CN1638536A - 显示器件及制造该显示器件方法 - Google Patents

显示器件及制造该显示器件方法 Download PDF

Info

Publication number
CN1638536A
CN1638536A CNA2004100615290A CN200410061529A CN1638536A CN 1638536 A CN1638536 A CN 1638536A CN A2004100615290 A CNA2004100615290 A CN A2004100615290A CN 200410061529 A CN200410061529 A CN 200410061529A CN 1638536 A CN1638536 A CN 1638536A
Authority
CN
China
Prior art keywords
substrate
layer
display device
hygroscopic material
framework
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2004100615290A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1638536B (zh
Inventor
平形吉晴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Publication of CN1638536A publication Critical patent/CN1638536A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1638536B publication Critical patent/CN1638536B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/846Passivation; Containers; Encapsulations comprising getter material or desiccants
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/302Details of OLEDs of OLED structures
    • H10K2102/3023Direction of light emission
    • H10K2102/3026Top emission
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/302Details of OLEDs of OLED structures
    • H10K2102/3023Direction of light emission
    • H10K2102/3031Two-side emission, e.g. transparent OLEDs [TOLED]
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/87Arrangements for heating or cooling
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/131Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/13Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
    • H10K71/135Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing using ink-jet printing

Abstract

本发明的目的是提供高可靠性显示器件和用很容易的方式制造该显示器件的方法。根据用于制造本发明的显示器件的方法的一个方面,它包含的步骤有:在第一衬底上形成发光元件;形成包围发光元件的框架;将含液体吸湿物质的合成物滴落在被框架包围的区域之中;以及通过使该合成物固化而形成含吸湿物质的层,其中,第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着,从而发光元件、含吸湿物质的层和框架密封在该对衬底之间。

