CN1922687B - 用于存储装置的测试托架 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于存储装置(38)的测试托架，包括托架基座(12)；可滑动地安装在托架基座(12)上的滑动盘(16)，滑动盘(16)具有至少一个孔以容纳存储装置(38)；至少一个与托架基座(12)相连的存储装置连接器(20)；一个测试器接口(22)，其中，当滑动盘(16)处于第一位置时，存储装置(38)能容纳在滑动盘(16)上的至少一个孔中，当滑动盘(16)处于第二位置时，存储装置(38)的接口与存储装置连接器(20)相配合；托架基座(12)中所包含的适当回路将测试器接口(22)和存储装置连接器(20)相连，从而可通过测试器接口(22)对存储装置(38)进行测试。

Description

用于存储装置的测试托架
技术领域
本发明涉及一种存储装置的测试托架，特别适用于测试位于3.5英寸硬盘驱动器测试器中的一英寸或小于一英寸的存储装置，在本文中被称为小型化(“SFF”)存储装置。
背景技术
下文论述的发明背景意在使人更容易地了解本发明。然而，应该注意的是，这种论述并不是承认所提及的材料在本申请优先权日的权限范围内是已公开、众知或公知常识的一部分。
在生产制造过程中，产品制造通常需要某种质量控制。从产品的角度讲，一般要使用一种或多种测试装置进行测试。
在存储装置，特别是SFF存储装置的制造过程中，制造者常常要面对下列问题，例如：
·测试台通常是为3.5英寸存储装置设计的。更改测试台尺寸需要定制，将推迟SFF存储装置面向市场的时间。
·现有的测试台不便于与要测试的存储装置快速连接或断开。
·现有测试台限制了夹持和缓冲结构(如果有)。这将影响被测试的存储装置的性能。
本发明的目的就是要通过一种测试托架来克服这些缺点，至少要部分地解决上述一个或多个问题，该测试托架可利用现有的3.5英寸HDD测试器对任何尺寸的存储装置，包括SFF存储装置进行测试。
发明内容
在整个说明书中，如非上下文需要，“包括”一词及其变体应被理解为暗示出包括所陈述的整体或整体组。但是不排除任何其他整体或整体组。
根据发明的第一方面，提供一种存储装置的测试托架，包括：托架基座；
可滑动地安装在托架基座上的滑动盘，所述滑动盘具有至少一个孔，以便接收存储装置；
至少一个与托架基座相连的存储装置连接器；以及一个测试器接口，
其中，当滑动盘处于第一位置时，存储装置可以被容纳在滑动盘的所述至少一个孔中，当滑动盘位于第二位置时，存储装置的接口与存储装置连接器相配合，托架基座中所包含的相应的回路使测试器接口和存储装置连接器相连，从而即可通过测试器接口对存储装置进行测试。
测试器接口可以是任意尺寸和配置。但是，理想情况下，测试器接口是3.5英寸HDD接口，其适于被容纳在3.5英寸的HDD测试台中。
存储装置连接器也可以是任意尺寸或配置。存储装置连接器最好能和SFF存储装置如标准闪存卡(Compact Flash)或MMC存储装置的适当接口相配合。滑动盘最好有与其相连的缓冲装置，在测试过程中，缓冲装置用于为存储装置提供机械缓冲。
缓冲装置最好能使存储装置的接口在存储装置连接器中对齐，以便二者相配合。
缓冲装置最好可以拆除。这样，可以使用适合于要测试的存储装置的缓冲装置，而不是限制成每个存储装置用一个缓冲装置，并且能够允许不同尺寸和配置的存储装置保持在滑动盘的孔中。
更优选地，缓冲装置包括弹性垫缓冲器。
还更优选地，缓冲装置包括楔形结构。
优选地，托架基座还包括内置的测试回路，根据特定存储装置的测试需要，其连接到测试接口或直接连接到存储装置连接器。
优选地，托架具有至少一个安装于其上的滑动导向机构，每个滑动导向机构的一部分容纳在滑动盘的各段之间，这样就可以通过该部分将滑动盘的滑动限制在第一和第二位置之间的空间中。
