DE10115509A1 - Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop - Google Patents
Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein ScanmikroskopInfo
- Publication number
- DE10115509A1 DE10115509A1 DE10115509A DE10115509A DE10115509A1 DE 10115509 A1 DE10115509 A1 DE 10115509A1 DE 10115509 A DE10115509 A DE 10115509A DE 10115509 A DE10115509 A DE 10115509A DE 10115509 A1 DE10115509 A1 DE 10115509A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- scanning microscope
- optical
- laser
- light
- microscope according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 42
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 21
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 16
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 claims description 7
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 claims description 7
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 claims 3
- 238000005562 fading Methods 0.000 claims 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 abstract description 27
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 241000264877 Hippospongia communis Species 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 241001631457 Cannula Species 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000004624 confocal microscopy Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000003716 rejuvenation Effects 0.000 description 1
- 238000004621 scanning probe microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/02—Optical fibres with cladding with or without a coating
- G02B6/02295—Microstructured optical fibre
- G02B6/02314—Plurality of longitudinal structures extending along optical fibre axis, e.g. holes
- G02B6/02342—Plurality of longitudinal structures extending along optical fibre axis, e.g. holes characterised by cladding features, i.e. light confining region
- G02B6/02376—Longitudinal variation along fibre axis direction, e.g. tapered holes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0218—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using optical fibers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/1256—Generating the spectrum; Monochromators using acousto-optic tunable filter
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0056—Optical details of the image generation based on optical coherence, e.g. phase-contrast arrangements, interference arrangements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0064—Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/255—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding
- G02B6/2552—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding reshaping or reforming of light guides for coupling using thermal heating, e.g. tapering, forming of a lens on light guide ends
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/35—Non-linear optics
- G02F1/353—Frequency conversion, i.e. wherein a light beam is generated with frequency components different from those of the incident light beams
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/02—Optical fibres with cladding with or without a coating
- G02B6/02295—Microstructured optical fibre
- G02B6/02314—Plurality of longitudinal structures extending along optical fibre axis, e.g. holes
- G02B6/02342—Plurality of longitudinal structures extending along optical fibre axis, e.g. holes characterised by cladding features, i.e. light confining region
- G02B6/02366—Single ring of structures, e.g. "air clad"
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/02—Optical fibres with cladding with or without a coating
- G02B6/02295—Microstructured optical fibre
- G02B6/02314—Plurality of longitudinal structures extending along optical fibre axis, e.g. holes
- G02B6/02342—Plurality of longitudinal structures extending along optical fibre axis, e.g. holes characterised by cladding features, i.e. light confining region
- G02B6/02371—Cross section of longitudinal structures is non-circular
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/35—Non-linear optics
- G02F1/3528—Non-linear optics for producing a supercontinuum
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2202/00—Materials and properties
- G02F2202/32—Photonic crystals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/005—Optical devices external to the laser cavity, specially adapted for lasers, e.g. for homogenisation of the beam or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/14—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
- H01S3/16—Solid materials
- H01S3/1601—Solid materials characterised by an active (lasing) ion
- H01S3/162—Solid materials characterised by an active (lasing) ion transition metal
- H01S3/1625—Solid materials characterised by an active (lasing) ion transition metal titanium
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/14—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
- H01S3/16—Solid materials
- H01S3/163—Solid materials characterised by a crystal matrix
- H01S3/1631—Solid materials characterised by a crystal matrix aluminate
- H01S3/1636—Al2O3 (Sapphire)
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Endoscopes (AREA)
- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
- Vehicle Body Suspensions (AREA)
- Polarising Elements (AREA)
- Seal Device For Vehicle (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Treatments Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Die Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop besteht aus einem Laser (1) und einem optischen Mittel (12), das das von dem Laser (1) erzeugte Licht auf eine zu untersuchende Probe (13) abbildet. Zwischen dem Laser (1) und dem optischen Mittel (12) ist ein optisches Bauelement (3, 20) vorgesehen, das das vom Laser (1) erzeugte Licht bei einmaligem Durchlauf spektral verbreitert. Das optische Bauelement (3, 20) besteht aus photonic-band-gap-material. Besonders vorteilhaft ist es, wenn das photonic-band-gap-material als Lichtleitfaser (20) ausgebildet ist.
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer
Präparate mit einem Scanmikroskop. Im Besonderen betrifft die Erfindung
eine Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem
Scanmikroskop, das einen Laser und ein optisches Mittel umfasst, dass das
von dem Laser erzeugte Licht auf eine zu untersuchende Probe abbildet. Das
Scanmikroskop kann auch als konfokales Mikroskop ausgestaltet sein.
Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Beleuchtungseinrichtung für ein
Scanmikroskop.
In der Scanmikroskopie wird eine Probe mit einem Lichtstrahl abgerastert.
Hierzu werden oft Laser als Lichtquelle eingesetzt. Aus der EP 0 495 930:
"Konfokales Mikroskopsystem für Mehrfarbenfluoreszenz" ist beispielsweise
ein Anordnung mit einem einzelnen, mehrere Laserlinien emittierenden Laser
bekannt. Derzeit werden hierfür meist Mischgaslaser, insbesondere
ArKr-Laser, eingesetzt.
Im Einsatz sind auch Diodenlaser und Festkörperlaser.
Aus der Patenschrift US-A-5,161,053 mit dem Titel "Confocal Microscope" ist
ein konfokales Mikroskop bekannt, bei dem Licht einer externen Lichtquelle
mit Hilfe einer Glasfaser zum Strahlengang des Mikroskops transportiert wird
und das Ende der Glasfaser als Punktlichtquelle dient, so dass eine
mechanische Blende überflüssig wird.
Das Emissionsspektrum von Lasern ist auf einen schmalen
Wellenlängenbereich eingegrenzt, so dass zur simultanen Mehrlinienanregung
das Licht mehrerer Laser zu einem Beleuchtungsstrahl vereinigt werden
muss.
Die als Mehrlinienlaser meist eingesetzten Gaslaser sind sehr aufwendig und
teuer. Darüber hinaus sind sie sehr wartungsbedürftig, was den Dauereinsatz
bei vielen mikroskopischen Anwendungen erschwert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Scanmikroskop zu schaffen,
das die Probenuntersuchung mit mehreren spektralen Linien ermöglicht, ohne
dabei auf den Einsatz vom Mehrlinienlaser angewiesen zu sein.
