CN100373469C - 光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路。该光信息记录装置按预定的顺序进行由起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲构成的记录脉冲的条件设定。即，首先通过进行随着记录品质检查和功率及脉冲宽度的条件变更而进行的测试记录来确定基准条件，之后通过进行利用了该基准条件的测试记录来确定最终脉冲的条件，然后利用上述基准条件和最终脉冲确定中间脉冲的条件。使用通过设定这些条件而得到的记录脉冲来进行测试记录，由此进行相位偏移校正。这样，即使是对于驱动器来讲为未知的介质，也能得到更接近最佳的记录条件。该方法在应用于根据RF信号的振幅信息进行码识别的PRML等方式时特别有效。

Description

光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路

技术领域

本发明涉及光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路，特别涉及根据驱动器和介质的匹配性进行记录条件的最优化的光信息记录装置、光信息记录方法和信号处理电路。

背景技术

在以CD-R和DVD-R等为代表的光信息记录介质(以下称作“介质”)的记录中，作为记录对象的介质与记录所使用的记录装置(以下称作“驱动器”)的匹配性因各个组合的不同而不同。作为其原因，考虑有以下情况，即：由于构成介质的记录材料的种类的不同或制造时的成膜差异而使最佳的记录条件发生变化的介质一方的主要原因；和由于构成驱动器的拾取器、半导体激光器的种类的不同或制造时的组装差异而使最佳的条件发生变化的驱动器一方的主要原因。实际上，作为它们的复合原因，存在适合于各组合的记录条件。

因此，以往使用以下的方法，即：预先在介质一方存储可从驱动器一方识别该介质的种类的ID信息，并且预先在驱动器一方按介质的种类存储预先准备的记录条件，在进行实际的记录时，从放入在驱动器中的介质读入该介质的ID信息，使用与该ID信息相关联的记录条件(称作“光策略(light strategy)”)。

可是，在以往的方法中，对于预先验证过的已知的介质，能选择在某种程度上适合的某个记录条件，但是对于未验证的未知的介质，就存在无法用所准备的记录条件应对的情况，此外，即使是已知的介质，因为记录环境的变化，例如记录速度、干扰、时间的变化，存在无法用所准备的记录条件应对的情况。

作为应对这样的未知介质的方法，已知有以下文献所记载的方法。

[专利文献1]  日本特开2003-30837号公报

[专利文献2]  日本特开2004-110995号公报

在上述专利文献1的段落0020中，有“…对各记录模式(pattern)检测与道时钟(channel clock)的相位误差。记录补偿参数调整部12根据相位误差检测部11的检测结果，使发光波形规则最优化…”这样的记载，公开了通过与道时钟的比较来检测、校正相位误差的方法。

此外，在上述文献1的段落0024中有“接着，记录用于确定发光波形规则的测试模式。然后，再现已记录该测试模式的区域，研究预先准备的发光波形规则与相位误差量的关系。即，测量各种标记的长度与紧接在该标记之前的各种间隔的长度的各组合中的相位误差量。从测量出的相位误差量预测相位误差量变为零的发光波形规则，确定所需的发光波形规则…”这样的记载，公开了按标记和间隔的各组合来测量相位误差量，预测相位误差量变为零的方法(参照图8和图12)。

根据该专利文献1中记载的方法，能进行基于记录模式的相位误差的校正，因此该方法是对策略的最优化有效的方法。

此外，在上述专利文献2的段落0045中，有“…一体地(连续地)生成相当于3T期间的起始脉冲和相当于8T期间的单脉冲…”这样的记载，在上述专利文献2的段落0046中，有“…光脉冲以2级来调整激光功率，当激光功率(起始脉冲的峰值)Ph与激光功率(非多脉冲的峰值)Pm的比处于最佳时，得到最佳功率…”这样的记载，暗示了对Ph/Pm的比率进行最优化的有用性。

另一方面，作为使用蓝色激光的高密度记录系统的码识别方式，考虑了采用PRML(Partial Response and Maximum Likelihood)方式，在该PRML方式中，基于再现记录模式而得到的RF信号的振幅信息来进行码识别，所以为了实现高品质的记录，必须设定使用了与以往的限幅(slice)方式不同的评价指标的记录条件。

这里，作为基于RF信号的振幅信息来设定记录条件的方法，已知有下述专利文献。

[专利文献3]  日本特开2004-13978号公报

[专利文献4]  日本特开2004-280876号公报

[专利文献5]  日本特开2003-15129号公报

[专利文献6]  日本特开2004-63024号公报

[专利文献7]  日本特开2004-213759号公报

[专利文献8]  日本特开2004-152473号公报

在上述专利文献3和4中，公开了以非对称(asymmetry)为指标，确定起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲的条件的方法。在专利文献5、6、7中，公开了基于设想为PRML时的理想波形与由实际的记录所得到的再现波形的差，确定记录脉冲的条件的方法。在专利文献8中，公开了以非对称为指标确定起始脉冲的开始位置，并以抖动(jitter)为指标确定起始脉冲和中间脉冲的宽度的方法。

发明内容

但是，在上述专利文献1的方法中，与以往相同，是对预先存储在驱动器中的策略进行微调整，所以对于不适合预先存储的策略的介质，就难以满足良好的记录品质。

此外，在上述专利文献2的方法中，如该文献的段落0067中所记载的那样，根据存储在驱动器或介质中的值，假定Ph和Pm的初始值，然后求出Ph/Pm的比率，因此与专利文献1的情况一样，对于不适合假定的值的介质，就难以满足良好的记录品质。

此外，在上述专利文献3和4的方法中，由于同时使用同一指标来确定起始脉冲和最终脉冲的条件，所以最容易发生错误的最短脉冲没有被最优化，容易受到干扰的影响，容易发生错误。因此，该方法难以提供记录容限(margin)大、高品质的记录系统。

此外，在上述专利文献5、6、7的方法中，一般仅进行已知的脉冲形状的校正，所以难以确定脉冲形状的哪个部分对哪个指标有效，与上述专利文献3和4一样，难以提供记录容限大、高品质的记录系统。

此外，在专利文献8的方法中，以非对称为指标确定起始脉冲的开始位置，但是以抖动为指标同时确定起始脉冲和中间脉冲的宽度，所以与上述专利文献3和4一样，难以提供记录容限大、高品质的记录系统。

因此，本发明提供一种与驱动器和介质的匹配性相应的记录条件的最优化方法，特别是设想为基于RF信号的振幅信息进行码识别的PRML等方式时有效的记录条件最优化方法。

为达到上述目的，本发明的第1方案提供一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：基于最短码的再现结果与次短码的再现结果的关系调整上述最终脉冲以使该最终脉冲最优化，由此设定上述最终脉冲的条件。

这样，通过基于最短码和次短码的再现结果调整最终脉冲的条件，能够提高容易发生错误的最短码附近的判别精度。由于最终脉冲对次短码产生影响的比例大，所以优选通过调整该最终脉冲来确定最短码与次短码的关系。

这里，优选的是与出现频率最高、记录困难的最短坑(pit)对应地设定起始脉冲(top pulse)，例如，在如CD系统那样定义了3T～11T的码时，或如DVD系统那样定义了3T～11T和14T时，优选的是与3T码相对应；在如蓝色激光(Blue-ray)系统那样定义了2T～8T的码时，或如HD-DVD系统那样定义了2T～11T的码时，优选的是与2T码相对应。

此外，由中间脉冲和最终脉冲构成的后续脉冲，可以取单脉冲(nonmulti-pulse)和多脉冲(multi-pulse)的任意一者的方式，在单脉冲的情况下，用起始脉冲和后续脉冲的功率比进行记录脉冲的最优化，在多脉冲的情况下，由多个分脉冲构成后续脉冲，通过调整上述各分脉冲的占空比(duty)，进行记录脉冲的最优化。

另外，本发明的第2方案提供一种基于第1方案的光信息记录装置，其特征在于，上述最终脉冲的条件是基于再现最短码所得到的信号的振幅与再现次短码所得到的信号的振幅的位置关系调整的。

这样，通过基于两个码的振幅的位置关系调整最终脉冲，能提高容易发生错误的最短码附近的判别精度。这里，振幅的位置关系包括利用了非对称、β等RF信号的振幅信息的公知的指标。

另外，本发明的第3方案提供一种基于第1方案的光信息记录装置，其特征在于，上述最终脉冲的条件是基于再现最短码所得到的信号的振幅中心电平与再现次短码所得到的信号的振幅中心电平的差调整的。

这样，通过基于两个码的振幅中心电平的差调整最终脉冲，能提高容易发生错误的最短码附近的判别精度。这里，作为两个码的振幅中心的电平差，优选使用非对称。

另外，本发明的第4方案提供一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：基于以包含最短码和次短码的记录模式对上述介质进行记录所得到的再现结果调整上述最终脉冲以使该最终脉冲最优化，由此设定上述最终脉冲的条件。

这样，通过基于包含最短码和次短码的记录模式的再现结果调整最终脉冲的条件，能够提高容易发生错误的最短码附近的判别精度。这里，作为上述记录模式，可以使用以预定顺序配置最短码、次短码、其它码的特定模式，也可以使用随机配置这些码的随机模式。

另外，本发明的第5方案提供一种基于第4方案的光信息记录装置，其特征在于，作为调整上述最终脉冲的基准的再现结果，是出错率(error rate)。这样，通过以成为直接评价错误的发生频率的指标的出错率为基准，能够提高容易发生错误的最短码附近的判别精度。

另外，本发明的第6方案提供一种基于第4方案的光信息记录装置，其特征在于，作为调整上述最终脉冲的基准的再现结果，是抖动。这样，通过以表示长度方向的偏移量的抖动为指标，也能提高容易发生错误的最短码附近的判别精度。

另外，本发明的第7方案提供一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：基于最短码和/或次短码的再现结果、和再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的再现结果的关系调整上述中间脉冲以使该中间脉冲最优化，由此设定上述中间脉冲的条件。

这样，通过基于上述各码的再现结果调整中间脉冲的条件，能够提高短码和长码的对称(balance)。由于中间脉冲成为确定与从短码到长码的各码长度相应的条件的参数，所以优选通过调整该中间脉冲来确定短码和长码的关系。

这里，所谓再现信号的振幅与最长码为同等程度的码，是指再现该码所得到的RF信号的振幅电平与再现最长码所得到的RF信号的振幅电平为相同电平的码，通常是指再现信号的振幅饱和的码。例如，当11T的码是该记录系统中的最长码，具有8T以上的长度的码的再现振幅电平都相同时，8T～11T的各码就是再现信号的振幅与最长码为同等程度的码。

另外，本发明的第8方案提供一种基于第7方案的光信息记录装置，其特征在于，上述中间脉冲的条件是基于再现最短码和/或次短码所得到的信号的振幅、和对再现信号的振幅与最长码为同等程度的码进行再现所得到的信号的振幅的位置关系调整的。

这样，通过根据两个码的振幅的位置关系调整中间脉冲，能够提高短码和长码的对称。这里，振幅的位置关系，包括利用了非对称、β等RF信号的振幅信息的众所周知的指标。

另外，本发明的第9方案提供一种基于第7方案的光信息记录装置，其特征在于，上述中间脉冲的条件是基于再现最短码和/或次短码所得到的信号的振幅中心电平、和对再现信号的振幅与最长码为同等程度的码进行再现所得到的信号的振幅中心电平的差调整的。

这样，通过根据两个码的振幅中心电平的差来调整中间脉冲，能够提高短码和长码的对称。这里，作为两个码的振幅中心电平差，优选使用非对称。

另外，本发明的第10方案提供一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：基于以包含最短码和/或次短码、以及再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的记录模式对上述介质进行记录所得到的再现结果调整上述中间脉冲以使该中间脉冲最优化，由此设定上述中间脉冲的条件。

这样，通过根据包括上述两个码的记录模式的再现结果调整中间脉冲的条件，能够提高短码和长码的对称。这里，作为上述记录模式，可以使用以预定的顺序配置了最短码、次短码以及其它码的特定模式，也可以使用随机地配置这些码的随机模式。

另外，本发明的第11方案提供一种基于第10方案的光信息记录装置，其特征在于，作为调整上述中间脉冲的基准的再现结果，是出错率。这样，通过以成为直接评价错误的发生频率的指标的出错率为基准，能够降低由短码和长码的对称引起的错误的发生。

另外，本发明的第12方案提供一种基于第10方案的光信息记录装置，其特征在于，作为调整上述中间脉冲的基准的再现结果，是抖动。这样，通过以表示长度方向的偏移量的抖动为指标，也能够提高短码和长码的对称。

另外，本发明的第13方案提供一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：在设定上述记录脉冲的基准条件后，设定上述最终脉冲的条件，然后设定上述中间脉冲的条件。

这样，通过按照基准条件、最终脉冲、中间脉冲的顺序进行条件设定，从最短脉冲到最长脉冲都可以取得合适的记录条件。即，随着码变长，对记录品质的影响按基准条件、最终脉冲、中间脉冲的顺序增大，另外，错误的发生频率按从码短的脉冲到码长的脉冲的顺序依次增高，因此，如果以上述顺序进行条件设定，则能够得到记录容限大、对高品质的记录有效的最佳记录条件。

另外，本发明的第14方案提供一种基于第13方案的光信息记录装置，其特征在于，上述最终脉冲的条件是基于再现最短码所得到的信号的振幅与再现次短码所得到的信号的振幅的位置关系确定的，上述中间脉冲的条件是基于再现最短码和/或次短码所得到的信号的振幅、和对再现信号的振幅与最长码为同等程度的码进行再现所得到的信号的振幅的位置关系确定的。

这样，通过独立地对最终脉冲和中间脉冲各自不同的目标(target)进行控制，能够导出更合适的记录条件。即，通过用对两个码的关系有较大影响的最终脉冲，对最短码和次短码的振幅关系进行调整，用对它们的关系有较强影响的中间脉冲，对短码和长码的振幅关系进行调整，能够得到更大的记录容限。

另外，本发明的第15方案提供一种基于第13方案的光信息记录装置，其特征在于，上述基准条件的设定是基于对上述介质测试记录的结果进行的，上述最终脉冲的条件设定是基于使用了上述基准条件的测试记录的结果进行的，上述中间脉冲的条件设定是基于使用了上述最终脉冲条件的测试记录的结果进行的。

这样，反复进行利用了按照基准条件、最终脉冲的条件、中间脉冲的条件的顺序依次确定的记录条件的测试记录而完成记录脉冲，从而一边按从对记录品质的影响强的控制因素到对记录品质的影响弱的控制因素的顺序依次确定条件，一边进行基于测试记录的调整，由此，作为结果能够得到最佳的记录条件。

另外，本发明的第16方案提供一种基于第13方案的光信息记录装置，其特征在于，上述基准条件是上述起始脉冲的条件。

这样，通过先确定起始脉冲的条件后再确定中间脉冲、最终脉冲等后续脉冲的条件，可以实现更稳定的记录品质。即，记录脉冲的起始侧对记录品质的影响比后续侧强，特别是当仅由起始脉冲构成出现频率高的最短码的记录脉冲时，该影响更为显著。

因此，首先通过预先求出起始脉冲的最佳条件，可以找出对出现频率高的最短码更好的记录条件，通过在将最短码固定在最佳条件的状态下求出后续脉冲的条件，能够取得对各码最好的记录条件。而如上述专利文献2所述，在先进行起始脉冲和后续脉冲的比率的最优化的方法中，有时不能得到起始脉冲的最佳解，对未知介质的适应力低。另外，为了进一步提高精度，也可以反复进行起始脉冲条件的确定和后续脉冲条件的确定。

另外，本发明的第17方案提供一种基于第13方案的光信息记录装置，其特征在于，上述基准条件是上述记录脉冲的功率。这样，通过以记录脉冲本身的功率为最初的基准条件，优先确定对记录品质影响大的控制因素，之后，通过设定后续脉冲的条件，能够得到最好的记录条件。这里，作为基准的记录脉冲的功率，优选为通过使用了包括最短码的记录模式的测试记录来求出。

本发明的第18方案提供一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述中间脉冲的条件，然后设定上述最终脉冲的条件。

这样，也可以通过按照基准条件、中间脉冲、最终脉冲的顺序进行条件设定，从最短脉冲到最长脉冲来得到合适的记录条件。即，随着码的加长，后续脉冲对记录品质的影响增强，因此，如果按照上述顺序进行条件设定，则能够得到记录容限大、对高品质的记录有效的最佳记录条件。

本发明的第19方案提供一种基于第18方案的光信息记录装置，其特征在于，上述中间脉冲的条件是基于再现包含最短码和/或次短码、以及再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的记录模式所得到的出错率确定的，上述最终脉冲的条件是基于再现包含最短码和次短码的记录模式所得到的出错率确定的。

这样，当按照基准条件、中间脉冲、最终脉冲的顺序进行条件设定时，优选为将出错率作为指标，中间脉冲和最终脉冲的条件设定，优选为通过包括对各脉冲影响大的码的测试记录来进行。

本发明的第20方案提供一种基于第18方案的光信息记录装置，其特征在于，上述基准条件的设定是基于对上述介质测试记录的结果进行的，上述中间脉冲的条件设定是基于使用了上述基准条件的测试记录的结果进行的，上述最终脉冲的条件设定是基于使用了上述中间脉冲的条件的测试记录的结果进行的。

这样，反复进行利用了按照基准条件、中间脉冲的条件、最终脉冲的条件的顺序依次确定的记录条件的测试记录来完成记录脉冲，从而，一边按从对记录品质影响强的控制因素到对记录品质影响弱的控制因素的顺序依次确定条件，一边进行基于测试记录的调整，由此，作为结果能够得到最佳的记录条件。

本发明的第21方案提供一种基于第18方案的光信息记录装置，其特征在于，上述基准条件是上述起始脉冲的条件。这样，通过在确定起始脉冲的条件后再确定中间脉冲、最终脉冲等后续脉冲的条件，可以实现更稳定的记录品质。

本发明的第22方案提供一种基于第18方案的光信息记录装置，其特征在于，上述基准条件是上述记录脉冲的功率。这样，通过以记录脉冲本身的功率为最初的基准条件，优先确定对记录品质影响大的控制因素，之后，通过设定后续脉冲的条件，能够得到最好的记录条件。这里，作为基准的记录脉冲的功率，优选为通过使用了包括最短码的记录模式的测试记录来求出。

本发明的第23方案提供一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：通过在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述最终脉冲的条件，然后设定上述中间脉冲的条件，设定每一个码的记录脉冲，准备多种按预定顺序配置了该设定后的记录脉冲中的与预定码对应的脉冲的记录模式，对每一种记录模式进行记录脉冲的条件设定。

这样，通过在进行了对应于各码的记录脉冲的条件设定之后，再进行各预定记录模式的调整，能够以更少的测试次数导出还考虑了记录模式的影响的最佳解。这里，作为要考虑的记录模式的例子，优选为预先考虑紧接在其前的间隔(space)长度、后续的间隔长度以及之前的标记(mark)长度等前后关系。

本发明的第24方案提供一种基于第23方案的光信息记录装置，其特征在于，上述每个记录模式的条件，分别是通过调整上述记录脉冲的开始位置和/或结束位置来设定的。这样，通过按照起始脉冲条件、后续脉冲条件、记录脉冲的相位条件的顺序来确定记录条件，按照出现频率高的最短脉冲、比最短脉冲长的脉冲、模式依赖性的顺序进行最优化，由此，能够得到综合高度的记录品质。

本发明的第25方案提供一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：通过在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述中间脉冲的条件，然后设定上述最终脉冲的条件，设定每个码的记录脉冲，准备多种按预定顺序配置了该设定后的记录脉冲中的与预定码对应的脉冲的记录模式，对每一种记录模式进行记录脉冲的条件设定。

这样，通过在进行了对应于各码的记录脉冲的条件设定之后，再进行各预定记录模式的调整，能够以更少的测试次数导出还考虑了记录模式的影响的最佳解。这里，作为要考虑的记录模式的例子，优选为预先考虑紧接在其前的间隔长度、后续的间隔长度以及之前的标记长度等前后关系。

本发明的第26方案提供一种基于第25方案的光信息记录装置，其特征在于，上述每个记录模式的条件，分别是通过调整上述记录脉冲的开始位置和/或结束位置来设定。这样，通过按照起始脉冲条件、后续脉冲条件、记录脉冲的相位条件的顺序来确定记录条件，按照出现频率高的最短脉冲、比最短脉冲长的脉冲、模式依赖性的顺序进行最优化，由此，能够得到综合高度的记录品质。

本发明的第27方案提供一种光信息记录方法，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录方法的特征在于：在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述最终脉冲的条件，然后设定上述中间脉冲的条件。

本发明的第28方案提供一种光信息记录方法，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录方法的特征在于：在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述中间脉冲的条件，然后设定上述最终脉冲的条件。

本发明的第29方案提供一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，该光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述最终脉冲的条件，然后设定上述中间脉冲的条件。

本发明的第30方案提供一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，该光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述中间脉冲的条件，然后设定上述最终脉冲的条件。

本发明的第31方案提供一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，该光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：基于最短码的再现结果与次短码的再现结果的关系调整上述最终脉冲以使该最终脉冲最优化，由此设定上述最终脉冲的条件是。

本发明的第32方案提供一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，该光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：基于以包含最短码和次短码的记录模式记录上述介质而得到的再现结果调整上述最终脉冲以使该最终脉冲最优化，由此设定上述最终脉冲。

本发明的第33方案提供一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，该光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：基于最短码和/或次短码的再现结果、和再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的再现结果的关系调整上述中间脉冲以使该中间脉冲最优化，由此设定上述中间脉冲的条件。

本发明的第34方案提供一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，该光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：基于以包含最短码和/或次短码、以及再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的记录模式对上述介质进行记录所得到的再现结果调整上述中间脉冲以使该中间脉冲最优化，由此设定上述中间脉冲的条件。

如上所述，根据本发明，对于驱动器而言，即使是未知的介质也能得到更接近最佳的记录条件。本发明特别是在用于根据RF信号的振幅信息来进行码识别的PRML等方式时有效。

附图说明

图1是表示本发明的记录脉冲的结构的概念图。

图2是表示确定记录脉冲的条件的第1方法的概念图。

图3是表示确定记录脉冲的条件的第2方法的概念图。

图4是表示确定记录脉冲的条件的第3方法的概念图。

图5是表示确定记录脉冲的条件的第4方法的概念图。

图6是表示确定记录脉冲的条件的第5方法的概念图。

图7是表示本实施方式的驱动器的内部结构的框图。

图8是表示图2的(a)所示的基准条件确定步骤的详细执行步骤的流程图。

图9是详细表示图8所示的基准阈值的确定步骤的流程图。

图10是表示图9所示的流程的一个实施例的概念图。

图11是表示图9所示的流程的一个实施例的概念图。

图12是表示按各驱动器求阈值时的一个例子的概念图。

图13A、图13B是表示在图8的步骤S120中实施记录品质检查得到山谷形模式的例子的概念图。

图14A、图14B是表示在图8的步骤S120中实施记录品质检查得到右下降模式的例子的概念图。

图15A、图15B是表示在图8的步骤S120中实施记录品质检查得到右上升模式的例子的概念图。

图16是表示在图8的步骤S120中得到了山谷形模式时，在步骤S122中执行的测试区域确定的一个例子的概念图。

图17是表示在图8的步骤S120中得到了右下降模式时，在步骤S122执行的测试区域确定的一例的概念图。

图18是表示在图8的步骤S120中得到了右上升模式时，在步骤S122中执行的测试区域的确定的一例的模式图。

图19是表示在使用8个模式执行图8的步骤S120时的例子的图。

图20是说明通过曲线近似求出在图8的步骤S122中使用的功率范围(power range)的概念图。

图21是说明通过曲线近似求出在图8的步骤S122中使用的功率范围的另一个例子的概念图。

图22是通过抽样求出在图8的步骤S122中使用的功率范围的例子的概念图。

图23是详细表示图2的(a)所示的最终脉冲条件确定步骤的执行顺序的流程图。

图24A、图24B是表示图23所示的处理的执行结果的曲线图。

图25是详细表示图2的(a)所示的中间脉冲条件确定步骤的执行顺序的流程图。

图26A、图26B是表示图25所示的处理的执行结果的曲线图。

图27是表示在图2的(a)所示的相位偏移校正中使用的测试用记录脉冲的例子的概念图。

图28是表示图2的(a)所示的相位偏移校正的执行步骤的流程图。

图29是表示从图28所示的测试记录到再现数据的计数为止的操作概念的概念图。

图30是表示图28所示的计数结果的存储映像(image)的概念图。

图31A、图31B是表示图28所示的柱状图(histogram)生成的映像的概念图。

图32A、图32B是表示图28所示的阈值确定的映像的概念图。

图33A、图33B是表示通过图32所示的方法得到的阈值的例子的概念图。

图34是表示用于检测各标记长度的前侧相位偏移量的记录模式和再现模式的一个例子的图。

图35是表示用于检测各标记长度的后侧相位偏移量的记录模式和再现模式的一个例子的概念图。

图36是表示用于检测由热干扰引起的标记偏移量的记录模式的一个例子的图。

图37A、图37B是表示标记前相位偏移检测和标记后相位偏移检测所使用的特定模式检索用的表(table)结构的概念图。

图38是表示标记干扰偏移检测中所使用的特定模式检测用的表结构的概念图。

图39是表示通过计数结果的相对比较来检测偏移量时的具体例子的概念图。

图40是表示根据图28所示的控制量预测确定Ttopr、Tlastf的执行例子的流程图。

图41是表示记录条件S1、S2的变化与偏移量D1、D2之间的关系的概念图。

图42是表示利用了直线近似的前侧相位偏移校正的一个例子的概念图。

图43是表示利用了直线近似的后侧相位偏移校正的一个例子的概念图。

图44A、图44B是表示用于存储校正量Ttopr和Tlastf的表构造的概念图。

图45是表示校正后的单脉冲的例子的概念图。

图46是表示校正后的多脉冲的例子的概念图。

具体实施方式

以下，参照附图说明本发明的实施方式。另外，本发明不限于以下说明的实施方式，还可以进行适当的变更。

图1是表示本发明的记录脉冲的结构的概念图。图1的(a)是使用以单一的脉冲模式构成的单脉冲时的例子，图1的(b)是使用以多个脉冲模式构成的多脉冲时的例子。如图1所示，单脉冲10-1和多脉冲10-2，由配置在记录脉冲最前面的起始脉冲12和之后的后续脉冲14构成，后续脉冲14包括接着起始脉冲12的中间脉冲15，以及配置在记录脉冲的最后面的最终脉冲16。

这里，设记录脉冲10-1和10-2的长度为n＇T，起始脉冲12具有m＇T的长度，后续脉冲14具有(n-m)T的长度。在本实施例中，取m＝2、n＝2～11的值。T是在光盘系统中定义的单位时间，其周期由时钟信号确定。

记录脉冲10-1和10-2的条件，通过在光信息记录装置(以下，称作“记录装置”或“驱动器”)中放入了光信息记录介质(以下，称作“介质”或“盘”)的状态下进行测试记录来确定。

这里，用总功率PW表示的高度规定记录脉冲整体的能量，以起始脉冲宽度Ttop表示的长度规定施加给记录标记前端的初始能量。该总功率PW，优选为记录脉冲10-1、10-2中最高的值，起始脉冲的宽度Ttop，具有对应于具有2T的长度的最短记录标记的宽度。该最短宽度的记录脉冲的出现概率最高，对记录品质的影响大，因此，优选为首先确定该起始脉冲12的功率PW和宽度Ttop的最佳条件。

作为中间脉冲15的条件，在为单脉冲10-1时，如图1的(a)所示，设置比总功率PW低PWD的低功率区域，通过规定该量来防止记录标记成为泪滴状。同样，在为多脉冲10-2时，如图1的(b)所示，通过规定位于起始脉冲12和最终脉冲16之间的中间脉冲15的宽度Tmp，或者通过规定Tmp和Tsmp的占空比来防止记录标记成为泪滴状。

最终脉冲16的条件，通过调整配置在记录脉冲的最后面的最终脉冲16的宽度Tlast来确定。由这些中间脉冲15和最终脉冲16构成的后续脉冲的条件确定，以起始脉冲的条件为基准地进行。

图2是表示确定记录脉冲的条件的第1方法的概念图。图2的(a)是表示记录脉冲条件的确定顺序的流程图，图2的(b)是表示在图2的(a)的各步骤中、在为单脉冲的情况下成为调整对象的部位的图，图2的(c)是表示在图2的(a)的各步骤中、在为多脉冲的情况下成为调整对象的部位的图，图2的(d)是表示在图2的(a)的各步骤中、作为指标的参数的图。

如图2的(a)所示，在采用该方法确定记录脉冲的条件时，首先确定与各码相对应的记录脉冲的基准条件(步骤S100)。该基准条件的设定通过以下方式进行：如图2的(b)、图2的(c)、图2的(d)中与该步骤相对应的部分所示，通过调整起始脉冲的功率和宽度，求出作为最短码的2T的振幅值I2的偏移量为0的条件。

另外，上述振幅偏移量，可以根据随机或者特定的模式下的记录结果，将以2T模式为中心的检测模式下的错误值作为指标，也可以将对应于模式的振幅偏移量作为指标。

之后，通过利用该基准条件进行测试记录，来确定最终脉冲的记录条件(步骤S200)。该最终脉冲的条件设定通过以下方式进行：如图2的(b)、图2的(c)、图2的(d)中与该步骤相对应的部分所示，在将中间脉冲的条件固定为预定条件的状态下调整最终脉冲的宽度，结果求出表示作为最短码的2T的振幅值I2、和作为次短码的3T的振幅值I3的非对称性的非对称2T3T为0的条件。

之后，通过利用在步骤S100求出的基准条件和在步骤S200求出的最终脉冲进行测试记录，来确定中间脉冲的记录条件(步骤S300)。该中间脉冲的条件设定通过以下方式进行：如图2的(b)、图2的(c)、图2的(d)中与该步骤相对应的部分所示，在为单脉冲时调整中间脉冲的功率，在为多脉冲时调整构成中间脉冲的分脉冲的宽度，结果求出表示作为最短码的2T的振幅值I2、和作为最长码的11T的振幅值I11的非对称性的非对称2T11T为0的条件。

通过执行以上的步骤S100～S300来确定记录脉冲的条件，由此，通过使用该记录脉冲进一步进行测试记录，来进行该记录脉冲的相位偏移补正(步骤S400)。该相位偏移补正通过以下方式进行：如图2的(b)、图2的(c)、图2的(d)中与该步骤相对应的部分所示，调整记录脉冲的开始位置和结束位置，结果求出该码、例如在本例中8T的振幅值18的偏移量为0的条件。另外，该偏移量优选使用对应于8T前后的模式的振幅偏移量。

图3是表示确定记录脉冲的条件的第2方法的概念图。图3的(a)是表示记录脉冲条件的确定顺序的流程图，图3的(b)是表示在图3的(a)的各步骤中、在为单脉冲的情况下成为调整对象的部位的图，图3的(c)是表示在图3的(a)的各步骤中、在为多脉冲的情况下成为调整对象的部位的图，图3的(d)是表示在图3的(a)的各步骤中、作为指标的参数的图。

如图3的(a)所示，在采用该方法确定记录脉冲的条件时，首先确定与各码相对应的记录脉冲的基准条件(步骤S100)。该基准条件的设定通过以下方式进行：如图3的(b)、图3的(c)、图3的(d)中与该步骤相对应的部分所示，通过调整起始脉冲的功率和宽度，求出错率为最小的条件。

之后，通过利用该基准条件进行测试记录来确定中间脉冲的记录条件(步骤S300)。该中间脉冲的条件设定通过以下方式进行：如图3的(b)、图3的(c)、图3的(d)中与该步骤相对应的部分所示，在为单脉冲时调整中间脉冲的功率，在为多脉冲时调整构成中间脉冲的分脉冲的宽度，结果求出出错率为最小的条件。

之后，通过利用在步骤S100求出的基准条件和在步骤S300求出的中间脉冲进行测试记录，来确定最终脉冲的记录条件(步骤S200)。该最终脉冲的条件设定通过以下方式进行：如图3的(b)、图3的(c)、图3的(d)中与该步骤相对应的部分所示，在将中间脉冲的条件固定为预定条件的状态下调整最终脉冲的宽度，结果求出出错率为最小的条件。

通过执行以上的步骤S100～S300来确定记录脉冲的条件，因此，通过使用该记录脉冲进一步进行测试记录，来进行该记录脉冲的相位偏移补正(步骤S400)。该相位偏移补正通过以下方式进行：如图3的(b)、图3的(c)、图3的(d)中与该步骤相对应的部分所示，调整该记录脉冲的开始位置和结束位置，结果求出出错率为最小的条件。

另外，在上述例子中，就在所有步骤中以出错率为指标的例子进行了说明，但也可以是基准条件的调整以出错率为指标，最终脉冲和中间脉冲以非对称为指标，相位偏移补正以振幅偏移量为指标等，在各步骤中可以使用任意的指标。另外，也可以设定在以出错率为指标时的功率容限内记录特性最稳定的记录条件。

图4是表示确定记录脉冲的条件的第3方法的概念图。图4所示的方法，是使用包括多种码的记录模式进行测试记录，基于其结果确定记录条件的方法的例子。图4的(a)是表示记录脉冲条件的确定顺序的流程图，图4的(b)是表示在图4的(a)的各步骤中、由单脉冲构成的记录模式的成为调整对象的部位的图。另外，在图4的(b)所附加的数值，用于以单位时间长度表示构成各码的标记和间隔的长度，表示为“8-11”的部分，意思是8T～11T的任意码。

如图4的(a)所示，在采用该方法确定记录脉冲条件时，首先确定由多种码串构成的记录模式的功率条件(步骤S100)。如在图4的(b)中与步骤S100对应的部分所示的那样，对记录模式整体的功率进行调整，从而设定该功率条件。既可以求出作为最短码的2T的振幅值I2的偏移量变为0的条件作为该功率调整的指标，也可以求出出错率最小的条件作为该功率调整的指标。另外，也可以设定在将出错率作为指标时的功率容限内记录特性最稳定的功率条件。

在此，最好是在驱动器内预先准备上述记录模式，在该记录模式中使用的起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲的条件，可以使用存储在驱动器内的标准值，也可以通过测试记录来求出。

之后，利用在步骤S100中所确定的功率条件来进行测试记录，由此确定最终脉冲的记录条件(步骤S200)。如在图4的(b)中与步骤S200对应的部分所示的那样，在将起始脉冲和中间脉冲的条件固定为预定的条件的状态下对最终脉冲的宽度进行调整，由此进行该最终脉冲的条件设定。

在该例子中，因为具有大于等于3T长度的码利用最终脉冲，所以在图4的(b)所示的例子中，调整与3T标记对应的脉冲、和与8T～11T标记对应的脉冲的最后面。既可以求出表示作为最短码的2T的振幅值I2、和作为次短码的3T的振幅值I3之间的非对称性的非对称2T3T变成0的条件作为该最终脉冲调整的指标；也可以求出出错率变为最小的条件作为该最终脉冲调整的指标。

此后，利用在步骤S100中求出的功率条件和在步骤S200中求出的最终脉冲来进行测试记录，由此确定中间脉冲的记录条件(步骤S300)。该中间脉冲的条件设定，如在图4的(b)中与步骤S300对应的部分所示，通过调整中间脉冲的功率来进行。

在该例子中，因为具有大于等于4T长度的码利用中间脉冲，所以在图4的(b)所示的例子中，调整与8T～11T标记对应的脉冲的中间功率。既可以求出表示作为最短码的2T的振幅值12、和作为最长码的11T的振幅值I11之间的非对称性的非对称2T11T变成0的条件作为该中间脉冲调整的指标；也可以求出出错率变为最小的条件作为该中间脉冲调整的指标。

因为通过执行以上的步骤S100～S300确定记录模式所包含的各记录脉冲的条件，所以使用该确定后的记录脉冲来进一步进行测试记录，由此进行必要的记录脉冲的相位偏移校正(步骤S400)。如图4的(b)中与步骤S400对应的部分所示的那样，通过对成为校正对象的记录脉冲的开始位置和结束位置进行调整来进行该相位偏移校正。

成为校正对象的记录脉冲，通过使用了多种记录模式的测试记录来确定，例如在图4的(b)所示的模式中8T～11T为校正对象码。作为该相位偏移校正的指标，既可以使用非对称值，也可以使用出错率。

图5是表示确定记录脉冲的条件的第4方法的概念图。图5所示的方法，是与图4同样地使用包含多种码的记录模式进行测试记录，基于其结果来确定记录条件的方法的例子。图5的(a)是表示记录脉冲条件的确定步骤的流程图，图5的(b)是按图5的(a)的各步骤表示成为由多脉冲所构成的记录模式的调整对象的部位的图。在图5的(b)中添加的数值，是以单位时间长度表示构成各码的标记和间隔的长度的数值，表示为“8-11”的部分，意思是8T～11T的任意码。

如图5的(a)所示，通过该方法确定记录脉冲条件时，首先，确定由多种码串构成的记录模式的功率条件(步骤S100)。如图5的(b)中与步骤100对应的部分所示的那样，调整记录模式整体的功率，从而进行该功率条件的设定。既可以求出作为最短码的2T的振幅值12的偏移量变为0的条件来作为该功率调整的指标，也可以求出出错率最小的条件来作为该功率调整的指标。另外，也可以设定将出错率作为指标时的功率容限内记录特性最稳定的功率条件。

在此，最好是在驱动器内预先准备上述记录模式，在该记录模式内使用的起始脉冲、中间脉冲、最终脉冲的条件，可以使用存储在驱动器内的标准值，也可以通过测试记录来求出。

此后，利用在步骤S100中所确定的功率条件来进行测试记录，由此确定最终脉冲的记录条件(步骤S200)。如在图5的(b)中与步骤S200对应的部分所示的那样，在将起始脉冲和中间脉冲的条件固定为预定的条件的状态下对最终脉冲的宽度进行调整，从而进行该最终脉冲的条件设定。

在该例子中，因为具有大于等于3T长度的码利用最终脉冲，所以在图5的(b)所示的例子中，调整与3T标记对应的脉冲、和与8T～11T标记对应的脉冲的最后面。既可以求出表示作为最短码的2T的振幅值I2、和作为次短码的3T的振幅值I3之间的非对称性的非对称2T3T变成0的条件作为该最终脉冲调整的指标；也可以求出出错率最小的条件作为该最终脉冲调整的指标。

此后，利用在步骤S100中求出的功率条件和在步骤S200中求出的最终脉冲来进行测试记录，由此确定中间脉冲的记录条件(步骤S300)。该中间脉冲的条件设定，如在图5的(b)中与步骤S300对应的部分所示，通过调整构成中间脉冲的分割脉冲的宽度来进行。

在该例子中，因为具有大于等于4T长度的码利用中间脉冲，所以在图5的(b)所示的例子中，调整与8T～11T对应的脉冲的分脉冲宽度。既可以求出表示作为最短码的2T的振幅值12、和作为最长码的11T的振幅值I11之间的非对称性的非对称2T11T变成0的条件作为该中间脉冲调整的指标；也可以求出出错率最小的条件作为该中间脉冲调整的指标。

因为通过执行以上的步骤S100～S300确定记录模式所包含的各记录脉冲的条件，所以使用该确定后的记录脉冲进一步地进行测试记录，由此进行必要的记录脉冲的相位偏移校正(步骤S400)。如图5的(b)中与步骤S400对应的部分所示的那样，对成为校正对象的记录脉冲的开始位置和结束位置进行调整，由此进行该相位偏移校正。

成为校正对象的记录脉冲，通过使用了多种记录模式的测试记录来确定，例如在图5的(b)所示的模式中8T～11T成为校正对象码。作为该相位偏移校正的指标，既可以使用非对称值，也可以使用出错率。

图6是表示确定记录脉冲的条件的第5方法的概念图。图6所示的方法，是与图4同样地使用包含多种码的记录模式进行测试记录，并基于其结果来确定记录条件的方法的例子。图6的(a)是表示记录脉冲条件的确定步骤的流程图，图6B是按图6的(a)的各步骤表示由单脉冲构成的记录模式的成为调整对象的部位的图。在图6的(a)中添加的数值，以单位时间长度表示构成各码的标记和间隔的长度的数值，表示为“8-11”的部分，意思是8T～11T的任意码。

如图6的(a)所示，通过该方法确定记录脉冲条件时，首先，确定由多种码串构成的记录模式的起始脉冲条件(步骤S100)。如图6B中与步骤S100对应的部分所示的那样，调整构成记录模式的各码的起始脉冲的功率和宽度，由此进行该起始脉冲条件的设定。既可以求出作为最短码的2T的振幅值I2的偏移量变为0的条件作为该起始脉冲调整的指标，也可以求出出错率最小的条件作为该起始脉冲调整的指标。其它的与图4所示的例子相同。

关于以上说明的各方法的效果，对在HD-DVD记录系统中验证后的结果进行说明，首先，能够确认，只使最终脉冲阶梯性地变化时的非对称2T3T值相对于最终脉冲的宽度大致线性地变化。测量出表示此时的记录特性的PRSNR值和SbER值后，不论哪个值，相对于非对称2T3T都具有良好的记录容限。

其次，能够确认，只使中间脉冲阶梯形地变化时的非对称2T11T的变化，相对于中间脉冲的宽度大致线性地变化。测量出表示此时的记录特性的PRSNR值和SbER值后，不论哪个值，相对于非对称2T3T都具有良好的记录容限。

进而，能够确认，在确定了非对称2T3T值变为0的最终脉冲后确定非对称值2T11T变为0的中间脉冲，然后由最终脉冲的调整所得到的非对称2T3T的值保持不变，并且非对称3T11T的值也变为0。

图7是表示本实施方式的驱动器的内部结构的框图。如图7所示，该驱动器100使用从激光振荡器103输出的激光，对介质50进行信息的记录再现。

在对介质50进行信息的记录时，由编码器101对与所要的记录信息对应的记录信号以EFM方式进行编码，将该编码后的记录数据加在策略电路102上。

在此，在该策略电路102中，设定了预定策略的各种设定参数，该策略电路102，校正策略的各种设定参数，控制从激光振荡器103输出的激光的强度、脉冲宽度，生成能得到所要的记录状态的记录脉冲。

在策略电路102中形成的记录脉冲，被加在激光振荡器103上，激光振荡器103，与该记录脉冲对应地控制输出激光，将该被控制的激光通过透镜104、半反射镜105、透镜106照射在以恒定的线速度或恒定的角速度转动的介质50上，由此，在介质50的记录层上记录由与所要的记录数据对应的标记、间隔串组成的记录模式。

另一方面，在对记录于介质50上的信息进行再现时，从激光振荡器103通过透镜104、半反射镜105、透镜106对以恒定的线速度或恒定的角速度转动的介质50照射同样的再现激光。

这时，再现激光使用比记录时从激光振荡器103输出的激光的强度弱的再现激光，该再现激光的被介质50反射的反射光，通过透镜106、半反射镜105、透镜107而被受光部108接收，转换成电信号。

从受光部108输出的电信号，与由记录在介质50上的标记、间隔组成的记录模式对应。关于从该受光部108输出的电信号，由同步信号检测电路109从该电信号所包含的摆动(wobble)成分生成预定周期的时钟信号，之后，通过PRML等码判断电路110编码，进而被解码器111解码，作为再现信号来输出。对于记录条件确定涉及的结构，将在下面进行说明。

这样，由驱动器和介质所构成的记录系统的记录品质，取决于驱动器的特性差异和介质的特性差异，因此，通过上述的策略削弱其影响能够提高记录品质。作为介质，可以应用以CD-R、DVD-R为代表的色素型介质、或以CD-RW、DVD-RW为代表的相变型介质等各种光信息记录介质。

以下，详细说明上述的驱动器执行的图2的(a)所示的记录脉冲条件确定流程。

(基准条件的确定)

图8是表示图2的(a)所示的基准条件确定步骤的详细的执行步骤的流程图。如图8所示，上述的驱动器100，首先执行进行该驱动器的初始设定的步骤S110～S114，接着，执行确定测试记录的条件的步骤S116～S122，然后，执行以确定的条件进行测试记录的步骤S124，执行根据其结果确定起始脉冲的条件的步骤S126。以下，详细说明上述的各个步骤。

(基准条件的预设定)

在图8所示的步骤S110中，首先，使用任意标准的介质一边使记录速度变化一边进行测试记录，求出1个脉冲宽度和3个功率值作为基准条件。优选的是，使用上述测试记录的结果作为3个功率值，即：包含2T的模式的出错率最小的值、以及位于其前后的2个功率值。最好是，使用成为出错率好坏的基准的阈值附近的值作为前后2个功率值。在此求得的基准条件在后面的记录品质检查时进行使用。

(基准阈值的确定)

如后述那样，为了设定满足预定的记录容限的区域作为测试记录条件的范围(以下，称为“测试区域”)，需要确定成为判断基准的阈值。可以依照驱动器、介质的种类准备标准的值作为阈值的值，但是，表示出错率容许区域的最低限(minimum line)的阈值，随图7所示的构成拾取器的光学系统部件或其它元件的状态而变化，而且，还随记录介质的速度而变化。

因此，推荐的是，按实际使用的驱动器和介质的组合来求出上述阈值，使其具有更准确的判断基准，从而进行更准确的测试区域的设定。

不过，按驱动器和介质的组合来设定上述阈值，还成为记录步骤增加的主要原因，因此，也可以假定每个驱动器个体的差异为阈值变动的主要原因，将在驱动器制造时适于每个个体的阈值预先存储在存储区域115中。

图9是详细表示图8所示的基准阈值的确定步骤的流程图。如图9所示，进行基于预定的记录条件的记录再现，再根据其结果确定作为系统的基准值，将从该基准值确保了预定的容限的值设定为在测试区域确定时使用的阈值，由此来进行基准阈值的确定。以下，依次说明各个步骤。

首先，执行进行记录条件设定的步骤S150。在该步骤中，将脉冲宽度、功率、记录再现速度、记录地址等记录再现所需的条件准备为预定的模式，将该记录条件设定在驱动器中之后，在该驱动器内放入基准介质。优选的是，从各种介质中选择特性标准的介质作为基准介质。

接着，执行以在上述步骤S150中设定的记录条件对所放入的基准介质进行记录和再现的步骤S152，获得各记录条件中的记录再现特性，例如出错率、抖动、振幅、C/N值。选择表示记录品质的值作为在此取得的特性值。以下，以使用了抖动作为记录品质的指标的例子进行说明。

接着，执行步骤S154，在该步骤S154中，从在上述步骤S152中获得的记录再现特性值求出最佳值、例如抖动最小值，将此值设为系统基准值。由此，在上述驱动器内将被认为接近最佳值的抖动值设定为基准值。

最后，执行步骤S156，在步骤S156中，计算将在上述步骤S154中确定的系统基准值与预定的系数α(优选的是设定α>1)相乘后的值，作为阈值。由此，能够以具有预定的容限的形式对系统基准值进行判断。即，使用了系统基准值的阈值的计算，是用阈值＝系统基准值×α来进行的，作为系数α最好是使用大约为1.5的数值。该系数α可以根据驱动器、介质的种类设定适当的值，既可以设定α＝0.8～1.2这样接近系统基准值的值，也可以设定α＝2.0～3.0这样稍大的值。

图10是表示图9所示的流程的一个实施例的概念图。图9所示的例子，使用抖动值作为表示记录品质的特性值，对于W1～W4的各脉冲宽度，使功率在P1～P6的范围内进行变化，从而得到再现特性202-1～202-4。在图10所示的例子中，脉冲宽度W1～W4和功率P1～P6成为记录条件，得到最低抖动值的再现特性202-3的极值成为系统基准值，将该系统基准值乘以例如1.5而得到的值为阈值。图10中的矩阵内所示的箭头表示使测试条件变化的方向，在以下的说明中也以相同的含义使用。

图11是表示图9所示的流程的一个实施例的概念图。图11所示的例子，使用抖动值作为表示记录品质的特性值，按W1～W4的各脉冲宽度，改变功率的变化范围，从而得到再现特性202-1～202-4。在图11所示的例子中，得到最低抖动值的再现特性202-2的极值成为系统基准值，将该系统基准值乘以例如1.5而得到的值为阈值。这样，也可以按各脉冲宽度改变功率条件来求得阈值。

图12是表示按各驱动器求出阈值时的例子的概念图。在希望进行与驱动器的个体差异相应的阈值设定的情况下，如图12所示，各驱动器100-1～100-5分别对共用的基准介质50进行记录再现，预先按各驱动器存储固有的阈值1～5。

在想要简化阈值的设定步骤的情况下，也可以求出用数个标准的驱动器的每一个对共用的基准介质进行记录再现而得到的阈值1～5的平均值，并将该平均阈值作为其它驱动器的阈值使用。

这时，为了求出平均阈值而使用的驱动器，既可以是相同设计的驱动器，也可以是并非完全相同的、类似的设计的驱动器。进而，也可以将一次求得的平均阈值作为以后制造的相同或类似设计的驱动器的阈值而普遍使用。另外，也可以有意地准备存在差异的多台驱动器，求出这些驱动器的平均值。

(记录装置的初始设定)

执行步骤S114，在步骤S114中，把用以上说明的图8的步骤S110和步骤S112求得的基准条件和基准值存储在驱动器100内的记录区域115中。优选的是，预先在制造该驱动器100时进行该步骤S114。

(放入记录对象介质)

接着，执行步骤S116，在步骤S116中，在已结束步骤S114的初始设定后的驱动器100内放入进行信息记录的介质50。

(基于基准条件的记录再现)

下面，执行步骤S118，在步骤S118中，使用在步骤S114中设定的条件，对在步骤S116中放入的介质50上进行记录。具体地说，使用作为基准条件所定义的1个脉冲宽度和3种功率值进行3次记录再现，得到3点抖动值。将该3点抖动值与功率轴之间的关系用图形表示，能够明确与驱动器100和介质50的组合相应的记录特性的趋势。

(记录品质的检查)

图13A、图13B是表示在图8的步骤S120中实施记录品质检查而得到山谷形模式的例子的概念图。如图13A、图13B所示，使用在步骤S120之前的步骤中所得到的各基准条件下的抖动值和阈值来进行记录品质的检查。在图13A、图13B所示的例子中，作为基准条件使用了功率P1、P2、P3，联结由各功率值得到的抖动值的假想线为山谷形的模式。在得到了这样的山谷形模式时，意味着在步骤S110中使用的基准介质和在步骤S116中放入的记录对象介质为相同的灵敏度，记录特性是类似的。

这里，图13A是山谷形模式的最小值小于等于阈值的例子，图13B是山谷形模式的最小值大于等于阈值的例子，在任一个模式中，都认为基准介质和记录对象介质是相同的灵敏度。这样，在基准介质和记录对象介质是相同的灵敏度的情况下，如后述的那样，以将基准条件作为中心的功率×脉冲宽度的面区域来设定在测试记录中使用的条件。

在此，在图13A和图13B中，在各记录点P1、P2、P3分别得到的再现值与再现基准值的差量、即在图13A、图13B的例子中抖动值与抖动阈值的差量不同，在图13A中所得到的再现值更接近再现基准值。

这被认为是图13A比图13B更容易发现最佳条件，因此，得到图13A的记录特性时与得到图13B的记录特性时相比，测试次数设定得较少，也可以作为以更少的测试次数发现合适的解的结构。

即，再现值与再现基准值的差量小的情况下，最佳条件接近上述基准条件，再现值与再现基准值的差量大的情况下，最佳条件远离上述基准条件，因此，在想要进一步减少测试次数的情况下，最好是根据再现值与再现基准值的差量改变测试次数。

图14A、图14B是表示在图8的步骤S120中实施记录品质检查而得到右下降的模式的例子的概念图。在图14A、图14B所示的例子中，为随着P1、P2、P3和功率的增加抖动值下降的右下降的模式。在得到了这样的右下降的模式时，意味着记录对象介质的灵敏度比基准介质的灵敏度低。

在此，图14A是右下降模式的最小值小于等于阈值的例子，图13B是右下降模式的最小值大于等于阈值的例子，在任一个模式中，都被认为是记录对象介质的灵敏度比基准介质的灵敏度低。这样，在记录对象介质的灵敏度比基准介质的灵敏度低的情况下，如后述的那样，使以将基准条件作为中心的功率×脉冲宽度的面区域所划分的测试区域向高功率、宽脉冲宽度一侧移动来进行测试记录。

另外，在得到了图14A、图14B所示的右下降模式的情况下，考虑到抖动的最小值位于更高功率一侧，因此，可以用比P3更高的功率进行追加记录，再次确认记录特性。在这种情况下，记录次数增加一次，但能够提高记录品质的检查精度。在得到了这种模式的情况下，与得到了上述山谷形模式的情况相同，可以根据再现值和再现基准值的差量改变测试次数。

此外，当取得图14A、图14B所示的右下降模式时，认为与上述图13A、图13B所示的山谷形模式相比，最佳解远离基准条件，因此最好是与山谷形模式相比，预先增加测试次数。

图15A、图15B是表示在图8的步骤S120中执行记录品质检查而得到右上升的模式的例子的概念图。在图15A、图15B所示的例子中，为随着P1、P2、P3和功率的增加，抖动值上升的右上升的模式。当取得这样的右上升的模式时，意味着与基准介质相比，记录对象介质的灵敏度更高。

这里，图15A是右上升模式的最小值小于等于阈值的例子，图15B是右上升模式的最小值大于等于阈值的例子，在任一个模式中，都被认为是与基准介质相比，记录对象介质的灵敏度更高。这样，当记录对象介质的灵敏度更高时，如后所述，使以基准条件为中心的功率×脉冲宽度的面区域所划分的测试区域向低功率、窄脉冲宽度一侧移动来进行测试记录。

此外，当取得图15A、图15B所示的右上升模式时，考虑到抖动的最小值位于更低功率一侧，因此可以用比P1低的功率进行追加记录，再次确认记录特性。这时记录次数增加1次，但是能提高记录品质的检查精度。当得到了该模式时，与得到了上述山谷形模式时同样，可以根据再现值和再现基准值的差量改变测试次数。

此外，当得到了图15A、图15B所示的右上升模式时，考虑到与上述图13A、图13B所示的山谷形模式相比，最佳解远离基准条件，所以最好是与山谷形模式相比，预先增加测试次数。

(测试区域的确定)

图16是表示在图8的步骤S120中得到山谷形模式时，在步骤S122中执行的测试区域确定的一例的概念图。如图16所示，当得到了山谷形模式时，将连结在点P1、P2、P3分别得到的抖动值的近似曲线206与阈值的相交点设为在测试记录中使用的功率变化区域，该变化区域为功率范围。在本发明中，把实际在测试记录中使用的功率范围定义为“功率范围”，把抖动小于等于阈值的功率范围定义为“功率容限”。

这里，近似曲线206随各脉冲宽度的不同而不同，所以当设基准条件中使用的脉冲宽度为W4时，则对于以该W4为中心的脉冲宽度W1～W6，分别以功率P1、P2、P3记录，并确认所得到的近似曲线206与阈值的相交点。据此，如图16的矩阵映像所示，按各脉冲宽度取得小于等于阈值的功率范围，图16的阴影线所示的区域为测试区域。这里，如果用矩阵中的映像表示作为基准条件使用的P1、P2、P3这3个功率条件和脉冲宽度W4，则成为图16的208-1、208-2、208-3，所确定的测试区域设定为以基准条件为中心的功率×脉冲宽度的面区域。

这样，通过对每一个脉冲宽度求功率范围，能够集中小于等于阈值的区域进行测试，因此，能够以少的测试次数发现更适当的条件。

另外，通过在功率容限取得较宽时，将功率变化的步长设定得较大，在功率容限窄时，将功率变化的步长设定得较小，也能够减少测试次数。例如，也可以是这样的结构，当取10mW的容限时，假设粗略(rough)地测试也能得到最佳值，则以2mW的步长进行5次测试，当取1mW的容限时，判断为需要更精密的测试，以0.1mW的步长进行10次测试。

图17是表示当在图8的步骤S120得到右下降模式时，在步骤S122执行的测试区域确定的一例的概念图。如图17所示，当得到右下降模式时，考虑到最佳条件位于更高功率一侧，因此，用高于P3的功率值P+进行追加记录，连结在P1、P2、P3、P+各处分别得到的抖动值的近似曲线206与阈值的相交点作为功率范围。分别以脉冲宽度W1～W6进行该处理，得到图17的矩阵映像所示的测试区域。

这里，由上述步骤所确定的测试区域，为以208-1、208-2、208-3为中心的功率×脉冲宽度的面区域向高功率一侧移动了的形状。在该例子中，原封不动地使用了山谷形模式中使用的W1～W6，但是当为右下降模式时，处于低灵敏度倾向，所以也可以移动到比W1～W6更宽的脉冲宽度区域来确定功率范围。

图18是表示在图8的步骤S120中得到右上升模式时，在步骤S122中执行的测试区域的确定的一个例子的概念图。如图18所示，当得到右上升模式时，考虑到最佳条件位于更低功率一侧，所以用比P1更低的功率值P+进行追加记录，以连结在P+、P1、P2、P3处分别得到的抖动值的曲线206和阈值的相交点为功率范围。用脉冲宽度W1～W6分别进行该处理，得到图18的矩阵映像所示的测试区域。

这里，由上述步骤确定的测试区域为把以基准条件208-1、208-2、208-3为中心的功率×脉冲宽度的面区域向低功率一侧移动了的形状。在该例子中，原封不动地使用了山谷形模式中使用的W1～W6，但是当为右上升模式时，处于高灵敏度倾向，所以也可以移动到比W1～W6更窄的脉冲宽度区域来确定功率范围。

即，在上述方法中，按各脉冲宽度进行记录品质的检查，根据结果，按各脉冲宽度确定测试次数，所以能期待测试次数的减少。以上说明的记录品质的检查，是通过把基于基准条件的记录的抖动变化构图而进行的，更理想的是使用以下所示的8个模式进行。

图19是表示使用8个模式执行图8的步骤S120时的例子的图。如图19所示，无论模式1是山谷形、右上升、右下降等的哪个模式，都是抖动的最大值小于等于阈值时应用的模式。当得到该模式时，视为与基准介质相同程度的灵敏度，并且判断小于等于阈值的容限取得较宽，使功率条件分别向低功率一侧和高功率一侧扩展。即在模式1中，无法取得阈值附近的值，所以对低功率一侧和高功率一侧双方进行追加记录。

然后，对由该追加记录所得到的抖动特性进行曲线近似，该近似曲线与抖动阈值相交的大小2点的间隔为功率范围的基准值。

当得到该模式时，把基准值±0.2T的脉冲宽度区域确定为测试区域，在测试记录时，在该测试区域内按0.2T变化，进行最佳记录条件的检测。其中，T表示记录标记的单位时间长度。

这里，当设成为基准值的脉冲宽度为脉冲条件1、扩展的2点为脉冲条件2和3时，模式1的脉冲条件2和3成为扩展±0.2T后的脉冲宽度。伴随着该脉冲宽度的条件变更，在作为测试条件使用的功率范围中也进行若干的变更。

即，当把脉冲宽度变更0.1T时，以功率范围的基准值×(1-0.05×1)mW为该脉冲宽度的功率范围，脉冲宽度变更0.2T时，以功率范围的基准值×(1-0.05×2)mW为该脉冲宽度的功率范围，当把脉冲宽度变更-0.1T时，以功率范围的基准值×[1-0.05×(-1)]mW为该脉冲宽度的功率范围。

因此，适合于该模式1时的测试条件为以下的3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+2)]mW

在本发明中，上述(1)所示的基准条件在实际的测试记录中也可以不使用。

模式2是在得到了山谷形模式的情况下，抖动的最小值小于等于阈值时应用的模式。当得到了该模式时，判断为记录对象介质与基准介质为相同灵敏度，选择基准值±0.1T作为脉冲宽度条件。然后通过与模式1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该模式2时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.1T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-1)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.1T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+1)]mW

模式3是在得到了山谷形模式的情况下，抖动的最小值超过阈值时应用的模式。当得到了该模式时，判断为记录对象介质和基准介质为相同灵敏度，并且介质的特性差异大，选择基准值±0.2T作为脉冲宽度条件。然后通过与模式1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该模式3时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+2)]mW

模式4是在得到了右下降模式的情况下，抖动的最小值小于等于阈值时应用的模式。在得到了该模式时，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度略低，选择基准值、+0.1T和+0.2T这3点作为脉冲宽度条件。然后通过与模式1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该模式4时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值+0.1T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+1)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+2)]mW

模式5是在得到了右下降模式的情况下，抖动的最小值超过阈值时应用的模式。在得到了该模式时，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度低很多，选择基准值、+0.2T和+0.4T这3点作为脉冲宽度条件。然后通过与模式1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该模式5时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.4T、功率范围的基准值×[1-0.05×(+4)]mW

模式6是在得到了右上升模式的情况下，抖动的最小值小于等于阈值时应用的模式。在得到了模式时，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度略高，选择基准值、-0.1T和-0.2T这3点作为脉冲宽度条件。然后通过与模式1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该模式6时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.1T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-1)]mW

(3)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

模式7是在得到了右上升模式的情况下，抖动的最小值超过阈值时应用的模式。在得到了该模式时，判断为记录对象介质比基准介质的灵敏度高很多，选择基准值、-0.2T和-0.4T这3点作为脉冲宽度条件。然后通过与模式1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该模式7时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值-0.4T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-4)]mW

模式8是在得到了山形模式的情况下，抖动的最大值超过阈值时应用的模式。在得到了该模式时，判断为是异常模式，选择基准值±0.2T作为脉冲宽度条件。然后通过与模式1同样的步骤，按各脉冲条件进行功率范围的设定。结果适合于该模式8时的测试条件为以下3组。

(1)脉冲宽度的基准值、功率范围的基准值

(2)脉冲宽度的基准值-0.2T、功率范围的基准值×[1-0.05×(-2)]mW

(3)脉冲宽度的基准值+0.2T、功率范围的基准值×「1-0.05×(+2)]mW

当检测到以上说明的8个模式中最接近基准介质的模式2以外的模式时，为了确认并不是再现误动作引起的，也可以再次再现成为该模式的基础的记录结果，再次检测抖动。这时，当通过再次再现检测到模式2以外的模式时，可以按照图19所示的条件进行记录条件的追加和扩展。

这里，当进行上述再现误动作的确认的结果为检测到模式8时，考虑记录误动作的可能性，所以在进行追加记录和脉冲宽度的扩展之前，以脉冲宽度的基准值再次进行记录。当再现该再记录结果也为模式8时，不进行追加记录，即，不进行用于测量脉冲条件1的容限的功率扩展，而进行脉冲条件的扩展，即脉冲条件2和3的扩展。可以用上述方法进行与脉冲条件2和3的扩展相应的功率的扩展。

即，在模式8的情况下，用脉冲条件1无法取得容限，无法求出成为扩展的基准的功率范围，所以把初始的功率条件范围设定为成为基准的功率范围。

(测试区域的确定：基于近似法的功率范围的确定)

通过执行上述步骤，能以少的测试次数确定对得到最佳解有效的测试区域，但是关于对确定该测试区域很重要的功率范围的确定方法，进行以下的说明。

在本发明中，想以尽可能少的测试次数提高发现最佳解的精度，所以使测试条件集中在小于等于阈值的区域中的方法如上所述。根据该考虑方法，可以根据表示对阈值的容限的大小2点的功率值求出测试记录时使用的功率范围。这里，对阈值的容限是指在该区域中能得到小于等于阈值的特性值的宽度，大小2点的功率值是指确定该容限宽度的低功率一侧的值和高功率一侧的值。

这里，如果考虑缩短各种介质的测试记录时间和提高一次写入介质那样对测试记录区域有限制的介质的测试区域的效率，则希望测试记录所需要的记录点更少，但是这里求取的功率范围是成为最佳记录条件的判断基准的重要参数，所以希望是高精度。

以高精度求该功率范围意味着选择的区域更集中的测试，所以也有助于减少测试次数。例如当以0.1mW 1次的频率进行测试记录时，如果功率范围为1mW，就进行10次测试记录，如果为2mW，就进行20次测试记录，所以缩小功率范围将有助于减少测试次数。

因此，在本发明中，提倡这种方法，即：着眼于描绘记录再现信号的记录品质相对于记录功率的以最佳点为极值的2次曲线的变化，使用数个记录点近似计算特性曲线，从而得到要求取的容限量的方法。通过应用这样的近似方法，用数个记录点就能高精度且容易地求出功率范围，减少测试次数。

图20是说明通过曲线近似求出在图8的步骤S122中使用的功率范围的概念图。如图20所示，在进行近似时，首先选择作为记录特性的判断基准的抖动值在阈值附近的低功率一侧的a和高功率一侧的c这2点、以及位于它们之间且比a、c和阈值中的任意一个值都小的抖动值b。即，这里选择的a、b、c具有以下的关系。

a>b、c>b、阈值>b

这里，上述阈值附近如图20所示，定义为离阈值具有某个宽度的上限值和下限值之间的范围，优选的是，上限值设定为阈值的40％，下限值设定为阈值的5％。然后，用2次函数来近似a、b、c的值，以该2次函数与阈值相交的大小2点的差为功率范围。考虑到记录点的间隔，定义为阈值附近的范围可以适当变更为-5％～+40％或-10％～30％等。

图21是说明通过曲线近似求出图8的步骤S122中使用的功率范围的另一个例子的概念图。如图21所示，当只用A、B、C这3个条件，无法得到满足上述“a>b、c>b、阈值>b”的条件的关系时，最好通过追加记录高功率一侧的D，得到阈值附近的值。

进而，如图21所示，当存在B>C的关系时，最好不使用B，而用A、C、D这3点计算近似式。

这时，3个记录点和阈值的关系变为“A>C、D>C、阈值>C”，为适合于描绘近似曲线的关系，所以能通过3点近似得到高精度的近似曲线。其中，D所示的追加记录条件可以根据追加记录前的记录点表示的A>B、B>C和阈值来确定。

此外，与图20相反，当在低功率一侧没有阈值附近的值时，可以用比A低的功率条件进行追加记录，根据记录点和阈值的关系，可以适当追加1点以上的记录条件。

此外，追加记录条件中使用的功率的范围，既可以相对于预定的功率步长具有一定的变化，也可以预先求出抖动变动对功率的变动的关系，根据该关系设定功率条件。

另外，在即使进行上述记录条件的追加也不能取得足以求出功率范围的记录点时，通过与上述同样的步骤再次进行记录条件的追加来变更记录点。

此外，如一次写入介质那样测试记录区域有限制时，为了避免使用很长的测试时间，可以使上述再次记录条件的追加次数具有上限值，也可以使追加记录功率具有上限值，使得记录功率不会因记录条件的追加而超过激光输出值。

此外，在上述的例子中，通过3点近似求出功率范围，但是，也可以选择最接近阈值的2点，根据这2点分别表示的大小2点的功率值的差来确定功率范围。

此外，作为选择阈值附近的2点的方法，可以使功率变化并记录，直到发现跨过阈值的大小2点，选择在该记录过程中最接近阈值的2点，也可以原封不动地选择这2点。关于该方法，以下进行详细的说明。

(测试区域的确定：基于抽样的功率范围的确定)

图22是通过抽样求出图8的步骤S122中使用的功率范围的例子的概念图。在图22所示的例子中，不是上述3点近似，而是使功率逐渐变化，直到得到接近阈值的值，把接近阈值的大小2点的功率值作为基准，求出功率范围。

即，如图22所示，按从P1到P2、P3...的顺序增加记录功率，进行记录再现，反复进行记录再现，直到得到大于等于阈值的值的功率值P6。如果用矩阵表示该处理的映像，则从P1～P6进行功率变化，但是功率范围变为最接近阈值的低功率一侧的P2和高功率一侧的P6之间的范围。这样通过选择跨过阈值的2点，也能确定功率范围。

这里，作为选择接近阈值的大小2点的方法，可以适当选择使用以下的方式。

1)选择形成功率容限的大小2点的方法，即，在满足再现基准值的功率区域内选择与再现基准值最接近的2点

2)选择虽然稍靠功率容限的外侧，但最接近再现基准值的2点

3)在低功率一侧选择跨过再现基准值的大小2点

4)在高功率一侧选择跨过再现基准值的大小2点

5)在低功率一侧和高功率一侧选择成为跨再现基准值的形状的2点，即分别与再现基准值最接近的2点

此外，也可以使用通过上述方法选择的2点来近似记录特性，求出与再现基准相交的大小2点。通过以上步骤，可确定成为记录脉冲条件的基准的起始脉冲条件。

(最终脉冲的确定)

图23是表示图2的(a)所示的最终脉冲条件确定步骤的详细执行顺序的流程图。如图23所示，当确定最终脉冲条件时，用在上述步骤中所确定的起始脉冲条件和预设定的中间脉冲条件进行测试记录(步骤S210)，再现所形成的记录标记(步骤S212)，检测非对称2T3T的值(S214)。然后，确定非对称2T3T的值为0的脉冲宽度，将该宽度设定为最终脉冲条件(步骤S216)。

图24A、图24B是表示图23所示的处理的执行结果的曲线图。图24A表示使最终脉冲的宽度Tlast阶梯性地变化而得到的非对称2T3T的值，在图24A中将非对称为0的宽度设定为最终脉冲条件。图24B表示记录特性对非对称2T3T的变化，如该图所示，PRSNR和SbER中任意一个的记录特性，在非对称2T3T为0的点都为最佳值。这里，PRSNR最好是大于等于15dB，SbER最好是小于等于5.0e-5，因此，如果是非对称2T3T为0的记录条件，则能够得到充分的记录特性。

(中间脉冲的确定)

图25是表示图2的(a)所示的中间脉冲条件确定步骤的详细执行顺序的流程图。如图25所示，当确定中间脉冲条件时，用在上述步骤中所确定的起始脉冲条件和最终脉冲条件进行测试记录(步骤S220)，再现所形成的记录标记(步骤S222)，检测非对称2T11T的值(S224)。然后，确定非对称2T11T的值为0的脉冲宽度，将该宽度设定为中间脉冲条件(步骤S226)。

图26A、图26B是表示图25所示的处理的执行结果的曲线图。图26A表示使中间脉冲的宽度Tmp阶梯性地变化而得到的非对称2T11T的值，在图26A中将非对称为0的宽度设定为最终脉冲条件。图26B表示记录特性对非对称2T11T的变化，如该图所示，PRSNR和SbER中的任意一个的记录特性，在非对称2T11T为0的点都为最佳值。这里，PRSNR最好是大于等于15dB，SbER最好是小于等于5.0e-5，因此，如果是非对称2T11T为0的记录条件，则能够得到充分的记录特性。

通过上述最终脉冲的调整，2T和3T的信号振幅的中心电平一致，通过上述中间脉冲的调整，2T和11T的信号振幅的中心电平一致。因此，3T和11T的信号振幅的中心电平将自动地一致。结果，成为3个非对称指标的非对称2T3T、非对称2T11T以及非对称3T11T值将在大致0点一致，在该条件下记录特性最稳定。另外，该中间脉冲的调整，在单脉冲的情况下，优选的是控制起始脉冲和中间脉冲的功率比率，在多脉冲的情况下，优选的是控制中间脉冲宽度。

(相位偏移校正)

相位偏移校正通过下述这样进行，即：用在以上步骤中确定的各码的记录脉冲，进行预定模式的测试记录，再现所形成的标记和间隔串，对所得到的码信息的偏移进行校正。在以下的说明中将3T作为最短码进行说明，但也可应用于将2T作为最短码的例子。

图27是表示在图2的(a)所示的相位偏移校正中使用的测试用记录脉冲的例子的概念图。图27的(a)是使用由单一的脉冲模式构成的单脉冲时的例子，图27的(b)是使用由多个的脉冲模式构成的多脉冲时的例子。

如图27所示，在单脉冲10-1和多脉冲10-2的任意一种情况下，都设定调整起始脉冲12的开始位置的Ttopr和调整最终脉冲16的结束位置的Tlastf，作为记录脉冲的相位条件。通过调整这些值，使记录后的标记长度更适当。另外，这些相位条件，是通过进行测试记录来确定的，该测试记录将由到上述为止的流程所确定的起始脉冲的条件和后续脉冲的条件作为基准。

图28是表示图2的(a)所示的相位偏移校正的执行步骤的流程图。如图28所示，图7所示的驱动器，首先对介质50进行基于变更了由起始脉冲和后续脉冲构成的记录脉冲的相位条件后的多个记录模式的测试记录(步骤S410)。此时，起始脉冲的条件和后续脉冲的条件，已固定为在到上述为止的流程中得到的值。

然后，再现通过该测试记录所形成的记录模式(步骤S412)，之后，偏移检测部112用与预定时钟同步的计数器，对从设置在码判断电路110内的2值化电路得到的再现2值化信号进行计数(步骤S414)，将该再现2值化信号中所包含的标记和间隔的长度作为计数数据，存储在记录区域115(步骤S416)。

然后，记录偏移检测部112用存储在记录区域115中的计数数据，生成表示每个计数值的出现频率的柱状图(步骤S418)，根据该柱状图确定成为标记长度和间隔长度的判断基准的计数结果的阈值(步骤S420)。

然后，记录偏移检测部112，以上述阈值为基准从存储在记录区域115中的计数数据中，检索包含特定的标记/间隔模式的多种特定模式(步骤S422)，对包含在该特定模式中的被认为是同一标记长度的计数结果取平均值，并且对被认为是同一间隔长度的计数结果取平均值，从而求出构成特定模式的各标记和各间隔的平均长度(步骤S424)。

然后，记录偏移检测部112，将所抽出的多个特定模式中的一个设定为基准模式，将该基准模式与其它模式进行比较(步骤S426)，分别独立地检测下述偏移量(步骤S428)。

1)标记相对于记录脉冲的前侧相位偏移量

2)标记相对于记录脉冲的后侧相位偏移量

3)热干扰导致的偏离记录脉冲的标记偏移量

然后，运算式导出部113，根据记录偏移检测部112检测出的偏移量，导出用于确定最佳策略的运算式；策略确定部114，用由该运算式导出部113所导出的运算式预测各种参数的控制结果(步骤S430)，根据该预测结果确定图27所示的Ttopr和Tlastf，并将其设定于策略电路102(步骤S432)。

图29是表示从图28所示的测试记录到再现数据的计数为止的操作概念的概念图。如图29所示，首先，进行测试记录，并在光盘上形成图29的(a)所示的记录标记。然后，对该记录标记进行再现，如图29的(b)所示，得到与该记录标记对应的再现RF信号。对该再现RF信号进行2值化后，得到图29的(c)所示的再现2值化信号，并用图29的(d)所示的时钟信号对该2值化信号的极性反转之间的脉冲长度进行计数，得到图29的(e)所示的计数结果。

图30是表示图28所示的计数结果的存储映像的概念图。如图30所示，在用时钟信号进行了计数的2值化信号中，其计数结果以极性反转部分为界限，与标记、间隔的区别一起依次以时序存储在设置于存储区域115中的表内。图30所示的表，以附加了此后可进行检索的地址的状态来存储。

图31A、图31B是表示图28所示的柱状图生成的图像的概念图。如图31A、图31B所示，如果将计数值的出现频率图形化，则可得到柱状图，如果将标记和间隔分开分别生成柱状图，则可得到图31A所示的表示标记的计数倾向的标记柱状图和图31B所示的表示间隔的计数倾向的间隔柱状图这两种柱状图。这样，在光盘上，对基准时钟的各单位长度nT(n＝3、4、5、...14)的长度必然被确定，因此对于各单位长度nT，能得到出现频率分布的峰。

图32A、图32B是表示图28中的阈值确定的映像的概念图。如图32A、图32B所示，在柱状图中的各峰和峰之间所形成的谷的部分可以作为各单位长度nT的长度判断阈值来使用，因此对于标记柱状图和间隔柱状图，分别设定成为标记长的判断基准的标记长阈值和成为间隔长的判断基准的间隔长阈值。

图33A、图33B是表示通过图32A、图32B所示的方法得到的阈值的例子的概念图。如图33A所示，按各标记长度的界限来定义标记长度阈值，如图33B所示，按各间隔长度的界限来定义间隔长度阈值。在图33A所示的例子中，成为2T和3T的界限的阈值为“计数值＝2”，成为3T和4T的界限的阈值为“计数值＝9”，以下，设定到14T和15T的界限为止。另外，在图33B所示的例子中，成为2T和3T的界限的阈值为“计数值＝2”，成为3T和4T的界限的阈值为“计数值＝10”，以下，设定到14T和15T的界限为止。

接着，对图28中的从特定模式的检索(步骤S422)到偏移量的检测(步骤S428)为止的各步骤进行详细的说明。这些步骤是根据记录偏移检测部112中的各种偏移的检测原理来进行的。

图34是表示用于检测各标记长度的前侧相位偏移量的记录模式和再现模式的一个例子的图。如图34所示，在检测各标记长度的前侧相位偏移时，使用图34的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。其记录脉冲包含固定标记MxT、固定间隔SyT、可变标记MzT连续的模式，使固定标记MxT的标记长度和固定间隔SyT的间隔长度固定，使可变标记MzT的标记长度如图34的(b)～(f)所示那样，按3T、4T、...7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变标记长度的变化一直进行到14T。

在此，在测量该记录模式的固定间隔SyT的长度时，该固定间隔SyT的长度在理想的记录状态下应该是恒定的。但是，当该固定间隔SyT的长度偏离理想的规定长度时，由于标记MxT的标记长是固定的，因此，该固定间隔SyT长度的理想的规定长度的偏移量，与相对于记录时策略中的3T、4T、...14T各自的标记M3T、M4T、...M14T的记录脉冲的前侧相位偏移量相对应。

因此，当将可变标记MzT为3T的图34的(b)的模式设定为基准模式，将余下的图34的(c)～(f)的模式设定为比较模式，对这些比较模式的固定间隔SyT的长度和基准模式的固定间隔SyT的长度进行比较，如图34的各图所示，得到相对于基准模式的前侧相位偏移量FPS4T～FPS7T。

在此，各偏移量FPS3T～FPS7T，可以作为以某个部位为基准的相对值来检测，因此，基准模式的前侧相位偏移量FPS3T可以定义为零，也可以作为偏离理想的长度的偏移量来检测。另外，也可以将图34的(c)～(f)所示的模式中的任意一个设定为基准模式，而不用图34的(b)的模式。

图35是表示用于检测各标记长度的后侧相位偏移量的记录模式和再现模式的一个例子的概念图。如图35所示，在检测各标记长度的后侧相位偏移量时，使用图35的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。该记录脉冲包含可变标记MxT、固定间隔SyT、固定标记MzT连续的模式，使固定间隔SyT的间隔长度和固定标记MzT的标记长度固定，使可变标记MxT的标记长度像图35的(b)～(f)所示那样，按3T、4T、...7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变标记长的变化一直进行到14T。

在此，在测量该记录模式的固定间隔SyT的长度时，该固定间隔SyT的长度在理想的记录状态下应该是恒定的。但是，当该固定间隔SyT的长度偏离理想的规定长度时，由于标记MzT的标记长度是固定的，因此，该固定间隔SyT长度的理想的规定长度的偏移量，与对记录时策略中的3T、4T、...14T各自的标记M3T、M4T、...M14T的记录脉冲的后侧相位偏移量相对应。

因此，当将可变标记MxT为3T的图35的(b)的模式设定为基准模式，将余下的图35的(c)～(f)的模式设定为比较模式，对这些比较模式的固定间隔SyT的长度和基准模式的固定间隔SyT的长度进行比较，如图35的各图所示，得到对基准模式的后侧相位偏移量RPS4T～RPS7T。

在此，各偏移量RPS3T～RPS7T，可以作为以某个部位为基准的相对值来检测，因此，基准模式的后侧相位偏移量RPS3T可以定义为零，也可以作为偏离理想的长度的偏移量来检测。另外，也可以将图35的(c)～(f)所示的模式中的任意一个设定为基准模式，而不用图35的(b)的模式。

图36是表示用于检测由热干扰引起的标记偏移量的记录模式的一个例子的图。如图36所示，在检测由热干扰引起的标记偏移量的情况下，使用图36的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。该记录脉冲，包含间隔SxT、标记MyT、间隔SzT连续的模式，使固定标记MyT的标记长度和固定间隔SzT的间隔长度固定，并使可变间隔SxT的间隔长度如图36的(b)～(f)所示，按3T、4T、...7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变间隔长度的变化一直进行到14T。

在此，如果测量该记录模式的固定标记MyT的长度，则该固定长度的标记MyT的长度在理想的状态下应恒定。但是，如果该固定标记MyT的长度偏离理想的规定的长度，则间隔SzT的间隔长度是固定的，因此该固定标记SyT的理想的规定长度的偏移量，与由紧接在可变间隔SxT之前形成的标记的热干扰引起的偏移量相对应。

因此，当把可变间隔SxT为3T的图36的(b)模式设定为基准模式，把图36的剩下的(c)～(f)的模式设定为比较模式，对这些比较模式的固定标记MyT的长度和基准模式的固定标记MyT的长度进行比较，如图36的各图所示，能得到对基准模式的前侧相位偏移量HID3T～HID7T。

在此，各偏移量HID3T～HID7T只要能作为以某个部位为基准的相对值来检测即可，因此基准模式的前侧相位偏移量HID3T也可以定义为零，另外，也可以作为偏离理想长度的偏移量来检测。并且，也可以将图36的(c)～(f)所示的模式的任意一个设定为基准模式，来替代图36的(b)的模式。

图37A、图37B是表示标记前相位偏移检测和标记后相位偏移检测所使用的特定模式检索用的表结构的概念图。在进行标记前相位偏移的检测的情况下，以对每个特定模式设定的关于标记MxT、间隔SyT、标记MzT的图37A所示的阈值范围为基准，对在图7的存储区域115内存储的数据进行检索(相当于图28的步骤S422)，抽取满足该阈值的数据串。

之后，对分别相当于标记MxT、间隔SyT、标记MzT的计数结果进行区分并按标记MxT、间隔SyT、标记MzT求出平均值(相当于图28的步骤S424)。如果使用该计数结果的平均值进行上述的模式比较，则能得到各标记长度的前侧相位偏移量。图37B是进行标记后相位偏移的检测时的阈值例，但是思考方法和操作与进行标记前相位偏移的检测的情况是相同的。

图38是表示标记干扰偏移检测所使用的特定模式检测用的表结构的概念图。如图38所示，标记干扰偏移的检测以与使用图37A、图37B说明的标记前相位偏移和标记后相位偏移同样的方法来进行。

图39是表示通过计数结果的相对比较来检测偏移量时的具体例子的概念图。图39是检测标记前相位偏移时的具体例子，但是检测其它的偏移量时也用同样的方法进行。在检测偏移量时，首先，从存储在存储区域内的数据组中检索抽取图39的(a)和(b)所示的基准模式和比较模式，如图39的(c)和(d)所示，比较对本来应为固定长度的部位的计数值。在图39所示的例子中，由于间隔SyT成为比较部位，因此求出作为基准模式的计数结果的图39的(c)所示的“12”和作为比较模式的计数结果的图39的(d)所示的“11”的差值，得到的差值“1”就成为偏移量FPS4T的值。

图40是表示根据图28中的控制量预测确定Ttopr、Tlastf的执行例子的流程图。如图40所示，控制量的预测是通过执行以下一连串的步骤进行的：以记录条件不同的S1和S2这两种以上的条件进行测试记录(步骤S450)；再现得到的记录标记(步骤S452)；比较得到的再现模式，从而求出与条件1对应的偏移量D1和与条件S2对应的偏移量D2(步骤S454)；以及对S1和S2之间、D1和D2之间的关系进行直线近似(步骤S456)，使用该直线确定最佳Ttopr和Tlastf(步骤S458)。

图41是表示记录条件S1、S2的变化与偏移量D1、D2之间的关系的概念图。如果以图41的(a)所示的记录脉冲为“MzT＝3T”的基准脉冲，则成为比较对象的“MzT＝4T”的记录脉冲在使MzT的前端按S1变化的图41的(b)的记录脉冲S1和使MzT的前端按S2变化的图41的(c)的记录脉冲S2这两个条件下进行测试记录。

结果，得到与图41的(a)的记录脉冲对应的图41的(a1)所示的基准模式，与图41的(b)的记录脉冲对应的图41的(b1)所示的比较模式S1，与图41的(c)的记录脉冲对应的图41的(c1)所示的比较模式S2。在此，比较模式S1与控制量S1对应地产生D1的偏移量，比较模式S2与控制量S2对应地产生D2的偏移量。

如果知道相对于控制量S1和S2的偏移量D1和D2，并假设对某个参数具有多少控制量，则能预测产生多少偏移，因此，利用这些关系来进行控制量的预测和校正值的确定。

图42是表示利用了直线近似的前侧相位偏移校正的一个例子的概念图。在确定对前侧相位偏移的校正量Ttopr的情况下，首先，如图42的(a)所示，以成为基准的脉冲位置为基准相位φ，此时，如图42的(b)所示，用使脉冲的位置错开Ttopr的波形进行测试记录(相当于记录条件S1、S2)，结果是，如图42的(c)所示，检测所得到的再现信号的相位偏移Δφtop(相当于偏移量D1、D2)。

在图42所示的例子中，使该Ttop进行S1＝+0.1和S2＝+0.3这两种变化，所得到的检测相位Δφtop为偏移量D1＝-0.1和D2＝+0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图42的(e)所示，用直线来近似控制结果Δφtop对控制量Ttopr的关系，并利用该直线确定能消除相位偏移的校正相位Ttop＝+0.2作为最佳校正值。

这样，如果求出至少2个变化点，则策略的变化S1、S2和偏移量的变化D1、D2的关系能进行直线的近似或者曲线的近似，因此能使用该直线求出偏移量变为零的最佳校正量。

具体地讲，求出使策略S以多点变化时的偏移量D，将此时的策略S和偏移量D的关系代入普通式子“D＝a×S+b”，通过求解联立方程式求出常数a、b，最终，求出与理想的偏移量D对应的策略S，并将该策略S设定在图1所示的策略电路102中，由此进行记录脉冲的最佳校正。

例如，在图7所示的记录偏移检测部112中，设从使用某个策略S1的测试记录的再现模式检测出的偏移量为D1、从使用另外的策略S2的测试记录的再现模式检测出的偏移量为D2，则由

D1＝a×S1+b

D2＝a×S2+b

计算a、b，并求出使用计算出的a和b的函数

S＝(D-b)/a，

通过将用于改善记录品质的、例如用于校正在补偿电路中产生的初始的输出偏移等的输出偏移量D代入该函数中，确定最佳策略S。

求出该最佳策略S的函数能与3T、4T、...14T各自的标记M3T、M4T、...M14T相应地求出。并且，求出该最佳策略S的函数还能分别与记录速度相应地求出。

图43是表示利用了直线近似的后侧相位偏移校正的一个例子的概念图。在确定对后侧相位偏移的校正量Tlastf的情况下，首先，如图43的(a)所示，以成为基准的脉冲位置为基准相位φ，此时，如图43的(b)所示，用使脉冲的位置错开Tlastf的波形进行测试记录，结果，如图43的(c)所示，检测得到的再现信号的相位偏移Δφlast。

在图43所示的例子中，使该Tlastf进行S1＝-0.1和S2＝-0.3这两种变化，所得到的检测相位Δφlast为偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图43的(e)所示，用直线来近似控制结果Δφlast对控制量Tlastf的关系，并利用该直线确定能消除相位偏移的校正相位Tlast＝-0.2作为最佳校正值。

图44A、图44B是表示用于存储校正量Ttopr和Tlastf的表构造的概念图。如图44A所示，校正量Ttopr用成为校正对象的每个标记长度与该各标记的前方间隔长度的组合来定义。例如，在校正对象标记为3T、该标记的前方间隔为3T的情况下，在图中表示为“3-3”的区域内存储校正量，在校正对象标记为4T、该标记的前方间隔为3T的情况下，在图中表示为“3-4”的区域内存储校正量，以下，对于5T、...14T，与3T和4T同样地进行存储。

另外，如图44B所示，校正量Tlastf用成为校正对象的每个标记长度与该各标记的后方间隔长度的组合来对定义。例如，在校正对象标记为3T、该标记的后方间隔为3T的情况下，在图中表示为“3-3”的区域存储校正量，在校正对象标记为4T、该标记的后方间隔为3T的情况下，在图中表示为“3-4”的区域存储校正量，以下，对于5T、...14T，与3T和4T同样地进行存储。

图45是表示校正后的单脉冲的例子的概念图。如图45的各图所示，在将图45的(a)所示的记录数据记录在光盘上的情况下，对每个标记长度设定应用了最佳的校正值的策略。例如，在记录3T标记的情况下，如图45的(b)所示，从图44所示的表中根据前方的间隔长度读出3T标记的前端校正值Ttopr，并且，根据后方间隔长度读出3T标记的后端校正值Tlastf，并用该Ttopr和Tlastf对记录脉冲的前端和后端进行校正。

在校正4T标记的情况下，如图45的(c)～(f)所示，除了Ttopr和Tlastf之外，还从预定的表中读出该标记长度的PWD校正值，并进行该PWD值所对应的脉冲形状的校正。

图46是表示校正后的多脉冲的例子的概念图。如图46的各图所示，在多脉冲的情况下，取代上述图45所示的单脉冲的PWD校正值，从预定的表中读出该标记长度的Tmp校正值，并进行该Tmp值所对应的脉冲形状的校正。其它的与单脉冲的情况相同。

在以上说明的实施方式中，通过将偏移量D代入求出最佳策略S的函数中来确定最佳策略，但是，也可以构成为准备从上述函数求出的校正表，并根据该校正表确定最佳策略S。

另外，也可以在每次改变光盘的种类或者每次改变记录速度时进行上述最佳策略的设定处理，另外，采用如下的结构也可以：在将由上述最佳策略的设定处理确定的最佳策略的条件与光盘的种类和记录速度相对应地预先存储在存储器中，再次用同一种类的光盘进行记录的情况下，或者用同一记录速度进行记录的情况下，读出存储在该存储器中的最佳策略来进行使用。

(工业可利用性)

根据本发明，对于驱动器来说，即使是未知的介质，也能得到更接近最佳的记录条件，因此，能应对更严格的记录环境。

Claims (34)

1.一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：

基于最短码的再现结果与次短码的再现结果的关系调整上述最终脉冲以使该最终脉冲最优化，由此设定上述最终脉冲的条件。

2.根据权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述最终脉冲的条件是基于再现最短码所得到的信号的振幅与再现次短码所得到的信号的振幅的位置关系调整的。

3.根据权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述最终脉冲的条件是基于再现最短码所得到的信号的振幅中心电平与再现次短码所得到的信号的振幅中心电平的差调整的。

4.一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：

基于以包含最短码和次短码的记录模式对上述介质进行记录所得到的再现结果调整上述最终脉冲以使该最终脉冲最优化，由此设定上述最终脉冲的条件。

5.根据权利要求4所述的光信息记录装置，其特征在于：

作为调整上述最终脉冲的基准的再现结果，是出错率。

6.根据权利要求4所述的光信息记录装置，其特征在于：

作为调整上述最终脉冲的基准的再现结果，是抖动。

7.一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：

基于最短码和/或次短码的再现结果、和再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的再现结果的关系调整上述中间脉冲以使该中间脉冲最优化，由此设定上述中间脉冲的条件。

8.根据权利要求7所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述中间脉冲的条件是基于再现最短码和/或次短码所得到的信号的振幅、和对再现信号的振幅与最长码为同等程度的码进行再现所得到的信号的振幅的位置关系调整的。

9.根据权利要求7所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述中间脉冲的条件是基于再现最短码和/或次短码所得到的信号的振幅中心电平、和对再现信号的振幅与最长码为同等程度的码进行再现所得到的信号的振幅中心电平的差调整的。

10.一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：

基于以包含最短码和/或次短码、以及再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的记录模式对上述介质进行记录所得到的再现结果调整上述中间脉冲以使该中间脉冲最优化，由此设定上述中间脉冲的条件。

11.根据权利要求7所述的光信息记录装置，其特征在于：

作为调整上述中间脉冲的基准的再现结果，是出错率。

12.根据权利要求7所述的光信息记录装置，其特征在于：

作为调整上述中间脉冲的基准的再现结果，是抖动。

13.一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：

在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述最终脉冲的条件，然后设定上述中间脉冲的条件。

14.根据权利要求13所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述最终脉冲的条件是基于再现最短码所得到的信号的振幅与再现次短码所得到的信号的振幅的位置关系确定的，

上述中间脉冲的条件是基于再现最短码和/或次短码所得到的信号的振幅、和对再现信号的振幅与最长码为同等程度的码进行再现所得到的信号的振幅的位置关系确定的。

15.根据权利要求13所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述基准条件的设定是基于对上述介质的测试记录的结果进行的，

上述最终脉冲的条件设定是基于使用了上述基准条件的测试记录的结果进行的，

上述中间脉冲的条件设定是基于使用了上述最终脉冲的条件的测试记录的结果进行的。

16.根据权利要求13所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述基准条件是上述起始脉冲的条件。

17.根据权利要求13所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述基准条件是上述记录脉冲的功率。

18.一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：

在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述中间脉冲的条件，然后设定上述最终脉冲的条件。

19.根据权利要求18所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述中间脉冲的条件是基于再现包含最短码和/或次短码、以及再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的记录模式所得到的出错率确定的，

上述最终脉冲的条件是基于再现包含最短码和次短码的记录模式所得到的出错率确定的。

20.根据权利要求18所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述基准条件的设定是基于对上述介质的测试记录的结果进行的，

上述中间脉冲的条件设定是基于使用了上述基准条件的测试记录的结果进行的，

上述最终脉冲的条件设定是基于使用了上述中间脉冲的条件的测试记录的结果进行的。

21.根据权利要求18所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述基准条件是上述起始脉冲的条件。

22.根据权利要求18所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述基准条件是上述记录脉冲的功率。

23.一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：

在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述最终脉冲的条件，然后设定上述中间脉冲的条件，由此设定每个码的记录脉冲，准备多种以预定顺序配置了该设定后的记录脉冲中的与预定码对应的脉冲记录模式，对该记录模式的每一种进行记录脉冲的条件设定。

24.根据权利要求23所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述每个记录模式的条件，分别是通过调整上述记录脉冲的开始位置和/或结束位置来设定的。

25.一种光信息记录装置，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录装置的特征在于：

在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述中间脉冲的条件，然后设定上述最终脉冲的条件，由此设定每个码的记录脉冲，准备多种以预定顺序配置了该设定后的记录脉冲中的与预定码对应的脉冲的记录模式，对该记录模式的每一种进行记录脉冲的条件设定。

26.根据权利要求25所述的光信息记录装置，其特征在于：

上述每个记录模式的条件，分别是通过调整上述记录脉冲的开始位置和/或结束位置来设定的。

27.一种光信息记录方法，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录方法的特征在于：

在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述最终脉冲的条件，然后设定上述中间脉冲的条件。

28.一种光信息记录方法，与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，该光信息记录方法的特征在于：

在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述中间脉冲的条件，然后设定上述最终脉冲的条件。

29.一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，所述光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：

在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述最终脉冲的条件，然后设定上述中间脉冲的条件。

30.一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，所述光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：

在设定上述记录脉冲的基准条件后设定上述中间脉冲的条件，然后设定上述最终脉冲的条件。

31.一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，所述光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：

基于最短码的再现结果与次短码的再现结果的关系调整上述最终脉冲以使该最终脉冲最优化，由此设定上述最终脉冲的条件。

32.一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，所述光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：

基于以包含最短码和次短码的记录模式记录上述介质而得到的再现结果调整上述最终脉冲以使该最终脉冲最优化，由此设定上述最终脉冲的条件。

33.一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，所述光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：

基于最短码和/或次短码的再现结果、和再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的再现结果的关系调整上述中间脉冲以使该中间脉冲最优化，由此设定上述中间脉冲的条件。

34.一种安装在光信息记录装置中的信号处理电路，所述光信息记录装置与多个种类的码的每一个对应地设定用起始脉冲、中间脉冲和最终脉冲定义的记录脉冲，并进行基于该设定的记录脉冲的激光照射，由此在光记录介质上记录信息，上述信号处理电路的特征在于：

基于以包含最短码和/或次短码、以及再现信号的振幅与最长码为同等程度的码的记录模式对上述介质进行记录所得到的再现结果调整上述中间脉冲以使该中间脉冲最优化，由此设定上述中间脉冲的条件。

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