Description

显示器件及制造该显示器件方法
技术领域
本发明涉及到一种显示器件及其制造方法,该显示器件具有发光材料夹在电极之间的元件(下文称为发光元件)。特别地,本发明涉及到使用能够获得EL(电致发光)的发光材料(下文称为EL材料)的显示器件。
背景技术
构成EL元件主要部分的EL材料(特别是有机EL材料)具有防潮性差的特性并且性能趋于恶化。因此,已知一种在EL显示器件(电致发光器件)中放置干燥剂以密封的结构(例如,参考文献1:日本专利特开第2003-297558)。
图2是传统的显示器件,参考数字50表示元件衬底;51表示元件部分,如具有TFT或元件的驱动器电路部分或像素部分;53表示干燥剂;54为密封剂;55为配备干燥剂53的凹槽;以及60,密封衬底。
为了在如图2所示的传统显示器件中提供干燥剂53,加工密封衬底60形成凹槽55。该凹槽55通过喷沙处理法、如研磨处理的机械处理法、熔化玻璃衬底的化学处理法等形成。喷沙处理法是一种诸如使如沙粒的磨料颗粒碰撞的喷沙法的处理方法。这些方法在制造过程中有灰尘或重金属污染的问题;因此需要采用其清洗方法等解决该问题。此外,由于凹槽像磨砂玻璃和或利用机械方法等形成的凹槽和突出,因此光提取效率减少。因此,它不适合于顶发射型或双发射型显示器件。光提取效率表示元件通过衬底的顶表面发射到大气中的光量与元件初始光量的比率。
在传统方法中,以这样的方式在密封衬底中形成凹槽的加工步骤是必需的,而且增加了该步骤所需要的装置,从而步骤变复杂。加工步骤有可能导致密封衬底损坏。因此,恐怕密封衬底的光透射特性由于被粗糙化和平面度下降而恶化或薄的密封衬底被损坏。此外,很难在元件衬底中形成像在密封衬底中形成的凹槽,并且对提供干燥剂的位置有限制。
发明内容
本发明的一个目的是提供能够防止发光元件退化的高可靠性的显示器件及能够容易地制造显示器件的方法。
根据本发明的显示器件的一个方面,它包含一对衬底、发光元件、包含吸湿物质的层以及框架,其中提供框架是用来包围包含吸湿物质的层,而且一对衬底彼此附着以密封里面的发光元件、包含吸湿物质的层和框架。
根据本发明的显示器件的一个方面,它包含具有配置发光元件的像素部分的第一衬底、第二衬底、包含吸湿物质的层以及包围像素部分的框架,其中提供框架以包围包含吸湿物质的层,而且第一衬底和第二衬底用密封剂彼此附着以密封里面的象素部分、包含吸湿物质的层和框架。
根据本发明的显示器件的另一个方面,它包含具有配置发光元件的像素部分和具有驱动器电路的电路部分的第一衬底、第二衬底、包含吸湿物质的层以及包围像素部分的框架,以及包围像素部分和电路部分的密封剂,其中在框架和密封剂之间提供包含吸湿物质的层,而且第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的像素部分、电路部分、包含吸湿物质的层和框架。
根据本发明的显示器件的另一个方面,它包含具有配置发光元件的像素部分和具有驱动器电路的电路部分的第一衬底、第二衬底、包含吸湿物质的层、以及包围一部分像素部分和电路部分的框架,其中提供框架以包围包含吸湿物质的层,而且第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的像素部分、电路部分、包含吸湿物质的层和框架。
根据本发明的显示器件的另一个方面,它包含具有配置发光元件的像素部分和具有驱动器电路的电路部分的第一衬底、第二衬底、包含吸湿物质的层,以及包围像素部分和电路部分的框架,其中提供框架以包围包含吸湿物质的层,而且第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的像素部分、电路部分、包含吸湿物质的层和框架。
根据本发明的显示器件的另一个方面,它包含具有配置发光元件的像素部分和具有驱动器电路的电路部分的第一衬底、第二衬底、包含吸湿物质的层、以及包围电路部分的框架,其中提供包含吸湿物质的层以被框架包围,而且第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的像素部分、电路部分、包含吸湿物质的层和框架。
根据本发明的显示器件的另一个方面,它包含具有配置发光元件的像素部分和具有驱动器电路的电路部分的第一衬底、第二衬底、包含吸湿物质的层、包围像素部分和电路部分的第一框架、以及包围象素部分的第二框架,其中在第一框架和第二框架之间提供包含吸湿物质的层,而且第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的像素部分、电路部分、包含吸湿物质的层、第一框架和第二框架。
根据用于本发明的显示器件的制造方法的另一个方面,它包含步骤:在第一衬底上形成发光元件、形成包围发光元件的框架、在被框架包围的区域滴落包含液体吸湿物质的合成物,以及通过使该合成物固化而形成包含吸湿物质的层,其中第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的发光元件、包含吸湿物质的层和框架。
根据用于本发明的显示器件的制造方法的另一个方面,它包含步骤:在第一衬底上形成发光元件和驱动器电路、形成包围驱动器电路的框架、形成包围发光元件和驱动器电路的密封剂、在框架和密封剂之间滴落包含液体吸湿物质的合成物,以及通过使该合成物固化而形成包含液体吸湿物质的层,其中第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的发光元件、驱动器电路、包含吸湿物质的层和框架。
根据用于本发明的显示器件的制造方法的另一个方面,它包含步骤:在第一衬底上形成发光元件和驱动器电路、形成包围发光元件和驱动器电路的框架、在被框架包围的区域内滴落包含液体吸湿物质的合成物、以及通过使该合成物固化而形成包含吸湿物质的层,其中第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的发光元件、驱动器电路、包含吸湿物质的层和框架。
根据用于本发明的显示器件的制造方法的另一个方面,它包含步骤:在第一衬底上形成发光元件和驱动器电路、形成包围驱动器电路的框架、在被框架包围的区域内滴落包含液体吸湿物质的合成物、以及通过使该合成物固化而形成包含吸湿物质的层,其中第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的发光元件、驱动器电路、包含吸湿物质的层和框架。
根据用于本发明的显示器件的制造方法的另一个方面,它包含步骤:在第一衬底上形成发光元件和驱动器电路、形成包围发光元件和驱动器电路的第一框架、形成包围发光元件的第二框架、在第一框架和第二框架之间滴落包含液体吸湿物质的合成物物,以及通过使该合成物固化而形成包含吸湿物质的层,其中第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着以密封里面的发光元件、驱动器电路、包含吸湿物质的层、第一框架和第二框架。
由于根据本发明,可以广泛提供这种配备包含吸湿物质的层制成的干燥剂的显示器件,而不减少光提取效率,因此由于干燥剂足够的吸湿效应,可以防止发光元件的退化。此外,也不需要复杂的制造步骤。因此,可以以令人满意的产量制造能够显示高清晰度和高质量的图象的高可靠显示器件。
阅读了下列的详细描述以及附图之后,本发明的这些和其它目的、特点和优势将会更加清楚。
附图说明
图1A-1C是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
图2是表示传统显示器件的视图;
图3是表示可用于本发明的滴落设备的结构的视图;
图4A和4B是表示用于制造根据本发明的某些方面的显示器件的方法的视图;
图5A和5B是表示用于制造根据本发明的某些方面的显示器件的方法的视图;
图6A和6B是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
图7A-7C是表示用于制造根据本发明的某些方面的显示器件的方法的视图;
图8是表示根据本发明的某个方面的显示器件的视图;
图9是表示根据本发明的某个方面的显示器件的视图;
图10是表示根据本发明的某个方面的显示器件的视图;
图11是表示根据本发明的某个方面的显示器件的视图;
图12A-12D是表示应用本发明的某个方面的电子设备的视图;
图13是表示根据本发明的某个方面的电子设备的主要结构的框图;
图14是表示应用了本发明的某个方面的电子设备的视图;
图15是表示根据本发明的某个方面的EL显示模块的结构的实例的横截面视图;
图16是根据本发明的某个方面的显示器件的顶视图;
图17是根据本发明的某个方面的显示器件的顶视图;
图18是根据本发明的某个方面的显示器件的顶视图;
图19是表示根据本发明的某个方面的EL显示面板的顶视图;
图20A-20F是表示可应用于本发明的某些方面的EL显示面板的像素结构的电路图;
图21是图19所示的EL显示面板的等效电路图;
图22A和22B是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
图23A和23B是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
图24A和24B是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
图25A和25B是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
图26是表示根据本发明的某个方面的EL显示模块的结构的实例的横截面视图;
图27是表示应用了本发明的某个方面的电子设备的视图;
图28是表示用于制造根据本发明的某个方面的显示器件的方法的视图;
图29A和29B是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
图30A和30B是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
图31A和31B是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
图32A和32B是表示根据本发明的某些方面的显示器件的视图;
具体实施方式
实施例模式1
将参考附图详细描述本发明的实施例模式。但是,应该明白本发明不限于以下描述,并且各种改变和修改对本领域技术人员而言应该很清楚,除非这种改变和修改偏离了本发明的内容和范围。因此,不应该认为本发明限于本实施例中的描述。注意在不同图纸中相同的参考数字表示相同的部分或具有相同功能的部分,并且在随后对本发明的说明中不再重复解释。
图16是表示根据本发明的显示面板的结构的顶视图,在该图中,在具有绝缘表面的衬底2700上形成像素部分2701、扫描线输入终端2703和信号线输入终端2704,像素部分2701中的像素2702排列成矩阵。像素的数量可根据各种标准提供。XGA的像素数量可以是1024×768×3(RGB),UXGA的像素数量可以是1600×1200×3(RGB),对应的全斑点高显示(full-speckhigh vision)的像素数量可以是1920×1080×3(RGB)。
通过将从扫描线输入终端2703延伸出来的扫描线与从信号线输入终端2704延伸出来的信号线交叉而使像素2702排列成矩阵。每个像素2702配置开关元件和与之相连的象素电极。典型的开关元件的例子是TFT。TFT的栅电极侧连接到扫描线,而它的源极或漏极侧连接到信号线,因此每个像素可以被外部输入信号独立控制。
半导体层、栅极绝缘层以及栅电极层作为TFT的主要组成部分给出。连接到形成于半导体层中的源区和漏区的布线层是它的伴随物。已知的TFT的典型结构是顶栅型和底栅型。在顶栅型结构中,从衬底侧开始半导体层、栅极绝缘层和栅电极层依次排列;在底栅型结构中,从衬底侧开始栅电极层、栅极绝缘层和半导体层依次排列。但是任何一种结构都可以应用于本发明。
利用以硅烷或锗烷为代表的半导体材料气体通过气相生长法或溅射法制造的非晶半导体(下文中称为AS)、利用光能或热能通过使非晶半导体结晶化形成的多晶半导体、准非晶(semi-amorphous)(也称为微晶,并且下文中也称为SAS)半导体等可以用作形成半导体层的材料。
SAS是具有介于非晶结构和晶体结构(包括单晶和多晶)之间的中间结构的半导体。这是一种具有关于自由能稳定的第三态的半导体,并且其中包含具有短程有序和晶格畸变的结晶区。至少在薄膜的一部分区域中可观察到0.5-20nm的结晶区。当包含硅作为重要成分时,拉曼光谱向小于520cm-1的较低频率方向偏移。在X-射线衍射中观察到硅晶格引起的(111)或(220)衍射峰。至少包含1atomic%或更多的氢或卤素以终止悬挂键。SAS通过对硅化物气体进行辉光放电分解(等离子体CVD)获得。除SiH4外,Si2H6、SiH2Cl2、SiHCl3、SiCl4、SiF4等可用作硅化物气体。另外可以混合GeF4。这种硅化物气体可以用H2或H2和稀有气体元素He、Ar、Kr和Ne中的一种或多种稀释。稀释比为2倍-1000倍。压力约从0.1Pa-133Pa,并且电源频率从1MHz-120MHz,优选从13MHz-60MHz。衬底加热温度可以是300℃或更低。作为膜中的杂质元素,希望如氧、氮或碳的气氛成份杂质为1×1020cm-1或更少,特别是希望氧含量为5×1019/cm3或更少,优选为1×1019/cm3或更少。
图16表示控制通过外部驱动器电路输入到扫描线和信号线的信号的显示面板的结构。如图17中所示,驱动器IC755a、755b、757a、757b和757c可以通过COG(芯片在玻璃上)安装在衬底750上。驱动器IC可以在单晶半导体衬底上形成或可以是一种在TFT的玻璃衬底上形成电路的结构。在图17中,参考数字751表示像素部分,而衬底750用密封剂752连接到密封衬底753。驱动器IC755a、755b、757a、757b和757c通过COG安装在衬底750上并连接到FPC756a、756b、754a、754b和754c。
在由SAS形成提供给像素的TFT的情况下,如图18所示,扫描线驱动器电路3702可以整体在衬底3700上形成,并且也可以集成。在图18中,参考数字3701表示像素部分,而且信号线驱动器电路通过COG安装了驱动器IC3705a和3705b并连接到FPC3704a和3704b。
参考图1A-1C解释本发明的实施例模式。图1A是显示器件的顶视图,图1B和1C是沿图1A中A-A’截取的横截面视图。此外,图1B和1C是实例,其中包含吸湿物质的层的框架和形状彼此不同。
根据本发明,滴入法用于在显示器件内形成包含吸湿物质的层。吸湿物质是一种具有吸收气氛(如空气)中的水分的特性的物质,并且具有通过在显示器件内提供吸湿物质吸收使发光元件退化的水分的有利效果。由于吸湿物质起干燥剂的作用,防止了发光元件的退化并改善了显示器件的可靠性。根据本发明,吸湿物质固定到密封衬底或元件衬底,并且当形成含吸湿物质的层时,包含液体吸湿物质的合成物以液态滴落。例如,溶解或分散在作为固定部分一种物质中的吸湿物质可用作包含液体吸湿物质的合成物。那时,预先在密封衬底或元件衬底上形成框架以确定液体滴落的区域。框架为封闭形,吸湿物质滴落到框架中。
图1A-1C是本发明的显示器件的一个实例,并且参考数字10表示元件衬底,11表示像素部分,15a和15b为驱动器电路部分,12表示框架,13表示包含吸湿物质的层,14表示密封剂,以及20表示密封衬底。
如图1A-1C所示,在本发明的显示器件中,在密封衬底中不形成凹槽,并且形成框架12以包围像素部分11和驱动器电路部分15a和15b。显示器件的形成使得包含吸湿物质的透光层13充满环绕的框架。注意在元件衬底10中形成包含像素部分11和驱动器电路部分15a和15b的元件部分。在该实施例模式中,形成框架12以包围像素部分11和驱动器电路部分15a和15b的形成区。因此包含吸湿物质的层13可以在宽的区域中形成,并且能够吸收大范围的水分,由此干燥效率高。在本发明的显示器件中,当框架12有选择地形成时,可以容易地在所希望的位置提供用作干燥剂的包含吸湿物质的层。图3中表示出用于形成本发明的包含吸湿物质的层的方法。
图3是可应用于本发明的吸湿物质滴落设备的一种模型。参考数字40表示滴落控制电路;42为如CCD的成像装置;45为标记;以及43为滴头。包含液体吸湿物质的合成物17通过滴入控制电路40从滴头43的喷嘴滴落到密封衬底20。在密封衬底20上形成框架12以决定包含液体吸湿物质的合成物17的区域。包含液体吸湿物质的合成物17滴落到被框架12包围的区域,并且干燥或烘干等后形成包含吸湿物质的层。可以如在本实施例模式中一样,包含液体吸湿物质的合成物滴落在框架12内。但是,由于液体合成物可以滴落到具有封闭形状的区域中,它也可以滴落到被框架和密封剂等包围的区域中而形成用作干燥剂的包含吸湿物质的层。此外,可以在元件衬底侧或可以在密封衬底侧形成框架和包含吸湿物质的层。可以根据框架的尺寸或高度任意设计包含吸湿物质的层的形状。在图1B的显示器件中,在密封衬底20上形成低于密封剂的框架12,并在框架中形成包含吸湿物质的层。因此框架12不与元件衬底的元件部分接触而形成。但是当框架和密封剂的高度和图1C中的相同时,包含吸湿物质的层13可以直接覆盖元件部分形成。在此情况下,框架可以在元件衬底侧或可以在密封衬底侧形成,也可能用将要整平的元件衬底和密封衬底压框架和包含吸湿物质的层。