更优选地，滑动盘的至少一段用作手柄。
优选地，滑动盘和托架基座每个都包括相互配合操作的保持机构，以便将滑动盘可释放地保持在第一或第二位置。
更优选地，滑动盘的保持机构是卡紧机构，而托架基座的保持机构是一个孔，适于容纳卡紧机构的一部分。
优选地，测试托架包括连接器保护盖，当滑动盘处于第一位置时，连接器保护盖可以定位成为存储装置连接器提供保护。
附图说明
下面参考附图，对本发明进行描述：
图1为根据本发明第一实例的测试托架单元的等轴测视图。
图2为图1中的测试托架在滑动盘处于第一位置时的等轴测视图。
图3为图1中的测试托架在滑动盘处于第二位置时的等轴测视图。
图4为根据本发明第二实例的测试托架单元的等轴测视图。
图5为图4中的测试托架在滑动盘处于第一位置时的等轴测视图。
图6为图4中的测试托架在滑动盘处于第二位置时的等轴测视图。
图7为图4中的测试托架的滑动盘的等轴测视图。
具体实施方式
根据本发明的第一实例，为一单个的测试托架10，如图1所示。该测试托架10包括托架基座12、滑动导向装置14a、14b、滑动盘16、接口PCBA 18、存储装置连接器20和测试器/主机接口PCBA 22。
每个滑动导向装置14在第一端24处安装到托架基座12。滑动导向装置14a在与侧壁26邻近的第一端24处安装到托架基座12。滑动导向装置14b在与侧壁28邻近的第一端24处安装到托架基座12。滑动盘16位于滑动导向装置14a、14b之间并以下述方式与它们相连，即，使滑动盘16可以在从第一端24向第二端30方向上移动。如图2和图3所示。
接口PCBA 18对中地安装于托架基座12。接口PCBA 18抵靠着滑动导向装置14a、14b，并在侧壁26和侧壁28之间延伸。存储装置连接器20安装到接口PCBA 18上。
测试器/主机接口PCBA 22也固定在托架基座12上。测试器/主机接口PCBA 22有一个连接器部分32，用来容纳3.5英寸硬盘驱动接口(如PATA、SATA、或SCSI等)。连接器部分32位于第二端30上。本领域技术人员将知道托架基座12上包括有回路，以在测试器/主机接口PCBA 22和存储装置连接器20之间提供适当的连接。此回路必须能处理所使用的连接器32的型号所需要的通信协议。
在下面的例子中将更详细地描述测试托架10。
滑动盘16包括滑动导轨34和连接器支柱36。每个滑动导轨34a、34b都各自连接到其相对应的滑动导向装置14a、14b的一部分上。
连接器支柱36a、36b连接滑动导轨34。连接器支柱36a在靠近所述第一端24的一端与滑动导轨34相连。连接器支柱36b在抵靠接口PCBA 18的一端与滑动导轨34相连。任何情况下，连接器支柱36都比滑动导轨34高，以使相应的滑动导向装置14的所述部分位于其中间。
另外，如图2所示，连接器支柱36之间的距离和滑动导轨34之间的距离应该能够使被测试的存储装置38牢固地装入其间。
图2也描述了在滑动盘16处于第一位置(后面称为“卸载位置”)时的测试托架10。要测试的存储装置38被限制在连接器支柱36和滑动导轨34之间的区域内。弹性垫形式的缓冲器40安装在连接器支柱36a上，当存储装置38被限制在滑动盘16里时，为其提供机械缓冲作用，有助于在滑动盘16中安全地限制存储装置38。
另外，随着滑动盘16从卸载位置移动到第二位置(后面称为“装载位置”)，缓冲器40有助于移动存储装置38。同时，由于滑动导向装置14有一部分位于连接器支柱36内，滑动盘16的运动程度被限制在适当的水平。
图3为滑动盘16处于装载位置时的测试托架10。图中清晰地描绘出连接器支柱36b已从托架基座12升起。以这种方式，当滑动盘16移向装载位置时，连接器支柱36b能够移动到存储装置连接器20的上方。
