CN102985978A - 使用手动装载进行存储设备的批量转移 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种存储设备转移站，用于将存储设备从操作员转移到自动化装置以进行测试。所述存储设备转移站包括多个狭槽，每个狭槽能够固定一个存储设备。所述多个狭槽被布置在至少一个区域中，并且所述区域被布置在两个平行平面之间。每个狭槽均具有第一开口端和第二开口端，使得可访问每个开口端以装载和卸载存储设备。可在所述两个平行平面的第一平面访问所述第一开口端，并且可在所述两个平行平面的第二平面访问所述第二开口端。
Description
技术领域
本公开涉及将存储设备转移到和批量转移出存储设备测试系统和存储设备测试系统的转移站。
背景技术
存储设备制造商通常会测试所制造的存储设备是否符合一系列要求。存在串行或并行测试大量存储设备的测试设备和技术。制造商倾向于同时测试大量存储设备。存储设备测试系统通常包括一个或多个测试架，一个或多个测试架具有接纳存储设备进行测试的多个测试槽。
当前的存储设备测试系统使用操作员、机械臂或传送带单独将存储设送转移位置，以便装入测试系统进行测试。其他当前的存储设备测试器使用提袋或移动提袋将多个存储设备同时装载至转移位置或从其上卸载。测试系统的机械臂单独或以小批量从转移位置取回存储设备并将它们装载到测试槽中进行测试。
发明内容
整体上，本公开涉及使用手动装载进行存储设备的批量转移。
在一个方面，提供了一种存储设备转移站，用于将存储设备从操作员转移到自动化装置以进行测试。存储设备转移站包括多个狭槽，每个狭槽能够固定一个存储设备。多个狭槽被布置在至少一个区域内，该区域被布置在两个平行平面之间。每个狭槽均具有第一开口端和第二开口端，使得可访问每个开口端以装载和卸载存储设备。可在两个平行平面的第一平面访问第一开口端，并且可在两个平行平面的第二平面访问第二开口端。
在另一方面，提供了一种用于测试存储设备的存储设备测试系统。存储设备测试系统包括存储设备转移站，用于将存储设备从操作员转移到自动化装置。存储设备转移站包括多个狭槽，每个狭槽能够固定一个存储设备。多个狭槽被布置在至少一个区域内，该区域被布置在两个平行平面之间。每个狭槽均具有第一开口端和第二开口端，使得可访问每个开口端以装载和卸载存储设备。可在两个平行平面的第一平面访问第一开口端，并且可在两个平行平面的第二平面访问第二开口端。存储设备测试系统还包括被构造用于访问多个狭槽中的至少一个的第二开口端的自动化装置。
根据另一个方面，测试存储设备的方法包括将多个存储设备手动装载到存储设备转移站的多个狭槽内；启动自动化装置以在存储设备转移站和存储设备转移站的多个狭槽之间转移多个存储设备；以及从存储设备转移站的多个狭槽中手动卸载多个存储设备。
本发明所公开的方法、系统和设备的实施例可包括下列一个或多个特征。
存储设备转移站可包括覆盖第一平面的至少一部分的至少一扇门。该扇门能够锁定和解锁，包括自动锁定和解锁。狭槽中的至少一个可具有阻挡件，并且门可包括弹性材料或另一个机构，其被布置用于在门为关闭状态时紧贴阻挡件推压存储设备。狭槽可被布置为使得存储设备对齐水平或垂直方向。
在一些具体实施中，存储设备转移站具有覆盖第一平面的多扇门。
在一些实施例中，多个狭槽可被布置为在第一平面内从操作员处接纳存储设备，并且多个狭槽可被布置为在第二平面将存储设备提供给自动化装置。
在一些构造中，至少一个区域具有至少125个狭槽。在一些构造中，区域具有一个或多个垂直堆叠的行。狭槽可被布置为防止在操作员和自动化装置之间产生接触。在一些实施例中，存储设备转移站可具有一扇门，该扇门覆盖第一平面的一部分并且被构造为当门为开启状态时向自动化装置发出信号以限制其移动。
可实施方法，使得在手动装载或卸载多个存储设备时限制自动化装置的移动。可实施方法，使得在存储设备转移站的多个狭槽内进行的多个存储设备的手动装载包括将存储设备装载到存储设备转移站狭槽的子集内。方法可包括对多个存储设备进行分类，以将具有基本相似的测试结果的存储设备聚集在一起。
实施例可包括下列一个或多个优点。
