CN1983398A - 光信息记录再现装置和光信息记录处理方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种光信息记录再现装置和光信息记录处理方法，其目的在于，导入新评价指标使对介质的记录条件最优化。该光信息记录再现装置包括：测量单元，对光信息记录介质记录包括特定码的码，并且，从光信息记录介质进行上述码的再现，根据上述码的再现信号，对涉及特定码的再现信号的振幅，测量作为极大值或极小值的任意一个的峰值；统计量计算单元，使用由测量单元所得到的、相同或不同的记录位置的多个上述峰值，计算预先规定的统计量；以及条件确定单元，使用上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。作为新评价指标的上述峰值及其统计量，对于光信息记录再现装置的评价和记录条件的设定等是有用的。

Description

光信息记录再现装置和光信息记录处理方法
技术领域
本发明涉及对光信息记录介质的记录条件的最优化技术。
背景技术
光信息记录系统中的记录品质，取决于光信息记录再现装置(以下，称为驱动器)的特性、光信息记录介质(以下，称为介质或盘)及记录条件(包括记录速度、记录功率、记录脉冲、干扰影响等)等，该记录品质需要达到能够准确地再现所记录的数据的等级(level)。
用于得到适当的记录品质的记录条件最优化技术是以往就存在的，例如，普遍知道这样的方法，即：将记录脉冲条件固定为预先设定好的初始条件，基于变更记录脉冲条件时的记录再现信号的变化，对记录功率进行最优化。进而，还存在这样的方法，即：根据最佳的记录功率条件中的、记录再现信号的误码率测量值来进行记录脉冲的修正，对记录脉冲条件进行最优化。
作为根据记录再现信号确定最佳记录条件的方法，公知有这样的方法，即：选择记录条件，使得记录再现信号的抖动(Jitter)等的评价指标值达到最小、最大或预定的等级。
例如，在日本特开2003-151219号公报中，公开了在根据再现信号采样的振幅值识别再现信号时计算适当的波形修正量的技术。具体而言，用于以下的情况，即：使用预定的再现信号、与该再现信号的信号波形图案(pattern)对应的第1图案、在该第1图案之外的与再现信号的信号波形图案对应的第2图案、以及在第1图案和第2图案之外的与再现信号的信号波形图案对应的第3图案，对信息记录介质进行信息记录或进行记录信息的再现。在这样的方法中，求出再现信号与第1图案之间的第1距离E1、再现信号与第2图案之间的第2距离E2、再现信号与第3图案之间的第3距离E3。接下来，求出第1距离E1与第2距离E2之间的第1距离差D2＝E2-E1、第1距离E1与第3距离E3之间的第2距离差D3＝E3-E1。接下来，对于多个再现信号的采样，求出第1距离差D2的方差和第2距离差D3的方差。接下来，求出所求得的第1距离差D2的平均M2和所求得的第1距离差D2的方差的标准偏差σ2，以及所求得的第2距离差D3的平均M3和所求得的第2距离差D3的方差的标准偏差σ3。接下来，根据(σ2×M3+σ3×M2)/(σ2+σ3)的关系求出记录补偿参数。基于这样求得的记录补偿参数，补偿对信息记录介质的信号记录波形。在上述公报中，仅进行记录条件中的记录脉冲的最优化。
另外，在日本特开2005-216446号公报中，公开了用于降低可写入的光盘和光记录再现装置的特性离差的影响的技术。具体而言，在基于依照记录信息的记录条件进行光调制记录并再现所记录的信息的光记录再现装置的光记录条件设定方法中，使对最短的记录标记的记录功率参数发生变化，在光记录介质上进行试写，再现试写，选择再现信号品质变好的记录功率参数，然后，使对记录标记的记录脉冲参数发生变化来进行试写，确定能得到良好的再现信号品质(抖动、误码率)的、对记录标记的记录脉冲功率参数。
专利文献1：日本特开2003-151219号公报
专利文献2：日本特开2005-216446号公报
发明内容
但是，在以往的记录条件最优化方法中，在构成光记录系统的1个或多个元件(驱动器、介质等)的特性极差时，即便在以最优化的记录功率和记录脉冲条件进行了记录时，记录品质也有可能无法达到预定的等级。另外，为了对多个记录条件分别进行最优化，需要充裕的调整时间、调整区域等。
另外，作为使用了蓝色激光的高密度记录系统的码识别方式，采用了PRML(Partial Response Maximum Likelihood：最大可能部分反应)方式，在该PRML方式中，基于再现记录图案得到的RF信号的振幅信息进行码识别，因此，为了实现高品质且稳定的记录，需要进行使用了与以往不同的评价指标的记录条件的设定。
因此，本发明的目的在于，为了实现高品质且稳定的记录而导入新评价指标。
另外，本发明的其他目的在于，提供一种用于导入新评价指标来最优化对介质的记录条件的技术。
另外，本发明的其他目的在于，提供一种用于导入新评价指标来最优化对介质的记录功率的技术。
另外，本发明的其他目的在于，提供一种技术，用于在最优化对介质的记录条件时导入新评价指标，来适当地最优化对记录品质有很大影响的参数。
本发明的第1方式的光信息记录再现装置包括：测量单元，对光信息记录介质记录包括特定码(例如2T(T为单位时间)码)的码，并且，从光信息记录介质进行上述码的再现，根据上述码的再现信号，对涉及上述特定码的再现信号的振幅，测量作为极大值或极小值的任意一个的峰值；和统计量计算单元，使用由测量单元所得到的、相同或不同的记录位置的多个上述峰值，计算预先规定的统计量(例如最大值、最小值、平均值、方差等)。
本发明申请的发明人，非显而易见地考虑到作为新评价指标的上述峰值及其统计量，对于光信息记录再现装置的评价和后述的记录条件的设定等是有用的，而采用上述结构。
另外，在本发明的第1方式中，也可以是，还包括条件确定单元，使用上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。这样，能够适当地调整记录功率条件或记录脉冲条件来实现最佳的记录。当确定记录功率条件时，能够更适当地进行记录脉冲条件(包括最终脉冲和中间脉冲)或相位偏移等的调整。
