CN105102926A - 三维坐标扫描仪和操作方法 - Google Patents

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Abstract

一种非接触式光学三维测量装置，包括：投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置；处理器，其电耦接至投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置；以及计算机可读介质，该计算机可读介质在被处理器执行时使得第一数字信号在第一时间处被采集并且使得第二数字信号在与第一时间不同的第二时间处被采集，并且至少部分地基于第一数字信号和第一距离来确定表面上的第一点的三维坐标，并且至少部分地基于第二数字信号和第二距离来确定表面上的第二点的三维坐标。

Description

三维坐标扫描仪和操作方法
技术领域
本文所公开的主题涉及三维坐标扫描仪，并且更特别地涉及具有多个数据获取模式的三角测量型扫描仪。
背景技术
已知对对象或环境的三维坐标的获取。可以使用各种技术，例如诸如飞行时间或三角测量方法。诸如激光跟踪仪、全站仪或飞行时间扫描仪的飞行时间系统可以将诸如激光光束的光束朝向对象的表面上的回射器目标或点引导。绝对距离测量仪用于基于光行进至目标或点并且返回所花费的时间长度来确定到目标或点的距离。通过将激光光束或目标在对象的表面上移动，可以确定对象的坐标。飞行时间系统的优势在于具有相对高的精度，但是，在一些情况下，因为飞行时间系统通常必须分别地测量表面上的每个点，所以飞行时间系统与一些其他系统相比会较慢。
相比之下，使用三角测量来测量三维坐标的扫描仪将以线状的光图案(例如，来自激光线型探针的激光线)投射到表面上，或者将覆盖一定区域的光的图案(例如，结构化的光)投射到表面上。例如通过将摄像装置和投影仪附接至共用的支架，而将摄像装置以固定的关系耦接至投影仪。从投影仪发射的光从表面反射并且被摄像装置检测到。由于摄像装置和投影仪以固定关系被布置，因此可以使用三角原理来确定到对象的距离。与使用接触式探针的坐标测量装置相比，三角测量系统在大片区域上快速地获取坐标数据方面提供优势。如本文所使用的，由三角测量系统提供的三维坐标值的所得的集合被称为点云数据或简单地被称为点云。
当使用激光扫描仪时，许多问题会妨碍对高精度的点云数据的获取。例如，这些问题包括但是不限于：由于对象表面的反射率的变化或表面相对于投射光的入射角的变化而引起的在摄像装置像面上接收到的光的水平的变化；边缘(诸如孔的边缘)附近的低分辨率；以及多径干扰。在一些情况下，操作者可能未意识到问题或不能消除问题。在这些情况下，结果是丢失点云数据或者错误的点云数据。
因此，虽然现有的扫描仪适合用于其意图的目的，但是仍然需要改善，特别是在提供可以适应于不利状况并且提供改善的数据点获取的扫描仪方面仍然需要改善。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供了一种非接触式光学三维测量装置。该非接触式光学三维包括：组件，该组件包括投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置，其中，投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置被关于彼此固定，在投影仪与第一摄像装置之间存在第一距离并且在投影仪与第二摄像装置之间存在第二距离，投影仪具有光源，投影仪被配置成将具有多个空间上变化的图案中的任一图案的第一光发射至对象的表面上，第一摄像装置具有第一透镜和第一光敏阵列，第一摄像装置被配置成接收从表面反射的第一光的第一部分并且作为响应产生第一数字信号，第一摄像装置具有第一视场，该第一视场是第一摄像装置的第一角观看区域，第二摄像装置具有第二透镜和第二光敏阵列，第二摄像装置被配置成接收从表面反射的第一光的第二部分并且作为响应产生第二数字信号，第二摄像装置具有第二视场，该第二视场是第二摄像装置的第二角观看区域，第二视场不同于第一视场；处理器，该处理器电耦接至投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置；以及计算机可读介质，该计算机可读介质在被处理器执行时使第一数字信号在第一时间处被采集并且使第二数字信号在不同于第一时间的第二时间处被采集，并且至少部分地基于第一数字信号和第一距离来确定表面上的第一点的三维坐标，并且至少部分地基于第二数字信号和第二距离来确定表面上的第二点的三维坐标。
根据本发明的一个方面，提供了一种确定对象的表面上的三维坐标的方法。所述方法包括：设置组件，该组件包括投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置，其中，投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置被关于彼此固定，在投影仪与第一摄像装置之间存在第一距离并且在投影仪与第二摄像装置之间存在第二距离，投影仪具有光源，投影仪被配置成将具有多个空间上变化的图案中的任一图案的第一光发射至表面上，第一摄像装置具有第一透镜和第一光敏阵列，第一摄像装置被配置成接收从表面反射的第一光的第一部分，第一摄像装置具有第一视场，该第一视场是第一摄像装置的第一角观看区域，第二摄像装置具有第二透镜和第二光敏阵列，第二摄像装置被配置成接收从表面反射的第一光的第二部分，第二摄像装置具有第二视场，该第二视场是第二摄像装置的第二角观看区域，第二视场不同于第一视场；设置处理器，处理器电耦接至投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置；在第一情况下，将具有选自多个空间上变化的图案当中的第一图案的第一光从投影仪发射至表面上；在第一情况下，利用第一摄像装置获取表面的第一图像，并且作为响应将第一数字信号发送至处理器；确定表面上的第一点的三维坐标的第一集合，该第一集合至少部分地基于第一图案、第一数字信号以及第一距离；进行诊断过程以评估第一集合的质量；确定选自多个空间上变化的图案当中的第一光的第二图案，第二图案至少部分地基于诊断过程的结果；在第二情况下，将具有第二图案的第一光从投影仪发射至表面上；在第二情况下，利用第二摄像装置获取表面的第二图像，并且作为响应将第二数字信号发送至处理器；以及确定表面上的第二点的三维坐标的第二集合，该第二集合至少部分地基于第二图案、第二数字信号以及第二距离。
根据结合附图的下文的描述，这些和其他优点和特征将变得更加清楚。
附图说明
被看作本发明的主题在说明书后所附的权利要求中被特别地指出并且清楚地要求保护。根据结合附图的下文的详细描述，本发明的前述和其他特征以及优点是清楚的，在附图中：
图1是根据本发明的实施例的扫描仪的俯视示意图；
图2是示出操作图1的扫描仪的方法的流程图；
图3是根据本发明的另一实施例的扫描仪的俯视示意图；
图4是示出操作图3的扫描仪的方法的流程图；
图5A是根据实施例的激光扫描仪内的元件的示意图；
图5B是示出操作根据实施例的扫描仪的方法的流程图；
图6是根据本发明的另一实施例的扫描仪的俯视示意图；
图7是示出操作根据实施例的扫描仪的方法的流程图；
图8A和图8B是根据本发明的实施例的结合远程探针装置使用的扫描仪的立体图；
图9是示出操作图5的扫描仪的方法的流程图；
图10是根据实施例的扫描仪的俯视示意图；
图11是示出操作图10的扫描仪的方法的流程图；以及
图12是示出根据实施例的诊断方法的流程图。
详细描述参照附图以举例的方式说明了本发明的实施例以及优势和特征。
具体实施方式
本发明的实施例在提高由扫描仪获取的数据点云的三维坐标的可靠性和精度方面提供了优势。本发明的实施例在检测所获取的数据中的异常以及自动地调整扫描仪的操作以获取期望的结果方面提供了优势。本发明的实施例在检测所获取的数据中的异常以及给操作者提供对需要附加数据获取的区域的指示方面提供了优势。本发明的另外的实施例在检测所获取的数据中的异常以及给操作者提供对在何处附加数据获取可以利用远程探针来获取的指示方面提供优势。
扫描仪装置获取对象的三维坐标数据。在一个实施例中，图1中示出的扫描仪20具有壳体22，该壳体22包括第一摄像装置24、第二摄像装置26以及投影仪28。投影仪28将光30发射到对象34的表面32上。在示例性实施例中，投影仪28使用用于照射图案生成器的可见光源。该可见光源可以是例如激光、超发光二极管、白炽灯、氙灯、发光二极管(LED)或其他发光器件。在一个实施例中，图案生成器是其上蚀刻有结构化光图案的镀铬玻璃载片。载片可以具有根据需要来回移动位置的多个图案或单一图案。载片可以被手动地或自动地安装在操作位置中。在其他实施例中，源图案可以是从数字微镜器件(DMD)反射的光或通过数字微镜器件透射的光，数字微镜器件例如为由德州仪器公司(TexasInstrumentsCorporation)制造的数字光投影仪(DLP)、液晶器件(LCD)、硅基液晶(LCOS)器件、或者在透射模式而非反射模式下使用的类似的器件。投影仪28还可以包括透镜系统36，该透镜系统36改变出射光以覆盖期望的区域。
在该实施例中，投影仪28被配置成将结构化光发射在区域37上。如本文所使用的，术语“结构化光”指投射到对象的区域上的光的二维图案，该二维图案传达可以用于确定对象上的点的坐标的信息。在一个实施例中，结构化光图案将包含设置在区域内的至少三个非共线图案元素。三个非共线图案元素中的每个元素均传达可以用于确定点坐标的信息。在另一实施例中，提供了被配置成投射区域图案以及线图案两者的投影仪。在一个实施例中，投影仪是被配置成在上述两者之间来回切换的数字微镜器件(DMD)。在一个实施例中，DMD投影仪还可以以光栅图案扫掠(sweep)点或者扫掠线。
通常，存在两种类型的结构化光图案，即编码的光图案和未编码的光图案。如本文所使用的，编码的光图案是以下光图案：在该光图案中，通过获取单个图像来得到对象的受照表面的三维坐标。利用编码的光图案，可以在投射装置相对于对象移动的同时获得并且登记点云数据。一种类型的编码的光图案包含一组元素(例如，几何形状)，该一组元素被布置在多个线上，其中元素中的至少三个元素不共线。这样的图案元素由于这些元素的布置而是可识别的。
相比之下，如本文中所使用的未编码的结构化光图案是不能够通过单个图案来测量的图案。可以依次投射并且成像一系列未编码的光图案。对于这种情况，通常需要将投影仪保持相对于对象固定。
应当理解，扫描仪20可以使用编码或未编码的结构化光图案。结构化光图案可以包括在由JasonGeng在SPIE会议录第7932卷中发表的杂志文章“DLP-BasedStructuredLight3DImagingTechnologiesandApplications”中公开的图案。此外，在本文中以下描述的一些实施例中，投影仪28发射扫掠的光线或扫掠的光点形成的图案。光的扫掠的线和点在识别一些类型的异常(例如多径干扰)方面提供了优于光的区域的优势。在保持扫描仪静止的同时自动地扫掠线还在对表面点提供更均匀的采样方面具有优势。
第一摄像装置24包括光敏传感器44，该光敏传感器44生成传感器的视场内的区域48的数字图像/表示。传感器可以是电荷耦合器件(CCD)型传感器，或者例如具有像素阵列的互补金属氧化物半导体(CMOS)型传感器。第一摄像装置24还可以包括其他部件，例如诸如但不限于透镜46和其他光学器件。透镜46具有关联的第一焦距。传感器44和透镜46协作以限定第一视场“X”。在示例性实施例中，第一视场“X”是16度(每英寸0.28英寸)。
类似地，第二摄像装置26包括光敏传感器38，该光敏传感器38生成传感器的视场内的区域40的数字图像/表示。传感器可以是电荷耦合器件(CCD)型传感器，或者例如具有像素阵列的互补金属氧化物半导体(CMOS)型传感器。第二摄像装置26还可以包括其他部件，例如诸如但不限于透镜42和其他光学器件。透镜42具有关联的第二焦距，第二焦距不同于第一焦距。传感器38和透镜42协作以限定第二视场“Y”。在示例性实施例中，第二视场“Y”是50度(每英寸0.85英寸)。第二视场Y大于第一视场X。类似地，区域40大于区域48。应当理解，较大视场使得所获取的对象表面32的给定区域能够被较快地测量；然而，如果光敏阵列44和38具有相同数量的像素，则较小的视场会提供较高的分辨率。
在示例性实施例中，投影仪28和第一摄像装置24以固定关系成角度地布置，使得传感器44可以接收从对象34的表面反射的光。类似地，投影仪28和第二摄像装置26以固定关系成角度地布置，使得传感器38可以接收从对象34的表面32反射的光。由于投影仪28、第一摄像装置24以及第二摄像装置26具有固定的几何关系，因此表面上的点的距离和坐标可以通过其三角关系来确定。虽然在图1中摄像装置24和摄像装置26的视场(FOV)被示出为未交叠，但是FOV可以部分交叠或者完全交叠。
投影仪28以及摄像装置24、摄像装置26电耦接至设置在壳体22内的控制器50。控制器50可以包括一个或更多个微处理器、数字信号处理器、存储器以及信号调节电路。扫描仪20还可以包括致动器(未示出)，该致动器可以被操作者手动地激活以开始由扫描仪20进行的操作和数据捕获。在一个实施例中，用于确定表示对象34的表面32的点云的X，Y，Z坐标数据的图像处理由控制器50执行。可以将坐标数据本地地存储在例如诸如易失性或非易失性存储器54中。存储器可以是可移除的，例如诸如闪存驱动器或存储卡。在其他实施例中，扫描仪20具有通信电路52，该通信电路52使扫描仪20能够将坐标数据发送至远程处理系统56。扫描仪20与远程处理系统56之间的通信介质58可以是有线的(例如，以太网)或无线的(例如，蓝牙、IEEE802.11)。在一个实施例中，由远程处理系统56基于由扫描仪20通过通信介质58发送的所获取的图像来确定坐标数据。
对象表面32与扫描仪20之间可以具有如双向箭头47所指示的相对运动。存在可提供这样的相对运动的几种方式。在实施例中，扫描仪是手持式扫描仪而对象34是固定的。通过在对象表面上方移动扫描仪来提供相对运动。在另一实施例中，扫描仪被附接至机器人末端执行器。当机器人在对象表面上方移动扫描仪时，由机器人来提供相对运动。在另一实施例中，扫描仪20或对象34被附接至移动的机械机制，例如龙门式坐标测量机或者关节臂CMM。当机械机制在对象表面上方移动扫描仪20时，由移动的机械机制提供相对移动。在一些实施例中，移动是由操作者的行为提供的，而在其他实施例中，移动是由计算机控制下的机制提供的。
现在参照图2，描述了扫描仪20根据方法1260的操作。如框1262所示，投影仪28首先将结构化光图案发射到对象34的表面32的区域37上。来自投影仪28的光30从表面32反射作为被第二摄像装置26接收的反射光62。表面32的三维轮廓影响被第二摄像装置26内的光敏阵列38捕获的图案的图像。控制器50或远程处理系统56使用从图案的一个或更多个图像采集的信息来确定光敏阵列38的像素与由投影仪28发射的光的图案之间的一一对应关系。使用该一一对应关系，三角测量原理用于确定表面32上的点的三维坐标。在框1264中示出了三维坐标数据(点云数据)的这种获取。通过在表面32上方移动扫描仪20，可以产生整个对象34的点云。
如框1266所示，在扫描处理期间，控制器50或远程处理系统56可以检测点云数据中的不良状况或问题。在下文中关于图12讨论用于检测这样的问题的方法。所检测的问题可以是例如特定区域中的点云数据的误差或缺失。数据的该误差或缺失可能由从该区域反射的太少或太多的光而引起。太少或太多的反射光可能是由于对象表面上的反射率的差异引起的，所述反射率差异是例如由于光30在对象表面32上的高入射角或可变的入射角引起的，或者由于低反射率(黑色或透明的)材料或有光泽的表面引起的。对象上的某些点可以成下述这样的角度：使得产生被称为闪耀的非常亮的镜面反射。
造成点云数据的误差或缺失的另一可能原因是在具有精细特征、锐利边缘或深度急剧变化的区域中的分辨率的不足。这样的分辨率的不足可以是例如孔引起的结果。
造成点云数据的误差或缺失的另一可能原因是多径干扰。通常，来自投影仪28的光线照射表面32上的点，并且在一定角度范围内散射。散射的光被摄像装置26的透镜42成像到光敏阵列38上的小点上。类似地，散射的光可以被摄像装置24的透镜46成像到光敏阵列44上的小点上。当到达表面32上的点的光不仅来自于来自投影仪28的光线而且此外来自于从表面32的另一部分反射的二次光时，多径干扰发生。这样的二次光会损害由光敏阵列38、44接收的光的图案，从而妨碍了对点的三维坐标的精确确定。在本申请中关于图12描述了用于识别多径干扰的存在的方法。
如果在框1266中控制器确定点云都正确，则过程完成。否则，则在框1268中确定在手动还是自动模式下使用扫描仪。如果模式是手动的，则在框1270中指导操作者将扫描仪移动到期望的位置。
存在可以指示操作者所期望的移动的许多方式。在实施例中，扫描仪本体上的指示灯指示期望的移动方向。在另一实施例中，将光投射至表面上来指示操作者要沿着其移动的方向。此外，投射的光的颜色可以指示扫描仪距对象是太近还是太远。在另一实施例中，在操作者要投射光的区域的显示上做出指示。这样的显示可以是点云数据的图形表示、CAD模型或二者的组合。显示可以被呈现在计算机监测器上，或者被呈现在扫描仪装置中内建的显示器上。
在这些实施例中的任一实施例中，期望的是确定扫描仪的近似位置的方法。在一种情况下，扫描仪可以附接至关节臂CMM，该关节臂CMM使用其关节中的角度编码器来确定附接至其末端的扫描仪的位置和定向。在另一情况下，扫描仪包括放置在装置内的惯性传感器。惯性传感器可以包括例如陀螺仪、加速度计和磁力计。确定扫描仪的近似位置的另一方法是照射放置在对象上或对象周围作为标记点的摄影测量点。以这种方式，扫描仪中的宽FOV摄像装置可以确定扫描仪相对于对象的近似位置。
在另一实施例中，计算机屏幕上的CAD模型指示期望附加测量的区域，并且操作者根据通过将对象上的特征与扫描仪上的特征相匹配来移动扫描仪。通过随着扫描的进行而更新屏幕上的CAD模型，可以向操作者给出对是否已测量了该部分的期望区域的快速反馈。
在操作者将扫描仪移动就位之后，在框1272中，利用小FOV摄像装置24进行测量。通过在框1272中查看相对较小的区域，改善了得到的三维坐标的分辨率，并且提供了对诸如孔和边缘的特征进行表征的较好的能力。
因为与宽FOV摄像装置相比，窄FOV摄像装置查看相对较小的区域，因此投影仪28可以照射相对较小的区域。这在消除多径干扰方面具有优势，这是因为在对象上存在相对较少的可将光反射回对象的受照点。具有较小的受照区域还可以使得更容易控制曝光，以针对被测对象的给定反射率和入射角获得最佳光量。在框1274中，如果所有点已被采集，则在框1276处过程结束；否则，则过程继续。
在实施例中，在来自框1268的模式是自动的情况下，则在框1278中，自动机制将扫描仪移动到期望的位置。在一些实施例中，自动机制将具有用于提供关于扫描仪与被测对象的相对位置的信息的传感器。对于其中自动机制是机器人的实施例，机器人关节内的角度传感器(angulartransducer)提供关于被用于保持扫描仪的机器人末端执行器的位置和定向的信息。对于其中由另一类型的自动机制来移动对象的实施例，线性编码器或者各种其他传感器可以提供关于对象与扫描仪的相对位置的信息。
在自动机制将扫描仪或对象移动就位后，然后在框1280中，利用小FOV摄像装置进行三维测量。借助于框1282重复这样的测量，直到完成所有的测量为止，并且在框1284处过程结束。
在一个实施例中，当扫描仪从利用第二摄像装置26获取数据切换至第一摄像装置24时，投影仪28改变结构化光图案。在另一实施例中，两个摄像装置24、26使用相同的结构化光图案。在又一实施例中，当由第一摄像装置24获取数据时，投影仪28发射通过扫掠的线或点形成的图案。在利用第一摄像装置24获取数据之后，该处理使用第二摄像装置26继续扫描。该处理继续直到操作者扫描完该部分的期望区域为止。
应当理解，虽然图2的处理被示出为线性或顺序处理，但是在其他实施例中，可以并行执行所示出的步骤中的一个或更多个步骤。在图2中示出的方法中，涉及的方法首先测量整个对象，然后根据对所获取的点云数据的评估来进行进一步详细的测量。使用扫描仪20的替选方式通过使用具有小FOV的摄像装置24来测量详细的或临界的区域而开始。
还应当理解，提供改变摄像装置透镜或投影仪透镜的方式来作为改变扫描系统中的摄像装置或投影仪的FOV的方式是现有的扫描系统中的常规做法。然而，这样的改变是耗时的并且一般需要下述附加的补偿步骤，在该补偿步骤中，人工制品(例如点板(dotplate))被放置在摄像装置或投影仪的前面，以确定针对摄像装置或投影仪系统的像差校正参数。因此，提供了具有不同FOV的两个摄像装置(例如图1的摄像装置24、26)的扫描系统在测量速度方面以及扫描仪用于全自动模式的可实施性方面提供了显著的优势。
图3中示出了扫描仪20的另一实施例，该扫描仪20具有壳体22，该壳体22包括第一坐标获取系统76和第二坐标获取系统78。第一坐标获取系统76包括第一投影仪80和第一摄像装置82。与图1的实施例类似，投影仪80将光84发射到对象34的表面32上。在示例性实施例中，投影仪80使用用于照射图案生成器的可见光源。可见光源可以是激光、超发光二极管、白炽灯、发光二极管(LED)或其他发光器件。在一个实施例中，图案生成器是其上蚀刻有结构化光图案的镀铬玻璃载片。载片可以具有根据需要来回移动位置的多个图案或单一图案。载片可以被手动地或自动地安装在操作位置中。在其他实施例中，源图案可以是从数字微镜器件(DMD)反射的光或通过数字微镜器件透射的光，数字微镜器件例如为由德州仪器公司制造的数字光投影仪(DLP)、液晶器件(LCD)、硅基液晶(LCOS)器件、或者在透射模式而非反射模式中使用的类似的器件。投影仪80还可以包括透镜系统86，该透镜系统86改变出射光以具有期望的聚焦特性。
第一摄像装置82包括光敏阵列传感器88，该光敏阵列传感器88生成传感器的视场内的区域90的数字图像/表示。传感器可以是电荷耦合器件(CCD)型传感器，或者例如具有像素阵列的互补金属氧化物半导体(CMOS)型传感器。第一摄像装置82还可以包括其他部件，例如诸如但不限于透镜92和其他光学器件。第一投影仪80和第一摄像装置82以固定关系成角度地布置，使得第一摄像装置82可以检测从对象34的表面32反射的来自第一投影仪80的光85。应当理解，由于第一摄像装置92和第一投影仪80以固定关系被布置，因此以上所讨论的三角原理可以用于确定区域90内的表面32上的点的坐标。虽然为了清楚起见，图3被描绘成第一摄像装置82靠近第一投影仪80，但是应当理解，摄像装置可以被放置在较靠近壳体22的另一侧。通过使第一摄像装置82和第一投影仪80间隔更远，预期改善3D测量的精度。
第二坐标获取系统78包括第二投影仪94和第二摄像装置96。投影仪94具有光源，该光源可以包括激光、发光二极管(LED)、超发光二极管(SLED)、氙灯或某些其他合适类型的光源。在实施例中，透镜98用于将从激光光源接收的光聚焦成光线100，并且透镜98可以包括一个或更多个圆柱透镜或多种其他形状的透镜。因为透镜可以包括一个或更多个单个透镜或透镜组，因此透镜还被称为“透镜系统”。光线基本上是直的，即，与线的最大偏离将小于该线的长度的1％。实施例可以使用的一种类型的透镜是棒形透镜。棒形透镜一般是以玻璃或者塑料制成的完整圆柱体的形状，该圆柱体的圆周和两个底被抛光。这样的透镜将通过棒的直径的准直光转变成线。可以使用的另一类型的透镜是圆柱形透镜。圆柱形透镜是具有局部圆柱的形状的透镜。例如，圆柱形透镜的一个表面可以是平的，而相对的表面是圆柱形式的。
在另一实施例中，投影仪94生成覆盖表面32的区域的二维光图案。然后，所得到的坐标获取系统78被称为结构化光扫描仪。
第二摄像装置96包括传感器102，例如诸如电荷耦合器件(CCD)型传感器或者互补金属氧化物半导体(CMOS)型传感器。第二摄像装置96还可以包括其他部件，例如诸如但不限于透镜104和其他光学器件。第二投影仪94和第二摄像装置96成角度地布置，使得第二摄像装置96可以检测从对象34反射的来自第二投影仪94的光106。应当理解，由于第二投影仪94和第二摄像装置96以固定关系被布置，因此以上所讨论的三角原理可以用于确定处于由光形成的线100上的、表面32上的点的坐标。还应当理解，摄像装置96和投影仪94可以被定位在壳体22的相对侧上以增加3D测量精度。
在另一实施例中，第二坐标获取系统被配置成投射多种图案，所述多种图案不仅可以包括固定的光线而且包括扫掠的光线、扫掠的光点、编码的光图案(覆盖一定区域)或连续的光图案(覆盖一定区域)。每种类型的投射图案具有不同的优势，例如速度、精度以及抗多径干扰性。通过针对每个特定测量来评估性能需要和/或通过审查返回数据的特性或者预期的对象形状的特性(根据基于所采集的扫描数据的3D重构或者根据CAD模型)，可以选择使性能最优化的投射图案的类型。
在另一实施例中，从第二坐标获取系统78到对象表面32的距离不同于从第一坐标获取系统76到对象表面32的距离。例如，摄像装置96可以被定位成比摄像装置88更靠近对象32。以这种方式，第二坐标获取系统78的分辨率和精度可以相对于第一坐标获取系统76的分辨率和精度而言有所改善。在许多情况下，有益的是利用较低分辨率系统76快速地扫描相对大并且光滑的对象，然后利用较高分辨率系统78扫描包括边缘和孔的细节。
可以在手动模式下或在自动模式下使用扫描仪20。在手动模式下，根据被使用的获取系统来提示操作者将扫描仪移动得离对象表面更近或更远。此外，扫描仪20可以投射用于向操作者指示扫描仪要被移动的方向的光束或光图案。可替代地，装置上的指示灯可以指示扫描仪应当被移动的方向。在自动模式下，扫描仪20或对象34可以根据测量要求相对于彼此自动地移动。
与图1的实施例类似，第一坐标获取系统76和第二坐标获取系统78电耦接至设置在壳体22内的控制器50。控制器50可以包括一个或更多个微处理器、数字信号处理器、存储器和信号调节电路。扫描仪20还可以包括致动器(未示出)，该致动器可以被操作者手动地激活以开始由扫描仪20进行的操作和数据捕获。在一个实施例中，用于确定表示对象34的表面32的点云的X，Y，Z坐标数据的图像处理由控制器50执行。可以将坐标数据本地地存储在例如诸如易失性或非易失性存储器54中。存储器可以是可移除的，例如诸如闪存驱动器或存储卡。在其他实施例中，扫描仪20具有通信电路52，该通信电路52使扫描仪20能够将坐标数据发送至远程处理系统56。扫描仪20与远程处理系统56之间的通信介质58可以是有线的(例如，以太网)或无线的(例如，蓝牙、IEEE802.11)。在一个实施例中，由远程处理系统56确定坐标数据，并且扫描仪20在通信介质58上发送所获取的图像。
现在参照图4，将描述操作图3的扫描仪20的方法1400。在框1402中，扫描仪20的第一坐标获取系统76的第一投影仪80将结构化光图案发射到对象34的表面32的区域90上。来自投影仪80的光84从表面32反射，并且反射光85被第一摄像装置82接收。如上文所讨论的，表面32的表面轮廓的变化产生由第一光敏阵列88接收的光的成像的图案的变形。由于图案是由结构化光、光线或光点形成的，因此在一些情况下控制器50或远程处理系统56可以确定表面32上的点与光敏阵列88中的像素之间的一一对应关系。这使得在框1404中能够使用以上所讨论的三角测量原理来获得点云数据，也就是说确定表面32上的点的X，Y，Z坐标。通过相对于表面32移动扫描仪20，可以创建整个对象34的点云。