Die objektive Aufgabe wird gelöst durch eine Anordnung, die dadurch
gekennzeichnet ist, dass zwischen dem Laser und dem optischen Mittel ein
optisches Bauelement vorgesehen ist, dass das vom Laser erzeugte Licht bei
einmaligem Durchlauf spektral verbreitert.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung ist es, eine Beleuchtungseinrichtung für
ein Scanmikroskop zu schaffen, die weitere spektrale Bereiche zugänglich
macht, die bisher nicht adressierbar waren.
Die objektive Aufgabe wird gelöst durch eine Beleuchtungseinrichtung, die
dadurch gekennzeichnet ist, dass an der Lichtaustrittsöffnung ein optisches
Bauelement angebracht ist, das aus photonic-band-gap-material besteht.
Das optische Bauelement in der Form eines "photonic-band-gap-material" hat
den Vorteil, dass durch den optisch nichtlinearen Aufbau der Faser ein kurzer
Laserimpuls verbreitert wird und somit ein spektral breites, kontinuierliches
Lichtspektrum entsteht. Bei "Photonic-band-gap-material" handelt es sich um
mikrostrukturiertes durchsichtiges Material. Meist durch Zusammenfügen von
verschiedenen Dielektrika lässt sich dem resultierenden Kristall eine
Bandstruktur für Photonen aufprägen, die an die elektronische Bandstruktur
von Halbleitern erinnert.
Die Technik wird neuerdings auch bei Lichtleitfasern verwirklicht. Die Fasern
werden durch Ausziehen von strukturiert angeordneten Glasrohren hergestellt.
Den Fasern liegt eine besondere Struktur zugrunde: In Faserrichtung sind
kleine Kanülen frei gelassen, die einen Abstand von etwa 2-3 µm und einen
Durchmesser von ca. 1 µm haben und meist mit Luft gefüllt sind. In der Mitte
der Faser liegt keine Kanüle vor. Diese Art von Fasern sind als "photon crystal
fibres", "holey fibers" oder "microstructured fibers" bekannt.
"Photon crystal fibres" können für die Erzeugung einer kontinuierlichen
spektralen Verteilung über den gesamten sichtbaren Wellenlängenbereich
eingesetzt werden. Hierzu wird das Licht eines Kurzpulslasers in die Faser
eingekoppelt. Durch den optisch nichtlinearen Aufbau der Faser verbreitert
sich das Frequenzspektrum des Lasers. Es entsteht ein spektral breites,
kontinuierliches Lichtspektrum.
Das optische Bauelement ist in einer bevorzugten Ausgestaltung des
Scanmikroskops aus einer Vielzahl von mikrooptischen Strukturelementen
aufgebaut, die zumindest zwei unterschiedliche optische Dichten aufweisen.
Ganz besonders bevorzugt ist eine Ausgestaltung, bei der das optische
Element einen ersten Bereich und einen zweiten Bereich beinhaltet, wobei der
erste Bereich eine homogene Struktur aufweist und in dem zweiten Bereich
eine mikroskopische Struktur aus mikrooptischen Strukturelementen gebildet
ist. Von Vorteil ist es außerdem, wenn der erste Bereich den zweiten Bereich
umschließt. Die mikrooptischen Strukturelemente sind vorzugsweise Kanülen,
Stege, Waben, Röhren oder Hohlräume.
Das optische Bauelement besteht in einer anderen Ausgestaltung aus
nebeneinander angeordnetem Glas- oder Kunststoffmaterial und Hohlräumen.
Besonders zu bevorzugen ist die Ausführungsvariante, bei der das optische
Bauelement aus Photonic-Band-Gap-Material besteht und als Lichtleitfaser
ausgestaltet, wobei vorzugsweise eine optische Diode vorgesehen ist, die
eine Rückreflexion des Lichtstrahles unterdrückt des Lasers an den Enden der
Lichtleitfaser.
Eine ganz besonders bevorzugte und einfach zu realisierende
Ausführungsvariante beinhaltet als optisches Bauelement eine herkömmliche
Lichtleitfaser mit einem Faserkern, die zumindest entlang eines Teilstücks
eine Verjüngung aufweist. Lichtleitfasern dieser Art sind als sog. "tapered
fibers" bekannt. Vorzugsweise ist die Lichtleitfaser insgesamt 1 m lang und
weist eine Verjüngung auf einer Länge von 30 mm bis 90 mm auf. Der
Durchmesser der Faser beträgt in einer bevorzugten Ausgestaltung 150 µm
außerhalb des Bereich der Verjüngung und der des Faserkerns in diesem
Bereich ca. 8 µm. Im Bereich der Verjüngung ist der Durchmesser der Faser
auf ca. 2 µm reduziert. Der Faserkern Durchmesser liegt entsprechend im
Nanometerbereich.
Zum Einsatz in der Mikroskopie ist es wichtig, Mittel zur Wellenlängenauswahl
und zur Lichtleistungsstabilisierung zu implementieren. Daher lässt sich in
vorteilhafter Weise ein solcher Faserlaser mit akusto- oder elektrooptischen,
einstellbaren Filtern (AOTF), mit akusto- oder elektrooptischen Deflektoren
(AOD), akusto- oder elektrooptischen Strahlteilern (AOBS) kombinieren. Diese
können zum einen zur Wellenlängenauswahl als auch zur Ausblendung des
Detektionslichtes verwendet werden (unsere deutsche Anmeldung
DE 199 06 757 A1: "Optische Anordnung").
Insbesondere in der konfokalen Mikroskopie läßt sich das Faseraustrittsende
als Punktlichtquelle nutzen, wodurch die Verwendung einer Anregungsblende
überflüssig wird. Bei einer solchen Ausgestaltung wäre es von besonderem
Vorteil, das Faserende selbst teilreflektierend zu beschichten, so dass dieser
Teilreflektor einen Resonatorendspiegel bildet.
In weiteren Ausführungsformen sind Vorrichtungen zur Kompensation von
Lichtleistungsschwankungen vorgesehen. Beispielsweise kann eine
Regelschleife zur Lichtleistungsstabilisierung eingebaut werden, die parasitär
die Lichtleistung im Strahlengang des Mikroskops misst und beispielsweise
durch Variation der Pumplichtleistung oder mit Hilfe eines akusto- oder
elektrooptischen Elements die Probenbeleuchtungslichtleistung konstant hält.
Zu diesem Zweck könnten auch LCD-Abschwächer verwendet werden.
Ein weiterer Vorteil der Erfindung ist, wenn die Beleuchtungseinrichtung
bereits entsprechend gestaltet ist, dass sie mehrere spektrale Bereiche zur
Beleuchtung liefert. Der Laser, der die Beleuchtungseinrichtung für ein
Scanmikroskop darstellt, hat an der Lichtaustrittsöffnung ein optisches
Bauelement befestigt. Das optische Bauelement besteht aus
photonic-band-gap-material. Ferner kann das photonic-band-gap-material
als Lichtleitfaser ausgestaltet sein.
