereich der Fokuslinie b von etwa 20 μm ergibt sich an den in Beleuchtungsrichtung gelegenen Endbereichen 22, 24 des Objektbeleuchtungsbereichs 20 eine Dickenabmessung c von näherungsweise 60 μm, was natürlich abhängt von der für die Zylinderlinse 3 vorgegebene numerische Apertur. Über den gesamten Objektbeleuchtungsbereich 20 hinweg ist also eine – bezogen auf die Abmessung der zu untersuchenden Objekte – vernachlässigbare Variation der Dicke des Objektbeleuchtungsbereichs 20 im Beleuchtungsstrahlengang 2 vorhanden, so dass insbesondere auch unter Berücksichtigung der Abmessungen der zu untersuchenden Objekte hier von einer in erster Näherung konstanten Dicke des Objektbeleuchtungsbereichs und somit einer flächenartigen bzw. ebenenartigen Struktur desselben ausgegangen werden kann.
  • In der 5 ist eine abgewandelte Ausgestaltungsform des Mikroskops 100 dargestellt, bei welcher zwei Beleuchtungsstrahlengänge 2, 2' vorhanden sind. Im dargestellten Falle weist jeder dieser beiden Beleuchtungsstrahlengänge 2, 2', die einander entgegengesetzt gerichtete Beleuchtungsrichtungen, jedoch einanderentsprechende Beleuchtungsachsen aufweisen, jeweils eine Zylinderlinse 3, 3' mit ggf. zugeordnetem Filter 7, 7' sowie eine Lichtquelle 1, 1' auf. Bei einer Abwandlung dieser Ausgestaltungsform kann weiter vorgesehen sein, dass nur eine einzige Lichtquelle vorgesehen ist. Dabei entsteht durch Überlagerung der beiden Objektbeleuchtungsbereiche dieser Beleuchtungsstrahlengänge 2, 2', welche Objektbeleuchtungsbereiche vorangehend mit Bezug auf die 3 und 4 detaillierter geschildert worden sind, ein dünner vertikaler Lichtstreifen, der im Vergleich zu dem Lichtstreifen in der in 1 dargestellten Ausführungsform homogener ist. Das emittierte Licht 5 wird durch eine Detektionsoptik 6 auf den flächigen Detektor 8 abgebildet. Diese Ausführungsform des erfindungsgemäßen Mikroskops eignet sich besonders für absorbierende Pro ben, bei denen mit einer einseitigen Beleuchtung nicht die gesamte Probe beleuchtet werden kann.
  • Bei dieser Ausgestaltungsform besteht die Möglichkeit, die beiden Beleuchtungsstrahlengänge 2, 2' bzw. die Lichtstrahlen derselben durch definierte Einstellung der Phasenlage dieser Lichtstrahlen zueinander dort, wo die beiden Objektbeleuchtungsbereiche dieser beiden Beleuchtungsstrahlengänge 2, 2' einander überlagert sind, gezielt zur Interferenz zu bringen. Auf diese Art und Weise wird es möglich, in demjenigen Bereich, in dem das zu untersuchende Objekt bzw. Probe 4 zu beleuchten ist, durch destruktive Interferenz bestimmte Abschnitte auszublenden bzw. durch konstruktive Interferenz bestimmte Bereiche hervorzuheben, wodurch die Auflösung des Gesamtsystems weiter verbessert werden kann.
  • In 6 ist eine weitere Abwandlung des erfindungsgemäßen Mikroskops 100 angedeutet. Durch den Pfeil P wird angedeutet, dass die dort gezeigte Zylinderlinse 3 um die Beleuchtungsachse des Beleuchtungsstrahlengangs 2 gedreht werden kann, beispielsweise um 90°. Damit dreht sich auch der Objektbeleuchtungsbereich 20 dieses Beleuchtungsstrahlengangs 2, so dass er ausgehend von der in 2 gezeigten Orientierung, in welcher er im Wesentlichen in der Zeichenebene liegt, um 90° gedreht ist und dann senkrecht zur Zeichenebene steht. Auf diese Art und Weise wird es möglich, das zu untersuchende Objekt 4 aus einer anderen Richtung zu betrachten, nämlich der in der Darstellung der 2 unter diesem Objekt 4 liegenden Richtung. Es kann also ein weiterer Detektionsstrahlengang 5' vorgesehen sein, bei welchem dann bezüglich des in der 1 erkennbaren Detektionsstrahlengangs 5 das zu untersuchende Objekt 4 unter einem Winkel von 90° betrachtet werden kann, ohne dass dieses Objekt 4 selbst gedreht worden wäre.
  • Bei einem derartigen System ist es beispielsweise möglich, unter Einsatz von Spiegeln 60 und eines Kippspiegels 26 verschiedene Detektionsstrah lengänge 5, 5' wahlweise, je nach Stellung des Kippspiegels 26 zu ein und demselben Detektor 8 bzw. ein und demselben optischen System mit Objektiven 6 zu leiten. In Zuordnung zur Drehstellung der Zylinderlinse 3 wird also dann der Kippspiegel 26 entsprechend umgeschaltet. Selbstverständlich ist es möglich, zwei Detektionsstrahlengänge 5, 5' mit jeweils zugeordneter Objektivanordnung und Detektor voneinander unabhängig und beispielsweise unter einem Winkel von 90° vorzusehen. Weiter ist es möglich, zumindest eines dieser Systeme dann bewegbar zu gestalten, so dass es zusammen mit der Zylinderlinse 3 um die Beleuchtungsachse des Beleuchtungsstrahlengangs 2 in 2 gedreht werden kann, so dass bei gleichzeitiger Drehung der Zylinderlinse 3 und dieses Detektionsstrahlengangs dann eine Rundumaufnahme des zu untersuchenden Objekts 4 erzeugt werden kann, ohne dass dieses Objekt selbst bewegt worden wäre.
  • Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, bei dem eine Schicht der Probe durch einen dünnen Lichtstreifen 11 beleuchtet wird und die Beobachtung senkrecht zu der Ebene des Lichtstreifens erfolgt. Die Dicke des Lichtstreifens 11 bestimmt somit wesentlich die Schärfentiefe des Systems. Für die Bildaufnahme wird das Objekt 4 durch den bezüglich des Detektors feststehenden Lichtstreifen 11 bewegt, und Fluoreszenz- oder/und Streulicht wird mit einem flächigen Detektor aufgenommen. Stark absorbierende oder stark streuende Objekte 4 werden aus mehreren Raumrichtungen beobachtet. Die dreidimensionalen Aufnahmen, die aus jeder Richtung gemacht werden, können nachträglich zu einer Aufnahme kombiniert werden, in der die Daten entsprechend ihrer Auflösung gewichtet werden. Die Auflösung der kombinierten Aufnahme wird dann durch die laterale Auflösung der einzelnen Aufnahmen dominiert.