在框1406中，控制器50或远程处理系统56确定点云数据是拥有期望的数据质量属性还是具有潜在问题。在上文中参照图2讨论了可能发生的问题的类型，并且在此处不再重复该讨论。如果在框1406中控制器确定点云具有期望的数据质量属性，则过程结束。否则，则在框1408中确定是在手动还是自动模式下使用扫描仪。如果模式是手动的，则在框1410中指导操作者将扫描仪移动到期望的位置。
如在上文中参照图2描述的那样，存在指示操作者的期望移动的数种方式。此处不再重复该讨论。
为了指导操作者获得期望的移动，需要用于确定扫描仪的近似位置的方法。如参照图2说明的那样，所述方法可以包括将扫描仪20附接至关节臂CMM、使用扫描仪20内的惯性传感器、照射摄影测量点或者使特征与显示的图像相匹配。
在操作者将扫描仪移动就位之后，在框1412中，利用第二坐标获取系统78进行测量。通过使用第二坐标获取系统，可以改善分辨率和精度，或者可以消除问题。在框1414中，如果所有点已被采集，则在框1416处过程结束；否则，则过程继续。
如果来自框1408的操作模式是自动的，则在框1418中，自动机制将扫描仪移动到期望的位置。在大多数情况下，自动机制将具有用于提供关于扫描仪与被测对象的相对位置的信息的传感器。对于自动机制是机器人的情况，机器人关节内的角度传感器提供关于被用于保持扫描仪的机器人末端执行器的位置和定向的信息。对于其他类型的自动机制，线性编码器或者多种其他传感器可以提供关于对象与扫描仪的相对位置的信息。
在自动机制将扫描仪或对象移动就位后，则在框1420中，利用第二坐标获取系统78进行三维测量。借助于框1422重复这样的测量直到完成所有的测量为止。在框1424处，过程结束。
应当理解，虽然图4的处理被示出为线性或顺序处理，但是在其他实施例中，可以并行执行所示出的步骤中的一个或更多个步骤。在图4中示出的方法中，涉及的方法首先测量整个对象，然后根据对所获取的点云数据的评估来进行进一步详细的测量。使用扫描仪20的替代方式通过使用第二坐标获取系统78来测量详细的或者临界的区域而开始。
还应当理解，提供改变摄像装置透镜或投影仪透镜的方式来作为改变扫描系统中的摄像装置的FOV或投影仪的FOV的方式是现有的扫描系统中的常规做法。然而，这样的改变是耗时的，并且一般需要下述附加的补偿步骤，在该补偿步骤中，人工制品(例如点板)被放置在摄像装置或投影仪的前面，以确定针对摄像装置或投影仪系统的像差校正参数。因此，提供了两个不同的坐标获取系统的系统(例如图3的扫描系统20)在测量速度方面以及用于全自动模式的扫描仪的可实施性方面提供了显著的优势。
由于多径干扰，在进行扫描仪测量中会发生误差。现在讨论多径干扰的起源，并且描述用于消除或者减小多径干扰的第一方法。
当照射对象表面的光中的一些光在返回到摄像装置之前首先从对象的另一表面散射时，发生多径干扰的情况。对于对象上的接收该散射光的点而言，被发送至光敏阵列的光于是不仅对应于从投影仪直接投射的光，而且还对应于被发送至投影仪上的不同的点并且从对象散射的光。尤其对于投射二维(结构化)光的投影仪的情况而言，多径干扰的结果可以使从投影仪到该点处的对象表面的所计算的距离不准确。
参照图5A说明多径干扰的情况，在该实施例中，扫描仪4570将光线4525投射到对象的表面4510A上。光线4525与纸面垂直。在实施例中，光敏阵列的行与纸面平行，并且列与纸面垂直。每行表示在与纸面垂直的方向上的投射的线4525上的一个点。通过首先计算每行的质心来得到针对线上的该点的从投影仪至对象的距离。对于表面点4526，光敏阵列4541上的质心由点4546表示。光敏阵列上的质心的位置4546可以用于计算从摄像装置视角中心4544到对象点4526的距离。该计算是基于根据三角测量原理的三角关系的。为了执行这些计算，需要从摄像装置视角中心4544到投影仪视角中心4523的基线距离D。此外，需要知道投影仪系统4520对于摄像装置系统4540的相对定向。
为了理解由多径干扰引起的误差，考虑点4527。从该点反射或散射的光被透镜4542成像到光敏阵列4541上的点4548上。然而，除了从投影仪直接接收的且从点4527散射光的之外，另外的光在被成像到光敏阵列上之前从点4526反射到点4527上。光将会很可能散射至非预期的位置并且使得给定行中形成两个质心。因此，观察给定行上的两个质心是多径干扰的存在的很好的指示物。
对于结构化光被投射至对象表面的区域上的情况，来自诸如4527的点的二次反射通常不像投射至线上的光那样明显，因此更容易在所测量的3D表面坐标中产生误差。
通过使用具有显示元件4521上的可调节的照射图案的投影仪，可以改变照射的图案。显示元件4521可以是数字微机械镜(DMM)，诸如数字光投影仪(DLP)。这样的装置包括多个小反射镜，可以借助于电信号快速地调节这些小反射镜以快速地调节照射的图案。可以产生电可调节显示图案的其他装置包括LCD(液晶显示器)和LCOS(硅基液晶)显示器。
在用于将结构化光投射在区域上的系统中检查多径干扰的方式是改变显示器以投射光线。行中多个质心的存在将指示多径干扰存在。通过扫掠光线，可以覆盖区域而无需由操作者移动探针。
可以由电可调节的显示器将光线设置成任一期望的角度。通过改变投射的光线的方向，在许多情况下，可以消除多径干扰。
对于具有许多褶和陡峭的角度而很难避免反射的表面而言，电可调节的显示器可以用于扫掠光点。在一些情况下，二次反射可以从单个光点产生，但是通常相对易于确定反射的光点中的哪个光点是有效的。
电可调节的显示器还可以用于在编码的图案与未编码的图案之间快速地切换。在大多数情况下，编码的图案用于基于单帧摄像装置信息来进行3D测量。另一方面，多个图案(顺序的或未编码的图案)可以用于获得所测量的3D坐标值的较大的精度。
过去，电可调节的显示器已用于投射顺序图案内的一系列图案中的每个图案，例如，一系列灰度线图案之后跟随一系列正弦图案，每个正弦图案具有不同的相位。
本发明方法在选择下述这些方法方面提供了优于于现有方法的优势：识别或者消除诸如多径干扰的问题以及指示是优选单投射(single-shot)图案(例如，编码的图案)还是多投射(multiple-shot)图案以尽可能快地获取所需精度的方法。
对于线扫描仪的情况而言，通常存在确定多径干扰的存在的方式。当多径干扰不存在时，由对象表面上的点反射的光以单行的形式被成像到毗邻像素的区域上。如果一行中存在两个或更多个区域接收大量的光，则多径干扰被指示。图5A中示出了这样的多径干扰状况的示例以及在光敏阵列上得到的额外的照射区域。表面4510A现在在交点4526附近具有较大的曲率。在该交点处的表面法线是线4528，并且入射角是4531。根据与入射角相等的反射角4532得到反射的光线4529的方向。如上文所述，光线4529实际上表示在一定角范围中散射的光的总体方向。散射光的中心在点4527处照射表面4510A，其被透镜4544在点4548处成像在光敏阵列上。在点4548的附近接收的不期望的大量的光指示出可能存在多径干扰。对于线扫描仪而言，对多径干扰的主要关注不是针对图5A所示的情况——在图5A中，两个点4546和4527分开相当大的距离并且可以分别分析——而是针对两个点交叠或拖尾在一起的情况。在这种情况下，可能不能够确定与期望的点对应的质心，该质心在图15E中与点4546对应。如可以再次参照图5A来理解的那样，对于在二维区域上投射光的扫描仪的情况而言，问题更严重。如果需要成像到光敏阵列4541上的所有光以确定二维坐标，则清楚的是点4527处的光会与从投影仪直接投射的期望的光的图案以及从对象表面反射到点4527的不想要的光对应。作为结果，在这种情况下，对于在区域上投射的光而言，针对点4527很可能计算错误的三维坐标。
对于投射的光线而言，在许多情况下，可以通过改变线的方向来消除多径干扰。一种可能是使线扫描仪使用具有固有的二维能力的投影仪，从而能够扫掠线或者将线自动地旋转到不同的方向。这样的投影仪的示例是使用如上文所讨论的数字微镜(DMD)的投影仪。例如，如果在利用结构化光获得的特定扫描中怀疑多径干扰，则测量系统可以自动地被配置成切换至使用扫掠光线的测量方法。
减小、最小化或消除多径反射的另一方法是在已指示出多径干扰的这些区域上扫掠光点，而不是光线或光区域。通过照射单个光点，一般可以容易地识别到从二次反射散射的任何光。
确定由电可调节的显示器投射的期望的图案受益于如下文参照图12描述的诊断分析。
除了其在诊断以及校正多径干扰方面的用途，改变投射的光的图案还在以最小时间量获得所需的精度和分辨率方面提供了优势。在实施例中，首先通过将编码的光图案在单次投射中投射至对象上来执行测量。使用采集的数据来确定表面的三维坐标，并且对结果进行分析以确定是否一些区域具有孔、边缘或需要更详细的分析的特征。这样的详细分析可以例如通过使用图1中的窄FOV摄像装置24或者图3中的高分辨率扫描仪系统78来执行。
还对坐标进行分析以确定到目标的近似距离，从而提供用于更精确的测量方法(诸如如上文中所讨论的将正弦相移的光图案依次地投射至表面上的方法)的起始距离。使用编码的光图案获得对于表面上的每个点的起始距离无需通过改变多个正弦相移扫描中的间距来获得该信息，从而节省了大量的时间。
现在参照图5B，示出了用于克服由扫描仪20获取的坐标数据中的异常或改善该坐标数据的精度的实施例。处理211通过利用扫描仪20来扫描对象(诸如对象34)而在框212中开始。扫描仪20可以是例如在图1、图3、图5以及图7的实施例中描述的例如具有至少一个投影仪和摄像装置的扫描仪。在该实施例中，在框212中，扫描仪20将第一光图案投射至对象上。在一个实施例中，该第一光图案是编码的结构化光图案。在框214中，处理211获取并且确定三维坐标数据。在询问框216中对坐标数据进行分析以确定是否存在任何异常，例如上述的多径干扰、元素周围的低分辨率或者由于表面角度或表面反射率变化引起的数据的缺失。当检测到异常时，处理211行进至框218，在框218处，由投影仪发射的光图案改变至第二光图案。在实施例中，第二光图案是扫掠的光线。
在投射第二光图案之后，处理211进行至框220，在框220处，针对检测到异常的区域来获取并且确定三维坐标数据。处理211循环返回至询问框216，在询问框216处，确定异常是否已解决。如果询问框216仍然检测到异常或缺失或精度或分辨率，则处理循环返回至框218并且切换至第三光图案。在实施例中，第三光图案是顺序的正弦相移图案。在另一实施例中，第三光图案是扫掠的光点。该迭代过程继续直到异常解决为止。当确定了来自异常的区域的坐标数据时，处理211行进至框222，在框222处，将发射的图案切换回第一结构化光图案并且继续扫描处理。处理211继续直到操作者已扫描了对象的期望区域为止。如果使用图11的方法获得的扫描信息不能令人满意，则可以使用如本文所讨论的用接触式探针测量的问题。
现在参照图6，示出了安装至可移动设备120的扫描仪20的另一实施例。扫描仪20具有至少一个投影仪122和至少一个摄像装置124，至少一个投影仪122和一个摄像装置124以固定几何关系被固定，使得可以使用三角原理来确定表面32上的点的三维坐标。扫描仪20可以是例如与参考图1至图3所描绘的扫描仪相同的扫描仪。在一个实施例中，扫描仪是与图10中具有接触式探针的扫描仪相同的扫描仪。然而，在图6的实施例中使用的扫描仪可以是例如结构化光扫描仪或线扫描仪的任何扫描仪，例如，在2006年1月18日提交的题为“PortableCoordinateMeasurementMachinewithIntegratedLineLaserScanner”的共同拥有的美国专利7,246,030中公开的扫描仪。在另一实施例中，在图6的实施例中使用的扫描仪是在对象上的区域上投射光的结构化光扫描仪。
在示例性实施例中，可移动设备120是机器人设备，该机器人设备借助于由枢轴和旋转接头130连接的臂段126、128来提供自动移动以使得臂段126、128能够移动，导致扫描仪20从第一位置移动至第二位置(如图6中的虚线所指示的那样)。可移动设备120可以包括例如耦接至臂段126、128以将臂段126、128从第一位置移动至第二位置的诸如电机(未示出)的致动器。应当理解，具有关节臂的可移动设备120是为了示例的目的，而要求保护的本发明不应限于此。在其他实施例中，可以将扫描仪20安装至用于经由例如轨道、轮子、线路、带或线缆或者前述的组合来移动扫描仪20的可移动设备。在其他实施例中，机器人具有不同数目的臂段。
在一个实施例中，可移动设备是关节臂坐标测量机(AACMM)，例如在2010年1月20日提交的共同拥有的美国专利申请序列号13/491,176中所描述的关节臂坐标测量机。在该实施例中，扫描仪20从第一位置到第二位置的移动可以涉及操作者手动地移动臂段126、128。
对于具有自动设备的实施例而言，可移动设备120还包括控制器132，该控制器132被配置成激励致动器以移动臂段126、128。在一个实施例中，控制器132与控制器134通信。如下文将更加详细的讨论的那样，该布置使得控制器132能够响应于获取的数据中的异常来移动扫描仪20。应当理解，控制器132、控制器134可以被包含到单个处理单元中或者功能可以分布在数个处理单元之中。
通过参照图12进行分析，可以将扫描仪20定位并且定向以获得期望的测量结果。在一些实施例中，被测量的特征可以受益于扫描仪的期望的方向。例如，可以通过将扫描仪摄像装置124定向为与孔近似垂直来改善对孔的直径的测量。在其他实施例中，可以定位扫描仪以减小或最小化多径干扰的可能性。这样的分析可以基于可作为诊断过程的一部分而获得的CAD模型，或者这样的分析可以基于在由设备120对扫描仪20进行的二次移动之前由初始位置处的扫描仪采集的数据。
现在参照图7，将描述扫描仪20和可移动设备120的操作。在框136中，处理开始于利用处于第一位置的扫描仪20来扫描对象34。在框138中，扫描仪20获取并且确定对象34的表面32上的点的坐标数据。应当理解，可移动设备120可以移动扫描仪20以获取关于期望的区域中的表面点的数据。在询问框140中，确定在点142处的坐标数据中是否存在异常，例如诸如多径干扰，或者是否需要改变方向以获得改善的分辨率或测量精度。应当理解，图6的点142可以表示表面32上的单个点、多个点的线、或者区域。如果检测到异常或者检测到需要改善精度，则处理继续到框144，在框144处，可移动设备120移动扫描仪20的位置，例如从第一位置移动到第二位置，并且在框146中重新扫描关注区域以获取三维坐标数据。处理循环返回至询问框140，在询问框140处，确定在坐标数据中是否仍然存在异常或者是否期望改善测量精度。如果是这些情况，则再次移动扫描仪20，并且处理继续，直到测量结果达到期望的水平为止。当获得了坐标数据时，处理从询问框140进行至框148，在框148处，扫描处理继续，直到已扫描了期望的区域为止。
在其中扫描仪20包括接触式探针的实施例(图10)中，扫描仪从第一位置到第二位置的移动可以被布置成用接触式探针接触关注区域。由于可以根据臂段126、128的位置和定向来确定扫描仪的位置并且因而可以确定接触式探针的位置，所以可以确定表面32上的点的三维坐标。
在一些实施例中，由图8A、图8B的扫描仪20获得的测量结果可能被多径干扰损坏。在其他情况下，测量结果可能没有提供期望的分辨率或精度以适当地测量表面32的一些特性，尤其是边缘、孔或复杂的特征。在这些情况下，可能期望的是使操作者使用远程探针152来探测表面32上的点或区域。在图8A、图8B中示出的一个实施例中，扫描仪20包括投影仪156以及摄像装置154、155，摄像装置154、155相对于投影仪156成角度地布置，使得由投影仪156发射的光从表面32反射并且由摄像装置154、155中的一者或两者所接收。扫描仪156和摄像装置154、156以固定几何关系被固定，使得可以使用三角原理来确定表面32上的点的三维坐标。
在一个实施例中，如图8A所示，投影仪156被配置成将可见光157发射到对象34的表面32上的关注区域159上。可以使用受照区域159在摄像装置154、155中的一者或两者上的图像来确认所关注的受照区域159的三维坐标。
扫描仪20被配置成与远程探针152协作，使得操作者可以将探针头166在所关注的受照区域159处与对象表面132接触。在实施例中，远程探针152包括至少三个非共线的光点168。光点168可以是例如由发光二极管(LED)产生的光斑，或者由来自投影仪156或来自图8B中未描绘的另一光源的红外或可见光源所照射的反射光点。这种情况下的红外或可见光源可以被附接至扫描仪20，或者可以被置于扫描仪20的外部。通过使用扫描仪确定光斑168的三维坐标并且通过使用关于探针152的几何形状的信息，可以确定探针头166的位置，从而使得能够确定对象表面32的坐标。以这种方式使用的接触式探针消除了来自多径干扰的潜在问题，并且还使得能够进行对孔、边缘以及详细特征的相对精确的测量。在实施例中，探针166是接触式探针，该接触式探针可以通过按压探针上的致动器按钮(未示出)来激活，或者探针166可以是通过与表面32的接触而被激活的接触触发式探针。响应于由致动器按钮或接触触发式探针而产生的信号，通信电路(未示出)向扫描仪20发送信号。在实施例中，光点168用可以包括直线或曲线的几何图案的光来代替。
现在参照图9，示出了下述处理：该处理用于与远程探针152一起使用图8A、图8B的静止的扫描仪20来获取对象34的表面32上的点的坐标数据。在框170中，处理开始于扫描对象34的表面32。在框172中，处理获取并且确定表面32的三维坐标数据。然后，在询问框174中，处理确定在区域159的坐标数据中是否存在异常，或者在区域159的精度或分辨率方面是否存在问题。例如，异常可以是由于多径干扰而被丢弃的无效的数据。异常还可能是由于例如诸如开口或孔的特征的周围的分辨率不足或者表面反射率而引起的丢失数据。参照图12给出了关于用于检测(识别)多径干扰和相关问题的诊断过程的细节。
当区域159已被识别时，在框176中扫描仪20向操作者指示可以经由远程探针152来获取区域159的坐标数据。可以通过发射可见光157以照射区域159而指示该区域159。在一个实施例中，光157是由投影仪156发射的。可以改变光157的颜色来通知操作者异常或问题的类型。例如，当多径干扰发生时，光157可以被赋予红色，而低分辨率可以被赋予绿色。还可以在具有对象的图形表示(例如，CAD模型)的显示器上指示区域。
然后，处理进行至框178，以在传感器166接触表面32时获取远程探针152的图像。摄像装置154、155中的一个摄像装置接收例如可以是LED或反射目标的光点168。在框180中，扫描仪20使用数学上公知的最佳拟合技术来确定探针中心的三维坐标，在框180中，根据探针中心的三维坐标来确定对象表面32的三维坐标。当检测到异常的区域159中的点已被获取时，处理可以进行至在框182中继续扫描对象34直到已扫描了期望的区域为止。
现在参照图10，示出了在操作期间可以由操作者手持的扫描仪20的另一实施例。在该实施例中，壳体22可以包括把手186，该把手186使得操作者在操作期间能够握住扫描仪20。壳体22包括投影仪188和摄像装置190，投影仪188和摄像装置190相对于彼此成角度地布置，使得由投影仪发射的光192从表面32反射并且由摄像装置190接收。图10的扫描仪20以与图1和图3的实施例基本上相似的方式进行操作，并且使用三角原理获取表面32上的点的三维坐标数据。
扫描仪20还包括整体探针构件184。探针构件184在一端上包括传感器194。例如，传感器194是可以响应于由操作者按压致动器按钮(未示出)的接触式探针，或者传感器194可以是响应于与表面32的接触的接触触发式探针。如下文将更详细的讨论的那样，探针构件184使得操作者能够通过将传感器194与表面32接触来获取表面32上的点的坐标。
投影仪188、摄像装置190以及用于传感器194的致动器电路电耦接至被设置在壳体22内的控制器50。控制器50可以包括一个或更多个微处理器、数字信号处理器、存储器或信号调节电路。扫描仪20还可以包括例如诸如在把手186上的致动器(未示出)，该致动器可以被操作者手动地激活以开始由扫描仪20进行的操作和数据捕获。在一个实施例中，用于确定表示对象34的表面32的点云的X，Y，Z坐标数据的图像处理由控制器50执行。可以将坐标数据本地地存储在例如诸如易失性或非易失性存储器54中。存储器可以是可移除的，例如诸如闪存驱动器或存储卡。在其他实施例中，扫描仪20具有通信电路52，该通信电路52使扫描仪20能够将坐标数据发送至远程处理系统56。扫描仪20与远程处理系统56之间的通信介质58可以是有线的(例如，以太网)或无线的(例如，蓝牙、IEEE802.11)。在一个实施例中，由远程处理系统56确定坐标数据，并且扫描仪20将所获取的图像在通信介质58上进行传送。
现在参照图11，将描述图10的扫描仪20的操作。在框196中，处理开始于操作者通过手动地移动扫描仪20来扫描对象34的表面32。在框198中确定并且获取三维坐标。在询问框200中，确定在坐标数据中是否存在异常或者是否需要改善精度。如以上所讨论的那样，因为许多原因，例如多径干扰、表面反射率变化或者特征的低分辨率，所以会发生异常。如果异常存在，则处理进行至框202，在框202处，向操作者指示区域204。可以通过用投影仪188将可见光192投射至表面32上来指示区域204。在一个实施例中，使光192带有颜色以通知操作者检测到的异常的类型。
然后，操作者行进到在框206中将扫描仪从第一位置移动至(由虚线指示的)第二位置。在第二位置，传感器194接触表面32。可以基于由摄像装置190获取的图像使用公知的最佳拟合方法来确定第二位置中的扫描仪20的位置和定向(6个自由度)。由于已知传感器194的尺寸和布置与扫描仪20的机械结构相关，因此可以在框208中确定区域204中的点的三维坐标数据。然后，处理行进至框210，在框210处，继续扫描对象。扫描处理继续进行直到已扫描了期望的区域为止。
一种通用的方法不仅可以用于评估多径干扰而且可以用于总体上评估质量，包括分辨率以及材料类型、表面质量和几何形状的影响。还参照图12，在实施例中，方法4600可以在计算机的控制下自动地进行。步骤4602是确定关于被测对象的三维坐标的信息是否可用。第一类型的三维信息是CAD数据。CAD数据通常指示被测对象的标称尺寸。第二类型的三维信息是所测量的三维数据，例如用扫描仪或其他装置先前测量的数据。在一些情况下，步骤4602可以包括将坐标测量装置(例如激光跟踪仪或六自由度扫描仪配件)的参照系与对象的参照系对准的进一步步骤。在实施例中，这通过利用激光跟踪仪测量对象的表面上的至少三个点来完成。
如果对在步骤4602中提出的问题的回答是三维信息可用，则在步骤4604中，计算机或处理器被用于计算对象测量对多径干扰的易感性。在实施例中，这通过下述方式来完成：投射由扫描仪投影仪发射的每个光线，并且针对每个情况计算角度或反射。计算机或软件识别对象表面的、易受由于多径干扰引起的误差的影响的每个区域。步骤4604还可以针对六自由度探针的相对于被测对象的多个位置来进行对多径误差的易感性的分析。在一些情况下，如上文所讨论的那样，可以通过选择六自由度探针相对于被测对象的合适的位置和定向来避免多径干扰或者使多径干扰最小化。如果对步骤4602中提出的问题的回答是三维信息不可用，则步骤4606是使用任一期望的或优选的测量方法来测量对象表面的三维坐标。在计算多径干扰之后，可以进行步骤4608以评估预期的扫描质量的其他方面。一个这样的质量因子是对于被测对象的特征而言扫描的分辨率是否足够。例如，如果装置的分辨率是3mm并且存在对其期望有效扫描数据的亚毫米特征，则应该记录对象的这些问题区域以用于随后的校正行为。与分辨率部分相关的另一质量因子是对对象的边缘和孔的边缘进行测量的能力。对扫描仪性能的了解将使得能够确定对于给定的边缘而言扫描仪分辨率是否足够好。另一质量因子是预期从给定特征返回的光的量。预期很少光(如果有的话)可以从例如小孔的内部或者从掠射角返回到扫描仪。同样，可以预期很少光来自某些类型和某些颜色的材料。某些类型的材料可以使来自扫描仪的光穿透较大深度，而在这种情况下不会预期好的测量结果。在一些情况下，自动程序可以询问用户补充信息。例如，如果计算机程序正基于CAD数据进行步骤4604和步骤4608，则该计算机程序可能不知道被使用的材料的类型或者被测对象的表面特性。在这些情况下，步骤4608可以包括获得被测对象的材料特性的进一步步骤。
在步骤4604和步骤4608的分析之后，步骤4610是决定是否应该进行进一步诊断过程。可能的诊断过程的第一示例是以优选角度投射条纹以记录是否观察到多径干扰的步骤4612。在上文参照图5讨论了对于投射的线状条纹的多径干扰的通用指示。诊断步骤的另一示例是步骤4614，步骤4614是投射光的源图案上的极线(epipolarline)的方向上对准的一组线，该源图案例如为来自图1中的投影仪36的光的源图案30。对于光的源图案中的光线与极线对准的情况，则这些线在光敏阵列上的像面中将会看起来是直线。在2012年4月11日提交的共同拥有的美国专利申请13/443,946中更详细地讨论了极线的用途。如果光敏阵列上的这些图案不是直线，或者如果线是模糊的或者有噪声，则指示可能是由于多径干扰引起的问题。
步骤4616是基于所执行的分析和诊断过程来选择优选的行为的组合。如果测量中的速度尤其重要，则使用编码的光的2D(结构化)图案进行测量的步骤4618可以是优选的。如果更大的精度较为重要，则利用使用顺序的图案的编码的光的2D(结构化)图案(例如一系列变化相位和间距的正弦图案)进行测量的步骤4620可以是优选的。如果选择了方法4618或4620，则可能是理想的也选择步骤4628，步骤4628是重新定位扫描仪，换言之是将扫描仪的位置和定向调整到如步骤4604的分析所提供的使多径干扰和镜面反射(闪耀)最小化的位置。可以通过利用来自扫描仪投影仪的光照射问题区域或者通过将这样的区域显示在监测器显示器上来向用户提供这样的指示。可替代地，可以由计算机或处理器自动地选择测量过程中的下一步骤。如果优选的扫描仪位置未消除多径干扰和闪耀，则数个选项可用。在一些情况下，可以在将扫描仪重新定位以及将有效测量结果进行组合的情况下重复测量。在其他情况下，可以将可替代的测量步骤添加至过程，或者可以取代使用结构化光而执行可替代的测量步骤。如以上所讨论的那样，扫描光条纹的步骤4622提供了获取区域上的信息的方便方式，其中减少了具有来自多径干扰的问题的机会。在关注区域上扫掠小的光斑的步骤4624进一步降低了来自多径干扰的问题的机会。利用接触式探针测量对象表面的区域的步骤消除了多径干扰的可能性。接触式探针提供基于探针头的大小的已知的分辨率，并且消除了可能会在一些被测对象中出现的光的反射率低或光学穿透深度大的问题。
在大多数情况下，可以基于从测量获得的数据结合先前进行的分析的结果，在步骤4630中评估在步骤4618至步骤4628的组合中采集的数据的质量。如果在步骤4632中发现质量是可接受的，则在步骤4634处完成测量。否则，则在步骤4604处继续分析。在一些情况下，3D信息可能不会如所期望的那么精确。在这种情况下，重复之前的步骤中的一些步骤会是有益的。