此外,除滴入法外,也可以通过分配器法、微滴喷射法或印刷法(如丝网印刷)在衬底上形成包含液体吸湿物质的合成物。该实施例模式主要描述滴入法,其中可能进行小量的控制。优选在氮或氩(Ar)的惰性气氛或减压下进行滴落步骤。一个有利的效果是,例如,可以容易地去除合成物中的水分并简化固化步骤,或者合成物容易均匀地铺展开,这是因为在减压下滴落合成物可以减小合成物中的粘度。
可以形成框架的材料有:氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、氧化铝、氮化铝、氮氧化铝或其它无机材料;丙烯酸、异丁烯酸(methacylicacid)及其衍生物;有机材料,如聚酰亚胺、芬芳聚酰胺、聚苯并咪唑、苯并环丁烯(benzocyclobutene)、聚对二甲苯、flare或环氧树脂;在由硅、氧和氢制成的化合物中,用硅氧烷基材料为起始材料形成的包括Si-O-Si键的无机硅氧烷基材料;或有机硅氧烷基材料,其中硅上的氢被有机基团(如甲基或苯基)取代。由于框架用作包含液体吸湿物质的合成物的边框部分,因此既可以采用如金属的导电材料也可以采用如树脂的绝缘材料。对于树脂材料,可使用诸如环氧树脂、丙烯酸树脂、酚醛树脂、酚醛清漆树脂、聚酰亚胺酰胺树脂(polyimide amide resin)、三聚氰胺树脂或聚氨酯树脂(urethaneresin)。在上述树脂中,既可以使用如光敏丙烯酸或光敏聚酰亚胺的光敏物质也可以使用如非光敏丙烯酸或非光敏聚酰亚胺的非光敏物质。或者,可以使用包含光敏剂的市场上可买到的抗蚀剂材料。例如,可以使用典型的正性抗蚀剂,即本身是光敏剂的酚醛清漆树脂和萘醌叠氮化物(naphthquinon azide)化合物,或使用典型的负性抗蚀剂,即基础树脂、二苯基硅烷二醇(diphenylsilane diol)、酸发生剂(acid generation agent)等。
任何一种材料形成封闭的框架形图形,这是一种理想的形状。或者,通过形成与密封剂接触的材料形成封闭的框架形图形。可以通过干法刻蚀、湿法蚀刻、灰化等进行构图。此外,当抗蚀剂或如光敏丙烯酸的光敏物质用作框架时,在构图过程中不必使用抗蚀剂掩模等,因而简化了步骤。在非光敏物质的情况下,可以利用抗蚀剂掩模等通过干法刻蚀或灰化形成图形。此外,可以通过分配器法、微滴喷射法或印刷法(如丝网印刷)直接在衬底上形成框架,因而由于不需要构图步骤而简化了步骤。
此外,可以用和密封剂相同的材料形成框架。作为密封剂,例如,可以使用如双酚A型液体树脂、双酚A型固体树脂、含溴化环氧树脂(bromo-epoxy)的树脂、双酚F型树脂、双酚AD型树脂、苯酚型树脂、甲酚型树脂、酚醛清漆型树脂、环脂族(cyclic aliphatic)环氧树脂、epibis型环氧树脂、缩水甘油醚树脂、缩水甘油酰胺树脂、杂环环氧树脂或改良环氧树脂的环氧树脂。
吸湿物质以具有流动性和能滴落的液态形式滴落,即,以液体状态或溶解于其它溶剂中的状态。滴落到框架中之后,通过烘烤、干燥等固化并形成吸湿物质。此处,固化指失去流动性。因此,吸湿物质在滴落后固定在衬底上的状态下具有吸湿性。固定到衬底是指吸湿物质通过固定在衬底上而形成的物质,或者使用失去流动性的胶态物质也是可以接受的。
在使用包含吸湿物质的光透射层的情况下,甚至在从密封衬底侧提取光的显示器件中也不减少光提取效率。包含吸湿物质的层在用作显示器件中的干燥剂的完成模式时,即在其失去流动性的状态时可以具有光透射特性。因此,包含吸湿物质的层在滴落过程中具有流动性的液态时可能不具有光透射特性。例如,甚至可以使用以溶解于不透光溶剂中的合成物的状态滴落的物质,只要提供给密封衬底作干燥剂用的吸湿物质滴落后最终由于烘烤使溶剂挥发而具有透射光的特性。
当在如图2中所示的传统显示器件中的像素部分上提供不具有透光特性的固体干燥剂53时,从密封衬底侧提取光的效率减小。因此,当为除像素部分之外的部分提供干燥剂时,显示器件的外壳变大,这使得提供干燥剂的区域变窄,导致减少干燥剂充足的干燥效应。此外,由于凹槽导致的发光层和衬底之间的距离不是常数,有可能在显示图象时出现变化。
在本实施例模式中包含吸湿物质的层具有透光特性。由于使用包含吸湿物质的光透射层,甚至当包含吸湿物质的层覆盖顶发射型或双发射型显示器件的像素部分形成时,来自发光层的光也不被屏蔽,在顶发射型或双发射型显示器件中光从密封衬底侧提取。因此,由于可以在显示器件中的理想位置广泛形成吸湿物质,可以获得足够的吸收效果。此外,由于不在密封衬底中形成凹槽,因此发光层和衬底之间的距离固定,因此不会产生由于光干涉等导致的显示图象的变化。
如上所述,根据本发明,可以制造广泛配置吸湿物质的显示器件,而不减少光提取效率。因此,通过吸湿物质的充分吸湿效应,可以防止发光元件退化。此外,也不需要复杂的制造步骤。由此可以以令人满意的产量制造能够高清晰度和高质量显示图象的高可靠性显示器件。
(实施例模式2)
参考图4A和4B、图5A和5B、图6A和6B以及图7A-7C详细说明本发明的显示器件的制造方法。
通过等离子体CVD法在具有绝缘表面的衬底100上形成膜厚10nm-200nm(优选50nm-100nm)的氧氮化硅膜(SiNO)101a并叠加厚50nm-200nm(优选100nm-150nm)的氮氧化硅膜(SiON)101b作为基底膜101。可用于衬底100的衬底有诸如玻璃衬底、石英衬底或硅衬底,或其表面上形成绝缘膜的金属衬底或不锈钢衬底。或者,可以使用能经受本实施例模式的处理温度的耐热塑料衬底,或者也可以使用像膜一样的柔性衬底。此外,双层结构可用作基底膜,或者可以使用单层膜或两层以上基底(绝缘)膜叠加的结构。
然后,在基底膜上形成半导体膜。可以用已知方法(溅射法、LPCVD法、等离子体CVD法等)形成厚25nm-200nm(优选30nm-150nm)的半导体膜。半导体膜的材料不限,但是优选用硅或硅锗(SiGe)合金形成。
非晶半导体(典型地,氢化非晶硅)或结晶半导体(典型地,多晶硅)用作半导体膜的原材料。多晶硅包括:所谓的高温多晶硅,它用800℃以上温度处理形成的多晶硅作主要材料;所谓的低温多晶硅,它用600℃以下温度处理形成的多晶硅作主要材料;通过添加促进结晶化的元素结晶而成的晶体硅等等。
此外,准非晶半导体或在半导体膜中部分包含晶相的半导体也可用于其它材料。准非晶半导体是一种具有介于非晶和晶体结构(包括单晶或多晶)之间的中间结构的半导体。这是一种具有关于自由能稳定的第三态的半导体,并且是具有短程有序和晶格畸变的结晶半导体。典型地,它是一种半导体膜,包含硅作为主要成分,并且其中由于晶格畸变拉曼光谱向小于520cm-1的较低频率端移动。此外,至少包含1atomic%或更多的氢或卤素以终止悬挂键。此处,这样的半导体称为准非晶半导体(下文称为SAS)。这种SAS也称为所谓的微晶半导体(典型地,微晶硅)。
这种SAS通过对硅化物气体进行辉光放电分解(等离子体CVD)获得。典型的硅化物气体是SiH4,除此之外,可使用Si2H6、SiH2Cl2、SiHCl3、SiCl4、SiF4等。另外可以混合GeF4和F2。通过使用这种用H2或H2和稀有气体元素He、Ar、Kr和Ne中的一种或多种稀释的硅化物气体可以容易地形成SAS。氢对硅化物气体的稀释比,例如,在流速方面优选为2倍-1000倍。当然,SAS可以优选通过减压下的辉光放电分解形成。但是,它也可以利用大气压力下的放电形成。通常可以在0.1pa-133Pa的范围进行放电。用于形成辉光放电的电源频率为1MHz-120MHz,优选从13MHz-60MHz。可以适当设定高频功率。衬底加热温度优选300℃或更低,并且可以在100℃-200℃的加热温度下制造SAS。此处,作为主要在膜形成过程中引入的杂质元素,来自气氛成份中的杂质如氧、氮或碳优选为1×1020cm-3或更少,特别优选氧浓度为5×1019cm-3或更少,最好为1×1019cm-3或更少。通过使SAS包含如He、Ar、Kr或Ne的稀有气体元素进一步促进晶格畸变,增加了稳定性,由此可以获得令人满意的SAS。此外,由基于氢的气体形成的SAS层可以叠加在通过基于氟的气体形成的SAS层中作为半导体层。
当晶体半导体膜用作半导体膜时,可用已知方法(激光结晶化法、热结晶法或使用镍等促进结晶化的元素的热结晶法)作为制造晶体半导体膜的方法。在不引入促进结晶化的元素的情况下,用激光照射非晶硅膜之前,通过在氮气氛中500℃加热1小时,使非晶硅膜中包含的氢浓度释放达到1×1020atoms/cm3或更少。进行该步骤是因为包含大量氢的非晶硅膜在激光照射时会损坏。
不限制作为将金属元素引入非晶半导体膜的方法,只要它是能使金属元素存在于非晶半导体膜的表面或其内部的一种方法。例如,可以应用溅射法、CVD法、CVD法、等离子体处理法(包括等离子体CVD法)、吸附法或施加金属盐溶液的方法。在这些方法中使用溶液的方法简单容易并且有用,因为金属元素的浓度容易调节。此外,此时理想的是在氧气氛中通过紫外光照射、热氧化法、用含羟基的臭氧水或过氧化氢处理等形成氧化物膜以提高非晶半导体膜表面的润湿性并使溶液在非晶半导体膜的整个表面铺展开。
此外,在使非晶半导体膜结晶化时,可以结合使用热处理和激光照射结晶化或独立进行数次热处理或激光照射结晶化。在用热处理和激光照射两个步骤进行结晶化的情况下,在500℃-550℃温度下进行4小时-20小时的热处理以使非晶半导体膜(下文中称为第一结晶半导体膜)结晶化。
然后,通过用激光照射第一结晶硅薄膜来促进结晶化而得到第二结晶半导体膜。激光结晶化法用激光照射半导体膜。理想的是使用固态激光器、气体激光器、脉冲振荡或连续振荡的金属激光器。注意YAG激光器、YVO4激光器、YLF激光器、YAlO3激光器、玻璃激光器、红宝石激光器、变石激光器、Ti:蓝宝石激光器等为固态激光器;准分子激光器、Ar激光器、Kr激光器、CO2激光器等为气体激光器;而氦镉激光器、铜蒸汽(copper vapor)激光器、金蒸汽激光器等为金属激光器。激光束可以通过非线性光学元件转变成谐波。作为用于非线性光学元件的晶体,就使用时的转换效率而言,称作例如,LBO、BBO或KDP、KTP或KB5;或CLBO的是优良的。可以通过将这些非线性光学元件插入到激光谐振器中来大幅度增加转换效率。一般Nd、Yb、Cr等被掺杂到谐波激光器中,这被激发并使激光振荡。操作者可以适当选择一种掺杂剂。
此外,可以通过线性等离子体法直接在衬底上形成结晶半导体层。可以通过使用线性等离子体法在衬底上有选择地形成结晶半导体层。
使用有机材料的有机半导体膜可用于半导体。低分子材料、高分子材料等用于有机半导体,而且也可以使用诸如有机着色剂或导电高分子材料的材料。
在如此获得的半导体膜上进行非常少量杂质元素的掺杂,以控制TFT的阈值电压。在本实施例模式中使用结晶半导体层。
形成第一光掩模,并通过使用光刻方法的图形化处理形成半导体层150、160和170。
形成覆盖半导体层150、160和170的栅极绝缘膜105。通过等离子体CVD法或溅射法用包含硅的绝缘膜形成厚40nm-150nm的栅极绝缘膜105。栅极绝缘膜105可以由已知材料(如硅的氧化物材料或氮化物材料)形成,并且它既可以是叠层也可以是单层。在本实施例模式中使用氮化硅膜、氧化硅膜和氮化硅膜三层叠层。或者,也可以接受单层氮氧化硅膜或双层叠层。优选使用具有致密膜质量的氮化硅膜。注意为了在低淀积温度下形成具有少量的栅极漏电流的致密绝缘膜,稀有气体元素(如氩)可以包含在反应气体中并混合到将要形成的绝缘膜中。
然后,在栅极绝缘膜105上叠加厚度20nm-100nm的第一导电膜和厚100nm-400nm的第二导电膜作为栅电极。第一导电膜和第二导电膜可由选自Ta、W、Ti、Mo、Al和Cu的元素或包含这些元素作为主要成分的的合金材料或化合物材料形成。此外,以其中掺杂如磷的杂质元素的多晶硅膜为代表的半导体膜或AgPdCu可用于第一导电膜和第二导电膜。不限于双层结构,例如,也可以使用三层结构,其中厚50nm的钨膜、厚500nm的铝和硅的合金(Al-Si)膜以及厚30nm的氮化钛膜顺次叠加。在三层结构的情况下,可以用氮化钨代替第一导电膜的钨,铝和钛的合金(Al-Ti)可以代替第二导电膜的铝和硅的合金(Al-Si),或用钛膜代替第三导电膜的氮化钛膜。或者,也可以使用单层结构。
然后,通过使用光刻法形成由抗蚀剂制成的第二光掩模,并进行用于形成电极和布线的第一刻蚀处理。利用ICP(感应耦合等离子体)刻蚀法,通过适当调节刻蚀条件(施加到线圈形电极的电功率的量、施加到衬底侧的电极的电功率的量、衬底侧的电极温度等)可以将第一导电膜和第二导电膜刻蚀成所需要的锥形。注意基于氯的气体如Cl2、BCl3、SiCl4或CCl4,以基于氟的气体如CF4、SF6或NF3,或O2可以适当用作刻蚀气体。
根据第一刻蚀处理形成由第一导电层和第二导电层构成的第一形状导电层(第一导电层和第二导电层)。
然后,不去除抗蚀剂掩模进行第二刻蚀处理。此处,选择性刻蚀W膜。此时,通过第二刻蚀处理形成第二导电层。另一方面,用很难刻蚀的第一导电层形成第二形状导电层。从而形成导电层151、152、161、162、171和172。此外,在相同步骤中也在进行外部电连接的端子部分形成导电层181、182。在本实施例模式中这些导电层通过干法刻蚀形成,但是它们也可以通过湿法蚀刻形成。
然后,在去除抗蚀剂掩模后,利用第三光掩模重新形成抗蚀剂掩模。由于要形成n-沟道型TFT,所以进行第一掺杂步骤,以低浓度掺杂向半导体提供n-型导电性的杂质元素(典型地,磷(P)或As)。抗蚀剂掩模覆盖要成为p-沟道型TFT的区以及导电层的周边区域。通过第一掺杂步骤,在整个绝缘层中进行彻底掺杂,并且形成低浓度杂质区。一个发光元件由多个TFT驱动,但是,当发光元件只用p-沟道型TFT驱动时,上述掺杂步骤不特别必要。
然后,在去除抗蚀剂掩模后,利用第四光掩模重新形成抗蚀剂掩模。进行第二掺杂步骤,以高浓度掺杂为半导体提供p-型导电性的杂质元素(典型地,硼(B))。通过第二掺杂步骤,在整个栅极绝缘层105中进行彻底掺杂,并且形成p-型杂质区153和173。
然后,利用第五光掩模重新形成抗蚀剂掩模。此处,由于要形成n-沟道型TFT,所以进行第一掺杂,步骤以低浓度掺杂向半导体提供n-型导电性的杂质元素(典型地,磷或As)。在掺杂剂量从1×1013-5×1015/cm2和加速电压从60kev-100KeV的条件下,在第三掺杂步骤中进行离子掺杂法。用抗蚀剂掩模覆盖要成为P-沟道型TFT的区。通过第三掺杂步骤,在整个栅极绝缘层105中进行彻底掺杂,并且形成n-型低浓度杂质区163和高浓度杂质区164。
根据上述步骤在每个半导体层中形成了杂质区。
然后,去除抗蚀剂掩模后形成含氢的绝缘膜108作为钝化膜。通过使用等离子体CVD法或溅射法用含硅的绝缘膜形成厚100nm-200nm的该绝缘膜108。绝缘膜108不限于氮化硅膜,而且可以使用通过等离子体CVD法形成的氧氮化硅(SiNO)膜,或包含其它硅的绝缘膜可以用做单层或叠层结构。
另外,通过在氮气氛中于300℃-550℃、优选400℃-500℃进行1小时-12小时的热处理而完成半导体层的氢化步骤。这是一个通过包含在绝缘膜108中的氢终止半导体层的悬挂键的步骤。
绝缘膜108可由选自包含氮化硅、氧化硅、氮氧化硅(SiON)、氧氮化硅(SiNO)、氮化铝(AlN)、氮氧化铝(AlON)、氧含量大于氮含量的氧氮化铝(AlNO)、氧化铝、类金刚石碳(DLC)和含氮的碳膜(CN)的物质的材料形成。此外,可以使用一种通过硅(Si)和氧(O)构成的骨架结构且取代基中至少含氢的材料,或使用取代基中至少包含氟、烷基或芳(族)烃其中之一的材料。
可以进行热处理、强光照射或激光照射以激活杂质元素。激活同时可以使栅极绝缘膜的等离子体损伤或栅极绝缘膜和半导体层之间界面的等离子体损伤复原。
然后,形成要作为层间绝缘膜的绝缘层109。根据本发明,为平面化提供的层间绝缘膜要求具有高耐热性和绝缘性并且具有高平面化比。因此,优选耐热平面化膜。优选使用以旋涂法为代表的涂敷方法作为形成这种绝缘膜的方法。
在本实施例模式中,用作绝缘层109的材料是涂敷膜,该涂敷膜使用一种材料,在该材料中,通过硅(Si)和氧(O)结合形成骨架结构,并且取代基中至少包含氢、氟、烷基或芳(族)烃其中之一。烘烤后的膜可以称为含烷基的氧化硅(SiOx)膜。这种含烷基的氧化硅膜(SiOx)具有高透光特性,甚至能承受300℃或更高温度的热处理。
在本实施例模式中,作为通过涂敷法形成绝缘层109的方法,在用去离子水清洗后,首先进行稀释剂的预润湿处理以改善润湿性。然后,通过旋涂法等在衬底上涂敷一种称为清漆的液体原材料,其中具有硅(Si)和氧(O)键的低分子组分(母体)溶解在溶剂中。之后,通过加热清漆及衬底,并进行溶剂的汽化(蒸发)和低分子组分的交联反应而获得薄膜。然后,去除衬底边缘上有涂敷膜形成的周边部分的涂敷膜。此外,当形成绝缘层(堤)时,可以对其进行构图以获得所希望得到的形状。根据螺旋中的旋转转数、旋转周期、清漆浓度和粘度控制膜的厚度。
此处,详细描述形成绝缘层109的过程。
