DE102006047911A1 - Arrangement for splitting detection light - Google Patents

Arrangement for splitting detection light Download PDF

Info

Publication number
DE102006047911A1
DE102006047911A1 DE200610047911 DE102006047911A DE102006047911A1 DE 102006047911 A1 DE102006047911 A1 DE 102006047911A1 DE 200610047911 DE200610047911 DE 200610047911 DE 102006047911 A DE102006047911 A DE 102006047911A DE 102006047911 A1 DE102006047911 A1 DE 102006047911A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
filter
arrangement according
optical axis
arrangement
detection light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE200610047911
Other languages
German (de)
Inventor
Ralf Wolleschensky
Wolfgang Bathe
Jörg STEINERT
Dieter Dr. Huhse
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss MicroImaging GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss MicroImaging GmbH filed Critical Carl Zeiss MicroImaging GmbH
Priority to DE200610047911 priority Critical patent/DE102006047911A1/en
Priority to PCT/EP2007/008555 priority patent/WO2008043459A2/en
Publication of DE102006047911A1 publication Critical patent/DE102006047911A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0064Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1006Beam splitting or combining systems for splitting or combining different wavelengths
    • G02B27/1013Beam splitting or combining systems for splitting or combining different wavelengths for colour or multispectral image sensors, e.g. splitting an image into monochromatic image components on respective sensors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/14Beam splitting or combining systems operating by reflection only
    • G02B27/145Beam splitting or combining systems operating by reflection only having sequential partially reflecting surfaces

Abstract

Anordnung zur Aufteilung von Detektionslicht in einem Laser-Scanning-Mikroskop, wobei eine spektrale Separierung unterschiedlicher Spektralanteile in transmittierte und ausgeblendete Anteile erfolgt, wobei die Aufteilung durch mindestens einen in einem Winkel ungleich 90° und 0° zur optischen Achse verkippten beschichteten Filter erfolgt, wobei der Winkel zu optischen Achse weniger als 20°, vorteilhaft weniger als 10°, von der optischen Achse abweicht.Arrangement for the division of detection light in a laser scanning microscope, wherein a spectral separation of different spectral components in transmitted and hidden parts takes place, wherein the division is effected by at least one tilted at an angle not equal to 90 ° and 0 ° to the optical axis coated filter, wherein the angle to the optical axis deviates less than 20 °, advantageously less than 10 °, from the optical axis.

Description

In einem Laser-Scanning-System werden Laser unterschiedlicher Leistungsklassen verwendet. Weiterhin ist ein Laser-Scanning-System durch eine grosse Anzahl von variablen Modulen gekennzeichnet, die als Detektor oder zur Beleuchtung dienen.In A laser scanning system uses lasers of different power classes used. Furthermore, a laser scanning system is characterized by a large Number of variable modules marked as detector or to serve for lighting.

Ein konfokales Scanmikroskop enthält ein Lichtquellenmodul, das bevorzugt aus mehreren Laserstrahlquellen besteht, die Beleuchtungslicht unterschiedlicher Wellenlängen erzeugen. Eine Scaneinrichtung, in die das Beleuchtungslicht als Beleuchtungsstrahl eingekoppelt wird, weist einen Hauptfarbteiler, einen x-y-Scanner und ein Scanobjektiv auf, um den Beleuchtungsstrahl durch Strahlablenkung über eine Probe zu führen, die sich auf einem Mikroskoptisch einer Mikroskopeinheit befindet. Ein dadurch erzeugter von der Probe kommender Messlichtstrahl wird über einen Hauptfarbteiler und eine Abbildungsoptik auf mindestens eine konfokale Detektionsblende (Detektionspinhole) eines Detektionskanals gerichtet.One confocal scanning microscope contains a light source module, which preferably consists of several laser beam sources exists that generate illumination light of different wavelengths. A scanning device, in which the illumination light as an illumination beam has a main color divider, an x-y scanner and a scan lens to scan the illumination beam through a beam deflection To lead a sample which is located on a microscope stage of a microscope unit. A measuring light beam coming from the sample generated thereby is transmitted via a Main color divider and an imaging optic on at least one confocal Detection aperture (detection pinhole) directed a detection channel.