进而，在本发明的第1方式中，也可以是，还包括条件确定单元，使用上述统计量和包含在上述码中的预定码的振幅电平值，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。能够设定更适当的记录条件。
另外，还存在这样的情况：上述振幅电平值，是涉及5T码(T为时间单位)到最长码的任意一个码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值。此时，条件确定单元，根据振幅最大电平值和振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的β值，使用该β值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
另外，还存在这样的情况：上述振幅电平值，是涉及2种以上的预定码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值。此时，条件确定单元，根据振幅最大电平值和振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的非对称值，使用非对称值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
另外，在本发明的第1方式中，也可以是，还包括记录可否判断单元，根据条件确定单元的处理结果和处理过程的至少任意一个、测量单元的测量结果和由统计量计算单元计算出的统计量中的至少任意一个，判断能否以指定记录条件得到预定的记录品质。
在本发明的第1方式中，也可以是，还包括记录处理单元，当由记录可否判断单元判断为不能以指定记录条件得到预定的记录品质时，实施降低包含在指定记录条件中的记录速度、不进行记录、以及询问用户能否记录中的任意一个。能够在记录时采取适当的对策。
进而，在本发明的第1方式中，也可以是，还包括使记录可否判断单元的判断结果和记录处理单元的处理结果的至少任意一个显示在显示装置上的单元。通过这样地通知用户，用户能够准确地把握状况。
另外，在本发明的第1方式中，也可以是，还包括将处理结果和处理过程中的数据中的至少任意一个保存在存储器或上述光信息记录介质中的单元。通过预先保持这样的数据，能够在之后的处理中设定适当的记录条件。另外，通过省略处理的一部分，能够快速地设定记录条件。
进而，在本发明的第1方式中，也可以是，还包括预先存储关于统计量的基准值(例如目标值、上限值、下限值等)的存储器。此时，条件确定单元，基于存储在存储器中的基准值，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。由此，能够判断是否成为适当的记录条件等。
本发明的第2方式的光信息记录介质，记录有统计量的基准值和关于记录条件的信息中的至少任意一个，其用于对上述光信息记录介质进行数据记录，其中，上述统计量，是关于对上述光信息记录介质记录包括特定码的码，并且从上述光信息记录介质进行上述码的再现时所得到的上述码的再现信号中的、涉及特定码的再现信号的振幅的极大值或极小值的任意一个的峰值的统计量。这样，能够适当地进行依照单个的光信息记录介质或相同种类的光信息记录介质的数据的记录。
本发明的第3方式的光信息记录处理方法，包括：测量步骤，对光信息记录介质记录包括特定码的码，并且，从光信息记录介质进行上述码的再现，根据上述码的再现信号，对涉及特定码的再现信号的振幅，测量作为极大值或极小值的任意一个的峰值；和统计量计算步骤，使用在测量步骤中所得到的、相同或不同的记录位置的多个上述峰值，计算预先规定的统计量。
关于本发明的第1方式的光信息记录再现装置的变化(variation)，也可以适用于本发明的第3方式的光信息记录处理方法。
能够将本光信息记录处理方法制作成用于使计算机执行的程序，该程序例如被存储在软盘、CD-ROM、光磁盘、半导体存储器以及硬盘等存储介质或存储装置、具有存储器的中央运算装置中。另外，有时也经由网络等作为数字信号进行分发。中间的处理结果被暂时保管在各种装置的工作存储区域等中。
根据上述那样的本发明，能够为了实现高品质且稳定的记录而使用非显而易见的新评价指标。
另外，作为本发明的其他方面，能够导入新评价指标使对介质的记录条件最优化。
进而，作为本发明的其他方面，能够导入新评价指标使对介质的记录功率最优化。
进而，作为本发明的其他方面，能够在使对介质的记录条件最优化时导入新评价指标，适当地使对要进行其他调整的参数有很大影响的参数最优化。
附图说明
图1是用于说明本发明的实施方式的记录脉冲的图。
图2是表示本发明的实施方式的主要处理流程的图。
图3是本发明的实施方式的功能框图。
图4是表示本发明的第1实施方式中的处理流程的图。
图5是用于说明本发明的实施方式中的峰值的图。
图6是用于说明本发明的实施方式中的峰值的差量的图。
图7是用于说明非对称值的图。
图8是用于说明本发明的第1实施方式中的记录功率调整的图。
图9是用于说明本发明的第1实施方式中的记录功率调整的图。
图10是表示本发明的第2实施方式中的处理流程的图。
图11是用于说明本发明的第2实施方式中的峰值的方差的图。
图12是用于说明本发明的第2实施方式中的方差值的图。
图13是用于说明本发明的第2实施方式中的非对称值的图。
图14是表示本发明的第3实施方式中的存储在盘内的数据结构的图。
图15是使用个人计算机时的功能框图。
具体实施方式
[本发明的实施方式的前提]
使用图1说明在本发明的实施方式中使用的记录脉冲的结构例。在本发明的实施方式中，示出使用由多个脉冲图案所构成的多脉冲方式的例子。如图1所示，记录脉冲10，由位于该记录脉冲的最前面的起始脉冲12和接着该起始脉冲的后续脉冲14构成。后续脉冲14，具有接着起始脉冲12的中间脉冲15和位于记录脉冲10最末尾的最终脉冲16。
在此，将记录脉冲10的长度取为nT，起始脉冲12具有mT的长度，后续脉冲具有(n-m)T的长度。在本发明的实施方式中，令m＝2、n＝2～11。T为由光盘系统所定义的单位时间，其周期取决于时钟信号。
记录脉冲10的条件，通过在驱动器中填装了可写入的介质的状态下进行测试记录来确定。