Claims (15)

  1. Mikroskop mit wenigstens einem Beleuchtungsstrahlengang (2; 2, 2') und wenigstens einem Detektionsstrahlengang (5), dadurch gekennzeichnet, – dass bei jedem Beleuchtungsstrahlengang (2; 2, 2') eine Fokussieranordnung (3; 3, 3') vorgesehen ist zur Erzeugung eines in Richtung einer Beleuchtungsachse des Beleuchtungsstrahlengangs (2; 2, 2') und quer dazu ausgedehnten flächenartigen Objektbeleuchtungsbereichs (20), – dass eine Detektionsrichtung (10) des wenigstens einen Detektionsstrahlengangs (5) näherungsweise orthogonal zu dem flächenartigen Objektbeleuchtungsbereich (20) steht, und – dass eine Bewegungsanordnung (12) vorgesehen ist zur Erzeugung einer Relativbewegung zwischen dem flächenartigen Objektbeleuchtungsbereich (20) und einem zu untersuchenden Objekt (4).
  2. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass durch die Bewegungsanordnung (12) eine Drehbewegung des Objekts (4) oder/und eine Verschiebebewegung des Objekts (4) erzeugbar ist.
  3. Mikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Bewegungsanordnung (12) dazu ausgebildet ist, bei im Wesentlichen feststehendem flächenartigen Objektbeleuchtungsbereich (20) das Objekt (4) zu bewegen.
  4. Mikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Bewegungsanordnung dazu ausgebildet ist, bei im Wesentlichen feststehendem Objekt (4) den flächenartigen Objektbeleuchtungsbereich (20) zu bewegen.
  5. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der wenigstens eine Beleuchtungsstrahlungsgang (2; 2, 2') eine Zylinderlinse (3; 3, 3) zum Fokussieren des Beleuchtungslichts aufweist.
  6. Mikroskop nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Zylinderlinse (3; 3, 3') um die Beleuchtungsachse drehbar ist oder/und in Richtung der Beleuchtungs- oder/und der Zylinderachse verschiebbar ist oder/und mit der Zylinderachse bezüglich der Beleuchtungsachse kippbar ist.
  7. Mikroskop nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Bewegung der Zylinderlinse (3; 3, 3') eine hochfrequente Bewegung ist.
  8. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass Streulicht oder Fluoreszenzlicht einer oder mehrerer Wellenlängen verwendet wird.
  9. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle (1; 1, 1') eine Lampe oder ein Laser ist, die Licht einer oder mehrerer Wellenlängen zur Verfügung stellen.
  10. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das Objekt (4) durch eine Halterung (12) in einer Probenkammer (13) zu halten ist und darin um eine im Wesentlichen einer Schwerkraftrichtung entsprechende Achse (14) drehbar und entlang mindestens einer Richtung bewegbar ist.
  11. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens zwei Beleuchtungsstrahlengänge (2, 2') mit im Wesentlichen entgegengesetzter Beleuchtungsrichtung vorgesehen sind zur Erzeugung sich wenigstens bereichsweise überlappender flächenartiger Objektbeleuchtungsbereiche (20).
  12. Mikroskop nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass das Beleuchtungslicht der beiden Beleuchtungsstrahlengänge (2, 2') in Richtung der Beleuchtungsachse im Bereich des flächenartigen Objektbeleuchtungsbereichs (20) wenigstens bereichsweise interferiert.
  13. Mikroskop nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass das Beleuchtungslicht der beiden Beleuchtungsstrahlengänge (2, 2') eine konstante, einstellbare Phase aufweist.
  14. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass der wenigstens eine Detektionsstrahlengang (5) einen Detektor aufweist und dass der Detektor seitlich bezüglich der Detektionsrichtung des wenigstens einen Detektionsstrahlengangs (5) bewegbar ist.
  15. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass der wenigstens eine Detektionsstrahlengang (5; 5') derart anpassbar ist, dass die Detektionsrichtung bei Verlagerung des Objektbeleuchtungsbereichs (20) näherungsweise orthogonal zu dem flächenartigen Objektbeleuchtungsbereich (20) liegt.
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JP2004557847A JP5259916B2 (ja) 2002-12-09 2003-06-06 照明方向に対して垂直な観察方向を有する顕微鏡
EP03732549A EP1576404B1 (de) 2002-12-09 2003-06-06 Mikroskop mit beobachtungsrichtung senkrecht zur beleuchtungsrichtung
EP09163734.8A EP2107408B1 (de) 2002-12-09 2003-06-06 Mikroskop mit der Beobachtungsrichtung senkrecht zur Beleuchtungsrichtung
US11/592,331 US8970950B2 (en) 2002-12-09 2006-11-03 Single plane illumination microscope
US12/468,517 US20090225413A1 (en) 2002-12-09 2009-05-19 Microscope with a viewing direction perpendicular to the illumination direction
AU2010200554A AU2010200554B2 (en) 2002-12-09 2010-02-15 Microscope with a viewing direction perpendicular to the illumination direction
JP2011158280A JP5738108B2 (ja) 2002-12-09 2011-07-19 顕微鏡
US13/746,597 US9857577B2 (en) 2002-12-09 2013-01-22 Microscope with a viewing direction perpendicular to the illumination direction
US14/612,541 US9823455B2 (en) 2002-12-09 2015-02-03 Single plane illumination microscope
US15/818,045 US11042015B2 (en) 2002-12-09 2017-11-20 Single plane illumination microscope
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US (7) US7554725B2 (de)
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DE (1) DE10257423A1 (de)
WO (1) WO2004053558A1 (de)

Cited By (67)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1944600A2 (de) 2005-07-22 2008-07-16 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Auflösungsgesteigerte Lumineszenz-Mikroskopie
EP1975669A2 (de) 2007-03-29 2008-10-01 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
DE102007015061A1 (de) 2007-03-29 2008-10-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Probenhalterung für ein Mikroskop
DE102007018862A1 (de) 2007-04-18 2008-10-23 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Objektivwechseleinrichtung für Mikroskope
DE102007020577A1 (de) 2007-04-26 2008-10-30 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Probenhalterung für ein Mikroskop
DE102007047461A1 (de) 2007-09-28 2009-04-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und optische Anordnung zur Untersuchung einer Probe
DE102007047464A1 (de) 2007-09-28 2009-04-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Optische Anordnung zur Photomanipulation
DE102007048409A1 (de) 2007-10-09 2009-04-16 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zum Positionieren von biologischen Proben in einer mikroskopischen Anordnung
DE102007063274A1 (de) 2007-12-20 2009-06-25 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Mikroskop
DE102008009216A1 (de) 2008-02-13 2009-08-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
DE102008018476A1 (de) 2008-04-11 2009-10-15 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskopievorrichtung
DE102008027784A1 (de) 2008-06-11 2009-12-17 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zum Positionieren einer Probe im Detektionsbereich eines Objektivs
DE102008035933A1 (de) 2008-07-31 2010-02-04 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Vorrichtung zum Halten und Positionieren einer Probe relativ zu einem Mikroskopobjektiv
WO2011036097A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
WO2011036095A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
WO2011036094A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
DE102009044986A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
EP2317362A1 (de) 2009-10-28 2011-05-04 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerter Auflösung