本发明所公开的系统、方法和设备的实施例可以有助于缩短参与对于存储设备测试系统装载/卸载存储设备的操作员的等待时间。例如，在一些实施例中，批量装载/卸载转移站可以允许操作员对于测试系统一次装载/卸载许多存储设备，从而使操作员在装载/卸载操作之间有空执行其他任务。
批量装载和/或卸载系统还可以为改进存储设备的装卸提供更多机会。例如，如果操作员在有限时间的单次装载操作期间一次（例如顺序地）装载多个存储设备，那么与在延长的时间内连续装载存储设备相比，引入存储设备递送错误的机会有所减少。
批量装载和/或卸载系统也可提高自动化装置的效率，方式是通过允许自动化装置将存储设备装载到多个转移站狭槽或从中卸载存储设备，而不等候操作员移除存储设备或将其提供给自动化装置。
批量装载和/或卸载系统也可允许将输出存储设备自动分类到不同区域、队列或容器内。
在一些实施例中，本发明所公开的系统、方法和设备可使大量存储设备能够排队等候输入和/或输出。
一些实施例不需要使用任何定制的容器或提袋来携带存储设备。仅会在供给站中而并非在每个提袋中产生在空间上注册存储设备并且使存储设备展示与自动化装置相容的费用。
在一些实施例中，本发明所公开的系统、方法和设备提供了用手动然而以批量为主导的输入/输出站实现全自动化工厂的许多有益效果（例如，可靠性、可重复性和密集度）的手段。
存储设备的批量供给有助于通过降低人为干预量提高通过量。
存储设备的批量供给有助于通过限制对离散和间隔开的时间间隔的人为干预量来提高通过量。与操作员长时间连续将存储设备送入系统中（或从系统中取出存储设备）的系统相比，这有助于通过降低操作员会随着时间推移而失去注意力或关注度的可能性来减少递送错误。
在一些实施例中，可同时访问多个存储设备。这样使得装载/卸载时间非常短。在一些实施例中，可由多名操作员进行装载和卸载，从而进一步增加效率。
在一些实施例中，可以通过使用多扇门进行存储设备的分类或装仓。一扇门可包封所有通过的存储设备，而另一扇包封所有故障的存储设备。可使用任何数量的门。
转移站中存储设备的批量供给非常节省空间，因为不需要任何内部传送机构。转移站的深度可与存储设备的深度一样小。与具有自动化传送机构的转移站相比，不含传送机构还会提高转移站的可靠性。
一些实施例不使用移动零件。
其他的方面、特征和优点在说明、附图以及权利要求书中。
附图说明
图1为存储设备测试系统和转移站的透视图。
图2为存储设备测试系统和转移站的俯视图。
图3为存储设备测试系统和转移站的透视图。
图4A和4B为存储设备测试系统的转移站的侧视图。
图5为存储设备传送器和存储设备容器的透视图。
图6为存储设备测试系统和转移站的俯视图。
图7为正被插入存储设备测试系统的测试槽内的存储设备的透视图。
图8为存储设备传送器的透视图。
图9为携带存储设备的存储设备传送器的透视图。
图10为携带存储设备的存储设备传送器的底部透视图。
不同附图中的类似参考符号表示类似的元件。
具体实施方式
系统概述
如本文所用的存储设备包括磁盘驱动器、固态驱动器、存储器设备以及受益于制造或测试方面的异步方法的任何设备。磁盘驱动器通常为非易失性存储设备，其将数字编码数据存储在具有磁性表面的快速旋转圆盘上。固态驱动器(SSD)为使用固态存储器存储永久性数据的数据存储设备。使用SRAM或DRAM（而非闪存）的SSD通常称为RAM驱动器。术语“固态”一般来讲用于区分固态电子器件和机电器件。
参见图1-3，在一些具体实施中，存储设备测试系统100包括至少一个自动传送器200（如，机械臂、龙门系统或多轴线性致动器），该传送器限定了基本垂直于地面10的第一轴线205（参见图3）。在所示例子中，自动传送器200包括机械臂200，可操作该臂旋转通过围绕第一轴线205的预定弧线以及从第一轴线205径向延伸。可操作机械臂200，使其围绕第一轴线205旋转360°，并且该机械臂包括设置在机械臂200的远端的机械手212，以控制存储设备500和/或携带存储设备500的存储设备传送器550（参见如图8-10）。多个支架300围绕机械臂200布置，以便由机械臂200提供服务。每个支架300容纳多个测试槽310，这些测试槽被构造为接纳要测试的存储设备500。机械臂200限定了大致圆柱形的工作包封空间210，支架300布置在工作包封210内以使每个测试槽310可接近，以便由机械臂200提供服务。大致圆柱形的工作包封空间210提供紧凑的占有面积，并且通常仅在由高度约束的容量方面有所限制。在一些例子中，机械臂200被地面10上的基座或升降台250（参见图3）抬高并由其支承。基座或升降台250增大了工作包封空间210的尺寸，方式是允许机械臂200不仅向上伸出，而且向下伸出，以便为测试槽310提供服务。可通过为基座或升降台250添加垂直致动器来进一步增大工作包封空间210。
自动传送器200被构造为独立地服务于每个测试槽310，以提供经过测试系统100的存储设备500的连续流。单个存储设备500组成的经过测试系统100的连续流允许每个存储设备500的开始时间和结束时间有所不同，而对于其他要求一次运行一批存储设备500的系统，必须全部具有相同的开始时间和结束时间。因此，形成连续的流时，不同容量的存储设备500可根据需要同时运行并接受服务（装载/卸载）。
参见图3，存储设备测试系统100包括转移站400，其被构造用于将存储设备500批量送入自动传送器200。自动传送器200通过在转移站400与测试槽310之间传送存储设备500，独立地为每个测试槽310提供服务。转移站400具有一个或多个访问端口410，其中每个端口允许操作员装载和卸载多个现存的用于由自动传送器200提供服务的存储设备500。转移站400是用于将存储设备500传送到存储设备测试系统100和将存储设备从该存储设备测试系统取回的服务点。每个访问端口410允许操作员将存储设备500的集合600中的一部分或全部传送到转移站400以及将其从转移站400取回。在转移站400外部平面402（图2）的操作员可访问存储设备500，并且在转移站400内部平面404（图2）的自动传送器200可访问存储设备500。外部平面402和内部平面404基本上彼此平行。每个集合600包括将存储设备500装载到其中以及将存储设备从中卸载存储设备500的单个存储设备容器620或狭槽。存储设备接收器的一些具体实施被构造为接纳存储设备传送器550（参见图8-10），每个均不含存储设备500。
在一些具体实施中，集合600可呈存储设备容器620的一个或多个垂直堆叠行的形式。存储设备容器620和对应存储设备500的数量可仅仅为一个或者多达125个（如25个垂直堆叠行，每行5个）或更多个。在集合600中的驱动器数量为125的例子中，操作员可在约十分钟内装载或卸载驱动器的整个集合。
在一些例子中，操作员将多个存储设备500手动装载到转移站400中的集合600内。机械臂200可连续卸载存储设备500并且将其放置到测试槽310内进行测试，并且也可将来自测试槽310的所测试存储设备500连续转移到存储设备转移站容器620。在此期间，操作员可离开并从事其他工作，如装载和卸载不同转移站400或测试系统100中的其他存储设备500。一旦测试了一定数量的存储设备500并将其重新置于转移站400内，操作员就可返回转移站400并且卸载存储设备500。
在图3所示的例子中，可从显示位置的转移站400的内部平面404访问每个集合600，并且可将其标示为要测试的存储设备500的源集合600或所测试存储设备500的目的集合600（或标示为两者或它们的某种组合）。目的集合600可以分类为“返回通过集合”或“返回失败的集合”，用于分别接纳功能测试通过或失败的存储设备500。或者，在一些具体实施中，单个集合600可以包含多种状态的存储设备500并且可以根据状态进行分类。例如，由机械臂200放置在与集合600相连的一个访问端口410的所有存储设备500可全部为通过功能测试（或换句话讲具有基本上类似测试结果）的驱动器，而由机械臂200放置在与集合600相连的另一个访问端口410的所有存储设备500可全部为功能测试失败的驱动器。使用期间，可由机械臂200将存储设备500以与其卸载不同的顺序和布置方式装载到集合600的存储设备容器620内。相似地，在测试之前由机械臂200从一个集合600卸载的存储设备500可在测试之后装载到不同集合600内。在一些例子中，在测试之后将在测试之前从一个转移站400卸载的存储设备500装载到另一个转移站400内。
图4A示出转移站400的外部平面402的视图。可在一个或多个访问端口410访问存储设备500的集合600。在一些具体实施中，每个访问端口410可以提供对整个集合600或该集合的子集或一部分的访问。可以对存储设备500的集合600进行布置，以使得可访问在访问端口410可访问的每个存储设备容器620的开口端624，以用于装载和卸载存储设备500。
在一些具体实施中，可有多个访问端口410靠近彼此。例如，多个访问端口410可被布置成竖列414，如所示，或被布置成不同构造，例如水平行、行或列的组合或者访问端口410的另一个构造。在访问端口410可访问集合600的一部分的具体实施中，多个访问端口410的组合可访问整个集合600。
在一些具体实施中，访问端口410被布置成操作员640可进行访问。操作员可在存储设备集合600的存储设备容器620中直接装载和卸载存储设备500。访问端口410可被布置成适于人们使用，例如，被布置成符合人类工程学因素。例如，访问端口410可被布置在操作员640可达到的区域内。例如，在访问端口410的竖列414的示例性构造中，最低访问端口的下边缘416距地面的高度630可为约50厘米。最高访问端口的上边缘418距地面的高度632可为约200厘米。
在一些具体实施中，不止一个操作员640可同时访问相同访问端口410，例如，以加速工作流程并且在更短时间内装载或卸载更多存储设备500。
在一些具体实施中，集合600以及存储设备容器620的尺寸和构造为如此，使得机械臂200不与操作员640产生接触。例如，存储设备容器620可足够长以在机械臂200可访问的部分与操作员640可访问的部分之间形成缓冲空间。
访问端口410可具有可由操作员640开启和关闭的任选门412。图4B示出其中门412被关闭的转移站400的外部平面402的另一个视图，从而阻止访问存储设备500的集合600。在一些具体实施中，门412可用于保护其中的存储设备500不受外部因素影响，例如热、光和粉尘，或者用于将存储设备测试系统100的内部与周围环境隔离。例如，除了在相连访问端口410装载或卸载存储设备500以保护驱动器不受上述因素影响时之外，操作员可在所有时刻均保持门412为关闭状态。
在一些具体实施中，门412的状态可确定机械臂200的操作。例如，机械臂200可被构造为当门412为开启状态时克制住不在与门相连的集合600的部分中装载或卸载存储设备500，指示操作员640正在装载或卸载其中一些存储设备。相似地，机械臂200可被构造为当门412为关闭状态时重新开始装载和卸载存储设备500。或者，机械臂200可被构造为当门412为开启状态时停止所有运动。
在一些具体实施中，门412也可为锁定和解锁状态。例如，锁定能力可用于控制对与门相连的集合600进行访问。例如，所有门可保持被锁定，直到操作员可以为与门412相连的集合600提供服务为止。例如，特定门412后面的集合可包含未测试的存储设备500。在这样的情况下，门412可保持被锁定，直到将所有存储设备500转移到测试槽310为止。转移所有存储设备500之后，门412可由系统自动解锁，以允许操作员640装载新的未测试存储设备500。又如，与门412相连的集合600可包含通过功能测试的已测试存储设备500。当操作员640要求访问通过的存储设备时，系统可仅解锁涵盖由通过的存储设备所组成的集合600的部分的那扇门412。这样会防止操作员640无意地从集合600的某个其他部分移除存储设备。
图4B还示出与门412关联的状态指示灯430。状态指示灯430可向附近的操作员640提供有关门后面的那部分集合600中的存储设备500的信息。例如，状态指示灯430可指示门412后面的存储设备500已经过测试，或存储设备500中的一些或全部仍在等候测试。又如，状态指示灯430可指示门412后面的哪些存储设备容器620包含存储设备500以及门412后面的哪些存储设备容器620不包含存储设备500。另外，在存储设备500已经过测试的情形下，状态指示灯430可指示存储设备500是否通过测试并被视为“良好输出”，或者存储设备500的测试失败并被视为“不良输出”。在门412能够锁定和解锁的具体实施中，状态指示灯430可指示门412为锁定还是解锁状态。在一些具体实施中，状态指示灯430可与按钮结合。在这些具体实施中，推压按钮可向系统发出信号，指示操作员要求访问相关门412后面的存储设备500。
例如，状态指示灯430可呈照亮或闪光的灯（如，发光二极管）的形式。在一些具体实施中，状态指示灯可为数字字母混合显示器（例如，液晶显示器）的一部分。
在一些具体实施中，门412可具有显示屏432而不是状态指示灯430，或者除了状态指示灯430之外还具有显示屏432。与状态指示灯430（如果存在）所传播的信息相比，显示屏432可提供另外的信息或更多细节。例如，显示屏432可允许操作员640访问或修改转移站400或整个测试系统的构造。显示屏432可为（例如）触摸屏，或可具有另一种类型的相关控制系统，例如键盘和鼠标。
在一些具体实施中，转移站400具有主状态指示灯434，其向附近的一个或多个操作员640指示总体信息，例如，转移站400或存储设备测试系统100是否遇到错误，需要人工干预或修理。
图5示出具有一体化阻挡件626的存储设备容器620的具体实施。阻挡件626可阻止在装载存储设备500或存储设备传送器550（在示出的具体实施中）时将存储设备或传送器过分推压到存储设备容器620内。在一些具体实施中，门412可由弹性材料制成或可包括弹性材料，该材料会在门为关闭状态时紧贴其各自存储设备容器620中的阻挡件推压628门后面的集合600中的存储设备500。在一些具体实施中，门412可包括用于紧贴阻挡件推压门后面的集合600中的存储设备500的其他机构，例如使用弹簧、刚性机械构件或缓冲器的机构。另外，在一些具体实施中，存储设备容器620的阻挡件626或另一个组件被构造成能在将存储设备插入接收器中时水平和垂直对齐存储设备500，例如与门的推压机构协作。
在一些具体实施中，门412、存储设备容器620或测试系统100的另一个元件可具有一个或多个检测器，其被构造为检测集合600的存储设备容器620内存储设备500的存在与否。例如，检测器可与阻挡件626一体化，或者检测器可为单独的组件。检测器所提供的信息可被状态指示灯430或显示屏432用于指示存储设备500的存在与否。在一些具体实施中，机械臂200可整合用以检测存储设备容器620内存储设备500的存在与否的功能，例如相机、条形码扫描器或激光测距机。
如图6所示，在一些具体实施中，操作员640和机械臂200可同时执行操作。例如，存储设备测试系统100可具有多个转移站400a、400b。在一个示例性场景中，操作员使用外部平面402的访问端口410，已将存储设备500装载到一个转移站400a内以进行测试。机械臂200现在卸载要测试的存储设备，也可在内部平面404对其进行访问。在机械臂200卸载存储设备500的同时，操作员640可将其他存储设备装载到另一个转移站400b内。在另一个示例性场景中，机械臂已经将所测试存储设备500装载到另一个转移站400b内，该所测试存储设备在机械臂200在第一转移站400中装载或卸载存储设备500时由操作员640卸载。在其他场景中，操作员640和机械臂200各自在相同转移站400的不同集合600或相同集合600的不同部分中装载或卸载驱动器。也可出现操作员640和机械臂200同时操作的场景。
在采用存储设备传送器550来操纵存储设备500的具体实施中，如图7所示，自动传送器200被构造为使用机械手212从其中一个测试槽310中移除存储设备传送器550，然后使用存储设备传送器550从转移站400递送的其中一个集合600中拾取存储设备500，然后使存储设备传送器550以及其中的存储设备500返回测试槽310，以测试存储设备500。测试完成后，自动传送器200从测试槽310中取回已测试的存储设备500，方式是从测试槽310中移除携带所测试存储设备500的存储设备传送器550（即，使用机械手212），将存储设备传送器550中的所测试存储设备500携带到转移站400，然后操纵存储设备传送器550以使所测试的存储设备500返回转移站400的其中一个集合600。
图7中示出的测试槽310限定被构造为接纳存储设备传送器550的开口312，其在这种情况下提供测试槽310的封闭。存储设备传送器550被构造为接纳存储设备500，如图8所示，并且由自动传送器200进行控制。使用期间，利用机械臂200将其中一个存储设备传送器550从其中一个测试槽310中移除（如通过使用机器人200的机械手212来抓取或者接合传送器550的凹口552）。在一些例子中，如图8-10所示，存储设备传送器550包括机架560，其限定由侧壁562、564和底板566形成的基本为U形的开口561，所述侧壁和底板共同允许机架560贴合在集合600中的存储设备支承件（未示出）周围，以使得可将存储设备传送器550移动（如，通过机械臂200）到被容纳在由集合600所限定的多个存储设备容器620中的一个内的其中一个存储设备500下面的位置（参见如图3）。随后可将存储设备传送器550升高（如，通过机械臂200）到与要从集合600中移除的存储设备500接合的位置。
当存储设备500处于存储设备传送器550的机架560内的适当位置时，可通过自动传送器200使存储设备传送器550和存储设备500一起移动以放置在测试槽310中的一个内，如图4所示。在一些具体实施中，机械手212也被构造为引发设置在存储设备传送器550中的夹紧机构570的致动。这样便可在传送器550从集合600移动到测试槽310中或从中移除之前致动夹紧机构570，以抑制移动期间存储设备500相对于存储设备传送器550的移动。在插入到测试槽310之前，机械手212可再次致动夹紧机构570以在机架560内释放存储设备500。这样便可将存储设备传送器550插入到测试槽310中的一个内，直至存储设备500处于测试位置，其中存储设备连接器510与测试槽连接器（未示出）接合。夹紧机构570也可被构造为接合测试槽310，一旦接纳在其中，就可抑制存储设备传送器550相对于测试槽310的移动。在此类具体实施中，一旦存储设备500处于测试位置，夹紧机构570即再次接合（如通过机械手212），以抑制存储设备传送器550相对于测试槽310的移动。传送器550以此方式夹紧可有助于减少测试期间的振动。在一些例子中，插入之后，存储设备传送器550和其中携带的存储设备500均在测试槽310内共同或单独地被夹紧或固定。
机械臂200、测试槽310以及可与本文所述那些结合的其他细节和特征的详细描述可见于下列美国专利申请：名称为“Disk Drive Testing”（磁盘驱动器测试），具有转让的序列号11/958,817；名称为“BulkFeeding Disk Drives To Disk Drive Testing Systems”（将磁盘驱动器批量送入磁盘驱动器测试系统），具有转让的序列号12/104,869；以及名称为“Bulk Transfer of Storage Devices Using Manual Loading”（使用手动装载进行存储设备的批量转移），具有转让的序列号61/316,667，上述申请的全部内容据此以引用方式并入。
其他实施例均在以下权利要求书的范围内。
Claims (31)
1.一种存储设备转移站，包括：
多个狭槽，所述多个狭槽中的每一个均能够固定存储设备，所述多个狭槽被布置在两个平行平面之间的至少一个区域内，
每个狭槽均具有第一开口端和第二开口端，可访问每个开口端以用于装载和卸载存储设备，
可在所述两个平行平面的第一平面访问所述第一开口端，并且可在所述两个平行平面的第二平面访问所述第二开口端。
2.根据权利要求1所述的存储设备转移站，还包括覆盖所述第一平面的至少一部分的至少一扇门。
3.根据权利要求2所述的存储设备转移站，其中所述门能够锁定和解锁。
4.根据权利要求3所述的存储设备转移站，其中所述门能够自动锁定和解锁。
5.根据权利要求1所述的存储设备转移站，还包括多扇门，其中所述第一平面由所述多扇门覆盖。
6.根据权利要求1所述的存储设备转移站，其中所述狭槽中的至少一个被布置为使得存储设备对齐所述垂直和水平方向中的至少一个方向。
7.根据权利要求2所述的存储设备转移站，其中所述狭槽中的至少一个包括阻挡件。
8.根据权利要求7所述的存储设备转移站，其中所述门包括在所述门为关闭状态时用以紧贴所述阻挡件推压存储设备的机构。
9.根据权利要求1所述的存储设备转移站，其中所述多个狭槽被布置为在所述第一平面从操作员处接纳存储设备。
10.根据权利要求1所述的存储设备转移站，其中所述多个狭槽被布置为在所述第二平面向自动化装置提供存储设备。
11.根据权利要求1所述的存储设备转移站，其中所述多个狭槽被布置为防止在操作员和所述自动化装置之间产生接触。
12.根据权利要求1所述的存储设备转移站，还包括至少一扇门，其覆盖所述第一平面的至少一部分，并且被构造为向所述自动化装置发出信号以在所述至少一扇门为开启状态时限制其移动。
13.根据权利要求1所述的存储设备转移站，其中所述至少一个区域包括至少125个狭槽。
14.根据权利要求1所述的存储设备转移站，其中所述区域包括一个或多个垂直堆叠的行。
15.一种存储设备测试系统，包括：
存储设备转移站，所述存储设备转移站包括：
多个狭槽，所述多个狭槽中的每一个均能够固定存储设备，所述多个狭槽被布置在两个平行平面之间的至少一个区域内，
每个狭槽均具有第一开口端和第二开口端，可访问每个开口端以用于装载和卸载存储设备，
可在所述两个平行平面的第一平面访问所述第一开口端，并且可在所述两个平行平面的第二平面访问所述第二开口端；以及
被构造用于访问所述多个狭槽中的至少一个的所述第二开口端的自动化装置。
16.根据权利要求15所述的存储设备测试系统，还包括覆盖所述第一平面的至少一部分的至少一扇门。
17.根据权利要求16所述的存储设备转移站，其中所述至少一扇门被构造为向所述自动化装置发出信号以在所述至少一扇门为开启状态时限制其移动。
18.根据权利要求16所述的存储设备测试系统，其中所述门能够锁定和解锁。
19.根据权利要求18所述的存储设备测试系统，其中所述门能够自动锁定和解锁。
20.根据权利要求15所述的存储设备测试系统，其中所述存储设备转移站还包括多扇门，并且其中所述第一平面由所述多扇门覆盖。
21.根据权利要求15所述的存储设备测试系统，其中所述狭槽中的至少一个被布置为使得存储设备对齐所述垂直和水平方向中的至少一个方向。
22.根据权利要求16所述的存储设备测试系统，其中所述狭槽中的至少一个包括阻挡件。
23.根据权利要求22所述的存储设备测试系统，其中所述门包括用以在门为关闭状态时紧贴所述阻挡件推压存储设备的机构。
24.根据权利要求15所述的存储设备测试系统，其中所述多个狭槽被布置为在所述第一平面从操作员处接纳存储设备。
25.根据权利要求15所述的存储设备转移站，其中每个狭槽被布置为防止在操作员和所述自动化装置之间产生接触。
26.根据权利要求15所述的存储设备测试系统，其中所述至少一个区域包括至少125个狭槽。
27.根据权利要求15所述的存储设备测试系统，其中所述区域包括一个或多个垂直堆叠的行。
28.一种测试存储设备的方法，包括：
将多个存储设备手动装载到存储设备转移站的多个狭槽内；
致动自动化装置以在所述存储设备转移站的所述多个狭槽和所述存储设备测试系统的所述多个狭槽之间转移多个存储设备；以及
从所述存储设备转移站的所述多个狭槽中手动卸载多个存储设备。
29.根据权利要求28所述的方法，其中在手动装载或卸载所述多个存储设备时所述自动化装置的移动会受限。
30.根据权利要求28所述的方法，其中将多个存储设备手动装载到存储设备转移站的多个狭槽内包括将所述存储设备装载到存储设备转移站的所述狭槽的子集内。
31.根据权利要求28所述的方法，其中将多个存储设备从所述存储设备测试系统的所述多个狭槽转移到所述存储设备转移站的所述多个狭槽包括对所述多个存储设备分类，以将具有基本类似测试结果的存储设备聚集在一起。
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