In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt und
wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben. Dabei zeigen:
Fig. 1 eine erfindungsgemäße Anordnung mit einem
Konfokalmikroskop,
Fig. 2 eine Anordnung, bei der auf ein Beleuchtungspinhole
verzichtet wurde,
Fig. 3 eine Anordnung mit Lichtleistungsstabilisierung,
Fig. 4 eine Ausführung des optischen Bauelements,
Fig. 5 eine weitere Ausführung des optischen Bauelements.
Fig. 1 zeigt ein Konfokalmikroskop, das ein optisches Bauelement 3 zur
Aufweitung eines von einem Pulslaser 1 erzeugten Laserimpulses verwendet.
Der Pulslaser 1 definiert einen gepulsten Laserstrahl 2, der durch das optische
Bauelement 3 geleitet wird. Das optische Bauelement 3 ist ein
"photonic-band-gap-material. Aus dem optischen Bauelement 3 tritt ein spektral
breitbandiges Beleuchtungslicht 4 aus, das von einer ersten Optik 5 auf ein
Beleuchtungspinhole 6 abgebildet wird und dann auf einen Strahlteiler 7 trifft.
Vom Strahlteiler 7 gelangt das spektral breitbandige Beleuchtungslicht 4 zu
einer zweiten Optik 8, die einen parallelen Lichtstrahl 4a erzeugt, der auf
einen Scanspiegel 9 trifft. Dem Scanspiegel 9 sind mehrere Optiken 10 und 11
nachgeschaltet, die den Lichtstrahl 4a formen. Der Lichtstrahl 4a gelangt zu
einem Objektiv 12, von dem er auf eine Probe 13 abgebildet wird. Das von der
Probe reflektierte oder ausgesendete Licht definiert einen
Beobachtungsstrahlengang 4b. Das Licht des Beobachtungsstrahlengang 4b
tritt abermals durch die zweite Optik 8 und wird auf ein Detektionspinhole 14
abgebildet, das vor einem Detektor 15 sitzt. Durch das optische Bauelement 3
ist es möglich, das für die Untersuchung der Probe 13 notwendige Laserlicht
entsprechend dem gewünschten Spektrum zu erzeugen.
Das in Fig. 2 dargestellte Ausführungsbeispiel zeigt ein Konfokalmikroskop,
bei dem auf das Beleuchtungspinhole 6 verzichtet wurde. Alle Elemente, die
mit den Elementen aus Fig. 1 übereinstimmen, sind mit dem gleichen
Bezugszeichen bezeichnet. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist an Stelle der
ersten Optik 5 ein AOTF 16 (acousto optical tunable filter) eingesetzt, der mit
einer entsprechenden AOTF-Ansteuerung 17 verbunden ist. Da das optische
Bauelement 3 ein breitbandiges Beleuchtungslicht 4 erzeugen kann, ist es
notwendig, Mittel zur Wellenlängenauswahl und Lichtleistungsstabilisierung
vorzusehen. In vorteilhafter Weise kann man akusto- oder elektrooptisch
einstellbare Filter (AOTF) mit akusto- oder elektrooptischen Deflektoren (AOD)
und akusto- oder elektrooptischen Strahlteilern (AOBS) kombinieren. Diese
können zum einen zur Wellenlängenauswahl als auch zur Ausblendung des
Detektionslichtes verwendet werden. Dem AOTF 16 ist ferner ein Strahlsumpf
18 zugeordnet, der die nicht verwendeten spektralen Anteile der
Beleuchtungslicht fängt, um unnötige Störungen des Scanmikroskops zu
vermeiden.
Eine weitere Ausführungsform der Erfindung ist in Fig. 3 dargestellt. Hier ist an
Stelle des optischen Bauelements 3 eine Lichtleitfaser 20 verwendet, die aus
dem photonic-band-gap-material besteht. Vom Pluslaser 1 wird der gepulste
Laserstrahl 2 über eine Optik 19 in ein Eintrittsende 20a der Lichtleitfaser 20
eingekoppelt. Da die Lichtleitfaser 20 aus dem photonic-band-gap-material
aufgebaut ist, tritt aus einem Austrittsende 20b ein spektral verbreiterter
Laserimpuls aus, der über eine Optik 21 ausgekoppelt wird. Bevor der
spektral verbreiterte Laserimpuls auf das Beleuchtungspinhole 6 trifft, wird
eine spektrale Filterung vorgenommen. Dazu sind mehrere Farbfilter 24 auf
einem Revolver 23 angeordnet. Über einen Motor 22 ist der Revolver 23
drehbar, so dass die entsprechenden Farbfilter 24 in den Strahlengang
eingebracht werden können. Ebenso ist eine lineare Anordnung der Farbfilter
24 denkbar, dabei werden die Farbfilter 24 mittels einer Linearbewegung in
einen Beleuchtungsstrahlengang 50 verfahren. Der Beleuchtungsstrahlengang
50 nach dem Beleuchtungspinhole 6 ist mit dem Strahlengang aus Fig. 1
vergleichbar. Wie bereits in Fig. 1 erwähnt, lenkt der Strahlteiler 7 das Licht
auf den Scanspiegel 9. Ein Teil des Licht tritt durch den Strahlteiler 7 hindurch
und definiert einen Verluststrahlengang 50a. Dieser Anteil des Lichts ist für
die Beobachtung oder Messung verloren. Aus diesem Grunde ist im
Verluststrahlengang 50a ein Detektor 25 vorgesehen, der das Verlustlicht
bestimmt und daraus eine elektronische Größe ermittelt, die mittels einer
Leitung 30 an eine Regelungselektronik 26 geleitet wird. Die
Regelungselektronik 26 ist über eine weitere Leitung 32 mit dem Pulslaser 1
verbunden. Über die Leitung 32 regelt die Regelungselektronik 26 die
Intensität des Pulslasers 1 in der Weise, dass an der Probe 13 immer eine
konstante Lichtleistung auftrifft. Beispielsweise kann eine Regelschleife zur
Lichtleistungsstabilisierung derart vorgesehen sein, dass sie parasitär die
Lichtleistung im Strahlengang des Mikroskops misst und beispielsweise durch
Variation der Pumplichtleistung oder mit Hilfe eines akusto- oder
elektrooptischen Elements die Probenbeleuchtungslichtleistung konstant hält.
Zu diesem Zweck könnten auch LCD-Abschwächer verwendet werden.