在此，记录脉冲整体的能量由总功率PW表示的高度决定，提供给记录标记(mark)前端的初始能量由起始脉冲宽度Ttop表示的长度决定。该总功率PW，优选取为记录脉冲10中最高的值，起始脉冲的宽度Ttop，具有对应于具有2T长度的最短记录标记的宽度。人们已知，该最短宽度的记录脉冲的出现概率最高，对记录品质的影响大。因此，优选的是，首先确定起始脉冲12的功率PW和宽度Ttop的最佳条件。
作为中间脉冲15的条件，规定位于起始脉冲12和最终脉冲16之间的中间脉冲15的宽度Tmp，或规定Tmp和中间脉冲之间的间隔Tsmp的占空比，由此，防止记录标记成为泪滴状。
最终脉冲16的条件，通过调整位于记录脉冲10最末尾的最终脉冲16的宽度Tlast来确定。由这些中间脉冲15和最终脉冲16构成的后续脉冲的条件，是将起始脉冲的条件作为基准来进行确定的。
接下来，使用图2说明确定记录脉冲的条件的顺序。在此，示出使用包括多种码的记录图案进行测试记录，基于其结果确定记录条件的方法的一例。首先，例如对起始脉冲12确定功率条件(步骤S100)。通过设定仅由起始脉冲12构成的、具有2T长度的码的功率条件，来设定记录脉冲10整体的功率条件。本步骤为本发明的实施方式的主要处理，因此以下将详细叙述。
之后，通过利用在步骤S100中所确定的功率条件进行测试记录，来确定最终脉冲16的记录条件(步骤S200)。该最终脉冲的条件设定，通过在将起始脉冲12和中间脉冲15的条件固定为预定的条件的状态下调整最终脉冲的宽度来进行。在本实施方式中，为了使具有3T以上长度的码利用最终脉冲16，对这些码进行调整。为了调整该最终脉冲，求出表示例如作为最短码的2T的振幅值和作为次短码的3T的振幅值的非对称性的非对称2T3T的值变为0等适当值的条件。不过，也可以求出误码率成为最小的条件。
之后，通过利用在步骤S100中求得的功率条件和在步骤S200中求得的最终脉冲进行测试记录，来确定中间脉冲的记录条件(步骤S300)。该中间脉冲的条件设定，通过调整构成中间脉冲的分割脉冲的宽度来进行。在本实施方式中，为了使具有4T以上长度的码利用中间脉冲15，对这些码进行调整。为了调整该中间脉冲，求出表示例如作为最短码的2T的振幅值和作为最长码的11T的振幅值的非对称性的非对称2T11T的值变为0等适当值的条件。不过，也可以求出误码率变为0等适当值的条件。
因为通过执行以上的步骤S100～S300确定了包含在记录图案中的各记录脉冲的条件，故依照该所确定的记录脉冲的条件进一步进行测试记录，由此，进行所需的记录脉冲的相位偏移修正(步骤S400)。该相位偏移修正，通过调整成为修正对象的记录脉冲的开始位置和结束位置来进行。成为修正对象的记录脉冲，通过使用了多种记录图案的测试记录来被指定。作为相位偏移修正的指标，既可以使用非对称值，也可以使用误码率。
通过实施这样的确定记录脉冲的条件的顺序，既能够保持适当的记录品质又能够在驱动器中对介质进行数据记录。
[本发明的实施方式的功率条件设定]
1.本发明的实施方式的驱动器结构
下面，使用图3说明本发明的实施方式的驱动器/系统的功能框图。本发明的实施方式的驱动器/系统，包括光信息记录再现装置100，以及具有电视接收机之类的显示部131和遥控器之类的操作部132的输入输出系统130。
光信息记录再现装置100，包括：存储器127，存储处理中途的数据、处理结果的数据、处理中的参照数据等；CPU(Central ProcessingUnit：中央运算单元)125，具有记录用于执行以下说明的处理的程序的存储器电路126；接口部(I/F)128，作为与输入输出系统130的接口；特性值检测部124，检测作为再现信号的RF信号的峰值等；限幅器122和数据解调电路123，进行用于对是否从作为再现信号的RF信号读出2T～11T码中的任意一个进行解码的处理等；拾取部110；激光二极管(LD)驱动器121；以及未图示的盘150的转动控制部、电机和用于拾取部110的伺服控制部。
另外，拾取部110，包括：物镜114、光束分离器116、检测透镜115、准直透镜113、激光二极管(LD)111、以及光电检测器(PD)112。在拾取部110中，按照未图示的伺服控制部的控制，未图示的传动器进行动作，施行聚焦和跟踪。
CPU125与存储器127、特性值检测部124、I/F128、LD驱动器121、未图示的转动控制部和伺服控制部等相连接。另外，特性值检测部124与PD112、CPU125等连接。LD驱动器121与CPU125、LD111相连接。CPU125还经由I/F128与输入输出系统130相连接。
接下来，说明对盘150记录数据时的处理的概要。首先，CPU125或另行设置的数据调制电路(未图示)，对用于写入到盘150中的数据实施基于例如ETM方式的调制处理等，将调制处理后的数据输出到LD驱动器121。LD驱动器121，依照指定的记录条件，用接收到的数据驱动LD111使其输出激光。激光经由准直透镜113、光束分离器116以及物镜114照射在盘150上，在盘150上形成岸(Land)和坑(Pit)。
另外，说明再现记录在盘150上的数据时的处理的概要。LD驱动器121，按照来自CPU125的指示驱动LD111使其输出激光。激光经由准直透镜113、光束分离器116以及物镜114照射在盘150上。来自盘150的反射光，经由物镜114、光束分离器116、检测透镜115输入到PD112。PD112将来自盘150的反射光转换为电信号，输出到特性值检测部124和限幅器122等。限幅器122和数据解调电路123等，对所输出的再现信号进行预定的解码处理，将解码后的数据经由CPU125和I/F128输出到输入输出系统130的显示部131，使其显示再现数据。特性值检测部124并不在通常的再现中使用，因此，其动作将在以下进行说明。
2.第1实施方式的功率条件设定处理
下面，使用图4～图9说明本发明的第1实施方式的处理。首先，CPU125读出存储在例如存储器127中的指定的测试记录条件，对LD驱动器121设定该指定的测试记录条件(步骤S101)。测试记录条件还包括功率条件。另外，CPU125使LD驱动器121施行对盘150的测试记录(步骤S103)。该测试记录中的记录脉冲形状取为脉冲串形状的多脉冲。不过，也可以取为简单形状的非多脉冲。记录图案既可以是随机图案，也可以是测试记录用的指定图案。为了在以下使用2T码，而将该2T码包含在记录图案中。测试记录用的指定图案，组合在以下的处理中使用的码等而构成。测试记录用的指定图案，既存在记录于1个位置的情况，也存在多次记录于不同的多个位置的情况。