首先,用纯净水冲洗待处理的衬底。可以进行兆频超声波(megasonic)清洗。然后,在140℃下进行110秒的脱水烘烤之后,用水冷板冷却120秒使衬底的温度保持恒定。其次,将衬底传送到并放置在旋涂装置中。
旋涂装置具有喷嘴和涂敷杯。它具有一个机械装置,其中要被涂敷的材料溶液滴落到衬底上,衬底水平放置在涂敷杯中,整个装置旋转经过每个杯。此外,涂敷杯具有一个可以控制其中气氛压力的机械装置。
然后,通过使用如稀释剂的有机溶剂(将芳(族)烃(甲苯等)、乙醇、酯醋酸盐(ester acetate)等混合形成的挥发性混合溶剂)进行预润湿涂敷以改善润湿性。通过旋转衬底(转速100rpm)同时滴落70ml的稀释剂,利用离心力使稀释剂完全铺展开,之后,通过高速旋转衬底(转速450rpm)将稀释剂甩掉。
随后,逐渐旋转衬底(转速为0rpm-1000rpm)并从喷嘴滴落被涂敷的材料溶液,通过离心力使要被涂敷的材料溶液彻底铺展开,通过将硅氧烷系聚合物溶解在溶剂(丙烯乙二醇一甲醚(propyleneglycolmonomethyl ether))中制备要被涂敷的材料溶液。根据其结构,硅氧烷可以分为,例如,石英玻璃、烷基硅氧烷聚合物、烷基硅倍半环氧乙烷(alkyl silsesquioxane)聚合物、氢化的硅倍半环氧乙烷聚合物、氢化的烷基硅倍半环氧乙烷聚合物等。作为硅氧烷聚合物的例子,有用于绝缘膜的涂敷材料,如Toray industries,Inc制造的#PSB-K1和#PSB-K31;以及用于绝缘膜的涂敷材料,如Catalysts and Chemicals Industries Co.,Ltd.制造的#ZRS-5PH。衬底停留约30分钟。然后,衬底再次逐渐旋转(转数从0增加到1400rpm)以使涂敷膜表面水平。
然后,对涂敷杯内抽气以减压,然后进行1分钟之内的减压干燥。
然后,通过旋涂装置配备的边缘去除器进行边缘去除处理。边缘去除器配备一种驱动装置,它沿衬底边缘平行移动。在边缘去除器中,提供稀释剂喷洒嘴将衬底的一边夹在中间,并且涂敷膜的周边被稀释剂溶解。从而,通过排除液体和气体去除衬底边缘面周围的涂敷膜。
之后,在110℃烘烤170秒完成预烘烤。
然后,将衬底移出旋涂装置并冷却。然后,进一步在270℃下进行1小时的烘烤。
由此,形成绝缘层109。
此外,绝缘层109可以通过微滴喷射法形成。采用微滴喷射法时可以节省材料溶液。此外,根据本发明,不仅绝缘层109,而且形成布线或电极的导电层,以及制造显示器件必需的图形(如用于形成预定图形的掩模),都可以通过像微滴喷射法一样能够选择性形成图形的方法形成。可以通过微滴喷射法(根据所采用的系统也称为喷墨法)通过选择性喷射特定目标的合成物滴来形成预定图形(导电层、绝缘层等)。此时,可以进行预处理在一个形成的区域中形成氧化钛膜等。另外,也可以使用能够传递或绘制图形的方法,例如,印刷法(如丝网印刷或平版印刷的图形形成方法)等形成。
除骨架结构由硅(Si)和氧(O)键构成的绝缘膜外,绝缘层109也可以使用由下列材料中的一种或多种或它们的叠层制成的膜形成:无机材料(氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、氧氮化硅等)、光敏或非光敏有机材料(有机树脂材料)(聚酰亚胺、丙烯酸、聚酰胺、聚酰亚胺酰胺、抗蚀剂或苯并环丁烯),或具有低介电常数的低k材料,只要这些材料具有高耐热性和令人满意的可平面性。
然后,绝缘层111形成为钝化膜(见图4A)。通过等离子体CVD法或溅射法用含硅的绝缘层形成厚100nm-200nm的绝缘层111。在后面的步骤中,在对电极层112(也用作漏电极或源电极)构图时,绝缘层111也用作刻蚀停止膜以保护作为层间绝缘膜的绝缘层109。
当然,绝缘层111不限于氮氧化硅膜,而且含其它硅的绝缘膜也可以用作单层或叠层结构。在本实施例模式中,使用等离子体CVD法形成的氮化硅膜。但是也可以使用通过等离子体CVD法形成的氧氮化硅(SiNO)膜。在本实施例模式中,膜中Ar的浓度约为5×1018atoms/cm3-5×1020atoms/cm3
绝缘层111可由氧化硅、氮化硅、氮氧化硅(SiON)、氧氮化硅(SiNO)、氮化铝(AlN)、氮氧化铝(AlON)、其中氧含量大于氮含量的氧氮化铝(AlNO)形成,或由选自含氧化铝的物质的材料、类金刚石碳(DLC)和含氮碳膜(CN)形成。此外,像在本实施例模式中一样,可以使用骨架结构由硅(Si)和氧(O)键构成、且取代基中至少包含氢的材料,或使用取代基中至少包含氟、烷基或芳烃其中之一的材料。
然后,通过使用抗蚀剂掩模在绝缘膜108、绝缘层109和绝缘层111中形成接触孔(开口),同时去除周边部分的绝缘层。使用的刻蚀气体中可以添加惰性气体。He、Ne、Ar、Kr和Xe中的一种或多种元素可用作要使用的惰性元素。特别地,优选使用原子半径相对较大且便宜的氩。在本实施例模式中,使用CF4、O2、He和Ar。干法刻蚀的刻蚀条件设定为:CF4的流速380sccm,O2的流速290sccm,He的流速500sccm,Ar的流速500sccm,RF功率3000W以及压强25Pa。根据上述条件,可以减少刻蚀残留。
此处,绝缘层109中的接触孔可以形成锥形。可以只刻蚀绝缘层09一次或刻蚀多次形成锥形。通过第二次干法刻蚀形成锥形,还使用CF4、O2和He,设定CF4的流速550sccm,O2的流速450sccm,He的流速350sccm,RF功率3000W以及压强25Pa。绝缘层109边缘的斜角θ优选大于30°且小于75°。
刻蚀栅极绝缘膜105形成到达源区和漏区的开口。该开口可以通过在刻蚀绝缘层109后再形成一个掩模而形成,或利用已刻蚀的绝缘层109作掩模刻蚀绝缘膜108和栅极绝缘膜105形成。利用CHF3和Ar作刻蚀气体进行栅极绝缘膜105的刻蚀处理。根据上述条件下的刻蚀,可以减少刻蚀残留,并且可以形成具有高平面度和较少凹凸的接触孔。注意刻蚀时间可以适当增加10%-20%以进行刻蚀而使半导体层上没有残留。
电连接到每个杂质区的电极层112通过形成导电膜并刻蚀该导电膜而形成。电极层112也用作源电极和漏电极。用作导电膜112的可以是由铝(Al)、钛(Ti)、钼(Mo)、钨(W)或硅(Si)元素或使用这些元素的合金制成的膜。注意顺序叠加厚度分别为100nm、350nm和100nm的TiN、Al和TiN膜后,形成具有所希望形状图形的电极层112。TiN是和绝缘层具满意粘附性的材料之一。因此,该膜不太可能剥落。此外,优选TiN中N的含量小于44atomic%以与源区或漏区接触。更优选,TiN中N含量大于7atomic%且小于44atomic%。另外,可以用双层结构的TiN/Al导电膜简化该步骤。
利用BCl3和Cl2通过ICP(感应耦合等离子体)刻蚀法进行刻蚀,刻蚀条件是:施加到线圈形电极的电功率的量为450W;施加到衬底侧的电极的电功率的量为100W;以及压强1.9Pa。此时,首先形成的绝缘层111用作刻蚀停止层。选择电极层112和绝缘层111以具有高选择比。从而甚至在刻蚀电极层后在绝缘层111的表面上也没有残留,并且其具有良好的平面度。可以防止电极断开、短路等,从而甚至当在绝缘层111上形成作为像素电极的第一电极113的时候,由于绝缘层111的良好平面度改善了显示器件的可靠性。
此外,在对绝缘膜108和绝缘层109和111构图过程中,同时通过刻蚀去除端子部分的绝缘层,从而使导电层181和182暴露。本实施例模式中,在形成电极层112的步骤中,同时用相同材料形成布线层186和187。此时,如图4A和4B所示,在端子部分和密封部分中形成布线层186和187以覆盖绝缘膜108和绝缘层109和111的外端面。从而,可以防止外部水分通过布线层186和187渗透到显示器件中。当形成的绝缘膜108、绝缘层109和绝缘层111的外端面有倾斜(锥形)时,布线层186和187的覆盖度提高。其斜角优选为大于30°且小于70°。
通过上述步骤,完成了配备TFT155、165、175、的(有源矩阵)元件衬底。在本实施例模式中,在像素区只表示出p-沟道型TFT,但是也可以具有n-沟道型TFT。或者,TFT可以是其中形成一个沟道形成区的单栅极结构、其中形成两个沟道形成区的双栅极结构和其中形成三个沟道形成区的三栅极结构。此外,在驱动器电路部分中的TFT也可以是单栅极结构、双栅极结构或三栅极结构。
注意制造TFT的方法不限于本实施例模式中所示的方法,而且本发明也可以应用于顶栅极型(平面型)、底栅极型(反向交错型)和通过绝缘膜在沟道区的上下有两个栅电极的双栅极型,或应用于其它结构。
然后,第一电极(也称为像素电极)113与电极层112接触形成。第一电极用作阳极或阴极,并且可以使用厚度从100nm-800nm的膜,该膜包含选自Ti、TiN、TiSiXNY、Ni、W、WSiX、WNX、WSiXNY、NbN、Cr、Pt、Zn、Sn、In和Mo中的元素或以这些元素为主要成分的合金材料、或它们的化合物材料或叠层膜。在形成电极层112之前可以在绝缘层109上选择性形成第一电极113。在此情况下,在本实施例模式中,电极层112和第一电极113的连接结构是电极层112叠加在第一电极113上的结构。通过在形成电极层112之前形成第一电极113,可以形成平整的形成区,由此可以形成具有良好平面度的第一电极113,这是由于可以获得良好的覆盖和淀积特性并且可以充分进行如CMP的抛光处理。此外,第一电极113用作图形化电极层112时的刻蚀停止层,因此具有不必单独提供刻蚀停止层的有利效果,从而可以简化步骤。
第一电极113具有透光特性,这是由于在本实施例模式中,它具有一种结构,其中发光元件用作显示元件并且来自发光元件的光从第一电极侧提取。通过形成透明导电膜并刻蚀成理想形状而形成第一电极113。除ITO、IZO或ITSO外,在氧化铟中混合2wt.%-20wt.%的氧化锌(ZnO)形成的透明导电膜可用作第一电极113。除上述透明导电膜外,氮化钛膜或钛膜可以用作第一电极113。在此情况下,形成透明导电膜后,形成膜厚能透光(优选近似5nm-30nm)的氮化钛膜或钛膜。在本实施例模式中,ITSO用作第一电极。像ITO一样,甚至进行烘烤ITSO也不结晶并保持为非晶状态。因此,ISTO比ITO具有更高的平面度,因而甚至在含有机化合物的层薄的时候也不太可能与阴极发生短路。可以用CMP法或聚乙烯醇基(polyvinyl alcohol-based)多孔材料清洗或抛光第一电极113,从而使它的表面变平。此外,使用CMP法抛光后,可以在第一电极113的表面上进行紫外线照射、氧等离子体处理等。
然后,形成覆盖第一电极113和电极层112的边缘的绝缘体(绝缘层)114(也称为堤、侧壁、垒、堤岸等)。使用通过涂敷法获得的厚度从0.8μm-1μm的SOG膜(例如,包含烷基的SiOX膜)。既可以使用干法刻蚀也可以使用湿法蚀刻,此处利用CF4、O2和He的混合气体通过干法刻蚀形成绝缘体114(见图5A)。在5Pa压强、RF功率1500W、CF4流速为25sccm、O2流速为25sccm以及He流速为50sccm条件下进行干法刻蚀。在这样的干法刻蚀中,含烷基的SiOX膜的刻蚀速率为500nm/min-600nm/min.;另一方面,ITSO膜的刻蚀速率为10nm/min或更小,从而可以获得足够的选择比。此外,由于电极层112被含烷基的SiOX膜制成的绝缘体114覆盖,具有良好粘附性的TiN膜作为上表面。除骨架结构由结合硅(Si)和氧(O)构成的绝缘膜外,绝缘体114也可以使用由下列材料中的一种或多种或它们的叠层形成:无机材料(氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、氧氮化硅等)、光敏或非光敏有机材料(有机树脂材料)(聚酰亚胺、丙烯酸、聚酰胺、聚酰亚胺酰胺、抗蚀剂或苯并环丁烯),或具有低介电常数的低k材料,只要这些材料具有高耐热性和令人满意的平面性。当相同材料用于将成为层间绝缘膜的绝缘层109和将成为堤的绝缘体114时,可以减少制造成本。此外,可以通过共用如涂敷涂覆装置、刻蚀装置等的装置实现成本的下降。
优选在形成发光层(有机化合物层)119之前通过真空加热除去空气以提高可靠性。例如,为了去除衬底中所含的气体,理想的是在气相淀积有机化合物材料之前,在减压气氛下或惰性气氛下在200℃-300℃进行热处理。由于层间绝缘膜和绝缘层(堤)由具有高耐热性的SiOX膜形成,甚至进行高温热处理也没有问题。因此,可以充分进行通过热处理提高可靠性的步骤。
根据本发明,由EL材料制成的发光元件(也称为电致发光元件)用作显示器件的显示元件。据说通过在一对电极之间施加电压,EL元件在有机化合物层的发光中心将从阳极注入的空穴和从阴极注入的电子复合以形成分子激子,并当分子激子返回基态时释放能量而发光。已知的激发态有单态和三重态激发态,并且经过任何一种激发态都被认为可以获得发光。
在第一电极113上形成发光层119。注意虽然图5A和5B中只表示出一个像素,在本实施例模式中,对应于颜色R(红)、G(绿)和B(蓝)的每种的发光层分别形成。在本实施例模式中,作为发光层119,使用各自的气相淀积掩模等,通过气相淀积法选择性形成显示发R(红)、G(绿)和B(蓝)每种颜色光的材料。显示发R(红)、G(绿)和B(蓝)每种颜色光的材料也可以通过微滴喷射法形成(低分子或高分子材料等),并且在此情况下,优选不用掩模分别涂敷RGB作为发光层。此外,所有各种颜色的光可以是从单态激发态到基态所发的光(荧光),可以是从三重态激发态到基态所发的光(磷光),也可以是一种颜色为荧光(或磷光)而另两种颜色为磷光(或荧光)的组合。也可以是磷光只用于R,而荧光用于G和B。特别地,也可以使用叠层结构,其中提供20nm厚的铜酞菁(copper phthalocyanine)(CuPc)膜,并在其上提供厚70nm的三(8-羟基喹啉)铝合成物(tris-8-quinolinolatoaluminiumcomplex)(Alq3)膜作为发光层。可以通过在Alq3中添加如喹吖(二)酮、二萘嵌苯或DCM1的荧光颜料来控制发光颜色。
但是,上述实例是可用作发光层的有机发光材料的一个实例,完全不必限于此实例。发光层(发射光并为其迁移载流子的层)可以通过发光层、电荷输运层或电荷注入层任意结合形成。例如,本实施例中表示了一个用低分子有机发光材料作发光层的实例。但是,可以使用中分子有机发光材料或高分子有机发光材料。在本说明书中,不升华且分子数量为20或更少或分子链长度为10μm或更少的有机发光材料定义为中分子有机发光材料。此外,作为使用高分子有机发光材料的例子,可以采用一种叠层结构,其中具有通过旋涂法提供的厚20nm的聚噻吩(polythiophene)(PEDOT)膜作为空穴注入层,并在其上提供厚约100nm的对苯-1,2亚乙烯基(paraphenylene-vinylene)(PPV)膜作为发光层。此外,通过使用PPV的π-共轭聚合物可以从红到蓝选择发射波长。如碳化硅的无机材料可用于电荷输运层或电荷注入层。有机发光材料和无机材料可以使用已知材料。
特别地,分别使用上述CuPc或PEDOT用作电荷注入层;α-NPD用作空穴输运层;BCP或Alq3用作电子输运层;以及BCP:Li或CaF2用作电子注入层。当像在本实施例中一样,在双发射型或顶发射型情况下用透光ITO或ITSO作第二电极时,可以使用BzOS-Li等,BzOS-Li是在苯并噁唑衍生物(BzOS)中添加Li。此外,掺杂对应于R、G和B每种颜色光的掺杂剂(R情况下掺杂DCM等,而G情况下掺杂DMQD等)的Alq3可用于,例如,EML。
作为发光层,可以通过共蒸发如氧化钼(MoOx:x=2-3)等的氧化物和α-NPD或红荧烯来替代CuPc或PEDOT来提高空穴可注入性。这样,有机材料(包含低分子或高分子材料)或有机材料和无机材料的复合材料可用于发光层材料。
此外,虽然未表示出,可以在反衬底上形成滤色器。滤色器可以通过微滴喷射法或气相淀积法形成。也可以利用滤色器完成高清晰度显示器。这是因为通过使用滤色器,每种RGB的发射光谱可以被补偿,从而宽峰变尖。
如上所述,解释了显示发射每种RGB颜色光的材料的形成;但是,可以通过形成与滤色器和颜色转换层结合的显示发单色光的材料而获得全色显示器。例如,在形成显示发白或橘色光的电致发光层的情况下,可以通过分别提供滤色器、颜色转换层、或与颜色转换层结合的滤色器而获得全色显示器。例如,滤色器和颜色转换层可以在第二衬底(密封衬底)中形成,并且可以连接到该衬底。如上所述,显示发单色光的材料、滤色器或颜色转换层中的任何一个都可以用微滴喷射法形成。
当然,可以实现单色发光显示器。例如,可以通过使用单色发光形成区域环(area collar)型显示器件。无源矩阵显示器部分适合于区域环型并且主要显示字符或符号。
除ITO、IZO或ITSO外,在氧化铟中添加2wt.%-20wt.%的氧化锌(ZnO)形成的透明导电膜可用作第一电极113。除上述透明导电膜外,氮化钛膜或钛膜可用作第一电极113。在此情况下,在形成透明导电膜后,形成厚度足以透射光(优选5nm-30nm)的氮化钛膜或钛膜。在本实施例模式中,ITSO用作第一电极113。