Fig. 4 zeigt schematisch eine Ausführung des optischen Bauelements 3. In
dieser Ausführung besteht das optische Bauelement 3 aus einer
herkömmlichen Lichtleitfaser 51 mit einem Außendurchmesser von 125 µm
und einem Faserkern 52, der einen Durchmesser von 6 µm aufweist. Im
Bereich einer 300 mm langen Verjüngung 53 ist der Aussendurchmesser der
Lichtleitfaser 51 auf 1,8 µm reduziert. In diesem Bereich beträgt der
Durchmesser des Faserkerns 52 nur noch Bruchteile von Mikrometern.
Fig. 5 zeigt eine Ausführung des optischen Bauelements 3. Dieses besteht
aus Photonic-Band-Gap-Material, die eine besondere wabenförmige
Mikrostruktur 54 aufweist. Die gezeigte Wabenstruktur ist für die Generierung
von breitbandigem Licht besonders geeignet. Der Durchmesser der inneren
Kanüle 55 beträgt ca. 1,9 µm. Die innere Kanüle 55 ist von Glasstegen 56
umgeben. Die Glasstege 56 formen wabenförmige Hohlräume 57. Diese
mikrooptischen Strukturelemente bilden gemeinsam einen zweiten Bereich 58,
der von einem ersten Bereich 59, der Glasmantel ausgeführt ist, umgeben ist.
Die Erfindung wurde in Bezug auf eine besondere Ausführungsform
beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen und
Abwandlungen durchgeführt werden können, ohne dabei den Schutzbereich
der nachstehenden Ansprüche zu verlassen.
1
Pulslaser
2
Gepulster Laserstrahl
3
optisches Bauelement
4
Spektral breitbandiges Beleuchtungslicht
4
a Lichtstrahl
4
b Beobachtungsstrahlengang
5
Optik
6
Beleuchtungspinhole
7
Strahlteiler
8
Optik
9
Scanspiegel
10
Optik
11
Optik
12
Objektiv
13
Probe
14
Detektionspinhole
15
Detektor
16
AOTF (acousto optical tunable filter)
17
AOTF-Ansteuerung
18
Strahlsumpf
19
Optik
20
photonic-band-gap-Lichtleitfaser
20
a Eintrittsende
20
b Austrittsende
21
Optik
22
Motor
23
Revolver
24
Farbfilter
25
Detektor
26
Regelungselektronik
30
Leitung
32
Leitung
50
Beleuchtungsstrahlengang
50
a Verluststrahlengang
51
Lichtleitfaser
52
Faserkern
53
Verjüngung
54
Mikrostruktur
55
Kanüle
56
Glasstege
57
Hohlräume
58
zweiter Bereich
59
erster Bereich
Claims (20)
1. Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate
mit einem Scanmikroskop, das einen Laser (1) und ein optisches Mittel (12)
umfasst, dass das von dem Laser (1) erzeugte Licht auf eine zu untersuchende
Probe (13) abbildet, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen dem Laser (1)
und dem optischen Mittel (12) ein optisches Bauelement (3, 20) vorgesehen
ist, dass das vom Laser (1) erzeugte Licht bei einmaligem Durchlauf spektral
verbreitert.
2. Scanmikroskop nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass das optische Bauelement (3, 20) aus
photonic-band-gap-material besteht.
3. Scanmikroskop nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, dass das photonic-band-gap-material als Lichtleitfaser (20)
ausgestaltet ist.
4. Scanmikroskop nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass das optische Bauelement (3, 20) als Lichtleitfaser (23)
ausgeführt ist die eine Verjüngung (53) aufweist.
5. Scanmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, dass der Laser (1) ein Pulslaser ist.
6. Scanmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, dass dem optischen Bauelement (3, 20) Mittel (16,
18 und/oder 23, 24) zum Abschwächen und/oder Ausblenden des Lichtes
mindestens einer Wellenlänge oder mindestens eines Wellenlängenbereichs
nachgeordnet sind.
7. Scanmikroskop nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, dass zum Abschwächen und/oder Ausblenden des Lichtes
mindestens ein spektral selektiver Filter (24) vorgesehen ist.
8. Scanmikroskop nach Anspruch 7, dadurch
gekennzeichnet, dass der Filter ein dichroitischer Filter (24) ist.
9. Scanmikroskop nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, dass zum Abschwächen und/oder Ausblenden des Lichtes
ein akustooptischer Filter (16) (AOTF: acousto optical tunable filter)
vorgesehen ist.
10. Scanmikroskop nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, dass zum Abschwächen und/oder Ausblenden des Lichtes
ein akustooptischer Deflektor (AOD: acousto optical deflector) vorgesehen ist.
11. Scanmikroskop nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, dass zum Abschwächen und/oder Ausblenden des Lichtes
ein LCD-Abschwächer vorgesehen ist.
12. Scanmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, dass Mittel (25, 26) zur Lichtleistungsstabilisierung
vorgesehen sind.
13. Scanmikroskop nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, dass zur Lichtleistungsstabilisierung ein Regelkreis
vorgesehen ist.
14. Scanmikroskop nach einem der vorherigen Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass das Scanmikroskop ein Konfokalmikroskop
ist.
15. Scanmikroskop nach Anspruch 14, dadurch
gekennzeichnet, dass das Austrittsende (20b) der Lichtleitfaser (20) als
Beleuchtungsblende dient.
16. Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop mit einem
Laser (1), der eine Lichtaustrittsöffnung umfasst, dadurch gekennzeichnet,
dass an der Lichtaustrittsöffnung ein optisches Bauelement (3, 20) angebracht
ist, das aus photonic-band-gap-material besteht.
17. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 16, dadurch
gekennzeichnet, dass das photonic-band-gap-material als Lichtleitfaser (20)
ausgestaltet ist.
18. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 16, dadurch
gekennzeichnet, dass das optisches Bauelement (3, 20) als Lichtleitfaser
(20) ausgestaltet ist und eine Verjüngung aufweist.
19. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 16, dadurch
gekennzeichnet, dass das Austrittsende (20b) der Lichtleitfaser (20) als
Beleuchtungsblende dient.
20. Beleuchtungseinrichtung nach einem der Ansprüche 16
bis 19, dadurch gekennzeichnet, dass der Laser (1) ein Pulslaser ist.
Priority Applications (13)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10115509A DE10115509A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
DE20122783U DE20122783U1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
DE50115464T DE50115464D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Scanmikroskop zum Untersuchen mikroskopischer Präparate und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
EP08163497.4A EP2045643B2 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Scanmikroskop zum Untersuchen mikroskopischer Präparate und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
EP01112880A EP1164400B1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
DE50114274T DE50114274D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
US09/881,062 US6888674B1 (en) | 2000-06-17 | 2001-06-15 | Arrangement for examining microscopic preparations with a scanning microscope, and illumination device for a scanning microscope |
US09/881,049 US6898367B2 (en) | 2000-06-17 | 2001-06-15 | Method and instrument for microscopy |
JP2001183690A JP4560243B2 (ja) | 2000-06-17 | 2001-06-18 | 顕微プレパラートを走査顕微鏡で検査する装置構造および走査顕微鏡のための照明装置 |
US10/964,034 US7110645B2 (en) | 2000-06-17 | 2004-10-13 | Method and instrument for microscopy |
US11/034,888 US7123408B2 (en) | 2000-06-17 | 2005-01-14 | Arrangement for examining microscopic preparations with a scanning microscope, and illumination device for a scanning microscope |
US11/580,065 US20070035822A1 (en) | 2000-06-17 | 2006-10-13 | Arrangement for examining microscopic preparations with a scanning microscope, and illumination device for a scanning microscope |
US12/330,954 US7679822B2 (en) | 2000-06-17 | 2008-12-09 | Broadband laser illumination device for a scanning microscope with output stabilization |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10030013 | 2000-06-17 | ||
DE10115509A DE10115509A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10115509A1 true DE10115509A1 (de) | 2001-12-20 |
Family
ID=7646174
Family Applications (13)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10115509A Ceased DE10115509A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
DE10115488A Ceased DE10115488A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts |
DE10115589.1A Expired - Lifetime DE10115589B4 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Konfokales Scanmikroskop |
DE10115486A Withdrawn DE10115486A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Verschränkte-Photonen-Mikroskop |
DE10115487A Ceased DE10115487A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop |
DE10115590.5A Expired - Lifetime DE10115590B4 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Scanmikroskop |
DE10115577A Ceased DE10115577A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauteil für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung |
DE50105513T Expired - Lifetime DE50105513D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Verschränkte-Photonen-Mikroskop |
DE50115464T Expired - Lifetime DE50115464D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Scanmikroskop zum Untersuchen mikroskopischer Präparate und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
DE50115456T Expired - Lifetime DE50115456D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauelement für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung |
DE50114274T Expired - Lifetime DE50114274D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
DE50114275T Expired - Lifetime DE50114275D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-09 | Scanmikroskop |
DE50114278T Expired - Lifetime DE50114278D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-15 | Beleuchtungseinrichtung |
Family Applications After (12)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10115488A Ceased DE10115488A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts |
DE10115589.1A Expired - Lifetime DE10115589B4 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Konfokales Scanmikroskop |
DE10115486A Withdrawn DE10115486A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Verschränkte-Photonen-Mikroskop |
DE10115487A Ceased DE10115487A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop |
DE10115590.5A Expired - Lifetime DE10115590B4 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Scanmikroskop |
DE10115577A Ceased DE10115577A1 (de) | 2000-06-17 | 2001-03-29 | Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauteil für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung |
DE50105513T Expired - Lifetime DE50105513D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Verschränkte-Photonen-Mikroskop |
DE50115464T Expired - Lifetime DE50115464D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Scanmikroskop zum Untersuchen mikroskopischer Präparate und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
DE50115456T Expired - Lifetime DE50115456D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauelement für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung |
DE50114274T Expired - Lifetime DE50114274D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-01 | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop |
DE50114275T Expired - Lifetime DE50114275D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-09 | Scanmikroskop |
DE50114278T Expired - Lifetime DE50114278D1 (de) | 2000-06-17 | 2001-06-15 | Beleuchtungseinrichtung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7679822B2 (de) |
EP (3) | EP2045643B2 (de) |
JP (1) | JP5111480B2 (de) |
AT (1) | ATE407381T1 (de) |
DE (13) | DE10115509A1 (de) |
DK (1) | DK1184701T3 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006004075A1 (de) * | 2006-01-28 | 2007-08-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Verringerung des Intensitätsrauschens und Mikroskop mit Vorrichtung zur Verringerung des Intensitätsrauschens |
DE102007024075A1 (de) | 2007-05-22 | 2008-11-27 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Durchstimmbares akusto-optisches Filterelement |
US7466885B2 (en) | 2003-09-05 | 2008-12-16 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Light source comprising a plurality of microstructured optical elements |
DE102007039498A1 (de) | 2007-08-21 | 2009-02-26 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung bzw. Bestrahlung eines Objekts, einer Probe oder dgl. |
EP2492737A2 (de) | 2011-02-24 | 2012-08-29 | Leica Microsystems CMS GmbH | Pulsvereiniger für die verschiedenen Spektralfarben eines Superkontinuum-Lasers |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003060610A1 (de) * | 2002-01-16 | 2003-07-24 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und anordnungen zur mikroskopischen abbildung |
DE10211458A1 (de) * | 2002-03-12 | 2003-09-25 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Erhöhung der Auflösung in einem Mikroskop |
DE10221365A1 (de) * | 2002-05-08 | 2003-11-27 | Jenoptik Laser Optik Sys Gmbh | Optische Anordnung zur Erzeugung eines Breitbandspektrums |
DE10227111B4 (de) * | 2002-06-17 | 2007-09-27 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Spektralmikroskop und Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralmikroskop |
DE10313987B4 (de) * | 2003-03-27 | 2007-07-12 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Beleuchtung eines Objekts |
DE10314750A1 (de) * | 2003-03-31 | 2004-11-04 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Rastermikroskop zur Detektion eines Objekts |
DE10324478B3 (de) | 2003-05-30 | 2004-12-09 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Vorrichtung zum Ermitteln der Lichtleistung eines Lichtstrahles und Scanmikroskop |
DE10331906B4 (de) * | 2003-07-15 | 2005-06-16 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Lichtquelle mit einem Mikrostruktuierten optischen Element und Mikroskop mit Lichtquelle |
DE102004032463B4 (de) * | 2004-06-30 | 2011-05-19 | Jenoptik Laser Gmbh | Verfahren und optische Anordnung zur Erzeugung eines Breitbandspektrums mittels modengekoppelter Picosekunden-Laserimpulse |
CA2590746A1 (en) * | 2004-12-08 | 2006-06-15 | Frederic Zweig | An optical device for producing light lines from quasi point-like light sources by way of slot-like cavities |
DE102005010887A1 (de) * | 2005-03-09 | 2006-09-14 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Beleuchtungseinrichtung |
DE102006053187A1 (de) | 2006-11-09 | 2008-05-15 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Akustooptisches Bauteil |
DE102007028337B4 (de) * | 2007-06-15 | 2019-08-29 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Strahlvereiniger und eine Lichtquelle mit einem derartigen Strahlvereiniger |
DE102007053199A1 (de) | 2007-11-06 | 2009-05-14 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Ansteuerung eines akustooptischen Bauteils |
GB0800936D0 (en) | 2008-01-19 | 2008-02-27 | Fianium Ltd | A source of optical supercontinuum generation having a selectable pulse repetition frequency |
DE202009007789U1 (de) | 2009-06-03 | 2009-08-20 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Breitbandige Lichtquelle und Mikroskop |
DE102009056092B4 (de) | 2009-11-30 | 2013-02-28 | PicoQuant GmbH. Unternehmen für optoelektronische Forschung und Entwicklung | Lichtquelle mit einem Diodenlaser |
US9229294B2 (en) | 2010-05-06 | 2016-01-05 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Apparatus and method for operating an acousto-optical component |
DE102010026205A1 (de) * | 2010-07-06 | 2012-01-12 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Mikroskop, insbesondere Fluoreszenzmikroskop, dichroitischer Strahlteiler und dessen Verwendung |
US8385699B2 (en) | 2010-07-29 | 2013-02-26 | Jian Liu | Amplified broadband fiber laser source |
DE102013008075A1 (de) * | 2013-05-10 | 2014-11-13 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Leuchtvorrichtung mit nichtlinearem Lichtleiter für ein Kraftfahrzeug |
Family Cites Families (80)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US659074A (en) * | 1899-08-24 | 1900-10-02 | Hippolyte Joseph La Force | Journal-box. |
US3720822A (en) | 1971-01-29 | 1973-03-13 | Xenotech Inc | Xenon photography light |
US4011403A (en) | 1976-03-30 | 1977-03-08 | Northwestern University | Fiber optic laser illuminators |
US4063106A (en) | 1977-04-25 | 1977-12-13 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Optical fiber Raman oscillator |
CA1325537C (en) | 1988-08-01 | 1993-12-28 | Timothy Peter Dabbs | Confocal microscope |
DE3912914A1 (de) * | 1989-04-20 | 1990-10-25 | Douw Serge | Vorrichtung zur definierten farb- und richtungsbeeinflussung eines weisslicht-laserstrahls |
US5034613A (en) | 1989-11-14 | 1991-07-23 | Cornell Research Foundation, Inc. | Two-photon laser microscopy |
JP2516859Y2 (ja) | 1990-04-23 | 1996-11-13 | 三菱電線工業株式会社 | 光ファイバ増幅器 |
US5127730A (en) * | 1990-08-10 | 1992-07-07 | Regents Of The University Of Minnesota | Multi-color laser scanning confocal imaging system |
US5272330A (en) | 1990-11-19 | 1993-12-21 | At&T Bell Laboratories | Near field scanning optical microscope having a tapered waveguide |
US5286971A (en) | 1990-11-19 | 1994-02-15 | At&T Bell Laboratories | Data recording using a near field optical probe |
US5286970A (en) | 1990-11-19 | 1994-02-15 | At&T Bell Laboratories | Near field optical microscopic examination of a biological specimen |
US5784162A (en) | 1993-08-18 | 1998-07-21 | Applied Spectral Imaging Ltd. | Spectral bio-imaging methods for biological research, medical diagnostics and therapy |
US5155792A (en) | 1991-06-27 | 1992-10-13 | Hughes Aircraft Company | Low index of refraction optical fiber with tubular core and/or cladding |
JP2777505B2 (ja) | 1992-07-29 | 1998-07-16 | 株式会社日立製作所 | 自動分析電子顕微鏡および分析評価方法 |
US5283433A (en) | 1992-10-05 | 1994-02-01 | The Regents Of The University Of California | Scanning confocal microscope providing a continuous display |
US5394268A (en) | 1993-02-05 | 1995-02-28 | Carnegie Mellon University | Field synthesis and optical subsectioning for standing wave microscopy |
US5764845A (en) | 1993-08-03 | 1998-06-09 | Fujitsu Limited | Light guide device, light source device, and liquid crystal display device |
US5537247A (en) | 1994-03-15 | 1996-07-16 | Technical Instrument Company | Single aperture confocal imaging system |
DE4414940C2 (de) | 1994-04-28 | 1998-07-02 | Pekka Haenninen | Lumineszenz-Rastermikroskop mit zwei Photonen Anregung |
DE4446185C2 (de) | 1994-08-25 | 1997-03-27 | Leica Lasertechnik | Vorrichtung zum Einkoppeln eines UV-Laserstrahls in ein konfokales Laser-Scanmikroskop |
US5903688A (en) | 1994-08-25 | 1999-05-11 | Leica Lasertechnik Gmbh | Device for feeding a UV laser into a confocal laser scanning microscope |
US5541613A (en) | 1994-11-03 | 1996-07-30 | Hughes Aircraft Company, Hughes Electronics | Efficient broadband antenna system using photonic bandgap crystals |
JPH08211296A (ja) | 1995-02-03 | 1996-08-20 | Shimadzu Corp | 共焦点走査型光学顕微鏡 |
US5784152A (en) | 1995-03-16 | 1998-07-21 | Bio-Rad Laboratories | Tunable excitation and/or tunable detection microplate reader |
US5861984A (en) | 1995-03-31 | 1999-01-19 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Confocal scanning microscope and beamsplitter therefor |
KR100209608B1 (ko) | 1995-09-15 | 1999-07-15 | 구자홍 | 광 출력검지 장치 |
CA2231222C (en) * | 1995-09-19 | 2001-12-11 | Cornell Research Foundation, Inc. | Multi-photon laser microscopy |
US5802236A (en) | 1997-02-14 | 1998-09-01 | Lucent Technologies Inc. | Article comprising a micro-structured optical fiber, and method of making such fiber |
DE19622359B4 (de) * | 1996-06-04 | 2007-11-22 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Vorrichtung zur Einkopplung der Strahlung von Kurzpulslasern in einem mikroskopischen Strahlengang |
US6005709A (en) | 1996-06-05 | 1999-12-21 | Marine Biological Laboratory | Microscope system for using transmitted light to observe living organisms |
US6002522A (en) | 1996-06-11 | 1999-12-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical functional element comprising photonic crystal |
DE69630025T2 (de) * | 1996-07-16 | 2004-04-01 | Perkin-Elmer Ltd., Beaconsfield | Kontrolle eines Infrarotmikroskops |
US5862287A (en) | 1996-12-13 | 1999-01-19 | Imra America, Inc. | Apparatus and method for delivery of dispersion compensated ultrashort optical pulses with high peak power |
DE19702753C2 (de) * | 1997-01-27 | 2003-04-10 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop |
JPH10293094A (ja) * | 1997-02-24 | 1998-11-04 | Olympus Optical Co Ltd | サイトメータ |
US5796477A (en) | 1997-02-27 | 1998-08-18 | Trustees Of Boston University | Entangled-photon microscopy, spectroscopy, and display |
US5995281A (en) | 1997-04-09 | 1999-11-30 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Device for coupling the radiation of short-pulse lasers in an optical beam path of a microscope |
US6108127A (en) | 1997-05-15 | 2000-08-22 | 3M Innovative Properties Company | High resolution confocal microscope |
EP1970756A3 (de) | 1997-06-18 | 2014-08-27 | Nippon Telegraph and Telephone Corporation | Optische Impulsquelle und Anwendungen |
GB9713422D0 (en) | 1997-06-26 | 1997-08-27 | Secr Defence | Single mode optical fibre |
US5973316A (en) | 1997-07-08 | 1999-10-26 | Nec Research Institute, Inc. | Sub-wavelength aperture arrays with enhanced light transmission |
DE19733195B4 (de) * | 1997-08-01 | 2006-04-06 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Hoch-Kompaktes Laser Scanning Mikroskop mit integriertem Kurzpuls Laser |
US6356088B1 (en) | 1997-08-01 | 2002-03-12 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Highly compact laser scanning microscope with integrated short-pulse laser |
US5967653A (en) | 1997-08-06 | 1999-10-19 | Miller; Jack V. | Light projector with parabolic transition format coupler |
US6744555B2 (en) | 1997-11-21 | 2004-06-01 | Imra America, Inc. | Ultrashort-pulse source with controllable wavelength output |
US6154310A (en) | 1997-11-21 | 2000-11-28 | Imra America, Inc. | Ultrashort-pulse source with controllable multiple-wavelength output |
JPH11174332A (ja) | 1997-12-11 | 1999-07-02 | Nikon Corp | レーザ顕微鏡 |
US6108474A (en) | 1997-12-11 | 2000-08-22 | Lucent Technologies Inc. | Optical pulse compressor for optical communications systems |
DE19906757B4 (de) | 1998-02-19 | 2004-07-15 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Mikroskop |
JP4406108B2 (ja) | 1998-03-11 | 2010-01-27 | オリンパス株式会社 | 多光子励起レーザ顕微鏡 |
US6404966B1 (en) | 1998-05-07 | 2002-06-11 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Optical fiber |
DE19861383B4 (de) | 1998-06-18 | 2008-03-27 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Laserscanmikroskop |
DE19829944C2 (de) * | 1998-07-04 | 2002-03-28 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Gerätekonfiguration eines Fluoreszenz-Laserscanmikroskops |
DE19829954A1 (de) | 1998-07-04 | 2000-01-05 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Strahlteiler in einem Laser-Scanning-Mikroskop |
DE19829981C2 (de) | 1998-07-04 | 2002-10-17 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur konfokalen Mikroskopie |
KR100328291B1 (ko) | 1998-07-14 | 2002-08-08 | 노베라 옵틱스 인코포레이티드 | 능동제어된파장별이득을갖는광증폭기및변화가능한출력스펙트럼을갖는광섬유광원 |
DE19835068A1 (de) | 1998-08-04 | 2000-02-10 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Mikroskop, insbesondere Laser-Scanning-Mikroskop |
DE19840926B4 (de) | 1998-09-08 | 2013-07-11 | Hell Gravure Systems Gmbh & Co. Kg | Anordnung zur Materialbearbeitung mittels Laserstrahlen und deren Verwendung |
JP2000199855A (ja) | 1998-11-02 | 2000-07-18 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡装置 |
US6243522B1 (en) | 1998-12-21 | 2001-06-05 | Corning Incorporated | Photonic crystal fiber |
GB9903918D0 (en) * | 1999-02-19 | 1999-04-14 | Univ Bath | Improvements in and relating to photonic crystal fibres |
US6424665B1 (en) | 1999-04-30 | 2002-07-23 | The Regents Of The University Of California | Ultra-bright source of polarization-entangled photons |
US6097870A (en) * | 1999-05-17 | 2000-08-01 | Lucent Technologies Inc. | Article utilizing optical waveguides with anomalous dispersion at vis-nir wavelenghts |
US6252665B1 (en) | 1999-05-20 | 2001-06-26 | California Institute Of Technology | Lithography using quantum entangled particles |
US6236779B1 (en) | 1999-05-24 | 2001-05-22 | Spectra Physics Lasers, Inc. | Photonic crystal fiber system for sub-picosecond pulses |
GB0010950D0 (en) | 2000-05-05 | 2000-06-28 | Univ Bath | A nonlinear optical device |
US6885683B1 (en) | 2000-05-23 | 2005-04-26 | Imra America, Inc. | Modular, high energy, widely-tunable ultrafast fiber source |
EP1164402B1 (de) | 2000-06-17 | 2010-04-28 | Leica Microsystems CMS GmbH | Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauelement für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung |
EP1164401B1 (de) | 2000-06-17 | 2005-03-09 | Leica Microsystems Heidelberg GmbH | Verschränkte-Photonen-Mikroskop |
DE20122782U1 (de) | 2000-06-17 | 2007-11-15 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Beleuchtungseinrichtung |
EP1164406B1 (de) | 2000-06-17 | 2019-04-17 | Leica Microsystems CMS GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts |
DE20122791U1 (de) | 2000-06-17 | 2007-11-29 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Scanmikroskop |
EP1186929B2 (de) | 2000-06-17 | 2009-09-30 | Leica Microsystems CMS GmbH | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop |
US6898367B2 (en) | 2000-06-17 | 2005-05-24 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Method and instrument for microscopy |
US6514784B1 (en) | 2000-09-01 | 2003-02-04 | National Research Council Of Canada | Laser-induced bandgap shifting for photonic device integration |
US6658183B1 (en) | 2000-10-20 | 2003-12-02 | Lucent Technologies Inc. | Process for fabricating tapered microstructured fiber system and resultant system |
US6369928B1 (en) | 2000-11-01 | 2002-04-09 | Optical Biopsy Technologies, Inc. | Fiber-coupled, angled-dual-illumination-axis confocal scanning microscopes for performing reflective and two-photon fluorescence imaging |
DE10139754B4 (de) | 2001-08-13 | 2004-07-08 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Beleuchtungsverfahren für ein Scanmikroskop und Scanmikroskop |
US6721476B2 (en) | 2001-12-03 | 2004-04-13 | Honeywell International Inc. | Optical demultiplexer based on three-dimensionally periodic photonic crystals |
-
2001
- 2001-03-29 DE DE10115509A patent/DE10115509A1/de not_active Ceased
- 2001-03-29 DE DE10115488A patent/DE10115488A1/de not_active Ceased
- 2001-03-29 DE DE10115589.1A patent/DE10115589B4/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-03-29 DE DE10115486A patent/DE10115486A1/de not_active Withdrawn
- 2001-03-29 DE DE10115487A patent/DE10115487A1/de not_active Ceased
- 2001-03-29 DE DE10115590.5A patent/DE10115590B4/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-03-29 DE DE10115577A patent/DE10115577A1/de not_active Ceased
- 2001-06-01 DE DE50105513T patent/DE50105513D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-01 DE DE50115464T patent/DE50115464D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-01 EP EP08163497.4A patent/EP2045643B2/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-01 DE DE50115456T patent/DE50115456D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-01 DE DE50114274T patent/DE50114274D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-09 EP EP08163494A patent/EP2045642A1/de not_active Ceased
- 2001-06-09 DE DE50114275T patent/DE50114275D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-15 EP EP08163492A patent/EP2045641A3/de not_active Ceased
- 2001-06-15 AT AT01114437T patent/ATE407381T1/de not_active IP Right Cessation
- 2001-06-15 DE DE50114278T patent/DE50114278D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-15 DK DK01114437T patent/DK1184701T3/da active
-
2008
- 2008-12-09 US US12/330,954 patent/US7679822B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-11-27 JP JP2009269993A patent/JP5111480B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7466885B2 (en) | 2003-09-05 | 2008-12-16 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Light source comprising a plurality of microstructured optical elements |
DE102006004075B4 (de) * | 2006-01-28 | 2008-01-03 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Verringerung des Intensitätsrauschens und Mikroskop mit Vorrichtung zur Verringerung des Intensitätsrauschens |
DE102006004075A1 (de) * | 2006-01-28 | 2007-08-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Verringerung des Intensitätsrauschens und Mikroskop mit Vorrichtung zur Verringerung des Intensitätsrauschens |
US8718414B2 (en) | 2007-05-22 | 2014-05-06 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Acousto-optical tunable filter element |
DE102007024075A1 (de) | 2007-05-22 | 2008-11-27 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Durchstimmbares akusto-optisches Filterelement |
DE102007024075B4 (de) | 2007-05-22 | 2022-06-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Durchstimmbares akusto-optisches Filterelement, einstellbare Lichtquelle, Mikroskop und akusto-optischer Strahlteiler |
US9400404B2 (en) | 2007-05-22 | 2016-07-26 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Acousto-optical tunable filter element |
US8913317B2 (en) | 2007-08-21 | 2014-12-16 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Method and device for illuminating a sample in a laser microscope |
DE102007039498B4 (de) * | 2007-08-21 | 2017-08-03 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung und/oder Bestrahlung eines Objekts oder einer Probe |
DE102007039498A1 (de) | 2007-08-21 | 2009-02-26 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung bzw. Bestrahlung eines Objekts, einer Probe oder dgl. |
US8879148B2 (en) | 2011-02-24 | 2014-11-04 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Pulse combiner for the various spectral colors of a supercontinuum laser pulse |
DE102011000905A1 (de) | 2011-02-24 | 2012-08-30 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Pulsvereiniger für die verschiedenen Spektralfarben eines Superkontinuum-Lasers |
EP2492737A2 (de) | 2011-02-24 | 2012-08-29 | Leica Microsystems CMS GmbH | Pulsvereiniger für die verschiedenen Spektralfarben eines Superkontinuum-Lasers |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE50114275D1 (de) | 2008-10-16 |
EP2045641A3 (de) | 2009-10-28 |
DE10115589B4 (de) | 2020-07-30 |
JP2010102345A (ja) | 2010-05-06 |
DE50115464D1 (de) | 2010-06-10 |
EP2045641A2 (de) | 2009-04-08 |
EP2045643B1 (de) | 2010-04-28 |
DE50114274D1 (de) | 2008-10-16 |
DK1184701T3 (da) | 2009-01-26 |
DE50114278D1 (de) | 2008-10-16 |
DE10115589A1 (de) | 2001-12-20 |
DE10115486A1 (de) | 2001-12-20 |
US7679822B2 (en) | 2010-03-16 |
ATE407381T1 (de) | 2008-09-15 |
DE10115577A1 (de) | 2001-12-20 |
EP2045642A1 (de) | 2009-04-08 |
DE10115488A1 (de) | 2001-12-20 |
DE10115590B4 (de) | 2020-11-05 |
EP2045643A1 (de) | 2009-04-08 |
JP5111480B2 (ja) | 2013-01-09 |
DE10115487A1 (de) | 2001-12-20 |
DE50115456D1 (de) | 2010-06-10 |
DE10115590A1 (de) | 2001-12-20 |
DE50105513D1 (de) | 2005-04-14 |
EP2045643B2 (de) | 2013-10-30 |
US20090086315A1 (en) | 2009-04-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2045643B2 (de) | Scanmikroskop zum Untersuchen mikroskopischer Präparate und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop | |
EP1184701B1 (de) | Beleuchtungseinrichtung | |
EP1714187B1 (de) | Mikroskop mit einer lichtquelle mit mehreren mikrostrukturierten optischen elementen | |
DE10243449B4 (de) | CARS-Mikroskop und Verfahren zur CARS-Mikroskopie | |
EP1164401B1 (de) | Verschränkte-Photonen-Mikroskop | |
EP1164406B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts | |
EP1164403B1 (de) | Scanmikroskop | |
EP1164400B1 (de) | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop | |
DE10120425A1 (de) | Verfahren zur Untersuchung einer Probe und Scanmikroskop | |
EP1186929B2 (de) | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop | |
EP1122574B1 (de) | Mikroskop-Aufbau | |
WO2006000563A1 (de) | Mikroskop | |
DE10137158A1 (de) | Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop | |
DE20022256U1 (de) | Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop | |
EP2492737B1 (de) | Pulsvereiniger für die verschiedenen Spektralfarben eines Superkontinuum-Lasers | |
DE102004031049A1 (de) | Optische Anordnung zum spektralselektiven Nachweis von Licht eines Lichtstrahls | |
DE102006004075A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Verringerung des Intensitätsrauschens und Mikroskop mit Vorrichtung zur Verringerung des Intensitätsrauschens | |
WO2006097070A1 (de) | Mikroskop | |
DE20122785U1 (de) | Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH, 35578 WETZLAR, DE |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8131 | Rejection |