接下来，CPU125进行记录条件的评价和修正所需要的评价参数的检测处理(步骤S105)。具体而言，CPU125对LD驱动器121指示记录数据的再现，LD驱动器121使LD111以再现强度对盘150照射激光。激光经由准直透镜113、光束分离器116、以及物镜114照射在盘150上。来自盘150的反射光经由物镜114、光束分离器116、检测透镜115输入到PD112。PD112将来自盘150的反射光转换为电信号，将其作为RF信号输出到特性值检测部124。特性值检测部124根据RF信号检测振幅的峰值，将其输出到CPU125。另外，限幅器122和数据解调电路123，指定与所输入的RF信号对应的2T码～11T码中的任意一个，将所特定的码数据输出到CPU125。CPU125，将涉及振幅的峰值和该峰值的码对应起来，保存到例如存储器127中。
也可以在步骤S103的记录动作结束后，访问步骤S103中的记录图案的记录位置来执行步骤S105。另外，也可以在执行步骤S103的过程中使用主激光点(spot)或后续的副激光点同时执行步骤S105。在记录于不同的多个位置的情况下，将这些位置例如再现1次，在仅记录于1个位置的情况下，将该位置再现预定次数。
本实施方式的评价参数，是在作为再现信号的RF信号中，2T～11T(进行了基于例如ETM方式的解调时)码中所需要的特定码(例如2T码)的振幅的峰值及其统计量(尤其是最大值、最小值以及这两者的差量)。在此，先说明振幅的峰值。
图5示出记录了特定的单一码(例如5T)的连续图案时的再现信号a(RF信号)的概念图。图5的纵轴表示峰值[V]，横轴表示时间。在本实施方式中，将再现信号的振幅为极大(凸)的振幅值和振幅为极小(凹)的振幅值中的任意一个取为振幅的峰值。
这样的再现信号的振幅的峰值，如图5所示并不一定是恒定值。特别地，在不是以上述单一码的连续图案、而是以含有多个码的记录图案进行记录时的再现信号中，受到前后的码图案的影响，振幅的峰值容易发生变动。进而，对进行数据记录的盘150照射的激光的照射功率相对于最佳量过多或不足，因此，进行记录时的热行为或分布难以成为均匀，成为振幅峰值变化(变动)的主要原因。
在图5的说明中，示出了记录单一码的连续图案时的再现信号，但是，本实施方式能够毫无问题地处理与实际的数据记录同样地以含有多个码的记录图案(例如，随机图案或者以预先规定了多个码的顺序排列的图案)进行记录的情况，此时从含有多个码的图案中检测涉及想要求出振幅的峰值的特定的码的再现信号，利用该检测再现信号来确定振幅的峰值。
进而，在本实施方式中，计算振幅的峰值的最大值与最小值的差量。如图6所示，在排列涉及特定码(例如2T)的再现信号的振幅的峰值时存在离差，检查该峰值中的最大值和最小值，计算这两者的差量。
另外，也可以在振幅的峰值的差量之外，还指定以往用作评价参数的表现各码的振幅电平的位置关系的非对称值。在图7中，示出了对2T码、3T码、11T码的RF信号进行DC耦合时的振幅电平(分别为I2、I3、I11)。例如，计算2T11T的非对称值。不过，也可以不限于2T11T的非对称值，而计算其他的非对称值。关于非对称值，是以往众所周知的，因此对于其计算方法等在此不进行说明。
进而，也可以根据涉及5T码～11T码中的任意一个码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值，来计算表示振幅电平中的位置关系的β值，在振幅的峰值的差量之外还指定该β值。关于β值，是以往众所周知的，因此对于其计算方法等在此不进行说明。
接下来，CPU125，基于存储在存储器127中的参照数据，判断是否要调整记录条件(在此为功率条件)(步骤S107)。参照数据例如是关于振幅的峰值的差量的目标(target)值(例如上限值。不过也可以设为下限值)。例如，在图8中示出将在步骤S103中采用的作为记录条件的记录功率、与在步骤S105中所确定的差量(检测值)之间的关系制成曲线图的情况，在该曲线图中，纵轴表示差量，横轴表示记录功率。在图8中，还示出了表示作为关于差量的上限值的目标值的直线，当检测值在该直线之下时，虽然无法得知是否最佳，但其满足关于差量的条件。换言之，能够判断出在步骤S103中采用的作为记录条件的记录功率是适当的。而如图8所示，当检测值在表示作为上限值的目标值的直线之上时，判断出在步骤S103中采用的作为记录条件的记录功率是不适当的。
在步骤107中，也可以使用在步骤S105中计算出的非对称值或β值来判断是否需要调整。
因此，在记录功率不适合的情况下，CPU125基于参照数据来确定记录条件的修正量(步骤S109)。
在图8所述的状态的情况下，将例如图9所示的记录功率与非对称值(例如，2T11T的非对称值)的关系(在此为直线c)作为参照数据预先保存在存储器127中，例如基于在步骤S103中采用的作为记录条件的记录功率PW1与在步骤S105中所确定的差量的关系和直线c，来确定预测将非对称值取为例如0的记录功率值PW2，将该记录功率值PW2与在步骤S103中采用的作为记录条件的记录功率PW1的差作为功率调整量进行指定。对于差量是否像实际预测的那样减少，将实施步骤S101～S105来进行确认。另外，这里示出了关于非对称值的例子，但是，也可以使用β值来进行调整。
另外，将例如呈现图8的曲线b那样的差量相对于记录功率的变化的变化趋势的数据作为参照数据预先保存，按照曲线b，将差量变为最小的记录功率与在步骤S103中采用的作为记录条件的记录功率之间的差，作为功率调整量来进行指定。通常，曲线b并不单值确定，因此，也可以在先做成曲线b指定了功率调整量以后，再次实施步骤S101～步骤S105，在得到第2个之后的检测值的阶段，再次确定曲线b。在任何情况下，关于差量是否实际减少，最好是实施步骤S101～S105后再进行确认。
另外，即使在确定了低于目标值的差量的情况下，也可以为了确定进一步减小差量的记录功率的值而计算功率调整量。即，也可以是在步骤S107中，不仅将是否低于目标值作为基准来进行判断，还将是否需要进一步降低差量作为基准来进行判断。另外，对步骤S109的执行次数进行计数，当进行了预定的限制次数但差量仍未处于目标值以下时，判断为不再进行下一次处理。另外，例如在最初的步骤S105的执行过程中所得到的差量超过与上述目标值不同的另一个错误判断用的基准值时，此时也判断为不再进行下一次处理。