为了便于使滑动盘16能够在装载和卸载位置之间来回移动，连接器支柱36b包括手柄部分42。
同样，图3描述存储装置连接器20处于与连接器支柱36平行的位置，且其长度等于滑动导轨34之间的距离。在这种情况下，要测试的存储装置38的接口能够与存储装置连接器20相配合，以建立适当的接口。
随着存储装置38与存储装置连接器20的配合，测试托架10能够插入3.5英寸HDD测试台(未画出)以便测试存储装置38。
这种结构的好处是能够使用机械臂完成存储装置38的插入和移除以及滑动盘从装载位置到卸载位置的移动，测试需求就可以成为制造过程中的自动化步骤。
根据本发明的第二方面，提供一个多单元测试托架100，如图4所示。该测试托架100包括托架基座102、滑动盘104、接口PCBA106、存储装置连接器108和测试器/主机接口PCBA 112。
滑动盘104可滑动安装在托架基座102上。滑动盘中有四个开口114，每个开口都可以接收一个存储装置116。每个开口114内都有侧面导向装置118、楔形组件120和缓冲器122(同样是弹性垫形式)。侧面导向装置118使每个开口114内的存储装置116与存储装置连接器108对齐。侧面导向装置118、楔形组件120和缓冲器122联合起来为存储装置116提供机械夹持和缓冲作用，具体说明如下文。
当存储装置116从卸载位置向装载位置移动时，侧面导向装置118使存储装置116对准在存储装置连接器108的侧面导轨(未画出)内。楔形组件120的倾斜表面同样也把存储装置116向上推到抵靠侧面导轨。这两个作用力的结果使存储装置116在垂直轴Z方向被夹紧。缓冲器122还把存储装置116推到抵靠存储装置连接器108，这一操作使存储装置116在水平轴X、Y方向被夹紧。
根据要测试的存储装置116的尺寸和设计的不同，也可以替换这些结构。另外，通过选择适当硬度的材料制作的缓冲器122，可改变缓冲力的大小，以获得最佳的缓冲力。
如上所述，滑动盘104可滑动地安装在托架基座102上。这样安装可允许滑动盘104沿着图4中标明的Y轴方向从第一位置(称为“装载”位置)移动到第二位置(称为“卸载”位置)。为了确保滑动盘104无论在装载位置还是在卸载位置都能按照需要被可靠地限定，滑动盘104上装有卡紧机构124，可以被保持孔126限制住。
如上所述，为了获得这种牢固的保持，滑动盘104装有一对卡紧机构124，如图7所示。每个卡紧机构124由保持部分128和弹性臂130组成。每个保持部分128形成了相对应的弹性臂130的头部。每个弹性臂130连接到滑动盘104的其余部分。
弹性臂130是不同的薄壁，可使保持部分128向滑动盘104的其余部分进行需要的移动。选择不同厚度和长度的弹性臂130，可获得需要的保持力。
保持部分128上的面对着托架基座102的侧面有斜角，当滑动盘104在卸载和装载位置移动时，可使保持部分128滑进滑出保持孔126。
连接器保护盖110夹持在托架基座102上。当被夹持在托架基座102上时，连接器保护盖110的位置允许滑动盘104在下面自由滑动。下面将详细说明连接器保护盖110。
存储装置连接器108安装在托架基座102上。每个存储装置连接器108都位于开114内。另外，存储装置连接器108应该处于这样的位置，即，当滑动盘104被保持在卸载位置时，连接器保护盖能够保护存储装置连接器108不受损害，而当滑动盘114限制在装载位置时，存储装置116由侧面导向装置118引导，以与存储装置连接器108配合。
测试器/主机接口PCBA 112也固定到托架基座102上。测试器/主机接口PCBA 112具有一个连接器部分132，用来容纳3.5英寸硬盘驱动接口。连接器部分132位于第一端134处。本领域技术人员将知道托架基座102上包括有回路，以在测试器/主机接口PCBA112和存储装置连接器108之间提供适当的连接。此回路必须能处理所用连接器部分132的型号所需要的通信协议。