In 1 ist schematisch ein Strahlengang eines Laser-Scanning-Mikroskopes dargestellt.In 1 schematically a beam path of a laser scanning microscope is shown.

Ein LSM gliedert sich im wesentlichen wie in 1 dargestellt in 4 Module: Lichtquelle, Scanmodul, Detektionseinheit und Mikroskop. Diese Module werden im folgenden näher beschrieben. Es wird zusätzlich auf DE 197 02 753 A1 verwiesen.An LSM is essentially as in 1 presented in 4 modules: light source, scan module, detection unit and microscope. These modules are described in more detail below. It is additionally on DE 197 02 753 A1 directed.

Zur spezifischen Anregung der verschiedenen Farbstoffe in einem Präparat werden in einem LSM Laser mit verschiedenen Wellenlängen eingesetzt. Die Wahl der Anregungswellenlänge richtet sich nach den Absorptionseigenschaften der zu untersuchenden Farbstoffe. Der Anregungsstrahlung wird im Lichtquellenmodul erzeugt. Zum Einsatz kommen hierbei verschiedene Laser (Argon, Argon Krypton, TiSa-Laser). Weiterhin erfolgt im Lichtquellenmodul die Selektion der Wellenlängen und die Einstellung der Intensität der benötigten Anregungswellenlänge, z.B. durch den Einsatz eines akusto-optischen Kristalls. Anschließend gelangt die Laserstrahlung über eine Faser oder eine geeignete Spiegelanordnung in das Scanmodul.to specific stimulation of the different dyes in a preparation used in a LSM laser with different wavelengths. The choice of Excitation wavelength depends on the absorption properties of the examined Dyes. The excitation radiation is generated in the light source module. Various lasers (argon, argon krypton, TiSa laser). Furthermore, the selection is carried out in the light source module the wavelengths and the setting of the intensity the needed Excitation wavelength, e.g. through the use of an acousto-optic crystal. Then arrives the laser radiation over a fiber or a suitable mirror arrangement in the scan module.

Die in der Lichtquelle erzeugte Laserstrahlung wird mit Hilfe des Objektivs beugungsbegrenzt über die Scanner, die Scanoptik und die Tubuslinse in das Präparat fokussiert. Der Fokus rastert punktförmig die Probe in x-y-Richtung ab. Die Pixelverweilzeiten beim Scannen über die Probe liegen meist im Bereich von weniger als einer Mikrosekunde bis zu einigen 100 Mikrosekunden.The Laser radiation generated in the light source is using the lens diffraction limited over Focus the scanner, the scan optics and the tube lens into the specimen. The focus rasterizes punctiform sample in the x-y direction. The pixel dwell times when scanning over the Samples are usually in the range of less than a microsecond up to several 100 microseconds.

Bei einer konfokales Detektion (descanned Detection) des Fluoreszenzlichtes, gelangt das Licht das aus der Fokusebene (Specimen) und aus den darüber- und darunterliegenden Ebenen emittiert wird, über die Scanner auf einen dichroitischen Strahlteiler (MD). Dieser trennt das Fluoreszenzlicht vom Anregungslicht. Anschließend wird das Fluoreszenzlicht auf eine Blende (konfokale Blende/Pinhole) fokussiert, die sich genau in einer zur Fokusebene konjugierten Ebene befindet. Dadurch werden Fluoreszenzlichtanteile außerhalb des Fokus unterdrückt. Durch Variieren der Blendengröße kann die optische Tiefenauflösung des Mikroskops eingestellt werden. Hinter der Blende befindet sich ein weiterer dichroitischer Blockfilter (EF) der nochmals die Anregungsstrahlung unterdrückt. Nach Passieren des Blockfilters wird das Fluoreszenzlicht mittels eines Punktdetektors (PMT) gemessen.at a confocal detection (descanned detection) of the fluorescent light, The light comes from the focal plane (Specimen) and from the above and underlying levels is emitted via the scanner to a dichroic beam splitter (MD). This separates the fluorescent light from the excitation light. Subsequently, will the fluorescent light is focused on a diaphragm (confocal aperture / pinhole), which is located exactly in a plane conjugate to the focal plane. As a result, fluorescent light portions outside the focus are suppressed. By Varying the aperture size can the optical depth resolution of the microscope. Behind the panel is located another dichroic block filter (EF) again the excitation radiation suppressed. After passing through the block filter, the fluorescent light is of a point detector (PMT).