虽然仅结合有限数量的实施例详细描述了本发明，但是应当容易理解，本发明不局限于这些公开的实施例。相反地，可以修改本发明以结合此前未描述过但与本发明的精神和范围相称的任一数量的变型、变化、替代或等效布置。此外，虽然描述了本发明的多种实施例，但应当理解本发明的方面可以仅包括所描述的实施例中的一些实施例。因此，本发明不被视为受前述描述所限制，而仅受所附权利要求的范围所限制。

Claims (26)

1.一种非接触式光学三维测量装置，包括：
组件，其包括投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置，其中，所述投影仪、所述第一摄像装置以及所述第二摄像装置被关于彼此固定，在所述投影仪与所述第一摄像装置之间存在第一距离并且在所述投影仪与所述第二摄像装置之间存在第二距离，所述投影仪具有光源，所述投影仪被配置成将具有多个图案中的任一图案的第一光发射到对象的表面上，所述第一摄像装置具有第一透镜和第一光敏阵列，所述第一摄像装置被配置成接收从所述表面反射的所述第一光的第一部分并且作为响应产生第一数字信号，所述第一摄像装置具有第一视场，所述第一视场是所述第一摄像装置的第一角观看区域，所述第二摄像装置具有第二透镜和第二光敏阵列，所述第二摄像装置被配置成接收从所述表面反射的所述第一光的第二部分并且作为响应产生第二数字信号，所述第二摄像装置具有第二视场，所述第二视场是所述第二摄像装置的第二角观看区域，所述第二视场不同于所述第一视场；以及
处理器，其电耦接至所述投影仪、所述第一摄像装置以及所述第二摄像装置，所述处理器执行计算机可执行程序代码，所述计算机可执行程序代码在被所述处理器执行时实现下述操作，所述操作包括：使得所述第一数字信号在第一时间处被采集并使得所述第二数字信号在不同于所述第一时间的第二时间处被采集，至少部分地基于所述第一数字信号和所述第一距离来确定所述表面上的第一点的三维坐标，以及至少部分地基于所述第二数字信号和所述第二距离来确定所述表面上的第二点的三维坐标。
2.根据权利要求1所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述计算机可执行程序代码使得所述投影仪产生具有来自所述多个图案当中的第一图案的所述第一光，并使得所述第一摄像装置作为响应产生所述第一数字信号，并且所述计算机可执行程序代码还使得所述投影仪产生具有来自所述多个图案当中的第二图案的所述第一光，并使得所述第二摄像装置作为响应产生所述第二数字信号。
3.根据权利要求2所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述第一图案是空间上变化的图案。
4.根据权利要求3所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述第一图案包括至少三个非共线图案元素。
5.根据权利要求4所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述第二图案是下述的空间上变化的图案：该空间上变化的图案包括至少三个非共线图案元素。
6.根据权利要求5所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述第二图案是线图案，该线在与所述第一光的传播基本上垂直的方向上。
7.根据权利要求6所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述第二图案是随时间扫掠的线图案。
8.根据权利要求6所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述第二图案是随时间扫掠的光点。
9.根据权利要求1所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述第一视场是所述第二视场的至少两倍大。
10.根据权利要求1所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述第一光敏阵列包括第一像素，所述第一像素被配置成捕获从所述表面的第一区域反射的光，所述第二光敏阵列包括第二像素，所述第二像素被配置成捕获从所述表面的第二区域反射的光，其中，所述第二区域小于所述第一区域。
11.根据权利要求4所述的非接触式光学三维测量装置，其中，所述第一图案是时间上变化的图案。
12.一种确定对象的表面上的三维坐标的方法，所述方法包括：
设置组件，所述组件包括投影仪、第一摄像装置以及第二摄像装置，其中，所述投影仪、所述第一摄像装置以及所述第二摄像装置被关于彼此固定，在所述投影仪与所述第一摄像装置之间存在第一距离并且在所述投影仪与所述第二摄像装置之间存在第二距离，所述投影仪具有光源，所述投影仪被配置成将具有多个图案中的任一图案的第一光发射到所述表面上，所述第一摄像装置具有第一透镜和第一光敏阵列，所述第一摄像装置被配置成接收从所述表面反射的所述第一光的第一部分，所述第一摄像装置具有第一视场，所述第一视场是所述第一摄像装置的第一角观看区域，所述第二摄像装置具有第二透镜和第二光敏阵列，所述第二摄像装置被配置成接收从所述表面反射的所述第一光的第二部分，所述第二摄像装置具有第二视场，所述第二视场是所述第二摄像装置的第二角观看区域，所述第二视场不同于所述第一视场；
设置处理器，所述处理器电耦接至所述投影仪、所述第一摄像装置以及所述第二摄像装置；
在第一情况下，将具有选自所述多个图案当中的第一图案的所述第一光从所述投影仪发射到所述表面上；
在所述第一情况下，利用所述第一摄像装置获取所述表面的第一图像，并且作为响应将第一数字信号发送至所述处理器；
确定所述表面上的第一点的三维坐标的第一集合，所述第一集合至少部分地基于所述第一图案、所述第一数字信号以及所述第一距离；
进行用于确定所述第一集合的质量因子的诊断过程；
确定选自所述多个图案当中的所述第一光的第二图案，所述第二图案至少部分地基于所述诊断过程的结果；
在第二情况下，将具有所述第二图案的所述第一光从所述投影仪发射到所述表面上；
在所述第二情况下，利用所述第二摄像装置获取所述表面的第二图像，并且作为响应将第二数字信号发送至所述处理器；以及
确定所述表面上的第二点的三维坐标的第二集合，所述第二集合至少部分地基于所述第二图案、所述第二数字信号以及所述第二距离。
13.根据权利要求12所述的方法，其中，在第二情况下从所述投影仪发射所述第一光的步骤包括将所述组件从第一位置移动到第二位置的前序步骤。
14.根据权利要求13所述的方法，其中，移动所述组件的步骤包括：通过激活所述组件上的指示灯来指导操作者将所述组件移动到所述第二位置。
15.根据权利要求13所述的方法，其中，移动所述组件的步骤包括：将光投射到所述对象上，以指示朝所述第二位置移动的方向。
16.根据权利要求13所述的方法，其中，移动所述组件的步骤包括：在显示器上的图形表示上指示所述对象的要被扫描的部分。
17.根据权利要求12所述的方法，其中，进行用于确定所述第一集合的质量因子的诊断过程的步骤包括：所述质量因子至少部分地基于确定多径干扰是否存在。
18.根据权利要求17所述的方法，其中，进行用于确定所述第一集合的质量因子的诊断过程的步骤包括：
设置所述对象的计算机辅助绘图(CAD)模型；
通过确定来自所述投影仪的光线从所述对象的第一表面点反射到所述对象的第二表面点上来基于CAD模型验证所述多径干扰的存在，其中，所述第二表面点是由所述第一摄像装置成像的点；以及
至少部分地基于对所述多径干扰的存在的验证来确定所述质量因子。
19.根据权利要求18所述的方法，其中，在第二情况下将所述第一光从所述投影仪发射到所述表面上的步骤中，具有所述第二图案的所述第一光为线或点的形式。
20.根据权利要求19所述的方法，其中，在所述第二情况下发射所述第一光的步骤中，所述第一光的所述图案为随时间扫掠的线或随时间扫掠的点的形式，光的所述线沿着与所述第一光的传播方向基本上垂直的方向。
21.根据权利要求17所述的方法，
还包括通过扫描所述表面的至少一部分来获得所述对象的所述表面的多个三维坐标的步骤；
在确定是否需要附加测量的步骤中，还包括：通过确定来自所述投影仪的光线从所述对象的第一表面点反射到所述对象的第二表面点上来基于所获得的多个三维坐标验证所述多径干扰的可能性，其中所述第二表面点是由所述第一摄像装置成像的点；以及至少部分地基于多径干扰的存在来确定所述质量因子。
22.根据权利要求21所述的方法，其中，在第二情况下发射所述第一光的步骤中，所述第一光的空间上变化的所述图案为线或点的形式，该线沿着与所述第一光的传播方向基本上垂直的方向。
23.根据权利要求22所述的方法，其中，在所述第二情况下将具有所述第二图案的所述第一光从所述投影仪发射到所述表面上的步骤中，所述第二图案为随时间扫掠的线或随时间扫掠的点的形式。
24.根据权利要求12所述的方法，其中，在进行用于确定所述第一集合的质量因子的诊断过程的步骤中，还包括：
确定从所述第一图像获得的三维坐标的所述第一集合的分辨率；以及
还至少部分地基于所述分辨率来确定所述质量因子。
25.根据权利要求12所述的方法，其中，所述第二图案是时间上变化的图案。
26.根据权利要求17所述的方法，其中，确定多径干扰是否存在的步骤包括：确定多径干扰存在。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106405532A (zh) * 2016-10-25 2017-02-15 陆建红 手持式激光测量仪及其工作方法
CN107131848A (zh) * 2016-02-26 2017-09-05 福禄理昂·伟洛米泽 能实现快速和致密形状检测的光学三维传感器
WO2018227527A1 (zh) * 2017-06-16 2018-12-20 深圳市迈测科技股份有限公司 一种测量方法和系统
CN109425307A (zh) * 2017-08-30 2019-03-05 赫克斯冈技术中心 用于扫描物体和投影信息的测量仪器
CN111615645A (zh) * 2018-01-15 2020-09-01 微软技术许可有限责任公司 飞行时间相机
CN113424206A (zh) * 2019-02-28 2021-09-21 Som建筑设计事务所 针对结构的机器学习工具

Families Citing this family (188)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009049272A2 (en) 2007-10-10 2009-04-16 Gerard Dirk Smits Image projector with reflected light tracking
US9482755B2 (en) 2008-11-17 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker
US8908995B2 (en) 2009-01-12 2014-12-09 Intermec Ip Corp. Semi-automatic dimensioning with imager on a portable device
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
US9377885B2 (en) 2010-04-21 2016-06-28 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
US9400170B2 (en) 2010-04-21 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker
DE102010020925B4 (de) 2010-05-10 2014-02-27 Faro Technologies, Inc. Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9946076B2 (en) 2010-10-04 2018-04-17 Gerard Dirk Smits System and method for 3-D projection and enhancements for interactivity
IL208568B (en) * 2010-10-07 2018-06-28 Elbit Systems Ltd Mapping, discovering and tracking objects in an external arena by using active vision
DE112012001082B4 (de) 2011-03-03 2015-12-03 Faro Technologies Inc. Verfahren zum Messen von Zielen
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
US9482529B2 (en) 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
DE112012001708B4 (de) 2011-04-15 2018-05-09 Faro Technologies, Inc. Koordinatenmessgerät
CN104094081A (zh) 2012-01-27 2014-10-08 法罗技术股份有限公司 利用条形码识别的检查方法
US9779546B2 (en) 2012-05-04 2017-10-03 Intermec Ip Corp. Volume dimensioning systems and methods
US10007858B2 (en) 2012-05-15 2018-06-26 Honeywell International Inc. Terminals and methods for dimensioning objects
US10321127B2 (en) 2012-08-20 2019-06-11 Intermec Ip Corp. Volume dimensioning system calibration systems and methods
US9939259B2 (en) 2012-10-04 2018-04-10 Hand Held Products, Inc. Measuring object dimensions using mobile computer
DE102012109481A1 (de) 2012-10-05 2014-04-10 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US10067231B2 (en) 2012-10-05 2018-09-04 Faro Technologies, Inc. Registration calculation of three-dimensional scanner data performed between scans based on measurements by two-dimensional scanner
US8971568B1 (en) 2012-10-08 2015-03-03 Gerard Dirk Smits Method, apparatus, and manufacture for document writing and annotation with virtual ink
US20140104413A1 (en) 2012-10-16 2014-04-17 Hand Held Products, Inc. Integrated dimensioning and weighing system
DE102012112321B4 (de) 2012-12-14 2015-03-05 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9080856B2 (en) 2013-03-13 2015-07-14 Intermec Ip Corp. Systems and methods for enhancing dimensioning, for example volume dimensioning
US9188430B2 (en) * 2013-03-14 2015-11-17 Faro Technologies, Inc. Compensation of a structured light scanner that is tracked in six degrees-of-freedom
US9041914B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
JP6101134B2 (ja) * 2013-04-01 2017-03-22 キヤノン株式会社 情報処理装置及び情報処理方法
US10228452B2 (en) 2013-06-07 2019-03-12 Hand Held Products, Inc. Method of error correction for 3D imaging device
US9464885B2 (en) 2013-08-30 2016-10-11 Hand Held Products, Inc. System and method for package dimensioning
JP6170385B2 (ja) * 2013-09-09 2017-07-26 キヤノン株式会社 測定装置、測定方法および物品の製造方法
US9594250B2 (en) 2013-12-18 2017-03-14 Hexagon Metrology, Inc. Ultra-portable coordinate measurement machine
DE102013114707A1 (de) * 2013-12-20 2015-06-25 EXTEND3D GmbH Verfahren zur Durchführung und Kontrolle eines Bearbeitungsschritts an einem Werkstück
US10365371B2 (en) * 2013-12-31 2019-07-30 Lumens Co., Ltd. Multi-position sensing apparatus
JP6468802B2 (ja) * 2014-01-20 2019-02-13 キヤノン株式会社 三次元計測装置、三次元計測方法及びプログラム
US9233469B2 (en) * 2014-02-13 2016-01-12 GM Global Technology Operations LLC Robotic system with 3D box location functionality
JP2015169624A (ja) * 2014-03-10 2015-09-28 キヤノン株式会社 計測装置、計測方法及び物品の製造方法
WO2015148604A1 (en) 2014-03-25 2015-10-01 Massachusetts Institute Of Technology Space-time modulated active 3d imager
WO2015149027A1 (en) 2014-03-28 2015-10-01 Gerard Dirk Smits Smart head-mounted projection system
GB201407270D0 (en) * 2014-04-24 2014-06-11 Cathx Res Ltd 3D data in underwater surveys
DE102014007908A1 (de) * 2014-05-27 2015-12-03 Carl Zeiss Meditec Ag Chirurgie-System
US9402070B2 (en) * 2014-06-12 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring device with a six degree-of-freedom handheld probe and integrated camera for augmented reality
US10021379B2 (en) * 2014-06-12 2018-07-10 Faro Technologies, Inc. Six degree-of-freedom triangulation scanner and camera for augmented reality
JP6350657B2 (ja) * 2014-06-13 2018-07-04 株式会社ニコン 形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、形状測定プログラム、及び記録媒体
US9395174B2 (en) 2014-06-27 2016-07-19 Faro Technologies, Inc. Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit
US9823059B2 (en) 2014-08-06 2017-11-21 Hand Held Products, Inc. Dimensioning system with guided alignment
US9377533B2 (en) 2014-08-11 2016-06-28 Gerard Dirk Smits Three-dimensional triangulation and time-of-flight based tracking systems and methods
US9903950B2 (en) * 2014-08-27 2018-02-27 Leica Geosystems Ag Multi-camera laser scanner
DE102014013678B3 (de) 2014-09-10 2015-12-03 Faro Technologies, Inc. Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung mit einem Handscanner und Steuerung durch Gesten
US9671221B2 (en) 2014-09-10 2017-06-06 Faro Technologies, Inc. Portable device for optically measuring three-dimensional coordinates
US9693040B2 (en) 2014-09-10 2017-06-27 Faro Technologies, Inc. Method for optically measuring three-dimensional coordinates and calibration of a three-dimensional measuring device
US9602811B2 (en) * 2014-09-10 2017-03-21 Faro Technologies, Inc. Method for optically measuring three-dimensional coordinates and controlling a three-dimensional measuring device
DE102014013677B4 (de) 2014-09-10 2017-06-22 Faro Technologies, Inc. Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung mit einem Handscanner und unterteiltem Display
US10036627B2 (en) 2014-09-19 2018-07-31 Hexagon Metrology, Inc. Multi-mode portable coordinate measuring machine
US10176625B2 (en) 2014-09-25 2019-01-08 Faro Technologies, Inc. Augmented reality camera for use with 3D metrology equipment in forming 3D images from 2D camera images
US10810715B2 (en) 2014-10-10 2020-10-20 Hand Held Products, Inc System and method for picking validation
US10775165B2 (en) 2014-10-10 2020-09-15 Hand Held Products, Inc. Methods for improving the accuracy of dimensioning-system measurements
US9779276B2 (en) 2014-10-10 2017-10-03 Hand Held Products, Inc. Depth sensor based auto-focus system for an indicia scanner
US10060729B2 (en) 2014-10-21 2018-08-28 Hand Held Products, Inc. Handheld dimensioner with data-quality indication
US9897434B2 (en) 2014-10-21 2018-02-20 Hand Held Products, Inc. Handheld dimensioning system with measurement-conformance feedback
US9557166B2 (en) * 2014-10-21 2017-01-31 Hand Held Products, Inc. Dimensioning system with multipath interference mitigation
US9762793B2 (en) 2014-10-21 2017-09-12 Hand Held Products, Inc. System and method for dimensioning
US9752864B2 (en) 2014-10-21 2017-09-05 Hand Held Products, Inc. Handheld dimensioning system with feedback
KR102062840B1 (ko) * 2014-10-31 2020-02-11 삼성전자주식회사 양안 시차를 이용한 물체 위치 검출 장치 및 그 장치의 동작 방법