在下面的例子中将详细描述多单元测试托架100。
一个机械臂(未画出)把滑动盘104移到卸载位置。然后同一机械臂把四个存储装置116单个地放入滑动盘104里的每个开口114中。放入开口中以后，机械臂把滑动盘104移到装载位置。这将使存储装置116与相应的存储装置连接器108相配合。
存储装置116与存储装置连接器108相配合后，就可以把测试托架100插入3.5英寸HDD测试台(未画出)，以便测试存储装置116。
本领域技术人员应该意识到，本发明并不限于上述的实例。特别是，下述改进并未背离本发明的范围：
1.连接器部分32、134可以省略，高效率地测试存储装置需要的回路可以内置到测试器/主机接口PCBA 22、112中。
2.测试托架10、100能够用在HDD测试器单元中，其测试台的尺寸大于或小于上面提及的3.5英寸HDD测试器单元。
3.卡紧机构124可以被其他的可以使滑动盘104在装载和卸载位置都被保持住的机构替换。
4.第二实例中的滑动盘104可以被改进为能够适应于装配在托架基座102内的任意数量的SFF存储装置。

Claims (14)

1.一种用于测试存储装置的测试托架，包括：
托架基座；
可滑动地安装在托架基座上的滑动盘，所述滑动盘具有至少一个孔，以接收存储装置；
连接到托架基座上的至少一个存储装置连接器；以及
测试器接口，
其中，当滑动盘处于第一位置时，该存储装置可以容纳在滑动盘的所述至少一个孔中，当滑动盘处于第二位置时，存储装置上的接口与存储装置连接器相配合，托架基座中所包含的适当回路连接测试器接口和存储装置连接器，从而可通过测试器接口对存储装置进行测试。
2.根据权利要求1所述的测试托架，其特征在于，所述测试器接口为3.5英寸HDD接口，该接口适于容纳在3.5英寸HDD测试台中。
3.根据上述任一权利要求所述的测试托架，其特征在于，所述存储装置连接器适于与小型化存储装置的适当接口相配合。
4.根据权利要求3所述的测试托架，其特征在于，所述小型化存储装置为下列之一：标准闪存卡、多媒体卡。
5.根据权利要求1所述的测试托架，其特征在于，所述滑动盘具有与其相连的缓冲装置，所述缓冲装置可在测试过程中对存储装置提供机械缓冲作用。
6.根据权利要求5所述的测试托架，其特征在于，所述缓冲装置还将存储装置的接口对齐到存储装置连接器内，以便与其相配合。
7.根据权利要求5或6所述的测试托架，其特征在于，所述缓冲装置是可移除的。
8.根据权利要求5所述的测试托架，其特征在于，所述缓冲装置包含一个弹性垫缓冲器。
9.根据权利要求5所述的测试托架，其特征在于，所述缓冲装置包含一个楔形组件。
10.根据权利要求1所述的测试托架，其特征在于，根据理想存储装置的测试需要，所述托架基座还包括内置的测试回路，其与测试接口相连，或直接连接到存储装置连接器。
11.根据权利要求1所述的测试托架，其特征在于，所述滑动盘的至少一段作为手柄使用。
12.根据权利要求1所述的测试托架，其特征在于，所述滑动盘和托架基座每个都包括保持装置，所述保持装置可联合操作以将滑动盘可释放地保持在或者第一位置或者第二位置。
13.根据权利要求12所述的测试托架，其特征在于，所述滑动盘的保持装置是卡紧机构，且所述托架基座的保持装置是孔，所述孔适于容纳卡紧机构的一部分。
14.根据权利要求1所述的测试托架，其特征在于，还包括连接器保护盖，当滑动盘处于第一位置时，所述连接器保护盖定位成可以保护存储装置连接器。
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