Bei Verwendung einer Mehrphotonen-Absorption erfolgt die Anregung der Farbstofffluoreszenz in einem kleinen Volumen an dem die Anregungsintensität besonders hoch ist. Dieser Bereich ist nur unwesentlich größer als der detektierte Bereich bei Verwendung einer konfokalen Anordnung. Der Einsatz einer konfokalen Blende kann somit entfallen und die Detektion kann direkt nach dem Objektiv erfolgen (non descannte Detektion).at Using a multiphoton absorption, the excitation of the Dye fluorescence in a small volume at which the excitation intensity especially is high. This range is only slightly larger than the detected range when using a confocal arrangement. The use of a confocal Aperture can thus be omitted and the detection can be done directly after the Objectively done (non-descanned detection).

In einer weiteren Anordnung zur Detektion einer durch Mehrphotonenabsorption angeregten Farbstofffluoreszenz erfolgt weiterhin eine descannte Detektion, jedoch wird diesmal die Pupille des Objektives in die Detektionseinheit abgebildet (nichtkonfokal descannte Detektion).In another arrangement for detecting one by Mehrphotonenabsorption excited dye fluorescence is still a descanned detection, however, this time the pupil of the objective is in the detection unit imaged (non-confocal descanned detection).

Von einem dreidimensional ausgeleuchteten Bild wird durch beide Detektionsanordnungen in Verbindung mit der entsprechenden Einphotonen bzw. Mehrphotonen-Absorption nur die Ebene (optischer Schnitt) wiedergegeben, die sich in der Fokusebene des Objektivs befindet. Durch die Aufzeichnung mehrerer optische Schnitte in der x-y Ebene in verschiedenen Tiefen z der Probe kann anschließend rechnergestützt ein dreidimensionales Bild der Probe generiert werden.From a three-dimensionally illuminated image is by both detection arrangements in conjunction with the corresponding one-photon or multiphoton absorption only the plane (optical section) reproduced in the Focusing plane of the lens is located. By recording several optical sections in the x-y plane at different depths z Sample can subsequently computer-aided a three-dimensional image of the sample will be generated.

Das LSM ist somit zur Untersuchung von dicken Präparaten geeignet. Die Anregungswellenlängen werden durch den verwendeten Farbstoff mit seinen spezifischen Absorptionseigenschaften bestimmt. Auf die Emissionseigenschaften des Farbstoffes abgestimmte dichroitische Filter stellen sicher, dass nur das vom jeweiligen Farbstoff ausgesendete Fluoreszenzlicht vom Punktdetektor gemessen wird.The LSM is therefore suitable for the examination of thick specimens. The excitation wavelengths become by the dye used with its specific absorption properties certainly. Matched to the emission properties of the dye Dichroic filters ensure that only that of the respective Dye emitted fluorescent light from the point detector measured becomes.

In biomedizinischen Applikationen werden zur Zeit mehrere verschiedene Zellregionen mit verschiedenen Farbstoffe gleichzeitig markiert (Multifluoreszenz). Die einzelnen Farbstoffe können mit den Stand der Technik entweder aufgrund verschiedener Absorptionseigenschaften oder Emissionseigenschaften (Spektren) getrennt nachgewiesen werden. Dazu erfolgt eine zusätzliche Aufspaltung des Fluoreszenzlichts von mehreren Farbstoffen mit den Nebenstrahlteilern (DBS) und eine getrennte Detektion der einzelnen Farbstoffemissionen in getrennten Punktdetektoren (PMT x).In biomedical applications, several different cell regions are currently labeled with different dyes simultaneously (multifluorescence). The individual dyes can with the prior art either due to different absorption properties or emission (spectra) are detected separately. For this purpose, there is an additional splitting of the fluorescent light of several dyes with the secondary beam splitters (DBS) and a separate detection of the individual dye emissions in separate point detectors (PMT x).

Das LSM LIVE der Carl Zeiss Micolmaging GmbH realisiert einen sehr schnellen Linienscanner mit einer Bilderzeugung um 120 Bildern pro Sekunde
( http://www.zeiss.de/c12567be00459794/Contents-Frame/fd9fa0090eee01a641256a550036267b ).
The LSM LIVE from Carl Zeiss Micolmaging GmbH realizes a very fast line scanner with an image generation rate of 120 frames per second
( http://www.zeiss.de/c12567be00459794/Contents-Frame/fd9fa0090eee01a641256a550036267b ).

Die Verbindung der Lichtquellenmodule mit dem Scanmodul erfolgt in der Regel über Lichtleitfasern.The Connection of the light source modules with the scan module takes place in the Usually over Optical fibers.

Das Einkoppeln mehrerer unabhängiger Laser in eine Faser zur Übertragung zum Scankopf wurde beispielsweise in Pawley: „Handbook of Confocal Microskopy„, Plenum Press, 1994, Seite 151 sowie in DE 196 33 185 A1 beschrieben.The coupling of several independent lasers into a fiber for transmission to the scan head was, for example, in Pawley: "Handbook of Confocal Microscopy", Plenum Press, 1994, page 151 as in DE 196 33 185 A1 described.

In 2 ist der Bereich nach dem Hauptfarbteiler in Richtung der Detektion dargestellt. Die in 1 als DBS bezeichneten Nebenfarbteiler sind hier NFT1 und NFT2, die die Detektionsstrahlung wellenlängenabhängig (Vorselektion) in Richtung von DetektorenD1-D3, denen noch vorzugsweise motorisch wechselbare Emissionsfilter EF1-EF3 (Hauptselektion der Wellenlänge) vorgeordnet sind.In 2 the area after the main color divider is shown in the direction of the detection. In the 1 Here, NFT1 and NFT2, which are referred to as DBS, denote the detection radiation in a wavelength-dependent manner (preselection) in the direction of detectors D1-D3, which are preferably preceded by engine-changeable emission filters EF1-EF3 (main selection of the wavelength).

In 3 ist dargestellt, dass NFT1 und 2 sowie EF 1-3 als motorisch betriebene Filterräder ausgebildet sein können, um die Flexibilität bei der Einstellung von detektierten Wellenlängenbereichen zu optimieren.In 3 It is shown that NFT1 and 2 as well as EF 1-3 can be designed as motor-driven filter wheels in order to optimize the flexibility in the setting of detected wavelength ranges.

Die in 1 dargestellten Pinholes PH1-4 sind aus Gründen der Anschaulichkeit in 2-5 n nicht vorhanden, da auch ein Pinhole für alle Teilstrahlengänge, diesen vorangesetzt ausführbar wäre.In the 1 For the sake of clarity, PH1-4 shown in FIG 2 - 5 n not available, as well as a pinhole for all partial beam paths, this vorgesetzt executable.

Emissionsfilter und dichroitische Strahlteiler wurden nach dem Stand der Technik bisher unterschiedlich eingesetzt:

  • • Emissionsfilter im Strahlengang vor dem Detektor zur Auswahl der detektierten Wellenlängen, senkrecht zur optischen Achse angeordnet. Gleichzeitig unterdrücken die Emissionsfilter das Licht außerhalb des gewählten Spektralbereiches
  • • Dichroitische Strahlteiler (mit deutlich schwächeren Unterdrückungseigenschaften ausserhalb ihres transmissiven Wirkungsbereiches) zur Vorselektion von Wellenlängenbereichen, ebenfalls, auch wechselbar, nicht senkrecht, typisch unter 45° zur optischen Achse angeordnet
Emission filters and dichroic beam splitters have hitherto been used differently in the prior art:
  • • Emission filter in the beam path in front of the detector for selecting the detected wavelengths, arranged perpendicular to the optical axis. At the same time, the emission filters suppress the light outside the selected spectral range
  • • Dichroic beamsplitters (with significantly lower suppression properties outside their transmissive range of action) for the preselection of wavelength ranges, also, also changeable, not vertical, typically at 45 ° to the optical axis

Zum Erreichen der in 2 nach dem Stand der Technik dargestellten Flexibilität sind zur Detektion von drei Spektralbereichen 5 Filterräder und bei maximal variabler Detektion auch 5 Antriebe zum Wechseln der Filter erforderlich.To reach the in 2 According to the state of the art, flexibility is required for the detection of three spectral ranges 5 filter wheels and with maximum variable detection and 5 drives for changing the filter.

Daneben gibt es einen hohen Platzbedarf für die benötigten Elemente.Besides There is a high space requirement for the required elements.

Dieser hohe Aufwand soll durch die Erfindung reduziert werden.This high cost to be reduced by the invention.

Erfindungsgemäss wurde erkannt, dass vorteilhaft beschichtete Emissionsfilter praktisch keine Absorption aufweisen. Diese Filter reflektieren alles Licht mit Wellenlängen außerhalb des selektierten Spektralbereiches. Es scheint daher möglich, dieses reflektierte Licht für weitere spektrale Kanäle zu nutzen Damit das reflektierte Licht vom einfallenden Licht ohne weitere Filter getrennt werden kann, werden die Emissionsfilter leicht aus dem senkrechten Einfall heraus gekippt. Ein kleiner Winkel (<< 20°) wurde dabei als besonders vorteilhaft erkannt, weil die spektralen Eigenschaften typischer Emissionsfilter (hohe Unterdrückung, steile Bandkanten) sich für senkrechten Einfall und kleine vom senkrechten Einfall abweichende Winkel sich besonders gut realisieren lassen.According to the invention was recognized that advantageously coated emission filters practically have no absorption. These filters reflect all light with wavelengths outside of the selected spectral range. It therefore seems possible, this reflected Light for additional spectral channels To use the reflected light from the incident light without Further filters can be separated, the emission filters slightly tilted out of the vertical incidence. A small angle (<< 20 °) was there recognized as particularly advantageous because the spectral properties typical emission filter (high suppression, steep band edges) for vertical Incidence and small angle deviating from the vertical incidence especially good to realize.

Weiterhin erfolgt mit den Filtern eine Transmission des nicht reflektierten Strahlanteils mit hoher Unterdrückung der nicht erwünschten Strahlung (vorteilhaft grösser 10-3) in diesem Bereich.Furthermore, with the filters, a transmission of the non-reflected beam portion with high suppression of unwanted radiation (advantageously greater than 10 -3 ) in this area.

Durch diese Anordnung ergibt sich vorteilhaft die Möglichkeit einer einfacheren, kompakteren und kostenreduzierten „Kaskadierung" der Detektionskanäle in einer oder mehreren Ebenen.By this arrangement advantageously results in the possibility of a simpler, more compact and cost-reduced "cascading" of the detection channels in one or more levels.

Die Erfindung wird nachstehend anhand der 4, 5 und 6 näher beschrieben.The invention will be described below with reference to the 4 . 5 and 6 described in more detail.

Es zeigen:It demonstrate:

4: Erfindungsgemäss angeordnete Emissionsfilter NEF 1-3, Detektoren D1-D3, Strahlfalle S 4 : Emission filters NEF 1-3 arranged according to the invention, detectors D1-D3, jet trap S

5: 5 :

Die NEF 1-3 jeweils auf Filterrädern zur AuswechslungThe NEF 1-3 each on filter wheels for replacement

6: Zusätzliche schaltbare Filter F1-3 im Strahlengang von 4. 6 : Additional switchable filter F1-3 in the beam path of 4 ,

Erfindungsgemäss sind die Emissionsfilter so ausgebildet, dass sie einen definierten Teil der Lichtstrahlung transmittieren und den Rest nahezu vollständig reflektieren.According to the invention are the emission filters are designed so that they have a defined part transmit the light radiation and reflect the rest almost completely.

Zu diesem Zweck sind sie in einem Winkel ungleich 90 Grad im Strahlengang angeordnet, der einen Einfallswinkel auf dem Filter von ungleich null Grad realisiertTo For this purpose, they are at an angle not equal to 90 degrees in the beam path arranged, which has an angle of incidence on the filter of unequal zero degrees realized

Es erfolgt also eine Gestaltung der Emissionsfilter so, dass reflektiertes Spektrum noch genutzt werden kann:

  • – Reflektion des noch gewünschten Restspektrums
  • – Nicht gewünschtes Restspektrum kann absorbiert werden
  • – Einfallswinkel abweichend von 0°, aber noch klein (typischerweise 10°, auf jeden Fall deutlich kleiner 45°)
  • – kleiner Einfallswinkel garantiert nahezu gleiche Eigenschaften für s- und p-polarisiertes Licht sowie hocheffiziente Unterdrückung der nicht gewünschten Spektralbereiche in Transmission.
So there is a design of the emission filter so that reflected spectrum can still be used:
  • - Reflection of the desired residual spectrum
  • - Unnecessary residual spectrum can be absorbed
  • - Incidence angle deviating from 0 °, but still small (typically 10 °, in any case significantly less than 45 °)
  • - Small angle of incidence guarantees almost the same properties for s- and p-polarized light as well as highly efficient suppression of unwanted spectral regions in transmission.

In einem weiteren Schritt erfolgt ein Nachschalten eines zweiten vorzugsweise schaltbaren Emissionsfilters vor dem Detektor mit folgenden Vorteilen:

  • – Erhöhung der Flexibilität, mit dem Filter kann Spektralbereich weiter eingeschränkt werden
  • – Zur einseitigen Einengung des Spektrums reicht ein zusätzlicher Kurz- bzw. Langpaß, das ergibt zusammen mit dem vorgeschalteten Filter ein Bandpaß und ist kostengünstiger als zwei schaltbare Bandpässe
  • – Das reflektiertes Licht vom nachgeschalteten Filter kann ebenfalls genutzt werden.
In a further step, a downstream, preferably switchable, emission filter follows in front of the detector with the following advantages:
  • - Increased flexibility, with the filter spectral range can be further restricted
  • - For one-sided narrowing of the spectrum an additional short or long pass, which together with the upstream filter bandpass and is less expensive than two switchable bandpasses
  • - The reflected light from the downstream filter can also be used.

Der ungenutzte Teil des Spektrums kann auch in eine Strahlfalle S geleitet werden. Eine Detektion des Lichts mit einem weiteren Detektor z.B. für Kontrollzwecke ist ebenfalls denkbar.Of the Unused portion of the spectrum may also be directed into a beam trap S become. Detection of the light with another detector e.g. for control purposes is also possible.

4 zeigt einen einfachen Aufbau ohne nachgeschaltete Filter: Die Filter können auch wechselbar geschaltet werden: 4 shows a simple structure without downstream filters: The filters can also be switched interchangeable:

5 zeigt feste Filter zur Hauptselektion, zusätzlich schaltbare Filter, vorzugsweise Lang- und Kurzpässe, zur Einengung der Spektren der festen Filter: 5 shows fixed filters for main selection, additional switchable filters, preferably long and short passes, for narrowing the spectra of the fixed filters:

6 zeigt eine Anordnung mit im Strahlengang angeordneten „üblichen„ Emissionsfilterrädern NEF 1-3. 6 shows an arrangement with arranged in the beam path "conventional" emission filter wheels NEF 1-3.

Beispielhaft wurden hier immer Anordnungen mit 3 Kanälen gezeigt, es können aber auch nur zwei oder beliebig viele Kanäle sein.exemplary Here, arrangements with 3 channels have always been shown, but they can be just two or any number of channels.

Claims (8)

Anordnung zur Aufteilung von Detektionslicht in einem Laser-Scanning-Mikroskop, wobei eine spektrale Separierung unterschiedlicher Spektralanteile in transmittierte und ausgeblendete Anteile erfolgt, dadurch gekennzeichnet dass die Aufteilung durch mindestens einen in einem Winkel ungleich 90 und Null Grad zur optischen Achse verkippten beschichteten ersten Filter erfolgt.Arrangement for the division of detection light in a laser scanning microscope, wherein a spectral separation of different spectral components in transmitted and hidden parts, characterized in that the division is effected by at least one tilted at an angle not equal to 90 and zero degrees to the optical axis coated first filter , Anordnung nach Anspruch 1, wobei der Winkel zur optischen Achse weniger als 20 Grad, vorteilhaft weniger als 10 Grad von der optischen Achse abweicht.Arrangement according to claim 1, wherein the angle to the optical Axis less than 20 degrees, preferably less than 10 degrees from the deviates from optical axis. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, Wobei der Filter zur Aufteilung eine für Emissionsfilter typische Unterdrückung der ausgeblendeten Spektralanteile von > 10-3 aufweist.Arrangement according to claim 1 or 2, wherein the filter for splitting has a typical for emission filter suppression of the hidden spectral components of> 10 -3 . Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei dem ersten Filter mindestens in der Richtung der ausgeblendeten Strahlung mindestens ein zweiter Filter nachgeordnet ist.Arrangement according to one of the preceding claims, wherein the first filter at least in the direction of the hidden Radiation is arranged downstream of at least a second filter. Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine kaskadenförmige Aufspaltung des Detektionslichtes mindestens in einer Ebene erfolgt, durch die die optische Achse führt.Arrangement according to one of the preceding claims, wherein a cascade Splitting the detection light takes place at least in one plane, through which the optical axis leads. Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei dem ersten oder zweiten Filter nachgeordnete Emissionsfilter zur Einengung des transmittierten Spektrums vorgesehen sind.Arrangement according to one of the preceding claims, wherein the first or second filter downstream emission filter for Narrowing of the transmitted spectrum are provided. Anordnung nach Anspruch 6, wobei der nachgeordnete Emissionsfilter ist Lang- oder Kurzpaß ist und mit dem vorgeschalteten Filter einen Bandpaß bildet.Arrangement according to claim 6, wherein the subordinate Emission filter is long or short pass and with the upstream Filter forms a bandpass. Laser-Scanning-Mikroskop mit mindestens einer Anordnung nach einem der vorangehenden Ansprüche.Laser scanning microscope with at least one arrangement according to any one of the preceding claims.
DE200610047911 2006-10-06 2006-10-06 Arrangement for splitting detection light Pending DE102006047911A1 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200610047911 DE102006047911A1 (en) 2006-10-06 2006-10-06 Arrangement for splitting detection light
PCT/EP2007/008555 WO2008043459A2 (en) 2006-10-06 2007-10-02 System for detection light division

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200610047911 DE102006047911A1 (en) 2006-10-06 2006-10-06 Arrangement for splitting detection light

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102006047911A1 true DE102006047911A1 (en) 2008-04-10

Family

ID=39154696

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200610047911 Pending DE102006047911A1 (en) 2006-10-06 2006-10-06 Arrangement for splitting detection light

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE102006047911A1 (en)
WO (1) WO2008043459A2 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008034008A1 (en) * 2008-07-21 2010-01-28 Carl Zeiss Surgical Gmbh Filter kit for the observation of fluorescence radiation in biological tissue
WO2013045226A1 (en) * 2011-09-30 2013-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope for widefield microscopy
DE102018126232B3 (en) * 2018-10-22 2020-03-26 Abberior Instruments Gmbh Scanning light microscope with different inputs for light of different wavelengths for scanning a sample
DE102019101773A1 (en) * 2019-01-24 2020-07-30 Carl Zeiss Meditec Ag Microscopy system and method for operating a microscopy system

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19758746C2 (en) * 1997-01-27 2003-07-31 Zeiss Carl Jena Gmbh Laser Scanning Microscope
DE19859314A1 (en) * 1998-12-22 2000-06-29 Zeiss Carl Jena Gmbh Light diffraction device for separating excitation and emission light in confocal microscope e.g. laser scanning microscope, uses at least one diffraction element for diffraction of selected wavelength of excitation light
US7508507B2 (en) * 2004-10-12 2009-03-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Device for selecting and detecting at least two spectral regions of a light beam

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008034008A1 (en) * 2008-07-21 2010-01-28 Carl Zeiss Surgical Gmbh Filter kit for the observation of fluorescence radiation in biological tissue
DE102008034008B4 (en) * 2008-07-21 2010-07-01 Carl Zeiss Surgical Gmbh Filter kit for the observation of fluorescence radiation in biological tissue
US8306600B2 (en) 2008-07-21 2012-11-06 Carl Zeiss Meditec Ag Filter set for observing fluorescence radiation in biological tissue
WO2013045226A1 (en) * 2011-09-30 2013-04-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope for widefield microscopy
US9435992B2 (en) 2011-09-30 2016-09-06 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Microscope for widefield microscopy
DE102018126232B3 (en) * 2018-10-22 2020-03-26 Abberior Instruments Gmbh Scanning light microscope with different inputs for light of different wavelengths for scanning a sample
DE102019101773A1 (en) * 2019-01-24 2020-07-30 Carl Zeiss Meditec Ag Microscopy system and method for operating a microscopy system
DE102019101773B4 (en) * 2019-01-24 2021-06-17 Carl Zeiss Meditec Ag Microscopy system and method for operating a microscopy system
DE102019101773B9 (en) 2019-01-24 2021-11-25 Carl Zeiss Meditec Ag Microscopy system and method for operating a microscopy system
US11835461B2 (en) 2019-01-24 2023-12-05 Carl Zeiss Meditec Ag Microscopy system and method for operating a microscopy system

Also Published As

Publication number Publication date
WO2008043459A2 (en) 2008-04-17
WO2008043459A3 (en) 2008-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102006034908B4 (en) Laser Scanning Microscope
DE10243449B4 (en) CARS microscope and method for CARS microscopy
EP1164406B1 (en) Method and device for illuminating an object
DE102005020545A1 (en) Device for controlling light radiation
WO2005024482A1 (en) Light source comprising a plurality of microstructured optical elements
WO2013007591A1 (en) Confocal incident-light scanning microscope
DE10120425A1 (en) Method for examining a specimen uses two optical blending lines with a specimen excited optically with light of first and second wavelengths
WO2013131808A1 (en) Light scanning microscope with spectral detection
DE10115488A1 (en) Arrangement for investigating microscopic preparations, has optical component between scanning laser and imaging optical arrangement to spectrally expand laser light during single pass
EP1882970A1 (en) Laser scanning microscope for fluorescence analysis
DE102005020543A1 (en) Method and device for adjustable change of light
DE10056382A1 (en) Source of light for illumination in a scan microscope has an electromagnetic source of power emitting light for a wavelength while upstream to a device for apportioning light into two dividing beams of light.
DE10139754B4 (en) Illumination method for a scanning microscope and scanning microscope
WO2007028725A1 (en) Confocal microscope and method for detecting by means of a confocal microscope
EP3084502A1 (en) Multi-color scanning microscope
DE102006047911A1 (en) Arrangement for splitting detection light
DE102006034907A1 (en) Laser Scanning Microscope
LU93022B1 (en) Method and microscope for examining a sample
DE102010060747B4 (en) Confocal laser scanning microscope for examining a sample
DE102013222562B4 (en) Microscope and method and use of a microscope for evanescent illumination and point grid illumination
DE102006011277A1 (en) Laser scanning microscope for detecting fluorescent radiation, has detection module with detection unit that detects linear sections in such a manner that linear probe radiation bundle is produced for each section
DE102007009660A1 (en) Confocal laser microscope
DE102013021182B4 (en) Device and method for scanning microscopy
DE102006034909A1 (en) Method for laser scanning microscopy and beam combiner
DE102007009659A1 (en) Laser scanning microscope for use in biomedical application, has diode pumped solid state laser with frequency multiplication in continuous wave drive, and coupled into scan head of laser scanning microscope by monomode optical fiber

Legal Events

Date Code Title Description
8181 Inventor (new situation)

Inventor name: STEINERT, JOERG, 07743 JENA, DE

Inventor name: HUHSE, DIETER, DR., 12167 BERLIN, DE

Inventor name: BATHE, WOLFGANG, 07743 JENA, DE

Inventor name: WOLLESCHENSKY, RALF, 07743 JENA, DE

R081 Change of applicant/patentee

Owner name: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH, DE

Free format text: FORMER OWNER: CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH, 07745 JENA, DE

Effective date: 20130204

R012 Request for examination validly filed

Effective date: 20130905

R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication