DE102007063453B3

DE102007063453B3 - Assembled printed circuit board optical inspection arrangement for quality control, has control system connected with color filters to ensure that inspection fields are optically represented in successive manner on image sensor surface

Info

Publication number: DE102007063453B3
Application number: DE102007063453A
Authority: DE
Inventors: Frank BÖHME; Jens Kokott
Original assignee: Goepel Electronic GmbH
Current assignee: Goepel Electronic GmbH
Priority date: 2007-12-28
Filing date: 2007-12-28
Publication date: 2009-10-08
Anticipated expiration: 2027-12-29

Abstract

The arrangement has a beam splitter (3) and tunable color filters (7) that are arranged such that inspection fields (1) of a printed circuit board are represented optically on a planar image sensor (4), where the board is divided into inspection fields according to geometrical conditions of the board. The image sensor is connected with an evaluation system. The evaluation system comprises a control system as an integral component that is connected with the tunable color filters to ensure that the inspection fields are optically represented in a successive manner on an image sensor surface.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft die automatische optische Inspektion (AOI), welche vorrangig zur Qualitätssicherung bei der Bestückung von Leiterplatten eingesetzt wird, um möglichst sicher und schnell Fertigungsfehler zu erkennen.The The present invention relates to automatic optical inspection (AOI), which primarily for quality assurance in the assembly of printed circuit boards is used to as possible safe and fast to recognize manufacturing errors.

Derzeitige optische Inspektionssysteme bilden im Allgemeinen mittels Objektiv einen Objektausschnitt des Prüflings (z. B. eine bestückte Leiterplatte) auf einem Bildaufnehmer ab ( DE 689 07 688 T2 ). Bei der automatischen optischen Inspektion (AOI), welche meist der Qualitätssicherung in der Fertigung dient, kommt es neben der guten Erkennbarkeit von Fertigungsfehlern auch auf eine hohe Inspektionsabdeckung sowie einen hohen Durchsatz an. Bei einer Abbildung mittels Flächenkamera sowie einer gegebenen, notwendigen optischen Auflösung ist häufig ein mehrfaches Positionieren zwischen Kameraeinheit und Prüfling notwendig, um alle relevanten Ansichten zur optimalen Qualitätskontrolle zu erhalten ( US 6,633,338 B1 ).Current optical inspection systems generally form an object section of the test object (for example a populated printed circuit board) on an image sensor by means of a lens ( DE 689 07 688 T2 ). In the case of automatic optical inspection (AOI), which is usually used for quality assurance in production, it is important not only to recognize manufacturing defects but also to have a high inspection coverage and high throughput. When imaging by means of area camera and a given, necessary optical resolution is often a multiple positioning between camera unit and DUT necessary to obtain all relevant views for optimal quality control ( US 6,633,338 B1 ).

Der erreichbare Prüfdurchsatz, d. h. die inspizierbare Fläche pro Zeiteinheit setzt sich zusammen aus der Größe und Auflösung des Bildaufnehmers, dem Abbildungsmaßstab des Objektives, der Aufenthaltsdauer des Bildaufnehmers über der Inspektionsstelle (Belichtungszeit) sowie der Positionierzeit. Eine Steigerung des Durchsatzes lässt sich somit durch Erhöhung der Inspektionsfläche pro Aufnahme oder/und durch Absenkung der Zeit zwischen den Aufnahmen erreichen.Of the achievable test throughput, d. H. the inspectable area per unit of time is composed of the size and resolution of the image recorder, the magnification of the objective, the residence time of the image sensor over the Inspection point (exposure time) and the positioning time. A Increase in throughput thus by increasing the inspection area per recording or / and by reducing the time between shots to reach.

Zu einer Vergrößerung der Inspektionsfläche kommt man in erste Linie durch einen höher strukturierten Bildaufnehmer bzw. den Einsatz mehrerer parallel abbildender Systeme. Das führt neben den stark ansteigenden Kosten auch zu Platz- und Gewichtsproblemen. Eine Absenkung der Belichtungszeit kann nur bei stärkerer Beleuchtung erfolgen, welche durch technisch realisierbare Lichtstärken limitiert ist. Dazu kommt die Positionierzeit, welche selbst bei hochdynamischen Antrieben im Verhältnis meist viel größer ist.To an enlargement of the Inspection surface is coming one in the first line by a higher one structured imager or the use of several parallel imaging systems. Leading in addition to the steeply rising costs also to space and weight problems. Lowering the exposure time is only possible with stronger lighting which is limited by technically realizable light intensities is. In addition there is the positioning time, which even with highly dynamic Drives in the ratio mostly is much bigger.

Durch die JP 3-26907 A und die US 6,677,999 B2 werden Vorrichtungen vorgestellt, die bewegungslos arbeitende Lichtventile zum Einsatz bringen. Derartige optische Schalter sind geeignet, um Strahlung mit geringem Intensitätsverlust bewegungslos zu schalten, jedoch kann nicht zwischen mehreren Strahlwegen gewählt werden.By the JP 3-26907 A and the US 6,677,999 B2 Devices are presented that use motionless light valves. Such optical switches are suitable for switching radiation with little loss of intensity motionless, but can not be chosen between multiple beam paths.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ohne auf Lichtventile zurück zu greifen, eine neue Möglichkeit aufzuzeigen, durch die es mit möglichst geringem Aufwand und unter weitest gehendem Verzicht von Scanbewegungen gelingt, den kompletten Prüfling auf Fehlstellen hin zu untersuchen.Of the Invention is based on the object without resorting to light valves, a new possibility to show by it with as little as possible Effort and with the greatest possible waiver of scanning movements succeed, the complete test object to examine for defects.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe mit einer Anordnung zur automatischen optischen Inspektion von bestückten Leiterplatten dadurch gelöst, dass die Leiterplatte entsprechend ihren geometrischen Verhältnissen bzw. ihren zu untersuchenden Bereichen in eine beliebige Anzahl von Inspektionsfeldern unterteilt ist, dass Strahlteiler sowie steuerbare Analysatoren oder durchstimmbare Farbfilter vorhanden sind, die derartig angeordnet sind, dass jedes Inspektionsfeld optisch auf einen flächenhaften Bildaufnehmer abgebildet wird, wobei die Inspektionsfelder nacheinander auf die selbe Bildaufnehmerfläche abgebildet werden und dass der flächenhafte Bildaufnehmer mit einem Auswertesystem in Verbindung steht, wobei das Auswertesystem ein Steuersystem als integralen Bestandteil aufweist, welches mit den steuerbaren Analysatoren oder durchstimmbaren Farbfiltern in Verbindung steht, um zu gewährleisten, dass die Inspektionsfelder nacheinander auf der selben Bildaufnehmerfläche optisch abgebildet werden. Die Aufteilung kann dabei entsprechend der Intensität, der Wellenlänge oder mittels Polarisation erfolgen. Der besondere Vorteil der Erfindung besteht darin, dass durch Kombination und/oder Kaskardierung der optischen Mittel beliebige Inspektionsfelder realisiert werden können, ohne dabei auf bewegliche mechanische Teile angewiesen zu sein. Die örtlich unterschiedlich gelegenen Inspektionsbereiche werden ausschließlich mit optischen Mitteln realisiert, so dass die zeitaufwendigen Scanbewegungen des Bildaufnehmers wegfallen und ausschließlich durch Strahlteiler sowie steuerbare Analysatoren oder durchstimmbare Farbfilter realisiert werden.According to the invention Task with an arrangement for the automatic optical inspection of stocked Solved printed circuit boards that the circuit board according to their geometric relationships or their areas to be examined in any number is subdivided by inspection fields that beam splitter as well as controllable Analyzers or tunable color filters are present which are arranged such that each inspection field on optically a planar Imager is imaged, with the inspection fields in succession on the same image sensor surface be imaged and that the areal imager with an evaluation system is in communication, the evaluation system a control system as an integral part, which with the controllable analyzers or tunable color filters in Connection is to ensure that the inspection fields one after the other on the same image sensor surface optically be imaged. The division can be according to the intensity, the wavelength or done by polarization. The particular advantage of the invention is that by combining and / or cascading the optical means any inspection fields can be realized without to be dependent on moving mechanical parts. The locally different Inspection areas located exclusively by optical means realized, so that the time-consuming scanning movements of the image sensor dropped out and exclusively by beam splitters and controllable analyzers or tunable Color filter can be realized.

Die Erfindung soll nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert werden. Die Zeichnungen zeigen:The Invention will be explained below with reference to exemplary embodiments. The drawings show:

1 eine Anordnung nach dem Stand der Technik mit halbdurchlässigem Teiler und Lichtventilen 1 a prior art arrangement with semipermeable divider and light valves

2 eine Anordnung unter Ausnutzung unterschiedlicher Wellenlängen der Objektstrahlung 2 an arrangement utilizing different wavelengths of the object radiation

3 eine weitere Anordnung unter Ausnutzung unterschiedlicher Wellenlängen der Objektstrahlung 3 a further arrangement using different wavelengths of the object radiation

4 eine Anordnung unter Ausnutzung unterschiedlicher Polarisationszustände der Objektstrahlung 4 an arrangement utilizing different polarization states of the object radiation

5 eine weitere Anordnung unter Ausnutzung unterschiedlicher Polarisationszustände der Objektstrahlung 5 another arrangement utilizing different polarization states of the object radiation

6 eine Anordnung zur schaltbaren orthogonalen Erfassung von Inspektionsbereichen, die alle auf einer Ebene liegen 6 an arrangement for switchable ortho gonal recording of inspection areas, all on one level

7 eine weitere Anordnung zur schaltbaren orthogonalen Erfassung von Inspektionsbereichen, die alle auf einer Ebene liegen 7 another arrangement for switchable orthogonal detection of inspection areas, all of which lie on one level

8 eine Anordnung zur schaltbaren Erfassung aus mehreren Perspektiven 8th an arrangement for switchable detection from several perspectives

9 eine kaskadierte Anordnung mehrerer Bildumschalter mit Lichtventilen 9 a cascaded arrangement of several image switches with light valves

10 eine kaskadierte Anordnung mehrerer wellenselektiver Bildumschalter 10 a cascaded arrangement of several wave-selective image switch

11 eine kaskadierte Anordnung mehrerer polarisationsselektiver Bildumschalter 11 a cascaded arrangement of several polarization-selective image switch

12 eine kombinierte Anordnung mit polarisationsselektiven und wellenselektiven Bildumschaltern 12 a combined arrangement with polarization-selective and wave-selective image switches

13 eine Anordnung zur schaltbaren Erfassung zweier Perspektiven eines räumlichen Objektes durch getrennte Polarisationszustände 13 an arrangement for the switchable detection of two perspectives of a spatial object by separate polarization states

In den 1 bis 5 werden Anordnungen aufgezeigt, mit denen Verfahren zur optischen Bildumschaltung durchführbar sind, in denen jeweils mehrere Strahlengänge überlagert werden und deren einzelne Bildinhalte durch optoelektronische Einheiten vor bzw. nach der Zusammenführung sequenziell auf dem Bildaufnehmer 4 zur Abbildung gebracht werden.In the 1 to 5 arrangements are shown, with which methods for optical image switching are feasible, in each of which a plurality of beam paths are superimposed and their individual image contents by optoelectronic units before or after the merger sequentially on the image sensor 4 to be shown.

In 1, die den Stand der Technik darstellt, wird die Objektstrahlung der einzelnen Ansichten von den Inspektionsfeldern 1 durch je ein Lichtventil 2 geschalten, die beiden Strahlengänge werden mit einem Strahlteiler 3 zusammengeführt und im gemeinsamen Strahlengang auf den Bildaufnehmer 4 geleitet. Durch öffnen eines der beiden Lichtventile 2 wird die jeweilige Ansicht freigegeben und auf dem Bildaufnehmer 4 abgebildet. Das zweite, geschlossene Lichtventil 2 blockiert idealerweise sämtliche Objektstrahlung der zweiten Ansicht, so dass es zu keiner wirklichen Überlagerung im Strahlteiler kommt. Das Lichtventil 2 kann aus einer Flüssigkristallzelle sowie einer elektrochromen Schicht gebildet sein oder es dient zur Strahlschaltung ein mechanischer Verschluss. Gesteuert werden die Lichtventile durch das nicht dargestellte Steuersystem, welches integraler Bestandteil einer ebenfalls nicht dargestellten Auswertesystem ist. In dem Auswertesystem erfolgt die automatische Bewertung der von den jeweiligen Inspektionsfeldern 1 gewonnenen Abbildungen.In 1 , which represents the state of the art, the object radiation of the individual views of the inspection fields 1 by a light valve 2 switched, the two beam paths are using a beam splitter 3 merged and in the common beam path on the image sensor 4 directed. By opening one of the two light valves 2 the respective view is released and on the image sensor 4 displayed. The second, closed light valve 2 ideally blocks all object radiation of the second view so that there is no real overlay in the beam splitter. The light valve 2 can be formed from a liquid crystal cell and an electrochromic layer or it serves for beam switching, a mechanical closure. The light valves are controlled by the control system, not shown, which is an integral part of an evaluation system, also not shown. In the evaluation system, the automatic evaluation of the respective inspection fields takes place 1 obtained pictures.

Gemäß 2 liegt die Wellenlänge der Objektstrahlung jeder Ansicht durch entsprechende Anregung oder Farbfilterung 5 in einem, jeweils unterschiedlichen Band. Es folgt die Überlagerung durch einen Strahlteiler 3. Alternativ kann entsprechend 3 die Filterung und Zusammenführung breitbandiger Objektstrahlung auch gleichzeitig durch einen dichroitischen Strahlteiler 6 erfolgen. Im gemeinsamen Strahlengang wird mittels eines durchstimmbaren Farbfilters 7 oder eines Farbrades eines der optischen Frequenzbänder ausgewählt. Auf dem Bildaufnehmer 4 wird, je nach Einstellung des durchstimmbaren Farbilters 7, die Objektstrahlung eines der Ansichten abgebildet.According to 2 is the wavelength of the object radiation of each view by appropriate excitation or color filtering 5 in one, each different band. This is followed by the superimposition by a beam splitter 3 , Alternatively, accordingly 3 the filtering and merging of broadband object radiation also simultaneously by a dichroic beam splitter 6 respectively. In the common beam path is by means of a tunable color filter 7 or a color wheel of one of the optical frequency bands. On the imager 4 depending on the setting of the tunable color filter 7 representing object radiation of one of the views.

In 4 besitzt die Objektstrahlung jeder Ansicht durch entsprechende Anregung oder Filterung 8 eine jeweils unterschiedliche Polarisationsrichtung. Es folgt ebenfalls die Überlagerung durch einen Strahlteiler 3. Die Anordnung gemäß 4 ist nicht mehr Gegenstand der Erfindung. Alternativ kann, wie in 5 dargestellt, die Filterung und Zusammenführung unpolarisierter Objektstrahlung gleichzeitig durch einen polarisierenden Strahlteiler 9 erfolgen. Im gemeinsamen Strahlengang wird mittels steuerbarem Analysator 10 eine Polarisationsrichtung angewählt. Auf dem Bildaufnehmer 4 wird, je nach eingestelltem Analysator 10, die Objektstrahlung eines der Ansichten abgebildet. Ein steuerbarer Analysator 10 kann ein rotierender Polarisationsfilter oder aber ein feststehender Polarisator mit steuerbar doppelbrechendem Element (Flüssigkristallzelle, Pockels-Zelle) sein.In 4 owns the object radiation of each view by appropriate excitation or filtering 8th a different polarization direction. It also follows the overlay by a beam splitter 3 , The arrangement according to 4 is no longer subject of the invention. Alternatively, as in 5 shown, the filtering and merging unpolarized object radiation simultaneously by a polarizing beam splitter 9 respectively. In the common beam path is by means of controllable analyzer 10 a polarization direction is selected. On the imager 4 depending on the set analyzer 10 representing object radiation of one of the views. A controllable analyzer 10 may be a rotating polarizing filter or a fixed polarizer with controllable birefringent element (liquid crystal cell, Pockels cell).

Die Verfahren zur Bildumschaltung lassen sich für die automatische optische Inspektion in vielerlei Anordnungen einsetzen.The Image switching methods can be used for the automatic optical Use inspection in a variety of arrangements.

6 und 7 zeigen Möglichkeiten, mittels Bildumschalter 12 und Umlenkelement 11 benachbarte Inspektionsfelder 1 eines ebenen Objektes zu erfassen. 6 and 7 show possibilities by means of image switch 12 and deflecting element 11 adjacent inspection fields 1 to capture a plane object.

8 zeigt die Möglichkeit, mittels Bildumschalter 12 und Umlenkelemente 11 Inspektionsfelder 1 zu erfassen, die nicht in einer Ebene liegen. Somit können auch Schrägansichten von räumlichen Objekten mit einem Bildaufnehmer 4 realisiert werden. 8th shows the possibility of using image switch 12 and deflecting elements 11 inspection fields 1 to capture those that are not in one plane. Thus, also oblique views of spatial objects with an image sensor 4 will be realized.

In den 9 bis 11 werden drei Anordnungsprinzipien von Umschaltern vorgestellt, bei denen sich durch kaskadiertes Zusammensetzen von Strahlteilern 3 und schaltbaren optischen Einheiten mehr als zwei Strahlengänge realisieren lassen. 12 zeigt ein Beispiel welches verdeutlicht, dass ebenso die Kombinationen der mit den Anordnungen gemäß 1 bis 5 realisierten Verfahren denkbar sind.In the 9 to 11 Three principles of arrangement of switches are presented, in which by cascading assembly of beam splitters 3 and switchable optical units can realize more than two optical paths. 12 shows an example which illustrates that also the combinations of the with the arrangements according to 1 to 5 realized methods are conceivable.

Im Zusammenspiel mit verschiedenen Umlenkeinrichtungen können damit eine Vielzahl von abbildbaren Ansichten der Inspektionsfelder auf nur einem Bildaufnehmer 4 geführt werden. Dadurch ist es denkbar, mit entsprechenden Aufwänden in optische Komponenten, die gesamte Inspektion eines beliebig großen Objektes mit nur einem Bildaufnehmer 4 durchzuführen, ohne dabei irgendeine Bewegung ausführen zu müssen. Die Zeitdauer zur Erfassung aller benötigten Ansichten beinhaltet somit keine Wartezeiten auf mechanische Positionierung mehr.In interaction with various deflection can thus a variety of pictorial views of the inspection fields on only one image sensor 4 be guided. It is therefore conceivable, with corresponding expenses in optical components, the entire inspection of an arbitrarily large object with only one image sensor 4 perform without doing any movement. The time required to capture all the views required thus no longer involves waiting times for mechanical positioning.

Bei der Fertigung von elektronischen Schaltungen werden bestückte und gelötete Leiterplatten im Anschluss an den Fertigungsprozess auf Fertigungsfehler untersucht. Zum Stand der Technik zählt dabei, dass die Betrachtung mittels Kamera-Objektiv-Anordnung nicht nur orthogonal zur Leiterplatte, sondern auch aus geneigten Positionen heraus erfolgt. Dadurch werden zusätzliche Informationen von Objektstellen gewonnen, die in der Ansicht von oben verdeckt sind oder nur unzureichend erkannt werden können. Für jede Perspektive werden in der Regel eine oder mehrere Kameras eingesetzt. Bei herkömmlicher Betrachtung aus zusätzlich 4 seitlichen Richtungen sind damit insgesamt mind. 5 Kameras notwendig. In einem Aufbau nach 13 wird erreicht, dass zwei geneigte, gegenüber liegende Ansichten eines Objektes durch optisches Umschalten mit einer Kamera zu erfassen sind. Ein zu prüfendes Objekt wird mit LED-Strahlung beleuchtet. Zwei geneigte Objektstrahlengänge werden nun mit Metallspiegeln 11 auf einen polarisierenden Strahlteiler 9 gelenkt. Dieser teilt beide Objektstrahlungen in transmittierte und reflektierte Anteile auf. Weiterhin bewirkt er in beiden Strahlengängen, dass der transmittierte Anteil senkrecht und der reflektierte Anteil waagerecht zur Neigung der Teilerfläche polarisiert wird. Aufgrund der Anordnung ergibt sich, dass sich jeweils transmittierte Komponente der einen und reflektierte Komponente der anderen Strahlung in zueinander orthogonalen Polarisationszuständen überlagern. Im Fortgang eines dieser überlagerten Strahlengänge befindet sich ein Polarisationsrotator 13. Dieser besteht aus zwei parallelen Glasplatten mit einer dünnen Schicht ferroelektrischer Flüssigkristalle. Diese Zelle wirkt doppelbrechend. Die besondere Eigenschaft dieser Art Flüssigkristalle ist es nun, auf äußere elektrische Felder in der Art zu reagieren, dass sie je nach Feldrichtung bistabile Ausrichtungen einnehmen. Der Polarisationsrotator 13 ist also mittels zweier elektrischer Spannungen in der Lage, die Polarisation der durch ihn hindurchtretenden Strahlung um 90° zu drehen. Im Anschluss an den Polarisationsrotator 13 folgt ein Polarisationsfilter 8, der für die nachfolgende Kamera mit telezentrischem Objektiv nur eine Polarisationsrichtung passieren lässt. Es kommt also nur eine Ansicht zur Abbildung. Durch Umschalten des Polarisationsrotator 13 wird die gesamte Polarisationsrichtung gedreht und somit wird die andere Ansicht abgebildet.In the manufacture of electronic circuits, assembled and soldered printed circuit boards are inspected for manufacturing defects following the manufacturing process. The prior art includes the fact that the observation by means of camera-lens arrangement is not only orthogonal to the circuit board, but also from inclined positions out. As a result, additional information is obtained from object locations that are hidden in the view from above or can only be recognized insufficiently. For each perspective, one or more cameras are usually used. With conventional viewing from additionally 4 lateral directions, a total of at least 5 cameras are necessary. In a construction after 13 It is achieved that two inclined, opposing views of an object are to be detected by optical switching with a camera. An object to be tested is illuminated with LED radiation. Two inclined object beam paths are now using metal mirrors 11 on a polarizing beam splitter 9 directed. This splits both object radiation into transmitted and reflected components. Furthermore, it causes in both beam paths, that the transmitted portion is polarized perpendicular and the reflected portion is polarized horizontally to the inclination of the splitter surface. Due to the arrangement, it follows that each transmitted component of the one and superimposed component of the other radiation in mutually orthogonal polarization states. In the course of one of these superposed beam paths is a polarization rotator 13 , This consists of two parallel glass plates with a thin layer of ferroelectric liquid crystals. This cell acts birefringent. The special feature of this type of liquid crystals is now to respond to external electric fields in such a way that they assume bistable alignments depending on the field direction. The polarization rotator 13 Thus, by means of two electrical voltages capable of rotating the polarization of the radiation passing through it by 90 °. Following the polarization rotator 13 follows a polarization filter 8th , which allows only one polarization direction to pass for the subsequent camera with telecentric lens. So there is only one view to the picture. By switching the polarization rotator 13 the entire polarization direction is rotated and thus the other view is displayed.

Insgesamt ist es mit diesem System möglich, mittels zweier elektrischer Schaltzustände die zwei verschiedenen Ansichten des Objektes nacheinander und ohne mechanische Bewegung, getrennt abzubilden.All in all is it possible with this system, by means of two electrical switching states the two different views of the object consecutively and without mechanical movement, to image separately.

11: Objektansicht, InspektionsfeldObject View, inspection field
22: Lichtventillight valve
33: Strahlteilerbeamsplitter
44: Bildaufnehmerimager
55: Farbfiltercolor filter
66: dichroitischer Strahlteilerdichroic beamsplitter
77: durchstimmbarer Farbfilter, wellenlängenselektierende Einheittunable Color filter, wavelength-selective unit
88th: Polarisationsfilterpolarizing filter
99: polarisierender Strahlteilerpolarizing beamsplitter
1010: steuerbarer Analysator, polarisierende Einheit mit steuerbar veränderlicher Polarisationcontrollable Analyzer, polarizing unit with controllable variable polarization
1111: Umlenkelementdeflecting
1212: Bildumschalterimage switch
1313: Polarisationsrotatorpolarization rotator

Claims

Arrangement for the automatic optical inspection of assembled printed circuit boards, characterized in that - the printed circuit board can be divided into any number of inspection fields according to its geometrical conditions ( 1 ), - beam splitter ( 3 ) and tunable color filters ( 7 ) or color wheels arranged in such a way that each inspection field ( 1 ) visually on a planar image sensor ( 4 ), the inspection fields ( 1 ) are sequentially displayed on the same image pickup area, - the selection between several inspection fields ( 1 ) by a smaller number of the tunable color filters ( 7 ) or color wheels are used as inspection fields ( 1 ) are present and - the areal imager ( 4 ) is in communication with an evaluation system, wherein the evaluation system has a control system as an integral part, which with the tunable color filters ( 7 ) or color wheels in order to ensure that the inspection fields ( 1 ) are sequentially optically imaged on the same imager surface.

Arrangement for the automatic optical inspection of assembled printed circuit boards, characterized in that - the printed circuit board can be divided into any number of inspection fields according to its geometrical conditions ( 1 ), - polarizing beam splitters ( 9 ) and controllable analyzers ( 10 ) arranged in such a way that each inspection field ( 1 ) visually on egg planar imager ( 4 ), the inspection fields ( 1 ) are sequentially displayed on the same image pickup area, - the selection between several inspection fields ( 1 ) by a smaller number of controllable analyzers ( 10 ) takes place as inspection fields ( 1 ) are present and - the areal imager ( 4 ) is in communication with an evaluation system, wherein the evaluation system has a control system as an integral part, which with the controllable analyzers ( 10 ) in order to ensure that the inspection fields ( 1 ) are sequentially optically imaged on the same imager surface.

Arrangement according to claim 1, characterized in that - two inspection fields ( 1 ) and - each inspection field ( 1 ) each a color filter system ( 5 ), the beam splitter ( 3 ) and the tunable color filter ( 7 ), so that the object radiations of the two different inspection fields ( 1 ) through the beam splitter ( 3 ) are superimposed, in the common beam path occupy different wavelength ranges and individually on the planar image sensor ( 4 ) can be mapped by the desired inspection field ( 1 ) over the set wavelength range of the tunable color filter ( 7 ) is determined.

Arrangement according to claim 1, characterized in that - two inspection fields ( 1 ) are present and - the beam splitter ( 3 ) a dichroic beam splitter ( 6 ).

Arrangement according to one of the preceding claims, characterized in that by combined and / or cascaded arrangement of the optical means more than 2 inspection fields ( 1 ) switchable on the image sensor ( 4 ).