然后,在发光层119上提供由导电膜制成的第二电极120。作为第二电极120,可以使用具有小功函数的材料(Al、Ag、Li、Ca,或它们的合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2或CaN)。在本实施例模式中,使用作为第二电极120的厚度薄的金属膜(MgAg:膜厚10nm)和作为透明导电膜121的膜厚为100nm的ITSO膜的叠层。其中在氧化铟锡中添加1wt.%-10wt.%的氧化硅(SiO2)的靶用于ITSO膜,它用溅射法形成,溅射条件为:Ar气流速为120sccm、O2气流速为5sccm、压强0.25Pa以及功率3.2kW。然后,形成ISTO膜后在200℃进行1小时热处理。另一方面,ITO(氧化锡铟)、氧化锌铟、氧化锌、氧化锡或氧化铟可用作透明导电膜121。
在采用图5B所示结构的情况下,从发光元件发射的光穿透第一电极113的两侧以及第二电极120和透明导电膜121发射出来。
虽然未表示出,提供钝化膜覆盖用作电极的透明导电膜121是有效的。钝化膜由包含氮化硅、氧化硅、氮氧化硅(SiON)、氧氮化硅(SiNO)、氮化铝(AlN)、氮氧化铝(AlON)、氧含量大于氮含量的氧氮化铝(AlNO)形成,或者由选自包含氧化铝的物质的材料、类金刚石碳(DLC)和含氮碳膜(CN)形成,并且可以使用这些绝缘膜的单层或它们组合成的叠层。此外,可以使用一种通过结合硅(Si)和氧(O)形成骨架结构且取代基中至少含氢的材料,或可以使用取代基中至少包含氟、烷基或芳(族)烃其中之一的材料。
在此情况下,优选使用具有满意覆盖度的膜作为钝化膜,并且使用碳膜、DLC膜特别有效。由于DLC膜可以在从室温到100℃或以下的温度下形成,因此它甚至可以容易地在具有低耐热性的发光层119上形成。DLC膜可以通过等离子体CVD法(典型地,RF等离子体CVD法、微波CVD法、电子回旋共振(ECR)CVD法、热丝CVD法等)、火焰燃烧法、溅射法、离子束淀积法、激光气相淀积法等形成。作为淀积用反应气体,使用氢气或基于碳氢化合物的气体(例如CH4、C2H2、C6H6等),并通过辉光放电使其离化,然后利用离子与施加了负自偏压的阴极的加速碰撞进行淀积。此外,可以利用C2H4气和N2气作反应气体形成CN膜。DLC膜对氧具有高阻挡效应,因此能够控制发光层119的氧化。因此,在随后的密封步骤中可以防止发光层119的氧化问题。
以这样的方式在衬底100上形成发光元件,通过将衬底100连接到密封衬底125而密封发光元件。根据本发明,在密封衬底125中形成包含吸湿物质的层。在图7A中,参考数字125是密封衬底。在密封衬底125上形成决定液体吸湿物质要滴落的区域的框架130(见图7A)。在本实施例模式中,由于含液体吸湿物质的合成物133具有透光特性,它可以在衬底100的像素部分和外围电路部分上大范围内形成,框架130和衬底100相对连接到衬底100上。
如实施例模式1中所说明的,形成框架130的材料有:氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、氧化铝、氮化铝、氮氧化铝或其它无机材料;丙烯酸、异丁烯酸及其衍生物;如聚酰亚胺、芬芳聚酰胺、聚苯并咪唑或其它有机材料的高分子材料和其它有机材料;在由硅、氧和氢制备的化合物中,用硅氧烷基材料为起始材料形成的包括Si-O-Si键的无机硅氧烷基材料;或有机氧烷基材料,其中硅上的氢被如甲基或苯基的有机基团取代。由于框架130将成为包围液体吸湿物质的边框部分,因此它既可以是如金属的导电材料也可以是如树脂的绝缘材料。可使用树脂材料,诸如环氧树脂、丙烯酸树脂、酚醛树脂、酚醛清漆树脂、三聚氰胺树脂或聚氨酯树脂;有机材料如苯并环丁烯、聚对二甲苯、flare或透光聚酰亚胺;或使用由聚合作用制备的化合物材料,如硅氧烷基聚合物。或者,可以使用包含光敏剂的工业用树脂材料。例如,可以使用典型的正性树脂,即本身是光敏剂的酚醛树脂和萘醌二叠氮化物(naphthoquinonedi azide)化合物,或使用典型的负性树脂,如基础树脂、二苯基硅烷二醇、酸产生剂等。
用任何一种材料形成理想形状的封闭框架图形。可以通过干法刻蚀、湿法蚀刻、灰化等进行构图。此外,此外,可以直接在密封衬底125上通过如分配器法、微滴喷射法或丝网印刷法的印刷法形成框架130,从而由于构图步骤下是必需的而使步骤简化。
此外,可以用和密封剂相同的材料形成框架130。作为密封剂,例如,可以使用环氧树脂,如双酚A型液体树脂、双酚A型固体树脂、含溴化环氧树脂的树脂、双酚F型树脂、双酚AD型树脂、酚醛型树脂、甲酚型树脂、酚醛清漆型树脂、环脂族环氧树脂、epibis型环氧树脂、缩水甘油醚树脂、缩水甘油酰胺(glycidyl amine)树脂、杂环环氧树脂或改良环氧树脂。
在本实施例模式中,框架130由用于绝缘层109的骨架结构由结合硅(Si)和氧(O)构成的绝缘层形成。它的详细形成方法可以参考上面,此处略过。
接着,含液体吸湿物质的合成物133通过滴落设备的滴头135滴落到密封衬底125上被框架130包围的区域(见图7B)。含液体吸湿物质的合成物133填充在框架130中,并且经过干燥(如烘烤)后形成含吸湿物质的层131(见图7C)。该层具有通过化学或物理反应吸收水分的特性。
然后,通过密封剂122将密封衬底125和衬底100连接在一起而密封发光元件(见图6A和6B)。图6A是本实施例模式的显示器件的顶视图,而图6B是沿图6A中D-D’线截取的横截面视图。在图6A中,参考数字126表示驱动器电路部分;以及127表示像素部分。密封衬底125和衬底100连接并且然后粘接,从而绝缘层109和布线层186和187的边缘被密封剂122覆盖。由于从横截面渗透的水分被密封剂阻挡,因此可以防止发光元件的退化并由此提高显示器件的可靠性。注意可以在被密封剂包围的区域中填充填料,而且可以通过在氮气氛下密封发光元件而填充氮气。如同本实施例模式一样,在穿透填料提取光的结构情况下,填料需要具有透光性。典型地,可以使用可见光固化、紫外线固化或热固化环氧树脂。作为密封衬底125,可以使用在玻璃衬底、石英衬底或硅衬底、金属衬底或不锈钢衬底表面上形成绝缘膜的衬底。或者,可以使用能承受本实施例模式的处理温度的耐热塑料,或者可以使用如柔性衬底或膜的覆盖元件。
在本实施例模式中,端子部分具有一种通过各向异性导电层184将FPC183连接到端子电极181和182而与外部电连接的结构。
图11是表示连接到上述端子部分的引线布线的一部分的横截面视图。第二电极120的导电膜和透明导电膜121连接到图11的连接部分中的布线层186,而端子电极181和182连接到其端子部分中的布线层186。由端子电极通过各向异性导电层184和FPC183实现与外部的电连接。
本实施例模式中形成如上电路。但是,本发明不限于此。既可以采用无源矩阵电路也可以采用有源矩阵电路,或者也可以采用一种电路,其中,通过COG法或TAB法安装IC芯片作为外围驱动器电路。此外,栅极线驱动器电路和源极线驱动器电路可以是多个或单个。
此外,用于驱动屏幕显示器的方法在本发明的显示器件中不特别限定,例如,可以使用点-顺序驱动法、线顺序驱动法、区域顺序驱动法等。典型地采用线顺序驱动法,并且可以适当采用时分渐变(gadation)驱动法或区域渐变驱动法。此外,输入到显示器件的源极线的视频信号既可以是模拟信号也可以是数字信号,而且可以根据视频信号适当设计驱动器电路等。
而且,使用数字视频信号的发光显示器件包括其中视频信号以恒定电压(CV)输入到像素的一种显示器件,以及其中视频信号以恒定电流(CC)输入到像素的一种显示器件。视频信号以恒定电压(CV)输入到像素的发光器件进一步分为施加恒定电压到发光元件的发光器件(CVCV)和其它施加恒定电流到发光元件的发光器件(CVCC)。而且,视频信号以恒定电流(CC)输入到像素的发光器件分为施加恒定电压到发光元件的发光器件(CCCV)和其它施加恒定电流到发光元件的发光器件(CCCC)。
在本实施例模式中,含吸湿物质的层具有光透射特性。由于使用含吸湿物质的透光层,甚至覆盖双发射型显示器件的像素部分形成含吸湿物质的层,来自发光层的光也不会被屏蔽,在双发射型显示器件中从密封衬底侧提取光。因此,可以在显示器件内大分期望面积上形成吸湿物质,因此可以充分提高吸收效果。此外,由于在密封衬底中不形成凹槽,发光层和密封衬底之间的距离恒定且,因此不会发生由光干涉等导致的显示图象的变化。
如上所述,根据本发明,可以通过吸湿物质的充分吸收效应可以防止发光元件的退化,这是由于可以不减少光提取效率而制造其中大范围提供吸湿物质的显示器件。此外,也不需要复杂的制造步骤。因此,可以以令人满意的产量制造能够显示高清晰度和高质量图象的高可靠性显示器件。
(实施例模式3)
在本实施例模式中参考图9和图10说明实施例模式2中制造的显示器件中一侧发射型的顶发射型和底发射型的例子。
在图10中,参考数字1700表示元件衬底;1701、1702和1703表示TFT;1704表示第一电极;1705表示发光层;1706表示第二电极;1707表示保护膜;1708表示填料;1730表示框架;1731表示含吸湿物质的层;1709密封剂;1710绝缘层;1711表示堤;1712密封衬底;1720绝缘膜;1745布线层;1740和1741端子电极;1742各向异性导电层;以及1743表示FPC。
图10的显示器件是底发射型,并且具有其中光沿箭头方向在元件衬底1700侧上出射的结构。注意在本实施例模式中通过形成透明导电膜并将其刻蚀成理想形状而形成第一电极1704。除ITO、IZO或ITSO外,在氧化铟中添加2wt.%-20wt.%的氧化锌(ZnO)的透明导电膜可以用作第一电极1704。除上述透明导电膜外,氮化钛膜或钛膜可以用作第一电极1704。在此情况下,在形成透明导电膜后,形成厚度足以透射光(优选约5nm-30nm)的氮化钛膜或钛膜。在本实施例模式中,ITSO用作第一电极1704。
然后,在发光层1705上提供由导电膜构成的第二电极1706。作为第二电极1706,可以使用具有小功函数的材料(Al、Ag、Li、Ca,或其合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2或CaN)。
在图10所示结构的情况下,从发光元件发射的光穿过第一电极1704侧出射。在图10所示的底发射型的情况下,含吸湿物质的层1731不需要具有透光特性,因此也可以使用其中分散有如氧化钙(CaO)的吸湿物质的固定元件。
此外,优选使用通过化学吸收来吸收水分(H2O)的物质作为要被分散的吸湿物质,像碱土金属的氧化物,如氧化钙(CaO)或氧化钡(BaO)。但是,本发明不限于此,也可以使用通过物理吸收来吸收水分的物质,如沸石或硅胶。
此外,树脂等可用作固定吸湿物质的固定元件。作为树脂,可以给出下列树脂:如丙烯酸酯、丙烯酸醚、醚氨基甲酸乙酯丙烯酸酯(ether urethane acrylate)、丁二烯氨基甲酸乙酯丙烯酸酯(butadiene urethane acrylate)、特殊氨基甲酸乙酯丙烯酸酯(special urethane acrylate、epoxy acrylate)、氨基树脂丙烯酸酯(amino resin acrylate)或丙烯酸树脂丙烯酸酯(acrylicresinacrylate)的丙烯酸树脂等。此外,可以使用如双酚A型液体树脂、双酚A型固体树脂、含溴化环氧树脂的树脂、双酚F型树脂、双酚AD型树脂、酚醛型树脂、甲酚型树脂、酚醛清漆型树脂、环脂族环氧树脂、epibis型环氧树脂、缩水甘油醚树脂、缩水甘油酰胺树脂、杂环环氧树脂或改良环氧树脂的环氧树脂。例如,也可以使用无机物等,如骨架结构由结合硅(Si)和氧(O)构成、取代基中至少包含氢的硅氧烷。
图9是一侧发射型显示器件,它的结构是沿箭头方向出射光的顶发射型。在图9中,参考数字1600表示元件衬底;1601、1602和1603表示TFT;1613表示具有反射性的金属膜;1604表示第一电极;1605表示发光层;1606表示第二电极;1607表示透明导电膜;1608表示填料;1630表示框架;1631表示含吸湿物质的层;1609密封剂;1610绝缘层;1611堤;1612密封衬底;1620布线;1640和1641终端电极;1642各向异性导电层;以及1643表示FPC。在此情况下,在上面图11所示的双发射型显示器件中的第一电极1604下形成具有反射性的金属膜1613。在具有反射性的金属膜1613上形成用作阳极的第一电极1604。Ta、W、Ti、Mo、Al、Cu等可以用作金属膜1613,因为它们具有反射性。优选使用在可见光范围具有高反射性的物质,并且在本实施例模式中使用Al膜。
在发光层1605上提供由导电膜形成的第二电极1606。作为第二电极1606,由于它用作阴极,可以使用具有小功函数的材料(Al、Ag、Li、Ca,或其合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF2或CaN)。在本实施例模式中,使用由作为第二电极1606的厚度变薄的金属薄膜(MgAg:膜厚10nm)和作为透明导电膜1607的厚110nm的ITSO形成的叠层。作为透明导电膜1607,可使用ITO(氧化铟锡)、氧化锌铟、氧化锌、氧化锡或氧化铟等。
如上所述,可以根据本发明制造在所希望的区域配置吸湿物质的显示器件;因此,可以通过吸湿物质的足够的吸湿效应防止发光元件的退化。此外,也不必要复杂的制造步骤。因而,可以以令人满意的产量制造能够高清晰度和高质量显示图象的高可靠显示器件。
(实施例模式4)
在本实施例模式中,参考图8和图28,说明反交错型TFT的一个实例。此处省略对TFT旁边的部分的详细说明,这是由于它们与实施例模式2中所示显示器件的那些部分相同。
图28所示的TFT是沟道保护型。参考数字1400表示元件衬底;以及1401和1402表示驱动器电路部分的TFT。在栅电极1403上叠加栅极绝缘膜1404、半导体层1405、作为具有一种导电型的半导体的N-型半导体层1407和金属层1408。在将成为半导体层1405的沟道形成区的部分上形成沟道保护膜1406和电极层1411。参考数字1412表示第一电极;1413发光层;1414第二电极;1416钝化膜;1418密封剂;1409绝缘层;1410绝缘层;1415堤;1417密封衬底;1430框架;1431含吸湿物质的层;1445布线层;1440和1441终端电极;1442各向异性导电膜;以及1443表示FPC。在本实施例模式的发光器件中,通过在氮气氛下进行密封步骤,氮气填充在含吸湿物质的层1431和发光元件之间的空间1419中。或者,也可以在其中填充树脂填料。
此外,图8所示的TFT是沟道蚀刻型。参考数字700表示元件衬底;以及701和702表示驱动器电路部分的TFT。在栅电极703上叠加栅极绝缘膜704、半导体层705、作为具有一种导电型的半导体的N-型半导体层706和电极层707。将成为半导体层705的沟道形成区的部分被刻蚀减薄。参考数字712表示第一电极;713发光层;714第二电极;716钝化膜;718密封剂;719填料;715绝缘层;717密封衬底;730框架;731含吸湿物质的层;741终端电极;742各向异性导电层;743表示FPC,以及745布线层。图8的显示器件具有一种结构,其中绝缘层715与层间绝缘层和将成为实施例模式1中的显示器件中的堤的绝缘层相结合。
实施例模式1中的准非晶半导体膜也可用作半导体层。此外,如果必要可以形成具有一种导电型的半导体层。
该实施例模式的象素部分中的TFT是n-沟道型TFT。第一电极(像素电极)712和1412用作阴极,而第二电极714和1414用作阳极。在本实施例模式中,透明导电层ITSO用于第一电极和第二电极。制成的发光元件是第一电极(ITSO)/电子注入层(在苯并噁唑衍生物(BzOS)中添加Li的BzOS-Li)/电子输运层(Alq)/发光层(掺杂喹吖(二)酮衍生物(DMQd)的Alq/空穴输运层(4,4’-双[N-(1-萘基)-N-]苯基-氨基]-联苯(α-NPD))/空穴注入层(氧化钼(MoOx))/第二电极(ITSO)。阳极、阴极和电子注入层、电子输运层、发光层、空穴输运层、空穴注入层材料等不限于本实施例模式,而且可以适当选择这些材料结合使用。
如上所述,根据本发明,因为可以不减少光提取效率而制造其中大范围内提供吸湿物质的显示器件,所以可以通过吸湿物质的足够的吸湿效应防止发光元件的退化。此外,也不必要复杂的制造步骤。因此,可以以令人满意的产量制造能够高清晰度和高质量显示图象的高可靠显示器件。
(实施例模式5)
在本实施例模式中,参考图22A和22B-图25A和25B以及图29A和29B-图32A和32B解释本发明的另一种显示器件。图22A、23A、24A和25A和图29A、30A、31A和32A是本实施例模式的显示器件的顶视图。图22B、23B、24B和25B以及图29B、30B和32B是沿图22A、23A、24A和25A和图29A、30A和32A的线A-A’截取的横截面视图。图31B是沿图31A中的线C-C’截取的横截面视图。在提供框架和含吸湿物质的层的结构中,本实施例模式的显示器件不同于参考实施例模式1中的图1说明的显示器件。
在图22A和22B所示的显示器件中只相对像素部分提供含吸湿物质的层13。框架12只围绕像素部分形成。本实施例模式表示一个实例,其中在密封衬底20中形成框架12。为了在具有可能因水分而退化的发光元件的像素部分上提供含吸湿物质的层13,形成框架12并将吸湿物质滴落到框架12所包围的区域以形成含吸湿物质的层。可以通过含吸湿物质的层13的吸湿效应防止发光元件的退化。有时由于形成密封剂和干燥剂的材料之间发生反应等不能形成理想的图形。因此,当由于所谓的彼此不兼容而产生缺陷时,优选分别形成它们。在类似于图22A和22B的结构中,密封剂与框架和含吸湿物质的层分别形成,因此不会产生缺陷,甚至在使用不匹配材料的情况下。