DE202012007891U1 (de) 2012-08-16 2012-11-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Probenkammer für die SPIM Mikroskopie
DE202011110077U1 (de) 2011-10-28 2012-11-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Anordnung zur Beleuchtung einer Probe
DE102012015861A1 (de) 2011-10-11 2013-04-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM-Mikroskopie
WO2013053454A1 (de) 2011-10-11 2013-04-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zur spim mikroskopie
EP2587295A1 (de) 2011-10-28 2013-05-01 Leica Microsystems CMS GmbH Verfahren und Anordnung zur Beleuchtung einer Probe
WO2014005682A2 (de) 2012-07-02 2014-01-09 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zur spim mikroskopie
WO2014026683A1 (de) 2012-08-16 2014-02-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische anordnung und ein mikroskop
DE102012019466A1 (de) 2012-09-28 2014-04-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
DE102012020240A1 (de) 2012-10-12 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
DE102012218920A1 (de) 2012-10-17 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur Beleuchtung einer Probe
DE102012016347A1 (de) 2012-08-16 2014-05-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
DE102012024995A1 (de) 2012-12-20 2014-06-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
US8830563B2 (en) 2008-06-17 2014-09-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser scanning microscope having a laser diode comprising a light modulation device
DE102013213781A1 (de) 2013-03-20 2014-09-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und optische Anordnung zum Manipulieren und Abbilden einer mikroskopischen Probe
DE102013208872A1 (de) 2013-05-14 2014-11-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Erzeugung eines Bildes einer Probe
DE102013105586A1 (de) 2013-05-30 2014-12-04 Carl Zeiss Ag Vorrichtung zur Abbildung einer Probe
DE102013211426A1 (de) 2013-06-18 2014-12-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und optische Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben
DE102013106895A1 (de) * 2013-07-01 2015-01-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
DE102013107297A1 (de) 2013-07-10 2015-01-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102013107298A1 (de) 2013-07-10 2015-01-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102013112596A1 (de) 2013-11-15 2015-05-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102013112595A1 (de) 2013-11-15 2015-05-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102013112600A1 (de) 2013-11-15 2015-05-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optisches Übertragungssystem und Mikroskop mit einem solchen Übertragungssystem
DE102013021542A1 (de) 2013-12-18 2015-06-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
USRE45575E1 (en) 2007-03-29 2015-06-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optical arrangement for the production of a light-sheet
DE102014104977A1 (de) 2014-04-08 2015-10-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102014113827A1 (de) 2014-09-24 2016-03-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur Abbildung einer Probe
WO2016046384A1 (de) 2014-09-25 2016-03-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Spiegelvorrichtung
WO2016071033A1 (de) 2014-11-06 2016-05-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur erzeugung eines bildes einer probe
WO2016096303A1 (de) 2014-12-19 2016-06-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur lichtblattmikroskopischen untersuchung einer probe
WO2016146503A1 (de) 2015-03-16 2016-09-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und anordnung zur lichtblattmikroskopischen untersuchung einer probe
WO2016166374A1 (de) 2015-04-17 2016-10-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und vorrichtung zur spim-untersuchung einer probe
WO2017032805A1 (de) 2015-08-24 2017-03-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungsanordnung für ein lichtblatt-mikroskop
WO2017060506A1 (de) 2015-10-09 2017-04-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und vorrichtung zum untersuchen einer probe mit einer strukturiereten lichtblattbeleuchtung
WO2017220699A1 (de) 2016-06-23 2017-12-28 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungsvorrichtung für ein mikroskop
WO2018007469A2 (de) 2016-07-06 2018-01-11 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zum untersuchen einer probe sowie vorrichtung zum ausführen eines solchen verfahrens
DE102005027077B4 (de) * 2004-11-04 2018-02-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtscheibenmikroskop
DE102017119169A1 (de) 2016-08-22 2018-02-22 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur SPIM-Untersuchung einer Probe
WO2018077738A1 (de) 2016-10-28 2018-05-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtblattmikroskop
DE102017118691A1 (de) * 2017-08-16 2019-02-21 Georg-August-Universität Göttingen Stiftung Öffentlichen Rechts, Universitätsmedizin Verfahren zur Lichtblatt-mikroskopischen Untersuchung von insbesondere biologischen Proben und Lichtblatt-Mikroskop
DE102017122718A1 (de) 2017-09-29 2019-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung einer Vielzahl mikroskopischer Proben
US10459209B2 (en) 2016-04-08 2019-10-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and microscope for examining a sample
US10585271B2 (en) 2015-04-13 2020-03-10 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and device for examination of a sample
US11194149B2 (en) 2015-12-23 2021-12-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Method for examining a sample by means of light sheet microscopy, and light sheet microscope
DE102013002981B4 (de) 2013-02-20 2022-04-28 Hans-Ulrich Dodt 3D-Mikroskop
DE102020128524A1 (de) 2020-10-29 2022-05-05 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtblattmikroskop und Verfahren der Lichtblattmikroskopie
US11366299B2 (en) 2015-10-09 2022-06-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and lighting arrangement for illuminating a sample layer with a light sheet
DE102021104871A1 (de) 2021-03-01 2022-09-01 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe
DE102022125117A1 (de) 2022-09-29 2024-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtblattmikroskop

Families Citing this family (108)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1537445B1 (de) * 2002-09-05 2012-08-01 Nanosys, Inc. Nanozusammensetzungen
DE10257423A1 (de) * 2002-12-09 2004-06-24 Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) Mikroskop
US7532749B2 (en) * 2003-11-18 2009-05-12 Panasonic Corporation Light processing apparatus
JP2005259221A (ja) * 2004-03-10 2005-09-22 Pioneer Electronic Corp ホログラム再生装置、及び再生方法
JP4315256B2 (ja) * 2004-07-08 2009-08-19 パイオニア株式会社 ホログラム記録再生装置及び、ホログラム再生装置及び方法、並びにコンピュータプログラム
JP4664354B2 (ja) * 2005-03-03 2011-04-06 パイオニア株式会社 マーカ選択方法、マーカ選択装置、マーカ、ホログラム記録装置及び方法、ホログラム再生装置及び方法、並びにコンピュータプログラム
US7485875B2 (en) * 2005-07-22 2009-02-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Resolution-enhanced luminescence microscopy
JP2007114542A (ja) * 2005-10-21 2007-05-10 Olympus Corp 顕微鏡観察装置および顕微鏡観察方法
WO2007065711A1 (en) * 2005-12-09 2007-06-14 Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) Miscroscope specimen holder
US8421035B2 (en) * 2006-08-11 2013-04-16 The Regents Of The University Of California High-resolution microscope using optical amplification
DE102007017598A1 (de) * 2007-04-13 2008-10-16 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und Anordnung zum Positionieren eines Lichtblattes in der Fokusebene einer Detektionsoptik
US7729049B2 (en) 2007-05-26 2010-06-01 Zeta Instruments, Inc. 3-d optical microscope
US8184364B2 (en) * 2007-05-26 2012-05-22 Zeta Instruments, Inc. Illuminator for a 3-D optical microscope
DE102007045897A1 (de) 2007-09-26 2009-04-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur mikroskopischen dreidimensionalen Abbildung einer Probe
US9134521B2 (en) * 2008-07-30 2015-09-15 The Regents Of The University Of California Multidirectional selective plane illumination microscopy
GB0814039D0 (en) 2008-07-31 2008-09-10 Imp Innovations Ltd Optical arrangement for oblique plane microscopy
US9116353B2 (en) 2008-09-16 2015-08-25 Yokogawa Electric Corporation Microscope device
JP5311195B2 (ja) * 2008-09-16 2013-10-09 横河電機株式会社 顕微鏡装置
JP5190886B2 (ja) * 2008-12-11 2013-04-24 株式会社ブイ・テクノロジー 蛍光顕微鏡
SG164292A1 (en) * 2009-01-13 2010-09-29 Semiconductor Technologies & Instruments Pte System and method for inspecting a wafer
DE102009022912B4 (de) 2009-05-27 2016-11-17 Carl Zeiss Ag Korrelative optische und Teilchenstrahl-Mikroskopie
WO2011047053A2 (en) * 2009-10-13 2011-04-21 California Institute Of Technology Holographically illuminated imaging devices
US20110084217A1 (en) * 2009-10-13 2011-04-14 Intelligent Imaging Innovations, Inc. Supercontinuum laser source for full-field confocal microscopy, spim and tirf
WO2011059833A2 (en) * 2009-10-29 2011-05-19 California Institute Of Technology Dual-mode raster point scanning/light sheet illumination microscope
US8970671B2 (en) * 2010-02-23 2015-03-03 California Institute Of Technology Nondiffracting beam detection devices for three-dimensional imaging
SI2542145T1 (sl) * 2010-03-05 2021-01-29 The General Hospital Corporation Sistemi, ki zagotavljajo mikroskopske slike vsaj ene anatomske strukture pri določeni ločljivosti
DE102010013223B4 (de) * 2010-03-29 2016-05-12 Lavision Biotec Gmbh Verfahren und Anordnung zur Mikroskopie
US9389408B2 (en) 2010-07-23 2016-07-12 Zeta Instruments, Inc. 3D microscope and methods of measuring patterned substrates
WO2012027542A2 (en) * 2010-08-25 2012-03-01 California Institute Of Technology Simultaneous orthogonal light sheet microscopy and computed optical tomography
DE102010060121C5 (de) 2010-10-22 2023-09-28 Leica Microsystems Cms Gmbh SPIM-Mikroskop mit sequenziellem Lightsheet
DE102010044013A1 (de) * 2010-11-16 2012-05-16 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Tiefenauflösungsgesteigerte Mikroskopie
DE102010063412B4 (de) 2010-12-17 2013-06-06 Laser Zentrum Hannover E.V. Technik zur tomographischen Bilderfassung
US10908403B2 (en) * 2011-02-14 2021-02-02 European Molecular Biology Laboratory (Embl) Light-pad microscope for high-resolution 3D fluorescence imaging and 2D fluctuation spectroscopy
DE102011000835C5 (de) * 2011-02-21 2019-08-22 Leica Microsystems Cms Gmbh Abtastmikroskop und Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung eines Objektes
US9086536B2 (en) 2011-03-09 2015-07-21 California Institute Of Technology Talbot imaging devices and systems
US8946619B2 (en) 2011-04-20 2015-02-03 California Institute Of Technology Talbot-illuminated imaging devices, systems, and methods for focal plane tuning
JP5969701B2 (ja) 2012-06-11 2016-08-17 ヘルムホルツ ツェントルム ミュンヘン ドイチェス フォルシュンクスツェントルム フュア ゲスントハイト ウント ウンベルト ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 対象物を撮像するための撮像システムと方法
DE102012211462A1 (de) 2012-07-03 2014-01-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Vorbereitung und Durchführung der Aufnahme von Bildstapeln einer Probe aus verschiedenen Orientierungswinkeln
US9404869B2 (en) 2012-10-09 2016-08-02 Howard Hughes Medical Institute Multiview light-sheet microscopy
DE102012020241A1 (de) 2012-10-12 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Aufnahme einer Bildersequenz
DE102012020242A1 (de) 2012-10-12 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Aufnahme einer Bildersequenz
DE102012110077A1 (de) 2012-10-23 2014-06-26 Karlsruher Institut für Technologie Mikroskop mit mindestens einem Beleuchtungsstrahl in Form einer Lichtscheibe
JP6086366B2 (ja) 2013-04-05 2017-03-01 国立研究開発法人理化学研究所 顕微鏡、焦準器具、流体保持器具、及び光学ユニット
US9257260B2 (en) 2013-04-27 2016-02-09 Kla-Tencor Corporation Method and system for adaptively scanning a sample during electron beam inspection
WO2014178514A1 (ko) * 2013-04-29 2014-11-06 한국식품연구원 스캐닝 모듈, 베셀빔을 이용한 검출 장치, 검출용 프로브 및 프로브형 검출 장치
DE202013012727U1 (de) 2013-05-10 2018-11-28 European Molecular Biology Laboratory Mikroskopmodul zum Abbilden einer Probe
EP2801855B1 (de) 2013-05-10 2019-07-17 European Molecular Biology Laboratory Mikroskopmodul zur Abbildung einer Probe
US9581798B2 (en) 2013-07-22 2017-02-28 Fundacio Institut De Ciencies Fotoniques Light sheet-based imaging device with extended depth of field
DE102013110093B3 (de) * 2013-09-13 2015-01-22 Johann Wolfgang Goethe-Universität Küvette für eine inverse Fluoreszenz-Untersuchung
US10539772B2 (en) * 2013-10-09 2020-01-21 Howard Hughes Medical Institute Multiview light-sheet microscopy
DE102013226277A1 (de) * 2013-12-17 2015-06-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe mittels optischer Projektionstomografie
DE102013021222B4 (de) * 2013-12-17 2023-05-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Mikroskopieverfahren
JP2015135463A (ja) 2013-12-19 2015-07-27 オリンパス株式会社 顕微鏡装置、及び、顕微鏡システム
WO2015108846A1 (en) 2014-01-14 2015-07-23 Applied Scientific Instrumentation, Inc. Light sheet generator
ES2800680T3 (es) * 2014-08-13 2021-01-04 Daniel Summer Gareau Microscopio confocal multimodal de escaneo de línea y escaneo de muestras
ES2567379B1 (es) 2014-10-21 2017-02-03 Universidad Carlos Iii De Madrid Microscopio y procedimiento para la generación de imágenes 3D de una colección demuestras
JP2016090766A (ja) * 2014-11-04 2016-05-23 オリンパス株式会社 顕微鏡
US10007100B2 (en) 2014-11-04 2018-06-26 Olympus Corporation Light sheet illumination microscope and light sheet illumination method
US10181190B2 (en) 2014-11-04 2019-01-15 Olympus Corporation Microscope and microscope image acquisition method
FR3031196B1 (fr) 2014-12-29 2017-01-13 Karla Balaa Dispositif pour realiser de la microscopie a feuille de lumiere
WO2016125281A1 (ja) * 2015-02-05 2016-08-11 株式会社ニコン 構造化照明顕微鏡、観察方法、及び制御プログラム
US10222600B2 (en) 2015-02-23 2019-03-05 The Research Foundation For The State University Of New York Method and apparatus for tiling light sheet selective plane illumination microscopy with real-time optimized light sheet
CN104677871A (zh) * 2015-02-27 2015-06-03 中国科学院自动化研究所 多光子激发光片照明显微成像系统
JP6417262B2 (ja) 2015-04-15 2018-11-07 オリンパス株式会社 シート照明顕微鏡
US10989661B2 (en) * 2015-05-01 2021-04-27 The Board Of Regents Of The University Of Texas System Uniform and scalable light-sheets generated by extended focusing
JP6503221B2 (ja) * 2015-05-13 2019-04-17 オリンパス株式会社 3次元情報取得装置、及び、3次元情報取得方法
DE102015209758A1 (de) 2015-05-28 2016-12-01 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung und Verfahren zur Strahlformung und zur Lichtblattmikroskopie
DE102015209756A1 (de) 2015-05-28 2016-12-01 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung und Verfahren zur Lichtblattmikroskopie
JP6552881B2 (ja) * 2015-06-12 2019-07-31 オリンパス株式会社 顕微鏡および顕微鏡画像取得方法
JP6491578B2 (ja) * 2015-09-07 2019-03-27 オリンパス株式会社 シート照明顕微鏡システム、画像処理装置、シート照明顕微鏡法、及び、プログラム
JP6796917B2 (ja) 2015-09-18 2020-12-09 シスメックス株式会社 粒子撮像装置および粒子撮像方法
ITUB20153920A1 (it) 2015-09-28 2017-03-28 Milano Politecnico Dispositivo optofluidico.
US10802262B2 (en) 2015-10-29 2020-10-13 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Methods and systems for imaging a biological sample
JP6570427B2 (ja) * 2015-11-06 2019-09-04 浜松ホトニクス株式会社 画像取得装置、画像取得方法、及び空間光変調ユニット
US10509215B2 (en) * 2016-03-14 2019-12-17 Olympus Corporation Light-field microscope
WO2017180680A1 (en) 2016-04-12 2017-10-19 The Board Of Regents Of The University Of Texas System LIGHT-SHEET MICROSCOPE WITH PARALLELIZED 3D lMAGE ACQUISITION
DE102016108384B3 (de) 2016-05-04 2017-11-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur lichtblattartigen Beleuchtung einer Probe
JP2017203822A (ja) * 2016-05-09 2017-11-16 オリンパス株式会社 照明設定方法、シート照明顕微鏡装置、及びプログラム
JP2017227788A (ja) * 2016-06-23 2017-12-28 オリンパス株式会社 顕微鏡および顕微鏡画像取得方法
AU2017281533B2 (en) 2016-06-24 2019-06-27 Howard Hughes Medical Institute Automated adjustment of light sheet geometry in a microscope
WO2018049306A1 (en) 2016-09-09 2018-03-15 The University Of North Carolina At Chapel Hill Office Of Commercialization And Economic Development Tilted illumination systems for fluoresence microscopes
DE102016117675B4 (de) * 2016-09-20 2018-07-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop mit einem Beleuchtungsmodul
US10310246B2 (en) * 2016-09-28 2019-06-04 SCREEN Holdings Co., Ltd. Converter, illuminator, and light sheet fluorescence microscope
JP6423841B2 (ja) 2016-10-11 2018-11-14 浜松ホトニクス株式会社 試料観察装置及び試料観察方法
EP3538941A4 (de) * 2016-11-10 2020-06-17 The Trustees of Columbia University in the City of New York Schnelles hochauflösendes bildgebungsverfahren für grosse proben
JP2018128604A (ja) 2017-02-09 2018-08-16 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP2018169502A (ja) * 2017-03-30 2018-11-01 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
US11156822B2 (en) 2017-04-24 2021-10-26 Igor Lyuboshenko Selective plane illumination microscopy with multiple illumination units scanning an object in sync with a digital camera rolling shutter
US10768400B2 (en) 2017-04-24 2020-09-08 Igor Lyuboshenko Varying an illumination path of a selective plane illumination microscopy
US10365464B1 (en) 2017-04-24 2019-07-30 Igor Lyuboshenko Extending optical microscopes to provide selective plane illumination microscopy
DE102017108874A1 (de) * 2017-04-26 2018-10-31 Carl Zeiss Ag Materialprüfung mit strukturierter Beleuchtung
US11287627B2 (en) 2017-06-30 2022-03-29 Chrysanthe Preza Multi-focal light-sheet structured illumination fluorescence microscopy system
ES2695798B2 (es) * 2017-07-04 2019-12-04 Univ Madrid Carlos Iii Dispositivo rotativo de cambio de objetivo para microscopio de haz láser plano
EP3654018B1 (de) * 2017-07-11 2023-06-21 Hamamatsu Photonics K.K. Probenbeobachtungsvorrichtung und probenbeobachtungsverfahren
EP3655809A1 (de) * 2017-07-20 2020-05-27 Viventis Microscopy Sàrl Mikroskop, verfahren zum betrieb eines mikroskops und verfahren zur bildgebung einer probe
PL233602B1 (pl) * 2017-10-16 2019-11-29 Inst Biologii Doswiadczalnej Im M Nenckiego Polskiej Akademii Nauk Urzadzenie do obrazowania przezroczystych obiektow
EP3495865A1 (de) 2017-12-07 2019-06-12 European Molecular Biology Laboratory Probenträger zur abbildung mehrerer proben
WO2019148008A1 (en) 2018-01-26 2019-08-01 University Of Washington Apparatuses and methods for multi-direction digital scanned light sheet microscopy
DE102018102241B4 (de) * 2018-02-01 2022-02-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zum Abbilden einer Probe mittels eines Lichtblattmikroskops sowie ein Lichtblattmikroskop
JP7114272B2 (ja) 2018-02-28 2022-08-08 浜松ホトニクス株式会社 ライトシート顕微鏡及び試料観察方法
WO2019178093A1 (en) 2018-03-12 2019-09-19 The University Of North Carolina At Chapel Hill Mirror image microscopy for increased collection
CN112005100A (zh) 2018-03-12 2020-11-27 查珀尔希尔北卡罗来纳大学 用于荧光显微镜的光盘显微术
US11209367B2 (en) * 2018-08-27 2021-12-28 Yale University Multi-color imaging using salvaged fluorescence
ES2749742B2 (es) 2018-09-21 2021-04-06 Univ Madrid Carlos Iii Microscopio y procedimiento de haz láser plano para muestras extensas
WO2020161826A1 (ja) 2019-02-06 2020-08-13 オリンパス株式会社 撮像装置
WO2022268325A1 (en) 2021-06-24 2022-12-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Calibration object for calibrating an imaging system
WO2023057349A1 (en) 2021-10-05 2023-04-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Imaging system and method
WO2023057348A1 (en) 2021-10-05 2023-04-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Sample carrier and method for imaging a sample

Family Cites Families (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1499882A (en) * 1975-02-14 1978-02-01 Rolls Royce Sound attenuating structure
JPS5324637U (de) * 1976-08-09 1978-03-02
DE3424108A1 (de) * 1984-06-29 1986-01-09 Bernhard Prof. Dr.-Ing. 4300 Essen Schrader Probenanordnung zur spektrometrie, verfahren zur messung von lumineszenz und streuung und verwendung der probenanordnung
US4700298A (en) * 1984-09-14 1987-10-13 Branko Palcic Dynamic microscope image processing scanner
IE56166B1 (en) * 1985-02-15 1991-05-08 Tekscan Ltd Manipulator means
US4621911A (en) * 1985-03-12 1986-11-11 Carnegie-Mellon University Standing wave luminescence microscopy
NL8600785A (nl) * 1986-03-27 1987-10-16 Asm Lithography Bv Positioneerinrichting met een z-manipulator en een o-manipulator.
JPH07122694B2 (ja) 1986-10-16 1995-12-25 オリンパス光学工業株式会社 顕微鏡用照明装置
JPS63306413A (ja) * 1987-06-09 1988-12-14 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡
JPH0210230A (ja) 1988-06-29 1990-01-16 Fujitsu Ltd 光強度測定装置
JPH0732184B2 (ja) 1989-03-13 1995-04-10 株式会社東芝 化合物半導体エピタキシャル膜の評価方法
US5104218A (en) 1989-11-09 1992-04-14 General Atomics Micropipette adaptor for spectrofluorimeters
JP3102493B2 (ja) 1990-09-19 2000-10-23 株式会社日立製作所 異物検査方法及びその装置
US5570228A (en) 1991-04-19 1996-10-29 Edge Scientific Instrument Company Llc Fiber optic illumination system and method for a high definition light microscope
JPH05324637A (ja) 1992-05-15 1993-12-07 Hitachi Ltd 文書作成装置
DE4326473C2 (de) 1993-08-06 1997-05-15 European Molecular Biology Lab Embl Konfokales Mikroskop
JPH07174687A (ja) 1993-12-20 1995-07-14 Zexel Corp レーザドップラー法を利用した粒子分析方法
JPH07253309A (ja) 1994-03-14 1995-10-03 Hitachi Electron Eng Co Ltd ラインセンサの合焦方法
JP3412322B2 (ja) 1995-03-30 2003-06-03 横河電機株式会社 共焦点顕微鏡
JPH08327947A (ja) 1995-06-02 1996-12-13 Imeeji Joho Kagaku Kenkyusho 回折格子を用いる立体表示装置
US5710625A (en) * 1996-04-30 1998-01-20 Hughes Electronics Spectral oil immersion cell
DE19720513A1 (de) 1997-05-16 1998-11-19 Daniel Huber Anordnung zur Erzeugung von dünnen Lichtebenen für die photographische Erfassung von Objekten
US6294327B1 (en) * 1997-09-08 2001-09-25 Affymetrix, Inc. Apparatus and method for detecting samples labeled with material having strong light scattering properties, using reflection mode light and diffuse scattering
US6249341B1 (en) * 1999-01-25 2001-06-19 Amnis Corporation Imaging and analyzing parameters of small moving objects such as cells
JP3734010B2 (ja) * 1999-06-28 2006-01-11 横河電機株式会社 共焦点光スキャナ
DE10026830A1 (de) * 2000-05-30 2001-12-06 Zeiss Carl Jena Gmbh Optischer Sensor zur Messung des Abstands und/oder der Neigung einer Fläche
JP3929717B2 (ja) * 2001-03-30 2007-06-13 株式会社ニデック 角膜顕微鏡装置
KR20020084786A (ko) * 2001-05-04 2002-11-11 이재웅 선형 선 스캐닝을 이용하는 공초점 영상 형성 장치 및 방법
GB0112392D0 (en) 2001-05-22 2001-07-11 Medical Res Council Optical imaging appartus and associated specimen support means
JP3938343B2 (ja) 2002-08-09 2007-06-27 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション タスク管理システム、プログラム、及び制御方法
DE10257423A1 (de) * 2002-12-09 2004-06-24 Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) Mikroskop
JP4127152B2 (ja) 2003-08-05 2008-07-30 ソニー株式会社 データ記録再生装置及び方法
WO2005096061A1 (en) * 2004-03-30 2005-10-13 Univ Mcgill Light profile microscopy apparatus and method
DE102004034962A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop mit erhöhter Auflösung
DE102007063274B8 (de) 2007-12-20 2022-12-15 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Mikroskop
US9134521B2 (en) * 2008-07-30 2015-09-15 The Regents Of The University Of California Multidirectional selective plane illumination microscopy
US8711211B2 (en) 2010-06-14 2014-04-29 Howard Hughes Medical Institute Bessel beam plane illumination microscope
US10051240B2 (en) 2010-06-14 2018-08-14 Howard Hughes Medical Institute Structured plane illumination microscopy
WO2012027542A2 (en) * 2010-08-25 2012-03-01 California Institute Of Technology Simultaneous orthogonal light sheet microscopy and computed optical tomography
CN102710489B (zh) 2011-03-28 2015-07-29 日电(中国)有限公司 动态分流调度系统和方法
US9404869B2 (en) * 2012-10-09 2016-08-02 Howard Hughes Medical Institute Multiview light-sheet microscopy
DE102012020240A1 (de) * 2012-10-12 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie

Cited By (157)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005027077C5 (de) * 2004-11-04 2021-01-28 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtscheibenmikroskop
DE102005027077B4 (de) * 2004-11-04 2018-02-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtscheibenmikroskop
EP1944600A2 (de) 2005-07-22 2008-07-16 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Auflösungsgesteigerte Lumineszenz-Mikroskopie
USRE45575E1 (en) 2007-03-29 2015-06-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optical arrangement for the production of a light-sheet
EP1975669A2 (de) 2007-03-29 2008-10-01 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
DE102007015063A1 (de) 2007-03-29 2008-10-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
DE102007015061A1 (de) 2007-03-29 2008-10-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Probenhalterung für ein Mikroskop
EP1975669A3 (de) * 2007-03-29 2012-12-26 Carl Zeiss Microscopy GmbH Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
DE102007015063B4 (de) 2007-03-29 2019-10-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
US7787179B2 (en) 2007-03-29 2010-08-31 Carl Ziess MicroImaging GmbH Optical arrangement for the production of a light-sheet
DE102007018862A1 (de) 2007-04-18 2008-10-23 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Objektivwechseleinrichtung für Mikroskope
US8213081B2 (en) 2007-04-18 2012-07-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Objective replacement device for microscopes
DE102007020577B4 (de) 2007-04-26 2021-09-09 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Probenhalterung für ein Mikroskop und Verwendung eines Mikroskops mit einer solchen Probenhalterung
DE102007020577A1 (de) 2007-04-26 2008-10-30 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Probenhalterung für ein Mikroskop
US8699133B2 (en) 2007-04-26 2014-04-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Sample holding system for a microscope with magnetic coupling
WO2009043485A1 (de) 2007-09-28 2009-04-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und optische anordnung zur untersuchung einer probe
WO2009043473A1 (de) 2007-09-28 2009-04-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Optische anordnung zur photomanipulation
DE102007047464B4 (de) 2007-09-28 2023-03-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zur Photomanipulation
DE102007047461A1 (de) 2007-09-28 2009-04-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und optische Anordnung zur Untersuchung einer Probe
DE102007047464A1 (de) 2007-09-28 2009-04-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Optische Anordnung zur Photomanipulation
DE102007048409A8 (de) * 2007-10-09 2009-11-05 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zum Positionieren von biologischen Proben in einer mikroskopischen Anordnung
DE102007048409A1 (de) 2007-10-09 2009-04-16 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zum Positionieren von biologischen Proben in einer mikroskopischen Anordnung
US8228499B2 (en) 2007-10-09 2012-07-24 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method for positioning biological samples in a microscopic arrangement
EP3528029A1 (de) * 2007-12-20 2019-08-21 Carl Zeiss Microscopy GmbH Mikroskop
US10054780B2 (en) 2007-12-20 2018-08-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope
DE102007063274A1 (de) 2007-12-20 2009-06-25 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Mikroskop
EP2235577B1 (de) * 2007-12-20 2019-06-05 Carl Zeiss Microscopy GmbH Mikroskop
DE102007063274B4 (de) 2007-12-20 2022-03-10 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Mikroskop
EP3754402A1 (de) 2007-12-20 2020-12-23 Carl Zeiss Microscopy GmbH Mikroskop
DE102007063274B8 (de) 2007-12-20 2022-12-15 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Mikroskop
US8362448B2 (en) 2008-02-13 2013-01-29 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Apparatus and method for high spatial resolution imaging of a structure of a sample
DE102008009216A1 (de) 2008-02-13 2009-08-20 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
DE102008018476B4 (de) 2008-04-11 2022-12-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskopievorrichtung
US8921809B2 (en) 2008-04-11 2014-12-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Device for microscopy having selective illumination of a plane
DE102008018476A1 (de) 2008-04-11 2009-10-15 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskopievorrichtung
DE102008027784A1 (de) 2008-06-11 2009-12-17 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zum Positionieren einer Probe im Detektionsbereich eines Objektivs
US9733160B2 (en) 2008-06-11 2017-08-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method for embedding a biological sample in a transparent matrix for analysis using single plane illumination microscopy
US8830563B2 (en) 2008-06-17 2014-09-09 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser scanning microscope having a laser diode comprising a light modulation device
DE102008035933A1 (de) 2008-07-31 2010-02-04 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Vorrichtung zum Halten und Positionieren einer Probe relativ zu einem Mikroskopobjektiv
DE102009044986A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
WO2011036095A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
DE102009044987A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
US9110301B2 (en) 2009-09-24 2015-08-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope with a sheet of light
US8848268B2 (en) 2009-09-24 2014-09-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope with light sheet illumination
US9239454B2 (en) 2009-09-24 2016-01-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope having light sheet illumination of a sample region
WO2011036097A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
DE102009044983A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
WO2011036094A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
US9500849B2 (en) 2009-09-24 2016-11-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope with a light sheet
DE102009044984A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
WO2011036096A1 (de) 2009-09-24 2011-03-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop
US8792162B2 (en) 2009-09-24 2014-07-29 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope with illumination switching for capturing sample images during detector integration time
EP2317362A1 (de) 2009-10-28 2011-05-04 Carl Zeiss MicroImaging GmbH Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerter Auflösung
EP3667391A1 (de) 2009-10-28 2020-06-17 Carl Zeiss Microscopy GmbH Mikroskopisches verfahren und mikroskop mit gesteigerter auflösung
DE102010049627A1 (de) 2009-10-28 2011-05-05 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerter Auflösung
DE102012015861A1 (de) 2011-10-11 2013-04-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM-Mikroskopie
WO2013053454A1 (de) 2011-10-11 2013-04-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zur spim mikroskopie
US9772481B2 (en) 2011-10-28 2017-09-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Arrangement for use in the illumination of a specimen in SPIM microscopy
EP2587295A1 (de) 2011-10-28 2013-05-01 Leica Microsystems CMS GmbH Verfahren und Anordnung zur Beleuchtung einer Probe
DE102012109577A1 (de) 2011-10-28 2013-05-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie
WO2013060644A1 (de) 2011-10-28 2013-05-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Anordnung zur verwendung bei der beleuchtung einer probe bei der spim-mikroskopie
DE202011110077U1 (de) 2011-10-28 2012-11-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Anordnung zur Beleuchtung einer Probe
US9104020B2 (en) 2011-10-28 2015-08-11 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and system for illuminating a sample
DE102011054914A1 (de) 2011-10-28 2013-05-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Anordnung zur Beleuchtung einer Probe
DE102012013163B4 (de) 2012-07-02 2022-08-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur Lichtscheibenmikroskopie
WO2014005682A2 (de) 2012-07-02 2014-01-09 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zur spim mikroskopie
US10698225B2 (en) 2012-07-02 2020-06-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope and method for SPIM microscopy
DE102012013163A1 (de) 2012-07-02 2014-04-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
US9709788B2 (en) 2012-08-16 2017-07-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Optical arrangement and a microscope
DE202012007891U1 (de) 2012-08-16 2012-11-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Probenkammer für die SPIM Mikroskopie
WO2014026683A1 (de) 2012-08-16 2014-02-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische anordnung und ein mikroskop
DE102012214568A1 (de) 2012-08-16 2014-02-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische Anordnung und ein Mikroskop
DE102012016347B4 (de) 2012-08-16 2022-09-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop zur SPIM Mikroskopie
DE102012016347A1 (de) 2012-08-16 2014-05-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
DE102012019466A1 (de) 2012-09-28 2014-04-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
WO2014056992A1 (de) 2012-10-12 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zur spim mikroskopie
US9645378B2 (en) 2012-10-12 2017-05-09 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope and method for SPIM microscopy
DE102012020240A1 (de) 2012-10-12 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
DE102012218920A1 (de) 2012-10-17 2014-04-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur Beleuchtung einer Probe
DE102012024995A1 (de) 2012-12-20 2014-06-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
DE102013002981B4 (de) 2013-02-20 2022-04-28 Hans-Ulrich Dodt 3D-Mikroskop
US10012826B2 (en) 2013-03-20 2018-07-03 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and optical arrangement for manipulating and imaging a microscopic sample
DE102013213781A1 (de) 2013-03-20 2014-09-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und optische Anordnung zum Manipulieren und Abbilden einer mikroskopischen Probe
DE102013208872B4 (de) 2013-05-14 2023-08-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Erzeugung eines Bildes einer Probe
DE102013208872A1 (de) 2013-05-14 2014-11-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Erzeugung eines Bildes einer Probe
US10073256B2 (en) 2013-05-30 2018-09-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Device for imaging sample
DE102013105586B4 (de) 2013-05-30 2023-10-12 Carl Zeiss Ag Vorrichtung zur Abbildung einer Probe
DE102013105586A1 (de) 2013-05-30 2014-12-04 Carl Zeiss Ag Vorrichtung zur Abbildung einer Probe
DE102013211426A1 (de) 2013-06-18 2014-12-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und optische Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben
DE102013106895A1 (de) * 2013-07-01 2015-01-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
US10234672B2 (en) 2013-07-01 2019-03-19 Leica Microsystems Cms Gmbh Light-microscopic method of localization microscopy for localizing point objects
DE102013106895B4 (de) * 2013-07-01 2015-09-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
US10620419B2 (en) 2013-07-10 2020-04-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Arrangement for light sheet microscopy
DE102013107297A1 (de) 2013-07-10 2015-01-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102013107298A1 (de) 2013-07-10 2015-01-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
US10712553B2 (en) 2013-07-10 2020-07-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Assembly for light sheet microscopy
DE202013012338U1 (de) 2013-07-10 2016-04-29 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
US10048478B2 (en) 2013-11-15 2018-08-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optical transmission system for correcting image errors and microscope with such a transmission system
DE102013112595A1 (de) 2013-11-15 2015-05-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
US9804378B2 (en) 2013-11-15 2017-10-31 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Arrangement for light sheet microscopy
DE102013112596B4 (de) 2013-11-15 2023-12-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
US10048482B2 (en) 2013-11-15 2018-08-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Arrangement for light sheet microscopy
DE102013112600A1 (de) 2013-11-15 2015-05-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optisches Übertragungssystem und Mikroskop mit einem solchen Übertragungssystem
DE102013112596A1 (de) 2013-11-15 2015-05-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
EP2887117A1 (de) 2013-12-18 2015-06-24 Carl Zeiss Microscopy GmbH Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
US9791687B2 (en) 2013-12-18 2017-10-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope and method for SPIM microscopy
DE102013021542A1 (de) 2013-12-18 2015-06-18 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
DE102014104977B4 (de) 2014-04-08 2023-11-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie sowie Mikroskopobjektiv für die Lichtblattmikroskopie
US10302926B2 (en) 2014-04-08 2019-05-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Arrangement for light sheet microscopy
DE102014104977A1 (de) 2014-04-08 2015-10-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102014113827A1 (de) 2014-09-24 2016-03-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur Abbildung einer Probe
US10477124B2 (en) 2014-09-24 2019-11-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Device for imaging a sample with detection of an asymmetrically distributed angular range
DE102015114756B4 (de) 2014-09-25 2021-07-22 Leica Microsystems Cms Gmbh Spiegelvorrichtung
US10768399B2 (en) 2014-09-25 2020-09-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Mirror device
DE102015114756A1 (de) 2014-09-25 2016-03-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Spiegelvorrichtung
WO2016046384A1 (de) 2014-09-25 2016-03-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Spiegelvorrichtung
DE102014116174A1 (de) 2014-11-06 2016-05-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Erzeugung eines Bildes einer Probe
WO2016071033A1 (de) 2014-11-06 2016-05-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur erzeugung eines bildes einer probe
WO2016096303A1 (de) 2014-12-19 2016-06-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur lichtblattmikroskopischen untersuchung einer probe
DE102014119255A1 (de) 2014-12-19 2016-06-23 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe
US10247934B2 (en) 2014-12-19 2019-04-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method for examining a specimen by means of light sheet microscopy
DE102015103802A1 (de) 2015-03-16 2016-09-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe
US10642015B2 (en) 2015-03-16 2020-05-05 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Light sheet microscope with a phase-selective element for illumination
WO2016146503A1 (de) 2015-03-16 2016-09-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und anordnung zur lichtblattmikroskopischen untersuchung einer probe
US11016277B2 (en) 2015-04-13 2021-05-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and device for examination of a sample
US10585271B2 (en) 2015-04-13 2020-03-10 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and device for examination of a sample
EP3283917B1 (de) * 2015-04-13 2022-11-30 Leica Microsystems CMS GmbH Verfahren und vorrichtung zum untersuchen einer probe
EP4220270A1 (de) 2015-04-13 2023-08-02 Leica Microsystems CMS GmbH Verfahren und vorrichtung zum untersuchen einer probe
DE202016009206U1 (de) 2015-04-13 2024-03-11 Leica Microsystems CMS GmbH Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe
WO2016166374A1 (de) 2015-04-17 2016-10-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und vorrichtung zur spim-untersuchung einer probe
US10495865B2 (en) 2015-04-17 2019-12-03 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and device for the SPIM analysis of a sample
WO2017032805A1 (de) 2015-08-24 2017-03-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungsanordnung für ein lichtblatt-mikroskop
US10866396B2 (en) 2015-08-24 2020-12-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Illumination arrangement for a light sheet microscope
US11366299B2 (en) 2015-10-09 2022-06-21 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and lighting arrangement for illuminating a sample layer with a light sheet
US11092792B2 (en) 2015-10-09 2021-08-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and apparatus for examining a sample using structured light-sheet illumination
WO2017060506A1 (de) 2015-10-09 2017-04-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und vorrichtung zum untersuchen einer probe mit einer strukturiereten lichtblattbeleuchtung
US11194149B2 (en) 2015-12-23 2021-12-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Method for examining a sample by means of light sheet microscopy, and light sheet microscope
US10459209B2 (en) 2016-04-08 2019-10-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and microscope for examining a sample
LU93117B1 (de) * 2016-06-23 2018-01-24 Leica Microsystems Beleuchtungsvorrichtung für ein Mikroskop
WO2017220699A1 (de) 2016-06-23 2017-12-28 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungsvorrichtung für ein mikroskop
US11022788B2 (en) 2016-06-23 2021-06-01 Leica Microsystems Cms Gmbh Illumination apparatus for a microscope
WO2018007469A2 (de) 2016-07-06 2018-01-11 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zum untersuchen einer probe sowie vorrichtung zum ausführen eines solchen verfahrens
US11835701B2 (en) 2016-07-06 2023-12-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Method for examining a sample, and device for carrying out such a method
US10983321B2 (en) 2016-07-06 2021-04-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Method for examining a sample, and device for carrying out such a method
DE102017119169B4 (de) 2016-08-22 2023-07-27 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur SPIM-Untersuchung einer Probe
DE102017119169A1 (de) 2016-08-22 2018-02-22 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur SPIM-Untersuchung einer Probe
US11719922B2 (en) 2016-10-28 2023-08-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Single plane illumination microscope
WO2018077738A1 (de) 2016-10-28 2018-05-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtblattmikroskop
US10983322B2 (en) 2016-10-28 2021-04-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Single plane illumination microscope
DE102016120683A1 (de) 2016-10-28 2018-05-03 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtblattmikroskop
DE102017118691A1 (de) * 2017-08-16 2019-02-21 Georg-August-Universität Göttingen Stiftung Öffentlichen Rechts, Universitätsmedizin Verfahren zur Lichtblatt-mikroskopischen Untersuchung von insbesondere biologischen Proben und Lichtblatt-Mikroskop
US11371927B2 (en) 2017-09-29 2022-06-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Method and device for optically examining a plurality of microscopic samples
DE102017122718A1 (de) 2017-09-29 2019-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung einer Vielzahl mikroskopischer Proben
WO2019063539A1 (de) 2017-09-29 2019-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und vorrichtung zur optischen untersuchung einer vielzahl mikroskopischer proben
DE102020128524A1 (de) 2020-10-29 2022-05-05 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtblattmikroskop und Verfahren der Lichtblattmikroskopie
DE102021104871A1 (de) 2021-03-01 2022-09-01 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe
DE102022125117A1 (de) 2022-09-29 2024-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtblattmikroskop

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