CN104392488A (zh) * 2014-12-11 2015-03-04 福州大学 针对激光扫描仪与三坐标测量臂的点云数据自动配准方法
US9506744B2 (en) 2014-12-16 2016-11-29 Faro Technologies, Inc. Triangulation scanner and camera for augmented reality
US9816287B2 (en) * 2014-12-22 2017-11-14 Cyberoptics Corporation Updating calibration of a three-dimensional measurement system
JP6507653B2 (ja) * 2015-01-13 2019-05-08 オムロン株式会社 検査装置及び検査装置の制御方法
JP6590489B2 (ja) * 2015-03-03 2019-10-16 キヤノン株式会社 情報処理装置および方法
US9354318B1 (en) 2015-03-05 2016-05-31 Horizon Hobby, LLC Optical spread spectrum detection and ranging
DE102015204474B4 (de) * 2015-03-12 2016-10-13 Hans-Günter Vosseler Vorrichtung und Verfahren zum berührungslosen dreidimensionalen Vermessen von Bauteilen
USD754130S1 (en) * 2015-03-19 2016-04-19 Faro Technologies, Inc. Optical scanner
US10043282B2 (en) 2015-04-13 2018-08-07 Gerard Dirk Smits Machine vision for ego-motion, segmenting, and classifying objects
US9964402B2 (en) * 2015-04-24 2018-05-08 Faro Technologies, Inc. Two-camera triangulation scanner with detachable coupling mechanism
US9989630B2 (en) 2015-05-13 2018-06-05 Infineon Technologies Ag Structured-light based multipath cancellation in ToF imaging
US9786101B2 (en) 2015-05-19 2017-10-10 Hand Held Products, Inc. Evaluating image values
US10066982B2 (en) 2015-06-16 2018-09-04 Hand Held Products, Inc. Calibrating a volume dimensioner
KR102311688B1 (ko) * 2015-06-17 2021-10-12 엘지전자 주식회사 이동단말기 및 그 제어방법
US9857167B2 (en) 2015-06-23 2018-01-02 Hand Held Products, Inc. Dual-projector three-dimensional scanner
US20160377414A1 (en) 2015-06-23 2016-12-29 Hand Held Products, Inc. Optical pattern projector
KR102398488B1 (ko) * 2015-06-26 2022-05-13 엘지전자 주식회사 복수의 디바이스에 대한 원격제어를 수행할 수 있는 이동 단말기
WO2017007535A1 (en) * 2015-07-07 2017-01-12 Quality Vision International, Inc. Method and apparatus for scanning object
US9835486B2 (en) 2015-07-07 2017-12-05 Hand Held Products, Inc. Mobile dimensioner apparatus for use in commerce
EP3396313B1 (en) 2015-07-15 2020-10-21 Hand Held Products, Inc. Mobile dimensioning method and device with dynamic accuracy compatible with nist standard
US10094650B2 (en) 2015-07-16 2018-10-09 Hand Held Products, Inc. Dimensioning and imaging items
US20170017301A1 (en) 2015-07-16 2017-01-19 Hand Held Products, Inc. Adjusting dimensioning results using augmented reality
KR102465643B1 (ko) * 2015-09-30 2022-11-09 엘지전자 주식회사 복수의 디바이스에 대한 원격제어를 수행할 수 있는 원격제어장치
US10249030B2 (en) 2015-10-30 2019-04-02 Hand Held Products, Inc. Image transformation for indicia reading
DE102015118986A1 (de) * 2015-11-05 2017-05-11 Anix Gmbh Prüfgrubenmesssystem zur optischen Vermessung einer Prüfgrubenoberfläche, Verfahren zur optischen Vermessung einer Prüfgrubenoberfläche mit einem solchen Prüfgrubenmesssystem und Verwendung eines solchen Prüfgrubenmesssystems
US10225544B2 (en) 2015-11-19 2019-03-05 Hand Held Products, Inc. High resolution dot pattern
JP6854828B2 (ja) 2015-12-18 2021-04-07 ジェラルド ディルク スミッツ 物体のリアルタイム位置検知
US9813673B2 (en) 2016-01-20 2017-11-07 Gerard Dirk Smits Holographic video capture and telepresence system
US9815204B2 (en) * 2016-01-22 2017-11-14 The Boeing Company Apparatus and method to optically locate workpiece for robotic operations
US10025314B2 (en) 2016-01-27 2018-07-17 Hand Held Products, Inc. Vehicle positioning and object avoidance
AU2017227599A1 (en) * 2016-03-01 2018-08-30 Magic Leap, Inc. Depth sensing systems and methods
US10721451B2 (en) * 2016-03-23 2020-07-21 Symbol Technologies, Llc Arrangement for, and method of, loading freight into a shipping container
US9855661B2 (en) 2016-03-29 2018-01-02 The Boeing Company Collision prevention in robotic manufacturing environments
BR112018069961A2 (pt) * 2016-04-05 2019-02-05 Estab Labs Sa sistemas, dispositivos e métodos de imageamento médico
US10136120B2 (en) * 2016-04-15 2018-11-20 Microsoft Technology Licensing, Llc Depth sensing using structured illumination
US10234284B2 (en) * 2016-05-13 2019-03-19 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Multifunctional rangefinder with at least two modes of operation
CN106091976B (zh) * 2016-05-27 2017-07-25 武汉大学 矩形体的自动化检测与三维重构系统及方法
US10339352B2 (en) 2016-06-03 2019-07-02 Hand Held Products, Inc. Wearable metrological apparatus
US9940721B2 (en) 2016-06-10 2018-04-10 Hand Held Products, Inc. Scene change detection in a dimensioner
US10401145B2 (en) * 2016-06-13 2019-09-03 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Method for calibrating an optical arrangement
US10163216B2 (en) 2016-06-15 2018-12-25 Hand Held Products, Inc. Automatic mode switching in a volume dimensioner
DK3475651T3 (da) * 2016-06-24 2022-10-31 3Shape As 3d-scanner, der anvender en struktureret sondelysstråle
CN109715894B (zh) 2016-07-15 2021-09-03 快砖知识产权私人有限公司 用于物料运输的吊杆
ES2899284T3 (es) 2016-07-15 2022-03-10 Fastbrick Ip Pty Ltd Vehículo que incorpora una máquina de colocación de ladrillos
US10884127B2 (en) * 2016-08-02 2021-01-05 Samsung Electronics Co., Ltd. System and method for stereo triangulation
US10417533B2 (en) * 2016-08-09 2019-09-17 Cognex Corporation Selection of balanced-probe sites for 3-D alignment algorithms
US10827163B2 (en) * 2016-08-09 2020-11-03 Facebook Technologies, Llc Multiple emitter illumination source for depth information determination
DE102016118468A1 (de) * 2016-09-29 2018-03-29 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Erfassungsvorrichtung für ein Kraftfahrzeug, Fahrerassistenzsystem, Kraftfahrzeug sowie Verfahren
CN110073243B (zh) 2016-10-31 2023-08-04 杰拉德·迪尔克·施密茨 利用动态体素探测的快速扫描激光雷达
US10909708B2 (en) 2016-12-09 2021-02-02 Hand Held Products, Inc. Calibrating a dimensioner using ratios of measurable parameters of optic ally-perceptible geometric elements
JP7329444B2 (ja) 2016-12-27 2023-08-18 ジェラルド ディルク スミッツ 機械知覚のためのシステム及び方法
JP2018124167A (ja) * 2017-01-31 2018-08-09 オムロン株式会社 傾斜測定装置
US10794686B2 (en) 2017-02-09 2020-10-06 Laitram, L.L.C. Apparatus and methods for measuring belts
US11047672B2 (en) 2017-03-28 2021-06-29 Hand Held Products, Inc. System for optically dimensioning
US10928489B2 (en) * 2017-04-06 2021-02-23 Microsoft Technology Licensing, Llc Time of flight camera
EP3622333A4 (en) 2017-05-10 2021-06-23 Gerard Dirk Smits SCAN MIRROR METHODS AND SYSTEMS
WO2018216342A1 (ja) * 2017-05-24 2018-11-29 ソニー株式会社 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
CN111095355B (zh) 2017-07-05 2023-10-20 快砖知识产权私人有限公司 实时定位和定向跟踪器
CN107202554B (zh) * 2017-07-06 2018-07-06 杭州思看科技有限公司 同时具备摄影测量和三维扫描功能的手持式大尺度三维测量扫描仪系统
US10733748B2 (en) 2017-07-24 2020-08-04 Hand Held Products, Inc. Dual-pattern optical 3D dimensioning
AU2018317941B2 (en) 2017-08-17 2023-11-09 Fastbrick Ip Pty Ltd Laser tracker with improved roll angle measurement
CN107631700B (zh) * 2017-09-07 2019-06-21 西安电子科技大学 三维扫描仪与全站仪相结合的三维数据测量方法
JP6919458B2 (ja) * 2017-09-26 2021-08-18 オムロン株式会社 変位計測装置、計測システム、および変位計測方法
JP6559201B2 (ja) * 2017-09-29 2019-08-14 株式会社トプコン 解析システム、解析方法、及び解析プログラム
US11401115B2 (en) 2017-10-11 2022-08-02 Fastbrick Ip Pty Ltd Machine for conveying objects and multi-bay carousel for use therewith
WO2019079750A1 (en) 2017-10-19 2019-04-25 Gerard Dirk Smits METHODS AND SYSTEMS FOR NAVIGATING A VEHICLE EQUIPPED WITH A NEW MILITARY MARKER SYSTEM
US10969223B2 (en) * 2017-10-19 2021-04-06 Groove Unlimited, Llc Point determination and projection device
JP2019087008A (ja) 2017-11-07 2019-06-06 東芝テック株式会社 画像処理システム及び画像処理方法
CN107747915A (zh) * 2017-11-10 2018-03-02 华东师范大学 基于数字微镜器件的闭环式三维视觉装置
CN111542728A (zh) 2017-11-13 2020-08-14 海克斯康测量技术有限公司 光学扫描装置的热管理
US10215856B1 (en) 2017-11-27 2019-02-26 Microsoft Technology Licensing, Llc Time of flight camera
CN107957250A (zh) * 2018-01-17 2018-04-24 吉林大学 一种地下空间激光3d成像装置及成像方法
US10379220B1 (en) 2018-01-29 2019-08-13 Gerard Dirk Smits Hyper-resolved, high bandwidth scanned LIDAR systems
KR20230159628A (ko) * 2018-02-23 2023-11-21 구라시키 보세키 가부시키가이샤 선형물의 선단 이동 방법, 및, 제어 장치
WO2019173556A1 (en) * 2018-03-09 2019-09-12 Northwestern University Adaptive sampling for structured light scanning
JP2019159872A (ja) * 2018-03-14 2019-09-19 セイコーエプソン株式会社 演算装置、演算装置の制御方法、および、コンピュータープログラム
US20190285404A1 (en) * 2018-03-16 2019-09-19 Faro Technologies, Inc. Noncontact three-dimensional measurement system
JP2019184430A (ja) * 2018-04-10 2019-10-24 大豊精機株式会社 ３次元位置計測システム
US10565718B2 (en) * 2018-04-18 2020-02-18 Faro Technologies, Inc. System and method of scanning an environment
CN108955641B (zh) * 2018-04-23 2020-11-17 维沃移动通信有限公司 一种深度摄像方法、深度摄像设备及移动终端
JP2021515250A (ja) * 2018-04-30 2021-06-17 パス ロボティクス，インコーポレイテッド 反射反証レーザースキャナ
US10584962B2 (en) 2018-05-01 2020-03-10 Hand Held Products, Inc System and method for validating physical-item security
FR3081592B1 (fr) * 2018-05-25 2021-05-14 Vit Systeme de determination d'images tridimensionnelles
CN108765487B (zh) 2018-06-04 2022-07-22 百度在线网络技术（北京）有限公司 重建三维场景的方法、装置、设备和计算机可读存储介质
US20200014909A1 (en) 2018-07-03 2020-01-09 Faro Technologies, Inc. Handheld three dimensional scanner with autofocus or autoaperture
JP7028086B2 (ja) * 2018-07-06 2022-03-02 日本製鉄株式会社 形状測定装置および形状測定方法
KR20200016675A (ko) * 2018-08-07 2020-02-17 삼성전자주식회사 광 스캐너 및 이를 포함하는 라이다 시스템
EP3608627B1 (en) * 2018-08-09 2023-11-08 Cognex Corporation Positioning system for components of optical systems
US11592832B2 (en) * 2018-08-20 2023-02-28 Uatc, Llc Automatic robotically steered camera for targeted high performance perception and vehicle control
USD866364S1 (en) 2018-08-20 2019-11-12 Faro Technologies, Inc. Measurement device
USD875573S1 (en) 2018-09-26 2020-02-18 Hexagon Metrology, Inc. Scanning device
US11722778B2 (en) 2018-10-08 2023-08-08 Florida Atlantic University Board Of Trustees Underwater imaging system
FR3087254B1 (fr) * 2018-10-16 2021-01-29 Commissariat Energie Atomique Configuration d'un dispositif de controle non destructif
US10883823B2 (en) 2018-10-18 2021-01-05 Cyberoptics Corporation Three-dimensional sensor with counterposed channels
DE102018218475B4 (de) * 2018-10-29 2022-03-10 Carl Zeiss Optotechnik GmbH Trackingsystem und optisches Messsystem zur Bestimmung mindestens einer räumlichen Position und Orientierung mindestens eines Messobjekts
WO2020123114A1 (en) * 2018-12-11 2020-06-18 Lowe's Companies, Inc. Robot motion planning for photogrammetry
CN109373931B (zh) * 2018-12-14 2020-11-03 上海晶电新能源有限公司 一种太阳能热发电用光学设备反射面面形检测系统及方法
JP7252755B2 (ja) * 2018-12-27 2023-04-05 株式会社小糸製作所 アクティブセンサ、物体識別システム、車両、車両用灯具
CN109862209B (zh) * 2019-01-04 2021-02-26 中国矿业大学 一种基于光线逆追踪技术还原井下图像的方法
JP7212559B2 (ja) * 2019-03-18 2023-01-25 住友重機械工業株式会社 形状測定装置及び形状測定方法
US10955236B2 (en) * 2019-04-05 2021-03-23 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional measuring system
CN110163903B (zh) * 2019-05-27 2022-02-25 百度在线网络技术（北京）有限公司 三维图像的获取及图像定位方法、装置、设备和存储介质
CN110349192B (zh) * 2019-06-10 2021-07-13 西安交通大学 一种基于三维激光点云的在线目标跟踪系统的跟踪方法
EP3758351B1 (en) 2019-06-26 2023-10-11 Faro Technologies, Inc. A system and method of scanning an environment using multiple scanners concurrently
JP2021022807A (ja) * 2019-07-26 2021-02-18 セイコーエプソン株式会社 プロジェクターの制御方法、及び、プロジェクター
JP7324097B2 (ja) * 2019-09-13 2023-08-09 株式会社トプコン ３次元測量装置、３次元測量方法および３次元測量プログラム
US11639846B2 (en) 2019-09-27 2023-05-02 Honeywell International Inc. Dual-pattern optical 3D dimensioning
US11107271B2 (en) * 2019-11-05 2021-08-31 The Boeing Company Three-dimensional point data based on stereo reconstruction using structured light
EP3822578A1 (de) * 2019-11-15 2021-05-19 Hexagon Technology Center GmbH Adaptiver 3d-scanner mit variablem messbereich
WO2021101525A1 (en) * 2019-11-19 2021-05-27 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Generating error data
CN112824935B (zh) * 2019-11-20 2023-02-28 深圳市光鉴科技有限公司 基于调制光场的深度成像系统、方法、设备及介质
US11372320B2 (en) 2020-02-27 2022-06-28 Gerard Dirk Smits High resolution scanning of remote objects with fast sweeping laser beams and signal recovery by twitchy pixel array
WO2021184163A1 (zh) * 2020-03-16 2021-09-23 上海芯歌智能科技有限公司 激光测量装置
WO2021184866A1 (zh) * 2020-03-16 2021-09-23 宁波飞芯电子科技有限公司 一种飞行时间距离测量装置及飞行时间距离测量方法
TWI773133B (zh) * 2020-07-10 2022-08-01 大陸商廣州印芯半導體技術有限公司 測距裝置以及測距方法
EP3988897B1 (en) * 2020-10-20 2023-09-27 Leica Geosystems AG Electronic surveying instrument
EP4246086A1 (en) * 2020-11-10 2023-09-20 Sony Semiconductor Solutions Corporation Shape measurement system
CN112378474B (zh) * 2020-11-17 2022-11-04 哈尔滨工业大学 大长径比卧式罐容积多站三维激光扫描内测装置及方法
CN112378477B (zh) * 2020-11-17 2022-11-04 哈尔滨工业大学 大长径比卧式罐容积连续激光扫描内测装置及测量方法
CN112378473B (zh) * 2020-11-17 2022-10-04 哈尔滨工业大学 大长径比立式罐容积多站三维激光扫描内测装置及方法
US11162783B1 (en) * 2020-12-18 2021-11-02 Yoed Abraham Fiber-optic 3D imaging
US11908162B2 (en) 2020-12-23 2024-02-20 Faro Technologies, Inc. Line scanner having target-tracking and geometry-tracking modes
US11930155B2 (en) 2020-12-23 2024-03-12 Faro Technologies, Inc. Handheld scanner for measuring three-dimensional coordinates
EP4043914A1 (de) * 2021-02-15 2022-08-17 Leica Geosystems AG Six-dof-messhilfsmittel
CN114396904A (zh) * 2021-11-29 2022-04-26 北京银河方圆科技有限公司 定位装置及定位系统

Family Cites Families (544)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2484641A (en) 1945-10-12 1949-10-11 Western Electric Co Method of separating adhering sheets by an air blast
US2612994A (en) 1949-10-20 1952-10-07 Norman J Woodland Classifying apparatus and method
US2682804A (en) 1950-09-26 1954-07-06 Taylor Taylor & Hobson Ltd Optical micrometer for alignment telescopes
US2784641A (en) 1952-06-20 1957-03-12 Keuffel & Esser Co Alignment telescope
US3497695A (en) 1961-12-11 1970-02-24 Raytheon Co Radiant energy transmitting device
GB1104021A (en) 1963-11-11 1968-02-21 Nat Res Dev Distance measuring apparatus
LU46404A1 (zh) 1964-06-26 1972-01-01
DE1210360B (de) 1964-11-07 1966-02-03 Leitz Ernst Gmbh Mit einem Laser-Entfernungsmesser gekoppelte Visiervorrichtung
US3365717A (en) 1965-09-03 1968-01-23 South African Inventions Method of and apparatus for providing a measure of the distance between two spaced points
US3627429A (en) 1968-08-14 1971-12-14 Spectra Physics Laser optical surveying instrument and method
US3658426A (en) 1968-09-11 1972-04-25 Itek Corp Alignment telescope
US3619058A (en) 1969-11-24 1971-11-09 Hewlett Packard Co Distance measuring apparatus
US3779645A (en) 1970-05-20 1973-12-18 Nippon Kogaku Kk Distance measuring device
US3728025A (en) 1971-03-08 1973-04-17 Cubic Corp Optical distance measuring equipment
US3740141A (en) 1971-09-20 1973-06-19 Laser Systems & Electronics Timing and measuring methods and means for laser distance measurements
US3813165A (en) 1971-09-20 1974-05-28 Laser Syst & Electronics Inc Digital distance measuring apparatus employing modulated light beam
US3832056A (en) 1972-03-13 1974-08-27 Aga Corp Distance measuring device using electro-optical techniques
DE2553691C2 (de) 1975-11-28 1986-10-30 MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn Verfahren zur opto-elektronischen Messung der Entfernung zwischen einem Meß- und einem Zielpunkt und Entfernungsmeßgerät zur Durchführung dieses Verfahrens
DE2235318C3 (de) 1972-07-19 1980-02-14 Ito-Patent Ag, Zuerich (Schweiz) Verfahren zur opto-elektronischen Messung der Entfernung und der Höhendifferenz und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
FR2206510A1 (zh) 1972-11-15 1974-06-07 Aga Ab
CH589856A5 (zh) 1975-12-29 1977-07-15 Kern & Co Ag
US4113381A (en) 1976-11-18 1978-09-12 Hewlett-Packard Company Surveying instrument and method
DE7704949U1 (de) 1977-02-18 1977-06-30 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Projektor mit versenkbarem tragegriff
US4178515A (en) 1978-05-12 1979-12-11 Lockheed Electronics Co., Inc. Optical signal communicating apparatus
GB2066015B (en) 1979-10-23 1984-02-15 South African Inventions Distance measurment
US4453825A (en) 1979-12-07 1984-06-12 Hewlett-Packard Company Distance transducer
US4413907A (en) 1980-11-07 1983-11-08 Robert F. Deike Remote control surveying
DE3103567A1 (de) 1981-02-03 1982-08-12 MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn Entfernungsmessverfahren nach dem prinzip der laufzeitmessung eines messlichtimpulses und vorrichtung zu seiner durchfuehrung
JPS6318960Y2 (zh) 1981-03-12 1988-05-27
US4498764A (en) 1981-06-09 1985-02-12 Ludwig Bolkow Dynamic control arrangement for a distance measuring apparatus
JPS5848880A (ja) 1981-06-09 1983-03-22 エムテ−ツエ−　メステヒニ−ク　ウント　オプトエレクトロニ−ク　ア−ゲ− 距離測定装置の動特性制御装置
DE3219423C2 (de) 1981-06-09 1986-04-30 MTC, Meßtechnik und Optoelektronik AG, Neuenburg/Neuchâtel Entfernungsmeßverfahren und Vorrichtung zu seiner Durchführung
JPS584881A (ja) 1981-06-26 1983-01-12 三菱レイヨン株式会社 トリアセテ−ト繊維の染色法
SE450975B (sv) 1981-08-07 1987-09-07 Geotronics Ab Anordning for operatorskommunikation i ett system for elektronisk distansmetning
JPS5838880A (ja) 1981-08-31 1983-03-07 Tokyo Optical Co Ltd 光波距離計
DE3371561D1 (en) 1982-08-26 1987-06-19 Shell Int Research A method and apparatus for tank gauging using diode lasers and optical fibres
US4537475A (en) 1983-04-01 1985-08-27 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Scattering apodizer for laser beams
US4692023A (en) 1983-07-30 1987-09-08 Tokyo Kagaku Kikai Kabushiki Kaisha Optical adapter for a light-wave rangefinder
DE3328335A1 (de) 1983-08-05 1985-02-14 Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn Datenfernueberwachungssystem
JPS6097288A (ja) 1983-11-01 1985-05-31 Toshiba Corp 距離測定装置
DE3476583D1 (en) 1983-12-22 1989-03-09 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Interferometer
JPS60237307A (ja) 1984-05-11 1985-11-26 Yokogawa Hewlett Packard Ltd レ−ザ測長器
DE3530922A1 (de) 1984-08-29 1986-04-30 Optische Werke G. Rodenstock, 8000 München Projektionseinrichtung fuer einen leitstrahl
US4777660A (en) 1984-11-06 1988-10-11 Optelecom Incorporated Retroreflective optical communication system
US4699598A (en) 1985-04-10 1987-10-13 Outboard Marine Corporation Marine propulsion device water supply system
SE448199B (sv) 1985-05-09 1987-01-26 Ericsson Telefon Ab L M Anleggning med flera berbara, snorlosa telefonapparater
US4632547A (en) 1985-09-10 1986-12-30 Broomer Research Corporation Autocollimating alignment telescope
US4767257A (en) 1985-12-23 1988-08-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Industrial robot
US4714339B2 (en) 1986-02-28 2000-05-23 Us Commerce Three and five axis laser tracking systems
JPH0665818B2 (ja) 1987-05-30 1994-08-24 幸一郎 内藤 排水路用ブロック搬送機
US4790651A (en) 1987-09-30 1988-12-13 Chesapeake Laser Systems, Inc. Tracking laser interferometer
US4839507A (en) 1987-11-06 1989-06-13 Lance May Method and arrangement for validating coupons
SE464782B (sv) 1987-12-22 1991-06-10 Geotronics Ab Anordning vid ett avstaandsmaetningsinstrument saasom hjaelpmedel vid utsaettning
US5069524A (en) 1988-03-07 1991-12-03 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Robot hand optical fiber connector coupling assembly
JP2717408B2 (ja) 1988-03-16 1998-02-18 株式会社トプコン 直線性誤差補正機能を有する光波測距装置
US4983021A (en) 1988-08-10 1991-01-08 Fergason James L Modulated retroreflector system
DE3827458C3 (de) 1988-08-12 1998-04-09 Michael H Dipl Ing Korte Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Raumkoordinaten eines beliebigen Meßpunktes
JP2731565B2 (ja) 1989-01-11 1998-03-25 松下電工株式会社 測距センサー
SE500856C2 (sv) 1989-04-06 1994-09-19 Geotronics Ab Arrangemang att användas vid inmätnings- och/eller utsättningsarbete
GB8909357D0 (en) 1989-04-25 1989-06-14 Renishaw Plc Position determining apparatus
JPH0331715A (ja) 1989-06-29 1991-02-12 Hazama Gumi Ltd 測点の変位自動計測方法及びその装置
US4963832A (en) 1989-08-08 1990-10-16 At&T Bell Laboratories Erbium-doped fiber amplifier coupling device
US5034012A (en) * 1989-11-21 1991-07-23 Synthes (U.S.A.) Intramedullary nail with loop tip
FR2656212A1 (fr) * 1989-12-27 1991-06-28 Hardy Jeanmarie Systeme d'enclouage centro-medullaire pour immobiliser une fracture d'un os.
GB9003221D0 (en) 1990-02-13 1990-04-11 Optical Measuring Systems Limi Electronic distance measurement
US5440326A (en) 1990-03-21 1995-08-08 Gyration, Inc. Gyroscopic pointer
US5138154A (en) 1990-04-04 1992-08-11 Gyration Inc. Shaft angle encoder with rotating off-axis interference pattern
JPH068733B2 (ja) 1990-07-05 1994-02-02 佐藤工業株式会社 レーザーポジショナー及びこれを用いた定点マーキング方法
DE69119500T2 (de) 1990-07-18 1996-11-14 Spectra Physics Laserplane Inc System und Verfahren zur dreidimensionalen Positionserfassung
US5082364A (en) 1990-08-31 1992-01-21 Russell James T Rf modulated optical beam distance measuring system and method
US5198877A (en) 1990-10-15 1993-03-30 Pixsys, Inc. Method and apparatus for three-dimensional non-contact shape sensing
US5198868A (en) 1990-11-16 1993-03-30 Sato Kogyo Co., Ltd. Laser surveying system having a function of marking reference points
US5121242A (en) 1991-02-04 1992-06-09 Martin Marietta Corporation Retro-reflective optical transceiver
US5175601A (en) * 1991-10-15 1992-12-29 Electro-Optical Information Systems High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system
JPH05257005A (ja) 1992-02-06 1993-10-08 Nec Corp 光反射器
DE9205427U1 (zh) 1992-04-21 1992-06-25 Bodenseewerk Geraetetechnik Gmbh, 7770 Ueberlingen, De
JP3132894B2 (ja) 1992-04-24 2001-02-05 工業技術院長 距離測定装置
JP2584875Y2 (ja) 1992-05-26 1998-11-11 株式会社ニコン 光波測距装置
DE4227492A1 (de) 1992-08-20 1994-02-24 Fritz Stahlecker Faserbandführungsvorrichtung für Streckwerke von Spinnereimaschinen
US5433718A (en) * 1992-08-20 1995-07-18 Brinker; Mark Antibiotic eluding intramedullary nail apparatus
JPH0697288A (ja) 1992-09-09 1994-04-08 Kawasaki Steel Corp 半導体装置の製造方法
US5263103A (en) 1992-11-16 1993-11-16 At&T Bell Laboratories Apparatus comprising a low reflection optical fiber termination
US5331468A (en) 1992-11-27 1994-07-19 Eastman Kodak Company Intensity redistribution for exposure correction in an overfilled symmetrical laser printer
JP3300998B2 (ja) 1992-12-08 2002-07-08 株式会社ソキア 三次元座標測定装置
US5319434A (en) 1992-12-30 1994-06-07 Litton Systems, Inc. Laser rangefinder apparatus with fiber optic interface
US5301005A (en) 1993-02-10 1994-04-05 Spectra-Physics Laserplane, Inc. Method and apparatus for determining the position of a retroreflective element
JP3268608B2 (ja) 1993-02-12 2002-03-25 株式会社トプコン 測量装置
US5402582A (en) 1993-02-23 1995-04-04 Faro Technologies Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
US5611147A (en) 1993-02-23 1997-03-18 Faro Technologies, Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
JPH06241779A (ja) 1993-02-23 1994-09-02 Toshiba Corp 微小位置決め装置
JPH0785016B2 (ja) 1993-03-12 1995-09-13 株式会社愛工社 測量ターゲットおよび送電用鉄塔
US5416321A (en) 1993-04-08 1995-05-16 Coleman Research Corporation Integrated apparatus for mapping and characterizing the chemical composition of surfaces
US5455670A (en) 1993-05-27 1995-10-03 Associated Universities, Inc. Optical electronic distance measuring apparatus with movable mirror
US5392521A (en) 1993-06-10 1995-02-28 Allen; Michael P. Surveyor's prism target
JPH074967A (ja) 1993-06-15 1995-01-10 Nikon Corp 測量装置
US5724264A (en) 1993-07-16 1998-03-03 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object
US5500737A (en) 1993-07-21 1996-03-19 General Electric Company Method for measuring the contour of a surface
US5402193A (en) 1993-08-30 1995-03-28 Optical Gaging Products, Inc. Method and means for projecting images in a contour projector
JP3307730B2 (ja) 1993-08-30 2002-07-24 浜松ホトニクス株式会社 光学測定装置
FR2711910B1 (fr) * 1993-11-05 1996-01-12 Lepine Jacques Système d'enclouage centro-médullaire composé d'éléments unitaires dont la fixation entre eux permet d'obtenir un assemblage "sur mesure" et immédiat.
US5448505A (en) 1993-11-24 1995-09-05 Tbe Boeing Company Feed through dimensional measurement system
US5347306A (en) 1993-12-17 1994-09-13 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Animated electronic meeting place
JPH07190772A (ja) * 1993-12-24 1995-07-28 Mitsui Constr Co Ltd 測量装置
US5532816A (en) 1994-03-15 1996-07-02 Stellar Industries, Inc. Laser tracking wheel alignment measurement apparatus and method
SE9402047L (sv) 1994-06-13 1995-12-14 Contractor Tools Ab Förfarande och anordning för fjärrstyrning av en eller flera arbetsmaskiner
US6015429A (en) 1994-09-08 2000-01-18 Gore Enterprise Holdings, Inc. Procedures for introducing stents and stent-grafts
DE4438955C2 (de) 1994-10-31 1996-09-26 Swarovski Optik Kg Zielfernrohr
US5594169A (en) 1994-11-04 1997-01-14 Gyration,Inc. Optically sensed wire gyroscope apparatus and system, and methods for manufacture and cursor control
JP2627871B2 (ja) 1994-11-25 1997-07-09 日本鉄道建設公団 三次元測量用ターゲット
JP3599805B2 (ja) 1994-12-09 2004-12-08 株式会社トプコン 測量機
US5926388A (en) 1994-12-09 1999-07-20 Kimbrough; Thomas C. System and method for producing a three dimensional relief
JP3109969B2 (ja) 1994-12-28 2000-11-20 松下電器産業株式会社 ファクシミリ蓄積交換装置
JPH08220232A (ja) 1995-02-08 1996-08-30 Asahi Optical Co Ltd 光波測距装置および光波測距装置における光路切り換え方法
JP3523368B2 (ja) 1995-05-12 2004-04-26 ペンタックス株式会社 光波距離計
US6262801B1 (en) 1995-05-25 2001-07-17 Kabushiki Kaisha Topcon Laser reference level setting device
US5671160A (en) 1995-06-05 1997-09-23 Gcs Properties Position sensing system
JPH0914965A (ja) 1995-06-27 1997-01-17 Nikon Corp 測量用ターゲット
GB9515311D0 (en) 1995-07-26 1995-09-20 3D Scanners Ltd Stripe scanners and methods of scanning
SE504941C2 (sv) 1995-09-14 1997-06-02 Geotronics Ab Förfarande och anordning för inriktning
NO301999B1 (no) 1995-10-12 1998-01-05 Metronor As Kombinasjon av laser tracker og kamerabasert koordinatmåling
JPH09113223A (ja) 1995-10-18 1997-05-02 Fuji Xerox Co Ltd 非接触距離姿勢測定方法及び装置
USD378751S (en) 1995-10-19 1997-04-08 Gyration, Inc. Graphic display controller
DE19542490C1 (de) 1995-11-15 1997-06-05 Leica Ag Elektro-optisches Meßgerät für absolute Distanzen
US5742379A (en) 1995-11-29 1998-04-21 Reifer; Michael H. Device and method for electronically measuring distances
US5867305A (en) 1996-01-19 1999-02-02 Sdl, Inc. Optical amplifier with high energy levels systems providing high peak powers
US5698784A (en) 1996-01-24 1997-12-16 Gyration, Inc. Vibratory rate gyroscope and methods of assembly and operation
DE19602327C2 (de) 1996-01-24 1999-08-12 Leica Geosystems Ag Meßkugel-Reflektor
JPH09236662A (ja) 1996-02-29 1997-09-09 Ushikata Shokai:Kk 光波距離計
US5825350A (en) 1996-03-13 1998-10-20 Gyration, Inc. Electronic pointing apparatus and method
US5936721A (en) 1996-03-18 1999-08-10 Kabushiki Kaisha Topcon Guide beam direction setting apparatus
JP3741477B2 (ja) 1996-03-18 2006-02-01 株式会社トプコン 測量システム
JP3837609B2 (ja) 1996-03-19 2006-10-25 株式会社トプコン レーザー照射装置
DE19614108C1 (de) 1996-04-10 1997-10-23 Fraunhofer Ges Forschung Anordnung zur Vermessung der Koordinaten eines an einem Objekt angebrachten Retroreflektors
US5892575A (en) 1996-05-10 1999-04-06 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for imaging a scene using a light detector operating in non-linear geiger-mode
US6681145B1 (en) 1996-06-06 2004-01-20 The Boeing Company Method for improving the accuracy of machines
JPH102722A (ja) 1996-06-18 1998-01-06 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 三次元位置計測装置
US5732095A (en) 1996-09-20 1998-03-24 Hewlett-Packard Company Dual harmonic-wavelength split-frequency laser
US5754284A (en) 1996-10-09 1998-05-19 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. Optical time domain reflectometer with internal reference reflector
DE19643287A1 (de) 1996-10-21 1998-04-23 Leica Ag Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten
US5817243A (en) 1996-10-30 1998-10-06 Shaffer; Wayne K. Method for applying decorative contrast designs to automotive and motorcycle parts using lasers
DE19647152A1 (de) 1996-11-14 1998-05-28 Sick Ag Laserabstandsermittlungsvorrichtung
AU6000898A (en) 1997-02-11 1998-08-26 Scientific Generics Limited Signalling system
US5886775A (en) 1997-03-12 1999-03-23 M+Ind Noncontact digitizing imaging system
US5957559A (en) 1997-04-29 1999-09-28 Virtek Vision Corporation Laser scanned menu
JP2965938B2 (ja) 1997-05-23 1999-10-18 マック株式会社 自動削孔システム
US5861956A (en) 1997-05-27 1999-01-19 Spatialmetrix Corporation Retroreflector for use with tooling ball
DE19733491B4 (de) 1997-08-01 2009-04-16 Trimble Jena Gmbh Verfahren zur Zielsuche für geodätische Geräte
EP1004051A1 (en) 1997-08-01 2000-05-31 Akzo Nobel N.V. Cascaded optical switch comprising at least one gate
US6720949B1 (en) 1997-08-22 2004-04-13 Timothy R. Pryor Man machine interfaces and applications
GB9718081D0 (en) 1997-08-28 1997-10-29 Ciba Geigy Ag Fluorescent whitening agent
US6052190A (en) 1997-09-09 2000-04-18 Utoptics, Inc. Highly accurate three-dimensional surface digitizing system and methods
US6017125A (en) 1997-09-12 2000-01-25 The Regents Of The University Of California Bar coded retroreflective target
US6111563A (en) 1997-10-27 2000-08-29 Hines; Stephen P. Cordless retroreflective optical computer mouse
US6344846B1 (en) 1997-10-27 2002-02-05 Stephen P. Hines Optical retroreflective remote control
US6034722A (en) 1997-11-03 2000-03-07 Trimble Navigation Limited Remote control and viewing for a total station
US6171018B1 (en) 1997-11-10 2001-01-09 Kabushiki Kaisha Topcon Automatic control system for construction machinery
JP3784154B2 (ja) 1997-11-14 2006-06-07 株式会社トプコン 測量機の通信システム
DE69830295T2 (de) 1997-11-27 2005-10-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma Steuerungsverfahren
JP3569426B2 (ja) 1997-12-05 2004-09-22 ペンタックス株式会社 測量用反射部材
TW367407B (en) 1997-12-22 1999-08-21 Asml Netherlands Bv Interferometer system with two wavelengths, and lithographic apparatus provided with such a system
JPH11218673A (ja) 1998-01-30 1999-08-10 Olympus Optical Co Ltd カメラシステム
JP3941215B2 (ja) 1998-04-16 2007-07-04 株式会社ニコン 測量機及びポイント設定方法
US6317954B1 (en) 1998-05-11 2001-11-20 Vought Aircraft Industries, Inc. System and method for aligning aircraft coordinate systems
US6433866B1 (en) 1998-05-22 2002-08-13 Trimble Navigation, Ltd High precision GPS/RTK and laser machine control
JPH11337642A (ja) 1998-05-26 1999-12-10 Nikon Corp 光波測距装置
US6347290B1 (en) 1998-06-24 2002-02-12 Compaq Information Technologies Group, L.P. Apparatus and method for detecting and executing positional and gesture commands corresponding to movement of handheld computing device
US6573883B1 (en) 1998-06-24 2003-06-03 Hewlett Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for controlling a computing device with gestures
US6351483B1 (en) 1998-06-29 2002-02-26 Quarton, Inc. Laser optical axis correcting method
US7353954B1 (en) 1998-07-08 2008-04-08 Charles A. Lemaire Tray flipper and method for parts inspection
US6681031B2 (en) 1998-08-10 2004-01-20 Cybernet Systems Corporation Gesture-controlled interfaces for self-service machines and other applications
US6369794B1 (en) 1998-09-09 2002-04-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Operation indication outputting device for giving operation indication according to type of user's action
JP2000111340A (ja) 1998-10-08 2000-04-18 Topcon Corp 測量機の光通信装置
JP2000147604A (ja) * 1998-11-13 2000-05-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd レンジファインダ
DE19855296C1 (de) 1998-12-01 2000-08-31 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur Entfernungsmessung mittels eines Halbleiterlasers im sichtbaren Wellenlängenbereich nach dem Laufzeitverfahren
US6222465B1 (en) 1998-12-09 2001-04-24 Lucent Technologies Inc. Gesture-based computer interface
JP4088906B2 (ja) 1998-12-16 2008-05-21 株式会社トプコン 測量機の受光装置
JP2000234930A (ja) 1999-02-16 2000-08-29 Topcon Corp 反射プリズム装置
US6100540A (en) 1999-02-22 2000-08-08 Visidyne, Inc. Laser displacement measurement system
JP2000266540A (ja) 1999-03-17 2000-09-29 Topcon Corp 電子レベル
USD427087S (en) 1999-03-19 2000-06-27 Asahi Seimitsu Kabushiki Kaisha Measurement surveying device
US6630993B1 (en) 1999-03-22 2003-10-07 Arc Second Inc. Method and optical receiver with easy setup means for use in position measurement systems
JP4320099B2 (ja) 1999-03-26 2009-08-26 株式会社トプコン 測量装置
JP4236326B2 (ja) 1999-03-26 2009-03-11 株式会社トプコン 自動測量機
JP2000284169A (ja) 1999-03-31 2000-10-13 Olympus Optical Co Ltd 測距装置
US7800758B1 (en) 1999-07-23 2010-09-21 Faro Laser Trackers, Llc Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates
AT407202B (de) 1999-06-10 2001-01-25 Perger Andreas Dr Kombinierte fernrohr- und entfernungsmessvorrichtung
JP4206568B2 (ja) 1999-07-01 2009-01-14 株式会社ニコン 自動測量システム
US6766036B1 (en) 1999-07-08 2004-07-20 Timothy R. Pryor Camera based man machine interfaces
JP2001021354A (ja) 1999-07-09 2001-01-26 Topcon Corp 光学位置検出装置
JP4223634B2 (ja) 1999-07-21 2009-02-12 株式会社 ソキア・トプコン 測量装置
US6490027B1 (en) 1999-07-27 2002-12-03 Suzanne K. Rajchel Reduced noise optical system and method for measuring distance
EP1200853B1 (de) 1999-07-28 2003-03-12 Leica Geosystems AG Verfahren und anordnung zur bestimmung von räumlichen positionen und orientierungen
US6567101B1 (en) 1999-10-13 2003-05-20 Gateway, Inc. System and method utilizing motion input for manipulating a display of data
JP2001165662A (ja) 1999-12-08 2001-06-22 Toshiyasu Kato 反射プリズム等の正対装置
DE10006493C2 (de) 2000-02-14 2002-02-07 Hilti Ag Verfahren und Vorrichtung zur optoelektronischen Entfernungsmessung
US6501543B2 (en) 2000-02-28 2002-12-31 Arc Second, Inc. Apparatus and method for determining position
CN1095417C (zh) 2000-03-09 2002-12-04 北京邮电大学 三轴近似正交的六自由度并联机构
SE0000850D0 (sv) 2000-03-13 2000-03-13 Pink Solution Ab Recognition arrangement
JP2001272468A (ja) 2000-03-27 2001-10-05 Nikon Corp 光導波路デバイス及びこれを用いた光波測距装置
US6193371B1 (en) 2000-03-27 2001-02-27 Richard Snook Keratometer/pachymeter
JP3658269B2 (ja) 2000-03-29 2005-06-08 株式会社ルネサステクノロジ 固体表面及び半導体製造装置の処理方法並びにそれを用いた半導体装置の製造方法
GB0008303D0 (en) 2000-04-06 2000-05-24 British Aerospace Measurement system and method
DE10022054B4 (de) 2000-05-06 2006-05-24 Leuze Electronic Gmbh & Co Kg Optischer Distanzsensor
JP3881498B2 (ja) 2000-05-25 2007-02-14 ペンタックス株式会社 光波測距儀
JP2001353112A (ja) 2000-06-15 2001-12-25 Sanyo Electric Co Ltd 電気掃除機
JP4416925B2 (ja) 2000-07-19 2010-02-17 株式会社トプコン 位置測定設定システム及びそれに使用する受光センサ装置
US6754370B1 (en) 2000-08-14 2004-06-22 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Real-time structured light range scanning of moving scenes
EP1311873B1 (de) 2000-08-25 2011-08-10 Leica Geosystems AG Verfahren und vorrichtung zur entfernungsmessung
GB0022444D0 (en) 2000-09-13 2000-11-01 Bae Systems Plc Positioning system and method
JP3780836B2 (ja) 2000-09-21 2006-05-31 株式会社大林組 山岳トンネル用マーキング装置の制御方法
US6563569B2 (en) 2000-09-25 2003-05-13 Agency Of Industrial Science & Technology, Ministry Of International Trade & Industry Laser tracking interferometric length measuring instrument and method of measuring length and coordinates using the same
JP2002098762A (ja) 2000-09-26 2002-04-05 Nikon Corp 光波測距装置
CN1308701C (zh) 2000-09-27 2007-04-04 莱卡地球系统公开股份有限公司 在测距装置中信号检测的装置和方法
JP4432246B2 (ja) 2000-09-29 2010-03-17 ソニー株式会社 観客状況判定装置、再生出力制御システム、観客状況判定方法、再生出力制御方法、記録媒体
JP4916899B2 (ja) 2000-10-18 2012-04-18 シャープ株式会社 発光型表示素子
US6668466B1 (en) 2000-10-19 2003-12-30 Sandia Corporation Highly accurate articulated coordinate measuring machine
CN1290850A (zh) 2000-10-31 2001-04-11 上海交通大学 非接触式六自由度运动测量与分析系统
WO2002037466A1 (en) 2000-11-02 2002-05-10 Essential Reality, Inc Electronic user worn interface device
JP4767403B2 (ja) 2000-11-06 2011-09-07 本田技研工業株式会社 三次元計測装置および三次元計測方法
EP1211481A3 (de) 2000-11-29 2004-05-19 microSystems GmbH Prüfvorrichtung zum Erkennen der Geometrie und/oder Lage von Bauteilen
WO2002044754A1 (de) 2000-11-30 2002-06-06 Kurt Giger Verfahren und vorrichtung zur frequenzsynthese in einem entfernungsmessgerat
US6650222B2 (en) 2000-12-07 2003-11-18 Cooper Technologies Company Modular fuseholder
JP2002209361A (ja) 2001-01-10 2002-07-26 Canon Electronics Inc モーター
US7031875B2 (en) 2001-01-24 2006-04-18 Geo Vector Corporation Pointing systems for addressing objects
EP1373995B1 (en) 2001-02-02 2006-08-16 Renishaw plc Machine tool probe
WO2002063241A1 (fr) 2001-02-08 2002-08-15 Nkk Corporation Procede de mesure de coordonnees tridimensionnelles, dispositif de mesure de coordonnees tridimensionnelles et procede permettant la construction d"une structure de grande dimension
US7030861B1 (en) 2001-02-10 2006-04-18 Wayne Carl Westerman System and method for packing multi-touch gestures onto a hand
US6964113B2 (en) 2001-03-06 2005-11-15 Faro Laser Trackers, Llc Scale-bar artifact and methods of use
EP1241436B1 (fr) 2001-03-14 2014-11-19 Tesa Sa Colonne de mesure de dimensions, et procédé permettant d'introduire une commande de changement de mode de mesure dans une telle colonne.
AUPR402501A0 (en) 2001-03-29 2001-04-26 Connolly, Michael Laser levelling apparatus
JP2004527751A (ja) 2001-04-10 2004-09-09 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド チョッパ安定化絶対距離計
US7505119B2 (en) 2001-04-13 2009-03-17 Optical Air Data Systems, Llc Multi-function optical system and assembly
DE10118392A1 (de) 2001-04-13 2002-11-07 Zeiss Carl System und Verfahren zum Bestimmen einer Position oder/und Orientierung zweier Objekte relativ zueinander sowie Strahlführungsanordnung, Interferometeranordnung und Vorrichtung zum Ändern einer optischen Weglänge zum Einsatz in einem solchen System und Verfahren
US6598306B2 (en) 2001-04-17 2003-07-29 Homer L. Eaton Self-loading spatial reference point array
KR100421428B1 (ko) 2001-04-24 2004-03-09 한국과학기술원 반사체를 이용한 미소 6자유도 운동 측정 장치
US20030014212A1 (en) 2001-07-12 2003-01-16 Ralston Stuart E. Augmented vision system using wireless communications
US6922599B2 (en) 2001-08-13 2005-07-26 The Boeing Company System and method for producing an assembly by directly implementing three-dimensional computer-aided design component definitions
US6587253B2 (en) 2001-08-16 2003-07-01 Silicon Light Machines Enhance thermal stability through optical segmentation
JP2005526229A (ja) 2001-08-22 2005-09-02 オートメイティッド プレシジョン インコーポレイテッド ６次元レーザトラッキングシステム及び方法
JP5037765B2 (ja) 2001-09-07 2012-10-03 株式会社トプコン オペレータ誘導システム
EP1476797B1 (en) 2001-10-11 2012-11-21 Laser Projection Technologies, Inc. Method and system for visualizing surface errors
WO2003040673A2 (en) 2001-11-02 2003-05-15 Phipps Jack M Temperature sensor with enhanced ambient air temperature detection
AU2002357737A1 (en) 2001-11-16 2003-06-10 Faro Technologies, Inc. Method and system for assisting a user taking measurements using a coordinate measurement machine
US6868194B2 (en) 2001-12-19 2005-03-15 General Electric Company Method for the extraction of image features caused by structure light using image reconstruction
DE10200366A1 (de) 2002-01-08 2003-07-17 Zeiss Optronik Gmbh Mehrkanalempfängersystem für winkelaufgelöste Laserentfernungsmessung
WO2003062744A1 (en) 2002-01-16 2003-07-31 Faro Technologies, Inc. Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates
US7535496B2 (en) 2002-01-30 2009-05-19 Intel Corporation Audio-based attention grabber for imaging devices
CN1160654C (zh) 2002-02-07 2004-08-04 天津大学 六自由度测量功能的激光扫描跟踪仪
US6957496B2 (en) 2002-02-14 2005-10-25 Faro Technologies, Inc. Method for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine
US7246030B2 (en) 2002-02-14 2007-07-17 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US6904691B2 (en) 2002-02-14 2005-06-14 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with improved counter balance
US7881896B2 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
WO2003073121A1 (en) 2002-02-22 2003-09-04 Faro Laser Trackers, Llc Spherically mounted light source with angle measuring device, tracking system, and method for determining coordinates
EP1514257A4 (en) 2002-04-12 2015-12-30 Henry K Obermeyer MANIFOLD WITH MULTIPLE AXES AND MEDIUM TRANSDUCER
AU2003228549A1 (en) 2002-04-15 2003-11-03 Toolz, Ltd. Constructing a waveform from multiple threshold samples
US20030206285A1 (en) 2002-05-06 2003-11-06 Automated Precision, Inc. Nine dimensional laser tracking system and method
US7440590B1 (en) * 2002-05-21 2008-10-21 University Of Kentucky Research Foundation System and technique for retrieving depth information about a surface by projecting a composite image of modulated light patterns
DE10235562A1 (de) 2002-08-03 2004-02-19 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Distanzmessung
EP1388739A1 (de) 2002-08-09 2004-02-11 HILTI Aktiengesellschaft Laserdistanzmessgerät mit Phasenlaufzeitmessung
US20040035277A1 (en) 2002-08-20 2004-02-26 Hubbs William O. Track and punch SMR marking device
US7230689B2 (en) 2002-08-26 2007-06-12 Lau Kam C Multi-dimensional measuring system
US20040041996A1 (en) * 2002-08-28 2004-03-04 Fuji Xerox Co., Ltd. Range finder and method
DE10239448A1 (de) 2002-08-28 2005-06-16 Robert Bosch Gmbh Entfernungsmessgerät
JP2004108939A (ja) 2002-09-18 2004-04-08 Pentax Precision Co Ltd 測量機の遠隔操作システム
US7765084B2 (en) 2002-09-20 2010-07-27 Trimble A.B. Position control arrangement, especially for a surveying instrument, and a surveying instrument
SE524329C8 (sv) 2002-09-20 2004-10-20 Trimble Ab Ett positionsstyrarrangemang, speciellt för ett geodektiskt instrument, samt ett geodetiskt instrument
JP2004144629A (ja) 2002-10-25 2004-05-20 Pentax Precision Co Ltd 測量機
JP4127503B2 (ja) 2002-11-22 2008-07-30 株式会社トプコン 反射体自動追尾装置
JP2004170355A (ja) 2002-11-22 2004-06-17 Topcon Corp 反射体自動追尾装置
JP4255682B2 (ja) 2002-11-22 2009-04-15 株式会社トプコン 反射体自動追尾装置
US7110194B2 (en) 2002-11-27 2006-09-19 Hubbs Machine & Manufacturing Inc. Spherical retro-reflector mount negative
SE525290C2 (sv) 2002-12-20 2005-01-25 Trimble Ab Geodetiskt system för mätning/utsättning och metod för användning av detsamma
KR20050096125A (ko) 2003-01-09 2005-10-05 오르보테크 엘티디. 2차원 및 형상을 동시에 검사하기 위한 방법과 장치
JP4104991B2 (ja) 2003-01-16 2008-06-18 株式会社トプコン 光波距離計
EP1588552A1 (en) 2003-01-22 2005-10-26 Nokia Corporation Image control
ITTO20030139A1 (it) 2003-02-27 2004-08-28 Comau Spa Robot industriale
US7286246B2 (en) 2003-03-31 2007-10-23 Mitutoyo Corporation Method and apparatus for non-contact three-dimensional surface measurement
US7233316B2 (en) 2003-05-01 2007-06-19 Thomson Licensing Multimedia user interface
DE10321749B4 (de) 2003-05-09 2018-05-30 Trimble Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der räumlichen Lage und Position eines Reflektorstabes in Bezug zu einem Aufhaltepunkt
JP2004340880A (ja) 2003-05-19 2004-12-02 Soatec Inc レーザ測定装置
JP4301863B2 (ja) 2003-05-21 2009-07-22 株式会社トプコン 測距装置
JP2005010585A (ja) 2003-06-20 2005-01-13 Tdk Corp ホログラフィック光学素子、その製造方法、及びホログラフィック記録システム
CN1297796C (zh) 2003-07-02 2007-01-31 西安交通大学 线阵光电传感器层析扫描三维测量方法及其装置
EP2568312A3 (en) 2003-09-05 2013-11-06 Faro Technologies, Inc. Self-compensating laser tracker
US7583375B2 (en) 2003-09-05 2009-09-01 Faro Technologies, Inc. Self-compensating laser tracker
EP1682936B1 (en) 2003-09-10 2016-03-16 Nikon Metrology NV Laser projection systems and method
DE10344922B4 (de) 2003-09-25 2008-06-26 Siemens Audiologische Technik Gmbh Rundum-Scanner
DE10361870B4 (de) 2003-12-29 2006-05-04 Faro Technologies Inc., Lake Mary Laserscanner und Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung des Laserscanners
US7384220B2 (en) 2004-01-06 2008-06-10 The Boeing Company Laser-guided coordination hole drilling
JP4832720B2 (ja) 2004-01-29 2011-12-07 株式会社トプコン パルス信号の処理装置、パルス信号の処理方法およびプログラム
JP4177765B2 (ja) 2004-01-30 2008-11-05 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
WO2005083477A1 (en) 2004-02-24 2005-09-09 Faro Technologies, Inc. Retroreflector covered by window
KR100631834B1 (ko) 2004-03-03 2006-10-09 삼성전기주식회사 버튼 조작없이 번호입력이 가능한 휴대폰 및 상기 휴대폰의 번호 입력 방법
DE102004024171A1 (de) 2004-03-09 2005-09-29 Thorsten Beckmann System zum Vermessen und Einrichten von Räumen
JP4438467B2 (ja) 2004-03-19 2010-03-24 アイシン精機株式会社 ３次元測定機におけるワーク温度補正方法
DE202004004945U1 (de) 2004-03-26 2004-10-21 Aua-Map Gmbh Lotstab für Vermessungssysteme
US8320708B2 (en) 2004-04-02 2012-11-27 K-Nfb Reading Technology, Inc. Tilt adjustment for optical character recognition in portable reading machine
US7634374B2 (en) 2004-04-26 2009-12-15 Orthosoft Inc. Method for permanent calibration based on actual measurement
JP4177784B2 (ja) 2004-05-14 2008-11-05 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
JP2005326317A (ja) 2004-05-14 2005-11-24 Sokkia Co Ltd 測量システム
JP3935897B2 (ja) 2004-06-15 2007-06-27 北陽電機株式会社 光波測距装置
EP1610091A1 (de) 2004-06-23 2005-12-28 Leica Geosystems AG Scannersystem und Verfahren zur Erfassung von Oberflächen
US7111783B2 (en) 2004-06-25 2006-09-26 Board Of Trustees Operating Michigan State University Automated dimensional inspection
US20060009929A1 (en) 2004-07-06 2006-01-12 Boyette Roger L Jr In-service insulated tank certification
US20060017720A1 (en) 2004-07-15 2006-01-26 Li You F System and method for 3D measurement and surface reconstruction
US7325326B1 (en) 2004-08-09 2008-02-05 Project Consulting Services, Inc. Method and apparatus for best fitting two or more items
US6996914B1 (en) 2004-08-09 2006-02-14 Project Consulting Services, Inc. Method and apparatus for best fitting two or more items
JP2006084460A (ja) 2004-08-18 2006-03-30 Tomohisa Oumoto 指示装置、指示方法、設置情報算出装置、及び設置情報算出方法
JP4501587B2 (ja) 2004-08-18 2010-07-14 富士ゼロックス株式会社 ３次元画像測定装置および方法
US20080316503A1 (en) 2004-09-08 2008-12-25 Smarsh Steven G Automated Inspection Comparator/Shadowgraph System
US7761814B2 (en) 2004-09-13 2010-07-20 Microsoft Corporation Flick gesture
WO2006030727A1 (ja) 2004-09-14 2006-03-23 Nikon Corporation 補正方法及び露光装置
US7785084B1 (en) 2004-09-16 2010-08-31 Fluid Metering, Inc. Method and apparatus for elimination of gases in pump feed/injection equipment
JP4446850B2 (ja) 2004-09-27 2010-04-07 株式会社トプコン 測量装置用ターゲット
JP4830096B2 (ja) 2004-09-30 2011-12-07 国立大学法人名古屋大学 距離測定装置および距離測定方法
EP1794620B1 (en) 2004-09-30 2014-01-01 Faro Technologies Inc. Absolute distance meter that measures a moving retroreflector
DE102004052199A1 (de) 2004-10-20 2006-04-27 Universität Stuttgart Streifenprojektions-Triangulationsanordnung zur dreidimensionalen Objekterfassung, insbesondere auch zur dreidimensionalen Erfassung des Gesichts eines Menschen
JP4707363B2 (ja) 2004-10-20 2011-06-22 株式会社 ソキア・トプコン 光波距離計
WO2006052259A1 (en) 2004-11-11 2006-05-18 Pierre Bierre 3d point location system
US7268893B2 (en) 2004-11-12 2007-09-11 The Boeing Company Optical projection system
EP1659417A1 (de) 2004-11-19 2006-05-24 Leica Geosystems AG Verfahren zur Bestimmung der Ausrichtung eines Ausrichtungsindikators
WO2006055770A2 (en) 2004-11-19 2006-05-26 Dynalog, Inc. Robot cell calibration
CN1290850C (zh) 2004-12-07 2006-12-20 王敬勉 银杏叶中银杏内酯b和白果内酯的提取方法
TWM269538U (en) 2004-12-15 2005-07-01 Enhance Prec Electronic Co Ltd Maneuverable multi-media audio/video karaoke device
US7701592B2 (en) 2004-12-17 2010-04-20 The Boeing Company Method and apparatus for combining a targetless optical measurement function and optical projection of information
DE102004061338B4 (de) 2004-12-20 2011-12-29 Steinbichler Optotechnik Gmbh Automatische Bauteilprüfung
US8396329B2 (en) 2004-12-23 2013-03-12 General Electric Company System and method for object measurement
US7388658B2 (en) 2005-01-12 2008-06-17 Trimble Jena Gmbh Inclination detection methods and apparatus
EP1681533A1 (de) 2005-01-14 2006-07-19 Leica Geosystems AG Verfahren und geodätisches Gerät zur Vermessung wenigstens eines Zieles
AT501507B1 (de) 2005-01-27 2008-12-15 Joanneum Res Forschungsgesells Verfahren zur mobilen berührungslosen erfassung, sowie ermittlung und auswertung von körper-konturen
CN1815212B (zh) 2005-02-05 2010-06-16 香港中文大学 金属冲压过程中的诊断方法及其设备
JP4648025B2 (ja) 2005-02-09 2011-03-09 株式会社 ソキア・トプコン 測量システム
DE102005007916A1 (de) 2005-02-10 2006-08-17 Hensoldt Ag Zielfernrohr mit einem Entfernungsmesser
CN101852855B (zh) 2005-02-14 2012-07-18 数字信号公司 激光雷达系统和用于提供线性调频电磁辐射的系统和方法
JP2006242755A (ja) 2005-03-03 2006-09-14 Sokkia Co Ltd 測量システム
WO2007086888A2 (en) 2005-03-04 2007-08-02 Cornell Research Foundation, Inc. Electro-optic modulation
EP1877726B1 (en) 2005-03-11 2011-07-27 Creaform Inc. Auto-referenced system and apparatus for three-dimensional scanning
US7168174B2 (en) 2005-03-14 2007-01-30 Trimble Navigation Limited Method and apparatus for machine element control
EP1703300A1 (de) 2005-03-17 2006-09-20 Leica Geosystems AG Verfahren und System zur Bestimmung von Position und Orientierung eines Objekts
JP5016245B2 (ja) 2005-03-29 2012-09-05 ライカ・ゲオジステームス・アクチェンゲゼルシャフト 物体の六つの自由度を求めるための測定システム
JP2008536146A (ja) * 2005-04-11 2008-09-04 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド ３次元座標測定デバイス
US7869944B2 (en) 2005-04-18 2011-01-11 Roof Express, Llc Systems and methods for recording and reporting data collected from a remote location
JP4427486B2 (ja) 2005-05-16 2010-03-10 株式会社東芝 機器操作装置
JP4737668B2 (ja) 2005-05-30 2011-08-03 コニカミノルタセンシング株式会社 ３次元計測方法および３次元計測システム
JP4819403B2 (ja) 2005-06-06 2011-11-24 株式会社トプコン 距離測定装置
JP2006344136A (ja) 2005-06-10 2006-12-21 Fanuc Ltd ロボット制御装置
EP1734336A1 (de) 2005-06-13 2006-12-20 Leica Geosystems AG Geodätisches Zielobjekt und Vermessungssystem
WO2006138643A2 (en) 2005-06-16 2006-12-28 Nomos Corporation System, tracker, and program product to facilitate and verify proper target alignment for radiation delivery, and related methods
JP4828167B2 (ja) 2005-06-16 2011-11-30 株式会社 ソキア・トプコン 距離測定装置及びその方法
GB0512261D0 (en) 2005-06-16 2005-07-27 Land Instr Int Ltd Retro-reflector assembly and opacity monitor incorporating same
WO2007002319A1 (en) 2005-06-23 2007-01-04 Faro Technologies, Inc. Apparatus and method for relocating an articulating-arm coordinate measuring machine
US7285793B2 (en) 2005-07-15 2007-10-23 Verisurf Software, Inc. Coordinate tracking system, apparatus and method of use
GB0516276D0 (en) 2005-08-08 2005-09-14 Crampton Stephen Robust cmm arm with exoskeleton
US7331796B2 (en) 2005-09-08 2008-02-19 International Business Machines Corporation Land grid array (LGA) interposer utilizing metal-on-elastomer hemi-torus and other multiple points of contact geometries
US7392592B2 (en) 2005-10-07 2008-07-01 Milwaukee Electric Tool Corporation Ruggedized laser level
US7301165B2 (en) 2005-10-24 2007-11-27 General Electric Company Methods and apparatus for inspecting an object
US7830501B2 (en) 2005-10-26 2010-11-09 Trimble Jena Gmbh Surveying method and surveying instrument
CA2753398A1 (en) 2005-11-10 2007-07-26 Optical Air Data Systems, Llc Single aperture multiple optical waveguide transceiver
US7511800B2 (en) 2005-11-28 2009-03-31 Robert Bosch Company Limited Distance measurement device with short range optics
CN101351684B (zh) 2005-12-02 2013-03-06 特里伯有限公司 测量仪和测量方法
US7480037B2 (en) 2005-12-02 2009-01-20 The Boeing Company System for projecting flaws and inspection locations and associated method
US20080297808A1 (en) 2005-12-06 2008-12-04 Nabeel Agha Riza Optical Sensor For Extreme Environments
CN101213505B (zh) 2005-12-09 2012-05-23 汤姆森特许公司 手持无线图形输入设备和无线遥控设备
DK1806643T3 (da) 2006-01-06 2014-12-08 Drnc Holdings Inc Fremgangsmåde til at indføre kommandoer og/eller tegn til en bærbar kommunikationsindretning, der er udstyret med en inklinationssensor
CN101371160B (zh) 2006-01-13 2012-10-03 莱卡地球系统公开股份有限公司 跟踪方法以及配有激光跟踪仪的测量系统
JP2009526224A (ja) 2006-02-07 2009-07-16 アストラゼネカ・アクチエボラーグ 分光計システムの性能を解析するための装置
JP5196725B2 (ja) 2006-02-09 2013-05-15 株式会社 ソキア・トプコン 測量機の自動視準装置
TWI287622B (en) 2006-03-02 2007-10-01 Asia Optical Co Inc Phase measurement method and application
JP4904861B2 (ja) 2006-03-14 2012-03-28 ソニー株式会社 体動検出装置、体動検出方法および体動検出プログラム
DE102006013185A1 (de) 2006-03-22 2007-09-27 Refractory Intellectual Property Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Ermittlung der Position und Orientierung einer Meß- oder Reparatureinrichtung und eine nach dem Verfahren arbeitende Vorrichtung
DE102006013290A1 (de) 2006-03-23 2007-09-27 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur optischen Distanzmessung sowie Verfahren zum Betrieb einer solchen Vorrichtung
JP2007256872A (ja) 2006-03-27 2007-10-04 Hitachi Ltd プラズマディスプレイ装置
US7556389B2 (en) 2006-03-30 2009-07-07 Raytheon Company Pointable optical system with coude optics having a short on-gimbal path length
US7976387B2 (en) 2006-04-11 2011-07-12 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Free-standing input device
DE602007011045D1 (de) 2006-04-20 2011-01-20 Faro Tech Inc Kamerabasierte vorrichtung zur zielmessung und zielverfolgung mit sechs freiheitsgraden
WO2007124009A2 (en) 2006-04-21 2007-11-01 Faro Technologies, Inc. Camera based six degree-of-freedom target measuring and target tracking device with rotatable mirror
US8117668B2 (en) 2006-04-27 2012-02-14 Stephen James Crampton Optical scanning probe
DE202006020299U1 (de) 2006-05-16 2008-04-24 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. 3D-Vermessungsanordnung
JP4380663B2 (ja) 2006-06-08 2009-12-09 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元形状測定方法、装置、及びフォーカス調整方法
JP2008002995A (ja) 2006-06-23 2008-01-10 Konica Minolta Sensing Inc 三次元形状測定装置
JP4910507B2 (ja) 2006-06-29 2012-04-04 コニカミノルタホールディングス株式会社 顔認証システム及び顔認証方法
JP2008014653A (ja) 2006-07-03 2008-01-24 Pentax Industrial Instruments Co Ltd 測量機
JP2008027308A (ja) 2006-07-24 2008-02-07 Sharp Corp モード切り替え用摘みユニット
JP4238891B2 (ja) 2006-07-25 2009-03-18 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元形状測定システム、三次元形状測定方法
TWI288230B (en) 2006-08-10 2007-10-11 Asia Optical Co Inc Laser ranging system with a shutter mechanism
DE202006014576U1 (de) 2006-08-21 2008-01-03 STABILA Messgeräte Gustav Ullrich GmbH Schutzeinrichtung
CN102073083A (zh) 2006-08-22 2011-05-25 日本电石工业株式会社 三棱锥型立方角回射部件及其制造方法
US7735234B2 (en) 2006-08-31 2010-06-15 Faro Technologies, Inc. Smart probe
DE102006042311B4 (de) 2006-09-06 2013-12-05 3D-Shape Gmbh Dreidimensionale Vermessung von Objekten in einem erweiterten Winkelbereich
US7565216B2 (en) 2006-09-11 2009-07-21 Innovmetric Logiciels Inc. Clearance measurement of manufactured parts
JP5020585B2 (ja) 2006-09-27 2012-09-05 株式会社トプコン 測定システム
US7256899B1 (en) 2006-10-04 2007-08-14 Ivan Faul Wireless methods and systems for three-dimensional non-contact shape sensing
ATE465428T1 (de) 2006-10-06 2010-05-15 Leica Geosystems Ag Zielobjekt zur retroreflexion einer optischen strahlung
US8087315B2 (en) 2006-10-10 2012-01-03 Honeywell International Inc. Methods and systems for attaching and detaching a payload device to and from, respectively, a gimbal system without requiring use of a mechanical tool
DE102006049695A1 (de) 2006-10-16 2008-04-24 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum berührungslosen Erfassen einer dreidimensionalen Kontur
US20080107305A1 (en) 2006-11-02 2008-05-08 Northern Digital Inc. Integrated mapping system
GB0622451D0 (en) 2006-11-10 2006-12-20 Intelligent Earth Ltd Object position and orientation detection device
US8090194B2 (en) 2006-11-21 2012-01-03 Mantis Vision Ltd. 3D geometric modeling and motion capture using both single and dual imaging
CA2670214A1 (en) 2006-11-21 2008-05-29 Mantisvision Ltd. 3d geometric modeling and 3d video content creation
WO2008089480A2 (en) 2007-01-19 2008-07-24 Associated Universities, Inc. Fiber optically coupled, multiplexed, and chopped laser rangefinder
JP2008210732A (ja) 2007-02-28 2008-09-11 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子ビーム装置
CN101680743B (zh) 2007-03-05 2012-05-02 绝对机器人技术有限公司 确定位置
ATE522831T1 (de) 2007-03-08 2011-09-15 Trimble Ab Verfahren und instrumente zur schätzung der zielbewegung
WO2008116170A2 (en) * 2007-03-22 2008-09-25 Novalign Orthopaedics, Inc. Fracture fixation device with support rods and sheath
JP5137104B2 (ja) 2007-03-22 2013-02-06 株式会社 ソキア・トプコン 光波距離計
US20080246974A1 (en) 2007-03-28 2008-10-09 Jean Laurent Wilson Portable Optical Measurement Assembly
US20080239281A1 (en) 2007-03-30 2008-10-02 Faro Technologies, Inc. Absolute distance meter
EP2136178A1 (en) 2007-04-05 2009-12-23 Nikon Corporation Geometry measurement instrument and method for measuring geometry
US8578581B2 (en) 2007-04-16 2013-11-12 Pratt & Whitney Canada Corp. Method of making a part and related system
US7835012B1 (en) 2007-05-01 2010-11-16 Lockheed Martin Corporation Alignment interferometer telescope apparatus and method
EP1990607A1 (de) 2007-05-10 2008-11-12 Leica Geosystems AG Positionsbestimmungsverfahren für ein geodätisches Vermessungsgerät
US8414246B2 (en) 2007-06-06 2013-04-09 Cycogs, Llc Modular hybrid snake arm
US7876457B2 (en) 2007-06-13 2011-01-25 Nikon Metrology Nv Laser metrology system and method
JP5244339B2 (ja) 2007-06-20 2013-07-24 株式会社ミツトヨ 追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の復帰方法
JP2009014639A (ja) 2007-07-09 2009-01-22 Sanyo Electric Co Ltd ビーム照射装置およびレーザレーダ
WO2009024757A1 (en) 2007-08-17 2009-02-26 Renishaw Plc Phase analysis measurement apparatus and method
WO2009062153A1 (en) 2007-11-09 2009-05-14 Wms Gaming Inc. Interaction with 3d space in a gaming system
DE102007058692A1 (de) 2007-12-06 2009-06-10 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH Versenkbare Griffvorrichtung für eine Tür eines Hausgeräts und Hausgerät mit einer derartigen Griffvorrichtung
AT506110B1 (de) 2007-12-12 2011-08-15 Nextsense Mess Und Pruefsysteme Gmbh Vorrichtung und verfahren zur erfassung von körpermassdaten und konturdaten
JP5150234B2 (ja) 2007-12-14 2013-02-20 株式会社トプコン 測量装置
JP2009156772A (ja) 2007-12-27 2009-07-16 Topcon Corp 測量システム
KR101281328B1 (ko) 2008-01-15 2013-07-03 (주)엘지하우시스 전자파 차폐 시트, 그 제조 방법 및 상기를 포함하는휴대폰
KR100832696B1 (ko) 2008-01-18 2008-05-28 임권현 진공척
US8384997B2 (en) 2008-01-21 2013-02-26 Primesense Ltd Optical pattern projection
US7738083B2 (en) 2008-02-05 2010-06-15 Asia Optical Co., Inc. Distant measurement method and distant measurement system
EP2247921B1 (en) 2008-02-12 2014-10-08 Trimble AB Determining coordinates of a target in relation to a survey instruments having a camera
EP2247922B1 (en) 2008-02-29 2015-03-25 Trimble AB Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having at least two cameras
WO2009106144A1 (en) 2008-02-29 2009-09-03 Trimble Automated calibration of a surveying instrument
JP5440801B2 (ja) 2008-03-11 2014-03-12 株式会社ニコン 基準球検出装置、基準球位置検出装置、及び、三次元座標測定装置
ES2384245B9 (es) 2008-03-21 2013-07-08 Brett BORDYN Sistema externo para mejora de la precisión robótica.
US8220329B2 (en) 2008-03-21 2012-07-17 Analog Devices, Inc. Management system for MEMS inertial sensors
US20090239581A1 (en) 2008-03-24 2009-09-24 Shu Muk Lee Accelerometer-controlled mobile handheld device
DE102008015499C5 (de) 2008-03-25 2013-01-10 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der 3D-Koordinaten eines Objekts
JP5060358B2 (ja) 2008-03-25 2012-10-31 株式会社トプコン 測量システム
JP2009240621A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Hoya Corp 内視鏡装置
EP2108917B1 (en) 2008-04-07 2012-10-03 Leica Geosystems AG Articulated arm coordinate measuring machine
US8520930B2 (en) 2008-04-18 2013-08-27 3D Scanners Ltd. Method and computer program for improving the dimensional acquisition of an object
DE102008020772A1 (de) 2008-04-21 2009-10-22 Carl Zeiss 3D Metrology Services Gmbh Darstellung von Ergebnissen einer Vermessung von Werkstücken
US8531650B2 (en) 2008-07-08 2013-09-10 Chiaro Technologies LLC Multiple channel locating
USD605959S1 (en) 2008-07-23 2009-12-15 Leica Geosystems Ag Land surveying total station measuring device
US20100025746A1 (en) 2008-07-31 2010-02-04 Micron Technology, Inc. Methods, structures and systems for interconnect structures in an imager sensor device
US20110003507A1 (en) 2008-08-14 2011-01-06 Andrew Llc Multi-shot Connector Assembly and Method of Manufacture
TW201009650A (en) 2008-08-28 2010-03-01 Acer Inc Gesture guide system and method for controlling computer system by gesture
DE202008013217U1 (de) 2008-10-04 2009-04-02 Sick Ag Beleuchtung zur Erzeugung eines Kontrastmusters
US7908757B2 (en) 2008-10-16 2011-03-22 Hexagon Metrology, Inc. Articulating measuring arm with laser scanner
JP2010105254A (ja) 2008-10-29 2010-05-13 Shisuko:Kk 乾燥用ホッパー
JP2012509464A (ja) 2008-11-17 2012-04-19 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 六自由度計測装置及び方法
US20150331159A1 (en) 2008-11-17 2015-11-19 Faro Technologies, Inc. Markings on glass cube-corner retroreflector and method of measuring retroreflector orientation
US9739595B2 (en) 2008-12-11 2017-08-22 Automated Precision Inc. Multi-dimensional measuring system with measuring instrument having 360° angular working range
CN101750012A (zh) 2008-12-19 2010-06-23 中国科学院沈阳自动化研究所 一种测量物体六维位姿的装置
US8803055B2 (en) 2009-01-09 2014-08-12 Automated Precision Inc. Volumetric error compensation system with laser tracker and active target
JP2010169633A (ja) 2009-01-26 2010-08-05 Nikon Corp 形状測定装置
EP2219011A1 (de) 2009-02-11 2010-08-18 Leica Geosystems AG Geodätisches Vermessungsgerät
US8861833B2 (en) 2009-02-18 2014-10-14 International Press Of Boston, Inc. Simultaneous three-dimensional geometry and color texture acquisition using single color camera
JP6054035B2 (ja) 2009-02-20 2016-12-27 デジタル・シグナル・コーポレーション ライダーとビデオ測定を使用する３次元画像の生成システム及び方法
CN102334006A (zh) 2009-02-25 2012-01-25 立体光子国际有限公司 用于三维计量系统的强度和彩色显示
US8786682B2 (en) 2009-03-05 2014-07-22 Primesense Ltd. Reference image techniques for three-dimensional sensing
EP2226610A1 (de) 2009-03-06 2010-09-08 Leica Geosystems AG Geodätisches Vermessungssystem und Verfahren zum Identifizieren einer Zieleinheit mit einem geodätischen Vermessungsgerät
WO2010103482A2 (en) 2009-03-13 2010-09-16 Primesense Ltd. Enhanced 3d interfacing for remote devices
JP2009134761A (ja) 2009-03-16 2009-06-18 Hitachi Ltd 非接触入力インターフェース装置及び情報端末装置
US20130057650A1 (en) 2009-03-19 2013-03-07 Guiju Song Optical gage and three-dimensional surface profile measurement method
US8149390B2 (en) 2009-03-31 2012-04-03 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy User interface for laser targeting system
US8452569B2 (en) 2009-03-31 2013-05-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Laser targeting system
US8339616B2 (en) 2009-03-31 2012-12-25 Micrometric Vision Technologies Method and apparatus for high-speed unconstrained three-dimensional digitalization
US8717417B2 (en) 2009-04-16 2014-05-06 Primesense Ltd. Three-dimensional mapping and imaging
USD629314S1 (en) 2009-04-23 2010-12-21 Nikon-Trimble Co., Ltd. Electronic tacheometer
JP5395507B2 (ja) * 2009-05-21 2014-01-22 キヤノン株式会社 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム
EP2259013B1 (de) 2009-05-25 2013-11-20 Siemens Aktiengesellschaft Topographische Messung eines Objekts
CA2766428C (en) 2009-06-23 2017-05-23 Leica Geosystems Ag Tracking method and measuring system having a laser tracker
CN102803987B (zh) 2009-06-23 2015-09-16 莱卡地球系统公开股份有限公司 坐标测量设备
DE102009035336B3 (de) 2009-07-22 2010-11-18 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
WO2011013079A1 (en) 2009-07-30 2011-02-03 Primesense Ltd. Depth mapping based on pattern matching and stereoscopic information
US8659749B2 (en) 2009-08-07 2014-02-25 Faro Technologies, Inc. Absolute distance meter with optical switch
US8565479B2 (en) 2009-08-13 2013-10-22 Primesense Ltd. Extraction of skeletons from 3D maps
US7903237B1 (en) 2009-08-13 2011-03-08 Nen-Tsua Li Laser rangefinder with a voice control function
JP2011039005A (ja) 2009-08-18 2011-02-24 Topcon Corp 測定装置
US8773514B2 (en) * 2009-08-27 2014-07-08 California Institute Of Technology Accurate 3D object reconstruction using a handheld device with a projected light pattern
DE102009040837A1 (de) 2009-09-10 2011-03-17 Carl Zeiss Ag Vorrichtungen und Verfahren zur Positionsbestimmung und Oberflächenvermessung
US8379224B1 (en) 2009-09-18 2013-02-19 The Boeing Company Prismatic alignment artifact
US20110069322A1 (en) 2009-09-21 2011-03-24 Faro Technologies, Inc. Laser pointing mechanism
CN201548192U (zh) 2009-10-19 2010-08-11 天津鼎成高新技术产业有限公司 一种复合运动机构六自由度实时测量装置
US8384760B2 (en) * 2009-10-29 2013-02-26 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Systems for establishing eye contact through a display
US8151477B2 (en) 2009-11-06 2012-04-10 Hexagon Metrology Ab CMM with modular functionality
US20110109502A1 (en) 2009-11-09 2011-05-12 Sullivan Steven J Apparatus, system and method for displaying construction-related documents
US7894079B1 (en) 2009-11-09 2011-02-22 Mitutoyo Corporation Linear displacement sensor using a position sensitive photodetector
US8610761B2 (en) 2009-11-09 2013-12-17 Prohectionworks, Inc. Systems and methods for optically projecting three-dimensional text, images and/or symbols onto three-dimensional objects
US8606540B2 (en) 2009-11-10 2013-12-10 Projectionworks, Inc. Hole measurement apparatuses
AT509103B1 (de) 2009-11-16 2012-01-15 Riegl Laser Measurement Sys Verfahren zur stützung der messgenauigkeit von gps/imu-systemen
US8237934B1 (en) 2009-11-18 2012-08-07 The Boeing Company Center marking nest for method of precision locating
US8425059B2 (en) 2009-12-01 2013-04-23 The Boeing Company Low power retro-reflective communications system and method
US8630314B2 (en) 2010-01-11 2014-01-14 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for synchronizing measurements taken by multiple metrology devices
CN102713514B (zh) 2010-01-18 2015-04-22 法罗技术股份有限公司 用于跟踪隐藏点的回射器探头适配器
US20110179281A1 (en) 2010-01-20 2011-07-21 Apple Inc. Hash function using a quasi-group operation
GB2490631B (en) 2010-01-20 2016-11-02 Faro Tech Inc Portable articulated arm coordinate measuring machine with multi-bus arm technology
WO2011090897A1 (en) 2010-01-20 2011-07-28 Faro Technologies, Inc. Portable articulated arm coordinate measuring machine with multiple communication channels
CN101776982A (zh) 2010-01-21 2010-07-14 中国传媒大学 一种利用数字罗盘进行便携设备控制的方法
JP5538929B2 (ja) 2010-02-02 2014-07-02 新菱冷熱工業株式会社 三次元位置計測及び墨出しシステムとその使用方法
DE112011100458B4 (de) 2010-02-05 2024-02-01 Trimble Navigation Limited Systeme und Verfahren zur Verarbeitung von Kartierungs- und Modellierungsdaten
GB201003363D0 (en) 2010-03-01 2010-04-14 Renishaw Plc Measurement method and apparatus
US9377885B2 (en) 2010-04-21 2016-06-28 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
US8422034B2 (en) 2010-04-21 2013-04-16 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US8619265B2 (en) 2011-03-14 2013-12-31 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker
US8537371B2 (en) 2010-04-21 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
EP2381214B1 (en) 2010-04-22 2020-06-10 Metronor A/S Optical measurement system
CN101806574B (zh) 2010-04-23 2012-05-30 浙江大学 可重构关节臂式坐标测量机
CA2797302C (en) 2010-04-28 2019-01-15 Ryerson University System and methods for intraoperative guidance feedback
US9014848B2 (en) 2010-05-20 2015-04-21 Irobot Corporation Mobile robot system
US8485668B2 (en) * 2010-05-28 2013-07-16 Microsoft Corporation 3D interaction for mobile device
US8583392B2 (en) 2010-06-04 2013-11-12 Apple Inc. Inertial measurement unit calibration system
DE102010024014B4 (de) 2010-06-16 2016-04-21 Trimble Jena Gmbh Ziel für ein geodätisches Gerät
EP2400261A1 (de) 2010-06-21 2011-12-28 Leica Geosystems AG Optisches Messverfahren und Messsystem zum Bestimmen von 3D-Koordinaten auf einer Messobjekt-Oberfläche
EP2400379A1 (en) 2010-06-23 2011-12-28 MFA Informatik AG Graphical control of a computer by a user
US8964189B2 (en) * 2010-08-19 2015-02-24 Canon Kabushiki Kaisha Three-dimensional measurement apparatus, method for three-dimensional measurement, and computer program
US9021344B2 (en) 2010-08-31 2015-04-28 New River Kinematics, Inc. Off-line graphical user interface system and method for three-dimensional measurement
US9204129B2 (en) * 2010-09-15 2015-12-01 Perceptron, Inc. Non-contact sensing system having MEMS-based light source
EP2431708A1 (de) 2010-09-16 2012-03-21 Leica Geosystems AG Geodätisches Vermessungssystem mit in einer Fernbedieneinheit integrierter Kamera
AT509852B1 (de) * 2010-10-08 2011-12-15 Volkmar Dr Seyr Flexibler humerusnagel
US8319979B2 (en) 2010-10-26 2012-11-27 Advanced Measurement Systems Single laser beam measurement system
EP2634530B1 (en) * 2010-10-27 2022-05-04 Nikon Corporation Shape measuring device, shape measuring method, and structure manufacturing method
US8938099B2 (en) 2010-12-15 2015-01-20 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus, method of controlling the same, distance measurement apparatus, and storage medium
US8711206B2 (en) 2011-01-31 2014-04-29 Microsoft Corporation Mobile camera localization using depth maps
US8902408B2 (en) 2011-02-14 2014-12-02 Faro Technologies Inc. Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector
DE112012000795B4 (de) 2011-02-14 2015-06-11 Faro Technologies Inc. Würfelecken-Retroreflektor zur Messung von sechs Freiheitsgraden
DE112012001082B4 (de) 2011-03-03 2015-12-03 Faro Technologies Inc. Verfahren zum Messen von Zielen
BR112013023244A2 (pt) 2011-03-22 2016-12-20 Leica Geosystems Ag dispositivo de medição de distância eletro-óptica com disparo de medição de gesto que funciona sem contato com o dispositivo de medição
US20120242795A1 (en) * 2011-03-24 2012-09-27 Paul James Kane Digital 3d camera using periodic illumination
JP5782786B2 (ja) 2011-04-01 2015-09-24 株式会社ニコン 形状測定装置
JP5869281B2 (ja) * 2011-04-11 2016-02-24 株式会社ミツトヨ 光学式プローブ
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
DE112012001708B4 (de) 2011-04-15 2018-05-09 Faro Technologies, Inc. Koordinatenmessgerät
US9482529B2 (en) 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
JP2012225869A (ja) 2011-04-22 2012-11-15 Hitachi Plant Technologies Ltd 計測システム
KR20140034816A (ko) 2011-05-09 2014-03-20 스마트 인스펙션 시스템즈, 엘엘씨 휴대형 광학 측정 검사 시스템
US20130031106A1 (en) 2011-07-29 2013-01-31 Microsoft Corporation Social network powered query suggestions
JP5804881B2 (ja) 2011-09-30 2015-11-04 ビアメカニクス株式会社 直接描画露光装置用半導体レーザモジュール
US9222771B2 (en) 2011-10-17 2015-12-29 Kla-Tencor Corp. Acquisition of information for a construction site
EP2602641B1 (de) 2011-12-06 2014-02-26 Leica Geosystems AG Lasertracker mit positionssensitiven Detektoren zur Suche eines Ziels
CN104094081A (zh) 2012-01-27 2014-10-08 法罗技术股份有限公司 利用条形码识别的检查方法
JP6355710B2 (ja) 2013-03-15 2018-07-11 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 非接触型光学三次元測定装置
US9041914B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9234742B2 (en) 2013-05-01 2016-01-12 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US9402070B2 (en) 2014-06-12 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring device with a six degree-of-freedom handheld probe and integrated camera for augmented reality
US10021379B2 (en) 2014-06-12 2018-07-10 Faro Technologies, Inc. Six degree-of-freedom triangulation scanner and camera for augmented reality

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107131848A (zh) * 2016-02-26 2017-09-05 福禄理昂·伟洛米泽 能实现快速和致密形状检测的光学三维传感器
CN106405532A (zh) * 2016-10-25 2017-02-15 陆建红 手持式激光测量仪及其工作方法
CN106405532B (zh) * 2016-10-25 2019-05-07 莱赛激光科技股份有限公司 手持式激光测量仪及其工作方法
WO2018227527A1 (zh) * 2017-06-16 2018-12-20 深圳市迈测科技股份有限公司 一种测量方法和系统
CN109425307A (zh) * 2017-08-30 2019-03-05 赫克斯冈技术中心 用于扫描物体和投影信息的测量仪器
CN109425307B (zh) * 2017-08-30 2020-10-30 赫克斯冈技术中心 测量装置以及利用其将光图案投影到场景上的方法
US11397245B2 (en) 2017-08-30 2022-07-26 Hexagon Technology Center Gmbh Surveying instrument for scanning an object and for projection of information
CN111615645A (zh) * 2018-01-15 2020-09-01 微软技术许可有限责任公司 飞行时间相机
CN111615645B (zh) * 2018-01-15 2023-09-29 微软技术许可有限责任公司 飞行时间相机
CN113424206A (zh) * 2019-02-28 2021-09-21 Som建筑设计事务所 针对结构的机器学习工具

Also Published As

Publication number Publication date
WO2014149706A1 (en) 2014-09-25
GB2527992B (en) 2018-06-27
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JP2016516993A (ja) 2016-06-09
GB2527991B (en) 2018-08-15
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WO2014149701A1 (en) 2014-09-25
US20140267629A1 (en) 2014-09-18
US20140267623A1 (en) 2014-09-18
US20160370171A1 (en) 2016-12-22
JP2016519757A (ja) 2016-07-07
GB2524931B (en) 2016-01-27
GB2527992A (en) 2016-01-06
DE112014001470T5 (de) 2015-11-26
US20150192406A9 (en) 2015-07-09
GB201518245D0 (en) 2015-12-02
GB2524931C (en) 2016-02-10
WO2014143644A1 (en) 2014-09-18
US20140268093A1 (en) 2014-09-18
US9494412B2 (en) 2016-11-15
DE112014001391T5 (de) 2015-12-03
JP2016517513A (ja) 2016-06-16
US9041914B2 (en) 2015-05-26
JP6291562B2 (ja) 2018-03-14
US20160364874A1 (en) 2016-12-15
GB2527991A (en) 2016-01-06
WO2014149704A1 (en) 2014-09-25
DE112014001459T5 (de) 2015-12-24
DE112014001459B4 (de) 2019-10-17
GB2524931A (en) 2015-10-07
WO2014149705A1 (en) 2014-09-25
GB201518247D0 (en) 2015-12-02
US10267619B2 (en) 2019-04-23

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