当然,如图24A和24B所示,框架12比图22A和22B中的大得多,而且它可以不仅包围像素部分而且包围其周围的驱动器电路部分的一部分形成。在此情况下,由于可以使密封剂14不与框架12和含吸湿物质的层接触而大面积提供吸湿物质,提高了吸湿效果。
而且,如图32A和32B所示,框架12可以包围驱动器电路部分15a和15b形成。可以在框架12和密封剂14之间的区域中形成吸湿物质。
由于上述图1A和1B、图22A和22B、图24A和24B以及图32A和32B是在像素部分上提供含吸湿物质的层的结构,所以优选含有吸湿物质的层13具有透光性质。甚至在光从密封衬底20侧提取的顶发射型或双发射型的情况下,由于具有透光性,也可以不减少光提取效率而获得足够的干燥效果。
其次,如果在驱动器电路上提供含吸湿物质的层,则它们不必具有透光性。如图23A和23B所示。框架12包围像素部分11形成,而密封剂14包围像素部分和驱动器电路部分15a和15b形成。因此,液体吸湿物质可以滴落到框架12和密封剂14之间的区域,可以在驱动器电路部分15a和15b上形成含吸湿物质的层。
此外,当根据如上所述的密封剂、框架和干燥剂的各种材料的属性产生由反应导致的缺陷时,像在图29中一样,在包围像素部分的第一框架12b的外部形成第二框架12a以加倍。通过将液体吸湿物质滴落到第一框架和第二框架之间的区域并通过形成含吸湿物质的层13,甚至当干燥剂和密封剂不兼容并且含吸湿物质的层13不具有透光特性时,也可以在15a和15b上提供含吸湿物质的层13而不产生缺陷。
此外,由于在图22A和22B中通过包围像素部分11形成含吸湿物质的层13,可以像在图25A和25B中一样形成包围驱动器电路部分15a和15b的框架12。含吸湿物质的层13也可以在被框架12包围的区域中形成。可以提供多个被该框架12包围的含吸湿物质的层。如图31A和31B中所示,可以提供被框架12a包围的吸收物质13a和被框架12b包围的吸收物质13b两处吸收物质。
根据本发明,为了确定和固定形成液体吸湿物质的区域,可以通过将将其滴落在封闭形状的框架中来提供液体吸湿物质。如图30A和30B所示,该框架通过将成为阻挡层的壁16和密封剂14形成封闭形状,而且含吸湿物质的层13也可以在壁16和密封剂14之间形成。
注意本实施例模式表示出一种结构,其中在衬底的一侧面形成吸湿物质。但是,也可以通过直接在元件衬底上形成框架而提供含吸湿物质的层覆盖像素部分和驱动器电路部分。
如上所述,根据本发明,可以容易地在显示器件的理想区域内提供吸湿物质。因此,可以获得水分吸收效应,并因此可以防止发光元件由于水分退化。从而,可以通过简单的步骤,以令人满意的产量制造具有高可靠性的显示器件。
(实施例模式6)
参考图20A-20F所示的等效电路图说明本实施例模式所示的显示面板的像素的结构。
在图20A所示的像素中,信号线410和电源线411-413排列在列方向上,而扫描线414排列在行方向上。此外,包括是开关TFT的TFT401、是驱动TFT的TFT403、是电流控制TFT的TFT404、电容器元件402和发光元件405。
图20C中所示像素具有和图20A所示的像素相同的结构,只是TFT403的栅电极连接到排列在行方向的电源线412。换言之,图20A和20C所示的像素表示相同的等效电路。但是,在电源线412排列在列方向(图20A)和电源线412排列在行方向(图20C)的情况下,每个电源线由不同层中的导电层形成。此处,注意到驱动TFT403的栅电极连接的布线,图20A和20C分别给出示意图以表明该布线在不同层形成。
作为图20A和20C所示的像素的特点,TFT403和404在像素中串联连接,并且所提供的TFT403的沟道长度L3和沟道宽度W3、TFT404的沟道长度L4和沟道宽度W4满足L3/W3∶L4/W4=5-6000∶1。作为满足6000∶1的实例,有一种情况是L3为500μm、W3为3μm、L4为3μm以及W4为100μm。
注意TFT403在饱和区工作并且具有控制流过发光元件405的电流值的作用;而TFT404在线性区工作并且具有控制供给发光元件的电流的作用。就制造步骤而言优选两个TFT具有相同的导电型。此外,不仅增强型而且耗尽型也可以用于TFT403。在具有上述结构的本发明中,TFT404中VGS的轻微波动不影响发光元件405的电流值,因为TFT404在线性区工作。换言之,发光元件405的电流值取决于在饱和区工作的TFT403。根据具有上述结构的本发明,可能提供一种显示器件,它的图象质量通过改善TFT特性变化所导致的发光元件的亮度不均匀而被增强。
在图20A-20D所示的像素中,TFT401控制视频信号向像素的输入,并且当TFT401导通且视频信号输入到象素时,视频信号保留在电容器元件402。注意图20A和20C表示其中提供电容器元件402的一种结构;但是,本发明不限于此,当栅极电容器等可以代替保留视频信号的电容器时可以不专门提供电容器元件402。
发光元件405具有一种结构,其中电致发光层夹在两电极之间,并且在像素电极和反电极之间(阳极和阴极之间)提供电势差,从而在正向偏置方向施加电压。电致发光层由诸如有机材料或无机材料的各种材料构成,并且该电致发光层发射的光包括电子从单态激发态返回到基态时发射的荧光和电子从三重态激发态返回到基态时发射的磷光。
除额外提供的TFT406和扫描线415外,图20B所示的像素具有和图20A所示像素相同的结构。同样,除额外提供的TFT406和扫描线415外,图20D所示的像素具有和图20C所示像素相同的结构。
TFT406的导通或截止由新布置的扫描线415控制。当TFT406导通时,保留在电容器元件402中的电荷放电,从而TFT406截止。换言之,通过布置TFT406可以强迫电流不流过发光元件405。从而,在图20B和20D的结构中,发光周期可以与写入周期同时或在写入周期刚开始后开始,而不必等待信号写入所有像素;因此可以提高占空比。
在图20E所示的像素中,信号线450和电源线451和452排列在列方向上,而扫描线453排列在行方向上。此外,包括开关TFT441、驱动TFT443、电容器元件442和发光元件444。除额外提供扫描线454外,图20F所示的像素具有和图20E所示的相同的像素结构。在图20F的结构中,也可能通过布置TFT445提高占空比。
(实施例模式7)
参考图21说明一种模式,其中为扫描线输入终端部分和信号线输入终端部分提供保护二极管。在图21中,像素3400配置TFT501和502。这些像素具有和实施例模式4中的像素相同的结构。
为信号线输入终端部分提供保护二极管561和562。该保护二极管在与TFT501和502相同的步骤重制造,并且通过连接到栅极和漏极或源极之一而作为二极管工作。图19表示图21中所示顶视图的等效电路图。
保护二极管561包括栅电极层550、半导体层551、用于保护沟道的绝缘层552和布线层553。保护二极管562具有相同的结构。在和栅电极层相同的层中形成连接到该保护二极管的共用电势线554和555。因此,有必要在栅极绝缘层中形成接触孔以和布线层553电连接。
可以形成掩模层,并且可以进行刻蚀工艺以形成栅极绝缘层中的接触孔。在此情况下,当采用通过大气压下放电的刻蚀工艺时,局部放电过程也是可能的,而且它不需要在衬底的整个表面上形成掩模层。
在和TFT501中的源极布线层和漏极布线层220或221相同的层中形成信号布线层237,并且信号布线层237具有信号布线层237连接到TFT501的源极侧或漏极侧的结构。TFT501包括栅电极层203、源极布线层和漏极布线层220或221,以及用于沟道保护的绝缘层214。
扫描信号线侧的输入终端部分也具有相同的结构。根据本发明,可以同时形成在输入级提供的保护二极管。注意淀积保护二极管的位置不限于本实施例模式,并且它可以提供在驱动器电路和像素之间。
(实施例模式8)
图15表示构造具有根据本发明制造的TFT衬底2800的EL显示模块的一个实例。根据图15在TFT衬底2800上形成由像素组成的像素部分。
在图15中,在像素部分之外的驱动器电路和像素之间提供与在像素或保护电路部分2801中形成的相同的TFT,在像素或保护电路部分2801中形成的TFT通过连接到该TFT的栅极和源极或漏极之一而以和二极管同样的方式工作。由单晶半导体形成的驱动器IC、由玻璃衬底上的多晶半导体膜形成的自闭驱动器(stick driver)IC或由SAS形成的驱动器电路应用到驱动器电路2809。
通过在其间插入衬垫而使其上形成TFT2802和TFT2803的TFT衬底2800和密封衬底2820连接在一起。甚至当衬底薄且像素部分的面积扩大时,两个衬底之间的空间可以通过该衬垫保持恒定;因此,优选提供衬底。在密封衬底2820中,通过用框架3630包围提供包含吸湿物质的发光层3631。可以在发光元件2804和2805上的TFT衬底2800和密封衬底2820之间的空间中填充透光树脂材料并使之固化,或者可以填充无水的氮气或惰性气体。
图15表示发光元件2804和2805具有顶发射型结构和具有光沿图中箭头所示方向出射的结构的情形。由此,含吸湿物质的层3631具有透光特性。通过具有红、绿和蓝不同颜色的发光可以在每个像素中进行多色显示。此外,可以通过在密封衬底2820侧上形成对应于每种颜色的着色层而增强出射到外部的光的颜色纯度。另外,通过用作为白发光元件的像素,可以结合着色层。由于含吸湿物质的层3631具有透光特性,光可以被透射,并且甚至在本实施例模式的显示器件(其中光从密封衬底侧提取)的情况下,也不减少光的提取效率。
外部提供的驱动器电路2809通过在TFT衬底2800一端提供的扫描线或信号线连接终端2810连接到布线板2811。此外,可以通过接触或靠近TFT衬底2800提供热管2813和热沉2812而具有改善热效应的结构。
图15表示顶发射型EL显示模块;但是通过改变发光元件的结构或外部电路衬底的布置它也可以是底发射型。在顶发射型的情况下,通过对其着色,可以把要成为堤的绝缘层用作黑色基质。该堤可以通过微滴喷射法形成,并且它可以通过将碳黑等混到如聚酰亚胺的树脂材料中形成,或也可以使用它的叠层。
(实施例模式9)
可以利用根据本发明形成的显示器件制造电视机。图13是表示电视机主结构的框图。显示面板可用以下任何一种方式形成:在只形成一个像素部分801的情况下,然后如图16所示通过TAB法安装扫描线驱动器电路813和信号线驱动器电路802;如图17所示通过COG法形成像素部分801和其外围的扫描线驱动器电路803和信号线驱动器电路802;形成包含SAS的TFT,在衬底上整体形成像素部分801和扫描线驱动器电路803,以及单独安装信号线驱动器电路802作为驱动器IC;在衬底上整体形成像素部分801、信号线驱动器电路802和扫描线驱动器电路803;等等。
外部电路的另一个结构在视频信号的输入端包括:视频波放大器电路805,它放大调谐器804接收的视频信号;视频信号处理电路806,它将从其输出的视频信号转化成对应于红、绿和蓝中每种颜色的色度信号;控制电路807,它将视频信号转化成驱动器IC的输入规格,等等。控制电路807分别输出信号到扫描线侧和信号线侧。在数字驱动的情况下,可以在信号线侧上提供信号划分(signal division)电路808,以具有将输入数字信号分成m-段输入的结构。
在从调谐器804接收的信号中,音频信号传输到音频波放大器电路809,它的输出通过音频信号处理电路810提供给扬声器813。控制电路811接收接收站的控制信息(接收频率)或输入部分812的音量,并将信号传输到调谐器804或音频信号处理电路810。
如图14所示,可以通过将该模块装入机壳2001完成电视机。EL可以通过使用像图15中一样的显示模块完成电视机。使用该显示模块形成主屏2003,并且提供扬声器部分2009、操作开关等作为附带设备。这样,可以根据本发明完成电视机。
此外,如图26所示,可以通过使用延迟膜和偏振片屏蔽从外部进入的光的反射光。图26是顶发射型结构,而且要成为堤的绝缘层3605通过着色用作黑色基质。该堤可以用微滴喷射法形成,并且可以由碳黑等混合到树脂材料(如聚酰亚胺)中形成,或者也可以使用它的叠层。在本实施例模式中,使用基于色素的黑色树脂。可以通过数次向相同区域喷射不同材料形成该堤。λ/4\λ/2可以用作延迟膜3630和3604,并且可以设计成能够控制光。结构如下:TFT衬底2800\发光元件2804\密封衬底(密封剂)2820\延迟膜3603和3604(λ/4\λ/2)\偏振片3602,其中发光元件发射的光射出偏振片外侧以透过偏振片。可以在光出射的一侧上提供这些延迟膜和偏振片,或者,在光从两面发射的双发射型显示器件的情况下,可以在两侧提供延迟膜和偏振片。此外,可以在偏振片的外侧上提供抗反射膜3601。因此,可以显示更高清晰度和更精确的图象。
使用EL元件的显示面板结合到机壳2001中。通过调制解调器2004用固定线或无线连接到通信网络,也可以进行单向(从发射器到接收器)或双向(发射器和接收器之间,或接收器相互之间)的信息通信。例如,从接收器2005接收一般的电视播送。可以通过安装到机壳中的开关或通过遥控器2006进行电视机的操作,遥控器与主机体分离。也可以为该遥控器提供显示待输出信息的显示部分2007。
此外,在电视机中,通过形成除主屏2003外的第二显示面板的子屏2008,可以另外提供显示频道、音量等的结构。可以采用一种结构,其中,用视角优越的EL显示面板形成主屏2003,而且也用EL显示面板形成能够瞬息开关的子屏。根据本发明,通过使用这种大尺寸衬底,甚至可以通过使用许多TFT和电子部件制造高可靠性的显示器件。
当然,本发明不限于电视机,而且它可以应用于各种用途,特别是作为大尺寸的显示媒介,如车站、机场等的信息显示板,或街道上的广告显示面板以及个人计算机的显示器。
(实施例模式10)
应用本发明可以制造各种显示器件。换言之,本发明可以应用到各种电子器件,其中显示部分中结合了这些显示器件。
电子器件包括如摄像机或数码相机的摄影机、投影仪、头戴式显示器(护目镜型显示器)、汽车导航系统、汽车立体声系统、个人计算机、游戏机、便携式信息终端(移动计算机、蜂窝电话、电子书等)、配备记录媒介的图象再现设备(特别是能够播放诸如数字多用光盘(DVD)记录媒介的设备,以及具有能显示图象的显示器件的设备)等。图12A-12E表示这些设备的实例。
图12A是膝上电脑,它包括主机体2101、机壳2102、显示部分2103、键盘2104、外部连接端口2105、指针式鼠标2106等。本发明应用于制造显示部分2103。根据本发明,甚至当经常携带外出的膝上电脑在苛刻条件下使用时,也可以显示具有高可靠性和高分辨率的图象。
图12B是配备记录媒介的图象再现设备(特别是DVD再现设备),它包括主机体2201、机壳2202、显示部分A2203、显示部分B2204、记录媒介(如DVD)读出部分2205、操作键2206、扬声器部分2207等。显示部分A2203主要显示图象信息,而显示部分B2204主要显示文字信息,本发明应用于制造这些显示部分A2203和B2204。根据本发明,可以显示具有高可靠性和高分辨率的图象。
图12C表示蜂窝电话,它包括主机体2301、音频输出部分2302、音频输入部分2303、显示部分2304、操作开关2305、天线2306等。通过将根据本发明制造的显示器件应用到显示部分2304,可以制造即使经常在高温或湿润环境中(如在外面)使用也具有高可靠性和高分辨率显示器的蜂窝电话。
图12D是摄像机,它包括主机体2401、显示部分2402、机壳2403、外部连接端口2404、遥控接收部分2405、图象接收部分2406、电池2407、音频输入部分2408、操作键2409、目镜部分2410等。通过将根据本发明制造的显示器件应用于显示部分2402,可以制造即使经常在高温或湿润环境中(如在外面)使用也具有高可靠性和高分辨率显示器的摄像机。
图27表示一个实例,其中,显示部分安装在汽车中。此处汽车作为交通工具的典型例子;但是,不限于此,也可以应用于飞机、火车等。特殊安装在汽车中的显示器件即使在苛刻条件下也具有高可靠性是重要的(汽车内趋于高温和湿润)。
图27表示汽车驾驶座的外围设施。参考数字2501表示挡风玻璃,而2500表示操纵手柄。为仪表板2507提供音频再现设备,特别是汽车音响或汽车导航系统。汽车音响的主体2505包括显示部分2504和操作按钮2508。通过将本发明应用于显示部分2503,可以完成具有高可靠性的汽车音响。
此外,可以通过将本发明应用于汽车导航系统的显示部分2503和显示汽车中空调状态的显示部分2506,完成具有高可靠性的汽车导航系统。
此外,本实施例模式表示交通工具安装的汽车音响和汽车导航系统。但是,它也可以应用到其它交通工具的指示器,或固定音响或导航设备。
如上所述,本发明的应用范围相当广,而且本发明可以应用到各个领域的电子设备中。
本申请书以2003年12月26日在日本专利局提交的日本专利申请第2003-432005号为基础,此处结合其内容作为参考。