进而，也可以在执行了至少2次步骤S101～S105的基础上，确定图8的曲线b或图9的直线c，预测功率调整量。
当在步骤S109中记录条件的修正量确定后，返回步骤S101，使在步骤S109中所确定的记录条件的修正量(在本实施方式中为功率调整量)反映在测试记录条件中，执行步骤S101～S109。
而在步骤S107中判断为不需要调整记录条件时，CPU125判断能否进行对盘150的记录(步骤S111)。在该步骤S1111中，将振幅的峰值的差量、功率调整量等与存储在存储器127中的记录可否判断的基准值(在对范围进行规定时为上限值和下限值)进行比较，判断能否得到预定基准以上的充分的记录品质。也可以设置多个判断记录可否的基准值，从而能够确定能以指定的记录速度进行记录、能够以比指定的记录速度低的速度进行记录、以及不能记录中的任意一个，也可以在不能以指定的记录速度进行记录的情况下，经由I/F128在显示部131上进行显示，经由I/F128接收来自操作部132的选择指示，使得选择例如“以比指定的记录速度低的速度进行记录”或“中止记录”中的任意一个。也可以显示数据记录所需要的总时间等来辅助用户的选择。也可以进行低速记录的级别划分。在这样的情况下，预先设置与级别相应的基准值，通过与该基准值的比较来进行判断。
本步骤S111中的判断，不仅可以以上述的参数为基准进行判断，也可以以其他的参数为基准进行判断。
然后，当判断为记录停止时(步骤S121：“是”路径)，移至步骤S129。当判断为不停止记录(步骤S121：“否”路径)，以比指定的记录速度低的速度进行记录时(步骤S123：“是”路径)，以在步骤S111中所确定的级别的速度或预先规定为低速的速度实施数据的记录(步骤S125)。对于通常的数据的记录处理，因为与以往相同故而省略多余的说明。然后，处理移至步骤S129。
在本实施方式中，当在步骤S123中不进行低速记录时(步骤S123：“否”路径)，则以指定的记录速度进行数据记录处理(步骤S127)。因为该处理与以往相同故而省略多余的说明。然后，处理移至步骤S129。
在记录中止或以任意速度进行了记录后，CPU125经由I/F128将预定的信息显示在显示部131上，进而将预定的记录数据保存在存储器127(步骤S129)。例如，将介质ID、记录速度等判断结果、调整内容、处理结果及其他所确定的信息显示在显示部131上。由此，用户能够得到进行了怎样的记录、是否是不得不对盘150进行了多次功率调整等信息，例如能够将其作为选择盘150的大致标准。另外，关于介质ID、记录速度等判断结果、调整内容、处理结果及其他所确定的信息等、为了提高之后的记录和调整处理的效率所需要的数据，预先存储到存储器127。
若这样预先存储在存储器127，则对于相同的介质ID直接使用过去的差量的平均等，可以省略差量的计算处理。另外，根据功率调整量的记录，当为相同的介质ID时，则也可以将过去的功率调整量的平均值等作为基准设定记录条件，能够减少测试记录的次数。也可以由CPU125实现这样的功能。
另外，也可以取代存储器127，在盘150上保存上述那样的数据，或者除了存储器127之外，在盘150上保存上述那样的数据。在保存于盘150时，预先保存例如光信息记录再现装置100的ID等，以取代对上述存储器127的保存数据中的介质ID。这样，在为追记式的盘150等的情况下，当利用与存储在盘150中的光信息记录再现装置100的ID相同的光信息记录再现装置100再次进行数据记录时，能够使用存储在盘150中的记录关联数据，提高记录和调整处理的效率。
通过实施以上的处理，能够适当地进行包含在记录条件中的记录功率的调整。并且，能够在实际进行数据记录之前(或者在数据记录中途)评价记录状态，按照其评价结果进行所需的记录条件的调整，用户能够安心地记录重要的数据。
步骤S111～S129，在进行记录功率以外的其他调整(例如图2的步骤S200～S400)之后予以实施。当然，在只需调整记录功率即可的情况下，直接实施步骤S111～步骤S129即可。
另外，以上述振幅的峰值为基准的处理，不仅能够适用于记录功率的调整，也能够适用于记录脉冲的调整。例如，也可以在精细地改变记录脉冲的宽度进行测试记录时，采用振幅的峰值的差量或方差等统计量为适当时的记录脉冲宽度。
在本实施方式中，示出了在光信息记录再现装置100中实施全部处理的例子，但是，也存在以下的情况，即：例如在光信息记录再现装置100内实施到步骤S105之前的处理，由其他装置进行其他处理的情况，或者为了评价光信息记录再现装置100而仅利用步骤S105的结果的情况。
并且，关于振幅的峰值，示出了使用极大值和极小值中的任意一个的例子，但也可以使用这两者。例如也可以将极大值中的最大值与极小值中的最小值之间的中间值作为基准，将差的绝对值与峰值同样地处理。进而，也可以使用极大值的统计值与极小值的统计值的平均值，极大值和极小值的统计值的平均值等。关于这一点在以下的实施方式中也是同样的。
3.第2实施方式的功率条件设定处理
下面，使用图10～图13说明在代替图4的其他处理中设定包含在记录条件中的功率条件的例子。
在本实施方式中，示出了代替振幅的峰值的差量将振幅的峰值的方差作为基准进行处理的例子。
首先，CPU125读出例如存储在存储器127中的指定的测试记录条件(含有功率条件)，对LD驱动器121设定该指定的测试记录条件(步骤S151)。本步骤反复实施，因此，并不是仅为存储在存储器127中的指定的测试记录条件，往往还在测试中途例如预测到的范围内无法得到良好的结果时等指定或追加测试记录条件。另外，CPU125使LD驱动器121实施对盘150的测试记录(步骤S153)。该测试记录中的记录脉冲形状取为脉冲串形状的多脉冲。不过，也可以是简单形状的非多脉冲。另外，记录图案既可以是随机图案，也可以是测试记录用的指定图案。对于2T码，为了在之后使用而包含在记录图案中。测试记录用的指定图案，是组合在以下的处理中使用的码等而构成的。另外，在本实施方式中，需要以变更了功率条件的多个记录条件进行测试记录，因此，步骤S151和步骤S153依照记录条件的种类数而被反复执行。
接着，CPU125进行记录条件的评价和修正所需要的评价参数的检测处理(步骤S155)。具体而言，CPU125对LD驱动器121指示记录数据的再现，LD驱动器121使LD111以再现强度对盘150进行激光的照射。激光经由准直透镜113、光束分离器116以及物镜114照射在盘150上。来自盘150的反射光经由物镜114、光束分离器116、检测透镜115输入到PD112。PD112将来自盘150的反射光转换为电信号，将其作为RF信号输出到特性值检测部124。特性值检测部124，根据RF信号检测振幅的峰值，将其输出到CPU125。另外，限幅器122和数据解调电路123，指定与所输入的RF信号对应的2T码～11T码中的任意一个，将所特定的码数据输出到CPU125。CPU125将涉及振幅的峰值和该峰值的码对应起来，将其保持在例如存储器125中。
该步骤S155，在由步骤S153进行的记录动作结束后，访问步骤S153中的记录图案的记录位置来执行。不过，步骤S153(记录)与本步骤S155(再现)的顺序，既可以是如“记录→再现→记录→再现→记录→再现→再现...”这样交替地反复进行，也可以如“记录→记录→记录→再现...”这样连续地执行步骤S153之后统一执行步骤S155。
本实施方式的评价参数，是在作为再现信号的RF信号中，2T～11T(例如进行了基于ETM方式的调制时)码中所需的特定码(例如2T码)的振幅的峰值及其统计量(尤其是方差、平均偏差(偏差的绝对值的平均)、标准偏差等)等。关于振幅的峰值的指定，与第1实施方式相同。
然后，在本实施方式中，计算振幅的峰值及其统计量等的方差等。如图11所示，即使含有记录功率的记录条件相同，从涉及特定码(例如2T)的再现信号的振幅的峰值及其统计量等的发生频率来看，也会出现离差，计算与方差、平均偏差等离差相应的值。按各记录条件(具体而言，每个记录脉冲的测试值)计算该方差等的值。
另外，也可以将表现各码的振幅电平的位置关系的非对称值加上振幅的峰值的方差等进行指定，其中，该非对称值以往用作评价参数。例如，计算2T11T的非对称值。不过，不限于2T11T的非对称值，也可以计算其他的非对称值。
进而，也可以根据涉及5T码～11T码中的任意一个码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值，来计算表示振幅电平中的位置关系的β值，除了振幅的峰值及其统计量等以外还指定该β值。
接着，CPU125确定作为记录条件的记录功率(步骤S157)。具体而言，如图12所示，将各测试记录时的记录功率和此时的方差值的关系绘制成曲线图，其横轴表示记录功率，纵轴表示方差，则得到曲线d所示的表现记录功率与方差的关系的曲线。在此，指定低于目标值且方差变为最小的记录功率的值。即使无法得到曲线，也可以指定低于目标值且在绘制出的点中方差变为最小的记录功率的值。也可以不一次绘制图12的曲线图所示的点。也可以多次施行步骤S151～S153，逐渐指定方差变为最小的记录功率的值。
例如对于非对称值也在步骤S155中进行计算，则如图13所示，在横轴表示记录功率、纵轴表示非对称值的曲线图中，能得到表现记录功率和非对称值的关系的直线f。在图13中绘制了多个点，但通过施行例如最初只能绘制2点的测试记录，并将这2个点相连，来生成非对称值的预测直线。之后，根据该非对称值的预测直线，指定非对称值为0的记录功率，以该记录功率再次进行测试记录。这样，能够确认方差是否按预测那样降低了。在方差按预测那样降低了的情况下，采用此时的记录功率。另外，也可以在图12和图13中使点数增加后指定最佳的记录功率。即，也可以进行如下处理：更准确地修正曲线d和直线f，根据该修正后的直线f进一步指定非对称值为0的记录功率，实施测试记录等。
接下来，如果需要反复执行则返回到步骤S151(步骤S159)。该处理如上所述存在策略(policy)上的不同：是在反复执行后使方差值降低，还是一次全部测试完而不反复执行。
在即便反复执行步骤S151～S157也无法找出满足目标值的记录条件时，为了输出错误例如也可以移至步骤S171。
接下来，当在步骤S159中判断为无需调整记录条件时，CPU125判断能否进行对盘150的记录(步骤S161)。在该步骤S161中，振幅的峰值的方差、记录功率(或者通常的记录功率与在步骤S157中所确定的记录功率的差)等，与存储在存储器127中的记录可否判断的基准值(规定范围时为上限值和下限值)进行比较，判断能否得到预定基准以上的足够的记录品质。也可以设置多个记录可否判断的基准值，指定能够以指定的记录速度进行记录、能够以比指定的记录速度低的速度进行记录、不能进行记录中的任意一个，在不能以指定的记录速度进行记录时，也可以经由I/F128在显示部131上进行显示，经由I/F128接收来自操作部132的选择指示，使得选择例如“以比指定的速度低的速度进行记录”或者“中止记录”。也可以进行低速记录的等级划分。在这样的情况下，预先设置与等级相应的基准值，通过与该基准值的比较来进行判断。
本步骤S161中的判断，不仅是可以以上述参数为基准进行，也可以以其他参数为基准进行。
然后，当判断为记录停止时(步骤S163：“是”路径)移至步骤S171。当判断为不停止记录(步骤S163：“否”路径)，以比指定的记录速度低的速度进行记录时(步骤S165：“是”路径)，以在步骤S161中确定的等级的速度或预先规定为低速的速度实施数据的记录(步骤S167)。对于通常的数据的记录处理，因为与以往相同所以省略多余的说明。然后，处理移至步骤S171。
在本实施方式中，当在步骤S165中不进行低速记录时(步骤S165：“否”路径)，以指定的记录速度进行数据记录处理(步骤S169)。该处理因为与以往相同所以省略多余的说明。然后，处理移至步骤S171。
在记录中止或以任意速度进行了记录后，CPU125经由I/F128将预定的信息显示在显示部131上，进而将预定的记录数据保存在存储器127上(步骤S171)。例如，将介质ID、记录速度等的判断结果、调整或设定内容、处理结果及其他所指定的信息显示在显示部131上。由此，用户能够得到进行了怎样的记录、是否不得不对盘150进行了多次功率调整等信息，例如能够成为盘150的选择大致标准。另外，对于介质ID、记录速度等的判断结果、调整内容、处理结果及其他所指定的信息等、为了提高之后的记录和调整处理的效率而需要的数据，预先存储在存储器127上。
若这样预先存储在存储器127上，则对于相同的介质ID就直接使用过去的方差的平均等，可以省略方差的计算处理。另外，根据记录功率的记录，当为相同的介质ID时，则也可以将过去的记录功率的平均值等作为基准设定记录条件，能够减少测试记录的次数。也可以由CPU125实现这样的功能。
另外，也可以取代存储器127，在盘150上保存上述数据，或者除了存储器127之外，在盘150上保存上述数据。在保存于盘150时，预先保存例如光信息记录再现装置100的ID等以取代介质ID。这样，在为追记式的盘150等的情况下，当利用相同的盘150再次进行数据记录时，能够使用存储在盘150中的记录关联数据，提高记录和调整处理的效率。
通过实施以上的处理，能够适当地进行包含在记录条件中的记录功率的调整。并且，能够在实际进行数据记录之前(或者在数据记录中途)评价记录状态，按照其评价结果进行所需的记录条件的调整，用户能够安心地记录重要的数据。
对于步骤S161～S171，在进行记录功率以外的其他调整(例如图2的步骤S200～S400)之后予以实施。当然，在只需调整记录功率即可的情况下，直接实施步骤S161～步骤S171即可。
另外，以上述振幅的峰值为基准的处理，不仅能够适用于记录功率的调整，也能够适用于记录脉冲的调整。例如，在精细地改变记录脉冲的宽度进行测试记录时，也可以采用振幅的峰值的方差等统计量适当时的记录脉冲宽度。
在本实施方式中，示出了在光信息记录再现装置100中实施全部处理的例子，但是，也存在以下的情况，即：在光信息记录再现装置100内实施到例如步骤S155之前的处理，由其他装置进行其他的处理的情况，或者为了评价光信息记录再现装置100而仅利用步骤S155的结果的情况。
4.第3实施方式
在上述实施方式中，示出了在存储器127中存储参照数据和目标值等基准值的例子，但是也不一定需要预先保持在存储器127中。例如，也可以预先保持在盘150中。在保持于盘150的情况下，预先保持在图14所示的导入(Lead-in)区域中。导入区域大致分为系统导入区域、连接区域、以及数据导入区域，系统导入区域包括初始化区、缓存区、控制数据区以及缓存区。另外，连接区域包括连接区。进而，数据导入区包括保护道区、盘测试区、驱动测试区、保护道区、RMD复制区、记录管理区、R-物理格式信息区以及参考码区。在本实施方式中，系统导入区域的控制数据区包括记录条件数据区170。
将保持在存储器127中的数据、特别是以下数据保持在该记录条件数据区170中，即：相对于振幅的峰值统计量(例如最大值与最小值的差量、平均值、方差、平均偏差等)的基准值(目标值、上限值、下限值等)，以及对标准记录条件的调整量或推荐记录功率等，在必要时将这些数据读出。对于该要记录的值，既可以统一登录盘150的平均值，也可以登录与出厂前该盘150的测试相应的值。
有时能够通过这样地将与进行记录的盘150相应的值保持在盘150中，来降低驱动器一侧的处理负荷。
对于要在步骤S171或步骤S129中存储的数据，也可以存储在相同的区中。
5.第4实施方式
在第1实施方式和第2实施方式中，示出了假定电视接收机和遥控器作为输入输出系统130的例子，但是，有时例如也如图15所示连接有个人计算机180。另外，有时光信息记录再现装置100与个人计算体被一体化。
如图15所示，个人计算机180包括：作为显示器的显示部181；作为键盘、鼠标的输入部182；以及通过执行软件实现的数据记录处理部183。该数据记录处理部183进行以下处理：经由I/F128与CPU125进行通信，接收例如显示数据向显示部181进行显示，接收来自输入部182的输入，将其输出到CPU125等。数据记录处理部183，有时也与例如现有的写入程序(writer)/软件一体化地实现。
另外，也可以在CPU125中，实施直到检测振幅的峰值或计算振幅的峰值统计量为止的处理，将该计算结果输出到数据记录处理部183，由数据记录处理部183实施上述处理。
若进行上述那样的处理，则能够确定包含在记录条件(策略)中的多个参数且独立地进行修正，能够通过较少的参数调整指定可以进行高品质记录的条件。特别是在进行图2所示的处理且以上述方法设定记录功率时，对上述事项是特别有效的。
因此，即使在DVD、HD-DVD、Blu-ray这样的高密度记录系统中，也能够准确地形成标记和间隔，尤其是在使用PRML信号处理的记录再现系统中，能够得到低误码率、大容限这样的高记录品质。

Claims (23)

1.一种光信息记录再现装置，其特征在于，包括：
测量单元，对光信息记录介质记录包括特定码的码，并且，从上述光信息记录介质进行上述码的再现，根据上述码的再现信号，对涉及上述特定码的再现信号的振幅，测量作为极大值或极小值的任意一个的峰值；以及
统计量计算单元，使用由上述测量单元所得到的、相同或不同的记录位置的多个上述峰值，计算预先规定的统计量。
2.根据权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括：
条件确定单元，使用上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
3.根据权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括：
条件确定单元，使用上述统计量和包含在上述码中的预定码的振幅电平值，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
4.根据权利要求3所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
上述振幅电平值，是涉及5T码到最长码的任意一个码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值，
上述条件确定单元，根据上述振幅最大电平值和上述振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的β值；使用上述β值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
5.根据权利要求3所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
上述振幅电平值，是涉及2种以上的预定码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值，
上述条件确定单元，根据上述振幅最大电平值和上述振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的非对称值；使用上述非对称值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
6.根据权利要求2～5中的任意一项所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括：
记录可否判断单元，根据上述条件确定单元的处理结果和处理过程的至少任意一个、上述测量单元的测量结果和由上述统计量计算单元计算出的上述统计量中的至少任意一个，判断能否以指定记录条件得到预定的记录品质。
7.根据权利要求6所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括：
记录处理单元，当由上述记录可否判断单元判断为不能以上述指定记录条件得到上述预定的记录品质时，实施降低包含在上述指定记录条件中的记录速度、不进行记录、以及询问用户能否记录中的任意一个。
8.根据权利要求7所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括：
使上述记录可否判断单元的判断结果和上述记录处理单元的处理结果中的至少任意一个显示在显示装置上的单元。
9.根据权利要求1～8中的任意一项所述的光信息记录再现装置，其特征在于，还包括：
将处理结果和处理过程中的数据中的至少任意一个保存在存储器或上述光信息记录介质中的单元。
10.根据权利要求2或3所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
还包括预先存储关于上述统计量的基准值的存储器，
上述条件确定单元，基于存储在上述存储器中的基准值，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
11.一种光信息记录介质，其特征在于，
记录有统计量的基准值和关于记录条件的信息中的至少任意一个，其用于对上述光信息记录介质进行数据记录，其中，上述统计量，是关于对上述光信息记录介质记录包括特定码的码，并且从上述光信息记录介质进行上述码的再现时所得到的上述码的再现信号中的、涉及特定码的再现信号的振幅的极大值或极小值的任意一个的峰值的统计量。
12.一种光信息记录处理方法，其特征在于，包括：
测量步骤，对光信息记录介质记录包括特定码的码，并且，从上述光信息记录介质进行上述码的再现，根据上述码的再现信号，对涉及上述特定码的再现信号的振幅，测量作为极大值或极小值的任意一个的峰值；以及
统计量计算步骤，使用在上述测量步骤中所得到的、相同或不同的记录位置的多个上述峰值，计算预先规定的统计量。
13.根据权利要求12所述的光信息记录再现方法，其特征在于，还包括：
条件确定步骤，使用上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
14.根据权利要求12所述的光信息记录再现方法，其特征在于，还包括：
条件确定步骤，使用上述统计量和包含在上述码中的预定码的振幅电平值，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
15.根据权利要求14所述的光信息记录再现方法，其特征在于：
上述振幅电平值，是涉及5T码到最长码的任意一个码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值，
在上述条件确定步骤中，根据上述振幅最大电平值和上述振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的β值；使用上述β值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
16.根据权利要求14所述的光信息记录再现方法，其特征在于：
上述振幅电平值，是涉及2种以上的预定码的再现信号的振幅最大电平值和振幅最小电平值，
在上述条件确定步骤中，根据上述振幅最大电平值和上述振幅最小电平值，计算表示振幅电平中的位置关系的非对称值；使用上述非对称值和上述统计量，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
17.根据权利要求13～16中的任意一项所述的光信息记录再现方法，其特征在于，还包括：
记录可否判断步骤，根据上述条件确定步骤中的处理结果和处理过程的任意一个、上述测量步骤中的测量结果和上述统计量计算步骤中计算出的上述统计量中的至少任意一个，判断能否以指定记录条件得到预定的记录品质。
18.根据权利要求17所述的光信息记录再现方法，其特征在于，还包括：
记录处理步骤，当在上述记录可否判断步骤中判断为不能以上述指定记录条件得到上述预定的记录品质时，实施降低包含在上述指定记录条件中的记录速度、不进行记录、以及询问用户能否记录中的任意一个。
19.根据权利要求18所述的光信息记录再现方法，其特征在于，还包括：
使上述记录可否判断步骤中的判断结果和上述记录处理步骤的处理结果的至少任意一个显示在显示装置上的步骤。
20.根据权利要求12～19中的任意一项所述的光信息记录再现方法，其特征在于，还包括：
将处理结果和处理过程中的数据中的至少任意一个保存在存储器或上述光信息记录介质中的步骤。
21.根据权利要求13或14所述的光信息记录再现方法，其特征在于：
在上述条件确定步骤中，基于存储在预先存储有关于上述统计量的基准值的存储器中的基准值，确定记录功率条件和记录脉冲条件中的至少任意一个。
22.一种程序，用于使处理器执行权利要求12～21所述的光信息记录处理方法。
23.一种中央运算装置，具有存储权利要求22所述的程序的存储器。
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