Claims (49)

1.显示器件,包含:
一对衬底;
发光元件;
含吸湿物质的层;以及
框架;
其中,提供框架以包围含吸湿物质的层,并且该对衬底彼此附着,从而发光元件、含吸湿物质的层和框架密封在该对衬底之间。
2.根据权利要求1的显示器件,其中含吸湿物质的层是透光的。
3.显示器件,包含:
第一衬底,它具有含发光元件的像素部分;
第二衬底;
含吸湿物质的层;以及
包围像素部分的框架,
其中,所提供的含吸湿物质的层被框架包围,并且用密封剂将第一衬底和第二衬底彼此附着,从而象素部分、含吸湿物质的层和框架密封在该对衬底之间。
4.根据权利要求3的显示器件,其中含吸湿物质的层是透光的。
5.根据权利要求3的显示器件,其中在第二衬底上提供含吸湿物质的层。
6.根据权利要求3的显示器件,其中框架和密封剂由相同物质制成。
7.根据权利要求3的显示器件,其中第一衬底进一步包括具有驱动器电路的电路部分,并且框架包围像素部分和该电路部分的一部分。
8.根据权利要求3的显示器件,其中第一衬底进一步包括具有驱动器电路的电路部分,并且框架包围像素部分和该电路部分。
9.显示器件,包含:
第一衬底,它包括含发光元件的像素部分和具有驱动器电路的电路部分;
第二衬底;
含吸湿物质的层;
包围像素部分的框架;以及
包围像素部分和电路部分的密封剂,
其中,在框架和密封剂之间提供含吸湿物质的层,并且第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着,从而像素部分、电路部分、含吸湿物质的层和框架密封在该对衬底之间。
10.根据权利要求9的显示器件,其中含吸湿物质的层是透光的。
11.根据权利要求9的显示器件,其中在第二衬底上提供含吸湿物质的层。
12.根据权利要求9的显示器件,其中框架和密封剂由相同物质制成。
13.显示器件,包含:
第一衬底,它包括含发光元件的像素部分和具有驱动器电路的电路部分;
第二衬底;
含吸湿物质的层;以及
包围电路部分的框架,
其中,所提供的含吸湿物质的层被框架包围,并且第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着,从而像素部分、电路部分、含吸湿物质的层和框架密封在该对衬底之间。
14.根据权利要求13的显示器件,其中含吸湿物质的层是透光的。
15.根据权利要求13的显示器件,其中在第二衬底上提供含吸湿物质的层。
16.根据权利要求13的显示器件,其中框架和密封剂由相同物质制成。
17.显示器件,包含:
第一衬底,它包括含发光元件的像素部分和具有驱动器电路的电路部分;
第二衬底;
含吸湿物质的层;以及
包围像素部分和电路部分的第一框架;以及
包围像素部分的第二框架,
其中,在第一框架和第二框架之间提供含吸湿物质的层,并且第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着,从而像素部分、电路部分、含吸湿物质的层、第一框架和第二框架密封在该对衬底之间。
18.根据权利要求17的显示器件,其中含吸湿物质的层是透光的。
19.根据权利要求17的显示器件,其中在第二衬底上提供含吸湿物质的层。
20.根据权利要求17的显示器件,其中框架和密封剂由相同物质制成。
21.制造显示器件的方法,包含的步骤有:
在第一衬底上形成发光元件;
形成包围发光元件的框架;
将含液体吸湿物质的合成物滴落到被框架包围的区域中;以及
通过使合成物固化而形成含吸湿物质的层,
其中,第一衬底和第二衬底用密封剂附着,从而发光元件、含吸湿物质的层和框架密封在该对衬底之间。
22.根据权利要求21的制造显示器件的方法,其中合成物被加热固化并形成含吸湿物质的层。
23.根据权利要求21的制造显示器件的方法,其中含吸湿物质的层是透光的。
24.根据权利要求21的制造显示器件的方法,其中在第二衬底上提供含吸湿物质的层。
25.根据权利要求21的制造显示器件的方法,其中框架和密封剂由相同材料制成。
26.根据权利要求21的制造显示器件的方法,其中合成物在惰性气氛下滴落。
27.根据权利要求21的制造显示器件的方法,其中合成物在减压下滴落。
28.根据权利要求21的制造显示器件的方法,其中在第一衬底上进一步形成驱动器电路,并且该框架的形成包围发光元件和该驱动器电路。
29.制造显示器件的方法,包含步骤:
在第一衬底上形成发光元件和驱动器电路;
形成包围驱动器电路的框架;
形成密封剂以包围发光元件和驱动器电路;
将含液体吸湿物质的合成物滴落在框架和密封剂之间;以及
通过使该合成物固化而形成含吸湿物质的层,
其中,第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着,从而发光元件、驱动器电路、含吸湿物质的层和框架密封在该对衬底之间。
30.根据权利要求29的制造显示器件的方法,其中合成物被加热固化并形成含吸湿物质的层。
31.根据权利要求29的制造显示器件的方法,其中含吸湿物质的层是透光的。
32.根据权利要求29的制造显示器件的方法,其中在第二衬底上形成含吸湿物质的层。
33.根据权利要求29的制造显示器件的方法,其中框架和密封剂由相同材料制成。
34.根据权利要求29的制造显示器件的方法,其中合成物在惰性气氛下滴落。
35.根据权利要求29的制造显示器件的方法,其中合成物在减压下滴落。
36.制造显示器件的方法,包含步骤:
在第一衬底上形成发光元件和驱动器电路;
形成包围驱动器电路的框架;
将含液体吸湿物质的合成物滴落在被框架包围的区域之中;以及
通过使合成物固化而形成含吸湿物质的层,
其中,第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着,从而发光元件、驱动器电路、含吸湿物质的层和框架密封在该对衬底之间。
37.根据权利要求36的制造显示器件的方法,其中合成物被加热固化并形成含吸湿物质的层。
38.根据权利要求36的制造显示器件的方法,其中含吸湿物质的层是透光的。
39.根据权利要求36的制造显示器件的方法,其中在第二衬底上形成含吸湿物质的层。
40.根据权利要求36的制造显示器件的方法,其中框架和密封剂由相同材料制成。
41.根据权利要求36的制造显示器件的方法,其中合成物在惰性气氛下滴落。
42.根据权利要求36的制造显示器件的方法,其中合成物在减压下滴落。
43.制造显示器件的方法,包含步骤:
在第一衬底上形成发光元件和驱动器电路;
形成包围发光元件和驱动器电路的第一框架;
形成包围发光元件的第二框架;
将含液体吸湿物质的合成物滴落在第一框架和第二框架之间;以及
通过使该合成物固化而形成含吸湿物质的层,
其中,第一衬底和第二衬底彼此用密封剂附着,从而发光元件、驱动器电路、含吸湿物质的层、第一框架和第二框架密封在该对衬底之间。
44.根据权利要求43的制造显示器件的方法,其中合成物被加热固化并形成含吸湿物质的层。
45.根据权利要求43的制造显示器件的方法,其中含吸湿物质的层是透光的。
46.根据权利要求43的制造显示器件的方法,其中在第二衬底上提供含吸湿物质的层。
47.根据权利要求43的制造显示器件的方法,其中框架和密封剂由相同材料制成。
48.根据权利要求43的制造显示器件的方法,其中合成物在惰性气氛下滴落。
49.根据权利要求43的制造显示器件的方法,其中合成物在减压下滴落。
CN2004100615290A 2003-12-26 2004-12-27 显示器件及制造该显示器件方法 Expired - Fee Related CN1638536B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP432005/2003 2003-12-26
JP432005/03 2003-12-26
JP2003432005 2003-12-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1638536A true CN1638536A (zh) 2005-07-13
CN1638536B CN1638536B (zh) 2010-04-28

Family

ID=34697677

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2004100615290A Expired - Fee Related CN1638536B (zh) 2003-12-26 2004-12-27 显示器件及制造该显示器件方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7495644B2 (zh)
CN (1) CN1638536B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101950113A (zh) * 2009-07-10 2011-01-19 元太科技工业股份有限公司 显示面板
CN101101872B (zh) * 2006-07-04 2011-07-13 株式会社半导体能源研究所 一种半导体装置及其制造方法
TWI582976B (zh) * 2011-09-02 2017-05-11 三星顯示器有限公司 有機發光顯示裝置以及製造該有機發光顯示裝置之方法

Families Citing this family (84)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006052616A1 (en) 2004-11-03 2006-05-18 Tessera, Inc. Stacked packaging improvements
TWI391887B (zh) * 2004-11-24 2013-04-01 Semiconductor Energy Lab 顯示裝置和其驅動方法
JP4961111B2 (ja) * 2005-02-28 2012-06-27 富士フイルム株式会社 光電変換膜積層型固体撮像素子とその製造方法
JP4321502B2 (ja) * 2005-07-07 2009-08-26 セイコーエプソン株式会社 駆動回路、電気光学装置及び電子機器
JP4926426B2 (ja) * 2005-08-12 2012-05-09 株式会社半導体エネルギー研究所 電子機器
KR101324756B1 (ko) * 2005-10-18 2013-11-05 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 및 그의 구동방법
WO2007059623A1 (en) * 2005-11-23 2007-05-31 Ifire Technology Corp. Colour conversion and optical enhancement layers for electroluminescent displays
US20070120478A1 (en) * 2005-11-28 2007-05-31 Au Optronics Corporation Double-sided display device and method of making same
KR100662992B1 (ko) * 2005-12-14 2006-12-28 삼성에스디아이 주식회사 유기전계 발광표시장치의 구동집적회로 및 그 제조방법
US8058101B2 (en) 2005-12-23 2011-11-15 Tessera, Inc. Microelectronic packages and methods therefor
JP2007242816A (ja) * 2006-03-07 2007-09-20 Toppan Printing Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンスデバイス及びその製造方法
JP2008145840A (ja) * 2006-12-12 2008-06-26 Fujifilm Corp 表示装置
KR100839750B1 (ko) * 2007-01-15 2008-06-19 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치
US8884846B2 (en) * 2007-02-28 2014-11-11 Japan Display Inc. Organic EL display device
TW200907905A (en) * 2007-08-15 2009-02-16 Tpo Displays Corp System for displaying image
KR101574125B1 (ko) * 2008-07-16 2015-12-04 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
TWI400545B (zh) * 2009-07-09 2013-07-01 Prime View Int Co Ltd 顯示面板
WO2011027649A1 (en) 2009-09-02 2011-03-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device including a transistor, and manufacturing method of semiconductor device
EP2476149B1 (en) * 2009-09-11 2018-11-14 Koninklijke Philips N.V. Oled devices with protection cover
EP2486595B1 (en) * 2009-10-09 2019-10-23 Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. Semiconductor device
WO2011043194A1 (en) 2009-10-09 2011-04-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
KR101394936B1 (ko) * 2009-11-06 2014-05-14 엘지디스플레이 주식회사 광차단층을 갖는 평판 표시 장치
WO2011065208A1 (en) 2009-11-27 2011-06-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
WO2011108020A1 (ja) * 2010-03-01 2011-09-09 パナソニック株式会社 有機el装置およびその製造方法
WO2011158704A1 (en) * 2010-06-18 2011-12-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
KR101845480B1 (ko) * 2010-06-25 2018-04-04 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치의 제작 방법
US8482111B2 (en) 2010-07-19 2013-07-09 Tessera, Inc. Stackable molded microelectronic packages
US9159708B2 (en) 2010-07-19 2015-10-13 Tessera, Inc. Stackable molded microelectronic packages with area array unit connectors
US8697569B2 (en) 2010-07-23 2014-04-15 Tessera, Inc. Non-lithographic formation of three-dimensional conductive elements
US20120121822A1 (en) * 2010-11-12 2012-05-17 Kai-Ti Yang Manufacture method for thin film frame layer of display panel
KR101075241B1 (ko) 2010-11-15 2011-11-01 테세라, 인코포레이티드 유전체 부재에 단자를 구비하는 마이크로전자 패키지
US20120146206A1 (en) 2010-12-13 2012-06-14 Tessera Research Llc Pin attachment
RU2461022C1 (ru) * 2011-04-15 2012-09-10 Закрытое Акционерное Общество "Импульс" Плоскопанельный приемник рентгеновского излучения и способ его изготовления
KR101128063B1 (ko) 2011-05-03 2012-04-23 테세라, 인코포레이티드 캡슐화 층의 표면에 와이어 본드를 구비하는 패키지 적층형 어셈블리
US8618659B2 (en) 2011-05-03 2013-12-31 Tessera, Inc. Package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface
KR101953724B1 (ko) 2011-08-26 2019-03-04 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 모듈, 발광 장치, 발광 모듈의 제작 방법, 발광 장치의 제작 방법
US8404520B1 (en) 2011-10-17 2013-03-26 Invensas Corporation Package-on-package assembly with wire bond vias
US8946757B2 (en) 2012-02-17 2015-02-03 Invensas Corporation Heat spreading substrate with embedded interconnects
US8372741B1 (en) 2012-02-24 2013-02-12 Invensas Corporation Method for package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface
US9349706B2 (en) 2012-02-24 2016-05-24 Invensas Corporation Method for package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface
US8835228B2 (en) 2012-05-22 2014-09-16 Invensas Corporation Substrate-less stackable package with wire-bond interconnect
US9391008B2 (en) 2012-07-31 2016-07-12 Invensas Corporation Reconstituted wafer-level package DRAM
US9502390B2 (en) 2012-08-03 2016-11-22 Invensas Corporation BVA interposer
KR101924526B1 (ko) * 2012-08-22 2018-12-04 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시장치 및 그 제조방법
US8975738B2 (en) 2012-11-12 2015-03-10 Invensas Corporation Structure for microelectronic packaging with terminals on dielectric mass
US8878353B2 (en) 2012-12-20 2014-11-04 Invensas Corporation Structure for microelectronic packaging with bond elements to encapsulation surface
US9136254B2 (en) 2013-02-01 2015-09-15 Invensas Corporation Microelectronic package having wire bond vias and stiffening layer
US9023691B2 (en) 2013-07-15 2015-05-05 Invensas Corporation Microelectronic assemblies with stack terminals coupled by connectors extending through encapsulation
US9034696B2 (en) 2013-07-15 2015-05-19 Invensas Corporation Microelectronic assemblies having reinforcing collars on connectors extending through encapsulation
US8883563B1 (en) 2013-07-15 2014-11-11 Invensas Corporation Fabrication of microelectronic assemblies having stack terminals coupled by connectors extending through encapsulation
US9167710B2 (en) 2013-08-07 2015-10-20 Invensas Corporation Embedded packaging with preformed vias
US9685365B2 (en) 2013-08-08 2017-06-20 Invensas Corporation Method of forming a wire bond having a free end
US20150076714A1 (en) 2013-09-16 2015-03-19 Invensas Corporation Microelectronic element with bond elements to encapsulation surface
US9087815B2 (en) 2013-11-12 2015-07-21 Invensas Corporation Off substrate kinking of bond wire
US9082753B2 (en) 2013-11-12 2015-07-14 Invensas Corporation Severing bond wire by kinking and twisting
US9263394B2 (en) 2013-11-22 2016-02-16 Invensas Corporation Multiple bond via arrays of different wire heights on a same substrate
US9379074B2 (en) 2013-11-22 2016-06-28 Invensas Corporation Die stacks with one or more bond via arrays of wire bond wires and with one or more arrays of bump interconnects
US9583456B2 (en) 2013-11-22 2017-02-28 Invensas Corporation Multiple bond via arrays of different wire heights on a same substrate
US9583411B2 (en) 2014-01-17 2017-02-28 Invensas Corporation Fine pitch BVA using reconstituted wafer with area array accessible for testing
US9214454B2 (en) 2014-03-31 2015-12-15 Invensas Corporation Batch process fabrication of package-on-package microelectronic assemblies
US10381326B2 (en) 2014-05-28 2019-08-13 Invensas Corporation Structure and method for integrated circuits packaging with increased density
US9646917B2 (en) 2014-05-29 2017-05-09 Invensas Corporation Low CTE component with wire bond interconnects
US9412714B2 (en) 2014-05-30 2016-08-09 Invensas Corporation Wire bond support structure and microelectronic package including wire bonds therefrom
US9735084B2 (en) 2014-12-11 2017-08-15 Invensas Corporation Bond via array for thermal conductivity
KR102257762B1 (ko) * 2015-01-07 2021-05-28 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US9888579B2 (en) 2015-03-05 2018-02-06 Invensas Corporation Pressing of wire bond wire tips to provide bent-over tips
US9502372B1 (en) 2015-04-30 2016-11-22 Invensas Corporation Wafer-level packaging using wire bond wires in place of a redistribution layer
US9761554B2 (en) 2015-05-07 2017-09-12 Invensas Corporation Ball bonding metal wire bond wires to metal pads
CN104849900A (zh) * 2015-06-03 2015-08-19 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的制备方法及显示面板、显示装置
JP2017009725A (ja) * 2015-06-19 2017-01-12 ソニー株式会社 表示装置
US10746998B2 (en) * 2015-07-22 2020-08-18 Sony Corporation Optical device, image display device, and display device
CN105161011B (zh) * 2015-08-11 2018-12-04 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其制作方法、显示装置和智能穿戴设备
US9490222B1 (en) 2015-10-12 2016-11-08 Invensas Corporation Wire bond wires for interference shielding
US10490528B2 (en) 2015-10-12 2019-11-26 Invensas Corporation Embedded wire bond wires
US10332854B2 (en) 2015-10-23 2019-06-25 Invensas Corporation Anchoring structure of fine pitch bva
US10181457B2 (en) 2015-10-26 2019-01-15 Invensas Corporation Microelectronic package for wafer-level chip scale packaging with fan-out
US10043779B2 (en) 2015-11-17 2018-08-07 Invensas Corporation Packaged microelectronic device for a package-on-package device
US9659848B1 (en) 2015-11-18 2017-05-23 Invensas Corporation Stiffened wires for offset BVA
US9984992B2 (en) 2015-12-30 2018-05-29 Invensas Corporation Embedded wire bond wires for vertical integration with separate surface mount and wire bond mounting surfaces
US9935075B2 (en) 2016-07-29 2018-04-03 Invensas Corporation Wire bonding method and apparatus for electromagnetic interference shielding
US10299368B2 (en) 2016-12-21 2019-05-21 Invensas Corporation Surface integrated waveguides and circuit structures therefor
CN106783939B (zh) * 2017-03-03 2020-04-03 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制造方法
KR102310101B1 (ko) * 2017-03-27 2021-10-08 삼성전자주식회사 무반사층을 포함하는 디스플레이 장치 및 이를 구비한 전자 장치
KR20210025417A (ko) * 2019-08-27 2021-03-09 엘지디스플레이 주식회사 스트레쳐블 표시 장치

Family Cites Families (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4009083A (en) * 1971-09-02 1977-02-22 The Dow Chemical Company Regeneration of liquid desiccants and acid gas absorbing liquid desiccants
US3937964A (en) * 1974-06-21 1976-02-10 G. D. Searle & Co. Scintillation camera with second order resolution
US4357557A (en) 1979-03-16 1982-11-02 Sharp Kabushiki Kaisha Glass sealed thin-film electroluminescent display panel free of moisture and the fabrication method thereof
US4611584A (en) * 1980-05-15 1986-09-16 Medical Engineering Corp. Expandable penile implant
EP0326615B1 (en) 1986-09-19 1993-11-10 Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Thin-film el device
JP2742057B2 (ja) 1988-07-14 1998-04-22 シャープ株式会社 薄膜elパネル
US4877675A (en) * 1988-09-29 1989-10-31 Waqidi Falicoff Light transmitting or reflective sheet responsive to temperature variations
US5189405A (en) 1989-01-26 1993-02-23 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film electroluminescent panel
JPH0329291A (ja) 1989-06-27 1991-02-07 Sumitomo Bakelite Co Ltd 有機分散型elランプ用捕水フィルム
US5240979A (en) * 1991-01-16 1993-08-31 Union Carbide Chemicals & Plastics Technology Corporation Surface coating and method for applying same
JPH07249766A (ja) 1994-03-10 1995-09-26 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP3637078B2 (ja) 1994-08-29 2005-04-06 三井化学株式会社 ガスバリヤー性低透湿性絶縁性透明電極用基板およびその用途
US5962962A (en) 1994-09-08 1999-10-05 Idemitsu Kosan Co., Ltd. Method of encapsulating organic electroluminescence device and organic electroluminescence device
JPH0896959A (ja) 1994-09-27 1996-04-12 Sumitomo Electric Ind Ltd 有機エレクトロルミネッセンス素子
JPH09141743A (ja) 1995-11-24 1997-06-03 N P C:Kk ラミネート装置
US6853083B1 (en) * 1995-03-24 2005-02-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transfer, organic electroluminescence display device and manufacturing method of the same
US5771562A (en) 1995-05-02 1998-06-30 Motorola, Inc. Passivation of organic devices
JP2915327B2 (ja) 1995-07-19 1999-07-05 キヤノン株式会社 太陽電池モジュール及びその製造方法
TW439003B (en) 1995-11-17 2001-06-07 Semiconductor Energy Lab Display device
JPH09148066A (ja) 1995-11-24 1997-06-06 Pioneer Electron Corp 有機el素子
US5686360A (en) 1995-11-30 1997-11-11 Motorola Passivation of organic devices
US5811177A (en) 1995-11-30 1998-09-22 Motorola, Inc. Passivation of electroluminescent organic devices
TW309633B (zh) 1995-12-14 1997-07-01 Handotai Energy Kenkyusho Kk
JP3289125B2 (ja) 1996-03-15 2002-06-04 ソニーケミカル株式会社 光情報記録媒体
US5693956A (en) 1996-07-29 1997-12-02 Motorola Inverted oleds on hard plastic substrate
JP3825843B2 (ja) 1996-09-12 2006-09-27 キヤノン株式会社 太陽電池モジュール
JPH10172762A (ja) 1996-12-11 1998-06-26 Sanyo Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス素子を用いた表示装置の製造方法及び表示装置
JPH10209474A (ja) 1997-01-21 1998-08-07 Canon Inc 太陽電池モジュール及びその製造方法
US5952778A (en) 1997-03-18 1999-09-14 International Business Machines Corporation Encapsulated organic light emitting device
JP3290375B2 (ja) 1997-05-12 2002-06-10 松下電器産業株式会社 有機電界発光素子
US6198220B1 (en) 1997-07-11 2001-03-06 Emagin Corporation Sealing structure for organic light emitting devices
EP0899987A1 (en) 1997-08-29 1999-03-03 TDK Corporation Organic electroluminescent device
KR100249784B1 (ko) 1997-11-20 2000-04-01 정선종 고분자복합막을이용한유기물혹은고분자전기발광소자의패키징방법
US6146225A (en) 1998-07-30 2000-11-14 Agilent Technologies, Inc. Transparent, flexible permeability barrier for organic electroluminescent devices
US6080031A (en) * 1998-09-02 2000-06-27 Motorola, Inc. Methods of encapsulating electroluminescent apparatus
US6274887B1 (en) 1998-11-02 2001-08-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method therefor
US6268695B1 (en) 1998-12-16 2001-07-31 Battelle Memorial Institute Environmental barrier material for organic light emitting device and method of making
CN2384314Y (zh) * 1999-07-15 2000-06-21 张志林 有多层密封的有机薄膜电致发光元件
JP3942770B2 (ja) 1999-09-22 2007-07-11 株式会社半導体エネルギー研究所 El表示装置及び電子装置
US6413645B1 (en) 2000-04-20 2002-07-02 Battelle Memorial Institute Ultrabarrier substrates
US6326109B1 (en) * 2000-03-22 2001-12-04 Eastman Kodak Company Two-sided imaging member
TW577813B (en) * 2000-07-10 2004-03-01 Semiconductor Energy Lab Film forming apparatus and method of manufacturing light emitting device
CN1162718C (zh) * 2000-07-11 2004-08-18 奥普逖娃公司 用于偏振镜生产的工艺装置
US6822629B2 (en) * 2000-08-18 2004-11-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US6864628B2 (en) * 2000-08-28 2005-03-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device comprising light-emitting layer having triplet compound and light-emitting layer having singlet compound
MY145695A (en) * 2001-01-24 2012-03-30 Nichia Corp Light emitting diode, optical semiconductor device, epoxy resin composition suited for optical semiconductor device, and method for manufacturing the same
JP3758512B2 (ja) * 2001-03-02 2006-03-22 セイコーエプソン株式会社 電子機器
JP2003046034A (ja) * 2001-07-31 2003-02-14 Nec Kagobutsu Device Kk 樹脂封止型半導体装置
JP3865056B2 (ja) * 2002-01-22 2007-01-10 セイコーエプソン株式会社 封止用基板の製造方法
US6791256B2 (en) * 2002-02-15 2004-09-14 Hitachi, Ltd. Display device having an improved envelope for containing pixels therein
KR100426964B1 (ko) * 2002-03-20 2004-04-13 엘지.필립스 엘시디 주식회사 유기전계발광 소자 및 그의 제조방법
US6927761B2 (en) * 2002-03-29 2005-08-09 3M Innovative Properties Company Moisture deflector for capacitive NFI touch screens for use with bezels of conductive material
JP2003297558A (ja) 2002-04-03 2003-10-17 Seiko Epson Corp エレクトロルミネッセンス装置とその製造方法、電子機器
US7067170B2 (en) * 2002-09-23 2006-06-27 Eastman Kodak Company Depositing layers in OLED devices using viscous flow
US7169461B2 (en) * 2002-10-17 2007-01-30 Asahi Glass Company, Limited Laminate, a substrate with wires, an organic EL display element, a connection terminal for the organic EL display element and a method for producing each
KR100691168B1 (ko) * 2003-02-27 2007-03-09 섬모픽스, 인코포레이티드 유전 장벽층 필름
US7259110B2 (en) * 2004-04-28 2007-08-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing method of display device and semiconductor device
US7491590B2 (en) * 2004-05-28 2009-02-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing thin film transistor in display device
US8217396B2 (en) * 2004-07-30 2012-07-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device comprising electrode layer contacting wiring in the connection region and extending to pixel region
US7280181B2 (en) * 2005-06-30 2007-10-09 Intel Corporation Liquid crystal polymer optical filter carrier

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101101872B (zh) * 2006-07-04 2011-07-13 株式会社半导体能源研究所 一种半导体装置及其制造方法
CN101950113A (zh) * 2009-07-10 2011-01-19 元太科技工业股份有限公司 显示面板
TWI582976B (zh) * 2011-09-02 2017-05-11 三星顯示器有限公司 有機發光顯示裝置以及製造該有機發光顯示裝置之方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN1638536B (zh) 2010-04-28
US20050140265A1 (en) 2005-06-30
US7495644B2 (en) 2009-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1638536A (zh) 显示器件及制造该显示器件方法
CN101834201B (zh) 显示器件及其制作方法
CN1750719A (zh) 显示器件及其制造方法
CN1728900A (zh) 显示器件及其制造方法
US8362693B2 (en) Display device and manufacturing method of display device
US7579270B2 (en) Method for manufacturing a semiconductor device
CN1674227A (zh) 形成图案的方法,薄膜晶体管,显示设备及制法和应用
CN1702837A (zh) 图形形成方法,薄膜晶体管、显示器及其制造方法及电视设备
CN1828931A (zh) 半导体装置、电子装置及半导体装置的制造方法
CN1797757A (zh) 半导体装置、显示装置及其制造方法,以及电视装置
CN1934713A (zh) 形成图案的方法,薄膜晶体管,显示设备及其制造方法,以及电视设备
CN1808722A (zh) 显示器件及其制备方法
CN1845648A (zh) 发光装置,电子设备和电视装置
CN1372325A (zh) 发光器件及其制造方法
CN1897300A (zh) 显示设备和所述显示设备的制造方法
CN1716650A (zh) 发光器件及制造发光器件的方法
CN1815686A (zh) 半导体器件及其制造方法
CN1458697A (zh) 半导体器件及其制作方法
CN1591922A (zh) 电子设备,半导体器件,以及适用于制造此类器件的方法
CN1862848A (zh) 制造显示器的方法
CN1596045A (zh) 发光器件及其制造方法
CN1871711A (zh) 显示器件及其制造方法,以及电视接收机
JP4801347B2 (ja) 表示装置
JP4704006B2 (ja) 表示装置及びその作製方法、並びに電子機器
US7825021B2 (en) Method for manufacturing display device

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20100428

Termination date: 20211227

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee